JP2007048823A - 位置検出装置、アライメント装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 被検面Rの複数位置42a〜42cを検出する位置検出装置2であって、計測光を供給する光源ユニットと、共焦点光学系と、前記共焦点光学系を介した前記光源ユニットからの前記計測光を前記被検面内の異なる位置に導くリレー光学系36a〜36c,40a〜40cと、前記リレー光学系36a〜36c,40a〜40c及び前記共焦点光学系を介した前記被検面Rからの計測光を受光する受光センサと、前記受光センサからの出力に基づいて、前記被検面Rの位置を検出する検出手段とを備える。
【選択図】 図3
Description
Claims (12)
- 被検面の複数位置を検出する位置検出装置であって、
計測光を供給する光源ユニットと、
共焦点光学系と、
前記共焦点光学系を介した前記光源ユニットからの前記計測光を前記被検面内の異なる位置に導くリレー光学系と、
前記リレー光学系及び前記共焦点光学系を介した前記被検面からの計測光を受光する受光センサと、
前記受光センサからの出力に基づいて、前記被検面の位置を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする位置検出装置。 - 前記リレー光学系は、前記被検面内の異なる位置を独立に検出するための複数の検出用光学系を有し、
前記複数の検出用光学系は、前記被検面内の異なる位置へ前記計測光を導くと共に、前記被検面内の異なる位置から反射する前記計測光を前記受光センサへ導くことを特徴とする請求項1記載の位置検出装置。 - 前記共焦点光学系の焦点位置またはその共役な位置に所定の基準パターンを持つ基準部材を備え、
前記検出手段は、前記受光センサにより受光された前記被検面により反射された前記計測光の受光出力と、前記受光センサにより受光された前記基準部材により反射された前記計測光の受光出力とに基づいて、前記被検面の位置を検出することを特徴とする請求項1または請求項2記載の位置検出装置。 - 前記被検面内の異なる位置へ前記計測光を選択的に導くための選択手段を更に備えることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか一項に記載の位置検出装置。
- 前記選択手段は、前記計測光を走査する走査手段を有し、
前記受光センサは、前記走査手段による走査により前記被検面または前記基準部材にて反射された前記計測光を受光することを特徴とする請求項4記載の位置検出装置。 - 前記基準部材に形成される前記所定の基準パターンは、短手方向に沿って並設された複数スリットを有し、
前記走査手段は、前記スリットの長手方向に対して所定の角度を有する方向に前記計測光を走査させることを特徴とする請求項5記載の位置検出装置。 - 前記検出手段は、
前記走査手段による走査に基づいて検出された前記被検面の複数の異なる位置の検出結果の平均値を算出する算出手段と、
前記被検面の複数の異なる位置の検出結果のそれぞれと、前記算出手段により算出された平均値とを比較する比較手段と、
前記比較手段による比較結果に基づいて、前記被検面の位置の検出結果の正誤を判別する判別手段と、
を備えることを特徴とする請求項5または請求項6記載の位置検出装置。 - 前記リレー光学系の視野を複数に分割する視野分割部材を更に備え、
前記複数の検出用光学系は、前記視野分割部材により分割された視野にそれぞれ対応して配置されることを特徴とする請求項2記載の位置検出装置。 - 前記共焦点光学系と前記リレー光学系との間に中間リレー光学系を更に配置し、
前記中間リレー光学系は、前記共焦点光学系からの前記計測光を所定の拡大倍率のもとで拡大し、該拡大された計測光を前記リレー光学系へ導くことを特徴とする請求項1乃至請求項8の何れか一項に記載の位置検出装置。 - 第一面上に設けられた第1マークと第二面上に設けられた第2マークを検出することにより前記第一面及び前記第二面のアライメントを行うアライメント装置であって、
請求項1乃至請求項9の何れか一項に記載の位置検出装置を備え、
前記位置検出装置は、前記第一面の位置を検出することを特徴とするアライメント装置。 - 光源から射出される照明光により照明されたマスクのパターンを感光性基板上に露光する露光装置において、
請求項1乃至請求項9の何れか一項に記載の位置検出装置を備え、
前記位置検出装置は、前記マスクの位置を検出することを特徴とする露光装置。 - 請求項11記載の投影露光装置を用いて所定のパターンを感光性基板上に露光する露光工程と、
前記露光工程により露光された前記感光性基板を現像する現像工程と、
を含むことを特徴とするマイクロデバイスの製造方法。
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