TWI405969B - 管線式元件測試系統及其方法 - Google Patents

Description

管線式元件測試系統及其方法

一種元件測試系統，特別是指一種錯開裝載或卸除元件於兩測試設備的時間，使兩測試設備以管線形式執行元件測試作業的管線式元件測試系統及其方法。

先前技術中，廠商在製造受測元件後，係對每一受測元件進行一測試作業。

請參照圖1，其為先前技術之元件測試系統之方塊圖，其係由一儀器驅動模組(NI，National Instruments)11、一測試主機12、一功率計(Power Meter；PM)15與一訊號收發器(AP-Golden Unit；AP-GUT)16。其中，測試主機12係連接儀器驅動模組11，並透過耦合器14接連功率計15與訊號收發器16。功率計15用以偵測受測元件13發出之訊號(如Radio Frequency Signal，射頻訊號)的訊號強度與訊號傳送的資料穩定性。

在此說明，訊號收發器16指一個具有標準的訊號收發、調變、解調變能力的標準樣本元件，用以根據接收訊號，並根據訊號收發器16是否能正確、完整、調變或解調變受測元件13發出之無線訊號，測試受測元件13輸出之訊號的可調變性與受測元件13的傳輸效能，並將訊號接收結果提供給測試主機12，供測試主機12判斷受測元件13是否正常運行。

先前技術之系統中，先以人工、或機械手臂夾持受測元件13以裝載於測試主機12之一載具，如受測元件13為一受測晶片時，載具為配置有晶片插槽(Socket)之測試電路板；亦或，受測元件13為一受測網路卡時，載具為配置有卡片插槽(Slot)。耦合器14先被切換以連通測試主機12與功率計15，測試主機12從儀器驅動模組11取得一驅動程序以設定受測元件13，再控制受測元件13發出一受測訊號至功率計15。

功率計15係分析受測訊號之訊號強度以回傳一訊號強度資料至儀器驅動模組11，儀器驅動模組11係修正提供之驅動程序之工作參數以形成一修正程序，再提供給測試主機12來重新設定受測元件13的工作參數。

耦合器14再被切換以連通測試主機12與訊號收發器16，測試主機12控制受測元件13發出一測試資料。訊號收發器16接收此測試資料，並將測試資料的接收結果回傳給測試主機12。測試主機12根據取得之接收結果以判斷受測元件13是否正常運作。

就上述得知，先前技術中，一套測試系統同一時間僅能測試一個受測元件。廠商為短時間增加產能，多會增設相同的測試系統，以一次性測試多個受測元件。然而，廠商每購置一套測試系統，僅是多增設一條受測元件的元件測試線，所製造出的受測元件之結構與受測元件進行的測試流程皆相同，即受測元件測試效率提升了，廠商所付出的測試成本也相對提升。因此，如何有效的降低生產成本，與提升受測元件的產能，為廠商應思考的問題。

本發明的目的係在於提供一種可降低設備成本，並保持一定受測元件測試效率的測試方法與系統。

本發明所提供之技術手段係揭露一種管線式元件測試系統，此管線式元件測試系統包含一儀器驅動模組、一第一測試設備、一第二測試設備與一裝卸模組。

第一測試設備用以裝載元件並對元件進行一第一測試，並在測試完成時輸出一第一觸發訊號。第二測試設備用以裝載元件並對元件進行一第二測試，裝卸模組用以裝卸元件於第一測試設備及第二測試設備。

儀器驅動模組係控制裝卸模組裝載第一元件於第一測試設備，第一測試設備會對第一元件進行第一測試，並於測試完後輸出第一觸發訊號。儀器驅動模組於取得第一觸發訊號時，控制裝卸模組從第一測試設備卸除第一元件並裝載於第二測試設備，及裝載第二元件於第一測試設備。當第二測試設備係對第一元件進行第二測試時，第一測試設備係對第二元件進行第一測試，兩者係達到平行執行。

本發明所提供之技術手段係揭露一種管線式元件測試方法，係應用一管線式元件測試系統，管線式元件測試系統包含一儀器控制模組、一裝卸模組、一第一測試設備與一第二測試設備。此方法包含：經由儀器驅動模組控制裝卸模組裝載一第一元件於第一測試設備。第一測試設備對第一元件執行一第一測試後，輸出一第一觸發訊號。儀器驅動模組取得第一觸發訊號時，控制裝卸模組卸除第一元件並裝載於第二測試設備執行第二測試，並裝載一第二元件於該第一測試設備執行第一測試。當第二測試設備對第一元件執行第二測試時，則第一測試設備對第二元件執行第一測試，以達成平行執行第一測試與第二測試。

本發明揭露之管線式元件測試方法中，當儀器驅動模組判斷裝卸元件於第一測試設備完成對第二元件之第一測試，但第二測試設備未完成對第一元件第二測試時，儀器驅動模組係等待第二測試設備完成第二測試，再從第二測試設備卸除第一元件，從第一測試設備卸除第二元件並裝載於第二測試設備執行第二測試。當一第三元件存在時，儀器驅動模組控制裝卸模組裝載第三元件於第一測試設備執行第一測試。當第二測試設備對第二元件進行第二測試時，則第一測試設備對第三元件進行第一測試，以達到平行執行第一測試與第二測試。

本發明所揭露之管線式元件測試系統與方法，第一測試設備執行第一測試之時間，與第二測試設備執行第二測試之時間係形成平行或同步。因此可於一時間內，由一管線式元件測試系統同時測試第n元件的第二測試與第n+1元件的第一測試，以有效降低所需設備，並提昇受測元件測試之執行效率。

為使對本發明之終點、構造特徵及其功能有進一步之了解，茲配合相關實施例及圖式詳細說明如下：

請同時參照圖2A與圖2B，圖2A係為本發明實施例之管線式元件測試系統架構圖，圖2B係為本發明實施例之管線式元件測試系統方塊圖。此管線式元件測試系統包含一儀器驅動模組(NI，National Instruments)20、一裝卸模組60、一第一測試設備與一第二測試設備。

第一測試設備包含一第一主機31與一功率計21，第二測試設備包含一第二主機41與一訊號收發器22。第一主機31與第二主機41各自具有用以裝載受測元件(Device Under Test)的第一載具32與第二載具42，如受測元件為一受測晶片時，第一載具32與第二載具42為配置有晶片插槽(Socket)之測試電路板；亦或，受測元件為一受測網路卡時，第一載具32與第二載具42為配置有卡片插槽(Slot)。功率計21係為用以測試受測元件輸出訊號之訊號強度。

在本實施例中，受測元件的輸出訊號係為射頻訊號(Radio Frequency Signal)惟不以此為限。訊號收發器22在此係指一已根據接收訊號與發送訊號的反應，調整出最適合於此測試作業的設定參數值，並根據此設定參數值進行訊號接收與發送作業的元件標準樣本，其具有標準化、接近理想數值的工作參數與運行狀態，主要是用以接收受測元件輸出的訊號，並受測元件輸出的訊號接收狀態判斷受測元件的訊號傳輸效能與對輸出訊號可調變性。

儀器驅動模組20儲存有複數個驅動程序，並從所有驅動程序中取出一程序給予第一測試設備，供第一測試設備設定所裝載之受測元件之工作參數。

裝卸模組60用於將受測元件裝載與卸除於第一載具32與第二載具42。裝卸模組60可根據受測元件之形態而配置不同的結構類型，如受測元件為一受測晶片時，裝卸模組60可為真空式吸盤以吸引受測晶片；亦或，受測元件為一受測網路卡時，裝卸模組60可為具有夾持物體能力的機械手臂，以夾持受測網路卡，本實施例中，裝卸模組60係為機械手臂進行說明。

如圖2A與圖2B，儀器驅動模組20係控制裝卸模組60將一第一元件51裝載於第一主機31連接之第一載具32。第一主機31偵測第一元件51已被裝載時，會從儀器驅動模組20取得一第一程序以驅動、設定與控制第一元件51。

第一主機31係控制第一元件51發出一第一訊號，此第一訊號係由功率計21所接收，功率計21係分析第一訊號的訊號強度，以產生一第一訊號強度資料，並傳輸第一訊號強度資料至儀器驅動模組20。儀器驅動模組20係根據第一訊號強度資料提供一第一修正程序給第一主機31，第一主機31根據第一修正程序調整第一元件51之至少一工作參數。第一元件51之工作參數係選自於由第一元件51輸出第一訊號之至少一控制設定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之群組。

請同時參照圖2C與圖2D，圖2C係為本發明實施例之元件裝卸示意圖，圖2D係為本發明實施例之管線式元件測試系統平行測試方塊圖。當第一主機31判斷第一元件51已完成第一測試時，係輸出一第一觸發訊號至儀器驅動模組20。儀器驅動模組20係判斷第一元件51已完成受測，以控制裝卸模組60從第一測試設備卸除第一元件51並裝載至第二測試設備，並裝載一第二元件52於第一測試設備。進一步說明，即是儀器驅動模組20控制裝卸模組60從第一載具32卸除第一元件51，以裝載第一元件51於第二載具42，且裝載第二元件52於第一載具32。

當第二主機41偵測第一元件51已被裝載時，第二主機41係從第一主機31取得第一元件51之工作參數，以控制第一元件51輸出一第一測試資料。

此第一測試資料由訊號收發器22所接收，如前所述。訊號收發器22為一元件標準樣本，具有標準化的工作參數與訊號收發模式。訊號收發器22接收第一測試資料後，即將第一測試資料之接收結果形成一第一結果資料，此第一結果資料會被傳送至第一主機31，並由第一主機31轉送至第二主機41，第二主機41即根據此第一結果資料決定第一元件51運作是否正常，即完成第二測試設備對第一元件51的第二測試。第二測試設備完成對第一元件51之第二測試時，第二主機係發出一第二觸發訊號至儀器驅動模組20，儀器驅動模組20會從第二載具42卸除第一元件51。至此完成測試第一元件51的全程測試。

當第二測試設備對第一元件51進行第二測試期間，第一主機31係偵測第二元件52已被裝載於第一載具32時，第一主機31會從儀器驅動模組20取得一第二程序以驅動、設定與控制第二元件52。在此說明，本實施例中，第一元件51與第二元件52係為相同架構、功能之受測元件，故儀器驅動模組20提供第一程序與第二程序係為相同。

第一主機31係控制第二元件52發出一第二訊號，此第二訊號係由功率計21所接收，功率計21係分析第二訊號的訊號強度，以產生一第二訊號強度資料，並傳輸第二訊號強度資料至儀器驅動模組20。儀器驅動模組20係根據第二訊號強度資料提供一第二修正程序給第一主機31，第一主機31根據第二修正程序調整第二元件52之至少一工作參數。第二元件52之工作參數係選自於由第一元件51用以輸出第二訊號之至少一控制設定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之群組。

當第一主機31完成對第二元件52之第一測試後，即發出對應第二元件52的第一觸發訊號。儀器驅動模組20係控制裝卸模組60從第一測試設備卸除第二元件52，並裝載於第二測試設備。當一第三元件53存在時，儀器驅動模組20係裝載第三元件53於第一測試設備，第二測試設備會對第二元件52進行第二測試，則第一測試設備對第三元件53進行第一測試，以達成平行執行第三元件53之第一測試與第二元件52之第二測試。

在此假設，第二測試的時間比第一測試的時間長時，當儀器驅動模組20判斷第一測試設備完成對第二元件52之第一測試，第二測試設備未完成對第一元件51之第二測試時(取得第一觸發訊號但未取得第二觸發訊號)，儀器驅動模組20會等待第二測試設備完成對第一元件51之第二測試(即取得第二觸發訊號)，以控制裝卸模組60卸除第一元件51，再控制裝卸模組60從第一測試設備卸除第二元件52並裝載至第二測試設備。

同理，當儀器驅動模組20判斷第一測試設備完成對第三元件之第一測試，且第二測試設備未完成對第二元件52之第二測試時(取得第一觸發訊號但未取得第二觸發訊號)，儀器驅動模組20會等待第二測試設備完成對第二元件52之第二測試(即取得第二觸發訊號)，以控制裝卸模組60卸除第二元件52，再控制裝卸模組60從第一測試設備卸除第三元件53並裝載至第二測試設備。

由此得知，儀器驅動模組20判斷第一測試設備已完成第一測試，但第二測試設備仍在執行第二測試時，需等待第二測試完成再進行元件卸除作業。

相反假設，第二測試的時間比第一測試的時間短。當儀器驅動模組20判斷第二測試設備完成對第一元件51之第二測試時，儀器驅動模組20會控制裝卸模組60卸除第一元件51。則第一測試設備完成對第二元件52之第一測試時，第二測試設備已完成對第一元件51之第二測試，儀器驅動模組20會在第一元件51完成卸除後，控制裝卸模組60從第一測試設備卸除第二元件52並裝載至第二測試設備。

同理，當儀器驅動模組20判斷第二測試設備完成對第二元件52之第二測試時，儀器驅動模組20會控制裝卸模組60卸除第二元件52。則第一測試設備完成對第三元件53之第一測試時，第二測試設備已完成對第二元件52之第二測試，儀器驅動模組20會在第二元件52完成卸除後，控制裝卸模組60從第一測試設備卸除第三元件53並裝載至第二測試設備。

至此得知，第二測試設備執行第二測試之動作，與第一測試設備執行第一測試之動作，係形成平行執行，於一時間內，由一管線式元件測試系統同時對兩連續順序的測試元件進行不同的測試項目，以有效降低所需設備，並維持一定程度的受測元件測試之執行效率。

請參照圖3，其為本發明實施例之管線式元件測試方法之流程圖，請同時參照圖4A或圖4B以利於了解，圖4A係本發明實施例之管線式元件測試流程時序圖之一例，圖4B係本發明實施例之管線式元件測試流程時序圖之另一例，圖4A中，第一測試的時間高於第二測試的執行時間，圖4B中，第一測試的時間低於第二測試的執行時間。圖3所示之管線式元件測試流程係應用於圖2A與圖2B所示之管線式元件測試系統。此管線式元件測試方法包含：經由儀器驅動模組20控制裝卸模組60裝載一第一元件51於第一測試設備(步驟S110)。

在本實施例中，將每一元件的受測流程劃分為數個作業。假設裝卸模組裝載受測元件至第一測試設備的時間為8秒，從第二測試設備卸除受測元件之時間也為8秒，將受測元件從第一測試設備卸除並裝載至第二測試設備之時間同為8秒。圖4A中，第一測試設備執行第一測試之時間為32.8秒，第二測試設備執行第二測試之時間為21.2秒。圖4B中，第一測試設備執行第一測試之時間為21.2秒，第二測試設備執行第二測試之時間為32.8秒。

如圖4A與圖4B，從0秒時，儀器驅動模組20係控制裝卸模組60裝載第一元件51至第一主機31所連接之第一載具32，並在8秒左右完成第一元件51之裝載作業。然而，為使作業時間更為精準，第一主機31可於偵測到任一受測元件被裝載於第一載具32時，輸出一第一告知訊號提示儀器驅動模組20：元件已被裝載完成。

第一測試設備對第一元件51執行一第一測試後，輸出一第一觸發訊號(步驟S120)。

就圖4A與圖4B所示，第一主機31會在8秒時，開始對第一元件51之第一測試。第一主機31會告知儀器驅動模組20所裝載之第一元件51的規格，以取得儀器驅動模組20提供的第一程序。第一主機31會根據第一程序設定第一元件51之至少一個工作參數，以開始對第一元件51進行第一測試。第一主機31會在第一測試完成後，輸出第一觸發訊號至儀器驅動模組20。

儀器驅動模組20取得第一觸發訊號時，控制裝卸模組卸除第一元件51並裝載於第二測試設備執行一第二測試，並裝載一第二元件52於第一測試設備執行該第一測試(步驟S130)。

就圖4A而言，第一測試時間需要32.8秒的時間，因此儀器驅動模組20會在40.8秒時取得第一觸發訊號。此時，儀器驅動模組20會控制裝卸模組60從第一載具32將第一元件51卸除(unload)以裝載(load)於第二主機41連接之第二載具42，再裝載一第二元件52於第一主機31連接之第一載具32。

就圖4B而言，第一測試時間需要21.8秒的時間，因此儀器驅動模組20會在29.2秒時取得第一觸發訊號。

第二測試設備於第一元件被裝載完成時執行一第二測試(步驟S140)。從圖4A得知，裝卸模組60將第一元件51從第一載具32卸除，並裝載至第二載具42之時間需要8秒。因此第一元件51完成裝載於第二載具42的時間為48.8秒，而第二主機41偵測到第一元件51被完整裝載於第二載具42的時間同為48.8秒。因此，第二主機41會在48.8秒開始對第一元件51進行第二測試，並在70.0秒完成。

在48.8秒左右，儀器驅動模組20會在第一元件51裝載完成後，立即控制裝卸模組60裝載一第二元件52於第一載具32中，第二元件52會在56.8秒左右被裝載完成。

從圖4B得知，第一元件51完成裝載於第二載具42的時間為37.2秒左右，而第二主機41偵測到第一元件51被完整裝載於第二載具42的時間同為37.2秒左右。因此，第二主機41會在37.2秒開始對第一元件51進行第二測試，並在70.0秒完成。

在37.2秒時，儀器驅動模組20會在第一元件51裝載完成後，立即控制裝卸模組60裝載一第二元件52於第一載具32中，第二元件52會在45.2秒被裝載完成。

然而，為使作業時間更為精準，第二主機41可於偵測到任何受測元件被裝載於第二載具42時，輸出一第二告知訊號提示儀器驅動模組20元件已被裝載完成。

當第二測試設備對第一元件51執行一第二測試時，則第一測試設備對第二元件52執行第一測試，以達成平行執行(步驟S150)。

從圖4A得知，第二元件52會在56.8秒被裝載完成，第一測試設備會在56.8秒開始測試對第二元件52進行第一測試，並在89.6秒完成。

從圖4B得知，第二元件52會在45.2秒左右被裝載完成，第一測試設備會在45.2秒開始測試對第二元件52進行第一測試，並在66.4秒完成。第二測試設備對第一元件51執行一第二測試的動作，與第一測試設備對第二元件52執行第一測試的動作係為形成平行執行。

當第二主機41判斷對第一元件51完成執行第二測試後，第二主機41會輸出一第二觸發訊號。當儀器驅動模組20取得第二觸發訊號時，儀器驅動模組20係優先控制裝卸模組60從第二測試設備卸除第一元件51。

請同時參照圖5A與圖5B，圖5A為本發明實施例之第二測試設備裝卸元件流程圖，圖5B為本發明實施例之第一測試設備裝卸元件流程圖。請同時協同圖4A與圖4B以利於了解。此等裝卸作業係由儀器驅動模組20所判斷執行，第二測試設備卸除元件方式如圖5A所示：當第二測試設備完成對第一元件執行一第二測試後，係輸出一第二觸發訊號(步驟S201)。儀器驅動模20組取得此第二觸發訊號時，控制裝卸模組60於自第二測試設備卸除第一元件(步驟S202)。

此二步驟即代表第二測試設備告知儀器驅動模組20完成第一元件51之第二測試，請儀器驅動模組20對第一元件51進行元件卸除作業，即完成第一元件51的全程測試作業。就圖4A與圖4B，第二測試設備會於70秒時請儀器驅動模組20卸除第一元件51，於78秒時卸除完成。

另一方面，第一測試設備卸除元件方式如圖5B所示：當儀器驅動模組20取得對應第二元件52之第一觸發訊號時，係判斷是否已取得對應第一元件51之第二觸發訊號(步驟S210)。

當儀器驅動模組20取得對應第二元件52之第一觸發訊號，可得知第一測試設備已完成對第二元件52的第一測試，而判斷是否已先取得對應第一元件51之第二觸發訊號，以判斷第二測試設備是否完成對第一元件51的第二測試。

當儀器驅動模組20取得對應第二元件52之第一觸發訊號，但未取得對應第一元件51之第二觸發訊號時，即代表第二測試設備未完成對第一元件51的第二測試。此時，儀器驅動模組20不會對裝卸模組60輸出任何的控制指令，裝卸模組60係處於停止情形。儀器驅動模組20會持續判斷是否取得對應第一元件51之第二觸發訊號。在此說明，此等類型係應用於第二測試的測試時間比第一測試的測試時間較長的測試系統。如圖4B所示，第二元件完成第一測試的時間在66.4秒，儀器驅動模組20尚未取得對應第一元件51之第二觸發訊號，故不會作任何動作，直至70秒取得第一元件51之第二觸發訊號後，並在第一元件51被完成卸除後，即78.0秒時，再控制裝卸模組60裝載第二元件52至第二測試設備。

當儀器驅動模組20取得對應第二元件52之第一觸發訊號且已取得對應第一元件51之第二觸發訊號時，係控制裝卸模組60從第一測試設備卸除第二元件52並裝載至第二測試設備，經由第二測試設備對第二元件52進行第二測試(步驟S220)。如圖4A，儀器驅動模組20在70.0秒取得對應第一元件51之第二觸發訊號時，代表第二測試設備已完成之前執行的第二測試，儀器驅動模組20會在完成對第二測試設備的元件卸除作業後，即89.6秒時，控制裝卸模組60將第二元件52從第一測試設備卸除並裝載於第二測試設備。

當有一第三元件存在時，儀器驅動模組20會控制裝卸模組60裝載第三元件至第一測試設備在第二測試執行期間，以供第一測試設備對第三元件53進行第一測試(步驟S230)。

然而，當第二測試設備對第二元件52進行第二測試時，則第一測試設備對第三元件53進行第一測試之動作，以達成平行執行。

請參照圖6，其為本發明實施例之第一測試之流程示意圖，在此係以第一元件51進行說明，但適用於各裝載於第一測試設備之受測元件。此方法包含：第一測試設備從儀器驅動模組20取得一第一程序(步驟S121)，以藉由第一程序來驅動、設定與控制第一元件51。

第一測試設備控制第一元件51輸出一第一訊號(步驟S122)。第一主機31在取得第一程序後，係根據第一程序設定第一元件51之工作參數，並控制第一元件51輸出一第一訊號。

利用一功率計21分析第一訊號以輸出一第一訊號強度資料至儀器驅動模組20，儀器驅動模組20係根據第一訊號強度資料產生一第一修正程序(步驟S123)。

功率計21會接收第一訊號，並分析第一訊號之強度與第一元件51傳輸第一訊號的穩定度，根據分析結果產生一第一訊號強度資料，此第一訊號強度資料會被傳輸至儀器驅動模組20。儀器驅動模組20根據第一訊號強度資料對先前的第一程序進行修正形成第一修正程序，再輸出第一修正程序至第一測試設備。

在此說明，儀器驅動模組20係具有第一元件51之一最佳運作資料，儀器驅動模組20會將第一訊號強度資料與此最佳運作資料相比對，決定第一元件51較適當的工作參數，根據此工作參數調整第一程序形成第一修正程序，再輸出給第一主機31。

第一測試設備從儀器驅動模組20取得第一修正程序，以設定第一元件51之至少一工作參數(步驟S124)，再根據第一修正程序調整第一元件51之工作參數。

第一元件51之工作參數係選自於由第一元件51輸出第一訊號之至少一控制設定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之群組。

請參照圖7，其為本發明實施例之第二測試之流程示意圖，在此係以第一元件51進行說明，但適用於各裝載於第二測試設備之受測元件。此方法包含：第二測試設備從第一測試設備取得第一元件51之至少一工作參數(步驟S141)。從第一測試設備取得第一元件51之工作參數的原因有二，一為第二主機41可以相同的控制參數來控制第一元件51進行工作；另一者為，從第一主機31取得第一元件51之所有資料，以進行資料匹配比對，避免第二主機41使用到其它受測元件的工作參數來控制第一元件51。

第二測試設備控制第一元件51輸出一第一測試資料(步驟S142)。第二主機41係根據上述的工作參數來設定與控制第一元件51輸出第一測試資料。

利用一訊號收發器22接收第一測試資料以產生一第一結果資料(步驟S143)。如前所述，訊號收發器22本身就是標準規格的元件標準樣本，訊號收發器22在取得此第一測試資料時，根據第一測試資料的接收情形產生第一結果資料，第一結果資料會被回傳給第二主機41。

第二測試設備根據第一結果資料決定第一元件51是否運作正常(步驟S144)。第二主機41取得第一結果資料時，會將其與輸出的第一測試資料相比較，以判斷第一元件51是否為可正常運作的元件。就圖4A或圖4B所示時間流程而言，至此，第一元件51之全數測試作業完成，並完成於70秒。

同理，第二元件52於兩測試之流程如下說明：第一測試設備從儀器驅動模組20取得一第二程序，以藉由第二程序來驅動、設定與控制第二元件52。第一主機31在取得第二程序後，係根據第二程序設定第二元件52之工作參數，並控制第二元件52輸出一第二訊號。

功率計21會接收第二訊號，並分析第二訊號之強度與第二元件52傳輸第二訊號的穩定度，根據分析結果產生一第二訊號強度資料，此第二訊號強度資料會被傳輸至儀器驅動模組20。儀器驅動模組20根據第二訊號強度資料對先前的第二程序進行修正形成第二修正程序，再輸出第二修正程序至第一測試設備。而且第二元件52之第一測試會與第一元件51之第二測試達成平行執行。

第二測試設備從儀器驅動模組20取得第一修正程序，以設定第二元件52之至少一工作參數，再根據第二修正程序調整第二元件52之工作參數。第二元件52之工作參數係選自於由第二元件52輸出第二訊號之至少一控制設定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之群組。

當第二元件52被裝載於第二測試設備後，第二測試設備從第一測試設備取得第二元件52之至少一工作參數。第二主機41係根據上述的工作參數來設定與控制第二元件52輸出第二測試資料。

訊號收發器22在取得此第二測試資料時，根據第二測試資料的接收情形產生第二結果資料，第二結果資料會被回傳給第二主機41。

第二主機41取得第二結果資料時，會將其與輸出的第二測試資料相比較，以判斷第二元件52是否為可正常運作的元件。就圖4A或圖4B所示流程而言，至此，第二元件52之全數測試作業完成，並完成於118.8秒。

從圖4得知，儀器驅動模組20係將裝載元件於第一測試設備之時間穿插於第二測試設備執行第二測試之時間，將從第二測試設備卸除元件之時間穿插於第一測試設備執行第一測試之時間，以及將轉移裝載元件之時間穿插於第一測試之時間與第二測試之時間的空檔。

就本實施例來說，將管線式元件測試設備的執行時間劃分為複數個相同時間單位，在第一時間單位單獨執行第一測試設備之第一測試，與最後一個時間單位單獨執行第二測試設備之第二測試外。在其它時間單位中，每一時間單位係同步、或平行執行第一測試設備之第一測試與第二測試設備之第二測試，使得一個時間單位內可實質上完成一個受測元件的測試行為。

就圖4A來說，每一時間間隔約為48.8秒。在0秒至8秒時完成第一元件51裝載於第一測試設備，在8秒至40.8秒完成第一元件51之第一測試。而40.8秒至48.8秒期間，第一元件51從第一測試設備轉移裝載至第二測試設備，此時，第一個時間單位完結。

48.8秒時，第二測試設備開始第一元件51之第二測試，至70.0秒完成第一元件51之第二測試，並於78秒完成第一元件51之卸除。第二元件52會在48.8秒至56.8秒期間，完成被裝載於第一測試設備的動作，第一測試設備係於56.8秒開始對第二元件52進行第一測試，在89.6秒完成對第二元件52之第一測試。而89.6秒至97.6秒期間，第二元件52係完成被轉移裝載於第二測試設備，此時，第二個時間單位完結。而第二個時間單位起算，每一個時間單位係符合上述平行執行第一測試設備之第一測試與第二測試設備之第二測試。

就圖4B來說，除第一個時間間隔為37.2秒外，其它的時間間隔約為40.8秒。在0秒至8秒時完成第一元件51裝載於第一測試設備，在8秒至29.2秒完成第一元件51之第一測試。而29.2秒至37.2秒期間，第一元件51從第一測試設備轉移裝載至第二測試設備，此時，第一個時間單位完結。

37.2秒時，第二測試設備開始第一元件51之第二測試，至70.0秒完成第一元件51之第二測試，並於78秒完成第一元件51之卸除。第二元件52會在37.2秒至45.2秒期間，完成被裝載於第一測試設備的動作，第一測試設備係於45.2秒開始對第二元件52進行第一測試，在66.4秒完成對第二元件52之第一測試。但第一元件在78.0秒才完成卸除，故78.0秒至86.0秒期間，第二元件52才會被轉移裝載於第二測試設備，此時，第二個時間單位完結。而第二個時間單位起算，每一個時間單位係符合上述平行執行第一測試設備之第一測試與第二測試設備之第二測試。

從圖4A與圖4B得知，每一個受測元件完成受測時間為78秒，以兩個受測元件而言，一般的元件測試系統需要156秒。而本發明揭露之管線式元件測試方法與系統，兩個受測元件的受測時間僅需126.8秒，縮短將近30秒。以四個受測元件而言，一般的元件測試系統需要316秒，而本發明揭露之管線式元件測試方法與系統，四個受測元件之受測時間僅需要224.6秒，縮短將近92秒。

因此，受測元件越多，實質上可縮短比一般元件測試系統更多的測試時間。而且無需增設硬體設備，確實有效降低所需設備成本，並維持一定程度的受測元件測試之執行效率。

雖然本發明以前述之較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習相像技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，所作更動與潤飾之等效替換，仍為本發明之專利保護範圍內。

先前技術：

11．．．儀器驅動模組

12．．．測試主機

13．．．受測元件

14．．．耦合器

15．．．功率計

16．．．訊號收發器

本發明技術：

20．．．儀器驅動模組

21．．．功率計

22．．．訊號收發器

31．．．第一主機

32．．．第一載具

41．．．第二主機

42．．．第二載具

51．．．第一元件

52．．．第二元件

53．．．第三元件

60．．．裝卸模組

圖1係先前技術之元件測試系統之方塊圖；

圖2A係本發明實施例之管線式元件測試系統架構圖之一例；

圖2B係本發明實施例之管線式元件測試系統方塊圖之一例；

圖2C係本發明實施例之元件裝卸示意圖；

圖2D係本發明實施例之管線式元件測試系統平行測試方塊圖；

圖3係本發明實施例之管線式元件測試方法之流程圖；

圖4A係本發明實施例之管線式元件測試流程時序圖之一例；

圖4B係本發明實施例之管線式元件測試流程時序圖之另一例；

圖5A係本發明實施例之第二測試設備裝卸元件判斷流程圖；

圖5B係本發明實施例之第一測試設備裝卸元件判斷流程圖；

圖6係本發明實施例之第一測試之流程示意圖；以及

圖7係本發明實施例之第二測試之流程示意圖。

20．．．儀器驅動模組

21．．．功率計

22．．．訊號收發器

31．．．第一主機

32．．．第一載具

41．．．第二主機

42．．．第二載具

51．．．第一元件

52．．．第二元件

53．．．第三元件

60．．．裝卸模組

Claims (19)

1. 一種管線式元件測試系統，包含：一第一測試設備，用以進行一第一測試，並於該第一測試完成時輸出一第一觸發訊號；一第二測試設備，用以進行一第二測試；一裝卸模組；以及一儀器驅動模組，係控制該裝卸模組裝載一第一元件於該第一測試設備，以對該第一元件進行該第一測試，及該儀器驅動模組取得該第一觸發訊號時，控制該裝卸模組將該第一元件從該第一測試設備卸除以裝載於該第二測試設備，以對該第一元件進行該第二測試，且裝載一第二元件於該第一測試設備以對該第二元件進行該第一測試。
2. 如申請專利範圍第1項之管線式元件測試系統，其中當該第二測試設備對該第一元件執行該第二測試時，該第一測試設備對該第二元件執行該第一測試，以達成平行執行。
3. 如申請專利範圍第1項之管線式元件測試系統，其中該第二測試設備完成對該第一元件之該第二測試時，係發出一第二觸發訊號，該儀器驅動模組係控制該裝卸模組從該第二測試設備卸除該第一元件。
4. 如申請專利範圍第3項之管線式元件測試系統，其中該儀器驅動模組判斷該第一測試設備完成對該第二元件之該第一測試，且該第二測試設備未完成對該第一元件之該第二測試時，係等待該第二測試設備完成對該第一元件之該第二測試，以控制該裝卸模組卸除該第一元件，再控制該裝卸模組從該第一測試設備卸除該第二元件並裝載至該第二測試設備。
5. 如申請專利範圍第4項之管線式元件測試系統，其中該儀器驅動模組係裝載一第三元件於該第一測試設備，當該第二測試設備對該第二元件執行該第二測試時，該第一測試設備對該第三元件執行該第一測試，以達成平行執行。
6. 如申請專利範圍第1項之管線式元件測試系統，其中該儀器驅動模組包含複數個驅動程序，並從該等驅動程序中取出一程序給予該第一測試設備，供該第一測試設備設定所裝載之該第一元件之工作參數或設定所裝載之該第二元件之工作參數。
7. 如申請專利範圍第6項之管線式元件測試系統，其中，該第一測試設備包含：一第一主機，連接該儀器驅動模組，於裝載該第一元件時控制該第一元件輸出一第一訊號，及取得一第一修正程序時調整該第一元件之至少一工作參數並輸出對應該第一元件之該第一觸發訊號，以及於裝載該第二元件時控制該第二元件輸出一第二訊號，及取得一第二修正程序時調整該第二元件之至少一工作參數並輸出對應該第二元件之該第一觸發訊號；以及一功率計，分析該第一訊號以輸出一第一訊號強度資料，該儀器驅動模組根據該第一訊號強度資料提供該第一修正程序給該第一主機，以及分析該第二訊號以輸出一第二訊號強度資料，該儀器驅動模組根據該第二訊號強度資料提供該第二修正程序給該第一主機。
8. 如申請專利範圍第7項之管線式元件測試系統，其中該第一元件之該至少一工作參數係選自於由該第一元件輸出該第一訊號之至少一控制設定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之群組，而該第二元件之該至少一工作參數係選自於由該第二元件輸出該第二訊號之至少一控制設定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之群組。
9. 如申請專利範圍第7項之管線式元件測試系統，其中，該第二測試設備包含：一第二主機，係連接該第一主機，於裝載該第一元件時從該第一主機取得該第一元件之該至少一工作參數並控制該第一元件輸出一第一測試資料，及於裝載該第二元件時從該第一主機取得該第二元件之該至少一工作參數並控制該第二元件輸出一第二測試資料，以及取得一第一結果資料時決定該第一元件是否運作正常，與取得一第二結果資料時決定該第二元件是否運作正常；以及一訊號收發器，係接收該第一測試資料以輸出該第一結果資料至該第二主機，以及接收該第二測試資料以輸出該第二結果資料至該第二主機。
10. 一種管線式元件測試方法，係應用一管線式元件測試系統，該管線式元件測試系統包含一儀器控制模組、一裝卸模組、一第一測試設備與一第二測試設備，該管線式元件測試方法包含：經由該儀器驅動模組控制該裝卸模組裝載一第一元件於該第一測試設備；該第一測試設備對該第一元件執行一第一測試後，輸出一第一觸發訊號；該儀器驅動模組取得該第一觸發訊號時，控制該裝卸模組卸除該第一元件並裝載於該第二測試設備執行一第二測試，並裝載一第二元件於該第一測試設備執行該第一測試；以及當該第二測試設備對該第一元件執行該第二測試時，則該第一測試設備對該第二元件執行該第一測試，以達成平行執行。
11. 如申請專利範圍第10項之管線式元件測試方法，其中更包含：該第二測試設備完成對該第一元件執行該第二測試後，係輸出一第二觸發訊號；以及經由該儀器驅動模組取得該第二觸發訊號時，控制該裝卸模組於自該第二測試設備卸除該第一元件。
12. 如申請專利範圍第11項之管線式元件測試方法，其中更包含：該第一測試設備對該第二元件執行該第一測試後，輸出對應該第二元件之該第一觸發訊號；當該儀器驅動模組取得對應該第二元件之該第一觸發訊號，判斷是否已取得對應該第一元件之該第二觸發訊號；當該儀器驅動模組取得對應該第二元件之該第一觸發訊號但未取得對應該第一元件之該第二觸發訊號時，係返回該判斷是否取得對應該第一元件之該第二觸發訊號之步驟；以及當該儀器驅動模組取得對應該第二元件之該第一觸發訊號且已取得對應該第一元件之該第二觸發訊號時，係控制該裝卸模組從該第一測試設備卸除該第二元件並裝載至該第二測試設備。
13. 如申請專利範圍第12項之管線式元件測試方法，其中更包含：經由該第二測試設備對該第二元件進行該第二測試；經由該儀器驅動模組控制該裝卸模組裝載一第三元件至該第一測試設備執行該第一測試；以及經由該第一測試設備對該第三元件進行該第一測試時，則該第二測試設備對該第二元件進行該第二測試以達成平行執行。
14. 如申請專利範圍第13項之管線式元件測試方法，其中該第一測試設備對該第一元件執行該第一測試之該步驟包含：從該儀器驅動模組取得一第一程序；根據該第一程序控制該第一元件輸出一第一訊號；利用一功率計分析該第一訊號以輸出一第一訊號強度資料至該儀器驅動模組，該儀器驅動模組係根據該第一訊號強度資料產生一第一修正程序；以及從該儀器驅動模組取得該第一修正程序以設定該第一元件之至少一工作參數。
15. 如申請專利範圍第14項之管線式元件測試方法，其中該第二測試設備對該第一元件執行該第二測試之該步驟包含：從該第一測試設備取得該第一元件之該至少一工作參數；控制該第一元件輸出一第一測試資料；利用一訊號收發器接收該第一測試資料以產生一第一結果資料；以及根據該第一結果資料決定該第一元件是否運作正常。
16. 如申請專利範圍第14項之管線式元件測試方法，其中該第一元件之工作參數係選自於由該第一元件輸出該第一訊號之至少一控制設定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之群組。
17. 如申請專利範圍第13項之管線式元件測試方法，其中該第一測試設備對該第二元件執行該第一測試之該步驟包含：從該儀器驅動模組取得一第二程序；根據該第二程序控制該第二元件輸出一第二訊號；分析該第二訊號以輸出一第二訊號強度資料至該儀器驅動模組，該儀器驅動模組係根據該第二訊號強度資料產生一第二修正程序；以及從該儀器驅動模組取得該第二修正程序以設定該第二元件之至少一工作參數。
18. 如申請專利範圍第17項之管線式元件測試方法，其中該第二測試設備對該第二元件執行該第二測試之該步驟包含：從該第一測試設備取得該第二元件之該至少一工作參數；控制該第二元件輸出一第二測試資料；利用一訊號收發器接收該第二測試資料以產生一第二結果資料；以及根據該第二結果資料分析該第二元件是否運作正常。
19. 如申請專利範圍第18項之管線式元件測試方法，其中該第二元件之工作參數係選自於由該第二元件輸出該第二訊號之至少一控制設定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之群組。