JP2007184081A - 半導体探針を利用した情報再生方法及びそれを適用した装置 - Google Patents

半導体探針を利用した情報再生方法及びそれを適用した装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007184081A
JP2007184081A JP2006348074A JP2006348074A JP2007184081A JP 2007184081 A JP2007184081 A JP 2007184081A JP 2006348074 A JP2006348074 A JP 2006348074A JP 2006348074 A JP2006348074 A JP 2006348074A JP 2007184081 A JP2007184081 A JP 2007184081A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
semiconductor
semiconductor probe
information
frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006348074A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4503587B2 (ja
Inventor
Dong-Ki Min
桐基 閔
Seung-Bum Hong
承範 洪
Hong-Sik Park
弘植 朴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2007184081A publication Critical patent/JP2007184081A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4503587B2 publication Critical patent/JP4503587B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B9/00Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
    • G11B9/12Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
    • G11B9/14Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B9/00Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
    • G11B9/02Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using ferroelectric record carriers; Record carriers therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B9/00Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
    • G11B9/12Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
    • G11B9/14Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
    • G11B9/1409Heads
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q80/00Applications, other than SPM, of scanning-probe techniques

Landscapes

  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

【課題】半導体探針を利用した情報再生方法及びこれを適用した装置を提供する。
【解決手段】情報記録媒体で発生する電界によってチャンネルが変わる半導体チップを有する半導体探針と、電界によって誘起された情報信号を変調するように半導体探針に高周波変調信号を加えて変調電界を形成させる変調部と、半導体探針で発生された信号を検出する信号検出部と、信号検出部で検出された信号から変調電界によって変調された情報信号を抽出する復調部と、を備える半導体探針を利用した情報再生装置である。本発明によれば、変調によって電界変化による信号と熱的変化による信号とを分離して有効な情報信号を検出することによって、SNRが向上し、これにより、熱的ノイズにも拘わらず、情報信号を安定的に再生しうる。
【選択図】図2A

Description

本発明は、電界効果半導体探針を利用した情報再生方法及びそれを適用した装置に係り、熱的な不安定に起因したノイズ信号と媒体の電界変化に起因した情報信号とを分離する情報再生方法及び装置に関する。
最近、携帯用通信端末機、電子手帳のような小型製品に対する需要が増加するにつれて、超小型・高集積・不揮発性記録媒体の必要性が増加している。既存のハードディスクは、小型化が容易でなく、フラッシュメモリを高集積化することも難しいので、これに対する代案として走査探針(scanning probe)を利用した情報記録装置及び方法が研究されている。
探針は、色々なSPM(Scanning Probe Microscopy)技術に利用される。例えば、探針と試料との間に印加される電圧差によって、流れる電流を検出して情報を再生するSTM(Scanning Transmission Microscope)、探針と試料との間の原子間力(atomic force)を利用するAFM(Atomic Force Microscope)、試料の磁場と磁化した探針との間の磁力を利用するMFM(Magnetic Force Microscope)、可視光線の波長による解像度の限界を改善した走査型近接場光学顕微鏡(Scanning Near−Field Optical Microscope:SNOM)、試料と探針との間の静電気力を利用した静電気力顕微鏡(Electrostatic Force Microscope:EFM)に利用される。
韓国の林・グンベら(Lim,Geunbae et al)は、メディアの表面電荷を電界効果によって検出する電界効果探針を提案した(特許文献1及び2参照)。Limらが提案した探針は、電界によってキャリアチャンネルが形成される電界効果トランジスタ形態の半導体チップを有する。半導体チップに印加される電界は、メディアの表面にトラップされた電荷あるいはダイポールモーメントによって形成される。記録された情報に対応してディスクにトラップされた電荷がしきい電界強度以上の強度を有する電界を形成すれば、チャンネルが形成されて、電界効果探針の抵抗が小さくなる。したがって、記録された情報に対応した抵抗の変化によって記録された情報を再生しうる。
また、本出願の共同発明者である韓国のバク・ホンシクら(Park,Hong−sik et al)は、半導体チップのチャンネル領域が弱くドーピングされている抵抗性半導体探針を提案した(特許文献3参照)。抵抗性半導体探針の半導体チップは、無電界時にも弱い電流が流れうるほどに不純物が弱くドーピングされているため、弱い電界も検出しうる。すなわち、バク・ホンシクらが提示した方法は、無電界時にもキャリアがチャンネルで移動できるように低い移動度を半導体チップに付与することによって、弱い電界に対しても高い感度を保証する。
しかし、このような抵抗性半導体チップは、熱に敏感であり、したがって、温度変化によって抵抗変化が大きいという特性を有する。このような熱的不安定性による抵抗の変化は、抵抗性半導体探針の欠点として現れる。すなわち、不安定な探針の温度の変化は、抵抗性半導体チップでノイズ電流である不安定電流変化を引き起こす。このようなノイズ電流は、電界と関係なく温度の変化によって発生する。抵抗性半導体探針の不安定な温度変化は、メディアと探針との間の不安定な間隔変動あるいは接触面積によって、探針やこれを支持するカンチレバーから発生した熱が定常的かつ持続的に排出されないために、発生する。
このような抵抗性半導体探針の不安定な温度変化を抑制するためには、探針とメディアとの間の間隔を一定に維持させる必要がある。このようにするための一方法では、探針に対面するメディアの表面を非常に滑らかにすることであるが、いくらメディア表面の平滑度を極大化しても、その平滑度の限界により、十分で効果的な熱的安定性を確保できない。これは、メディアと探針との間の間隔が数nmの範囲内で変化しても温度変化によるノイズ電流が発生し、メディア表面を鏡のように滑らかに加工しても、その平滑度を数nmの範囲内で調節できないためである。他の方案として、探針とメディアとの間隔を十分に大きくすることがあるが、この方案は、高い開口率を有する抵抗性半導体探針を製作し難いため、その可能性は少ない。このような熱的な不安定性によるノイズ電流の発生は、前述した林・グンベらによって提示された半導体探針でも発生する可能性が多少ある。
したがって、電界効果によって電流の流れが制御される半導体探針を利用して、電荷によって情報が記録されたメディアから効果的に情報を読み取るためには、半導体探針の熱的不安定性に起因したノイズ電流にも拘わらず、S/N比の向上を通じて効果的に信号を再生できる方法の研究が必要である。
米国特許第6,521,921号明細書 韓国特許第0366701号明細書 米国公開特許2005/0231225A1号
本発明は、半導体プローブの特別な構造変更なしに、熱的不安定性に敏感な半導体探針を利用して情報を効果的に再生できる半導体探針を利用した情報再生装置及び方法を提示することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明による電界効果半導体探針を利用した情報再生装置は、情報記録媒体が発生する電界によってチャンネル状態が変わる半導体チップを有する半導体探針と、前記電界によって誘起された情報信号を変調するように前記半導体探針に高周波変調信号を加えて変調電界を形成させる変調部と、前記半導体探針で発生された信号を検出する信号検出部と、前記信号検出部で検出された信号から前記変調電界によって変調された情報信号を抽出する復調部と、を備える。
本発明の望ましい実施形態によれば、前記半導体探針は、n型半導体で形成されたチップと、前記電界によって前記チップの尖頭部に前記チャンネルが形成される領域と、前記チャンネルが形成される領域の両側の傾斜面にn型不純物でドーピングされたソース及びドレイン領域と、前記チップが設けられる末端を有するものであってp型半導体で形成されたカンチレバーと、を備え、前記変調部は、高周波変調信号発生器と、前記カンチレバーに設けられ、前記高周波変調信号発生器から前記高周波変調信号が印加される電極と、を備え、さらに望ましくは、前記チャンネル領域は、n型半導体で前記ソース及びドレイン領域より低濃度でドーピングされている。
本発明の望ましい他の実施形態によれば、前記高周波変調信号は、正弦波信号であり、さらに望ましくは、前記高周波変調信号は、前記情報記録媒体が発生する電界の周波数より少なくとも5倍以上大きい高周波信号である。
本発明の望ましいさらに他の実施形態によれば、前記復調部は、前記信号検出部で検出された信号と復調信号とを乗算するマルチプライヤー(乗算演算器)と、前記マルチプライヤーから出力された信号から所定の周波数より小さな周波数領域の信号を抽出する低域通過フィルターと、を備え、前記復調信号は、前記変調信号と周波数がほぼ同じであり、前記信号検出部から検出された信号と位相がほぼ同じであり、さらに望ましくは、前記低域通過フィルターのカットオフ周波数は、前記変調信号の周波数より少なくとも10倍以上小さい。
本発明の望ましいさらに他の実施形態によれば、前記信号検出部は、前記半導体探針に電圧を分配印加して信号を抽出できるように電圧ディバイダ回路で構成され、前記電圧ディバイダ回路は、少なくとも一つ以上の抵抗及び前記半導体探針で構成されたブリッジ回路であるか、少なくとも一つ以上の抵抗を含み、前記半導体探針で帰還ループを形成した演算増幅器を備える反転増幅回路でありうる。さらに望ましくは、電圧ディバイダ回路によって発生するオフセット電圧を除去するために差動増幅器をさらに備えうる。
本発明による電界効果半導体探針を利用した情報再生方法は、情報記録媒体が発生する電界によってチャンネルが変わる半導体チップを有する半導体探針を利用して媒体に記録された情報を再生する方法において、前記半導体探針に高周波変調信号を加えて変調電界を形成して、前記電界によって誘起された情報信号を変調する変調ステップと、前記半導体探針で発生された信号を検出する信号検出ステップと、前記信号検出ステップで検出された信号から前記変調電界によって変調された情報信号を抽出する復調ステップと、を含む。
本発明の望ましい実施形態によれば、前記復調ステップは、前記信号検出ステップで検出された信号と復調信号とを乗算するステップと、前記乗算するステップから出力された信号から所定の周波数より小さな周波数領域の信号を抽出するステップと、を含み、前記復調信号は、前記変調信号と周波数とがほぼ同じであり、前記信号検出ステップで検出された信号と位相がほぼ同じである。
本発明の望ましい他の実施形態によれば、前記信号検出ステップは、前記半導体探針に電圧を分配して前記半導体探針で発生された信号を抽出し、さらに望ましくは、前記分配された電圧のオフセット電圧を除去して増幅するステップをさらに含む。
本発明によれば、変調によって電界変化による信号と熱的変化による信号とを分離して有効な情報信号を検出することによってSNRが向上し、これにより、熱的ノイズにも拘わらず、情報信号を安定的に再生しうる。
以下、本発明の実施形態による半導体探針を利用した情報再生方法および装置を図面を参照して詳細に説明する。
図1Aは、電界効果型半導体探針とメディアとの関係を説明する図面である。
図1Aに概略的に示したように、探針は、カンチレバーと、メディア表面に対面するようにカンチレバーの先端に形成される電界効果トランジスタ型半導体チップとを備える。ここで、カンチレバーで発生した熱は、メディア側に放出されるが、この時にメディア表面の粗度(roughness)によってその距離の変化が発生すれば、熱放出量が変化し、この熱放出量の変化によってカンチレバーとこれに固定された半導体チップとで熱的な抵抗変化が発生する。このような抵抗変化は、探針の全電流iRPに影響を及ぼす。
図1Bは、前記のような熱的抵抗rと電界によって変化される探針の抵抗rRPとが考慮された抵抗性探針の等価回路である。このような等価回路によれば、出力Vは、下記の数式によって得られる。下記の数式で、Rはバイアス抵抗であり、Vssはバイアス電圧である。
Figure 2007184081
前記の数式を通じて、熱的抵抗rの変化は、出力に影響を及ぼすということが分かる。本発明は、出力Vから熱的な抵抗変化による成分を分離してSNRを向上させる。
図2Aは、本発明による情報再生装置の概略的な構成を示す図面である。
分極ドメイン(polarization domain)によって情報を保存する強誘電体メディア10に対して、電界効果半導体チップ31を有する半導体探針30が所定間隔をおいて配置される。探針30からの出力は、信号検出部20に連結され、信号検出部20は、復調器50に連結されている。ここで、信号検出部20は、一種の信号前処理部であって、探針における電流変化から情報信号が含まれている変調信号を抽出する。そして、探針30には、メディア10の分極によって捕獲された電荷によって誘起された電流変化、すなわち、前記情報信号を変調する変調器40が連結される。前記変調器40は、所定の周波数の正弦波を発生し、半導体チップ31のチャンネル領域に変調電界を形成する。この変調電界により前記情報信号が変調される。前記信号検出部20は、前記変調された信号を含んで前記半導体探針30から発生した信号を検出して復調器50に送る。前記復調器50は、前記検出された信号の中から、前記変調器40によって変調された信号のみを分離して復調する。すなわち、本発明によれば、高周波変調信号によって情報信号が変調され、熱的な抵抗変化によるノイズ信号は変調されず、したがって、前記復調部で前記情報信号とノイズ信号とが分離される。
情報信号とノイズ信号との分離、すなわち、情報信号の変調及び復調については、後で詳細に説明する。一方、前記信号検出部20には、探針30に駆動電圧が印加されるようにバイアス電圧Vssを印加する。バイアス電圧は、信号検出部20を経由せずに前記探針30に直接印加されうる。バイアス電圧は、電界効果半導体探針が記録媒体の情報を読み取るプローブとして動作するために必要な電圧である。
本発明による図2Aに示された情報再生装置の構成要素は機能的に分離したものであって、設計によって機能が統合されてもよく、このような再生装置には、追加的な機能がさらに含まれうる。
前記探針30は、一般に公知の電界効果トランジスタ型探針が適用される。例えば、米国特許6,521,921号明細書に開示された電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成された走査探針や米国公開特許2005/0231225A1に開示された抵抗的なチップを有する半導体プローブを利用できる。
前記二種類の従来の探針だけでなく、他の同種の探針が本発明の再生装置及び情報再生方法に適用されるためには、半導体チップに変調電界が形成可能な構造を有さねばならないが、ほとんどの電界効果半導体探針は、前記のような条件を備えている。変調電界を形成するための構造チャンネル領域に電界を形成する要素としては、チャンネル領域に変調電界を形成する基板またはそれと別途に形成される電極であり、この電極に所定周波数の変調信号が印加される。変調信号が印加される電極(以下、変調電極)は、半導体チップが形成された基板の背面に設けられるか、または図2Bに示されたように、カンチレバーの一面に設けられうる。変調電極に変調信号が印加されれば、チャンネル領域で空乏層の発生によって電荷チャンネルが形成されるが、変調信号の強度によってチャンネルのサイズ、すなわち、電流の量が変化する。
図2Bは、本発明に適用される探針の一種であって、米国公開特許2005/0231225A1に開示されたプローブの構造を概略的に示しており、図2Cは、図2Bに示した探針のチップ部分の側断面を示している。
図2Bを参照すれば、シリコン基板33の上部に絶縁層37が積層されており、絶縁層37の上面には、電極39が形成されている。基板33の表面のシリコン層からカンチレバー35が延びており、カンチレバー35の先端部分にソースとドレイン及びこの間のチャンネル領域を有する半導体チップ31が形成されている。チップ31の傾斜面には、トランジスタのソースとドレインとが電気的に接触されたソース及びドレイン電極32,34が形成されている。チップ31の尖頭部には、第2不純物が低濃度にドーピングされており、若干の移動度を有する抵抗性チャンネル領域36が上記チップ31の尖頭部に形成されている。ソース及びドレイン電極32,34は、カンチレバー35を通じてパッド39と連結される。前述したように、前記チャンネル領域36は、電界によってのみチャンネルが形成されるか、または不純物が弱くドーピングされて、無電界時にも若干の移動度が与えられうる。ここで、前記基板33に変調器40の一構成要素である変調信号発生部41が連結されうる。さらに効果的な変調信号vsubの印加のために、図2B及び図2Cに示したように、前記基板33から延びたカンチレバー35の一面に変調電極35aが形成されうる。図2Aで、変調器40に前記変調電極35aを含んで表現したのは、信号変調が探針の半導体チップでなされ、したがって、探針の一部機能が変調器に含まれるためである。このような抵抗性半導体チップの構造及び動作は、米国公開特許2005/0231225A1を参照すれば、十分に分かる。
図3は、抵抗性半導体チップでの信号変調を説明する図面である。
基板にp層が形成されており、p層の表面にn型ソース及びドレイン並びにこれらソース・ドレイン間に弱くドーピングされたn−チャンネル領域が設けられている。基板には、所定周波数の正弦波が印加され、チャンネル領域には、正弦波による移動度の変化が起こる。この時にメディアからの電界が印加されれば、メディアからの電界がチャンネル領域に印加されて、正弦波による移動度の変化が現れるチャンネル領域の移動度の変化幅が拡張される。すなわち、電界による移動度の変化は、正弦波によって増幅され、この時に増幅された信号、すなわち、変調された信号が出力される。このとき、電界による信号のみが増幅され、前述したような熱的変化によって発生する移動度の変化、すなわち熱的な抵抗変化(電流変化)には前記変調正弦波が影響を及ぼさない。このような変調によれば、熱的変化による抵抗変化に比べて、電界変化による抵抗変化、すなわちメディアから得られた情報信号をさらに大きく増幅させうる。
以下の具体的な実施形態を通じて、本発明の情報再生装置及び情報再生方法について理解できる。
図4は、本発明にある実施形態による情報再生装置の概略的な回路図である。
図4に示された実施形態の信号検出部20は、第1抵抗Rと抵抗性半導体探針30の抵抗成分rとが直列に連結されたハーフブリッジ回路を構成して、前記半導体探針30にバイアス電圧Vssを分配印加して、情報再生信号を前記第1抵抗R1と抵抗性半導体探針30の抵抗成分rとが連結されたノードから検出する。詳細には、探針30の末端に形成されている電界効果半導体チップ31のドレイン電極34は、前記第1抵抗R1に連結され、前記ハーフブリッジには、バイアス電圧Vssが印加される。ここで、基板33、望ましくは、変調電極35aには、変調信号発生部41から変調電圧または変調信号vsubが印加される。
前記第1抵抗R1と抵抗性半導体探針30の抵抗成分rとが連結されたノードから出力された信号vは、復調器40に連結される。復調器40は、入力された信号に対して乗算演算するマルチプライヤーMPLとフィルター、例えば、低域通過フィルターLPF(Low Pass Filter)とを通じて、最終獲得された情報信号を出力する。
前記のように、本発明の情報再生装置及び方法は、SNRを高めるために情報信号の変調及び復調過程を経ることによって、熱的な抵抗変化によるノイズ信号を分離して復調する。さらに具体的に説明すれば、下記の通りである。
探針30の抵抗性半導体チップ31は、メディアによって誘起される電界を検出し、これにより、移動度、すなわち電気的抵抗が変わる。チップ31とメディアとの間の間隔は、メディアの表面粗度によって変化し、これにより熱の放出量が変わる。したがって、これによる移動度の変化によって抵抗の変化が現れる。したがって、抵抗性探針の総抵抗rは、半導体チップ31の純抵抗成分Ro、メディアからの電界変化によって変化される抵抗成分r、そして熱的な不安定性に起因した抵抗成分rの和で決定される。前述した第1抵抗器R1は、前記純抵抗成分と同じ値Roを有し、前記変調信号vsubは、所定周波数ωの正弦波である。ここで、変調信号の電圧vsubは、下記のように計算される。
Figure 2007184081
このとき、前記半導体探針に分配印加されるノード電圧vは、次のように計算される。
Figure 2007184081
ここで、電界によって変わる抵抗成分rの上添字ωは、変調電圧vsubの周波数ωに変調されたということを意味する。
前記の出力電圧vから電界によって変わる抵抗成分rを抜き出すために復調器50を使用する。復調器50は、マルチプライヤー51とLPF 52とを備える。前記変調信号vsubと同じ周波数を有し、前記出力電圧vと位相が同じ復調信号vsub’と、前記出力vとを前記マルチプライヤー51を利用して乗算すれば、下記のような出力電圧vomが得られる。
Figure 2007184081
ここで、各抵抗成分の上添字は、0、ω、2ωの周波数成分であることを表示する。
したがって、前記出力電圧vomをLPF 52に通過させて前記変調信号の周波数ω成分を有さない直流成分r のみを検出すれば、電界によって変わる抵抗成分rのみを検出できる。
図5は、本発明の他の実施形態による情報再生装置の概略的な回路図である。
図5に示した実施形態の情報再生装置は、変調信号の検出が二つのブランチを有するホイートストンブリッジによってなされる。図面で、左側のブランチは、直列に連結される抵抗性半導体チップ31と第1抵抗器R1とによって構成され、右側のブランチは、第2抵抗器R2及び第3抵抗R3によって構成される。探針30の末端に形成されている抵抗性半導体チップ31のドレイン電極34は接地され、ソース電極32は、前記第1抵抗R1に連結される。直列の第2抵抗器R2と第3抵抗器R3とによるブランチで第3抵抗器R3によって接地される。ホイートストンブリッジの左側ブランチと右側ブランチとには、共にバイアス電圧Vssが印加される。
ここで、基板33に、望ましくは、変調電極35aには、変調信号発生部41から変調電圧または変調信号vsubが印加される。第1抵抗器R1とソース電極32との間のノードP1と、第2抵抗R2と第3抵抗R3との間のノードP2とは、差動増幅器21の非反転(+)入力端と反転(−)入力端とにそれぞれ連結される。差動増幅器21の出力端は、復調器50に連結される。復調器50は、マルチプライヤーMPLとフィルター、例えば、LPFとを通じて、最終獲得された情報信号を出力する。
前記のように、本発明の情報再生装置及び方法は、SNRを高めるために情報信号の変調及び復調過程を経ることによって、熱的抵抗変化によるノイズ信号を分離して復調する。さらに具体的に説明すれば、下記の通りである。
探針30の抵抗性半導体チップ31は、メディアによって誘起される電界を検出し、これにより、移動度、すなわち電気的抵抗が変わる。チップ31とメディアとの間の間隔は、メディアの表面粗度によって変化され、したがって、熱の放出量が変わり、したがって、これによる移動度の変化で抵抗の変化が現れる。したがって、抵抗性探針の総抵抗rは、半導体チップ31の純抵抗成分Roと、メディアからの電界変化によって変化される抵抗成分rと、そして熱的な不安定性に起因した抵抗成分rとの和で決定される。前述した第1抵抗器R1は、前記純抵抗成分と同じ値Roを有し、前記第2抵抗器R2は、前記第3抵抗器R3と同じ値を有し、前記変調信号vsubは、所定周波数ωの正弦波である。ここで、変調信号の電圧vsubは、下記のように計算される。
Figure 2007184081
このとき、ブリッジのノード電圧vは、次のように計算される。
Figure 2007184081
ここで、電界によって変わる抵抗成分rの上添字ωは、変調電圧vsubの周波数ωに変調されたことを意味する。オフセット電圧を除去するために、抵抗R2及び抵抗R3によってホイートストンブリッジの一方のブランチが形成される。このとき、ブランチのノード電圧vは、次の通りである。
Figure 2007184081
両ブランチのノード電圧vとvとを、利得Aを有する差動増幅器10を利用して増幅すれば、出力電圧vは、次の値を有する。
Figure 2007184081
上の電圧vから電界によって変わる抵抗成分rを抜き出すために、復調器50を使用する。復調器50は、マルチプライヤー51とLPF 52とを備える。差動増幅器21の出力vと前記変調信号vsubと同じ周波数を有し、前記出力電圧vと位相が同じ復調信号vsub’を、マルチプライヤー51を利用して乗算すれば、下記のような出力電圧vomが得られる。
Figure 2007184081
ここで、各抵抗成分の上添字は、0、ω、2ωの周波数成分であることを表示する。
したがって、LPF 52を利用して直流成分のみを検出すれば、電界によって変わる抵抗成分rのみを検出できる。
以下では、本発明の他の実施形態による情報再生装置及び方法について説明する。
図6を参照すれば、前記半導体探針で帰還ループを形成した演算増幅器を含む反転増幅回路を使用して、半導体探針に電圧を分配印加して演算増幅器の出力端から信号を検出しうる。抵抗性探針30の先端に設けられた抵抗性半導体チップ31のソース電極32は、演算増幅器21の出力端端に連結され、ドレイン電極34は、演算増幅器21の反転入力端(−)に連結されている。前記演算増幅器21の反転入力端には、第1抵抗器R1が接続され、バイアスVssが印加される。これに加えて、非反転入力端(+)は接地される。前記演算増幅器21の出力端は、復調器50に連結する。復調器50は、マルチプライヤー51とフィルター、例えばLPF 52を有する。
前記のように、半導体チップ31の総抵抗Rは、純抵抗(nominal resistance)Rと電界によって変化されるr及び熱変化による抵抗成分rの和で決定される。第1抵抗は、前記半導体チップの純抵抗Rと同じ値を有する。基板33または変調電極35aには、所定周波数ωの正弦波である変調信号または変調電圧vsubが印加される。
Figure 2007184081
ここで、前記非反転入力端におけるインピーダンスは、無限大であるので、ここでの電流方程式を通じて演算増幅器21の出力電圧vを求めれば、次の通りである。
Figure 2007184081
ここで、電界によって変わる抵抗成分rの上添字は、変調電圧vsubの周波数ωで変調されたことを意味する。前記電圧から電界によって変わる抵抗成分rは、復調器50から得られる。復調器50は、マルチプライヤー51とLPF 52とを備える。前記演算増幅器21の出力vと、前記変調信号vsubと同じ周波数を有して前記出力電圧vと位相の同じ復調信号vsub’とをマルチプライヤーを利用して乗算すれば、次のような出力電圧vomが得られる。
Figure 2007184081
ここで、各抵抗成分の上添字0、ω、2ωは、周波数成分であることを表示する。したがって、LPF 52を利用してフィルタリングし、電界によって変わる抵抗成分rのみを検出できる。
前記のように、本発明は、熱的変化によるノイズ信号が混在する半導体チップからの信号を所定周波数の信号に変調し、これにより電界によって変わる抵抗による信号のみを変調し、これを復調することによって、熱的なノイズ信号のない純粋な情報信号を得る。
図7を参照すれば、抵抗性探針30の先端に設けられた抵抗性半導体チップ31のソース電極32は、演算増幅器21の出力端に連結され、ドレイン電極34は、演算増幅器21の反転入力端(−)に連結されている。演算増幅器21の反転入力端と非反転入力端とには、第1及び第2抵抗器R1,R2がそれぞれ接続され、これらに共にバイアス電圧Vssが印加される。これに加えて、非反転入力端(+)に前記第2抵抗器R2と電圧分配部を構成する第3抵抗器R3とが接続される。前記演算増幅器21の出力端は、復調器50に連結される。復調器50は、マルチプライヤー51とフィルター、例えば、LPF 52とを有する。
前記のように、半導体チップ31の総抵抗Rは、純抵抗Rと電界によって変化されるr及び熱変化による抵抗成分rの和で決定される。第1抵抗は、前記半導体チップの純抵抗Rと同じ値を有する。基板33または変調電極33aには、所定周波数ωの正弦波である変調信号または変調電圧vsubが印加される。
Figure 2007184081
ここで、非反転入力端と反転入力端との電位V及びVは、下記の通りである。
Figure 2007184081
Figure 2007184081
前記非反転入力端におけるインピーダンスは、無限大であるので、ここでの電流方程式は、次の通りである。
Figure 2007184081
このとき、演算増幅器21の出力電圧は、次の通りである。
Figure 2007184081
ここで、電界によって変わる抵抗成分rの上添字は、変調電圧vsubの周波数ωに変調されたことを意味する。前記電圧から電界によって変わる抵抗成分rは、復調器50から得られる。復調器50は、マルチプライヤー51とLPF 52とを備える。演算増幅器21の出力vと変調電圧vsubとをマルチプライヤーを利用して乗算すれば、次のような出力電圧vomが得られる。
Figure 2007184081
ここで、各抵抗成分の上添字0、ω、2ωは、周波数成分であることを表示する。したがって、LPF 52を利用してフィルタリングし、電界によって変わる抵抗成分rのみを検出できる。
前記のように、本発明は、熱的変化によるノイズ信号が混在する半導体チップからの信号を所定周波数の信号に変調し、これにより電界によって変わる抵抗による信号のみを変調し、これを復調することによって、熱的ノイズ信号のない純粋な情報信号を得る。
図8は、本発明による半導体探針を利用した情報再生方法についての手順を概略的に示す図面である。
ステップ10で、媒体に記録された情報によって発生する電界は、前記情報媒体の表面にトラップされた電荷またはダイポールモーメントによって発生する。前記電界によって半導体探針のチャンネル領域が変わり、探針30の抵抗が変わる。探針30に駆動電圧を加えて発生する信号は、探針の純抵抗成分と、前記電界によって変動される抵抗成分及び熱抵抗変動成分によるものに分けられる。
変調ステップ40では、前記半導体探針30に高周波変調信号Vsubを加えて変調電界を形成し、前記電界によって変動される抵抗成分信号のみを変調する。
信号検出ステップ20で、半導体探針に駆動電圧を加えて検出する信号には、前記変調信号によって変調された信号、すなわち、電界によって変動される変調された抵抗成分信号と探針の純抵抗成分、熱抵抗変動成分の信号の和で表現されうる。
前記信号検出ステップ20は、前記半導体探針にバイアス電圧Vssを分配し、前記半導体探針で発生する信号を抽出するように電圧分配回路で構成され、前記電圧分配回路としてブリッジ回路を使用するか、または帰還ループを有する演算増幅回路を使用することもある。このとき、電圧分配時に発生するオフセット電圧を除去するステップと検出信号を増幅するステップとをさらに含むこともある。これについての詳細な内容は、図4ないし図7の説明で既に記述したものと同様である。
復調ステップ50は、前記信号検出ステップで検出された信号から前記変調電界によって変調された情報信号を抽出するステップであって、前記信号検出ステップで検出された信号と復調信号と乗算するステップと、前記乗算するステップで出力された信号から所定の周波数より小さな周波数領域の信号を抽出するステップと、を含む。前記復調信号は、前記変調信号と周波数がほぼ同じであり、前記信号検出ステップで検出された信号と位相がほぼ同じである。これについての詳細な内容は、図4ないし図7の説明で既に記述したものと同様である。
図9及び図10は、前述したホイートストンブリッジ及び差動増幅器を信号検出部として利用した図5に開示された実施形態のシミュレーション結果をそれぞれ示す。
図9で、第一の波形図1は、電界によって変わる抵抗rの波形、第二の波形図2は、熱変化による抵抗成分r(単一正弦波と見なす)の波形、第三の波形図3は、差動増幅器の出力波形、第四の波形図4は、差動増幅器の出力を復調して電界によって変化される抵抗変化の波形を示す。
図10は、熱変化による抵抗変化を周波数の異なる3個の正弦波の和と仮定した場合のシミュレーション結果を示す。すなわち、図10で、第一の波形図1は、電界によって変わる抵抗rの波形、第二の波形図2は、熱変化による抵抗成分r(3個の正弦波が合成された合成波と見なす)の波形、第三の波形図3は、差動増幅器の出力波形、第四の波形図4は、差動増幅器の出力を復調して電界によって変化される抵抗変化の波形を示す。
前記のような本発明によれば、熱的不安定性に起因したノイズ信号から、メディアから得られた情報信号を成功的に得られ、特に、変調及び復調の過程を通じてSNRを高めうるので、さらに感度高く情報を再生しうる。
前記のような実施形態を通じて、当業者ならば、本発明の技術的思想によって多様な形態の探針を利用して情報を記録及び再生できる装置を製造しうるであろう。したがって、本発明の範囲は、説明された実施形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された技術的思想によって決定されねばならない。
本発明は、電界効果トランジスタ型探針が利用される多様な分野に適用され、特に情報再生分野に適用されうる。
一般的な電界効果型半導体探針とメディアとの関係を説明する図面である。 一般的な電界効果型半導体探針の等価回路図である。 本発明による情報再生装置の概略的な構成を示す図面である。 本発明による情報再生装置に使われる電界効果型半導体探針の概略的な斜視図である。 図2Bに示した探針のチップ部分を示す側面図である。 本発明によって変調信号による情報信号の変調を説明する図面である。 本発明の一実施形態による情報再生装置の概略的な等価回路図である。 本発明の他の実施形態による情報再生装置の概略的な等価回路図である。 本発明のさらに他の実施形態による情報再生装置の概略的な等価回路図である。 本発明のさらに他の実施形態による情報再生装置の概略的な等価回路図である。 本発明による情報再生方法を示す手順図である。 本発明の情報再生装置及び方法によるSNRの増大を確認して示すシミュレーショングラフである。 本発明の情報再生装置及び方法によるSNRの増大を確認して示すシミュレーショングラフである。
符号の説明
10 メディア
20 信号検出部
30 探針
31 半導体チップ
40 変調器
41 変調信号発生部
50 復調器

Claims (20)

  1. 情報記録媒体が発生する電界によってチャンネルが変わる半導体チップを有する半導体探針と、
    前記電界によって誘起された情報信号を変調するように、前記半導体探針に高周波変調信号を加えて変調電界を形成させる変調部と、
    前記半導体探針で発生された信号を検出する信号検出部と、
    前記信号検出部で検出された信号から前記変調電界によって変調された情報信号を抽出する復調部と、を備える半導体探針を利用した情報再生装置。
  2. 前記半導体探針は、p型半導体で形成されたチップと、前記電界によって前記チップの尖頭部に前記チャンネル状態が形成される領域と、前記チャンネルが形成される領域の両側の傾斜面にn型不純物でドーピングされたソース及びドレイン領域と、前記チップが設けられる末端を有するものであってp型半導体で形成されたカンチレバーと、を備え、
    前記変調部は、高周波変調信号発生器と、前記カンチレバーに設けられ、前記高周波変調信号発生器から前記高周波変調信号が印加される電極と、を備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  3. 前記半導体探針は、p型半導体で形成されたチップと、前記チップの尖頭部にn型半導体で低濃度ドーピングされて前記チャンネルが形成される領域と、前記チャンネルの両側の傾斜面にn型半導体で高濃度ドーピングされたソース及びドレイン領域と、前記チップの末端に設けられ、p型半導体で形成されたカンチレバーと、を備え、
    前記変調部は、高周波変調信号発生器と、前記カンチレバーに設けられ、前記高周波変調信号発生器から前記高周波変調信号が印加される電極と、を備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  4. 前記高周波変調信号は、正弦波信号であることを特徴とする請求項1ないし3のうち何れか1項に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  5. 前記高周波変調信号は、前記情報記録媒体が発生する電界の周波数より少なくとも5倍以上大きい高周波信号であることを特徴とする請求項4に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  6. 前記復調部は、前記信号検出部で検出された信号と復調信号とを乗算するマルチプライヤと、前記マルチプライヤから出力された信号から所定の周波数より小さい周波数領域の信号を抽出する低域通過フィルターと、を備え、前記復調信号は、前記変調信号と周波数がほぼ同じであり、前記信号検出部から検出された信号と位相がほぼ同じであることを特徴とする請求項1ないし3のうち何れか1項に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  7. 前記低域通過フィルターのカットオフ周波数は、前記変調信号の周波数より少なくとも10倍以上小さいことを特徴とする請求項6に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  8. 前記信号検出部は、前記半導体探針に電圧を分配印加して信号を抽出できるように電圧ディバイダ回路で構成されたことを特徴とする請求項1ないし3のうち何れか1項に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  9. 前記電圧ディバイダ回路は、少なくとも一つ以上の抵抗と前記半導体探針とで構成されたブリッジ回路であることを特徴とする請求項8に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  10. 前記復調部は、前記信号検出部で検出された信号と復調信号とを乗算するマルチプライヤ及び前記マルチプライヤから出力された信号から所定の周波数より小さい周波数領域の信号を抽出する低域通過フィルターを備え、前記復調信号は、前記変調信号と周波数が同じであり、前記信号検出部から検出された信号と位相が同じであることを特徴とする請求項9に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  11. 前記ブリッジ回路は、前記半導体探針と一つの抵抗とを含むハーフブリッジ回路であり、前記抵抗と前記半導体探針とが直列に連結されたノードで信号が検出されることを特徴とする請求項9に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  12. 前記ブリッジ回路は、前記半導体探針と3個の抵抗とを含むホイートストンブリッジ回路であり、差動増幅器をさらに備え、前記差動増幅器の反転あるいは非反転入力端は、前記半導体探針が含まれて第1抵抗と連結された第1ハーフブリッジ連結ノードまたは前記抵抗のみで構成された第2抵抗と第3抵抗との間の第2ハーフブリッジ連結ノードに連結され、前記差動増幅器の出力端から信号を検出することを特徴とする請求項9に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  13. 前記第1抵抗の抵抗値は、前記半導体探針の純抵抗成分の抵抗値とほぼ同じであり、前記第2抵抗及び前記第3抵抗の抵抗値がほぼ同じであることを特徴とする請求項12に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  14. 前記復調部は、前記信号検出部で検出された信号と復調信号とを乗算するマルチプライヤー及び前記マルチプライヤーから出力された信号から所定の周波数より小さい周波数領域の信号を抽出する低域通過フィルターを備え、前記復調信号は、前記変調信号と周波数がほぼ同じであり、前記信号検出部から出力された信号と位相がほぼ同じであることを特徴とする請求項13に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  15. 前記電圧ディバイダ回路は、少なくとも一つ以上の抵抗を含み、前記半導体探針で帰還ループを形成した演算増幅器を備える反転増幅回路であることを特徴とする請求項8に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  16. 前記復調部は、前記信号検出部で検出された信号と復調信号とを乗算するマルチプライヤー及び所定の周波数より小さい周波数領域の信号を抽出する低域通過フィルターを備え、前記復調信号は、前記変調信号と周波数が同じであり、前記信号検出部から出力された信号と位相が同じであることを特徴とする請求項15に記載の半導体探針を利用した情報再生装置。
  17. 情報記録媒体が発生する電界によってチャンネルが変わる半導体チップを有する半導体探針を利用して媒体に記録された情報を再生する方法において、
    前記半導体探針に高周波変調信号を加えて変調電界を形成して、前記電界によって誘起された情報信号を変調する変調ステップと、
    前記半導体探針で発生された信号を検出する信号検出ステップと、
    前記信号検出ステップで検出された信号から前記変調電界によって変調された情報信号を抽出する復調ステップと、を含む半導体探針を利用した情報再生方法。
  18. 前記復調ステップは、前記信号検出ステップで検出された信号と復調信号とを乗算するステップと、前記乗算するステップから出力された信号から所定の周波数より小さい周波数領域の信号を抽出するステップと、を含み、前記復調信号は、前記変調信号と周波数が同じであり、前記信号検出ステップで検出された信号と位相が同じであることを特徴とする請求項17に記載の半導体探針を利用した情報再生方法。
  19. 前記信号検出ステップは、前記半導体探針に電圧を分配する前記半導体探針で発生する信号を抽出することを特徴とする請求項18に記載の半導体探針を利用した情報再生方法。
  20. 前記信号検出ステップは、前記分配された電圧のオフセット電圧を除去し、かつ増幅するステップをさらに含むことを特徴とする請求項19に記載の半導体探針を利用した情報再生方法。
JP2006348074A 2006-01-09 2006-12-25 半導体探針を利用した情報再生方法及びそれを適用した装置 Expired - Fee Related JP4503587B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060002370A KR100682956B1 (ko) 2006-01-09 2006-01-09 반도체 탐침을 이용한 정보 재생 방법 및 이를 적용한 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007184081A true JP2007184081A (ja) 2007-07-19
JP4503587B2 JP4503587B2 (ja) 2010-07-14

Family

ID=38106413

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006348074A Expired - Fee Related JP4503587B2 (ja) 2006-01-09 2006-12-25 半導体探針を利用した情報再生方法及びそれを適用した装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7746753B2 (ja)
JP (1) JP4503587B2 (ja)
KR (1) KR100682956B1 (ja)
CN (1) CN101000782B (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090168636A1 (en) * 2007-12-31 2009-07-02 Tsung-Kuan Allen Chou Cantilever design with electrostatic-force-modulated piezoresponse force microscopy (pfm) sensing
KR20100000321A (ko) 2008-06-24 2010-01-06 삼성전자주식회사 전계기록 재생장치 및 방법
US20100116038A1 (en) * 2008-11-12 2010-05-13 International Business Machines Corporation Feedback- enhanced thermo-electric topography sensing
US8922227B2 (en) * 2011-03-08 2014-12-30 Freescale Semiconductor Inc. Systems and methods for detecting surface charge
US9678137B2 (en) * 2014-02-26 2017-06-13 Dell Products L.P. System and method to monitor contact joint integrity
US9784787B2 (en) * 2015-04-15 2017-10-10 Nxp Usa, Inc. Electric field sensor, system, and method for programming electronic devices on a wafer
CN105571727B (zh) * 2015-12-15 2018-10-02 清华大学 石墨烯热电堆器件的信号读出方法和读出系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04181642A (ja) * 1990-11-14 1992-06-29 Olympus Optical Co Ltd 走査型プローブ顕微鏡画像処理装置
JPH09282725A (ja) * 1996-04-10 1997-10-31 Canon Inc 情報記録再生装置
JP2005524925A (ja) * 2002-05-08 2005-08-18 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド 抵抗性チップを具備する半導体プローブ及びその製造方法、それを具備する情報記録装置、情報再生装置及び情報測定装置。

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6477132B1 (en) * 1998-08-19 2002-11-05 Canon Kabushiki Kaisha Probe and information recording/reproduction apparatus using the same
JP2000268421A (ja) * 1999-03-12 2000-09-29 Canon Inc 記録再生用プローブ、及び該プローブによって構成された記録再生装置
US6913982B2 (en) * 2001-05-08 2005-07-05 Geunbae Lim Method of fabricating a probe of a scanning probe microscope (SPM) having a field-effect transistor channel
JP4022391B2 (ja) * 2001-12-10 2007-12-19 株式会社ルネサステクノロジ 探針描画装置および方法および絶縁特性評価装置
JP2003296979A (ja) * 2002-01-31 2003-10-17 Yasuo Cho 誘電体記録媒体の記録条件抽出システム及び記録条件抽出方法並びに情報記録装置
KR100499127B1 (ko) * 2002-07-05 2005-07-04 삼성전자주식회사 고밀도 정보저장매체 및 그 제조방법 및 정보저장장치 및이를 이용한 정보 기록 및 재생 및 소거방법
JP3954457B2 (ja) * 2002-07-09 2007-08-08 パイオニア株式会社 誘電体記録媒体及び誘電体記録再生装置
JP3954456B2 (ja) * 2002-07-09 2007-08-08 パイオニア株式会社 ピックアップ装置
KR20040036379A (ko) * 2002-10-25 2004-04-30 엘지전자 주식회사 나노 정보 저장 시스템
JP4274571B2 (ja) 2003-05-01 2009-06-10 康雄 長 記録再生ヘッド及び記録再生装置
KR100519774B1 (ko) * 2003-09-06 2005-10-07 삼성전자주식회사 프로브 기술을 이용한 저장 기기의 데이터 기록방법
US7423954B2 (en) * 2003-12-17 2008-09-09 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Contact probe storage sensor pod
KR100624434B1 (ko) * 2004-09-07 2006-09-19 삼성전자주식회사 저항성 팁을 구비한 반도체 탐침 및 그 제조방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04181642A (ja) * 1990-11-14 1992-06-29 Olympus Optical Co Ltd 走査型プローブ顕微鏡画像処理装置
JPH09282725A (ja) * 1996-04-10 1997-10-31 Canon Inc 情報記録再生装置
JP2005524925A (ja) * 2002-05-08 2005-08-18 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド 抵抗性チップを具備する半導体プローブ及びその製造方法、それを具備する情報記録装置、情報再生装置及び情報測定装置。

Also Published As

Publication number Publication date
CN101000782B (zh) 2012-04-18
US7746753B2 (en) 2010-06-29
US20070159193A1 (en) 2007-07-12
CN101000782A (zh) 2007-07-18
JP4503587B2 (ja) 2010-07-14
KR100682956B1 (ko) 2007-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4503622B2 (ja) 情報メディア及びそれを利用する情報の記録及び再生装置
JP4503587B2 (ja) 半導体探針を利用した情報再生方法及びそれを適用した装置
JP4192146B2 (ja) 抵抗性チップを具備する半導体プローブ及びその製造方法、それを具備する情報記録装置、情報再生装置及び情報測定装置。
JP4274571B2 (ja) 記録再生ヘッド及び記録再生装置
Li et al. Bimodal magnetic force microscopy: Separation of short and long range forces
JP2004101440A (ja) 誘電体記録装置、誘電体再生装置及び誘電体記録再生装置
JP4098689B2 (ja) 誘電体再生装置、誘電体記録装置及び誘電体記録再生装置
JP2004178750A (ja) 誘電体記録再生ヘッド及び誘電体記録再生装置
JP2005004890A (ja) 針状部材を用いたデータ記録再生装置およびデータ記録再生方法
Moult et al. Ultrafast spectroscopy with a scanning tunneling microscope
JP2007132922A (ja) 半導体プローブ及びこれを用いた記録再生方法
US20050128928A1 (en) Recording / reproducing head, recording / reproducing head array, method of producing the same, and recording apparatus and reproducing apparatus
JP2009032389A (ja) 電場センサーのセンシング感度向上方法、電場センサーを採用した記憶装置、及びその情報再生方法
Saito et al. High frequency magnetic field imaging by frequency modulated magnetic force microscopy
US8339926B2 (en) Electric field read/write apparatus and method
JP3135753B2 (ja) プローブを用いた記録再生方法および装置
US5581538A (en) Recording/reproducing apparatus with a probe to detect data recorded in pits and projections of a recording medium
Wang et al. Dynamic tunneling force microscopy for characterizing electronic trap states in non-conductive surfaces
Kim et al. Scanning probe charge reading of ferroelectric domains
KR100468823B1 (ko) 다이아몬드팁을이용한고밀도데이터저장장치및그작동방법
KR20040036379A (ko) 나노 정보 저장 시스템
JPS6040504A (ja) 抵抗変化検出回路
KR20010026736A (ko) 비접촉 에이 에프 엠 모드를 이용한 정보 기록 장치 및 그 기록 재생방법
KR20040036380A (ko) 데이터 기록 및 판독 시스템
JPS6259269B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100226

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100323

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100421

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140430

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees