JP2007066037A - 半導体集積回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】 投入された電源電圧が安定化するまでの間に回路の初期状態を保障し、所定のレジスタ値等を初期値にするとき、外部入出力バッファ回路の出力回路が誤動作する虞を解消する。
【解決手段】 電源検出回路(8D)は外部から供給される電源電圧(VDD,VCC)が所定の状態になったことを示す電源電圧検出信号(N3)を出力する。パワーオンリセット回路(8E)は、前記電源電圧検出信号を入力し、所定のタイミングで前記内部回路の初期設定動作を指示し、前記内部回路の初期設定動作の完了に応答して、外部入出力バッファ回路(8F)を高インピーダンス状態から動作可能な状態にする。これにより、外部入出力バッファ回路が動作可能になるときは既に内部回路の初期設定が完了する。
【選択図】 図2
Description
2 半導体基板
3、4 ボンディングパッド
5 第1回路領域
5A CPU
5B DSP
5C RAM
5D CPG
6 第2回路領域
6A システムコントローラ
6B 内部電源スイッチコントローラ
Vcc,VCC2,VDD 電源電圧
7,8 入出力回路領域
7B 入出力バッファ
8F 入出力バッファ
8Dvc 第1検出回路部(DTCVC)
8Dvd 第2検出回路部(DTCVD)
N3 電源電圧検出信号
Claims (10)
- 外部端子、外部入出力バッファ回路、電源検出回路、パワーオンリセット回路、及び内部回路を有する半導体集積回路であって、
前記電源検出回路は外部から供給される電源電圧が所定の状態になったことを示す電源電圧検出信号を出力し、
前記パワーオンリセット回路は、前記電源電圧検出信号を入力し、所定のタイミングで前記内部回路の初期設定動作を指示し、前記内部回路の初期設定動作の完了に応答して、前記外部入出力バッファ回路をハイレベル出力、ローレベル出力、高インピーダンスの何れか所定の初期状態から入出力動作可能な状態にする半導体集積回路。 - 前記パワーオンリセット回路は、前記内部回路に初期設定動作を指示するまで、所定の回路ノードの初期状態を保障する信号を出力する請求項1記載の半導体集積回路。
- 前記外部入出力バッファ回路、前記電源検出回路及び前記パワーオンリセット回路には第1電源電圧が供給され、前記内部回路には第2電源電圧が供給され、
前記電源検出回路は第1電源電圧が供給されるのを検出する第1回路と、第2電源電圧が供給されるのを検出する第2回路とを別々に持ち、前記第1回路による第1電源電圧の検出結果と前記第2回路による第2電源電圧の検出結果とに対する論理積信号を前記電源電圧検出信号とする請求項2記載の半導体集積回路。 - 前記電源検出回路は、前記第1電源電圧及び第2電源電圧が供給されるのを検出した後に、前記第2回路による第2電源電電圧の供給停止を検出すると、外部入出力バッファ回路を動作可能な状態からハイレベル出力、ローレベル出力、高インピーダンスの何れか所定の状態に変化させる請求項3記載の半導体集積回路。
- 前記内部回路はシステムコントローラを有し、
前記システムコントローラは前記内部回路の初期設定動作の指示を受けて外部からクロック信号を入力し、入力したクロック信号に同期して内部回路の初期設定動作を制御し、初期設定動作を完了したとき初期化完了信号をパワーオンリセット回路に返す請求項4記載の半導体集積回路。 - 前記内部回路は、前記電源端子に前記第2電源電圧が供給されている状態において、選択的に前記第2電源電圧の供給が停止可能にされる第1回路領域と、常時第2電源電圧が供給される第2回路領域とを有し、
前記システムコントローラは前記第2回路領域に形成される請求項5記載の半導体集積回路。 - 前記第1回路領域に対する第2電源電圧の供給と供給停止を制御する内部電源スイッチコントローラを前記第2回路領域に有し、
前記システムコントローラは前記パワーオンリセット回路からの初期設定動作の指示に応答するとき、前記第1回路領域に第2電源電圧を供給するように前記内部電源スイッチコントローラを初期設定する請求項6記載の半導体集積回路。 - 前記内部回路は中央処理装置とその周辺回路を有し、
前記システムコントローラは前記パワーオンリセット回路からの初期設定動作の指示に応答するとき、前記中央処理装置の内部状態を初期化すると共に周辺回路が有する所定のレジスタを初期値に設定する請求項7記載の半導体集積回路。 - 外部端子、外部入出力バッファ回路、電源検出回路、パワーオンリセット回路、及び内部回路を有する半導体集積回路であって、
前記電源検出回路は外部から供給される電源電圧が所定の状態になったことを示す電源電圧検出信号を出力し、
前記パワーオンリセット回路は、前記電源電圧検出信号を入力し、所定のタイミングで前記内部回路の初期設定動作を指示し、前記初期設定動作を指示するまで、所定の回路ノードの初期状態を保障する信号を出力し、前記内部回路の初期設定動作の完了に応答して、前記外部入出力バッファ回路を入出力動作可能な状態にする半導体集積回路。 - 前記外部入出力バッファ回路は、前記内部回路の初期設定動作の完了に応答して、ハイレベル出力、ローレベル出力、または高インピーダンス状態の何れか所定の初期状態から入出力動作可能な状態に制御される請求項9記載の半導体集積回路。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010021768A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Denso Corp | 負荷駆動回路 |
JP2020141220A (ja) * | 2019-02-27 | 2020-09-03 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | パワーオンクリア回路及び半導体装置 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007066037A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-03-15 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
KR100788378B1 (ko) * | 2006-09-13 | 2008-01-02 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 파워 온 회로 |
JP5160530B2 (ja) * | 2009-12-17 | 2013-03-13 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
US8493109B2 (en) | 2010-03-31 | 2013-07-23 | Qualcomm Incorporated | System and method to control a power on reset signal |
JP5670232B2 (ja) | 2010-04-16 | 2015-02-18 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | データプロセッサ及びデータ処理システム |
CN102486936B (zh) * | 2010-12-06 | 2014-10-08 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 设置寄存器初始状态的方法 |
KR20160139495A (ko) * | 2015-05-27 | 2016-12-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 초기화 동작을 수행하는 반도체장치 및 반도체시스템 |
US20170082689A1 (en) * | 2015-09-18 | 2017-03-23 | Altera Corporation | Systems and methods for particle detection and error correction in an integrated circuit |
CN105718009B (zh) * | 2016-01-20 | 2018-09-25 | 杭州菲数科技有限公司 | 基于fpga的pcie加速卡及其冷复位方法、电路 |
JP6820183B2 (ja) * | 2016-10-19 | 2021-01-27 | ローム株式会社 | パワーオンリセット回路、半導体デバイス |
US11519960B2 (en) * | 2020-08-21 | 2022-12-06 | Nxp Usa, Inc. | Circuit configured to determine a test voltage suitable for very low voltage (VLV) testing in an integrated circuit |
JP2022129021A (ja) * | 2021-02-24 | 2022-09-05 | ミツミ電機株式会社 | リセット用半導体集積回路およびそれを用いた電子回路システム |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5915130A (ja) * | 1982-07-15 | 1984-01-26 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | バケツトラダ−浚渫船 |
JPS59108126A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-22 | Canon Inc | 電子機器の制御回路 |
JPH0962649A (ja) * | 1995-08-25 | 1997-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | 信号入出力回路 |
JP2004021640A (ja) * | 2002-06-17 | 2004-01-22 | Ntt Electornics Corp | リセット装置 |
JP2005063403A (ja) * | 2003-07-31 | 2005-03-10 | Fujitsu Ltd | 動作モード制御回路、動作モード制御回路を含むマイクロコンピュータ及びそのマイクロコンピュータを利用した制御システム |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002111466A (ja) | 2000-09-28 | 2002-04-12 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
JP2004165732A (ja) | 2002-11-08 | 2004-06-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
US7187600B2 (en) * | 2004-09-22 | 2007-03-06 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method and apparatus for protecting an integrated circuit from erroneous operation |
TWI244261B (en) * | 2004-11-25 | 2005-11-21 | Sunplus Technology Co Ltd | Power on reset circuit |
JP2007066037A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-03-15 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
-
2005
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-
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2008
- 2008-05-13 US US12/120,090 patent/US20080218224A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5915130A (ja) * | 1982-07-15 | 1984-01-26 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | バケツトラダ−浚渫船 |
JPS59108126A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-22 | Canon Inc | 電子機器の制御回路 |
JPH0962649A (ja) * | 1995-08-25 | 1997-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | 信号入出力回路 |
JP2004021640A (ja) * | 2002-06-17 | 2004-01-22 | Ntt Electornics Corp | リセット装置 |
JP2005063403A (ja) * | 2003-07-31 | 2005-03-10 | Fujitsu Ltd | 動作モード制御回路、動作モード制御回路を含むマイクロコンピュータ及びそのマイクロコンピュータを利用した制御システム |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010021768A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Denso Corp | 負荷駆動回路 |
JP2020141220A (ja) * | 2019-02-27 | 2020-09-03 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | パワーオンクリア回路及び半導体装置 |
JP7240900B2 (ja) | 2019-02-27 | 2023-03-16 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | パワーオンクリア回路及び半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20070026199A (ko) | 2007-03-08 |
CN1925327A (zh) | 2007-03-07 |
TW200721673A (en) | 2007-06-01 |
US7378887B2 (en) | 2008-05-27 |
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