JP2007151102A - ラインスキュー最小化装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】4つの位相信号を、4つの位相情報を含む1つの信号に圧縮する。したがって、全ての位相情報を含む信号は、同じラインを介して伝送され、この結果、金属配線の寸法が異なるために生じるスキューの問題を回避することができる。1つの信号が、2つの立ち上がりエッジ及び2つの立ち下がりエッジを有するので、第1及び第2の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジを選択するイネーブル信号線を用いる。この処理では、クリティカル信号出力は1つのみであり、したがって、信号線は1本でよい。これにより、信号のスキュー及び必要なパワーの両方を削減することができる。
【選択図】図6
Description
Claims (25)
- タイミングスキューを最小化するタイミングスキュー最小化装置において、
4位相クロック信号を生成する1つ以上のクロックパルス発生器と、
上記1つ以上のクロックパルス発生器に接続され、上記4位相クロック信号を受信し、伝送する単一のクロック信号線と、
4位相イネーブル信号を生成する1つ以上のイネーブルパルス発生器と、
上記1つ以上のイネーブルパルス発生器に接続され、上記4位相イネーブル信号を受信し、伝送するイネーブル信号線とを備えるタイミングスキュー最小化装置。 - 上記4位相クロック信号は、1サイクルに、第1の立ち上がりエッジ、第2の立ち上がりエッジ、第1の立ち下がりエッジ及び第2の立ち下がりエッジを含むことを特徴とする請求項1記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記第1の立ち上がりエッジは、0度情報を含み、上記第2の立ち上がりエッジは、180度情報を含むことを特徴とする請求項2記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記第1の立ち下がりエッジは、90度情報を含み、上記第2の立ち下がりエッジは、270度情報を含むことを特徴とする請求項2記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記4位相イネーブル信号は、第1の立ち上がりエッジと第2の立ち上がりエッジを識別するために使用されることを特徴とする請求項2記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記ラッチは、第1の立ち下がりエッジと第2の立ち下がりエッジを識別するために使用されることを特徴とする請求項2記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記1つ以上のクロックパルス発生器は、第1のトランジスタをトリガする第1のパルスを生成する0度パルス発生器と、第2のトランジスタをトリガする第2のパルスを生成する90度パルス発生器と、第3のトランジスタをトリガする第3のパルスを生成する180度パルス発生器と、第4のトランジスタをトリガする第4のパルスを生成する270度パルス発生器とを備えることを特徴とする請求項1記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記1つ以上のイネーブルパルス発生器は、第5のトランジスタをトリガする第5のパルスを生成する90度パルス発生器と、第6のトランジスタをトリガする第6のパルスを生成する270度パルス発生器とを備えることを特徴とする請求項7記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記イネーブル信号は、1サイクルに2つの遷移を含むことを特徴とする請求項1記載のタイミングスキュー最小化装置。
- タイミングスキューを最小化するタイミングスキュー最小化装置において、
4位相クロック信号を生成する1つ以上のクロックパルス発生器と、
4位相イネーブル信号を生成する1つ以上のイネーブルパルス発生器と、
上記4位相クロック信号及び4位相イネーブル信号を搬送するための信号線の対と、
上記信号線の対の1つの信号線に接続され、上記4位相クロック信号をドライブする第1のドライバと、
上記信号線の対の他方の信号線に接続され、上記4位相イネーブル信号をドライブする第2のドライバとを備えるタイミングスキュー最小化装置。 - 上記4位相クロック信号は、1サイクルに、第1の立ち上がりエッジ、第2の立ち上がりエッジ、第1の立ち下がりエッジ及び第2の立ち下がりエッジを含むことを特徴とする請求項10記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記第1の立ち上がりエッジは、0度情報を含み、上記第2の立ち上がりエッジは、180度情報を含むことを特徴とする請求項11記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記第1の立ち下がりエッジは、90度情報を含み、上記第2の立ち下がりエッジは、270度情報を含むことを特徴とする請求項11記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記4位相イネーブル信号は、第1の立ち上がりエッジと第2の立ち上がりエッジを識別するために使用されることを特徴とする請求項11記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記ラッチは、第1の立ち下がりエッジと第2の立ち下がりエッジを識別するために使用されることを特徴とする請求項11記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記1つ以上のクロックパルス発生器は、第1のトランジスタをトリガする第1のパルスを生成する0度パルス発生器と、第2のトランジスタをトリガする第2のパルスを生成する90度パルス発生器と、第3のトランジスタをトリガする第3のパルスを生成する180度パルス発生器と、第4のトランジスタをトリガする第4のパルスを生成する270度パルス発生器とを備えることを特徴とする請求項11記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記1つ以上のイネーブルパルス発生器は、第5のトランジスタをトリガする第5のパルスを生成する90度パルス発生器と、第6のトランジスタをトリガする第6のパルスを生成する270度パルス発生器とを備えることを特徴とする請求項16記載のタイミングスキュー最小化装置。
- 上記イネーブル信号は、1サイクルに2つの遷移を含むことを特徴とする請求項10記載のタイミングスキュー最小化装置。
- タイミングスキューを最小化するタイミングスキュー最小化方法において、
4つの位相クロック信号を1つの圧縮4位相クロック信号に圧縮するステップと、
4位相イネーブル信号を生成するステップと、
単一のクロック信号線を介して、上記圧縮4位相クロック信号を、及びイネーブル信号線を介して、4位相イネーブル信号を1つ以上の受信機に配信するステップとを有するタイミングスキュー最小化方法。 - 上記1つの圧縮4位相信号は、1サイクルに、第1の立ち上がりエッジ、第2の立ち上がりエッジ、第1の立ち下がりエッジ及び第2の立ち下がりエッジを含むことを特徴とする請求項19記載のタイミングスキュー最小化方法。
- 上記第1の立ち上がりエッジは、0度情報を含み、上記第2の立ち上がりエッジは、180度情報を含むことを特徴とする請求項20記載のタイミングスキュー最小化方法。
- 上記第1の立ち下がりエッジは、90度情報を含み、上記第2の立ち下がりエッジは、270度情報を含むことを特徴とする請求項20記載のタイミングスキュー最小化方法。
- 上記4位相イネーブル信号は、第1の立ち上がりエッジと第2の立ち上がりエッジを識別するために使用されることを特徴とする請求項20記載のタイミングスキュー最小化方法。
- 上記ラッチは、第1の立ち下がりエッジと第2の立ち下がりエッジを識別するために使用されることを特徴とする請求項20記載のタイミングスキュー最小化方法。
- 上記イネーブル信号は、1サイクルに2つの遷移を含むことを特徴とする請求項19記載のタイミングスキュー最小化方法。
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EP0498895A1 (en) | 1990-09-05 | 1992-08-19 | Fujitsu Limited | Semiconductor integrated circuit |
KR100200930B1 (ko) | 1996-12-06 | 1999-06-15 | 윤종용 | 버스트 모드동작에 적합한 반도체 메모리 장치의 로우 디코더 |
US5915107A (en) * | 1997-09-26 | 1999-06-22 | Advanced Micro Devices, Inc. | Cross clock domain clocking for a system using two clock frequencies where one frequency is fractional multiple of the other |
US6163864A (en) * | 1998-06-10 | 2000-12-19 | Compaq Computer Corporation | Method for cost-effective production testing of input voltage levels of the forwarded clock interface of high performance integrated circuits |
US6289068B1 (en) * | 1998-06-22 | 2001-09-11 | Xilinx, Inc. | Delay lock loop with clock phase shifter |
US6760857B1 (en) * | 2000-02-18 | 2004-07-06 | Rambus Inc. | System having both externally and internally generated clock signals being asserted on the same clock pin in normal and test modes of operation respectively |
US7003707B2 (en) * | 2000-04-28 | 2006-02-21 | Texas Instruments Incorporated | IC tap/scan test port access with tap lock circuitry |
DE10025569A1 (de) * | 2000-05-24 | 2001-12-13 | Infineon Technologies Ag | Integrierter Speicher mit Zeilenzugriffssteuerung zur Aktivierung und Vorladung von Zeilenleitungen und Verfahren zum Betrieb eines solchen Speichers |
GB2368473A (en) * | 2000-10-24 | 2002-05-01 | Advanced Risc Mach Ltd | Modified clock signal generator |
US6525565B2 (en) * | 2001-01-12 | 2003-02-25 | Xilinx, Inc. | Double data rate flip-flop |
JP4115676B2 (ja) | 2001-03-16 | 2008-07-09 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US7143326B2 (en) * | 2001-03-20 | 2006-11-28 | Credence Systems Corporation | Test system algorithmic program generators |
US20030043926A1 (en) * | 2001-08-31 | 2003-03-06 | Fujitsu Limited | Circuit and method for generating a timing signal, and signal transmission system performing for high-speed signal transmission and reception between LSIs |
US6836144B1 (en) * | 2001-12-10 | 2004-12-28 | Altera Corporation | Programmable series on-chip termination impedance and impedance matching |
US6642763B2 (en) * | 2001-12-19 | 2003-11-04 | Intel Corporation | Long setup flip-flop for improved synchronization capabilities |
US6880117B2 (en) * | 2002-06-14 | 2005-04-12 | Macronix International Co., Ltd. | Memory device test system and method |
US7242737B2 (en) * | 2003-07-09 | 2007-07-10 | International Business Machines Corporation | System and method for data phase realignment |
US6885227B2 (en) * | 2003-07-29 | 2005-04-26 | Lattice Semiconductor Corporation | Clock generator with skew control |
JP2005160088A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Samsung Electronics Co Ltd | パルスベースフリップフロップ |
US6943599B2 (en) * | 2003-12-10 | 2005-09-13 | International Business Machines Corporation | Methods and arrangements for a low power phase-locked loop |
US6967861B2 (en) | 2004-02-27 | 2005-11-22 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for improving cycle time in a quad data rate SRAM device |
DE102004044422B3 (de) * | 2004-09-14 | 2006-03-30 | Infineon Technologies Ag | Kalibrierungsschaltung für eine Treibersteuerschaltung und Treibersteuerschaltung |
US7228476B2 (en) * | 2004-11-05 | 2007-06-05 | Stmicroelectronics, Inc. | System and method for testing integrated circuits at operational speed using high-frequency clock converter |
US7254793B2 (en) * | 2005-02-04 | 2007-08-07 | Synopsys, Inc. | Latch modeling technique for formal verification |
US7308592B2 (en) * | 2005-02-11 | 2007-12-11 | International Business Machines Corporation | Redundant oscillator distribution in a multi-processor server system |
US7536618B2 (en) * | 2006-05-25 | 2009-05-19 | Micron Technology, Inc. | Wide frequency range signal generator and method, and integrated circuit test system using same |
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