JP2007197749A - マルチターゲットスパッタリング装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】多数のターゲット7を容積の小さい真空チャンバ1内に収納し、ターゲット位置へのローディングとアンローディングを可能とする。
【解決手段】マルチターゲットスパッタリング装置は、真空チャンバ1内で複数のターゲット7を縦に一定の間隔で並べて配置したターゲット列3と、このターゲット列3を前記ターゲット7の間隔毎に上方または下方に移動するターゲット上下移動機構6と、ターゲット列3から一つのターゲット7を水平移動させて、同ターゲット7をスパッタリング位置へ搬送し、さらに同ターゲット7をスパッタリング位置からターゲット列3に戻すターゲットローディング部10とを有する。
【選択図】図1
【解決手段】マルチターゲットスパッタリング装置は、真空チャンバ1内で複数のターゲット7を縦に一定の間隔で並べて配置したターゲット列3と、このターゲット列3を前記ターゲット7の間隔毎に上方または下方に移動するターゲット上下移動機構6と、ターゲット列3から一つのターゲット7を水平移動させて、同ターゲット7をスパッタリング位置へ搬送し、さらに同ターゲット7をスパッタリング位置からターゲット列3に戻すターゲットローディング部10とを有する。
【選択図】図1
Description
本発明は、真空チャンバ内で高エネルギーの粒子をターゲットに衝突し、これによりターゲットからそれを構成する材料分子を発射させるスパッタリング装置において、複数のターゲットを順次スパッタ位置に供給し、スパッタすることができるようにしたマルチターゲットスパッタリング装置に関する。
スパッタリング法により、半導体ウエハ等の基板の上に多層の薄膜を形成する場合、真空チャンバ内において、異なる材料からなるターゲットを順次スパッタ電極によりスパッタリングし、基板上に複数の材料を成膜することが必要である。また、単一材料の層を成膜する場合でも、基板が複数あって、多くの量のターゲットが必要なときは、スパッタリングにより消耗したターゲットに代えて、新たな別のターゲットをスパッタリングする必要がある。
従来において、前述のように複数のターゲットをスパッタリングして成膜する場合、予め真空チャンバの中にターゲットとそのターゲットをスパッタするためのスパッタ電極を含む必要な数のターゲット源を設置しておく必要があった。しかしながら、このようにして複数のターゲット源を真空チャンバに設置しておくには、そのスパッタ源の数だけのスパッタ電源が必要となり、装置が大型となってしまう。
そこで、真空チャンバ内で複数のターゲットを効率よく短時間に交換して順次スパッタリングすることができるマルチターゲットスパッタリング装置として、例えば、特開2004−256425号公報に記載されたものが知られている。このマルチターゲットスパッタリング装置は、真空チャンバ内でターゲットをスパッタリングする位置の下に回転するターンテーブルを設け、このターンテーブルの回転中心から一定の距離の円周上に複数のターゲットを配置し、ターンテーブルの回転と位置決め停止により、順次複数のターゲットをスパッタリング位置の真下に搬送し、そこからリフトでターゲットをスパッタリングする位置まで押し上げてスパッタリングするようにしている。そしてターゲットをスパッタリングした後は、リフトによりターゲットを下降してターンテーブル上に戻し、ターンテーブルの回転により次のターゲットをスパッタリング位置の真下に搬送し、同様にしてスパッタリング位置まで押し上げ、スパッタリングする。これにより、真空チャンバの外部から複数のターゲットを順次導入することなく、真空チャンバの内部で複数のターゲットを順次交換することを可能としている。
近年、基板上に形成する薄膜の層数が増える傾向にあり、このため同一基板に対して使用するターゲットの数も多数化している。そのため、スパッタリングによる成膜工程中に使用するターゲットの数も増大している。
このような中で、前記のようなターンテーブルによるターゲットの交換方式では、必要とするターンテーブルの径が大きくなる。ターンテーブルは真空チャンバに設けられるので、その径が大きくなるということは、真空チャンバの容積の増大が必要とされることになる。真空チャンバの容積の増大すると、装置全体が大型化するだけでなく、大きな容積の真空チャンバを真空吸引する真空ポンプ等の周辺装置も強化しなければならず、経済的な装置の設計は困難となる。
特開2002−256425号公報
特開2001−234336号公報
特開2004−176160号公報
このような中で、前記のようなターンテーブルによるターゲットの交換方式では、必要とするターンテーブルの径が大きくなる。ターンテーブルは真空チャンバに設けられるので、その径が大きくなるということは、真空チャンバの容積の増大が必要とされることになる。真空チャンバの容積の増大すると、装置全体が大型化するだけでなく、大きな容積の真空チャンバを真空吸引する真空ポンプ等の周辺装置も強化しなければならず、経済的な装置の設計は困難となる。
本発明は、このような従来のマルチターゲットスパッタリング装置における課題に鑑み、多数のターゲットを容積の小さい真空チャンバ内に収納し、ターゲット位置へのローディングとアンローディングが可能なマルチターゲットスパッタリング装置を提供することを目的とする。
本発明では、前記の目的を達成するため、ターゲット7を縦に一定の間隔で並べたターゲット列3を真空チャンバ1内に収納し、これをターゲット7の配列間隔毎に上方または下方下に移動しながら、目的のターゲット7をスパッタリング位置にローディング及びアンローディングするようにしたものである。ターゲット7を縦に並べることによって真空チャンバ1の平面積を小さく抑え、高さだけ変えることで必要な数のターゲット7を装填、使用出来るようにした。
すなわち、本発明によるマルチターゲットスパッタリング装置は、真空チャンバ1内で複数のターゲット7を縦に一定の間隔で並べて配置したターゲット列3と、このターゲット列3を前記ターゲット7の間隔毎に上方または下方に移動するターゲット上下移動機構6と、ターゲット列3から一つのターゲット7を水平移動させて、同ターゲット7をスパッタリング位置へ搬送し、さらに同ターゲット7をスパッタリング位置からターゲット列3に戻すターゲットローディング部10とを有するものである。
例えば、ターゲット位置には、ターゲットローディング部10により搬送されてくるターゲット7を保持するターゲットホルダ16が設けられ、ターゲットローディング部10はこのターゲットホルダ16にターゲット7をローディングし、あるいはアンローディングする。
このような本発明によるマルチターゲットスパッタリング装置では、真空チャンバ1内で複数のターゲット7を縦に一定の間隔で並べて配置しているため、そのターゲット列3の平面上に占める面積を小さくすることが出来る。これにより、真空チャンバ1の容積を小さく設計出来ると共に、ターゲット7の数が多くなっても真空チャンバ1の高さを高くするだけで済む。スパッタリング装置では、ターゲット7と基板12とを上下に対向させるのが通常であるため、もともと上下の寸法は或る程度とらざるを得ないので、ターゲット列3の高さ分の寸法的余裕はある。そのため、或る程度多くのターゲットを使用する場合でも、真空チャンバの容積を大きくとらずに済む。またターゲット列3の移動が上下の直線的な移動で済むので、ターゲット7の送り機構も簡単で済む。
以上説明した通り、本発明によるマルチターゲットスパッタリング装置では、より多くの数のターゲット7を真空チャンバ1の中に収納し、それらターゲット7を順次ターゲット位置に送り出してスパッタリング出来る。これにより、基板12の上により多くの層の薄膜を形成する場合に、基板12を真空チャンバ1内においたままそれらの層の成膜が可能になる。しかも真空チャンバ1を大型化する必要が無いので、コンパクトな装置として纏めることが可能となる。
本発明では、真空チャンバ1内に収納する複数のターゲット7を縦に並べたターゲット3とし、これを上下に送りながら順次ターゲット7をターゲット位置に送ってスパッタリングするようにした。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、実施例をあげて詳細に説明する。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、実施例をあげて詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施例であるマルチターゲットスパッタリング装置の真空チャンバ1の周辺部分の要部縦断側面図、図2は同マルチターゲットスパッタリング装置を真空チャンバ1の上部付近で横に断面した要部平面図、図3は、同マルチターゲットスパッタリング装置の真空チャンバ1の部分の要部拡大縦断側面図、図4は、同マルチターゲットスパッタリング装置において、ターゲット列3から1つのターゲット7をスパッタリング位置にローディングし或いはアンローディングする動作を示すための要部横断平面図である。
図1や図3に示すように、真空チャンバ1の内部には、複数のターゲット7が上下に一定の間隔で並べられた状態のターゲット列3が格納されている。ターゲット列3は、真空チャンバ1の下の外部から上下運動を導入する形式のターゲット上下移動機構6の上に載せられ、ターゲット上下移動機構6により、ターゲット列3のターゲット7の上下の間隔と同じピッチで上下動される。図1や図3図においてターゲット7を実線で示した位置がターゲット列3が最も低い位置にある状態で、ターゲット7を二点鎖線で示した位置がターゲット列3が最も高い位置にある状態である。図1や図3では図示されていないが、複数のターゲット7はラック状のフレームに載せられた状態でターゲット列3を構成している。
このターゲット列3に隣接して真空チャンバ1内には、スパッタリング位置がある。このスパッタリング位置には、アーム状のターゲットホルダ16が設けられ、その下にスパッタ電極2が配置されている。スパッタ電極2は、例えばターゲット7に衝突させるイオンを発生するためのマグネット等を含む電極構造となっている。そのため、真空チャンバ1の外部であって、その下部にはスパッタ電極2に高周波電圧を印加する電源5が備えられている。スパッタ電極2は、真空チャンバ1の下の外部から上下運動を導入する形式の昇降機構4により上下動される。アーム状のターゲットホルダ16の上には、スパッタリング時用のターゲット7を保持するための別のターゲットホルダ17が設けられている。
真空チャンバ1の中のターゲットホルダ17の真上には、基板ホルダ11が配置され、この基板ホルダ11の下面に基板12が保持される。この基板ホルダ11の下面に保持された基板12は、前記ターゲットホルダ17に保持されるターゲット7と上下に対向する。基板ホルダ11は、真空チャンバ1の上の外部から上下運動を導入する形式の昇降機構18により上下動される。
真空チャンバ1の基板ホルダ11の下端付近の側方には、ゲートバルブ9を介して基板ローディング部8が取り付けられている。基板ローディング部8のゲートバルブ9に近い側には、予備の基板ホルダ15が設けられており、その下端部はラック状になっていて複数の基板12が装着出来る。予備の基板ホルダ15は、基板ローディング部8の上の外部から上下運動を導入する形式の昇降機構18により上下動される。この予備の基板ホルダ15の先には、トランスファーロッド19が設けられ、前記ゲートバルブ9が開いたとき、このトランスファーロッド19により予備の基板ホルダ15と真空チャンバ1内の基板ホルダ11との間で基板12が移動され、それら基板12が真空チャンバ1内の基板ホルダ11にローディング或いはアンローディングされる。
他方、ターゲット列3の側方であって、同ターゲット列3を挟んでスパッタリング位置と対向する側には、ターゲットローディング部10が設けられている。このターゲットローディング部10には、ターゲット7を保持出来る先端部を有するトランスファーロッド14が配置されている。図4に示す通り、このトランスファーロッド14によりターゲット列3とターゲットホルダ16との間でターゲット7が移動され、それらターゲット7がターゲットホルダ16にローディング或いはアンローディングされる。図4に実線で示したのがトランスファーロッド14の先端部がターゲット列3の位置にある状態、図4に二点鎖線で示したのがトランスファーロッド14の先端部がターゲットホルダ16の位置にある状態である。
次に、このマルチターゲットスパッタリング装置の一連の動作について説明する。
まず、真空チャンバ1内の基板ホルダ12の下端部には、予め基板12を装着しておく。前述したように、基板12の基板ホルダ12へのローディングは、ゲートバルブ9を介して基板ローディング部8側からトランスファーロッド19により行われる。
まず、真空チャンバ1内の基板ホルダ12の下端部には、予め基板12を装着しておく。前述したように、基板12の基板ホルダ12へのローディングは、ゲートバルブ9を介して基板ローディング部8側からトランスファーロッド19により行われる。
また、ターゲット列3の最初のターゲット7、例えば図1と図3に示す場合は、最も上のターゲット7がターゲットホルダ16と同じ高さとなるよう位置決めされている。この状態から図4に実線で示すように、ターゲットローディング部10のトランスファーロッド14の先端部でターゲット列3から最初のターゲット7を把持し、図4に二点鎖線で示すようにトランスファーロッド14の先端部が延びて最初のターゲット7をターゲットホルダ16にローディングする。その後、トランスファーロッド14の先端部が図1及び図3に示すようにターゲット列3より後退する。
続いて、昇降機構4によりスパッタ電極2を上昇させ、その上にターゲット7を載せてターゲットホルダ17にターゲット7をセットアップする。この状態で、スパッタ電極2に高周波電圧を印加し、ターゲット7をスパッタリングし、ターゲット7から発生する分子を上方に対向する基板12の成膜面に被着させ、成膜する。その後、スパッタ電極2を下降させ、ターゲット7をターゲットホルダ16に戻す。その後、ターゲットローディング部10のトランスファーロッド14のが延びてターゲット7をターゲットホルダ16からアンローディングし、そのターゲット7をターゲット列3に戻す。
次に、ターゲット上下移動機構6によりターゲット列3をターゲット7の上下の間隔と同じピッチで上昇させ、2つ目のターゲット7、例えば図1と図3に示す場合は、上から2番目のターゲット7がターゲットホルダ16と同じ高さとなるよう移動する。この状態で前述したのと同様にして図4に実線で示すように、ターゲットローディング部10のトランスファーロッド14の先端部でターゲット列3から最初のターゲット7を把持し、図4に二点鎖線で示すようにトランスファーロッド14の先端部が延びて最初のターゲット7をターゲットホルダ16にローディングする。これ以降は、前述と同様にして2番目のターゲット7をスパッタリングし、基板12に成膜した後、ターゲット7をターゲット列3に戻す。以下、これを繰り返して複数のターゲット7を順次スパッタリングし、基板12に成膜させる。これにより、複数のターゲット7をスパッタリングして基板12に成膜することが出来る。
図1と図3に二点鎖線で示したのは、ターゲット上下移動機構6によりターゲット列3が最も高い位置に上昇した状態である。これにより、ターゲット列3の全てのターゲット7をスパッタリングし終わり、最後のターゲット7がターゲット列3に戻ったら、ターゲット上下移動機構6によりターゲット列3を元の位置に下降させる。
この例では、ターゲット上下移動機構6によりターゲット列3を上方に移動させながら順次スパッタリングしたが、これとは逆に、ターゲット列3を下方に移動させながら順次スパッタリングすることも出来る。
この例では、ターゲット上下移動機構6によりターゲット列3を上方に移動させながら順次スパッタリングしたが、これとは逆に、ターゲット列3を下方に移動させながら順次スパッタリングすることも出来る。
なお、ターゲット列3の複数のターゲット7を順次スパッタリングして基板12に成膜させるに当たり、基板ローディング部8側からゲートバルブ9を通して基板ホルダ11に保持される基板12を交換すれば、2数以上の基板12に成膜することも出来る。交換する基板12は予めゲートバルブ9の外側にある予備の基板ホルダ15に装填しておく。
1 真空チャンバ
3 ターゲット列
6 ターゲット上下移動機構
7 ターゲット
10 ターゲットローディング部
16 ターゲットホルダ
3 ターゲット列
6 ターゲット上下移動機構
7 ターゲット
10 ターゲットローディング部
16 ターゲットホルダ
Claims (2)
- 真空チャンバ(1)内のスパッタリング位置にスパッタリング用の複数のターゲット(7)を順次供給し、前記スパッタリング位置でターゲット(7)を順次スパッタリングして同ターゲット(7)と対向する基板(12)上に薄膜を体積させるマルチターゲットスパッタリング装置において、真空チャンバ(1)内で複数のターゲット(7)を縦に一定の間隔で並べて配置したターゲット列(3)と、このターゲット列(3)を前記ターゲット(7)の間隔毎に上方または下方に移動するターゲット上下移動機構(6)と、ターゲット列(3)から一つのターゲット(7)を水平移動させて、同ターゲット(7)をスパッタリング位置へ搬送し、さらに同ターゲット(7)をスパッタリング位置からターゲット列(3)に戻すターゲットローディング部(10)とを有することを特徴とするマルチターゲットスパッタリング装置。
- ターゲット位置は、ターゲットローディング部(10)により搬送されてくるターゲット(7)を保持するターゲットホルダ(16)が設けられ、ターゲットローディング部(10)はこのターゲットホルダ(16)にターゲット(7)をローディングし、あるいはアンローディングすることを特徴とする請求項1に記載のマルチターゲットスパッタリング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006016074A JP2007197749A (ja) | 2006-01-25 | 2006-01-25 | マルチターゲットスパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006016074A JP2007197749A (ja) | 2006-01-25 | 2006-01-25 | マルチターゲットスパッタリング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007197749A true JP2007197749A (ja) | 2007-08-09 |
Family
ID=38452634
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006016074A Pending JP2007197749A (ja) | 2006-01-25 | 2006-01-25 | マルチターゲットスパッタリング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007197749A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10158831A (ja) * | 1996-12-06 | 1998-06-16 | Dainippon Printing Co Ltd | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
JP2000273631A (ja) * | 1999-03-24 | 2000-10-03 | Olympus Optical Co Ltd | スパッタリング装置 |
WO2005116288A1 (ja) * | 2004-05-31 | 2005-12-08 | Tdy Inc. | 多層薄膜連続形成用超高真空スパッタリング装置及び多層薄膜連続形成用超高真空スパッタリング方法 |
-
2006
- 2006-01-25 JP JP2006016074A patent/JP2007197749A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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JPH10158831A (ja) * | 1996-12-06 | 1998-06-16 | Dainippon Printing Co Ltd | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
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WO2005116288A1 (ja) * | 2004-05-31 | 2005-12-08 | Tdy Inc. | 多層薄膜連続形成用超高真空スパッタリング装置及び多層薄膜連続形成用超高真空スパッタリング方法 |
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