JP2007065077A - 顕微鏡 - Google Patents

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Akira Takahashi
顕 高橋
Hitoshi Usami
仁 宇佐美
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Abstract

【課題】照明装置からの照明光が外乱光としてオートフォーカス信号に悪影響を及ぼすことなく、正確にオートフォーカスを行うことができる顕微鏡を提供する。
【解決手段】被検物5に対して照明光を照射する照明光源11と、被検物5に対して自動合焦を行うための補助光を照射する補助光源15を備えたオートフォーカス装置4と、を有し、照明光源11の照明光及び補助光源15の補助光は、被検物5に対して間欠的に照射されかつ常に単独で照射されることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、顕微鏡に関する。
従来、顕微鏡には、被検物を照明するために落射照明装置や透過照明装置が備えられ、斯かる照明装置の光源には、ハロゲンランプ等の直流的に発光する光源が用いられている。またこのような顕微鏡には、被検物に対して半導体レーザや発光ダイオード等の光をオートフォーカス補助光として照射し、当該被検物からの反射光を検出することで合焦位置を検出して自動的に合焦を行うオートフォーカス装置を備えたものが知られている(例えば、特許文献1を参照。)。
特開平11−264928号公報
しかしながら、上述のようなオートフォーカス装置を備えた顕微鏡では、被検物で反射されたオートフォーカス補助光を検出する際に、照明装置からの照明光が外乱光としてオートフォーカス補助光とともに検出されてしまう。このため、オートフォーカス信号のS/N比が悪化し、合焦精度が低下してしまうという問題がある。
そこで本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、照明装置からの照明光が外乱光としてオートフォーカス信号に悪影響を及ぼすことなく、正確にオートフォーカスを行うことができる顕微鏡を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために本発明は、
被検物に対して照明光を照射する照明光源と、
前記被検物に対して自動合焦を行うための補助光を照射する補助光源を備えたオートフォーカス装置と、を有し、
前記照明光源の照明光及び前記補助光源の補助光は、前記被検物に対して間欠的に照射されかつ常に単独で照射されることを特徴とする顕微鏡を提供する。
また、本発明の顕微鏡は、
前記照明光源の照明光及び前記補助光源の補助光の前記被検物に対する照射は、前記照明光源及び前記補助光源をそれぞれパルス発光させて行われることが望ましい。
また、本発明の顕微鏡は、
前記照明光源として、白色発光ダイオードを有することが望ましい。
また、本発明の顕微鏡は、
前記補助光源として、半導体レーザを有することが望ましい。
また、本発明の顕微鏡は、
前記補助光源として、発光ダイオードを有することが望ましい。
本発明によれば、照明装置からの照明光が外乱光としてオートフォーカス信号に悪影響を及ぼすことなく、正確にオートフォーカスを行うことができる顕微鏡を提供することができる。
以下、本発明の実施形態に係る顕微鏡を添付図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る顕微鏡の構成を示す図である。
本実施形態に係る顕微鏡1は、図1に示すように、顕微鏡本体2と、透過照明装置3と、オートフォーカス装置4とからなる。
顕微鏡本体2は、被検物5を載置するステージ6を備えており、該ステージ6の上方には、レンズ7と、ハーフミラー8と、レンズ9と、CCDカメラ10とを順に備えている。なお、ステージ6は、駆動部6aを介して図中上下方向へ移動可能である。なお、本顕微鏡1では、被検物5として機械部品、ウエハ、ICパッケージ、生体標本等を配置することができる。
ステージ6下方に配置されている透過照明装置3は、光源11とレンズ12とからなり、本実施形態では光源11として白色発光ダイオードを備えている。
オートフォーカス装置4は、顕微鏡本体2におけるハーフミラー8の反射光路上に配置されたオートフォーカス用瞳分割ミラー12と、遮光部材13と、レンズ14と、オートフォーカス補助光源15とを順に備えており、さらに、オートフォーカス用瞳分割ミラー12の反射光路上には、オートフォーカス用受光レンズ16と、ナイフエッジ17と、オートフォーカス用受光素子18とを順に備えている。本実施形態では、オートフォーカス補助光源15としてレーザダイオードが備えられており、オートフォーカス用受光素子18として2分割フォトダイオードが備えられている。また、ナイフエッジ17は、駆動部17aを介して光軸に対して垂直な方向へ移動可能である。
以上の構成の下、本実施形態に係る顕微鏡1は、透過照明装置3の光源11から射出された光は、レンズ12を介してステージ6に載置された被検物5を照明し、この被検物5からの光は、レンズ7、ハーフミラー8、レンズ9を順に介してCCDカメラ10へ導かれることで、CCDカメラ10において被検物5を撮像することができる。
また、本実施形態におけるオートフォーカス装置4は、公知のナイフ・エッジ法によってオートフォーカスを行う装置であって、オートフォーカス補助光源15から射出された光は、レンズ14を透過した後、遮光部材13によってその一部が遮光される。そして、遮光部材13によって遮光されることなく進行した光は、オートフォーカス用瞳分割ミラー12、ハーフミラー8、レンズ7を順に介して、被検物5へ導かれる。そしてこの被検物5からの反射光は、再びレンズ7、ハーフミラー8を介し、さらにオートフォーカス用瞳分割ミラー12によって反射されて、オートフォーカス用受光レンズ16を介してオートフォーカス用受光素子18へ入射する。
このようにして被検物5からの反射光を受光したオートフォーカス用受光素子18は、前記反射光の光量情報をオートフォーカス信号として不図示の制御部へ出力する。そしてこの制御部は、このオートフォーカス信号に基づき駆動部6aを介してステージ6を上下動させ、これによりレンズ7の焦点位置に被検物5が配置されて合焦が達成される。
次に、本実施形態に係る顕微鏡1の最も特徴的な構成について詳細に説明する。
図2は、本実施形態に係る顕微鏡1における各光源の発光の様子を示すタイムチャートを示す図であり、図3は、不図示の制御部による各光源への発光指令信号を示す図である。
本実施形態において、透過照明装置3における光源11は、上述した不図示の制御部によって制御され、図2(a)に示すように一定の周期で点灯(ON)と消灯(OFF)とを繰り返すように構成されている(以下、「パルス発光」という。)。そしてこれに伴い、CCDカメラ10は不図示の制御部によって制御され、光源11に同期してその点灯時に撮像を行うように構成されている。なお、詳しくは本実施形態において光源11のパルス発光は、図3(a)に示す光源11を発光させるためのパルス状の発光指令信号が制御部から光源11へ入力されることで行われる。また、光源11のパルス発光は、具体的には1kHz〜10kHz程度の周期で行うことが好ましい。なお、本実施形態において光源11として採用されている白色発光ダイオードは、パルス発光を高周波数で行うことができるという利点がある。
そして本実施形態において、オートフォーカス装置4におけるオートフォーカス補助光源15は、上述の制御部によって制御され、図2(b)に示すように光源11の消灯時に点灯するパルス発光を行うように構成されている。そしてこれに伴い、オートフォーカス用受光素子18は制御部によって制御され、被検物5で反射されたオートフォーカス補助光の検出を、オートフォーカス補助光源15に同期してその点灯時に行うように構成されている。
なお、詳しくは本実施形態においてオートフォーカス補助光源15のパルス発光は、上述した光源11のパルス発光と同様に、オートフォーカス補助光源15を発光させるためのパルス状の発光指令信号が制御部から当該補助光源15へ入力されることで行われる。ここで、上述した光源11のパルス発光は図3(b)にその光強度を示すように、制御部からの発光指令信号がOFF状態になった後、光源11の光強度がゼロになる(消灯)まで、遅れが生じてしまう。このため、制御部は、図3(c)に示すようにオートフォーカス補助光源15の発光指令信号を、光源11の光強度がゼロとなるタイミングで当該補助光源15へ入力するように設定されている。
以上の構成により、透過照明装置3の光源11が消灯している間に、オートフォーカス装置4におけるオートフォーカス補助光源15を発光させ、被検物5で反射されたオートフォーカス補助光の検出を行うことができる。したがって、オートフォーカス用受光素子18によってオートフォーカス補助光の検出を行う際に、透過照明装置3からの照明光が外乱光としてオートフォーカス補助光とともに検出されてしまうことがない。このため、オートフォーカス用受光素子18は、S/N比の高いオートフォーカス信号を制御部へ出力することができ、これにより高精度なオートフォーカスを実現することができる。
なお、上述のように本実施形態では、オートフォーカス補助光源15としてレーザダイオードが用いられているが、オートフォーカス補助光源15はこれに限られず、半導体レーザや発光ダイオード等を用いることもできる。半導体レーザはパルス発光しやすく、照明光のスポットを小さくできるという利点があり、発光ダイオードは被検面の所定の範囲に対して平均的な合焦を行う場合に有利である。
また、本実施形態として透過照明装置3を備えた顕微鏡を示したが、本発明はこれに限られず例えば落射照明装置等の他の照明装置を備えた顕微鏡においても同様の効果を奏することができる。
また、本実施形態に係る顕微鏡1は、透過照明装置3の光源11とオートフォーカス装置4の光源15のパルス発光は、上述のように不図示の制御部からの発光指令信号に基づいて行われているが、本発明はこれに限られず、光路中に例えば機械式シャッタや電気的光学素子等を配置し、これらを用いてパルス発光を達成する構成とすることもできる。さらには、照明装置3の光源11及びオートフォーカス装置4の光源15のかわりに、共通の光源を1つ配置し、この共通の光源からの光路を2経路に分割しそれぞれの経路を機械式シャッタでON/OFF制御する構成とすることも可能である。
以上、本実施形態によれば、照明装置からの照明光が外乱光としてオートフォーカス信号に悪影響を及ぼすことなく、正確にオートフォーカスを行うことができる顕微鏡を実現することができる。なお、本発明の一実施形態として顕微鏡を示しているが、本発明はこれに限られず、半導体検査装置や投影機等にも適用することができる。
本発明の実施形態に係る顕微鏡の構成を示す図である。 本発明の実施形態に係る顕微鏡における各光源の発光の様子を示すタイムチャートを示す図である((a)は照明装置の光源、(b)はオートフォーカス補助光源をそれぞれ示す。)。 本発明の実施形態に係る顕微鏡における不図示の制御部による各光源への発光指令信号を示す図である((a)は照明装置の光源への発光指令信号、(b)は照明装置の光源の光強度を示す図2(a)の拡大図、(c)はオートフォーカス補助光源への発光指令信号をそれぞれ示す。)。
符号の説明
1 顕微鏡
2 顕微鏡本体
3 透過照明装置
4 オートフォーカス装置
6 ステージ
10 CCDカメラ
11 透過照明装置の光源
15 オートフォーカス補助光源

Claims (5)

  1. 被検物に対して照明光を照射する照明光源と、
    前記被検物に対して自動合焦を行うための補助光を照射する補助光源を備えたオートフォーカス装置と、を有し、
    前記照明光源の照明光及び前記補助光源の補助光は、前記被検物に対して間欠的に照射されかつ常に単独で照射されることを特徴とする顕微鏡。
  2. 前記照明光源の照明光及び前記補助光源の補助光の前記被検物に対する照射は、前記照明光源及び前記補助光源をそれぞれパルス発光させて行われることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
  3. 前記照明光源として、白色発光ダイオードを有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の顕微鏡。
  4. 前記補助光源として、半導体レーザを有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の顕微鏡。
  5. 前記補助光源として、発光ダイオードを有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の顕微鏡。
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