JP2007078434A - 三次元位置測定装置、波面収差測定装置および三次元形状測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】測長干渉計の測定基準となる基準ミラーを保持する構造体に、ベースの変形や振動が伝播するのを防ぐ。
【解決手段】三次元形状測定のためのプローブ等を保持する移動ステージ7の三次元位置を測長干渉計1〜6によって計測する。測長干渉計1〜6に対向するX、Y、Z方向の基準ミラー8、9、10は、一本の根幹支柱14から三股に分岐する片持ち梁11、12、13の先端に支持される。この構造体(11、12、13、14)は、根幹支柱14とベース15の接触面積が小さいため、ベース15の変形や振動が基準ミラー8、9、10に伝播するのを防ぐことができる。
【選択図】図1
【解決手段】三次元形状測定のためのプローブ等を保持する移動ステージ7の三次元位置を測長干渉計1〜6によって計測する。測長干渉計1〜6に対向するX、Y、Z方向の基準ミラー8、9、10は、一本の根幹支柱14から三股に分岐する片持ち梁11、12、13の先端に支持される。この構造体(11、12、13、14)は、根幹支柱14とベース15の接触面積が小さいため、ベース15の変形や振動が基準ミラー8、9、10に伝播するのを防ぐことができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、光学系の波面収差を測定する波面収差測定装置や光学素子等の立体形状を計測する三次元形状測定装置において、測定子や触針の位置を測長干渉計によって計測する三次元位置測定装置、波面収差測定装置および三次元形状測定装置に関するものである。
近年の半導体集積回路の微細化要求が、半導体露光装置に用いられる投影光学系の高解像度化を進めている。高解像度化を進める有効な方法の一つとして、開口数(NA)が高く収差の少ない高精度な投影光学系を製作することが挙げられる。このような背景から、近年、投影光学系を測定する波面収差測定装置や、投影光学系内部に組み込まれるミラーやレンズ等光学素子の立体形状を測定する三次元形状測定装置には、1nm以下の精度が要求されることも珍しくない。
このような超精密測定装置には、触針や、波面収差を測定する干渉光学系(測定光学系)内のレンズやミラーからなる測定子を移動させる移動ステージと、移動ステージの座標を精密に測定する三次元位置測定装置が搭載される。その三次元位置測定装置は、最低でもX、Y、Zの3軸方向の位置を測定するための測長干渉計を搭載し、X、Y、Zの3軸方向以上に移動可能な移動ステージ機構と、各測長干渉計からの射出光を3軸方向に反射させるX、Y、Z方向の基準ミラーを備える。
このような超精密測定装置で用いられる3個の基準ミラーを保持する構造体には、各基準ミラーの相対間距離および相対間角度が変化しないように、基準ミラーを保持した状態の構造体(基準ミラー保持構造体)が変形しないという形状安定性が要求される。その理由は、各基準ミラーの相対間距離および相対間角度が変化すると、移動ステージの三次元位置測定の基準が変化することになり、そのまま測定値の再現性劣化につながるからである。
基準ミラー保持構造体を大きく変形させる主要因として、基準ミラー保持構造体を支持するベースの変形の伝播が挙げられる。例えば、被測定物に対する移動ステージの相対座標を、基準ミラーを位置測定基準として測定する場合、被測定物のベースへの乗せ降ろしなどでベースの荷重状態が変化し、ベースは変形する。このベースの変形が、ベースと構造的につながっている基準ミラー保持構造体に伝播すると、各基準ミラーの相対間距離および相対間角度が変化してしまう。
従って、ベースの変形を基準ミラー保持構造体に伝播させ難い構造にすることが、移動ステージの三次元位置測定の基準を安定化し、測定値の再現性を向上させるために不可欠である。
このような三次元位置計測装置の基準ミラー保持構造体をベース面の変形からnmの精度で保守する第1の方法として、キネマティックマウントが挙げられる。キネマティックマウントは、被支持物体を過度に拘束することなく6自由度のみを拘束し、搭載面の変形から受ける変形や、被支持物体の取り置きによる変形等を軽減し、被支持物体の形状安定性を向上させることを目的として考案された支持方法である。
図9は一従来例によるキネマティックマウントの構成を示す。被支持物体201は、3つの脚部208、210、212により支持される。第1の支持機構は、支持ベース211に固定された脚部210と被支持物体201それぞれに設けられた円錐状の凹部203、209と、円錐状の凹部203、209に挿入される球体205から構成される。これによって、X、Y、Zの3軸方向に拘束し各軸周りの回転成分ωX、ωY、ωZ方向の自由度を持つ。第2の支持機構は、支持ベース211に固定された脚部208と被支持物体201それぞれに設けられたV型溝202、207と、V型溝202、207に挿入される球体206から構成される。これによって、Y、Zの2軸方向に拘束し、X、ωX、ωY、ωZ方向の自由度を持つ。第3の支持機構は、支持ベース211に固定された脚部212上面と被支持物体下面に挿入される球体204から構成され、X、Y、ωX、ωY、ωZ方向の自由度を持ち、Z方向を拘束している。
この支持形態によって、被支持物体201は支持ベース211に対し、X、Y、Z方向と各軸周りの回転方向の独立した6つの自由度のみが拘束されることとなる。例えば、支持ベース211に負荷されている荷重Fに変化があったり、熱分布状態が変化したりすることで、支持ベース211が被支持物体201に対して無視できない量で変形した場合でも、被支持物体201の変形を無視できるレベルまで軽減することができる。また、被支持物体201をいったん台から取り外し、再びキネマティックマウント上に搭載した場合でも、被支持物体201の変形状態は、初期状態からほとんど変化せず、良好な再現性を得ることができる。
次に、被支持物体の変形状態に安定性を得る第2の方法として、特許文献1に開示されている方法がある。これは、被支持物体を3点で支持し、3点で受けることにより必然的に発生する過拘束状態を作り出す支持点は、6自由度を拘束する方向のみ剛性の高くなるような構造にする。そして、過拘束になる方向に前記6自由度拘束支持よりも柔らかいバネ性を持たせることにより、過拘束状態を軽減させる支持法である。
すなわち、図10に示すように、ベース226と、ベース226の3点に固定された第1の支持部材223、第2の支持部材224、第3の支持部材225と、これらに固定された被支持物体222を備える。各支持部材のバネ定数の相互関係は、X方向において、第1の支持部材223のバネ定数が、第3の支持部材225よりも大であり、XY平面上のあらゆる方向において、第2の支持部材224のバネ定数が、第1の支持部材223よりも小さくなっている。また、Y方向における第3の支持部材225のバネ定数が、XY平面上のあらゆる方向における第2の支持部材224のバネ定数よりも大きくなっている。
この支持機構を用いることにより、ベースの変形が被支持物体へ伝播する量を小さくすることが可能となる。また、被支持物体の重量と3つの支持機構の剛性に起因する、ベースに対する被支持物体の相対的な振動を起こす固有振動数も、球体と面の接触部を含むために算出が難解な第1の方法と比較して容易に計算することができる。
特開平8−114250号公報
前述のような移動ステージの三次元位置測定装置においては、nmのオーダーでは、基準ミラー保持構造体に床からの振動や騒音などによる周波数を持つ外力が常時流入する。その影響で、基準ミラー保持構造体は常に周波数を持つ弾性変形を行っている。そのため、位置計測値は、一定値になることはなく、振動の振幅内の範囲でばらついた数値を示す。従って、計測再現性を得るには、ある時間で平均化することは必須である。位置計測基準の保持剛性を上げ、固有振動数を増加させることは、その弾性変形の振幅自体を小さくして、ばらつきの周波数を高くする効果があり、位置計測の平均化処理の時間を少なくすることができる。つまり、同一の計測時間では、固有振動数の高い基準ミラー保持構造体を持つ装置の方が、より振動外乱の影響を小さくすることができ、計測再現性を上げることができる。
また、本発明で対象とする被支持物体は、半導体露光装置の投影光学系の収差やその内部の光学素子形状の測定に用いられる三次元位置測定装置の基準ミラーである。ところが、近年の投影光学系の開口数(NA)の高度化、低収差化により、投影光学系は直径500mm以上、長さ1000mm以上大型化し、重量も1000kg以上に増加している。その結果、測定装置の基準部となる基準ミラー保持構造体も大型化し、高重量化せざるを得ない状況である。
これに対して、上記第1の方法では、球体による支持部を、球体ではなく、面で被支持物体を支持した場合と比較すると、独立した6自由度のみの拘束という、基本的に剛性を大きくとれない機構となる。加えて、被支持物体と支持ベースの間には、1箇所の支持あたり1個の球体が存在する。すなわち、球体と被支持物体、球体と支持ベースの点接触部という応力の集中する部分が弱く、点接触部の剛性が被支持物体と支持ベース間の剛性を支配的に決定するため、剛性が小さくなる欠点があった。
点接触部の剛性は、球体のヤング率や、球体の径を大きくすることで、向上は図れるが、特に露光装置投影光学系を計測対象とする、超精密な三次元位置測定装置の基準ミラー保持構造体は、縦横高さが1mにもなり、重量も1000kgを越す。このような構造体を、固有振動数で100Hz以上の剛性で支持するには、キネマティックマウント部の剛性強化のために、球体の径を極端に大型化する必要があり、物理寸法上、現実的には1箇所に球体1個の配置は実現が難しくなる。それに対する対策案として、1箇所あたりに1個ではなく、複数の物理寸法的に配置可能な大きさの球体を並べて用いることで、剛性を上げるという手法も考えられる。しかしながら、1箇所あたりが複数点支持となり1点の支持ではなくなるために、面で支持した場合と同様に、複数点の、どの位置を中心に荷重を受けるかのバラツキが発生し、変形状態の再現性劣化の原因となる。また、支持剛性が低くなると、例えば、三次元位置測定装置の基準部の支持に用いる場合、床からの振動や、装置の傾きによる重力加速度方向の変化など、外乱加速度の影響を受けやすくなり、計測再現性の劣化の原因となる。
また、上記第2の方法においても、上記第1の方法と同様の問題がある。特に露光装置の投影光学系を計測対象とする、超精密な三次元位置測定装置の基準ミラー保持構造体では、縦横高さが1mにもなり、重量も1000kgを越す構造体を、固有振動数で100Hz以上の剛性で支持する。このためには、3点の支持面積を増加させ、かつ、過拘束となる方向に対する支持剛性を増加させる必要が生じ、必然的に被支持物体が支持されているベースの変形の影響を受けやすい構造となってしまう。その結果、測定対象である重量が1000kgを超える被測定物をベースに搭載した時の変形が、基準ミラー保持構造体にも伝播し、XYZ位置計測の基準となる3個の基準ミラー間の距離を変動させ、計測座標空間の直角度が変化し、位置計測再現性の劣化の原因となる。
本発明は上記従来の技術の有する未解決の課題に鑑みてなされたものであり、三次元位置計測の基準となる基準ミラーを保持する構造体にベース面の変形が与える影響を低減し、かつ、高い固有振動数を有する支持構造を実現することのできる三次元位置測定装置、波面収差測定装置および三次元形状測定装置を提供することを目的とするものである。
上記目的を達成するため、本発明の三次元位置測定装置は、移動ステージと、前記移動ステージに設置された3軸方向の測長干渉手段と、前記測長干渉手段の射出光を反射させる3個の基準ミラーと、前記3個の基準ミラーのうちの少なくとも2個をそれぞれ支持する複数の片持ち梁と、前記複数の片持ち梁をそれぞれ分岐させて支持する根幹支柱と、前記根幹支柱を立設支持するベースと、を備えており、各基準ミラーに対する前記移動ステージの離間距離を前記測長干渉手段によって計測することで、前記移動ステージの三次元位置を測定することを特徴とする。
位置測定の基準となる3個の基準ミラーを保持する構造体は、支持剛性が大きくて、変形伝播の少ない小さい支持面積をもつ根幹支柱によってベースに固定され、根幹支柱から二股または三股に枝分かれした片持ち梁の先端部に基準ミラーが支持される。この構成によって、ベースの変形による応力伝播のループの外に少なくとも2個の基準ミラーを保持することになるため、3個の基準ミラーの相対間距離は、ベース面の変形の影響を受けにくく一定に保つことができる。
また、基準ミラーを保持する片持ち梁の固有振動数は、単純な構造であるから容易に計算することができ、枝分かれした片持ち梁先端の軽量化をはかり、根元の剛性が大きくなる形状を持つことができる。従って、例えば三点支持構造に比べて、基準ミラーを保持する構造体の固有振動数を容易に高くすることが可能となり、より計測再現性の高い三次元位置測定装置を実現できる。
波面収差測定装置においては、測定対象である被検光学系の物体側と像側の任意の測定点へ、干渉縞を創生するための光学素子(測定子)を移動させて座標測定を行う三次元位置測定装置が、上記の構成を持つとよい。これによって、透過波面の位置測定座標基準が、光学系の搭載によるベースの変形や、光学系の重量の個体差によるベース変形量の変動、および外乱振動の影響によって変動するのを軽減することができる。その結果、再現性よく波面収差を測定することができる。
三次元形状測定装置においては、被測定物の表面に触針を接触させ、前記触針を前記被測定物の表面に沿って移動させながら、触針の位置を測定する三次元位置測定装置が、上記の構成を持つとよい。これによって、形状測定の位置測定座標の基準が、被測定物搭載によるベースの変形や、被測定物の重量の個体差によるベース変形量の変動、および外乱振動の影響によって変動するのを軽減することができる。その結果、再現性よく被測定物の三次元形状を測定することが可能となる。
本発明を実施するための最良の形態を図面に基づいて説明する。
図1ないし図4は実施例1による三次元位置計測装置を示す。これは、測長干渉手段を構成する測長干渉計1〜6を保持してX、Y、Z方向に移動可能な3軸の移動ステージ7を有する。移動ステージ7上に設置された測長干渉計1、2、3、4、5、6からの射出光を反射させるX、Y、Z方向の基準ミラー8、9、10は、3個の片持ち梁11、12、13と根幹支柱14からなる構造体に保持される。そして根幹支柱14は、ベース15上に立設される。
図2に示すように、ステージベース16に設置される移動ステージ7は、X、Y、Z方向に移動可能な各軸の案内と各軸の駆動を可能にするアクチュエータを備え、ステージベース16は支持体17によって支持される。支持体17は、移動ステージ7の移動に伴い変形するので、ベース15と別体であることが望ましい。移動ステージ7上には、測定対象点Oの6自由度の座標測定(X、Y、Z、ωX、ωY、ωZ)が可能な測長干渉計1〜6が配置される。その配置は、測定対象点Oとほぼ同一線上のX方向に測長干渉計1、同一線上のY方向に測長干渉計4、同一線上のZ方向に測長干渉計6を配置して測定対象点Oの併進成分座標X、Y、Zを測定している。また、X方向の測長干渉計1の位置からZ方向に距離L1だけ離れた位置に測長干渉計3が設置してあり、X方向の基準ミラー8からの距離X1を測定している。このZ位置が長さL1だけ異なりX方向の距離を測定する2つの測長干渉計1、3の距離の差(X−X1)とそのZ方向の距離L1から、Y軸に対する微小回転成分ωYは、(X−X1)/L1のアークタンジェントで求めることができる。
同様に、X方向の測長干渉計1の位置からY方向に距離L2(不図示)だけ離れた位置の測長干渉計2と測長干渉計1を用いてωZを測定する。また、Y方向の測長干渉計4の位置からZ方向に距離L3(不図示)だけ離れた位置の測長干渉計5と測長干渉計4を用いてωYを測定する。このようにして、3軸方向に移動する移動ステージ7の6自由度の座標測定は、移動ステージ7上に設置された6個の測長干渉計1、2、3、4、5、6によって行うことができる。また、必要であれば測定されたX、Y、Z座標を用いて、目標座標との偏差から、各アクチュエータへ指令を送ることにより、任意の座標での位置決めを行うことも可能である。
一方、3つの片持ち梁11、12、13と根幹支柱14で構成される構造体は、ベース15上に設置されている。この構造体は、X、Y、Z方向の基準となる3個の基準ミラー8、9、10を、それぞれ3個の片持ち梁11、12、13の先端付近に、それぞれ測長干渉計1〜6の射出光を垂直に反射するように保持する。3個の片持ち梁11、12、13は、ベース15上の、各基準ミラー位置より最短で、かつ移動ステージ7の動きを妨げない位置に設置されている根幹支柱14によって片持ち支持される形で一体となっている。
すなわち、X、Y、Z方向の基準ミラー8、9、10は、ベース15に対する取り付け面のみで面拘束保持された根幹支柱14から三股へ枝分かれした片持ち梁11、12、13の先端に保持される。それぞれの片持ち梁11、12、13の先端は軽量化し、根元は断面積を大きくして曲げ剛性を増大させる形状をとることにより、梁の曲げの振動モードに対する動的剛性を増加させることができ、必要に応じて梁の固有振動数を上げることが可能である。このような基準ミラー保持構造体において、ベース15の変形が、各基準ミラー8〜10の相対位置関係に影響を及ぼしにくい理由は以下の通りである。
まず第一に、上記の基準ミラー保持構造体において、各基準ミラー8〜10が保持されている片持ち梁11〜13の先端付近は、力学的に自由端である。基準ミラー8〜10の相対間距離変動に大きな影響を与えるような基準ミラー近傍の片持ち梁先端に加わる力は存在しない。従って、基準ミラー8〜10の相対間距離を変化させるのは、基準ミラー保持構造体の柱状部分の変形のみとなる。
第二に、基準ミラー保持構造体の根幹支柱14のベース15への取り付け面積を大きくとらないことで、根幹支柱14に伝播するベース15の変形を小さくすることができる。すなわち、ベース15の全体の変形量に対して、根幹支柱14に伝播する変形はその取り付け面積に比例した小さなものとなり、根幹支柱14には変形が伝播しずらい構造となる。
第三に、ベース15の基準ミラー相対間距離へ影響を及ぼす変形は、ほとんどがベース15の厚さで決定する曲げ変形である。曲げ変形量は、構造体の断面の断面二次モーメントの大きさに反比例する。また、断面二次モーメントの大きさは、断面の厚さの3乗に比例するため、曲げ変形のし易さは、断面の厚さの3乗に反比例することになる。すなわち、図3に示すように、構造体全体の断面の厚さTは、ベース15の単体部分の厚さtより根幹支柱14が取り付けられた部分で極端に大きくなるため、根幹支柱14の取り付け部の変形量は、その周辺に比べて極端に小さくなる。
この構成によって、X、Y、Z方向の基準ミラー8〜10の相対間距離は、ベース15の変形状態の変動の影響を無視できる量まで軽減することが可能となる。同時に、根幹支柱14や片持ち梁11〜13の形状から容易に固有振動数を計算し、向上させることができるので、周波数をもつ外乱力に対しても、各基準ミラー間の相対振動の影響を軽減することができる。その結果、移動ステージ7上の測定対象点Oの三次元座標を高い再現性で計測することが可能である。
図4は一変形例を示すもので、この基準ミラー保持構造体は、二股へ枝分かれした形の2個の片持ち梁11、13のみを有する。これは、X、Y、Z方向の基準ミラー8、9、10のうちのY方向の基準ミラー9を根幹支柱14に保持させ、根幹支柱14から分岐する2つの片持ち梁11、13の先端付近に残りの2つの基準ミラー8、10を保持する。この構成でも、図1の装置と同様に、ベース15の変形が各基準ミラー8〜10に伝播するのを抑制し、また、外乱によるミラー間の相対振動の影響も低減できる。
図5および図6は実施例2を示す。これは、実施例1と同様の三次元位置測定装置と、フィゾー型の干渉計を用いた測定光学系を搭載し、露光装置の投影光学系の収差を評価する波面収差測定装置である。測定対称である被検投影光学系59の物体側には、フィゾー干渉計を構成する光学素子(測定子)であるTSレンズ61、像側には、曲面状の反射面を有する測定子であるRSミラー64が設置してある。TSレンズ61およびRSミラー64は、それぞれ、X、Y、Z方向の任意の位置に移動可能な移動ステージであるTS部移動ステージ65およびRS部移動ステージ68上に搭載されている。各移動ステージ65、68には、X、Y、Z方向に合計6個以上の測長干渉計66、67、69、70、77、78が搭載されている。また、TSレンズ移動空間、RSミラー移動空間にはそれぞれ、X、Y、Z方向の座標位置測定の基準となる基準ミラー71、72、73、74、75、76が設置されている。
TS部移動ステージ65では、TSレンズ61の被検投影光学系59側の焦点Ftsの座標位置(TSX、TSY、TSZ、TSωX、TSωY、TSωZ)を測定する。また、RS部移動ステージ68では、RSミラー64の曲率中心Cの座標位置(RSX、RSY、RSZ、RSωX、RSωY、RSωZ)を測定している。
次に光学的な構成と作用を説明する。干渉計本体51においては、レーザ光源52から射出するレーザービームは、レンズ53、コリメータレンズ55によって大きいビーム径の平行光束に変換され、ビームスプリッタ57を透過する。そしてこの光束は、TSレンズ61中の参照面およびRSミラー64で反射して干渉光としてビームスプリッタ57へ入射し、ハーフミラーで反射して干渉光集光レンズ56を介してカメラ54の撮像面に干渉縞を形成する。カメラ54は干渉縞の画像情報を演算手段であるホストコンピュータ58へ出力する。以上が干渉計本体51の作用である。
干渉計本体51から射出したビームの平行光束は、ミラー60により反射されて、TSレンズ61に入射する。TSレンズ61を透過した光束は、TSレンズ61の後側の焦点Ftsに集光する。このTSレンズ61の焦点Ftsは、被検投影光学系59の物体面上点Piにほぼ一致するようにTS部駆動ステージ65によって調整している。従って、TSレンズ61の後側の焦点Fts(≒Pi)へ一旦集光した光束は、被検投影光学系59を透過して被検投影光学系59の像面上の共役点EPiに再度集光する。
一方RSミラー64の曲率中心CはRS部移動ステージ68によって光束集光点である共役点EPiにほぼ一致するように調整されている。そこで共役点EPiに集光した光束はRSミラー64に入射し、ここで反射されて、ほぼ同一の光路を戻り、被検投影光学系59、TSレンズ61を透過して被検波として干渉計本体51へと入射する。
一方、TSレンズ61へ入射した光束の一部はTSレンズ61の参照面により反射されて、ほぼ同一の光路を戻って、参照光束として干渉計本体51へ入射する。その結果、干渉計本体51では測定光束の波面と参照光束の波面の干渉により被検投影光学系59の波面収差を表す干渉縞が発生し、カメラ54によって干渉縞の強度が検出される。
この時、TSレンズ61はピエゾ素子等によりZ方向に微小量スキャンする。そして各スキャン位置での干渉縞の強度データをカメラ54により測光して、ホストコンピュータ58に転送し干渉縞の各位置における位相データを演算によって求める。
ここで、TSレンズ61はTS部移動ステージ65によりX、Y、Z方向に移動可能であるので、TSレンズ61の後側焦点Ftsを被検投影光学系59の各画面位置および任意のデフォーカス位置に設定できる構成となっている。
TSレンズ61の移動・設定と同時にRSミラー64もRS部移動ステージ68により、TSレンズ61の後側焦点位置Fts(被検投影光学系59の物体面上点Pi)の被検投影光学系59による共役点EPiの位置へその曲率中心Cが一致するように移動する。この結果、被検投影光学系59の画角内の各画面位置および任意のデフォーカス位置において、ほぼワンカラーに近い状態で透過波面を計測することができる。
この時同時に、測長干渉計66、67、77により透過波面測定時のTSレンズ61の後側焦点Ftsの座標位置(TSXi、TSYi、TSZi、TSωXi、TSωYi、TSωZi)を計測する。また、測長干渉計69、70、78により、RSミラー64の曲率中心Cの座標位置(RSXi、RSYi、RSZi、RSωXi、RSωYi、RSωZi)を計測する。
このようにして得られたTSレンズ61の後側焦点Ftsの座標位置と、RSミラー64の曲率中心Cの座標位置と、その座標における被検投影光学系59の波面収差情報から、被検投影光学系59のディストーション収差や、像面湾曲収差を求めることができる。
図6は、被検投影光学系59を支持するフレーム50と、2つの移動ステージであるTS部移動ステージ65、RS部移動ステージ68と、基準ミラー71、72、73、74、75、76、およびこれらを保持する構造体の配置を示すものである。TS部移動ステージ側は、被検投影光学系59を保持するベースであるフレーム50に、根幹支柱79が保持されている。X方向の基準ミラー72は、片持ち梁81で、Y方向の基準ミラー75は、片持ち梁83で、Z方向の基準ミラー71は片持ち梁82でそれぞれ保持されており、これらの片持ち梁81、82、83は根幹支柱79から三股に分岐し、保持されている。
RS部移動ステージ側は、被検投影光学系59を保持するフレーム50に、根幹支柱80が保持されている。X方向の基準ミラー73は、片持ち梁84で、Y方向の基準ミラー76は、片持ち梁86で、Z方向の基準ミラー74は片持ち梁85でそれぞれ保持されており、これらの片持ち梁84、86、85は根幹支柱80から三股に分岐し、保持されている。
この構成により、1000kg以上の被検投影光学系59を搭載した場合や、被検投影光学系59の重量が異なる場合でも、TS部ステージ65の基準ミラー71、72、75間の相対変位および相対角度が保たれる。また、RS部ステージ68の基準ミラー73、74、76間の相対変位および相対角度も保たれる。
さらに、根幹支柱79、80や片持ち梁81、82、83、84、85、86の形状から容易に固有振動数を計算し、形状や断面を変更することで、容易に固有振動数を向上させることができる。従って、周波数をもつ外乱力に対しても、各基準ミラー71、72、73、74、75、76間の相対振動の影響を軽減することができる。その結果、干渉縞計測時のTsレンズ61、RSミラー64の三次元位置を高精度に測定することができる。
図7および図8は、実施例3による三次元形状測定装置を示すもので、定盤116上にYスライド114が転動ガイド115を介して支持されており、回転モーター(不図示)に連結された送りねじ127によって駆動される。Yスライド114上には、Xスライド109が転動ガイド110を介して支持されており、送りねじ113と回転モーター111によって駆動される。さらにXスライド109には移動ステージであるZスライド106がZスライドガイド107を介して支持されており、送りねじ112と回転モーター108によって駆動される。Zスライド106の先端には、接触式の触針であるプローブ104を保持するハウジング130が固定されている。
プローブ104は、測定台(ベース)101上の被測定物103の表面のZ方向高さを測定するものであり、ハウジング130に対して平行板バネ131a〜131dを介してZ方向のみ移動可能に支持されている。プローブ104の下端には、形状精度が高いことが保証されているマスターボール(球)121が取り付けられており、上部には、ミラー105が設けられている。Zスライド106のプローブ104の直上方の位置には、測長干渉計124が設けられており、Z方向の基準ミラー122とプローブ104上部のミラー105との距離Z1を計測する。ハウジング130には、ミラー105の位置を検出する変位センサー132が取り付けられており、ハウジング130に対するプローブ104の相対変位を検出する。
プローブ104を被測定物103の表面上に接触させた状態にて、X、Yスライド109、114を駆動し、被測定物103の表面上を走査する。この際、変位センサー132の出力値が常に一定になるように、Zスライド106の位置を制御することで、プローブ104の被測定物103への押し付け圧を一定にすることが可能となる。また、Zスライド106の先端部には、Zスライド106のX方向の距離を測定する測長干渉計125、126が設けられており、Zスライド106上下の2箇所の点とX方向の基準ミラー123との距離X1、X2を測定する。Y方向においても同様な測長干渉計(不図示)が設けられており、Zスライド106上下の点と、Y方向の基準ミラー128との間の距離Y1、Y2を測定する。
X、Y、Z方向の基準ミラー123、128、122は、図8に示す三つの片持ち梁117、136、137とそれを保持する一つの根幹支柱138からなる構造体に保持されており、根幹支柱138は、測定台101に立設されている。
被測定物103の表面をプローブ104が、被測定物103への押し付け圧を一定に保ちながら走査した時の、距離Z1と距離X1、X2、Y1、Y2を同時に測定する。これによって、被測定物103に接触しているマスターボール121の基準ミラー123、128、122からの相対距離を正確に知ることができる。この位置情報には、被測定物103の表面の3次元形状の他に、例えば、基準ミラー123、128、122を保持する構造体(117、136、137、138)や、測定台101、Zスライド106等の周波数成分を持った構造体の固有振動数が含まれる。さらに、床振動や、騒音等の環境原因の外乱力や、装置自身が作り出す外乱力によって増幅された物体間距離変動を原因とするノイズが、混入している。しかし、それらのノイズは時間的な周波数をもった成分である。従って、被測定物103の表面の3次元形状は、時間的な周波数を持っていない成分であるため、所定の時間に平均化を行うことによって、周波数成分のみをキャンセルし、被測定物103の表面の3次元形状を抽出することが可能となる。
この三次元形状測定装置においては、被測定物103の形状は、前述の構造体に保持されたX、Y、Z方向の基準ミラー123、128、122に対するマスターボール121の位置情報から求められる。また、測定台101に搭載される被測定物103は、様々な形状、重量を持っており、様々な被測定物を搭載する度に、測定台101の変形状態が変わる。X、Y、Z方向の基準ミラー123、128、122の相対距離および相対角度変動は、被測定物103の測定形状誤差要因になるため、基準ミラー保持構造体は、測定台101の変形状態の影響を受けず、常に同一の形状であることが望まれる。また、測定中の、被測定物103とX、Y、Z方向の基準ミラー123、128、122の相対変位の変化も誤差の要因となる。このため、測定中は、基準ミラー保持構造体と測定台101は強固に連結されて、基準ミラー保持構造体と測定台101間の固有振動数もなるべく高くとることが望ましい。
前述のように基準ミラー保持構造体は、測定台103に根幹支柱138を固定し、X、Y、Z方向の基準ミラー123、128、122を根幹支柱138から分岐する3つの片持ち梁136、137、117によって支持する。この構成により、様々な重量を持つ被測定物103を搭載した場合でも、三次元座標測定に重要な、X、Y、Z方向の基準ミラー123、128、122間の相対変位および相対角度は保たれる。
また、根幹支柱138や片持ち梁136、137、117の形状から容易に固有振動数を計算し、向上させることができる。従って、周波数をもつ外乱力に対しても、各基準ミラー123、128、122間の相対振動の影響も、時間平均化で問題にならない量まで軽減することができる。このようにして、三次元形状測定装置のプローブ104のマスターボール121の位置測定を高精度に行うことが可能となる。
1、2、3、4、5、6、66、67、69、70、77、78、124、125、126、134、135 測長干渉計
7 移動ステージ
8、9、10、71〜76、122、123、128 基準ミラー
11、12、13、81〜86、117、136、137 片持ち梁
14、79、80、138 根幹支柱
15 ベース
65 TS部移動ステージ
68 RS部移動ステージ
104 プローブ
106 Zスライド
7 移動ステージ
8、9、10、71〜76、122、123、128 基準ミラー
11、12、13、81〜86、117、136、137 片持ち梁
14、79、80、138 根幹支柱
15 ベース
65 TS部移動ステージ
68 RS部移動ステージ
104 プローブ
106 Zスライド
Claims (5)
- 移動ステージと、前記移動ステージに設置された3軸方向の測長干渉手段と、前記測長干渉手段の射出光を反射させる3個の基準ミラーと、前記3個の基準ミラーのうちの少なくとも2個をそれぞれ支持する複数の片持ち梁と、前記複数の片持ち梁をそれぞれ分岐させて支持する根幹支柱と、前記根幹支柱を立設支持するベースと、を備えており、各基準ミラーに対する前記移動ステージの離間距離を前記測長干渉手段によって計測することで、前記移動ステージの三次元位置を測定する三次元位置測定装置。
- 前記3個の基準ミラーをそれぞれ支持する3個の片持ち梁を前記根幹支柱から分岐させたことを特徴とする請求項1記載の三次元位置測定装置。
- 前記3個の基準ミラーのうちの1個が前記根幹支柱に支持されていることを特徴とする請求項1記載の三次元位置測定装置。
- 被検光学系の波面収差を干渉計で計測するために、前記被検光学系の光軸に垂直な面内の複数の測定位置で透過波面を測定する測定光学系と、各測定位置において、前記被検光学系の物体側と像側の一対の測定子の三次元位置をそれぞれ測定する一対の三次元位置測定装置と、を有する波面収差測定装置において、前記一対の三次元位置測定装置のうちの少なくとも一方が、前記測定子を搭載する移動ステージに設置された3軸方向の測長干渉手段と、前記測長干渉手段の射出光を反射させる3個の基準ミラーと、前記3個の基準ミラーのうちの少なくとも2個をそれぞれ支持する複数の片持ち梁と、前記複数の片持ち梁をそれぞれ分岐させて支持する根幹支柱と、前記根幹支柱を立設支持するベースと、を備えており、各基準ミラーに対する前記移動ステージの離間距離を前記測長干渉手段によって計測することで、前記測定子の三次元位置を測定することを特徴とする波面収差測定装置。
- 被測定物の表面に触針を接触させ、前記触針を前記被測定物の表面に沿って移動させながら、三次元位置測定装置によって前記触針の位置を測定することで、前記被測定物の三次元形状を測定する三次元形状測定装置において、前記三次元位置測定装置が、前記触針を保持する移動ステージに設置された3軸方向の測長干渉手段と、前記測長干渉手段の射出光を反射させる3個の基準ミラーと、前記3個の基準ミラーのうちの少なくとも2個をそれぞれ支持する複数の片持ち梁と、前記複数の片持ち梁をそれぞれ分岐させて支持する根幹支柱と、前記根幹支柱を立設支持するベースと、を備えており、各基準ミラーに対する前記移動ステージの離間距離を前記測長干渉手段によって計測することで、前記触針の三次元位置を測定することを特徴とする三次元形状測定装置。
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JP2005264579A JP2007078434A (ja) | 2005-09-13 | 2005-09-13 | 三次元位置測定装置、波面収差測定装置および三次元形状測定装置 |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009028332A1 (ja) * | 2007-08-27 | 2009-03-05 | Nikon Corporation | 波面収差計測装置および方法、並びに波面収差調整方法 |
JP2012177620A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Canon Inc | 計測装置 |
CN105157606A (zh) * | 2015-08-24 | 2015-12-16 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 非接触式复杂光学面形高精度三维测量方法及测量装置 |
WO2016186034A1 (ja) * | 2015-05-18 | 2016-11-24 | 日本精機株式会社 | ミラーユニットおよび表示装置 |
EP3540491A4 (en) * | 2016-11-09 | 2020-06-03 | Nippon Seiki Co., Ltd. | MIRROR UNIT |
-
2005
- 2005-09-13 JP JP2005264579A patent/JP2007078434A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009028332A1 (ja) * | 2007-08-27 | 2009-03-05 | Nikon Corporation | 波面収差計測装置および方法、並びに波面収差調整方法 |
JP2009075090A (ja) * | 2007-08-27 | 2009-04-09 | Nikon Corp | 波面収差計測装置および方法、並びに波面収差調整方法 |
US8797520B2 (en) | 2007-08-27 | 2014-08-05 | Nikon Corporation | Wavefront aberration measuring device and method and wavefront aberration adjusting method |
JP2012177620A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Canon Inc | 計測装置 |
WO2016186034A1 (ja) * | 2015-05-18 | 2016-11-24 | 日本精機株式会社 | ミラーユニットおよび表示装置 |
JP2016218163A (ja) * | 2015-05-18 | 2016-12-22 | 日本精機株式会社 | ミラーユニットおよび表示装置 |
US10634911B2 (en) | 2015-05-18 | 2020-04-28 | Nippon Seiki Co., Ltd. | Mirror unit and display device |
CN105157606A (zh) * | 2015-08-24 | 2015-12-16 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 非接触式复杂光学面形高精度三维测量方法及测量装置 |
EP3540491A4 (en) * | 2016-11-09 | 2020-06-03 | Nippon Seiki Co., Ltd. | MIRROR UNIT |
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