JPH11167060A - 合焦検出装置及び方法 - Google Patents

合焦検出装置及び方法

Info

Publication number
JPH11167060A
JPH11167060A JP9347361A JP34736197A JPH11167060A JP H11167060 A JPH11167060 A JP H11167060A JP 9347361 A JP9347361 A JP 9347361A JP 34736197 A JP34736197 A JP 34736197A JP H11167060 A JPH11167060 A JP H11167060A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
focus
focus detection
image
light
shift
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP9347361A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Tanida
徹 谷田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP9347361A priority Critical patent/JPH11167060A/ja
Publication of JPH11167060A publication Critical patent/JPH11167060A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Focusing (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 適正な目標位置に対物レンズを駆動して正確
な合焦を可能にする合焦検出装置。 【解決手段】 環境温度の変化により、投影面PS上で
物体像が合焦していても当初設定した検出面DS上では
擬似的に上側デフォーカス状態が検出されてしまうこと
がある。この場合、検出面DS即ち合焦基準位置を光軸
OA方向上側に移動させる。具体的には、CCD移動装
置46を動作させて点線で示す位置にCCD撮像装置4
5を配置する(図6(a))。環境温度の変化により、
投影面PS上で物体像が合焦していても当初設置した検
出面DS上では擬似的に下側デフォーカス状態が検出さ
れてしまうことがある。この場合、検出面DS即ち合焦
基準位置を光軸OA方向下側に移動させる。具体的に
は、CCD移動装置46を動作させて点線で示す位置に
CCD撮像装置45を配置する(図6(b))。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の技術の属する分野】本発明は、検査装置、顕微
鏡装置等を含む各種光学装置に組み込まれて結像光学系
による合焦状態を制御する合焦検出装置及び方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、物体面上の物体を対物レンズによ
り投影面に物体像として結像させて観察する顕微鏡装置
等において、観察光と波長の異なる指標光を対物レンズ
を介して物体面に照射することによって物体面から反射
された指標光を対物レンズの通過後に瞳位置で分割し、
分割された指標光を一対の検出面でそれぞれ検出した結
果に基づいて物体面と対物レンズとの間隔を制御するオ
ートフォーカス装置を組み込んだものが存在する(特開
平1−202708号公報等参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のオート
フォーカス装置では、観察光の波長と、合焦状態を検出
する指標光の波長とが異なることに起因して、検出面に
おける観察光の結像位置と、投影面における指標光の結
像位置とがずれてしまう場合がある。この場合、さらに
対物レンズ等を含む顕微鏡装置等の周辺の温度環境が変
動すると、それぞれの波長に対する光学系の屈折率が変
わってしまい、観察光の結像位置と、指標光の結像位置
との間に、ずれが生じてしまう。従って、検出面の検出
出力に基づいて対物レンズを駆動したのでは、異なる目
標位置に対物レンズを駆動してしまうことになりピント
が常時ずれた状態になるという問題がある。
【0004】そこで、この発明は、環境温度の変化があ
った場合でも適正な目標位置に対物レンズを駆動して正
確な合焦を可能にする合焦検出装置及び方法を提供する
ことを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するためのものであり、以下に、実施形態に示した各
図面を用いてその内容を説明する。
【0006】本発明の合焦検出装置は、物体面(OS)
に合焦検出用の光を照射し前記物体面(OS)で反射し
た前記合焦検出用の光に基づいて合焦検出面(DS)に
対する物体像の合焦ずれを検出するずれ検出装置(4
0,100)を備える合焦検出装置において、環境温度
の変化に応じて前記ずれ検出の際に基準となる合焦基準
位置を調整する調整装置(46,70,100)を備え
ることを特徴とする。
【0007】また、好ましい態様では、前記調整装置
(46,70,100)が、前記環境温度を観測する測
温装置(70)と当該測温装置の出力に基づいて前記合
焦検出面(DS)を光軸(OA)方向に変位して前記合
焦基準位置を調整する位置制御装置(46)とを備える
ことを特徴とする。
【0008】また、好ましい態様では、前記調整装置
(46,70,100)が、前記環境温度と前記合焦検
出面の前記光軸方向の変位の量との相関関係を記憶する
記憶装置(100a)を備えることを特徴とする。
【0009】また、本発明の別の態様の合焦検出装置
は、載置台(50)上に順次載置される複数の物体のう
ち、第1の物体を対物レンズ(21)を介して撮像する
カメラ(25)と、物体面(OS)に合焦検出用の光を
照射し前記物体面(OS)で反射した前記合焦検出用の
光に基づいて合焦検出面に対する物体像の合焦のずれを
検出するずれ検出装置(40,100)とを備える合焦
検出装置において、前記カメラ(25)で撮像した前記
第1の物体の物体像の画像データに基づいて、前記ずれ
検出の際に基準となる合焦基準位置を調整する調整装置
(46,100)を備えることを特徴とする。
【0010】また、本発明の合焦検出方法は、物体面
(OS)に合焦検出用の光を照射し前記物体面(OS)
で反射した前記合焦検出用の光に基づいて物体像の合焦
ずれを検出(40,100)する合焦検出方法におい
て、環境温度の変化に応じて前記ずれ検出の際に基準と
なる合焦基準位置を調整(46,70,100)するこ
とを特徴とする。
【0011】また、好ましい態様では、前記環境温度の
観測結果に基づいて前記合焦検出面(DS)の前記合焦
基準位置を光軸(OA)方向に変位させることを特徴と
する。
【0012】また、本発明の別の態様の合焦検出方法
は、載置台(50)上に順次載置される複数の物体のう
ち、第1の物体を対物レンズ(21)を介してカメラ
(25)で撮像し、物体面(OS)に合焦検出用の光を
照射し前記物体面(OS)で反射した前記合焦検出用の
光に基づいて物体像の合焦のずれを検出(40,10
0)する合焦検出方法において、前記カメラ(25)で
撮像した前記第1の物体の物体像の画像データに基づい
て、前記ずれ検出に際して基準となる合焦基準位置を調
整(46,100)することを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の合焦検出装置及び
方法の具体的な実施形態について図面を参照しつつ説明
する。
【0014】図1は、実施形態の合焦検出装置を組み込
んだパターン検査装置の光学系配置図であり、対物レン
ズを合焦状態に配置した状態を示す。
【0015】このパターン検査装置は、照明光を物体面
OSに照射する照明部10と、照明部10からの照明光
によって照明された物体面OS上の物体をCCD撮像装
置25の投影面PSに物体像として結像させる観察部2
0と、観察部20に設けた対物レンズ21を通して合焦
検出用の指標光を物体面OSに指標像として結像させる
指標投影部30と、物体面OSで反射された合焦検出用
の指標光を2つの光束に分割し、これら2つの光束を検
出面DSでそれぞれ個別に検出し、その検出出力に基づ
いて指標像の検出面DS(合焦基準位置)における合焦
ずれを検出する指標検出部40とを備える。
【0016】照明部10は、可視光によって物体を裏面
側から照明する透過照明系となっている。光源11から
出射した照明光は、開口絞り13を挟んだ一対のレンズ
12、14によって一旦集光されて視野絞り15を通過
し、さらにフォーカス検出部40への赤外光の入射を阻
止する赤外カットフィルタ16を通過した後、コンデン
サレンズ17によって物体面OSを照明している。
【0017】観察部20は、載置台50上に載置された
物体の拡大画像を検出するためのものである。物体面O
Sから出射した光は、対物レンズ21によってほぼ平行
光にされ、可視光のみを透過させるダイクロイックミラ
ー22を通過し、レンズ23を通過して観察用カメラの
一部を構成するCCD撮像装置25の投影面PSに物体
像として結像する。投影面PS上の物体像は、可視の拡
大画像であり、CCD撮像装置25によって電気的な画
像信号に変換されて、後に説明する信号処理用の制御装
置に入力される。
【0018】指標投影部30は、赤外の指標像を物体上
に投影する投影系となっている。赤外光源31からの赤
外の指標光は、コンデンサレンズ32を通して指標とし
てのスリット33を照明している。ここでスリット33
は、その長手方向が紙面に垂直な方向になるよう配置さ
れている。スリット33を通過した指標光は、レンズ3
4、ハーフミラー35、可視光カットフィルター36を
通って、ダイクロイックミラー22に導かれる。ダイク
ロイックミラー22で下方に反射された指標光は、対物
レンズ21により物体面OS上に結像して指標像(スリ
ット像)を形成する。
【0019】物体面OSで反射された指標光は、再度対
物レンズ21を通り、ダイクロイックミラー22で反射
され、さらに可視光カットフィルタ36を通過し、ハー
フミラー35で反射されて指標検出部40に導かれる。
【0020】指標検出部40は、指標投影部30によっ
て物体面OS上に形成された指標像を検出するためのも
のである。ハーフミラー35で反射された指標光の光束
は、レンズ41を通り、瞳位置に配置された瞳分割プリ
ズム42によって2つの光束に分割され、それぞれミラ
ー43で反射されてCCD撮像装置45の検出面DS上
の異なる位置に入射する。
【0021】CCD撮像装置45は、合焦基準位置が設
定された検出面DS上に形成された一対の指標像を電気
的な画像信号として出力する。この画像信号(画像デー
タ)を解析することにより、検出面DS上で指標像が合
焦しているか否かを判断できる。検出面DSとスリット
33は互いに共役な位置に配置されている。また、検出
面DSと投影面PSも波長を考慮した上で互いに共役な
位置に配置することとする。すなわち、投影面PSで可
視光の物体像が合焦しているとき、検出面DSでも赤外
光の指標像が合焦しているように調整する。CCD移動
装置46は、CCD撮像装置45を光軸OA方向に移動
させる位置制御装置の一部を構成する。この位置制御装
置は、環境温度の変化等に起因して投影面PSにおける
赤外指標光の結像位置と検出面DSにおける可視光の結
像位置とが共役位置からずれてしまう場合等を考慮した
ものであり、検出面DSを光軸OA方向にシフトさせて
投影面PSの共役位置に配置し、合焦検出の精度を維持
するためのものである。
【0022】なお、レンズ駆動装置61は、物体面OS
と対物レンズ21との間隔を調整して投影面PS上にお
ける物体像のピントを調節するためのものである。物体
面OSと対物レンズ21との間隔は、以下に説明する制
御装置により、CCD撮像装置45の検出する画像信号
に基づいて決定される。
【0023】図2は、図1のパターン検査装置の制御装
置を説明するブロック図である。主制御装置100は、
CCD撮像装置25の出力する画像信号を処理して投影
面PS上の物体像をディスプレイ装置80の画面81上
に表示させる。なお、ディスプレイ装置80の画面81
上に表示された物体像、例えばパターンを形成したマス
クの像は、視覚的検査の対処となるが、記憶装置100
aに保存された基準試料の画像や設計データとの比較や
種々の画像処理によって様々な観察ができるようになっ
ている。
【0024】主制御装置100は、CCD撮像装置45
からの画像信号を処理して検出面DS上の指標像もディ
スプレイ装置80の画面81上に表示させることができ
る。検出面DS上の一対の指標像を含んだ画像信号の必
要部分を適宜読み取って以下に詳細に説明する方法で解
析することにより、検出面DS上で指標像が合焦してい
るか否かを判断することができる。検出面DS上で指標
像が合焦していない場合、主制御装置100は、レンズ
駆動装置61を動作させて対物レンズ21をこれが合焦
位置にあると判断するまで移動させる。
【0025】主制御装置100は、対物レンズ21の近
傍に配置されて環境温度を測定する温度計70の出力を
常時監視する。測定結果は、主制御装置100の記憶装
置100aに保存されたテーブルに基づいてCCD移動
装置46の駆動量に変換される。この駆動量は、検出面
DSが投影面PSの共役位置から光軸OA方向にずれて
いる量に対応する。このテーブルは、予め環境温度を人
為的に変化させつつ物体面OS上に配置された基準試料
の像を投影面PS上に投影するとともに、投影面PSに
おける合焦状態を維持しながら、CCD移動装置46を
駆動してCCD撮像装置45の画像信号の分析結果が合
焦状態を示すように調整する実験を行ったり、適当なシ
ミュレーションを行って、環境温度と駆動量との相関関
係を求めることによって得られたものである。環境温度
と駆動量との相関関係を与えるこのようなテーブルを利
用すれば、環境温度が変化しても常にこれに応じて検出
面DSを移動させて投影面PS上に安定した合焦状態の
物体像を形成することができる。
【0026】図3(a)は、物体面OSが上方OS1に
位置することによってデフォーカスしたときにCCD撮
像装置45に入射する指標光の光束を示す図である。こ
の場合は、外側に広がるようにややぼけた一対の指標像
が、CCD撮像装置45の検出面DSに結像する。な
お、参考のため、CCD撮像装置45の裏面方向にCC
D撮像装置45の検出出力の紙面内における強度分布を
示してある。このような場合、レンズ駆動装置61は、
検出面DSで指標像が合焦してぼけがなくなるまで対物
レンズ21を上方に移動させる。
【0027】図3(b)は、物体面OSが下方OS2に
位置することによってデフォーカスしたときにCCD撮
像装置45に入射する指標光の光束を示す図である。こ
の場合は、内側に広がるようにややぼけた一対の指標像
が、CCD撮像装置45の検出面DSに結像する。この
ような場合、レンズ駆動装置61は、検出面DSで指標
像が合焦してぼけがなくなるまで対物レンズ21を下方
に移動させる。
【0028】図4は、CCD撮像装置45の検出面DS
上に形成される一対の指標像FM1、FM2の様子を示
す図である。図4(a)は上側デフォーカスの場合(図
3(a)に対応)を示し、図4(b)は合焦の場合を示
し、図4(c)は下側デフォーカスの場合(図3(b)
に対応)を示す。図中において、点線は光軸OAを含み
図3の紙面に対応する面を示し、一点鎖線は、瞳分割プ
リズム42による光路分割後の光軸OA1、OA2を含
み図3の紙面に垂直な面を示す。図4(a)のように上
側デフォーカス状態の場合、一対の指標像FM1、FM
2は、光軸OA1、OA2から外側にぼけて広がる。図
4(b)のように合焦状態の場合、一対の指標像FM
1、FM2は、光軸OA1、OA2位置に合焦してスリ
ット像を形成する。図4(c)のように下側デフォーカ
ス状態の場合、一対の指標像FM1、FM2は、光軸O
A1、OA2から内側にぼけて広がる。図からも明らか
なように、光軸OAを含む点線の面でスライスした一対
の指標像FM1、FM2の画像信号(画像データ)の強
度変化を検出し、両指標像FM1、FM2の中心間の距
離を測定することによって、検出面DS上で指標像FM
1、FM2が合焦ずれしている方向とずれ量とを求める
ことができる。
【0029】図5は、両指標像FM1、FM2の中心間
の距離を測定する方法を説明したものである。図5
(a)は、 図4の点線でスライスした一対の指標像F
M1、FM2の画像信号の強度変化を示し、図5(b)
は図5(a)の画像信号の強度変化を微分した波形を示
す。一方の指標像FM1に対応する一対の振幅波形のゼ
ロクロス点の中央から他方の指標像FM2に対応する一
対の振幅波形のゼロクロス点の中央までの間隔Wを計測
すれば、上側デフォーカスか下側デフォーカスがが分か
り、さらにデフォーカス量も概算できる。つまり、間隔
Wが光軸OA1、OA2間の距離よりも広ければ上側デ
フォーカスの状態にあり(図4(a)参照)、間隔Wが
光軸OA1、OA2間の距離に一致すれば合焦の状態に
あり(図4(b)参照)、間隔Wが光軸OA1、OA2
間の距離よりも狭ければ下側デフォーカスの状態にある
(図4(c)参照)。両指標像FM1、FM2を以上の
ように解析することにより、レンズ駆動装置61を必要
量駆動して対物レンズ21を投影面PSに対して合焦さ
せることができる。
【0030】なお、図5(a)の指標像FM1、FM2
において、合焦の対象となる物体の表面状態(パター
ン)に起因して点線で示すような階段状の輝度分布ID
がバックグラウンドとして存在している場合、図5
(b)に点線で示す振幅波形が現れてしまうが、結果的
に両端の実線の振幅波形を計測すれば、輝度分布IDの
有無に拘わらず正確な合焦ずれを判定することができ
る。
【0031】図6は、環境温度の変化と検出面DS上に
おける結像状態との関係を説明する図である。
【0032】図3に示すような合焦検出方法では、環境
温度が変化しないことが前提となっている。しかしなが
ら、対物レンズ21周囲やパターン検査装置全体の環境
温度は必ずしも一定ではなく、観察部20内と指標検出
部40内とにおける光路長は温度とともに変化する。こ
の際、観察部20内と指標検出部40内とにおける光路
長変化が等しければ問題ないが、両者で使用される光の
波長が異なることなどに起因して光路長の変化も一般に
一致しなくなる。この場合、両光路長間に生じる差異を
補償する手段があれば、環境温度が変化しても常に対物
レンズ21の合焦状態を確保することができる。
【0033】図6(a)に示すように、環境温度が当初
温度T0から温度T1に変化した場合、投影面PS上で
物体像が合焦していても当初設定した検出面DS上では
擬似的に上側デフォーカス状態が検出されてしまう。つ
まり、ここでいう当初設定した検出面DSが合焦基準位
置となる。この場合、検出面DS即ち合焦基準位置を光
軸OA方向上側に移動させる。具体的には、CCD移動
装置46を動作させて点線で示す位置にCCD撮像装置
45を配置する。これにより、CCD撮像装置45は、
合焦状態を示す画像信号を出力する。図6(b)に示す
ように、環境温度が温度T0やT1と異なる別の温度T
2に変化した場合、投影面PS上で物体像が合焦してい
ても当初設置した検出面DS上では擬似的に下側デフォ
ーカス状態が検出されてしまう。この場合、検出面DS
即ち合焦基準位置を光軸OA方向下側に移動させる。具
体的には、CCD移動装置46を動作させて点線で示す
位置にCCD撮像装置45を配置する。
【0034】図7は、投影面PS上で物体像が合焦して
いるか否かを判定する方法を説明する図である。この場
合、指標検出部40における合焦検出を利用しないで、
投影面PS上で物体像が合焦しているか否かを判定でき
る。
【0035】物体面OS上に線状のパターンを有する基
準試料(第1の物体)を配置し、その画像をCCD撮像
装置25で検出する。図7(a)は、理想的にピントが
合っている状態を示す。図7(b)は、実際の装置でほ
ぼピントが合っている状態を示す。この場合、例えばピ
ークの10%と90%に設けた一対の基準値に対応する
距離S(光量の減少領域)が極めて狭くなっている。こ
の距離Sが図示のように所定の閾値以下の場合、物体面
OS上の基準試料が投影面PS上で合焦していると判断
される。図7(c)は、実際の装置でかなりピントがぼ
けている状態を示す。この場合、例えば一対の基準値に
対応する距離Sが広くなる。この距離Sが図示のように
所定の閾値以上の場合、物体面OS上の基準試料が投影
面PS上で合焦していないと判断される。
【0036】このような、合焦検出を行えば、基準試料
を投影面PS上に合焦させることができるのみならず、
次に物体面OS上に配置された試料(第2の物体)も投
影面PS上に合焦させることができる。さらに、このよ
うな基準試料を用い、投影面PS上での合焦状態を確保
したままで、同時にCCD移動装置46を動作させてC
CD撮像装置45からの画像信号が合焦状態を示すよう
にCCD撮像装置45を光軸OA方向に移動させること
で、検出面DSを投影面PSに対し共役な位置に正確に
配置することもできる。すなわち、投影面PSで可視光
の物体像が合焦しているとき、検出面DSでも赤外光の
指標像及び物体像が合焦している状態に調整することが
できる。これにより、指標光FM1、FM2の検出面D
S上における投影状態を最適化し、適切な目標位置に対
物レンズ21を移動させて投影面PS上における合焦誤
差最小化することができる。
【0037】以上、実施形態に即してこの発明を説明し
たが、この発明は上記実施形態に限定されるものではな
い。例えば、上記実施形態では、指標光を瞳位置で分割
して形成した一対の指標像FM1、FM2に基づいて合
焦ずれの方向及び量を決定しているが、これら指標像F
M1、FM2の一方のみに基づいて合焦ずれの方向及び
量を決定することもできる。この場合、図4の例えば指
標像FM1に対応する画像信号の中心が光軸OA1から
ずれている量に基づいて合焦ずれを検出する。なお、こ
のような検出方法をとった場合、環境温度の変化にとも
なってCCD撮像装置45の検出面DSを移動させる際
に、光軸OA方向に変位させるだけでなく、図4の点線
で示す光軸OAに垂直な方向に移動させて、環境温度の
変化に依存しない正確な合焦検出を行うこともできる。
【0038】また、本実施形態では、指標像として赤外
光を、物体像として可視光を用いたが、波長の異なるレ
ーザ光を用いることもできる。
【0039】また、上記実施形態では、一対の指標像F
M1、FM2の間隔を測定して合焦ずれを検出している
が、一対の指標像FM1、FM2の検出強度値をそれぞ
れ光軸OA1、OA2の両側で比較することによって合
焦ずれを検出する例えば特開平1−202708号公報
に開示のような合焦検出方法においても、環境温度の変
化に対応して指標像FM1、FM2を個別に検出するC
CDディテクタの合焦基準位置をその面内で電気的に変
更することで環境温度の変化に起因するピンぼけを有効
に防止することができる。
【0040】
【発明の効果】本発明の合焦検出装置では、調整装置が
環境温度の変化に応じて前記ずれ検出の際に基準となる
合焦基準位置を調整するので、環境温度に関わらず常に
適正な目標位置に対物レンズを駆動して正確な合焦を可
能にすることができる。
【0041】また、好ましい態様では、前記調整装置が
前記環境温度を観測する測温装置の出力に基づいて前記
合焦検出面を光軸方向に変位して前記合焦基準位置を調
整する位置制御装置を備えるので、環境温度の変化によ
る光路長の変化に起因して合焦基準位置が光軸方向に相
対的に位置ずれする現象を簡易に相殺して正確な合焦を
可能にする。
【0042】また、好ましい態様では、前記調整装置が
前記環境温度と前記合焦検出面の前記光軸方向の変位の
量との相関関係を記憶する記憶装置を備えるので、予め
求めた相関関係に基づいて簡易に合焦基準位置を調整す
ることができる。
【0043】また、別の態様の合焦検出装置は、調整装
置が前記カメラで撮像した前記第1の物体の物体像の画
像データに基づいて前記ずれの際に基準となる合焦基準
位置を調整するので、後に載置台に載置した第2の物体
でも適正な目標位置に対物レンズを駆動して正確な合焦
を可能にすることができる。
【0044】また、本発明の合焦検出方法では、環境温
度の変化に応じて前記ずれ検出の際に基準となる合焦基
準位置を調整するので、環境温度に関わらず常に適正な
目標位置に対物レンズを駆動して正確な合焦を可能にす
ることができる。
【0045】また、好ましい態様では、前記環境温度の
観測結果に基づいて前記合焦検出面の前記合焦基準位置
を光軸方向に変位させるので、環境温度の変化による光
路長の変化に起因して合焦基準位置が光軸方向に相対的
に位置ずれする現象を簡易に相殺して正確な合焦を可能
にする。
【0046】また、別の態様の合焦検出方法では、前記
カメラで撮像した前記第1の物体の物体像の画像データ
に基づいて、前記ずれ検出に際して基準となる合焦基準
位置を調整するので、後に載置台に載置した第2の物体
でも適正な目標位置に対物レンズを駆動して正確な合焦
を可能にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態の合焦制御装置を組み込んだパターン
検査装置の光学配置図である。
【図2】図1の装置の制御装置を説明するブロック図で
ある。
【図3】図1の装置の上側デフォーカス及び下側フォー
カスを説明する図である。
【図4】焦点検出系のCCD撮像装置で検出される一対
の指標像を示す図である。
【図5】図4の画像を画像処理する方法を説明する図で
ある。
【図6】環境温度の変化に伴って焦点検出系のCCD撮
像装置を変位させる方法を説明する図である。
【図7】観察系のCCD撮像装置で検出される画像信号
の処理を説明する図である。
【符号の説明】
10 照明部 11 光源 13 開口絞り 14 スリット 15 視野絞り 16 赤外カットフィルタ 20 観察部 21 対物レンズ 22 ダイクロイックミラー 25 CCD撮像装置 30 指標投影部 31 赤外光源 35 ハーフミラー 36 可視光カットフィルター 40 指標検出部 42 瞳分割プリズム 43 ミラー 45 CCD撮像装置 46 CCD移動装置 50 載置台 DS 検出面 PS 投影面 OS 物体面

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 物体面に合焦検出用の光を照射し前記物
    体面で反射した前記合焦検出用の光に基づいて合焦検出
    面に対する物体像の合焦ずれを検出するずれ検出装置を
    備える合焦検出装置において、 環境温度の変化に応じて、前記ずれ検出の際に基準とな
    る合焦基準位置を調整する調整装置を備えることを特徴
    とする合焦検出装置。
  2. 【請求項2】 前記調整装置は、前記環境温度を観測す
    る測温装置と、当該測温装置の出力に基づいて前記合焦
    検出面を光軸方向に変位して、前記合焦基準位置を調整
    する位置制御装置とを備えることを特徴とする請求項1
    記載の合焦検出装置。
  3. 【請求項3】 前記調整装置は、前記環境温度と前記合
    焦検出面の前記光軸方向の変位の量との相関関係を記憶
    する記憶装置を備えることを特徴とする請求項2記載の
    合焦検出装置。
  4. 【請求項4】 載置台上に順次載置される複数の物体の
    うち、第1の物体を対物レンズを介して撮像するカメラ
    と、物体面に合焦検出用の光を照射し前記物体面で反射
    した前記合焦検出用の光に基づいて合焦検出面に対する
    物体像の合焦のずれを検出するずれ検出装置とを備える
    合焦検出装置において、 前記カメラで撮像した前記第1の物体の物体像の画像デ
    ータに基づいて、前記ずれ検出の際に基準となる合焦基
    準位置を調整する調整装置を備えることを特徴とする合
    焦検出装置。
  5. 【請求項5】 物体面に合焦検出用の光を照射し前記物
    体面で反射した前記合焦検出用の光に基づいて物体像の
    合焦ずれを検出する合焦検出方法において、 環境温度の変化に応じて、前記ずれ検出の際に基準とな
    る合焦基準位置を調整することを特徴とする合焦検出方
    法。
  6. 【請求項6】 前記環境温度の観測結果に基づいて前記
    合焦検出面の前記合焦基準位置を光軸方向に変位させる
    ことを特徴とする請求項5記載の合焦検出方法。
  7. 【請求項7】 載置台上に順次載置される複数の物体の
    うち、第1の物体を対物レンズを介してカメラで撮像
    し、物体面に合焦検出用の光を照射し前記物体面で反射
    した前記合焦検出用の光に基づいて物体像の合焦のずれ
    を検出する合焦検出方法において、 前記カメラで撮像した前記第1の物体の物体像の画像デ
    ータに基づいて、前記ずれ検出に際して基準となる合焦
    基準位置を調整することを特徴とする合焦検出方法。
JP9347361A 1997-12-03 1997-12-03 合焦検出装置及び方法 Withdrawn JPH11167060A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9347361A JPH11167060A (ja) 1997-12-03 1997-12-03 合焦検出装置及び方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9347361A JPH11167060A (ja) 1997-12-03 1997-12-03 合焦検出装置及び方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11167060A true JPH11167060A (ja) 1999-06-22

Family

ID=18389714

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9347361A Withdrawn JPH11167060A (ja) 1997-12-03 1997-12-03 合焦検出装置及び方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11167060A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001350083A (ja) * 2000-06-07 2001-12-21 Olympus Optical Co Ltd 自動焦点調節装置
WO2006057451A1 (ja) * 2004-11-29 2006-06-01 Nikon Corporation オートフォーカス装置および光学測定評価方法
JP2006154258A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Nikon Corp オートフォーカス装置
US7486329B2 (en) 2001-11-29 2009-02-03 Olympus Optical Co., Ltd. Focusing state signal output apparatus for a microscope representing a relative distance between a subject and an image sensing apparatus
CN102004297A (zh) * 2010-09-17 2011-04-06 中国科学院上海技术物理研究所 一种光学平板补偿离焦的低温光学装调方法
IT201600132604A1 (it) * 2016-12-30 2018-06-30 Laboratorio Europeo Di Spettroscopie Non Lineari Lens Sistema e metodo di misura della focalizzazione di uno strumento ottico

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001350083A (ja) * 2000-06-07 2001-12-21 Olympus Optical Co Ltd 自動焦点調節装置
US7486329B2 (en) 2001-11-29 2009-02-03 Olympus Optical Co., Ltd. Focusing state signal output apparatus for a microscope representing a relative distance between a subject and an image sensing apparatus
WO2006057451A1 (ja) * 2004-11-29 2006-06-01 Nikon Corporation オートフォーカス装置および光学測定評価方法
JP2006154258A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Nikon Corp オートフォーカス装置
JP4573163B2 (ja) * 2004-11-29 2010-11-04 株式会社ニコン オートフォーカス装置およびオートフォーカス調整方法
CN102004297A (zh) * 2010-09-17 2011-04-06 中国科学院上海技术物理研究所 一种光学平板补偿离焦的低温光学装调方法
IT201600132604A1 (it) * 2016-12-30 2018-06-30 Laboratorio Europeo Di Spettroscopie Non Lineari Lens Sistema e metodo di misura della focalizzazione di uno strumento ottico
WO2018122093A1 (en) * 2016-12-30 2018-07-05 Laboratorio Europeo Di Spettroscopie Non Lineari (Lens) System and method for measuring the focus state of an optical instrument
CN110121669A (zh) * 2016-12-30 2019-08-13 欧洲非线性光谱实验室(Lens) 用于测量光学仪器的聚焦状态的系统和方法
US11237375B2 (en) 2016-12-30 2022-02-01 Laboratorio Europeo Di Spettroscopie Non Lineari (Lens) System and method for measuring the focus state of an optical instrument

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6545761B1 (en) Embedded interferometer for reference-mirror calibration of interferometric microscope
US5530237A (en) Apparatus for focusing on transparent objects
US20110317259A1 (en) Microscope and focusing method
JPH02118609A (ja) 顕微鏡の自動焦点合わせ装置
US9025243B2 (en) Microscope apparatus
JP2003167183A (ja) 合焦状態信号出力装置
JPH0623808B2 (ja) 光学器械の自動焦点調節装置
JP7468851B2 (ja) 光ファイバの融着接続機、及び、光ファイバの融着接続方法
JPH1096848A (ja) 自動焦点検出装置
JPH10172898A (ja) 観察装置、位置検出装置および該位置検出装置を備えた露光装置
JPH11167060A (ja) 合焦検出装置及び方法
KR101568980B1 (ko) 자동초점 조절장치 및 자동초점 조절방법
JP3794670B2 (ja) 顕微鏡のオートフォーカス方法及び装置
JP2001004491A (ja) 光ビームの検査装置
JP2001091821A (ja) 顕微鏡用オートフォーカスシステム
US20070258084A1 (en) Focal Point Detection Device
JPH10239037A (ja) 観察装置
JPH0762604B2 (ja) アライメント装置
JP2000352661A (ja) 合焦装置
JPH0580246A (ja) 自動合焦装置及びそれを備えた観察装置
JPH0593845A (ja) 自動焦点検出装置
JP2828145B2 (ja) 光切断顕微鏡装置及びその光学手段の位置合わせ方法
JP2002341234A (ja) 顕微鏡用オートフォーカス装置
JPH10133117A (ja) 焦点検出装置を備えた顕微鏡
JP4713391B2 (ja) 赤外顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050301