JP2007065144A - 画像形成装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 露光光を長時間安定して感光材料上に照射すること。
【解決手段】 画像形成装置100は、有機EL素子を1次元又は2次元に配置した有機ELアレイ11と、有機ELアレイ11から出射された光を感光材料上に結像する結像レンズアレイ2と、有機EL素子の発光面積率の変化に応じて変化するビームプロファイルの特徴量を記憶するメモリ41と、有機EL素子の現在のビームプロファイルを測定するビームプロファイル検査部8と、記憶されたビームプロファイルの特徴量と測定された現在のビームプロファイルに基づいて、有機EL素子の現在の発光面積率を決定するシステム制御部4と、決定された発光面積率に基づいて、感光材料上における光の照射面積を一定に保つように有機ELアレイ11と結像レンズアレイ2の間の距離及び/又は結像レンズアレイ2とステージ3の間の距離を変化させる駆動部7とを備える。
【選択図】 図7

Description

本発明は、有機EL素子が1次元又は2次元に配列されてなる有機ELアレイを備えた画像形成装置に関するものである。
従来より、発光素子が1次元又は2次元に配列されてなる発光素子アレイを備えた露光ヘッドを用いて感光材料を露光する画像形成装置が知られている。また、近年、発光素子として有機EL素子を用いた画像形成装置が多く開発されている。しかし、有機EL素子は経時的に発光面積が縮小することが知られており、安定した露光光を長時間確保することが困難であった。そのため、有機EL素子の経時的な特性変化を抑制するために特許文献1に開示されている技術のような対策を施すことが必要であった。
特開2003−142387号公報
しかしながら、特許文献1に開示されている技術は、ディスプレイ用途の有機EL素子に対しては効果的であるが、画像形成装置に用いる有機EL素子の場合は更に厳密に発光面積の縮小化を抑える必要があった。画像形成装置において有機EL素子の発光面積が縮小すると、感光材料に照射される露光光の照射面積の縮小及び露光量の減少が発生し、更にプリント階調濃度の軟調化が生じる。また、感光材料上に未露光領域が発生し、未露光領域の濃度が最大濃度又は最小濃度となることにより、発光幅が狭小化する現象が確認されている。図14は、有機EL素子の露光量に対するプリント濃度の変化を発光面積率毎に示したグラフである。発光面積率が小さくなるほど、プリント階調が軟調化し、露光量を増減してもプリント濃度の濃淡の差が出にくくなっていることが分かる。
また、従来より画像形成装置の光量補正に用いられている方法は、光量偏差に基づいて単純に光量補正を行なうのみで、有機EL素子の発光面積の縮小による輝度の低下と、性能劣化による輝度の低下を判別できないため、感光材料上における未露光領域に対する露光光補正は何ら行なわれなかった。
本発明は、長時間安定した露光光を感光材料上に照射することのできる画像形成装置を提供することを目的とする。
以上の課題を解決するために、請求項1に記載の画像形成装置は、有機EL素子を1次元又は2次元に配置した有機ELアレイと、該有機ELアレイから出射された光を感光材料上に結像する光学手段とを備えた画像形成装置において、前記有機EL素子の発光面積率の変化に応じて変化するビームプロファイルの特徴量を記憶する記憶手段と、前記有機EL素子の現在のビームプロファイルを測定する測定手段と、前記記憶されたビームプロファイルの特徴量と前記測定された現在のビームプロファイルに基づいて、前記有機EL素子の現在の発光面積率を決定する決定手段と、該決定された発光面積率に基づいて、前記感光材料上における前記光の照射面積を一定に保つように前記有機ELアレイと前記光学手段の間の距離及び/又は前記光学手段と前記感光材料の間の距離を変化させる制御手段と、を備えることを特徴とするものである。
ここで、「前記有機EL素子の発光面積率の変化に応じて変化するビームプロファイルの特徴量」とは、例えば、有機EL素子の発光面積率を変化させたときのビームプロファイルの半値幅又は極小値等の値のことを言う。
また、請求項2に記載の画像形成装置は、請求項1に記載の画像形成装置であって、前記記憶手段が前記有機EL素子の初期のビームプロファイルの特徴量を記憶し、前記制御手段によって前記距離が変化された後、前記測定手段が前記有機EL素子のビームプロファイルを測定し、前記制御手段が前記測定されたビームプロファイルと前記初期のビームプロファイルの特徴量とを比較して、該比較結果に基づいて前記距離を変化させるものであることを特徴とするものである。
請求項3に記載の画像形成装置は、請求項1又は2に記載の画像形成装置であって、前記制御手段が、前記感光材料及び/又は前記有機EL素子を前記光学手段の光軸方向に移動させる駆動手段を有するものであることを特徴とするものである。
請求項4に記載の画像形成装置は、請求項1〜3の何れか一項に記載の画像形成装置であって、前記有機EL素子の発光面積率に対する光量補正係数を記憶する係数記憶手段と、前記有機EL素子の発光量を補正する光量補正手段と、を更に備え、該光量補正手段が、前記決定手段によって決定された発光面積率に基づいて、前記係数記憶手段から光量補正係数を決定し、該決定された光量補正係数に基づいて、前記有機EL素子の発光量を補正するものであることを特徴とするものである。
請求項5に記載の画像形成装置は、請求項2又は3に記載の画像形成装置であって、前記有機EL素子の発光量を補正する光量補正手段を更に備え、該光量補正手段が、前記現在のビームプロファイルと前記初期のビームプロファイルの特徴量を比較して光量の変化量を算出し、該算出された光量の変化量に基づいて、前記有機EL素子の発光量を補正するものであることを特徴とするものである。
請求項6に記載の画像形成装置は、請求項1〜5の何れか一項に記載の画像形成装置であって、前記測定手段が、前記有機EL素子の主走査方向の長さより短い幅の1つ又は複数の開口部を有する受光手段を有し、該受光手段を主走査方向に走査させて、前記有機ELアレイのうち所定の1つ又は複数の前記有機EL素子のビームプロファイルを測定するものであり、前記決定手段が、該測定されたビームプロファイルのビーム広がり量に基づいて前記発光面積率を決定するものであることを特徴とするものである。
請求項7に記載の画像形成装置は、請求項1〜5の何れか一項に記載の画像形成装置であって、前記測定手段が、前記有機EL素子の主走査方向の長さより短い幅の1つ又は複数の開口部を有する受光手段を有し、該受光手段を主走査方向に走査させて、前記有機ELアレイのうち、主走査方向に連続して配置された複数の前記有機EL素子のビームプロファイルを測定するものであり、前記決定手段が、該測定されたビームプロファイルの極小値に基づいて前記発光面積率を決定するものであることを特徴とするものである。
測定された現在のビームプロファイルより有機EL素子の発光面積率を求め、感光材料上における露光光の照射面積を一定に保つように有機ELアレイと光学手段の間の距離及び/又は光学手段と感光材料の間の距離を発光面積率に応じて変化させることによって、感光材料上における露光光の照射面積を常に一定に保つことができる。更に、発光面積率に応じて有機EL素子の光量を補正することによって、露光画像の階調の軟調化を抑えることができる。このように、有機EL素子の発光面積率の変化に応じて、有機ELアレイと光学手段の間の距離及び/又は光学手段と感光材料の間の距離を変化させ、有機EL素子の光量補正を行なうことによって、稼働時間経過により有機EL素子の発光面積が縮小されることによって引き起こされる露光画質の悪化を防ぐことができ、長時間に渡って安定した露光画像を提供することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。尚、以下の実施の形態では、本発明をプリントシステム(露光装置)に適用した場合を例に説明する。
〔実施例1〕
(1)装置構成
図1はプリントシステム100の概略正面図、図2はプリントシステム100の概略側面図である。プリントシステム100は、露光ヘッド9と、露光ヘッド9から出射された露光光の照射を受ける位置に感光材料31が保持されるように配設されたステージ3と、感光材料31をステージ3上で図2の矢印Y方向に定速搬送する副走査手段32(ニップローラ等)とを備えて構成されている。
露光ヘッド9は、露光光照射部1と、結像レンズアレイ2とを備えている。露光光照射部1から出射された露光光は結像レンズアレイ2を構成する結像レンズ21によって感光材料31の照射面上に等倍で結像される。
本実施の形態のプリントシステム100は、フルカラーポジ型銀塩写真感光材料である感光材料31にカラー画像を露光する露光装置として以下説明するが、これに限らず、白黒画像を露光する露光装置であってもよい。図2に示すように、有機ELアレイ11は、赤色ライン状有機ELアレイ15R、緑色ライン状有機ELアレイ15G及び青色ライン状有機ELアレイ15Bを備えて構成されている。赤色ライン状有機ELアレイ15Rは、複数の赤色有機EL素子が主走査方向(図1の矢印X方向)に並設されて構成されている。同様に、緑色ライン状有機ELアレイ15Gは複数の緑色有機EL素子が主走査方向に並設されて構成され、青色ライン状有機ELアレイ15Bは複数の青色有機EL素子が主走査方向に並設されて構成されている。尚、複数の有機EL素子のうち、1つに有機EL素子12の符号を付して、以下説明する。
有機EL素子12は、ガラス等からなる透明基板14上に透明陽極12cと、発光層を含む有機化合物層12bと、金属陰極12aとが順次蒸着により積層されてなるものである。そして、上記発光層として赤色光、緑色光及び青色光を発するものが適用されることにより、赤色有機EL素子、緑色有機EL素子及び青色有機EL素子が形成されている。
各有機EL素子12を構成する要素は、例えばステンレス製の缶等からなる封止部材13内に配置されている。具体的には、透明基板14上に有機EL素子12を形成した後、乾燥窒素ガス雰囲気中において封止部材13の縁部と透明基板14とを接着し、封止部材13内に有機EL素子12が封止された状態とする。
有機EL素子12において、金属陰極12aと、金属陰極12aと直交する方向に延びる透明陽極12cとの間に電圧が印加されると、電圧が印加された両電極の交差部分毎に有機化合物層12bに電流が流れ、そこに含まれる発光層が発光する。この発光光は透明陽極12c及び透明基板14を透過して、露光光として露光光照射部1の外部に出射される。
図3は、各結像レンズ21の配置を説明するための図である。図3に示すように、主走査方向に複数の結像レンズ21が並設され、該並設されたレンズ列が副走査方向に2列配設されて構成される。この結像レンズアレイ2において、結像レンズ21は千鳥配列されている。つまり、一方のレンズ列を構成する結像レンズ21と他方のレンズ列を構成する結像レンズ21は最密となるように接触して配置されている。
本実施形態のプリントシステム100は、感光材料31に照射される露光光のビームプロファイルを測定し、測定されたビームプロファイルに基づいて露光光照射部1やステージ3の位置を移動し、有機EL素子12の光量を補正して、感光材料31上に対して安定した露光光を照射することが特徴である。従って、プリントシステム100は、露光光のビームプロファイルを測定するためのビームプロファイル検査部を備えている。図4はビームプロファイル検査部が有する測光部82(測定手段)の概略正面図、図5は概略平面図である。図1及び2において測光部82の図示は省略しているが、測光部82はステージ3上における感光材料31の配置領域以外で露光光が照射される位置に配設されている。測光部82は、感光材料31が配置される高さと同じ高さに配置される受光素子821と、この受光素子821を保持してガイド822に装荷された移動手段823と、受光素子821の受光面の一部に露光光が照射されるように該受光面を覆う遮光部材824とを備えて構成されている。
移動手段823は、ガイド822に沿って集光レンズアレイ2の集光レンズ21の並設方向に間欠移動可能に形成されている。また、本実施の形態において、有機EL素子12の主走査方向の並びピッチ(以下「素子ピッチP1」と表記する)は例えば100[μm]であり、それに対して移動手段823の間欠移動ピッチ(以下「測光ピッチL1」と表記する)は例えば5[μm]である。また遮光部材824は移動手段823の移動方向と直角の方向(副走査方向)に延びる細長いスリット825を有し、このスリット825の部分において受光素子821の受光面が露出されている。このスリット825の幅、即ち測光開口長は、測光ピッチL1と同じく5[μm]程度である。移動手段823は外部からの指示信号に応じてガイド52に沿って間欠移動し、移動手段823が停止する毎に受光素子821が露光光の光量の検出を行う。
また、副走査方向の測光開口長は有機EL素子12が全て入る長さであることが望ましい。即ち、有機ELアレイ11が3列の場合、受光素子82を副走査方向に移動させなくても光量検出が行なえるように、測光開口長を「(有機EL素子12の副走査方向長×3)+(有機EL素子12の隙間長)」よりも長くする。
尚、本実施の形態の測光部82は上述の形態に限らず、図6に示すような細長い受光素子821aが有機EL素子12の並設方向に沿って配置されてなる受光素子アレイ82aを用いてもよい。この場合、受光素子821aの素子幅L2が測光開口長に相当し、受光素子821aの配置ピッチP2が測光ピッチP1に相当する。
(2)システム構成
次に、プリントシステム100のシステム構成について説明する。図7はプリントシステム100の構成を示したブロック図である。プリントシステム100は、有機ELアレイ11を含む露光光照射部1と、結像レンズアレイ2と、ステージ3と、システム制御部(決定手段、制御手段、光量補正手段)4と、発光制御部5と、有機ELドライバ6と、駆動部(駆動手段)7と、ビームプロファイル検査部8とを備えている。露光光照射部1、結像レンズアレイ2及びステージ3については上述にて説明したため、説明は省略する。
システム制御部4はプリントシステム100の各構成要素に各種データや各種指示信号を出力する等、システム全体を制御する。具体的には、システム制御部4は、発光タイミング制御回路51に対して発光タイミング信号の出力を指示するための指示信号を出力し、階調変換用LUT52に画像データを出力する。また、システム制御部4は、メモリ(係数記憶手段)41に予め記憶された有機EL素子12の発光面積率に対する光量補正係数のデータに基づいて光量補正係数を決定し、光量補正係数メモリ54に格納する。
光量補正係数は、予め記憶された有機EL素子12の発光面積率に対する光量補正係数のデータに基づいて決定されてもよいし、測定されたビームプロファイルの積分強度と、初期(工場出荷時等)の有機EL素子12のビームプロファイルの積分強度とを比較して光量の変化量を求め、該変化量に基づいて光量補正係数が決定されるようにしてもよい。この場合、初期のビームプロファイルはメモリ41に予め記憶される。
ここで、通常、有機EL素子12の非発光部分は絶縁状態となり、発光部分は電流の密度が増加することによって輝度が上がるため、有機EL素子12の発光光の光量は変化しない。しかし、使用する有機EL素子12の素子構成によっては、非発光部分が完全に絶縁状態にならず、発光部分に流れる電流が減少して発光光の光量が減少し、感光材料3に対する露光量が減少する場合がある。このように有機EL素子12の非発光部分が完全に絶縁状態にならない場合は、発光面積率の変化に応じて光量補正を行うことにより、感光材料3に長期的に安定な露光光を照射させることができる。
また、システム制御部4はCPU85から出力された有機EL素子12のビームプロファイルより有機EL素子12の発光面積率を算出する。具体的には、システム制御部4はメモリ41を有し、メモリ41には有機EL素子12の発光面積率に対するビーム広がり幅(半値幅)に関する発光面積率対応データ91が記憶されている。発光面積率対応データ91の一例を図8に示す。発光面積率対応データ91は、有機EL素子12の発光面積率を変化させてビームプロファイルを測定し、測定されたビームプロファイルのビーム広がり幅と発光面積率との関係をグラフ化したものである。図9に有機EL素子12の発光面積率が60%及び80%の時の主走査方向におけるビームプロファイルの一例を示す。有機EL素子12の発光面積率が小さくなるとビーム広がり幅が狭くなっていることが分かる。このようなビームプロファイルにおいて夫々の発光面積率における半値幅を求め、発光面積率と半値幅(ビーム広がり幅)の関係を示す発光面積率対応データ91を作成し、予めメモリ41に記憶させる。
尚、ビーム広がり幅を示す値は図9のグラフにおける半値幅を用いなくてもよく、光量の最大値部分を除いた主走査方向のビーム広がり幅であればいずれの値でもよい。また、発光面積率対応データ91は例えばプリントシステム100の工場出荷時にメモリ41に予め記憶される。
更に、メモリ41には図10に示すような有機EL素子12の発光面積率に対する露光光照射部1又はステージ3の焦点位置からの移動距離に関する移動量データ92が記憶されている。この移動量データ92に基づいて、システム制御部4が露光光照射部1及び/又はステージ3の移動量を決定し、移動量係数メモリ55に格納する。尚、移動量データ92は、感光材料3における露光光の照射面積が一定に保たれるように有機EL素子12の発光面積率に応じて露光光照射部1及び/又はステージ3の移動量が設定されたものであり、例えば、プリントシステム100の工場出荷時にメモリ41に予め記憶される。
発光制御部5は、有機ELドライバ6及び測光タイミング制御回路81に発光タイミング信号を出力する発光タイミング制御回路51と、画像データに基づいて露光量を設定する階調変換用LUT52と、設定された露光量及び光量補正係数メモリ54に記憶された光量補正係数に従って光量偏差補正演算を行い有機EL素子12毎の発光時間を求めて有機ELドライバ6に出力する光量補正回路(光量補正手段)53と、システム制御部4から出力された有機EL素子12の光量補正係数を格納する光量補正係数メモリ54と、システム制御部4から出力された露光光照射部1及び/又はステージ3の移動量を格納する移動量係数メモリ55とを備えている。光量偏差補正演算とは、光量補正係数と目標露光量を乗算して、有機EL素子12毎の発光時間を求める演算である。
有機ELドライバ6は、発光タイミング制御回路51から出力される発光タイミング信号と、光量補正回路53から出力される露光量に基づいて有機ELアレイ11を駆動する。具体的には、有機ELドライバ6は、走査電極となる金属陰極12aに所定の周期で順次選択状態となるように所定の電圧を印加する陰極ドライバ(不図示)と、信号電極となる透明陽極12cを定電流によるPWM制御を行って発光時間の制御を行う陽極ドライバ(不図示)を備えて構成される。また有機ELドライバ6は有機ELアレイ11を所謂パッシブマトリクス線順次選択駆動方式により駆動させる。
駆動部7は、移動量係数メモリ55に記憶された移動量に応じて、露光光照射部1及び/又はステージ3を結像レンズ21の光軸方向に移動させる。
ビームプロファイル検査部8は、測光部82に測光タイミング信号を出力する測光タイミング制御回路81と、ステージ3上で露光光の光量を測定する測光部82と、測光部82から出力された信号(測定された光量に対応した信号)を増幅させる増幅器83と、増幅器83から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するADC84と、ADC84から出力された信号に基づいて有機EL素子12のビームプロファイルのデータを作成し、システム制御部4に出力するCPU85とを備えて構成されている。
(3)露光光の補正方法
次に、露光光の補正方法について説明する。図11は露光光の補正方法の流れを説明するためのフローチャートである。まず、システム制御部4は、光量補正係数メモリ54及び移動量係数メモリ55に格納された光量補正係数及び移動量をクリアし、露光光照射部1及びステージ3の位置を初期位置に戻すための指示信号を駆動部7に出力する(ステップS1)。次に、システム制御部4はビームプロファイルを測定する所定の有機EL素子12を点灯させるための画像データを階調変換用LUT52に出力し、発光タイミング制御回路51に発光タイミング信号を出力させるための指示信号を出力する。有機ELドライバ6は入力される各種信号に基づいて所定の有機EL素子12を点灯させる。そして、測光部82は該有機EL素子12から出射された露光光の光量を検出して光量に応じた信号を出力し、CPU85によってビームプロファイルのデータが作成される(ステップS2)。
ここで、ビームプロファイルを測定する有機EL素子12は1つでもよいし、複数の有機EL素子12のビームプロファイルを測定し、その平均値をビームプロファイルとして利用してもよい。
CPU85はビームプロファイルをシステム制御部4に出力する。システム制御部4はビームプロファイルの半値幅を求め、発光面積率対応データ91より発光面積率を決定する(ステップS3)。
システム制御部4は決定した発光面積率に基づいて、移動量データ92より露光光照射部1及び/又はステージ3の移動距離を決定し、移動量係数メモリ55に出力する。更に、システム制御部4は決定した発光面積率に基づいて光量補正係数を決定し、光量補正係数メモリ54に出力する。光量補正回路53は階調変換用LUT52において決定された露光量及び光量補正係数メモリ54に格納された光量補正係数に基づいて、有機EL素子12の露光量を決定し、有機ELドライバ6に出力する(ステップS4)。
続いて、駆動部7は移動量係数メモリ55に格納された移動量に応じて露光光照射部1及び/又はステージ3を結合レンズ21の光軸方向に沿って移動させる(ステップS5)。
このように、有機EL素子12の発光面積率の変化に応じて変化するビームプロファイルの半値幅や、発光面積率に対する感光材料3上における露光光の照射面積を一定に保つような露光光照射部1及び/又はステージ3の移動量をメモリ41等に予め記憶させておき、プリントシステム100の稼動後、定期的に有機EL素子12のビームプロファイルを測定して、有機EL素子12の発光面積率を測定し、該発光面積率に応じて露光光照射部1及び/又はステージ3を移動させることによって、有機EL素子12の発光面積が縮小しても感光材料3上における露光光の照射面積を常に一定に保つことができる。また、発光面積率に応じて有機EL12の光量を補正することによって、露光画像の階調の軟調化を抑えることができる。このように、有機EL素子12の発光面積率の変化に応じて露光光の補正を行なうことにより、有機EL素子12の稼働時間経過によって発光面積や露光量が減少することによって引き起こされる露光画質の悪化を防ぐことができ、長時間に渡って安定した露光画像を提供することができる。
尚、本実施の形態は上記説明に限らず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。例えば、CPU85は測光部82から出力された有機EL素子12の光量からビームプロファイルを作成し、システム制御部4に出力することとしたが、CPU85の備えるメモリに発光面積率対応データ91を記憶させ、CPU85が発光面積率を決定してシステム制御部4へ出力してもよい。この場合、CPU85が決定手段に相当する。
また、発光面積率対応データ91及び移動量データ92は、有機EL素子12や結像レンズ21を含む各種光学素子の特性に応じて変化するため、メモリ41にアクセス可能な入力手段(不図示)によってユーザが両データを適宜入力するようにしてもよいし、両データをメモリカード等に記憶させ、システム制御部4と電気的に接続されているスロット等(不図示)等を介して該メモリカードに記憶された両データをシステム制御部4が読み出し可能なように構成してもよい。
また、メモリ41は初期(例えば、工場出荷時)の有機EL素子12のビームプロファイルを記憶し、上記の方法で露光光照射部1及び/又はステージ3の位置補正及び有機EL素子12の光量補正が行なわれた後、測光部82が再度有機EL素子12のビームプロファイルを測定し、システム制御部4が該測定されたビームプロファイルと初期のビームプロファイルを比較して、初期のビーム広がり量と同等のビーム広がり量となるように有機EL素子12の光量補正を繰り返すようにしてもよい。
また、有機EL素子12の発光面積の縮小率が主走査方向と副走査方向とで異なる場合は、主走査方向に対する副走査方向の比率を予め求めておき、算出した発光面積率に対して該比率を乗算することによって最適な露光光照射部1及び/又はステージ3の移動量の算出と有機EL素子12の光量補正に対応することができる。
〔実施例2〕
実施例1では、ビームプロファイルを測定する際に、有機ELアレイ11のうち所定の有機EL素子12を点灯させてビームプロファイルを測定し、該ビームプロファイルの半値幅に基づいて発光面積率を算出することとして説明した。実施例2では、有機ELアレイ11のうち主走査方向に連続して配置された複数の有機EL素子12のビームプロファイルを測定して発光面積率を算出し、露光光の補正を行うプリントシステム100について説明する。尚、実施例2におけるプリントシステム100の構成要素、動作内容等は実施例1において説明した内容と同一であるため、説明を省略する。
図12(a)は、主走査方向に連続して配置された複数の有機EL素子12の発光面積率が60%の時のビームプロファイルの一例、図12(b)は発光面積率が80%の時のビームプロファイルの一例を示した図である。有機EL素子12の発光面積率の減少に伴って、互いに隣り合う有機EL素子12の中間位置の光量(ビームプロファイルの極小値)が減少していることが分かる。このようにビームプロファイルから発光面積率毎の光量の極小値を求め、発光面積率と光量の極小値の関係を示す発光面積率対応データを作成する。図13に発光面積率対応データ93の一例を示す。
発光面積率対応データ93はプリントシステム100の工場出荷時にメモリ41に予め記憶されてもよいし、プリントシステム100の稼動前に測光部82によって有機EL素子12のビームプロファイルが測定され、システム制御部4によって発光面積率対応データ93が作成されるようにしてもよい。又は、メモリ41にアクセス可能な入力手段(不図示)によってユーザが発光面積率対応データ93を入力するようにしてもよい。
露光光の補正処理において、有機EL素子12の発光面積率を決定する際は(図11におけるステップS3)、システム制御部4が測定されたビームプロファイルより極小値を求め、発光面積率対応データ93に基づいて発光面積率を決定する。そして、システム制御部4が決定した発光面積率に基づいて、光量補正係数及び移動量係数を設定し、光量補正回路53によって有機EL素子12の光量が補正され、駆動部7によって露光光照射部1及び/又はステージ3の位置が移動される。
プリントシステムの概略正面図 プリントシステムの概略側面図 結像レンズの配置を説明するための図 ビームプロファイル検査部が有する測光部の概略正面図 ビームプロファイル検査部が有する測光部の概略平面図 測光部の一例を示す概略平面図 プリントシステムの構成を示したブロック図 実施例1における発光面積率対応データの一例を示す図 有機EL素子の発光面積率が60%及び80%の時の主走査方向におけるビームプロファイルの一例を示す図。 移動量データの一例を示す図 露光光の補正方法の流れを説明するためのフローチャート 主走査方向に連続して配置された複数の有機EL素子の発光面積率が60%及び80%の時のビームプロファイルの一例 実施例2における発行面積率対応データの一例を示す図 有機EL素子の露光量に対するプリント濃度の変化を発光面積率毎に示したグラフ
符号の説明
100 プリントシステム
1 露光光照射部
11 有機ELパネル
12 有機EL素子
2 結像レンズアレイ
21 結像レンズ
3 ステージ
31 感光材料
4 システム制御部
41 メモリ
5 発光制御部
51 発光タイミング制御回路
52 階調変換用LUT
53 光量補正回路
54 光量補正係数メモリ
55 移動量係数メモリ
6 有機ELドライバ
7 駆動部
8 ビームプロファイル検査部
81 測光タイミング制御回路
82 測光部
85 CPU

Claims (7)

  1. 有機EL素子を1次元又は2次元に配置した有機ELアレイと、該有機ELアレイから出射された光を感光材料上に結像する光学手段とを備えた画像形成装置において、
    前記有機EL素子の発光面積率の変化に応じて変化するビームプロファイルの特徴量を記憶する記憶手段と、
    前記有機EL素子の現在のビームプロファイルを測定する測定手段と、
    前記記憶されたビームプロファイルの特徴量と前記測定された現在のビームプロファイルに基づいて、前記有機EL素子の現在の発光面積率を決定する決定手段と、
    該決定された発光面積率に基づいて、前記感光材料上における前記光の照射面積を一定に保つように前記有機ELアレイと前記光学手段の間の距離及び/又は前記光学手段と前記感光材料の間の距離を変化させる制御手段と、
    を備えることを特徴とする画像形成装置。
  2. 前記記憶手段が前記有機EL素子の初期のビームプロファイルの特徴量を記憶し、
    前記制御手段によって前記距離が変化された後、前記測定手段が前記有機EL素子のビームプロファイルを測定し、前記制御手段が前記測定されたビームプロファイルと前記初期のビームプロファイルの特徴量とを比較して、該比較結果に基づいて前記距離を変化させるものであることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
  3. 前記制御手段が、前記感光材料及び/又は前記有機EL素子を前記光学手段の光軸方向に移動させる駆動手段を有するものであることを特徴とする請求項1又は2に記載の画像形成装置。
  4. 前記有機EL素子の発光面積率に対する光量補正係数を記憶する係数記憶手段と、
    前記有機EL素子の発光量を補正する光量補正手段と、
    を更に備え、該光量補正手段が前記決定手段によって決定された発光面積率に基づいて、前記係数記憶手段から光量補正係数を決定し、該決定された光量補正係数に基づいて、前記有機EL素子の発光量を補正するものであることを特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の画像形成装置。
  5. 前記有機EL素子の発光量を補正する光量補正手段を更に備え、
    該光量補正手段が、前記現在のビームプロファイルと前記初期のビームプロファイルの特徴量を比較して光量の変化量を算出し、該算出された光量の変化量に基づいて、前記有機EL素子の発光量を補正するものであることを特徴とする請求項2又は3に記載の画像形成装置。
  6. 前記測定手段が、前記有機EL素子の主走査方向の長さより短い幅の1つ又は複数の開口部を有する受光手段を有し、該受光手段を主走査方向に走査させて、前記有機ELアレイのうち所定の1つ又は複数の前記有機EL素子のビームプロファイルを測定するものであり、
    前記決定手段が、該測定されたビームプロファイルのビーム広がり量に基づいて前記発光面積率を決定するものであることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の画像形成装置。
  7. 前記測定手段が、前記有機EL素子の主走査方向の長さより短い幅の1つ又は複数の開口部を有する受光手段を有し、該受光手段を主走査方向に走査させて、前記有機ELアレイのうち、主走査方向に連続して配置された複数の前記有機EL素子のビームプロファイルを測定するものであり、
    前記決定手段が、該測定されたビームプロファイルの極小値に基づいて前記発光面積率を決定するものであることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の画像形成装置。
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