JP2007158076A - 基板熱処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】基板の端面や裏面の周縁端部が汚染されている場合であっても、その影響を受けることなく基板を好適に熱処理することができる基板熱処理装置を提供する。
【解決手段】基板熱処理装置は、熱処理プレート1と、規則的に配置され、基板の下面を当接支持する複数個の第1支持部材11と、基板Wよりやや小径のリング状を呈し、微小空間msを気密にするシール部15と、微小空間ms内の気体を排出するための排出孔17とを備えている。シール部15は基板Wの周縁端より内側の位置で当接するので、基板Wの端面や裏面の周縁端部が汚染されていても、シール部15が転写により汚染されることはない。このため、クロスコンタミネーションを招くことなく好適に基板を熱処理することができる。さらに、シール部15と最外周の第1支持部材11との間に適宜、第2支持部材13を補充することで、基板Wの撓みを抑制することができる。
【選択図】図1
【解決手段】基板熱処理装置は、熱処理プレート1と、規則的に配置され、基板の下面を当接支持する複数個の第1支持部材11と、基板Wよりやや小径のリング状を呈し、微小空間msを気密にするシール部15と、微小空間ms内の気体を排出するための排出孔17とを備えている。シール部15は基板Wの周縁端より内側の位置で当接するので、基板Wの端面や裏面の周縁端部が汚染されていても、シール部15が転写により汚染されることはない。このため、クロスコンタミネーションを招くことなく好適に基板を熱処理することができる。さらに、シール部15と最外周の第1支持部材11との間に適宜、第2支持部材13を補充することで、基板Wの撓みを抑制することができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体基板、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等(以下、単に「基板」と称する)の基板に対して熱処理を行う基板熱処理装置に係り、特に、熱処理プレートから微小空間を隔てて載置される基板を吸引した状態で熱処理する技術に関する。
近年、基板に形成されるパターンの線幅寸法の微細化に伴い、求められる線幅の均一性の要求値が厳しくなり、フォトリソグラフィのベーク熱処理、特に露光後のベーク(PEB:Post Exposure Bake)において温度均一性の要求が高まっている。しかし、基板の大口径化により半導体製造過程で発生する基板の反りも大きくなり、基板を熱処理プレートから微小空間を隔てて載置したのみで熱処理するプロキシミティ加熱方式では温度均一性の要求を満足させることが困難となっている。
そこで、反りが生じている基板に対しても均一な熱処理が行えるように、吸着ベーク方式が提案されている。この種の装置としては、ヒータが付設されている熱処理プレートと、熱処理プレートの上面に設けられる支持部材およびシール部と、熱処理プレートの上面に形成される排出孔とを備えたものが挙げられる(例えば、特許文献1参照)。ここで、シール部はリング状であり、基板の周縁端に当接する位置に配置されている。この装置では、支持部材により支持された基板と熱処理プレートとの間に形成される空間の側方をシール部によって密閉し、この空間から排出孔を通じて気体を排出することで基板を吸着する。これにより、基板の反りを矯正することができるので、基板を均一に加熱することができる。
特開平10−284360号公報
しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。
たとえば、フォトリソグラフィ工程において、感光剤(レジスト)を基板表面に塗布する際、基板端面や基板裏面にまでレジストが回りこんで付着する。したがって、露光処理前の加熱処理(プリベーク処理)、露光処理後の加熱処理(PEB:Post Exposure Bake)、および現像後の加熱処理(ポストベーク処理)において、シール部が基板の周縁端と接触すると、基板からシール部にレジストが転写され、クロスコンタミネーション(cross contamination)の原因となるという不都合を招く。また、このような不都合は、特にフォトリソグラフィ工程における感光剤塗布の場合に限らず、その他の薬液を用いて基板処理を行ったときにも生じ得る。
たとえば、フォトリソグラフィ工程において、感光剤(レジスト)を基板表面に塗布する際、基板端面や基板裏面にまでレジストが回りこんで付着する。したがって、露光処理前の加熱処理(プリベーク処理)、露光処理後の加熱処理(PEB:Post Exposure Bake)、および現像後の加熱処理(ポストベーク処理)において、シール部が基板の周縁端と接触すると、基板からシール部にレジストが転写され、クロスコンタミネーション(cross contamination)の原因となるという不都合を招く。また、このような不都合は、特にフォトリソグラフィ工程における感光剤塗布の場合に限らず、その他の薬液を用いて基板処理を行ったときにも生じ得る。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、基板の端面や裏面の周縁端部が汚染されている場合であっても、その影響を受けることなく基板を好適に熱処理することができる基板熱処理装置を提供することを目的とする。
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板に対して熱処理を行う基板熱処理装置において、熱処理プレートと、前記熱処理プレートの上面に規則的に配置され、基板の下面を当接支持する複数個の第1支持手段と、前記熱処理プレートの上面にリング状に設けられ、基板の周縁端より内側の位置で当接して基板と前記熱処理プレートとの間に形成される空間を気密にするシール手段と、前記空間内の気体を排出するための排出孔と、を備えていることを特徴とするものである。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板に対して熱処理を行う基板熱処理装置において、熱処理プレートと、前記熱処理プレートの上面に規則的に配置され、基板の下面を当接支持する複数個の第1支持手段と、前記熱処理プレートの上面にリング状に設けられ、基板の周縁端より内側の位置で当接して基板と前記熱処理プレートとの間に形成される空間を気密にするシール手段と、前記空間内の気体を排出するための排出孔と、を備えていることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、シール手段は、基板の周縁端より内側の位置で当接しているので、基板の端面や裏面の周縁端部が汚染されていても、シール手段が転写により汚染されることはない。よって、クロスコンタミネーションを招くことなく好適に基板を熱処理することができる。
本発明において、前記熱処理プレートの上面であってシール手段の内周面に沿う所定幅のリング状領域のうち、前記第1支持手段が比較的疎となっている範囲で、かつ、前記第1支持手段の配置位置から外れた位置に配置され、基板の下面を当接支持する第2支持手段を備えることが望ましい(請求項2)。シール手段を基板の周縁端より内側の位置で当接させて基板を吸着すると、基板の周縁端がシール手段を支点にして容易に反り上がるという不都合がある。そこで、第2支持手段を配置して、シール手段とこれと隣接する第1、第2支持手段との間で基板が撓む量を抑えることで、この不都合を解消することができる。よって、周縁端においても基板と熱処理プレートとの離隔距離がばらつかないので、基板全体を均一に熱処理することができる。
なお、「リング状領域のうち、第1支持手段が比較的疎となっている」とは、換言すれば、リング状領域のなかで第1支持手段の周方向の間隔が比較的大きくなっていることである。
本発明において、前記第1支持手段は、規則的に連続して並べられた正三角形の各頂点の位置に配置され、前記第2支持手段は、最外周に配置される各第1支持手段を仮想折れ線で結び、この仮想折れ線が前記熱処理プレートの中央に向かって凹む位置と前記シール手段との間に配置されることが好ましい(請求項3)。第2支持手段をこのように配置することで、好適に基板が反り上がることを抑制することができる。
本発明において、前記シール手段は平面視環形状を呈し、前記第1支持手段は、前記シール手段の中空中心点を通過する仮想線を含み、等間隔で互いに平行な第1仮想線群と、前記熱処理プレートの上面において前記第1仮想線群を前記中空中心点周りに60度回転させた第2仮想線群との各交点の位置に配置し、前記第2支持手段は、最外周に配置される第1支持手段のうち、前記中空中心点との距離が最も短いものと前記シール手段との間に配置されることが好ましい(請求項4)。第2支持手段をこのように配置することで、好適に基板が反り上がることを抑制することができる。
また、請求項5に記載の発明は、基板に対して熱処理を行う基板熱処理装置において、熱処理プレートと、前記熱処理プレートの上面に同心円状に設けられ、基板の下面を当接支持する複数個の支持手段と、前記支持手段の内周側と外周側とを連通する通気孔と、前記熱処理プレートの上面に環状に設けられ、基板の周縁端より内側の位置で当接して基板と前記熱処理プレートとの間に形成される空間を気密にするシール手段と、前記空間内の気体を排出するための排出孔と、を備えていることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項5に記載の発明によれば、シール手段は、基板の周縁端より内側の位置で当接しているので、基板の端面や裏面の周縁端部が汚染されていても、シール手段が転写により汚染されることはない。よって、クロスコンタミネーションを招くことなく好適に基板を熱処理することができる。
本発明において、前記シール手段と最外周の支持手段との間隔は、前記支持手段同士の間隔に比べて小さいことが好ましい(請求項6)。シール手段を基板の周縁端より内側の位置で当接させて基板を吸着すると、基板の周縁端がシール手段を支点にして容易に反り上がるという不都合がある。そこで、シール手段と最外周の支持手段との間隔を比較的小さくして、この間で基板が撓む量を抑えることで、この不都合を解消することができる。よって、周縁端においても基板と熱処理プレートとの離隔距離がばらつかないので、基板全体を均一に熱処理することができる。
この発明に係る基板熱処理装置によれば、シール手段は、基板の周縁端より内側の位置で当接しているので、基板の端面や裏面の周縁端部が汚染されていても、シール手段が転写により汚染されることはない。よって、クロスコンタミネーションを招くことなく好適に基板を熱処理することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施例1を説明する。
図1は、実施例に係る基板熱処理装置の概略構成を示す縦断面図であり、図2は、熱処理プレートの平面図である。
図1は、実施例に係る基板熱処理装置の概略構成を示す縦断面図であり、図2は、熱処理プレートの平面図である。
処理対象である基板Wを載置する熱処理プレート1は、マイカヒータなどの発熱体3が付設されている。発熱体3と熱処理プレート1の上面との間にあたる伝熱部5には、図示しないヒートパイプが複数本埋設されている。また、図示しない複数本のヒートパイプの間には、図示しない冷却溝が形成され、冷却用の流体が流通される。
この熱処理プレート1の上面には、基板Wの下面を当接支持する複数個の第1支持部材11と第2支持部材13とが設けられている。さらに、支持されている基板Wと熱処理プレート1との間に形成される微小空間(プロキシミティギャップともいう)msを気密にするシール部15が設けられている。
シール部15は、基板Wの外径よりやや小さい円環形状を呈する。本実施例では外径300mmの基板Wに対して、シール部15の径を280mmとしている。シール部15は、この中空部の中心点(以下、単に「中空中心点」という)Qが熱処理プレートの中心となるように、熱処理プレート1の上面に配置される。
図2を参照する。第1支持部材11は、熱処理プレート1の上面であってシール部15の中空部に、規則的に配列されている。本実施例では、規則的に連続して並べられた正三角形を仮想し(図2において各正三角形を一点鎖線で示す)、これら正三角形の各頂点の位置を第1支持部材11の配置位置としている。ここで、「規則的に連続して」とは「隣り合う2つの正三角形が2つの頂点で一致するようなパターンを繰り返して」という意味である。そして、いずれかの第1支持部材11が、平面視シール部15の中空中心点Qの位置と一致するように配列されている。言い換えれば、第1支持部材11の配置位置は、中空中心点Qを通る仮想線と、これと平行で互いに等間隔な複数の仮想線とを併せた第1仮想線群と、この第1仮想線群を中空中心点Q周りに60度回転させた第2仮想線群とを仮想し、第1仮想線群と第2仮想線群との各交点の位置となる。なお、図2に示す一点鎖線は、第1、第2仮想線群にも相当する。
これら第1支持部材11相互の間隔は、本実施例では35mmとしている。この場合、シール部15の内周側に配置できる第1支持部材11は55個である。
第2支持部材13は、最外周に配置される各第1支持部材11を仮想折れ線で結び、この仮想折れ線が熱処理プレート1の中央に向かって凹む位置とシール部15との間に配置される。図3は、仮想折れ線Lを模式的に示す熱処理プレートの平面図である。図示するように、本実施例では、仮想折れ線Lが熱処理プレート1の中央に向かって凹む位置が6箇所存在しており、各箇所に第2支持部材13が1個ずつ配置されている。
このように配置することで、最外周に配置される第1支持部材11のうち、前記中空中心点Qとの距離が最も短いものとシール部15との間に第2支持部材13を補充することができる。また、図3においてシール部15の内周面と、これと同心でやや径の小さい仮想円Cとによって囲まれる所定幅のリング状領域Aのうち、第1支持部材11の周方向の間隔が比較的大きい範囲に第2支持部材13を補充することができる。
上述した第1、第2支持部材11、13は球形状であり、その材質としてはセラミック等が例示される。熱処理プレート1の上面には、第1、第2支持部材11、13の配置位置に凹部が形成されており、第1、第2支持部材11、13はこの凹部に嵌め込まれて、固定されている。第1支持部材11と第2支持部材13は、それぞれこの発明における第1支持手段と第2支持手段とに相当する。
また、シール部15の高さは、第1支持部材11および第2支持部材13の突出高さと同じである。シール部15の材質としては、例えば、耐熱性及び弾性を有するポリイミド樹脂が好ましい。また、その他に、フッ素樹脂が利用可能である。シール部15は、この発明におけるシール手段に相当する。
熱処理プレート1の上面には、微小空間ms内の気体を排出する排出孔17が形成されている。排出孔17は4個であり、それぞれ第1、第2支持部材11、13を避けた位置に設けられている。各排出孔17は熱処理プレート1の下端側に貫通している。これら排出孔17には排出配管21の一端側が共通して連通接続され、その他端側に真空吸引源23が連通接続されている。この真空吸引源23は、例えば、クリーンルームに設けられたバキュームのユーティリティである。排出配管21には、微小空間ms内の圧力(負圧)を調整する圧力調整弁25と、圧力を計測する圧力計27とが設けられている。なお、さらに、真空破壊弁を備えた開閉弁を備えるように構成してもよい。排出配管21と真空吸引源23とは、排出手段として機能する。
さらに、熱処理プレート1には、図示しない搬送手段との間で基板Wの受け渡しを行う受け渡し部材31が設けられている。本実施例では、平面視中空中心点Qを重心とする正三角形の各頂点であって第1、第2支持部材11、13と排出孔17の位置を避けた位置に配置されている。受け渡し部材31の形状は棒状体であり、各配置位置に形成される受け渡し部材31よりやや大径の貫通孔33に挿通されている。各受け渡し部材31の下端は、単一の支持ベース35に共通して接続されている。支持ベース35は、エアシリンダ37の作動軸に連結されている。エアシリンダ37は、支持ベース35を上下に昇降駆動する。これら受け渡し部材31と支持ベース35とエアシリンダ37とは、基板受け渡し部として機能している。
制御部41は、上述した発熱体3の出力と、圧力調整弁25の開閉と、真空吸引源23の駆動と、エアシリンダ37の駆動を統括的に操作する。これらの操作は、予め記憶されているレシピに基づいて行われる。さらに、圧力調整弁25の開閉操作は、圧力計27の検出結果に基づいて行われる。制御部41は、各種処理を実行する中央演算処理装置(CPU)や、演算処理の作業領域となるRAM(Random-Access Memory)や、各種情報を記憶する固定ディスク等の記憶媒体等によって実現されている。
次に、上記のように構成されている基板熱処理装置の動作について図4を参照して説明する。図4は、基板熱処理装置による処理手順を示すフローチャートである。なお、発熱体3の温度制御等はレシピに応じて既に行われているものとし、以下の説明においては省略する。
<ステップS1> 基板Wを搬入する
図示しない搬送手段によって水平姿勢の基板Wが搬入されると、制御部41はエアシリンダ37を駆動して支持ベース35を上昇させる。受け渡し部材31は、熱処理プレート1の上面から上方へ突出して基板Wを受け取る。その後、エアシリンダ37を逆向きに駆動して、受け渡し部材31を下降させる。基板Wは第1、第2支持部材11、13に支持され、基板Wと熱処理プレート1との間に微小空間msが形成される。また、シール部15は基板Wより小径であるため、基板Wはその周縁端の内側においてシール部15に支持される。
図示しない搬送手段によって水平姿勢の基板Wが搬入されると、制御部41はエアシリンダ37を駆動して支持ベース35を上昇させる。受け渡し部材31は、熱処理プレート1の上面から上方へ突出して基板Wを受け取る。その後、エアシリンダ37を逆向きに駆動して、受け渡し部材31を下降させる。基板Wは第1、第2支持部材11、13に支持され、基板Wと熱処理プレート1との間に微小空間msが形成される。また、シール部15は基板Wより小径であるため、基板Wはその周縁端の内側においてシール部15に支持される。
<ステップS2> 基板Wを吸着する
制御部41は、真空吸引源23を駆動するとともに圧力調整弁25を操作する。これにより、微小空間ms内の気体(空気や窒素)は、排出孔17及び排出配管21を介して排出され、微小空間ms内の圧力は負圧に調整される。基板Wは、熱処理プレート1側に吸引される。したがって、反りが生じている基板Wであっても、第1、第2支持部材11、13とシール部15に沿うように矯正される。
制御部41は、真空吸引源23を駆動するとともに圧力調整弁25を操作する。これにより、微小空間ms内の気体(空気や窒素)は、排出孔17及び排出配管21を介して排出され、微小空間ms内の圧力は負圧に調整される。基板Wは、熱処理プレート1側に吸引される。したがって、反りが生じている基板Wであっても、第1、第2支持部材11、13とシール部15に沿うように矯正される。
図5および図6を参照して具体的に説明する。基板Wの反りとしては、図5(a)に示すように基板Wの中央部が上方に突出するように反ったもの(山型反り)と、図6(b)に示すように基板Wの中央部が下方に突出するように反ったもの(谷型反り)がある。
中央部が上方に突出した基板Wでは、基板Wを載置した時点で既に基板Wとシール部15が当接して微小空間msは気密になっているので、吸引により基板Wの中央部が熱処理プレート1側に第1、第2支持部材11、13に当接するまで引き寄せられる。これにより、基板Wの反りは、図5(b)に示すように略平坦に矯正される。一方、中央部が下方に突出した基板Wでは、基板Wを載置した時点ではシール部15は基板Wに当接しないので、微小空間msの側方は開放されている。しかし、この状態で吸引することにより、周囲から基板Wとシール部15との間を通じて微小空間ms内に気体が流入してベルヌーイ効果が生じ、基板Wの周縁部が下方に引き寄せられる(図6(a)において空気の流れを二点鎖線で示す)。やがて、基板Wの周縁部がシール部15に当接することで、微小空間msは気密になり、基板Wの反りは、図6(b)に示すように略平坦に矯正される。
このとき、厳密には、第1、第2支持部材11、13、シール部15の相互の間において、基板Wは熱処理プレート1側へ湾曲するようにわずかに撓んでいる。しかし、第2支持部材13を適所に設けているので、シール部15と最外周の支持部材11との間の撓みは、第1支持部材11同士の撓みに比べて大きくなることはない。ここで、シール部15と最外周の支持部材11の間とは、この間に第2支持部材13がない場合はシール部15と最外周の支持部材11の間であり、この間に第2支持部材13がある場合はシール部15と第2支持部材13との間、および、第2支持部材13と最外周の第1支持部材11との間である。したがって、基板Wの周縁端がシール部15を支点として上方に反り上がる量も抑制することができる。この結果、周縁端においても基板Wと熱処理プレート1との離隔距離がばらつくことがない。
図7を参照して、第2支持部材13を備えていない場合と比較して説明する。図7(a)は、本実施例において基板が吸引されている基板の周縁部の状態を示す要部断面図であり、図7(b)は、第2支持部材13を備えていない比較例において吸引されている基板の周縁部の状態を示す要部断面図である。なお、比較例における第1支持部材11の配列は本実施例と同様とする。
図示するように、本実施例および比較例のいずれの場合も、第1、第2支持部材11、13やシール部材15の相互間で、基板Wは熱処理プレート1側に近づく方向に撓む。また、基板Wの周縁端では、熱処理プレート1から遠くなる方向に反り上がり、基板Wと熱処理プレート1との離隔距離が最大となる。ここで、図示するように、本実施例と比較例とにおける離隔距離の最大値をそれぞれGmax、Hmaxとする。
しかし、本実施例では、第2支持部材13を備えているため、第1、第2支持部材11、13、およびシール部15の相互の間隔が最も大きくなるのは、第1支持部材11同士の間となる。これに対して、比較例では、最外周の第1支持部材11とシール部15との間隔が、第1支持部材11同士の間隔よりも大きく拡がる範囲が存在する。したがって、比較例では、本実施例に比べて基板Wが熱処理プレート1側に近づく方向により大きく撓む。
より、具体的には、本実施例では、第1支持部材11間で基板Wと熱処理プレート1との離隔距離が最小値Gminとなるのに対し、比較例では最外周の第1支持部材11とシール部15との間で離隔距離が最小値Hminとなる。そして、これらを比較すると、最小値Gminの方が最小値Hminより大きい。
また、上述した説明から明らかなように、シール部15と最外周の第1支持部材11または第2支持部材13との間で撓む量は、本実施例に比べて比較例の方が大きいため、その分、比較例では基板Wの周縁端がより大きく反り上がる。具体的には、基板Wと熱処理プレート1との離隔距離の各最大値Gmax、Hmaxを比較すると、最大値Hmaxの方が大きい。
このように、本実施例の方が、比較例に比べて熱処理プレート1と基板Wとの離隔距離のばらつきが抑制されている。言い換えれば、離隔距離の最大値(Gmax、Hmax)と最小値(Gmin、Hmin)の差である撓み量bは、本実施例の方が比較例に比べて小さい。
また、第1支持部材11を規則的に連続して並べられた正三角形の各頂点の位置にそれぞれ配置することによって、基板Wが吸引されて熱処理プレート1側に撓むことを効率良く抑制することができる。
<ステップS3> 基板Wを熱処理する
吸着支持されている基板Wに対して、予め決められた時間だけこの状態を保持することにより、基板Wに対して所定の熱処理を施す。このとき、基板Wの撓み量bが小さいので、基板Wの面内における温度のばらつきを低減させることができる。
吸着支持されている基板Wに対して、予め決められた時間だけこの状態を保持することにより、基板Wに対して所定の熱処理を施す。このとき、基板Wの撓み量bが小さいので、基板Wの面内における温度のばらつきを低減させることができる。
<ステップS4> 基板Wを搬出する
所定時間の熱処理を終えると、制御部41は、真空吸引源23を停止させるとともに圧力調整弁25を閉止して、微小空間ms内の排気を停止して、微小空間ms内の圧力を大気圧にする。これにより、基板Wの吸引が解除される。次いで、エアシリンダ37を駆動して受け渡し部材31を上昇させ、基板Wを上方へ持ち上げる。この状態で、図示しない搬送手段により基板Wを搬出する。
所定時間の熱処理を終えると、制御部41は、真空吸引源23を停止させるとともに圧力調整弁25を閉止して、微小空間ms内の排気を停止して、微小空間ms内の圧力を大気圧にする。これにより、基板Wの吸引が解除される。次いで、エアシリンダ37を駆動して受け渡し部材31を上昇させ、基板Wを上方へ持ち上げる。この状態で、図示しない搬送手段により基板Wを搬出する。
このように、実施例1に係る基板熱処理装置によれば、シール部15が基板Wの周縁端より内側の位置で当接しているので、基板Wの端面や裏面の周縁端部が汚染されていても、シール部15が転写により汚染されることはない。よって、クロスコンタミネーションを招くことなく好適に基板Wを熱処理できる。
また、第2支持部材13を備えることで、基板Wの周縁端においても基板Wと熱処理プレート1との離隔距離がばらつくことがないので、基板W全体を均一に熱処理できる。
また、第1支持部材11は、規則的に連続して並べられた正三角形の各頂点の位置にそれぞれ配置されているので、基板Wの撓み量を効率良く抑制できる。
いずれかの第1支持部材11の位置をシール部15の中空中心点Qと合わせることで、最外周の第1支持部材11とシール部15との距離も周方向に規則的に変化することになるので、第2支持部材13を補充すべき位置も規則的に存在させることができる。このように、第1、第2支持部材11、13の配列が複雑化することを防止できる。
以下、図面を参照して本発明の実施例2を説明する。なお、実施例1と同じ構成については同符号をふすことで詳細な説明を省略する。図8は、熱処理プレートの平面図である。
実施例2は、実施例1において第1、第2支持部材11、13に換えて以下に説明する支持部材12を備えた基板熱処理装置である。すなわち、この熱処理プレート1の上面には、基板Wの下面を当接支持する複数(4個)の支持部材12が設けられている。各支持部材12はそれぞれ異なる径を有する円環形状を呈し、互いに同心となるように配置されている。また、各支持部材12の各所には溝18が形成されている。これにより、支持部材12が基板Wと当接しているときであっても各支持部材12の内周側と外周側とは連通されている。なお、溝18は、この発明における通気孔に相当する。
最外周の支持部材12の外側には、シール部15が設けられている。シール部15と各支持部材12の径は、最外周の支持部材12とシール部15との間隔Iが各支持部材12相互の間隔i1、i2、i3よりも小さい関係となるように設定されている。たとえば、シール部15の半径を140mmとし、各支持部材12の半径をそれぞれ10mm、40mm、80mm、120mmとすることが例示される。この場合、間隔Iは20mmとなり、間隔i1、i2、i3をそれぞれ30mm、40mm、40mmとなり、間隔Iを他の間隔i1、i2、i3より小さくすることができる。
また、支持部材12の高さは、シール部15の高さと同じである。支持部材12の材質としては、例えば、耐熱性及び弾性を有するポリイミド樹脂が好ましい。また、その他に、フッ素樹脂が利用可能である。支持部材12は、この発明における支持手段に相当する。
このような実施例2にかかる基板熱処理装置において、基板Wを吸着する際の動作について説明する。
基板Wと熱処理プレート1との間には、支持部材12ごとに分断されることなく、溝18によって連通する単一の微小空間msが形成されている。制御部41が真空吸引源23および圧力調整弁25を操作して、微小空間ms内の圧力は負圧に調整する。基板Wは、熱処理プレート1側に吸引され、支持部材12とシール部15に沿うように矯正される。このとき、厳密には、基板Wは、各支持部材12の間や最外周の支持部材12とシール部15の間で撓む。しかし、最外周の支持部材12とシール部15との間隔Iは比較的小さいので、この間の基板Wの撓みは支持部材12相互の間に比べて小さい。この結果、周縁端においても基板Wと熱処理プレート1との離隔距離がばらつくことがない。
このように、実施例2に係る基板熱処理装置によっても、シール部15が基板Wの周縁端より内側の位置で当接しているので、基板Wの端面や裏面の周縁端部が汚染されていても、シール部15が転写により汚染されることはない。よって、クロスコンタミネーションを招くことなく好適に基板Wを熱処理できる。
また、シール部15と最外周の支持部材12との間隔Iを比較的小さくすることで、基板Wの周縁端においても基板Wと熱処理プレート1との離隔距離がばらつくことがない。よって、基板W全体を均一に熱処理できる。
また、溝18を備えること微小空間msが分断されないので、排出孔17を任意の位置に設けることができる。
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
(1)上述した各実施例では、直径が300mmの円形基板Wに対して、周縁端から内側へ10mmの位置に当接するようにシール部15の径を280mmとしたが、この値は適宜に変更することができる。
(2)上述した実施例1では、第1支持部材11の配置位置を規則的に連続して並べられた正三角形の各頂点としたが、これに限られない。たとえば、正三角形を正方形や正六角形として配置位置を変更してもよいし、その他の規則性を有しる配置位置に変更してもよい。
(3)上述した実施例1では、第2支持部材13を、仮想折れ線が熱処理プレート1の中央に向かって凹む位置とシール部15との間に配置したが、これに限られない。たとえば、仮想折れ線が凹もうと凹まないとに限らず、最外周の第1支持部材11のうち、前記中空中心点Qとの距離が最も短いものとシール部15との間に第2支持部材13を配置するようにしてもよい。さらに、前記中空中心点Qとの距離が最短となるときのみに限るのではなく、最外周の第1支持部材11が疎となっている範囲であれば、適宜な位置に第2支持部材13を配置してもよい。
(4)上述した各実施例では、基板Wが直径300mmの円形である場合であったが、これに限られない。たとえば、300mm以外の径を有する円形基板や、矩形状の基板を処理する基板熱処理装置であっても適用できる。なお、基板Wが矩形状である場合は、シール部15を適宜に矩形状とすることができる。
(5)上述した実施例2では、各支持部材12には溝18が形成されていたが、これに限られない。各支持部材12の内周側と外周側とで連通することができれば、適宜に変更することができる。たとえば、各支持部材12に溝18を形成せずに、熱処理プレート1に溝または貫通孔を形成するようにしてもよい。
(6)上述した各実施例では、第1、第2支持部材11、13は球形状であり、その材質としてセラミック等を例示したが、これに限られない。例えば、形状としては熱処理プレート1の上面から突出すれば任意の形状とすることができる。また、材質としても樹脂等に置換してもよい。
(7)上述した各実施例では、伝熱部5にヒートパイプを埋設した構成を例に採って説明したが、ヒートパイプを用いていない基板熱処理装置であっても適用することができる。
1 …熱処理プレート
11 …第1支持部材
12 …支持部材
13 …第2支持部材
15 …シール部
17 …排出孔
18 …溝
21 …排出配管
23 …真空吸引源
25 …圧力調整弁
27 …圧力計
41 …制御部
W …基板
ms …微小空間
d …支持部材間の間隔
Q …シール部の中空中心点
A …リング状領域
I …最外周の支持部材とシール部との間隔
i1、i2、i3 …各支持部材相互の間隔
11 …第1支持部材
12 …支持部材
13 …第2支持部材
15 …シール部
17 …排出孔
18 …溝
21 …排出配管
23 …真空吸引源
25 …圧力調整弁
27 …圧力計
41 …制御部
W …基板
ms …微小空間
d …支持部材間の間隔
Q …シール部の中空中心点
A …リング状領域
I …最外周の支持部材とシール部との間隔
i1、i2、i3 …各支持部材相互の間隔
Claims (6)
- 基板に対して熱処理を行う基板熱処理装置において、
熱処理プレートと、
前記熱処理プレートの上面に規則的に配置され、基板の下面を当接支持する複数個の第1支持手段と、
前記熱処理プレートの上面にリング状に設けられ、基板の周縁端より内側の位置で当接して基板と前記熱処理プレートとの間に形成される空間を気密にするシール手段と、
前記空間内の気体を排出するための排出孔と、
を備えていることを特徴とする基板熱処理装置。 - 請求項1に記載の基板熱処理装置において、
前記熱処理プレートの上面であってシール手段の内周面に沿う所定幅のリング状領域のうち、前記第1支持手段が比較的疎となっている範囲で、かつ、前記第1支持手段の配置位置から外れた位置に配置され、基板の下面を当接支持する第2支持手段を備えることを特徴とする基板熱処理装置。 - 請求項2に記載の基板熱処理装置において、
前記第1支持手段は、規則的に連続して並べられた正三角形の各頂点の位置に配置され、
前記第2支持手段は、最外周に配置される各第1支持手段を仮想折れ線で結び、この仮想折れ線が前記熱処理プレートの中央に向かって凹む位置と前記シール手段との間に配置されることを特徴とする基板熱処理装置。 - 請求項2に記載の基板熱処理装置において、
前記シール手段は平面視環形状を呈し、
前記第1支持手段は、前記シール手段の中空中心点を通過する仮想線を含み、等間隔で互いに平行な第1仮想線群と、前記熱処理プレートの上面において前記第1仮想線群を前記中空中心点周りに60度回転させた第2仮想線群との各交点の位置に配置し、
前記第2支持手段は、最外周に配置される第1支持手段のうち、前記中空中心点との距離が最も短いものと前記シール手段との間に配置されることを特徴とする基板熱処理装置。 - 基板に対して熱処理を行う基板熱処理装置において、
熱処理プレートと、
前記熱処理プレートの上面に同心円状に設けられ、基板の下面を当接支持する複数個の支持手段と、
前記支持手段の内周側と外周側とを連通する通気孔と、
前記熱処理プレートの上面に環状に設けられ、基板の周縁端より内側の位置で当接して基板と前記熱処理プレートとの間に形成される空間を気密にするシール手段と、
前記空間内の気体を排出するための排出孔と、
を備えていることを特徴とする基板熱処理装置。 - 請求項5に記載の基板熱処理装置において、
前記シール手段と最外周の支持手段との間隔は、前記支持手段同士の間隔に比べて小さいことを特徴とする基板熱処理装置。
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JP2005351940A JP2007158076A (ja) | 2005-12-06 | 2005-12-06 | 基板熱処理装置 |
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