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Paul Scherer Institut |
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Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
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Paul Scherer Institut |
Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit röntgenoptischen Gittern, sowie Röntgen-System, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-Computer-Tomographie-System
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斯格瑞公司 |
用于深度可选x射线分析的系统和方法
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US20210315535A1
(en)
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2018-10-23 |
2021-10-14 |
Lensfree Ltd. |
System and method for use in x-ray imaging
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JP2021000435A
(ja)
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2019-06-19 |
2021-01-07 |
株式会社リコー |
情報処理装置、生体情報計測装置、空間領域値の表示方法およびプログラム
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DE112020004169T5
(de)
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2019-09-03 |
2022-05-25 |
Sigray, Inc. |
System und verfahren zur computergestützten laminografieröntgenfluoreszenz-bildgebung
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US11175243B1
(en)
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2020-02-06 |
2021-11-16 |
Sigray, Inc. |
X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples
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US11754767B1
(en)
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2020-03-05 |
2023-09-12 |
Apple Inc. |
Display with overlaid waveguide
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CN115667896A
(zh)
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2020-05-18 |
2023-01-31 |
斯格瑞公司 |
使用晶体分析器和多个检测器元件的x射线吸收光谱的系统和方法
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WO2022061347A1
(en)
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2020-09-17 |
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Sigray, Inc. |
System and method using x-rays for depth-resolving metrology and analysis
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WO2022126071A1
(en)
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2020-12-07 |
2022-06-16 |
Sigray, Inc. |
High throughput 3d x-ray imaging system using a transmission x-ray source
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(en)
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Malvern Panalytical B.V. |
Adaptable x-ray analysis apparatus
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(en)
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2022-05-02 |
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Sigray, Inc. |
X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer
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