JP2007042161A - 光ディスク装置の記録学習方法および光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】記録パワーの最適化や記録パターンの最適化を行う記録学習に要する時間を短縮することができ、また同時にライトワンス型（一度だけ記録ができる追記型）光ディスクの記録領域の節約も可能な光ディスク装置の記録学習方法および光ディスク装置を提供することを目的とする。
【解決手段】記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われることを特徴とする。更に同一セクタ内で行われる単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルは略同一である。
【選択図】図３

Description

本発明は、光ディスクに情報の記録を行う光ディスク装置の記録学習方法及び光ディスク装置に関するものである。

光ディスク装置は、各方面への応用と高性能化への開発が活発に行われている。特に最近では、光ディスク装置の高倍速化、軽薄化、軽量化が行われ、光ディスクに対する記録制御も高速制御を要求されるようになってきている。

ここで、光ディスク装置の光ピックアップ制御部の構成について、図５を用いて説明する。

図５は、従来の光ディスク装置における記録学習制御部のブロック図である。図５において、１は光ディスク、２はピックアップモジュール、３はスピンドルモータ、４は光ピックアップ、５はキャリッジ、６はフィード部、７はフィードモータ、８はアナログ信号処理部、９はサーボ処理部、１０はモータ駆動部、１１はデジタル信号処理部、１１ａは記録パターン生成手段、１２はレーザ駆動部、１３はコントローラである。

以上のように構成された従来の技術における光ディスク装置の光ピックアップ制御部の動作について説明する。

図５において、ピックアップモジュール２は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ３と、光ディスク１の情報信号を読み取るもしくは書き込むことの少なくとも一方を行なう光ピックアップ４と、光ピックアップ４が搭載されたキャリッジ５を光ディスクの半径方向に移動させるためのフィード部６とによって構成されたものである。アナログ信号処理部８はピックアップモジュール２の内部に設けられたキャリッジ５中の光ピックアップ４内部の光センサ（図示せず）からの信号出力を基に、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号とを生成し、サーボ処理部９に出力する。

フォーカスエラー信号とは、光ピックアップ４に備えられた対物レンズより出射される光ビームと光ディスク１の記録面との焦点方向のずれを示す。トラッキングエラー信号とは、光ビームと光ディスク１の情報トラックとの光ディスク１半径方向のずれを示す。

サーボ処理部９は対物レンズとキャリッジ５との相対的な位置関係を示すレンズ位置信号を生成し、モータ駆動部１０に出力する。また、サーボ処理部９はＯＮ／ＯＦＦ回路、演算回路、フィルタ回路、増幅回路等によって構成され、光ビームスポットが光ディスク１の情報トラックに追従するようにフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を基にモータ駆動部１０を介して対物レンズをフォーカス／トラッキング制御し、対物レンズが概略中立位置を保持するようにフィード制御を行う。フィード部６はフィードモータ７、ギヤ（図示せず）、スクリューシャフト（図示せず）等から構成され、フィードモータ７を回転させることによってキャリッジ５が移動し、その際フィードモータ７よりフィードモータパルスが周期的に出力されるようになっている。

図６は、従来の光ディスク装置における記録学習の調整シーケンスを示す図である。

図７は、従来の光ディスク装置における記録時の発光パワーを調整する波形を示す図であり、図７の上段は記録パワー調整時の発光レベル、図７の下段は発光波形を示したもの
である。また、図８は、従来の光ディスク装置における記録時の発光パターンを調整する波形を示す図であり、図８の上段は記録パワー調整時の発光レベル、図８の下段は発光波形を示したものである。

光ディスク１に信号を記録する際には、その記録に先立って、通常記録性能を上げるために、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれる記録パワーの最適化とライトストラテジ調整と呼ばれる記録パターンの最適化が行われる。

従来のＯＰＣとライトストラテジ調整においては、図６に示すように、ＯＰＣとライトストラテジ調整が独立かつ別々に行われる。最初に、単一パターンによる記録が行われ、その後、単一パターンで記録が行われた領域に対してＲＦ信号の測定が行われ、最適記録パワーの決定が行なわれる。次に、ランダムパターンによる記録が行われ、その後、ランダムパターンで記録が行われた領域に対してＲＦ信号の測定が行われ、最適記録パターンの決定が行なわれる。

また、ＯＰＣ時においては、図７の上段に示すような発光レベルと図７の下段に示すような発光波形を利用して調整が行なわれ、ライトストラテジ調整時においては、図８の上段に示すような発光レベルと図８の下段に示すような発光波形を利用して調整が行なわれる。

この分野に関する先行技術の一例として、記録パワー調整方法が（特許文献１）に記載されている。
特開２００３−２６３７４１号公報

しかしながら、上記従来の構成では、１つのセクタに対して単一パターン発光のみで記録を行った複数のセクタと、１つのセクタに対してランダムパターン発光のみで記録を行った複数のセクタが、それぞれ独立した領域として存在するため、単一パターン発光のみで記録を行った複数のセクタを利用したＯＰＣと、ランダムパターン発光のみで記録を行った複数のセクタを利用したライトストラテジ調整は、独立かつ別々の工程として、その調整を行う必要が生じ、実際の記録を始める前に行う記録学習には多くの時間を要するという問題があった。

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、実際の記録を始める前に行うＯＰＣやライトストラテジ調整などの記録パワーの最適化や記録パターンの最適化を行う記録学習に要する時間を短縮することができ、また同時にライトワンス型（一度だけ記録ができる追記型）光ディスクの記録領域の節約も可能な光ディスク装置の記録学習方法および光ディスク装置を提供することを目的とする。

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われることを特徴とする光ディスク装置の記録学習方法である。

また、光ディスクを回転させる回転駆動手段と、光ディスクに情報の記録を行う光ピックアップと、発光パターンを生成する記録パターン生成手段と、記録パターン生成手段で生成された発光パターンにより光ピックアップの発光を行うレーザ駆動部と、レーザ駆動部を制御する制御部を備え、制御部が、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を行うことを特徴とする光
ディスク装置である。

本発明は上記構成により、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われることによって、単一パターン発光による記録領域とランダムパターン発光による記録領域が近接した位置となり、単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を用いて行われる複数の異なった記録学習を行う際に、その複数の異なった記録学習、例えばＯＰＣやライトストラテジ調整のプロセスを同時進行することが可能となる。

そのため、実際の記録を始める前に行うＯＰＣやライトストラテジ調整などの記録パワーの最適化や記録パターンの最適化を行う記録学習に要する時間を短縮することができ、また同時にライトワンス型（一度だけ記録ができる追記型）光ディスクの記録領域の節約も可能な光ディスク装置の記録学習方法および光ディスク装置を実現することができる。

請求項１記載の発明は、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われることを特徴とする光ディスク装置の記録学習方法である。記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われることによって、単一パターン発光による記録領域とランダムパターン発光による記録領域が近接した位置となり、単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を用いて行われる複数の異なった記録学習を行う際に、その複数の異なった記録学習、例えばＯＰＣやライトストラテジ調整のプロセスを同時進行することが可能となる。そのため、実際の記録を始める前に行うＯＰＣやライトストラテジ調整などの記録パワーの最適化や記録パターンの最適化を行う記録学習に要する時間を短縮することができ、また同時にライトワンス型（一度だけ記録ができる追記型）光ディスクの記録領域の節約も可能な光ディスク装置の記録学習方法を実現することができる。

請求項２記載の発明は、同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタからＲＦ信号が得られ、そのＲＦ信号の測定が行われ、その測定結果から変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つが算出され、算出された変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つの結果に基づき、最適記録パワーと最適記録パターンの決定が行なわれることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置の記録学習方法である。同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタからＲＦ信号が得られ、そのＲＦ信号の測定が行われ、その測定結果から変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つが算出され、算出された変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つの結果に基づき、最適記録パワーと最適記録パターンの決定が行なわれることによって、単一パターン発光による記録領域とランダムパターン発光による記録領域が近接した位置となり、単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を用いて行われる複数の異なった記録学習を行う際に、その複数の異なった記録学習、例えばＯＰＣやライトストラテジ調整のプロセスを同時進行することが可能となるため、最適記録パワーと最適記録パターンを決定する際に要する時間の短縮を行うことができる。

請求項３記載の発明は、同一セクタ内で行われる単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルが、略同一であることを特徴とする請求項１、２のいずれか１項に記載の光ディスク装置の記録学習方法である。同一セクタ内で行われる単一パターン発光とラ
ンダムパターン発光の発光レベルが略同一であることによって、単一パターン発光間で必要とする任意の発光レベル差を精度良く実現することが可能となり、記録パワーを最適化する際の精度を向上することができる。

請求項４記載の発明は、同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタを構成する少なくとも１つのセクタが、単一パターン発光の１周期とランダムパターン発光の１周期の和で構成されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光ディスク装置の記録学習方法である。同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタを構成する１つのセクタが、単一パターン発光の１周期とランダムパターン発光の１周期の和で構成されていることによって、単一パターン発光とランダムパターン発光により試し書きが行われる光ディスクの試し書き領域を有効に使用することができる。

請求項５記載の発明は、光ディスクを回転させる回転駆動手段と、光ディスクに情報の記録を行う光ピックアップと、発光パターンを生成する記録パターン生成手段と、記録パターン生成手段で生成された発光パターンにより光ピックアップの発光を行うレーザ駆動部と、レーザ駆動部を制御する制御部を備え、制御部が、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を行うことを特徴とする光ディスク装置である。制御部が、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を行うことによって、単一パターン発光による記録領域とランダムパターン発光による記録領域が近接した位置となり、単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を用いて行われる複数の異なった記録学習を行う際に、その複数の異なった記録学習、例えばＯＰＣやライトストラテジ調整のプロセスを同時進行することが可能となる。そのため、実際の記録を始める前に行うＯＰＣやライトストラテジ調整などの記録パワーの最適化や記録パターンの最適化を行う記録学習に要する時間を短縮することができ、また同時にライトワンス型（一度だけ記録ができる追記型）光ディスクの記録領域の節約も可能な光ディスク装置を実現することができる。

請求項６記載の発明は、光ディスクを回転させる回転駆動手段と、光ディスクに情報の記録を行う光ピックアップと、発光パターンを生成する記録パターン生成手段と、記録パターン生成手段で生成された発光パターンにより光ピックアップの発光を行うレーザ駆動部と、ＲＦ信号を生成するアナログ信号処理部と、そのＲＦ信号を測定するデジタル信号処理部と、最適記録パワーと最適記録パターンの決定を行う制御部を備え、制御部が、同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタから得られたＲＦ信号の測定を行い、その測定結果から変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つを算出し、算出した変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つの結果に基づき、最適記録パワーと最適記録パターンの決定を行うことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置である。制御部が、同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタから得られたＲＦ信号の測定を行い、その測定結果から変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つを算出し、算出した変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つの結果に基づき、最適記録パワーと最適記録パターンの決定を行うことによって、単一パターン発光による記録領域とランダムパターン発光による記録領域が近接した位置となり、単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を用いて行われる複数の異なった記録学習を行う際に、その複数の異なった記録学習、例えばＯＰＣやライトストラテジ調整のプロセスを同時進行することが可能となるため、最適記録パワーと最適記録パターンを決定する際に要する時間の短縮を行うことができる。

請求項７記載の発明は、同一セクタ内で行われる単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルが、略同一であることを特徴とする請求項５、６のいずれか１項に記載の光ディスク装置である。同一セクタ内で行われる単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルが略同一であることによって、単一パターン発光間で必要とする任意の発光レベル差を精度良く実現することが可能となり、記録パワーを最適化する際の精度を向上することができる。

（実施の形態１）
以下、本発明の一実施の形態について，図面を参照しながら説明する。

ここでは、記録パワーの最適化を行う記録学習であるＯＰＣと記録パターンの最適化を行う記録学習であるライトストラテジ調整を用いた方法について説明する。

図１は本発明の一実施の形態における光ディスク装置の記録学習制御部のブロック図である。図１において、１は光ディスク、２はピックアップモジュール、３はスピンドルモータ、４は光ピックアップ、５はキャリッジ、６はフィード部、７はフィードモータ、８はアナログ信号処理部、９はサーボ処理部、１０はモータ駆動部、１１はデジタル信号処理部、１１ａは記録パターン生成手段、１２はレーザ駆動部、１３はコントローラである。

以上のように構成された本発明の一実施の形態における光ディスク装置の光ピックアップ制御部の動作について説明する。

ピックアップモジュール２は、光ディスク１を回転させる回転駆動手段であるスピンドルモータ３と、光ディスク１に情報の記録または再生の少なくとも一方を行う光ピックアップ４と、光ピックアップ４が搭載されたキャリッジ５を光ディスクの半径方向に移動させるためのフィード部６とによって構成されたものである。アナログ信号処理部８はピックアップモジュール２の内部に設けられたキャリッジ５中の光ピックアップ４内部の光センサ（図示せず）からの信号出力を基に、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号などのアナログ信号を生成し、サーボ処理部９に出力する。

フォーカスエラー信号とは、光ピックアップ４に備えられた対物レンズより出射される光ビームスポットと光ディスク１の記録面との焦点方向のずれを示す。トラッキングエラー信号とは、光ビームスポットと光ディスク１の情報トラックとの光ディスク１半径方向のずれを示す。また、サーボ処理部９は対物レンズとキャリッジ５との相対的な位置関係を示すレンズ位置信号を生成し、モータ駆動部１０に出力する。

サーボ処理部９は対物レンズとキャリッジ５との相対的な位置関係を示すレンズ位置信号を生成し、モータ駆動部１０に出力する。また、サーボ処理部９はＯＮ／ＯＦＦ回路、演算回路、フィルタ回路、増幅回路等によって構成され、光ビームスポットが光ディスク１の情報トラックに追従するようにフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を基にモータ駆動部１０を介して対物レンズをフォーカス／トラッキング制御し、さらに対物レンズが概略中立位置を保持するようにフィード制御を行う。フィード部６はフィードモータ７、ギヤ（図示せず）、スクリューシャフト（図示せず）等から構成され、フィードモータ７を回転させることによってキャリッジ５が移動し、その際フィードモータ７よりフィードモータパルスが周期的に出力されるようになっている。

記録パターン生成手段１１ａは、デジタル信号処理部１１の中にあり、ＯＰＣに必要な単一パターン発光やライトストラテジ調整に必要なランダムパターン発光などの発光パタ
ーンを生成する。また、デジタル信号処理部１１では、ＲＦ信号を測定し、その測定結果をコントローラ１３に送る。

レーザ駆動部１２は、記録パターン生成手段１１ａで生成された発光パターンにより光ピックアップ４の発光を行い、光ピックアップ４によりデータとして光ディスク１に記録する。

コントローラ１３は本発明の制御部を構成し、アナログ信号処理部８、サーボ処理部９、モータ駆動部１０、デジタル信号処理部１１、レーザ駆動部１２の各部から送られる信号が入力され、これらの信号の演算処理等を行い、この演算処理の結果（信号）を各部に送出し、各部にて駆動、処理を実行させ、各部の制御を行うものである。なお、詳細な説明や図示は省略するが、コントローラ１３は、少なくとも、演算機能を備えたＣＰＵ、ＭＰＵ等の演算処理装置や、ＲＯＭ、ＲＡＭ等の記憶装置を備える。

次に、本発明の記録学習時の発光方法について、ＤＶＤを例にして説明する。ここでは１ＥＣＣブロック＝１６セクタとして説明する。

図２は、本発明の一実施の形態における光ディスク装置の記録学習の調整シーケンスを示す図である。

また、図３は、本発明の一実施の形態における光ディスク装置の記録時の発光レベルと発光パターンを調整する波形を示す図であり、図３の上段は記録学習時の発光レベルを示したものであり、図３の中段は記録学習時の単一パターン発光の発光波形を示したものであり、図３の下段は記録学習時のランダムパターン発光の発光波形を示したものである。図３において、Ａは単一パターン発光の１周期を表したものであり、Ｂはランダムパターン発光の１周期を表したものである。

ここで、単一パターン発光とは、単一長さの記録マークと記録スペースを繰り返し記録する発光パターンであり、また、ランダムパターン発光とは、複数ある記録発光パターンがランダムに発生する発光パターンのことである。同一セクタ内で行われる単一パターン発光とランダムパターン発光は、ＯＰＣとライトストラテジ調整に用いられる。

本発明は、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われるものである。

本実施の形態においては、同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行なわれた複数のセクタからＲＦ信号が得られ、ＲＦ信号の測定が行われ、その測定結果から変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つが算出され、算出された変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つの結果に基づき、最適記録パワーと最適記録パターンの決定が行なわれることにした。

そのようにすることで、単一パターン発光による記録領域とランダムパターン発光による記録領域が近接した位置となり、単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を用いて行われる複数の異なった記録学習を行う際に、その複数の異なった記録学習、例えばＯＰＣやライトストラテジ調整のプロセスを同時進行することが可能となるため、最適記録パワーと最適記録パターンを決定する際に要する時間の短縮を行うことができる。ここで、変調度、βは、ともに記録パワーの大きさを示す指標である。変調度は、ＲＦ信号のＤＣ基準電圧に対する最大レベルＩｐｋと最小レベルＩｂｔから、変調度＝ （Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）／Ｉｐｋで定義される。また、βは、ＲＦ信号のＡＣ基準電圧に
対するプラス側ピークレベルＡ１とマイナス側ピークレベルＡ２から、β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）で定義され、Ａ１＋Ａ２はプラス側の振幅とマイナス側の振幅との差、Ａ１−Ａ２は振幅である。さらに、エッジシフト量とは基準クロックに対する記録マークの立ち上がり立ち下り特性を示す指標であり、基準クロックの立ち上がりまたは立ち下りとＲＦ信号を二値化するためのスレッショルド位置との時間的ずれ量で定義される。

また、本実施の形態においては、同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタを構成する少なくとも１つのセクタが、単一パターン発光の１周期Ａとランダムパターン発光の１周期Ｂの和で構成されるものとした。単一パターン発光の１周期Ａとランダムパターン発光の１周期Ｂは略同一周期とし、それぞれ１セクタ毎に発光レベルを減少させる方向で可変させた。さらに、本実施の形態においては、同一セクタ内の単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルが略同一であることとした。そうすることにより、単一パターン発光間で必要とする任意の発光レベル差を精度良く実現することが可能となり、記録パワーを最適化する際の精度を向上することができる。

単一パターン発光またはランダムパターン発光のいずれの場合も、１周期の長さが１セクタの長さの半分に限定されるものでは無く、例えば、単一パターン発光周期が１セクタ長さの６０％でランダムパターン発光周期が１セクタ長さの４０％の組み合わせでも良く、また、単一パターン発光周期が１セクタ長さの４０％でランダムパターン発光周期が１セクタ長さの６０％でも良い。好ましくは、単一パターン発光周期が１セクタ長さの５０％でランダムパターン発光周期が１セクタ長さの５０％というように、単一パターン発光周期とランダム発光周期の和が１セクタの長さになることである。そうすることにより、単一パターン発光とランダムパターン発光により試し書きが行われる光ディスク１の試し書き領域を有効に使用することができる。

また、単一パターン発光とランダムパターン発光は、同一の１セクタ内で繰り返し行われても良い。この場合、例えば、最初に単一パターン発光を１セクタ長さの２５％で行い、２番目にランダムパターン発光を１セクタ長さの２５％で行い、３番目に単一パターン発光を１セクタ長さの２５％で行い、最後にランダムパターン発光を１セクタ長さの２５％で行うなどである。同一の１セクタ内で、単一パターン発光とランダムパターン発光が繰り返し行われる回数が多いほど、記録学習に要する処理時間は短くなる。

さらに、同一セクタ内の単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルは、１セクタ毎に発光レベルを減少させる方向で可変することに限定されるものでもなく、増加する方向で可変しても良い。

次に、本発明の動作について、ＤＶＤを例にして説明する。ここでは１ＥＣＣブロック＝１６セクタとして説明する。

図４は、本発明の一実施の形態における光ディスク装置の記録学習を示すフローチャートである。

光ディスク装置は、光ディスク１が挿入されると、スピンドルモータ３を回転させ、光ピックアップ４のレーザを発光させ、フォーカスサーボ、トラッキングサーボをかけ、光ディスク１のディスク情報の取得を行う（Ｓ１）。

次に、コントローラ１３は、記録学習を行うために光ディスク１上の調整領域の選択を行い（Ｓ２）、続けて１セクタ内の前半部分で行う単一パターン発光のセクタ毎の発光レベルと発光周期の設定を行い（Ｓ３）、１セクタ内の後半部分で行うランダムパターン発
光のセクタ毎の発光レベルと発光周期の設定を行い（Ｓ４）、更に記録パワーのデフォルト値を設定する（Ｓ５）。
。

本実施の形態においては、光ディスク１に設けられている試し書き領域で記録学習に必要な発光が行われ、コントローラ１３により設定されるセクタ毎の発光レベルと発光周期は、１ＥＣＣブロック分つまり１６セクタ分設定した。記録学習を行う領域は、試し書き領域に限定されるものではないが、ユーザデータを記録するユーザデータ記録領域に不安定な記録品質のデータを書き込まなくて良いことを考慮すれば、試し書き領域を利用して記録学習を行うことが好ましい。

次に、コントローラ１３からの指令が、デジタル信号処理部１１、レーザ駆動部１２、ピックアップモジュール２の順に伝えられ、ピックアップモジュール２に備えられた光ピックアップ４は、記録学習に必要な記録を光ディスク１の調整領域に対して開始する（Ｓ６）。

記録を開始すると、設定された単一パターン発光とランダムパターン発光が所定のセクタ分終了するまで記録を継続する（Ｓ７）。ここでは、所定のセクタを１ＥＣＣブロックとしているが、これに限定されるものではない。

ここで行なわれる記録の継続は、図３に示すように、最初に記録するセクタを第１セクタとし、次から記録されるセクタを順じ、第２セクタ、第３セクタ、…第１６セクタとすると、デジタル信号処理部１１に備えられた記録パターン生成手段１１ａで生成された単一パターンがレーザ駆動部１２、ピックアップモジュール２の順に伝えられ、光ピックアップ４によって第１セクタ前半の領域で単一パターンの発光が行われる（Ｓ８）。単一パターン発光が終了すると、デジタル信号処理部１１に備えられた記録パターン生成手段１１ａは発光パターンをランダム発光パターンに切り替える（Ｓ９）。その後、単一パターン発光時と同様に、デジタル信号処理部１１に備えられた記録パターン生成手段１１ａで生成されたランダムパターンがレーザ駆動部１２、ピックアップモジュール２の順に伝えられ、光ピックアップ４によって第１セクタ後半の領域でランダムパターン発光が行なわれる（Ｓ１０）。

次に、第２セクタへの記録を行うのであるが、その前に、記録パターン生成手段１１ａは生成する発光パターンをランダム発光パターンから単一パターン発光に切り替え（Ｓ１１）、更に記録パワーの変更を行い（Ｓ１２）、第１セクタへの記録と同様に、第２セクタ前半の領域では単一パターンの発光を行い、第２セクタ後半の領域ではランダムパターン発光を行う。この時、単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルは、第２セクタ記録前に記録パワーの変更を行ったため、第１セクタのものと異なるものとなる。

同様にして、第３セクタから第１６セクタまでの記録を行う。ここでは、情報の記録に先立って、記録パワーの最適化と記録パターンの最適化を行う単一パターン発光とランダムパターン発光が行われる所定の領域を、上述の内容に基づき設定された１ＥＣＣブロック分つまり１６セクタ分の記録を行うこととしたが、設定または記録が行われる領域は、１ＥＣＣブロック分つまり１６セクタ分に限定されるものではない。

所定のセクタまでの記録が終了すると（Ｓ７）、デジタル信号処理部１１は記録を停止する（Ｓ１３）。そして、光ディスク１の同一セクタ内で単一パターン発光とランダムパターン発光を行った複数のセクタに対して、光ピックアップ４、アナログ信号処理部８を介してデジタル信号処理部１１はＲＦ信号の測定を行い（Ｓ１４）、その測定結果に基づき、コントローラ１３は、最適記録パワーの決定（Ｓ１５）と最適記録パターンの決定を
行う（Ｓ１６）。

これら一連の記録学習が終了すると、記録待機状態となる（Ｓ１７）。

次に、最適記録パワーと最適記録パターンの決定方法について説明する。

最適記録パワーと最適記録パターンは、アナログ信号処理部８で生成されたＲＦ信号をデジタル信号処理部１１で測定し、その測定結果から変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つを算出し、算出された変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つを基に決定される。本実施の形態では、最適記録パワーを決定するために用いる指標を変調度とし、最適記録パターンを決定するために用いる指標をジッタとした。

最適記録パワーを決定するために用いる指標は変調度に限定されるものではなく、例えばβなどの指標を用いても良い。また、最適記録パターンを決定するために用いる指標はジッタに限定されるものではなく、例えば、エラーレートなどの指標を用いても良い。

最適記録パワーを決定するために変調度を用いる場合には、同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタの中から、単一パターン発光による記録部分のみを抽出する。そして、そこからアナログ信号処理部８でＲＦ信号を生成し、そのＲＦ信号をデジタル信号処理部１１で測定する。コントローラ１３では、その測定結果を基に変調度を算出し、その値が予め決められている適正範囲の中心値に近づくほど最適値と判断し、最適記録パワーを決定する。

また、最適記録パターンを決定するためにジッタを用いる場合には、同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタの中から、ランダムパターン発光による記録部分のみを抽出する。そして、そこからアナログ信号処理部８でＲＦ信号を生成し、そのＲＦ信号をデジタル信号処理部１１で測定する。コントローラ１３では、その測定結果を基にジッタを算出し、その値が最小値となるものを最適値と判断し、最適記録パターンを決定する。

以上の内容により、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われることによって、単一パターン発光による記録領域とランダムパターン発光による記録領域が近接した位置となり、単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を用いて行われる複数の異なった記録学習を行う際に、その複数の異なった記録学習、例えばＯＰＣやライトストラテジ調整のプロセスを同時進行することが可能となる。

そのため、実際の記録を始める前に行うＯＰＣやライトストラテジ調整などの記録パワーの最適化や記録パターンの最適化を行う記録学習に要する時間を短縮することができ、また同時にライトワンス型（一度だけ記録ができる追記型）光ディスクの記録領域の節約も可能な光ディスク装置の記録学習方法および光ディスク装置を実現することができる。

本発明は、実際の記録を始める前に行うＯＰＣやライトストラテジ調整などの記録パワーの最適化や記録パターンの最適化を行う記録学習に要する時間を短縮することができ、光ディスクに情報の記録を行う光ディスク装置の記録学習方法及び光ディスク装置などに適応可能である。

本発明の一実施の形態における光ディスク装置の記録学習制御部のブロック図 本発明の一実施の形態における光ディスク装置の記録学習の調整シーケンスを示す図 本発明の一実施の形態における光ディスク装置の記録時の発光レベルと発光パターンを調整する波形を示す図 本発明の一実施の形態における光ディスク装置の記録学習を示すフローチャート 従来の光ディスク装置における記録学習制御部のブロック図 従来の光ディスク装置における記録学習の調整シーケンスを示す図 従来の光ディスク装置における記録時の発光パワーを調整する波形を示す図 従来の光ディスク装置における記録時の発光パターンを調整する波形を示す図

符号の説明

１ 光ディスク
２ ピックアップモジュール
３ スピンドルモータ
４ 光ピックアップ
５ キャリッジ
６ フィード部
７ フィードモータ
８ アナログ信号処理部
９ サーボ処理部
１０ モータ駆動部
１１ デジタル信号処理部
１１ａ 記録パターン生成手段
１２ レーザ駆動部
１３ コントローラ

Claims (7)

1. 記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われることを特徴とする光ディスク装置の記録学習方法。
2. 前記同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタからＲＦ信号が得られ、前記ＲＦ信号の測定が行われ、前記測定結果から変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つが算出され、前記算出された変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つの結果に基づき、最適記録パワーと最適記録パターンの決定が行なわれることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置の記録学習方法。
3. 前記同一セクタ内で行われる単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルは、略同一であることを特徴とする請求項１、２のいずれか１項に記載の光ディスク装置の記録学習方法。
4. 前記同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタを構成する少なくとも１つのセクタは、単一パターン発光の１周期とランダムパターン発光の１周期の和で構成されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光ディスク装置の記録学習方法。
5. 光ディスクを回転させる回転駆動手段と、前記光ディスクに情報の記録を行う光ピックアップと、発光パターンを生成する記録パターン生成手段と、前記記録パターン生成手段で生成された発光パターンにより前記光ピックアップの発光を行うレーザ駆動部と、前記レーザ駆動部を制御する制御部を備え、前記制御部は、記録学習の際に、光ディスクの同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録を行うことを特徴とする光ディスク装置。
6. 光ディスクを回転させる回転駆動手段と、前記光ディスクに情報の記録を行う光ピックアップと、発光パターンを生成する記録パターン生成手段と、前記記録パターン生成手段で生成された発光パターンにより前記光ピックアップの発光を行うレーザ駆動部と、ＲＦ信号を生成するアナログ信号処理部と、前記ＲＦ信号を測定するデジタル信号処理部と、最適記録パワーと最適記録パターンの決定を行う制御部を備え、前記制御部は、前記同一セクタ内で単一パターン発光による記録とランダムパターン発光による記録が行われた複数のセクタから得られたＲＦ信号の測定を行い、前記測定結果から変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つを算出し、前記算出した変調度またはβまたはジッタまたはエラーレートまたはエッジシフト量の少なくとも１つの結果に基づき、最適記録パワーと最適記録パターンの決定を行うことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置。
7. 前記同一セクタ内で行われる単一パターン発光とランダムパターン発光の発光レベルは、略同一であることを特徴とする請求項５、６のいずれか１項に記載の光ディスク装置。

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