JP2007066336A - 集積回路内の診断データ取り込み - Google Patents
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Abstract
【解決手段】集積回路は、バスからデータ語と文脈語とを取り込む診断データ取り込み回路の形態で診断データ取り込み/出力システムを備える。バスは、集積回路内の機能回路を接続する機能バス、又は、1つ又は複数の機能回路を診断データ取り込み回路に直接リンクする専用バスであってよい。取り込んだ診断データは、先入れ先出しバッファ内にバッファ処理し、そして、シリアル化して出力される。また診断データ領域は、関連する診断データ領域を取り込んだ時間及び取り込みに失敗した診断データ領域がないかを示す時間値も含む。
【選択図】図1
Description
データ処理動作を行うように動作可能な1つ又は複数の機能回路と、
前記1つ又は複数の機能回路によって生成されるデータ語と、前記データ語に関連する前記1つ又は複数の機能回路の文脈を表す文脈語と、を含む値の診断データフィールドをバスから取り込むように動作可能な診断データ取り込み回路と、
前記診断データフィールドをシリアル化して前記集積回路から外部診断装置に前記診断データフィールドを出力するように動作可能な診断データ直列出力回路と、
が含まれる。
前記集積回路内のバスから取り込まれる値の診断フィールドを表すシリアルデータを受信するように動作可能な診断データシリアルデータ受信器と、
前記診断フィールドを復号化して、そこで前記集積回路内の1つ又は複数の機能回路によって生成されるデータ語を識別し、また、前記データ語に関連する前記1つ又は複数の機能回路の文脈を表す文脈語を識別するように動作可能な診断データ復号器と、
が含まれる。
前記1つ又は複数の機能回路によって生成されるデータ語と、前記データ語に関連する前記1つ又は複数の機能回路の文脈を表す文脈語と、を含む値の診断データフィールドをバスから取り込む段階と、
前記診断データフィールドをシリアル化する段階と、
前記集積回路から外部診断装置に前記診断データフィールドを出力する段階と、
が含まれる。
SWJ:単線JTAG。これは、実行制御エミュレータが、チップに配置され、これとの通信に単ピン方式(これに対して、JTAGの場合、4又は5ピン方式)を用いるモデルである。これによって、ピンが減少するだけでなく、一般的にJTAGよりも極めて速い。更に、追加のアクセス及び固有IDも提供する。このMemTAPモデルを用いると、このモードは、極めて高速に動作しダウンロードを行い得る。
DBT/MemTAP:これは、AMBA(AHB又はAHB−Lite)マスタとして機能しシステムバスにアクセスするTAPブロックである。
AMBA:チップ内のARMバス標準規格。
AHB:通常のメモリアクセス用AMBA高速インターフェイス(これに対してAPB)
AHB スレーブ:AMBA装置であり、アドレス範囲でのアクセスに能動的に応答する。SWOは、AHBスレーブ装置である。
AHB Lite:AMBAの余分な装備のないバージョンを指し、AHBは、マルチマスタがなく、また、フルバーストモード及びその関連する信号送信がない。
UART:非同期シリアル(ビットが1つずつ送信される)装置。SWOは、UARTの概念に基づく。また、SWOは、デバッグ追跡ツールとしてUARTの代替用である。
ETM:埋め込み式追跡マイクロセルは、トリガ事象に応答して命令及び/又はデータ追跡情報を記憶するオンチップ追跡ブロックを指す。
・‘printf’デバッギングを行うこと。これは、それらが、ホスト上で後処理できるように、あるチャネルでアプリケーション送信データをアップさせたいことを意味する。従来は、直列チャネルが用いられるが、これは、(通常)アプリケーション自体の資源の1つを必要とする。またそれは、ISRを空にすること(即ち、HW自動バッファ処理)を意味する。また、従来の直列装置の速度が非常に遅いと、データ速度が制限される。
・RTOS事象追跡を行うこと。これは、RTOSに僅かな修正を行う場合、それが特定の位置にIDを書き込み、これにより、どんな事象が起こったか示すことを意味する。書き込み動作が安価である限り、導入したバージョン(これに対して別のデバッグ画像を有するバージョン)に書き込みを残し得る。これによって、固定の低侵入が保証され、プローブ効果の生成が回避される。従来、これは、優先順位の低いスレッドに伝えられ、これにより、シリアルライン外にそれを押し出す。又は、リングバッファにダンプされ事後分析される。しかし、ほとんどのRTOSは、特別なバージョンでそれを含むだけであって、スレッド及びシリアルラインの遅延は、重要な情報が欠落したり歪んだりすることが多いことを意味する。更に、スレッドのオーバヘッド及び非常に高い情報伝達のオーバヘッドは、試験対象の挙動を変え得るプローブ効果を有する。
・アプリケーション又は‘バス’追跡を行うこと。これは、通常、特定の処理又は実データの監視を意味する。これは、その解釈が、データ自体(例えば、推測的情報)から切り離さなければならないという点で、printfデバッギングと区別される。これは、更に、システムの他のコアが、(DSP等の)同じサービスを用い得ることも意味する。
・システムレベルHWに収集情報を発信させること。これによって、システム設計者は、ホストの制御下で、小ブロック情報の送り動作を容易に付加し得る。これは、競合分析(バス使用均衡化)、DMA分析、(キャッシュなしコアにおける又はコアサポートによる)PCサンプリング、事象計数、(ETMから等の)時間トリガ事象、誤り状態等を含み得る。
1.(RS232等の)デバッグUART形式のプログラミング解決策を代行する。
2.単一のピンで12Mbit/sまでの速度で、また、2つのピンで100Mbit/sまでの速度で、良好に動作し得る。
3.アプリケーション侵入を最小限にする。
1.ワイヤプロトコル。これは、標準単線モデル(低速)用の42ビットプロトコルとして定義されるが、マンチェスタ符号化を用いて倍クロック制御される(従って、10MHzのビット速度は、20MHzのクロック速度を用いる)。これは、ピン資源を共有する場合、1包みのETMv3パケットであってよい。高速の場合、これは、別々のクロック源による42ビットプロトコルである(SWO用であろうとなかろうと、チップに出入りするクロックであってよい。)
2.目標プロトコル。これは、40ビットプロトコルとして定義され、3ビットヘッダ、5ビットアドレス、及び32ビットデータブロックを含む。3ビットヘッダは、遅延情報、オーバーラン・ステータス、及び拡張書式設定に用いられる。
3.データプロトコル。データプロトコルは、ホストと目標アプリケーションとの間の約束事である。即ち、32ビットデータには定義された意味はない。意味は、送信者によって割り当てられ、また、それを理解するように構成されたホストSWによって復号化される。これによって、広範囲のアプリケーション及びシステム全体で自由形式の使用が可能になる。
4.取り込み装置プロトコル。これは、目標プロトコルの拡張であり、追加情報の提供を取り込み装置に行わせる。特に、取り込み装置は、(1マイクロ秒単位で)パケット開始に時間尺度を提供する。時間尺度によって、相対的及び絶対的時間測定を合理的な精度で行い得る。目標プロトコルの内部遅延は、(パケットが連続的に流出する場合)パケット“列”用であり、一方、取り込み装置時間は、固定尺度である(また、新しいパケット又はパケット列の開始時測定されるため訂正が可能である)。
1.デバッガにおいて各ポイントで停止すると時間の浪費であり、探しているものが分からない場合、極めて時間の浪費である。printfモデルによって、重要なデータを表示し、問題の兆候を探し得る。一旦問題の範囲が狭くなると、デバッガを用いて問題範囲を1ステップずつ進み得るため、printfデバッギングは、実行停止デバッギングと共に用いられる。
2.符号フローの分析。ログを用いて実行の順序を監視し得る。これは、実行の順序は、ほとんどの場合、静的に決定されていないため、割り込みベースのSWに極めて有効なことがある。
3.データロギング。実行中に値をダンプする能力は、事実に関する分析を可能にする。これが、中断点を用いて行われた場合、時間の浪費であるだけでなく、挙動が変わる可能性があるが、これは、停止すると、外部システムに影響を与えるためである。典型的な使用法は、予想された(以前生成されたアプリケーションや仕様等)と実データを比較したり、調整することである。
4.稀な事象のモニタリング。printfモデルは、(例えば、2週間実行しても)ほとんど故障が生じないシステムに用いられることが多い。これは、故障検出ポイントでの文脈に関するできるだけ多くの情報を取り込むために用い得る。
・文字列が長いほど、送信時間が長い。このことは、文字列は簡潔でなければならず、これが、結果を読み込むための能力に影響を与えることを意味する。
・文字列は、目標メモリに記憶しなければならず、従って、スペースを必要とする。
・文字列は、往々にしてデータ(局所的情報)をそれらにフォーマット化する必要がある。これは、時間がかかるだけでなく、(フォーマット化後の文字列がなくなるまでの)バッファ管理も意味する。
・文字列表モデル。これは、ユーザが、用いたい各文字列と、番号と、一覧表名との間のマッピングを備えたファイルを作成することを意味する。例えば、
0x10:DBG_CHANGE_VALUE:値の位置が、%dに変化した。
0x11:DBG_MOTOR_SENSOR:モータセンサ読み取り値:%u速度、%u温度、%u電流。
上記2行では、ファイルは、各printfログを32ビットで送信し得るのに充分な情報を提供している。32ビット値は、8ビット指標に“分解され”表に入れられ(0x10及び0x11が、8ビット位置にある)、また24ビットデータ値に“分解される”。第1文字列では、24ビット値は、%dに用いられる。第2の例では、24ビット値は、3つの8ビット量に分けられ、%u制御に用いられる。また文字列は、%c及び固定小数点の値を用い得る。ファイルは、C/C++ヘッダファイルを作成するユーティリティによって用いられ、C/C++ヘッダファイルは、幾つかのマクロと共に各一覧表を定義し、データをパックする。これによって、プログラムで極めて簡単な行になり、例えば、DBG_STR_1(DBG_CHANGE_VALUE,値_位置)となる。
・性能の点で極めて非決定論的である。その流出速度は、単にJTAGエミュレータ及びSWが許された速度と同じである。ホストベースのエミュレータを実行する場合、これは、全く予測不可能である。これは、アプリケーションが、データを欠落させなければならないか(その場合、この記録はない)又は待機しなければならないか(アプリケーションを遮断する)の何れかを意味する。これは、スレッドに、この動作を実行させる(従って、スレッドだけが遮断される)ことによって、及び/又は、空の時、割り込みを用いさせることによって、ある程度克服し得る。双方の解決策は、やはりかなりの侵入を必要とする。
・CP14インターフェイスを必要とするため、また、上述した単一語の問題のため、合理的なインライン書き込みができない。これは、アプリケーションが、ルーチンを呼び出して必要な動作を実行しなければならないことを意味し、これによって、かなりのオーバヘッドが付加される。
・言及すべきツールサポートがない(DCCチャネルビューアは、唯一の‘非遮断’サポート用の実オプションである)。
1.低速SWO用低コストUSB直結デシリアライザ。この装置は、メモリを一切持たないが、EPLD及びUSB装置を用いて、(タイムスタンプを除いて)パケットをそのまま返信する。この装置は、目標(SWO及び接地)に接続される2つのコネクタのみを必要とする。特にマイクロコントローラに適している。
2.高速SWO用の高速取り込み装置。これは、追加の別個のクロックピンを用いて100MHz(程度)まででデータを収集する。USB2又は100Base10等のホストへのより高速の通信チャネル、又は必要な場合、組み込みバッファ処理の何れかを用いる。
3.ETM追跡収集ボックス。これは、高速SWO信号をそのまま、又はETMv3にパケット化したデータストリームを収集する。
4.RVI等の高機能エミュレータは、余分なピンを用いた低速SWOの収集に用い得る。これは、ローカルメモリへの収集を可能にし、そして、RV−msgを介したホストへのオフロードを可能にする。RVIボックスが、(タイムスタンプ以外の)データを予め処理する必要がある可能性はない。
Claims (35)
- 集積回路であって、
データ処理動作を行うように動作可能な1つ又は複数の機能回路と、
前記1つ又は複数の機能回路によって生成されるデータ語と、前記データ語に関連する前記1つ又は複数の機能回路の文脈を表す文脈語と、を含む値の診断データフィールドをバスから取り込むようにバススレーブとして動作可能な診断データ取り込み回路と、
前記診断データフィールドをシリアル化して前記集積回路から外部診断装置に前記診断データフィールドを出力するように動作可能な診断データ直列出力回路と、が含まれ、
前記機能回路の内の少なくとも1つ上で動作するプログラム命令が、前記診断データフィールドが生成されるようにし、
前記プログラム命令は、前記データ語及び前記文脈語が取り込まれる前記バス上でバススレーブとして動作する前記診断データ取り込み回路へのバストランザクションが生成されるようにする集積回路。 - 請求項1に記載した集積回路であって、
複数の機能回路を含み、前記バスは、前記複数の機能回路を相互接続する機能バスである集積回路。 - 請求項2に記載した集積回路であって、
前記機能バスは、データ部とアドレス部とを含み、前記データ語は、前記データ部から取り込まれ、前記文脈語は、前記アドレス部から取り込まれる集積回路。 - 請求項3に記載した集積回路であって、
前記文脈語は、前記バスの前記アドレス部上のアドレスの一部である集積回路。 - 請求項1に記載した集積回路であって、
前記バスは、前記データ語及び前記文脈語用の信号を少なくとも1つの機能回路から前記診断データ取り込み回路に伝える専用の診断バスである集積回路。 - 請求項3、4、及び5のいずれか1つに記載した集積回路であって、
前記データ語及び前記文脈語用の信号を少なくとも1つの機能回路から前記診断データ取り込み回路に伝える専用の診断バスである少なくとも1つのバスを含む複数のバスが含まれる集積回路。 - 請求項1乃至6のいずれか1つに記載した集積回路であって、
前記診断データ取り込み回路には、シリアル化され前記診断データ直列出力回路によって出力される前に診断データフィールドが記憶される先入れ先出しバッファが含まれる集積回路。 - 請求項1乃至7のいずれか1つに記載した集積回路であって、
前記診断データフィールドには、更に、前記データ語に関連する時間値を示すタイミング語が含まれる集積回路。 - 請求項8に記載した集積回路であって、
前記時間値は、前記診断データ直列出力回路によって依然出力されている任意の以前取り込んだ診断データフィールドの取り込み後の時間期間を示すカウント値である集積回路。 - 請求項9に記載した集積回路であって、
前記診断データ取り込み回路による1つ又は複数の診断データフィールドの取り込みが、失敗したかどうか示す役割をも前記時間値が果たすように、前記集積回路は動作可能である集積回路。 - 請求項1乃至10のいずれか1つに記載した集積回路であって、
前記診断データ直列出力回路は、単一の診断データ直列出力信号線上で前記語を出力する集積回路。 - 請求項1乃至11のいずれか1つに記載した集積回路であって、
前記診断データ直列出力回路は、クロック信号線上のクロック信号と共に、単一の診断データ直列出力信号線上で前記診断語を出力する集積回路。 - 請求項1乃至12のいずれか1つに記載した集積回路であって、
前記診断データ取り込み回路は、所定のアドレス特性に整合するアドレスに関連する前記バス上のバストランザクションを取り込むように動作可能である集積回路。 - 請求項13に記載した集積回路であって、
前記所定のアドレス特性は、前記アドレスが所定アドレス範囲内に入ることである集積回路。 - 請求項14に記載した集積回路であって、
前記文脈語は、前記所定アドレス範囲内の前記アドレスの位置を示す指標値である集積回路。 - 請求項1乃至15のいずれか1つに記載した集積回路であって、
前記診断データ取り込み回路には、プログラム可能なマスク値を用いて、取り込み対象の診断データフィールドを選択するように動作可能なマスク回路が含まれる集積回路。 - 集積回路から診断データを受信するための診断装置であって、
前記集積回路内のバスから取り込まれる値の診断データフィールドを表すシリアルデータを受信するように動作可能な診断データシリアルデータ受信器と、
前記診断データフィールドを復号化して、そこで、データ語を識別し、また、前記データ語に関連する前記1つ又は複数の機能回路の文脈を表す文脈語を識別するように動作可能な診断データ復号器と、が含まれ、
前記診断データ復号器によって復号される前記診断データフィールドには、更に、前記診断データ語に関連する時間値を示すタイミング語が含まれる診断装置。 - 請求項17に記載した診断装置であって、
前記診断データ直列データ受信器は、単一の診断データ直列入力信号線上で前記語を受信する診断装置。 - 請求項17及び18のいずれか1つに記載した診断装置であって、
前記診断データ直列データ受信器は、クロック信号線上のクロック信号と共に、単一の診断データ直列出力信号線上で前記診断語を受信する診断装置。 - 集積回路の1つ又は複数の機能回路によって行われる1つ又は複数のデータ処理動作を表す診断データを生成するための方法であって、
前記1つ又は複数の機能回路によって生成されるデータ語と、前記データ語に関連する前記1つ又は複数の機能回路の文脈を表す文脈語と、を含む値の診断データフィールドをバススレーブとして動作可能な診断データ取り込み回路を用いてバスから取り込む段階と、
前記診断データフィールドをシリアル化する段階と、
前記集積回路から外部診断装置に前記診断データフィールドを出力する段階と、が含まれ、
前記機能回路の内の少なくとも1つ上で動作するプログラム命令が、前記診断データフィールドが生成されるようにし、
前記プログラム命令は、前記データ語及び前記文脈語がバススレーブとして取り込まれる前記バスへのバストランザクションが生成されるようにする方法。 - 請求項20に記載した方法であって、
前記集積回路は、複数の機能回路を含み、前記バスは、前記複数の機能回路を内部接続する機能バスである方法。 - 請求項21に記載した方法であって、
前記機能バスは、データ部とアドレス部とを含み、前記データ語は、前記データ部から取り込まれ、前記文脈語は、前記アドレス部から取り込まれる方法。 - 請求項22に記載した方法であって、
前記文脈語は、前記バスの前記アドレス部上のアドレスの一部である方法。 - 請求項20に記載した方法であって、
前記バスは、前記データ語及び前記文脈語用の信号を少なくとも1つの機能回路から前記診断データ取り込み回路に伝える専用の診断バスである方法。 - 請求項22乃至24のいずれか1つに記載した方法であって、
前記集積回路には、前記データ語及び前記文脈語用の信号を少なくとも1つの機能回路から前記診断データ取り込み回路に伝える専用の診断バスである少なくとも1つのバスを含む複数のバスが含まれる方法。 - 請求項20乃至25のいずれか1つに記載した方法であって、
診断データフィールドをシリアル化する前に、先入れ先出しバッファに前記診断データフィールドをバッファ処理する段階が含まれる方法。 - 請求項20乃至26のいずれか1つに記載した方法であって、
前記診断データフィールドには、更に、前記診断データ語に関連する時間値を示すタイミング語が含まれる方法。 - 請求項27に記載した方法であって、
前記時間値は、依然出力されている任意の以前取り込んだ診断データフィールドの取り込み後の時間期間を示すカウント値である方法。 - 請求項28に記載した方法であって、
前記診断データ取り込み回路による1つ又は複数の診断データフィールドの取り込みが、失敗したかどうか示す役割をも前記時間値が果たすように前記集積回路が動作可能である方法。 - 請求項20乃至29のいずれか1つに記載した方法であって、
前記診断データフィールドは、単一の診断データ直列出力信号線上で出力される方法。 - 請求項20乃至30のいずれか1つに記載した方法であって、
前記診断データフィールドは、クロック信号線上のクロック信号と共に、単一の診断データ直列出力信号線上で出力される方法。 - 請求項20乃至31のいずれか1つに記載した方法であって、
所定のアドレス特性に整合するアドレスに関連する前記バス上のバストランザクションが取り込まれる方法。 - 請求項32に記載した方法であって、前記所定のアドレス特性は、前記アドレスが所定アドレス範囲内に入ることである方法。
- 請求項33に記載した方法であって、
前記文脈語は、前記所定アドレス範囲内の前記アドレスの位置を示す指標値である方法。 - 請求項20乃至34のいずれか1つに記載した方法であって、
プログラム可能なマスク値を用いて、取り込み対象の診断データフィールドを選択する方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/417,329 US7278073B2 (en) | 2003-04-17 | 2003-04-17 | Diagnostic data capture within an integrated circuit |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004571049A Division JP4633474B2 (ja) | 2003-04-17 | 2003-09-17 | 集積回路内の診断データ取り込み |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007066336A true JP2007066336A (ja) | 2007-03-15 |
Family
ID=33158876
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004571049A Expired - Lifetime JP4633474B2 (ja) | 2003-04-17 | 2003-09-17 | 集積回路内の診断データ取り込み |
JP2006333724A Withdrawn JP2007066336A (ja) | 2003-04-17 | 2006-12-11 | 集積回路内の診断データ取り込み |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004571049A Expired - Lifetime JP4633474B2 (ja) | 2003-04-17 | 2003-09-17 | 集積回路内の診断データ取り込み |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7278073B2 (ja) |
EP (1) | EP1614043B1 (ja) |
JP (2) | JP4633474B2 (ja) |
KR (1) | KR100954568B1 (ja) |
CN (1) | CN100409199C (ja) |
AU (1) | AU2003267576A1 (ja) |
MY (1) | MY135189A (ja) |
RU (1) | RU2005131947A (ja) |
TW (1) | TWI278636B (ja) |
WO (1) | WO2004095280A2 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7444571B1 (en) * | 2003-02-27 | 2008-10-28 | Marvell International Ltd. | Apparatus and method for testing and debugging an integrated circuit |
US7216276B1 (en) | 2003-02-27 | 2007-05-08 | Marvell International Ltd. | Apparatus and method for testing and debugging an integrated circuit |
US7496818B1 (en) | 2003-02-27 | 2009-02-24 | Marvell International Ltd. | Apparatus and method for testing and debugging an integrated circuit |
US7278073B2 (en) * | 2003-04-17 | 2007-10-02 | Arm Limited | Diagnostic data capture within an integrated circuit |
US7328375B2 (en) * | 2003-12-30 | 2008-02-05 | Intel Corporation | Pass through debug port on a high speed asynchronous link |
EP1922555B1 (en) | 2005-08-09 | 2014-10-08 | Texas Instruments Incorporated | Selectable jtag or trace access with data store and output |
KR100731982B1 (ko) * | 2005-12-26 | 2007-06-25 | 전자부품연구원 | Amba 인터페이스를 사용한 시스템의 장애 복구 장치 및복구 방법 |
CN101438250A (zh) * | 2006-03-09 | 2009-05-20 | Arm有限公司 | 用于生成跟踪数据的设备、方法和计算机程序产品 |
KR100869953B1 (ko) * | 2007-05-30 | 2008-11-24 | 경북대학교 산학협력단 | Etm 인터페이스를 이용한 전력 측정 시스템 및 그 방법 |
US20090222797A1 (en) * | 2008-02-29 | 2009-09-03 | Infineon Technologies Ag | Apparatus and method for providing a trigger |
TWI405969B (zh) * | 2009-05-08 | 2013-08-21 | Accton Wireless Broadband Corp | 管線式元件測試系統及其方法 |
US8250243B2 (en) * | 2010-06-24 | 2012-08-21 | International Business Machines Corporation | Diagnostic data collection and storage put-away station in a multiprocessor system |
US8954809B2 (en) * | 2012-07-25 | 2015-02-10 | Texas Instruments Incorporated | Method for generating descriptive trace gaps |
CN103412810B (zh) * | 2013-07-24 | 2016-05-04 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 | 一种可测试内部信号的系统封装芯片及测试方法 |
US9396089B2 (en) * | 2014-05-30 | 2016-07-19 | Apple Inc. | Activity tracing diagnostic systems and methods |
US11475191B2 (en) | 2019-05-15 | 2022-10-18 | International Business Machines Corporation | Generating and adding additional control information to logic under test to facilitate debugging and comprehension of a simulation |
CN114200284A (zh) * | 2021-10-28 | 2022-03-18 | 成绎半导体(苏州)有限公司 | 一种集成电路的测试校准方法 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02161537A (ja) * | 1988-05-23 | 1990-06-21 | Nec Corp | I/oアクセスインターバルトレース回路 |
JPH0433137A (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | データ処理装置 |
JPH05241880A (ja) * | 1992-02-26 | 1993-09-21 | Hitachi Ltd | マイクロプロセッサ、及びエミュレータ |
JPH06174802A (ja) * | 1992-12-03 | 1994-06-24 | Kawasaki Steel Corp | Cpu搭載集積回路及びデバッガ |
JPH07230432A (ja) * | 1994-02-16 | 1995-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | 計算装置 |
JPH08292898A (ja) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Ricoh Co Ltd | マイクロコンピュータ及びデバック装置 |
JPH09305444A (ja) * | 1996-05-15 | 1997-11-28 | Oki Electric Ind Co Ltd | カバレッジメモリ |
JPH10214201A (ja) * | 1997-01-29 | 1998-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピュータ |
JPH11249929A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-09-17 | Siemens Ag | プログラム制御されるユニット |
JP2002024201A (ja) * | 2000-07-10 | 2002-01-25 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
JP2002304291A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-10-18 | Arm Ltd | 命令セットの情報を格納するための装置及び方法 |
JP2006514376A (ja) * | 2003-04-17 | 2006-04-27 | アーム・リミテッド | 集積回路内の診断データ取り込み |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5488688A (en) * | 1994-03-30 | 1996-01-30 | Motorola, Inc. | Data processor with real-time diagnostic capability |
US5771240A (en) * | 1996-11-14 | 1998-06-23 | Hewlett-Packard Company | Test systems for obtaining a sample-on-the-fly event trace for an integrated circuit with an integrated debug trigger apparatus and an external pulse pin |
GB9704068D0 (en) | 1997-02-27 | 1997-04-16 | Sgs Thomson Microelectronics | Trigger sequencing controller |
US6026503A (en) | 1997-08-12 | 2000-02-15 | Telrad Communication And Electronic Industries Ltd. | Device and method for debugging systems controlled by microprocessors |
US6820051B1 (en) * | 1999-02-19 | 2004-11-16 | Texas Instruments Incorporated | Software emulation monitor employed with hardware suspend mode |
US6779145B1 (en) | 1999-10-01 | 2004-08-17 | Stmicroelectronics Limited | System and method for communicating with an integrated circuit |
JP2002202900A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Seiko Epson Corp | デバッグ装置 |
US7099818B1 (en) * | 2002-03-29 | 2006-08-29 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for automatically matching components in a debugging system |
-
2003
- 2003-04-17 US US10/417,329 patent/US7278073B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-09-17 KR KR1020057019748A patent/KR100954568B1/ko active IP Right Grant
- 2003-09-17 EP EP03748268.4A patent/EP1614043B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-09-17 RU RU2005131947/09A patent/RU2005131947A/ru not_active Application Discontinuation
- 2003-09-17 AU AU2003267576A patent/AU2003267576A1/en not_active Abandoned
- 2003-09-17 WO PCT/GB2003/004016 patent/WO2004095280A2/en active Application Filing
- 2003-09-17 CN CNB038263165A patent/CN100409199C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2003-09-17 JP JP2004571049A patent/JP4633474B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2003-10-20 MY MYPI20033989A patent/MY135189A/en unknown
- 2003-11-04 TW TW092130866A patent/TWI278636B/zh not_active IP Right Cessation
-
2006
- 2006-12-11 JP JP2006333724A patent/JP2007066336A/ja not_active Withdrawn
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02161537A (ja) * | 1988-05-23 | 1990-06-21 | Nec Corp | I/oアクセスインターバルトレース回路 |
JPH0433137A (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | データ処理装置 |
JPH05241880A (ja) * | 1992-02-26 | 1993-09-21 | Hitachi Ltd | マイクロプロセッサ、及びエミュレータ |
JPH06174802A (ja) * | 1992-12-03 | 1994-06-24 | Kawasaki Steel Corp | Cpu搭載集積回路及びデバッガ |
JPH07230432A (ja) * | 1994-02-16 | 1995-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | 計算装置 |
JPH08292898A (ja) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Ricoh Co Ltd | マイクロコンピュータ及びデバック装置 |
JPH09305444A (ja) * | 1996-05-15 | 1997-11-28 | Oki Electric Ind Co Ltd | カバレッジメモリ |
JPH10214201A (ja) * | 1997-01-29 | 1998-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピュータ |
JPH11249929A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-09-17 | Siemens Ag | プログラム制御されるユニット |
JP2002024201A (ja) * | 2000-07-10 | 2002-01-25 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
JP2002304291A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-10-18 | Arm Ltd | 命令セットの情報を格納するための装置及び方法 |
JP2006514376A (ja) * | 2003-04-17 | 2006-04-27 | アーム・リミテッド | 集積回路内の診断データ取り込み |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1614043A2 (en) | 2006-01-11 |
AU2003267576A1 (en) | 2004-11-19 |
JP4633474B2 (ja) | 2011-02-16 |
JP2006514376A (ja) | 2006-04-27 |
AU2003267576A8 (en) | 2004-11-19 |
EP1614043B1 (en) | 2016-06-08 |
KR100954568B1 (ko) | 2010-04-23 |
CN1764903A (zh) | 2006-04-26 |
RU2005131947A (ru) | 2006-03-20 |
US7278073B2 (en) | 2007-10-02 |
TWI278636B (en) | 2007-04-11 |
WO2004095280A3 (en) | 2005-02-24 |
WO2004095280A2 (en) | 2004-11-04 |
KR20060004946A (ko) | 2006-01-16 |
CN100409199C (zh) | 2008-08-06 |
TW200422625A (en) | 2004-11-01 |
MY135189A (en) | 2008-02-29 |
US20040210804A1 (en) | 2004-10-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061211 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090106 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090325 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090330 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090706 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A132 Effective date: 20100713 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20101008 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20101014 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20101029 |