JP2007013937A - 熱雑音を使用する無線周波数装置のイン・シトゥ利得校正 - Google Patents

熱雑音を使用する無線周波数装置のイン・シトゥ利得校正 Download PDF

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Abstract

【課題】無線周波数受信機(Rx)の利得を校正する装置は、特に、RF集積回路の利得がCMOSプロセスに内在するようなプロセスの変動の影響を受けやすいときに、RF集積回路をその動作コンフィギュレーションから取り除くことなく、長時間及び/又は広い温度に亘ってRF集積回路のイン・シトゥ利得校正を達成する、特に、構造を提供する。
【解決手段】RF集積回路のRxパスの入力への校正信号として熱雑音を発生するように構成された熱雑音発生器を含む。この装置は、最初にRxパスの出力からの出力信号を測定し、その後に熱雑音に基づいてRxパスの利得を調整するように構成された校正器をさらに含む。一実施形態では、熱雑音発生器は終端抵抗器及び/又はインピーダンスをさらに含む。
【選択図】図2

Description

発明の簡単な説明
[0001]本発明は、一般的にワイヤレス通信に関し、特に、例えば、校正信号として熱雑音を使用する無線周波数(RF)無線受信機(Rx)の利得のイン・シトゥ校正の実行に関する。
発明の背景
[0002]バイポーラ及びバイポーラ相補型金属酸化膜半導体(BiCMOS)は、RF受信機を含むRF集積回路(IC])を製造するため使用される処理技術の例である。これらの技術は、プロセス、電圧及び温度(PVT)に関してRF受信機の比較的安定した増幅器利得を提供するが、これらの技術は複雑であり、かつ、費用がかかる。より簡単であり、かつ、費用のかからない相補型金属酸化膜半導体(CMOS)処理技術は、RF ICを製造するためにこれらの技術の複雑さ及びコストを回避すべく実施されている。しかし、CMOSに組み込まれたRF受信機の利得は、PVTに関して上記の技術のように安定ではないので、増幅器利得に大きな変動を引き起こす。その結果、CMOSベースのRF ICの増幅器利得は、RF受信機の適切な動作を保証するために校正されなければならない。
[0003]図1は、RF IC106の増幅器利得を校正する従来のシステム100である。本例では、RF IC106は、メモリ110及びその他のIC(図示せず)のように、回路基板104のような基板上に搭載される。RF IC106の利得を校正するため、システム100は、アンテナポート103に接続され、利得を決定するために用いられる校正信号105を供給する信号発生器112を含む。アンテナポート103は、校正後にアンテナ102を受けるように設計される。システム100は、RF IC106の利得をテストするコンピューティング装置でもよいテスタ108をさらに含む。テスタ108はRF IC106から出力信号107を受信し、その後に校正信号105に関して利得を測定する。利得が希望値から外れるならば、テスタ108は、利得を希望値にセットするためRF IC106によって用いられる校正パラメータを発生する。テスタ108はその後にこれらの校正パラメータを、典型的に、EEPROMのようなプログラマブル読み出し専用メモリであるメモリ110に記憶する。システム100のような従来の通信RF IC校正システムは、機能はあるが、いくつかの欠点をもつ。例えば、システム100は、通常の動作条件下の現場ではなく製造時に増幅器利得を校正するよう構成される。製造中に利得を校正するステップは、コスト及びテスト時間の増加と関連する。さらに、この校正は通常は1回行われ、校正は製造後に実行されない。従来の校正技術のその他の欠点は、初期校正パラメータが一般的に温度の暴走、又は、部品経過期間のような電気部品の動作特性を考慮しないことである。
[0004]上記の点に鑑みて、上記の欠点を最小限に抑える改良された校正装置及び技術を提供することが望ましい。
簡単な概要
[0005]特に、RF ICの利得がCMOSプロセスのようなプロセスの変動の影響を受けやすいときに、RF ICをその動作コンフィギュレーションから取り除くことなく、長時間及び/又は広い温度に亘って無線受信機のイン・シトゥ利得校正を達成するシステム、装置、コンピュータ読み取り可能な媒体、及び方法が開示される。特に、本発明は、RF ICと同じ基板上にあるイン・シトゥ校正信号発生器を提供する。一実施形態において、イン・シトゥ校正信号発生器は、Rxパスの利得を校正するために熱雑音を発生する。本発明の特定の実施形態によれば、例示的な装置は、RF集積回路のRxパスの入力への校正信号として熱雑音を発生するように構成された熱雑音発生器を含む。この装置は、最初にRxパスの出力からの出力信号を測定し、その後に推定利得に基づいてRxパスの利得を調整する校正器をさらに含む。種々の実施形態において、推定利得は、熱雑音源、すなわち、「TNS」によって発生された熱雑音電力の推定量でもよい熱雑音の関数である。特に推定利得は、Rxパスからの測定された熱雑音出力(例えば、測定された出力雑音電力信号値)と、Rxパスへ入力される熱雑音(例えば、熱的に発生させられた入力雑音電力信号値)の関数でもよい。一実施形態では、熱雑音発生器は、終端抵抗器及び/又はインピーダンスをさらに含む。発生された熱雑音は、一般に、RF集積回路によって使用可能な周波数に亘って一定である。別の実施形態では、校正器は、利得よりもプロセス及び/又は温度の変動の影響を受けにくいRxパスの雑音指数(NF)から導出された量によって利得を調整する。さらに別の実施形態では、装置は、測定された周囲温度に従って雑音指数の値を調整する校正器に連結された温度センサをさらに含む。これは校正精度を改善する。なおさらに別の実施形態では、校正器はイン・シトゥ校正器であり、RF集積回路がRF信号を通信するため動作状態である間に、利得を自動的に校正するように構成される。特定の実施形態では、校正器は、出力信号に基づく計算利得と期待利得との間の利得差を決定する利得評価器と、利得差と等価的な量によってRxパスの利得を調整する利得調整器とをさらに備える。Rxパスは受信機(Rx)回路を含み、受信機のうちの1台は、Rxパスの調整可能増幅器利得を提供する調整可能増幅器である。動作中に、利得調整器は調整可能増幅器に制御信号を供給し、その結果、増幅器は希望利得に一致するように測定利得を調整する。制御信号は、全体的又は部分的に、測定利得(すなわち、誤差を含む計算利得)と希望利得との間の利得差(すなわち、デルタ)を表現するデータを含む。本発明の例示的な装置は、無線受信機サブシステムの利得を校正する際、特に、サブシステムがCMOS処理技術、又は、利得がプロセス、電圧、及び/又は、温度の経過と共に著しく変化するその他の同様の処理技術を使用して製造されるときに、特に有利である。
[0006]本発明の具体的な実施形態によれば、例示的な方法は、最初に、RF無線受信機と関連した少なくとも1個の雑音指数(NF)を使用して、RF無線受信機への入力のためモデル化される実効入力雑音電力信号値をモデル化することにより、無線周波数(RF)集積回路を校正する。次に、この方法は、測定出力雑音電力信号値を形成するためにRF無線受信機からの出力雑音電力信号を測定する。この方法は、実効入力雑音電力信号値及び測定出力雑音電力信号値の関数としてRF無線受信機の利得を校正することにより継続する。一実施形態では、出力雑音電力信号の測定は、熱雑音を発生することと、熱雑音をRF無線受信機への校正信号として適用することを含む。熱雑音の発生と熱雑音の適用の両方は、この方法が利得のイン・シトゥ校正を実行できるように繰り返されることに注意すべきである。少なくとも一実施形態では、この方法は、校正精度を改善する測定温度を決定するため周囲温度を測定し、その後に、測定温度に基づく修正雑音指数値を形成するため少なくとも1個の雑音指数の値を修正する。特に、修正雑音指数値は温度が雑音指数に与える影響を補償する雑音指数値であり、その結果として、利得を推定するためのより頑強な雑音指数値を提供する。さらに、この方法は、修正雑音指数値に従って利得を調整できる。
[0007]特定の実施形態では、システムは、無線受信機サブシステム及びプロセッサを含み、無線受信機(Rx)パスの利得を校正するように構成される。無線受信機サブシステムは、校正信号を供給するように構成された熱雑音源と、Rxパスと、1個以上のフィルタとを含む。これらのそれぞれは、熱雑音源値、Rxパス雑音指数値、及び、1個以上のフィルタの等価雑音帯域幅のようなパラメータ値を提供するようにモデル化可能である。無線受信機サブシステムは、無線受信機サブシステムの利得を調整する利得調整器をさらに含む。プロセッサは、ネットワーク型コンピューティング装置の中央処理ユニット(CPU)と通信するように構成され、実効入力雑音電力信号値を導出するパラメータ発生器を含む利得校正器を有する。パラメータ値は、熱雑音源値、Rxパス雑音指数値、及び/又は、等価雑音帯域幅を含む。プロセッサは、測定出力雑音信号値を形成するためRxパスからの出力雑音電力信号を測定する出力計量器と、計算利得と期待利得との間の利得差を決定する利得評価器とをさらに含む。計算利得は測定出力雑音電力信号値と実効入力雑音電力信号値の関数でもよい。利得差は利得を計算する利得調整器へ渡される。特定の実施形態では、無線受信機は、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)処理技術を使用してRF集積回路の構成要素である。このプロセッサは、ワイヤレスローカルエリアネットワーク(WLAN)においてシステムを動作させる媒体アクセスコントローラ(MAC)モジュールを含むベースバンドプロセッサである。
[0008]本発明は、添付図面と共に記載された以下の詳細な説明との関連においてより完全に理解される。
[0021]類似した参照番号は図面の複数の図を通じて対応する部品を示す。大半の参照番号は、その参照番号を最初に導入する図を一般的に特定する1桁又は2桁の最も左側の桁を含むことに注意されたい。
例示的な実施形態の詳細な説明
[0022]図2は、一方の動作モードが本発明の一実施形態によるRF受信機の利得のイン・シトゥ校正を実行するモードである少なくとも二つの動作モードを有する装置を図示するブロック図である。本実施例では、装置200は、無線周波数(RF])帯域内の無線信号のような無線信号として通信を受信するために一方のモードで動作し、外部校正信号とは無関係にイン・シトゥ校正を実行するためにもう一方のモードで動作する点でバイモダルである。
[0023]装置200は、無線受信機増幅パス(Rx パス)208が第1のモード(すなわち、受信機モード)で無線信号を伝搬させる受信機(Rx)回路230を含む。Rx回路230は、Rxパス208の信号伝搬特性に影響を与える。「Rx」回路230の実施例は、(例えば、低雑音増幅器、すなわち、LNAのような)増幅器、ミキサ、中間周波数(IF)フィルタのようなフィルタリング回路、アナログ・デジタル変換器、ベースバンド回路、及び、RF受信機を実施するため適したその他の知られている回路を含む。一部の実施形態では、無線受信機サブシステム202は、第1のモードで、例えば、800MHz〜5.2GHzの周波数でワイヤレス信号を送受信するRFトランシーバー装置として動作する無線周波数フロントエンド(RFFE)の少なくとも一部を構成する。少なくとも一つの特定の実施形態では、無線受信機サブシステム202はRF ICの一部分として単一基板に形成される。
[0024]装置200は、利得校正器206及びイン・シトゥ校正信号発生器214をさらに含み、両方ともに第2のモード(すなわち、校正モード)において無線受信機サブシステム202の利得を校正するため構成される。本実施例では概念的にスイッチとして示されているモード選択200は、Rxパス208に信号を伝搬する信号源を選択し、信号源はアンテナ210でもイン・シトゥ校正信号発生器214でもよい。無線受信機サブシステム202に関連した利得を校正するため、イン・シトゥ校正信号発生器214は、熱雑音電力信号のような内部発生信号を発生し、その後に、Rxパス208のRxパス入力212aへ入れる。イン・シトゥ校正信号発生器214は、種々のタイプの校正信号を発生するように構成可能であるが、少なくとも一実施形態では、イン・シトゥ校正信号発生器は校正信号として熱雑音電力信号を発生する。校正信号は一部の実施形態では熱雑音電力信号でもよいので、校正信号は、無線受信機サブシステム202の他の電子部品(例えば、Rx回路230)によって発生された熱雑音を同様に含むようにモデル化可能である。したがって、校正信号は、Rxパス208と関連した全等価熱雑音特性を表現する実効入力雑音電力信号としてモデル化できる。少なくとも一実施形態では、実効入力雑音電力信号は、Rxパス208を表す少なくとも1個の雑音指数(NF)値と、イン・シトゥ校正信号発生器214によって発生された雑音電力を表す電力信号とを使用して導出される。雑音指数値は当業者によって十分に理解され、より詳細に説明される必要はない。
[0025]校正モード中に、利得校正器206は、最初に、Rxパス208のRxパス出力212bで熱的に発生した雑音電力信号を測定する。次に、利得校正器は、Rxパス出力212bからの測定熱雑音電力信号と、実効入力雑音電力信号値との両方の関数として、無線受信機サブシステム202の利得を決定する。利得校正器206は、利得を計算した後、次に、制御ライン204を介してRxパス208の利得を希望利得値に調整する。特定の実施形態では、Rxパス208から外れた「Rx」回路230の一部は、内部的に発生された雑音が無線受信機サブシステム202の校正と干渉することを最小限に抑えるために無効又は使用不能状態にされる。
[0026]有利的には、(校正信号としての)熱雑音電力信号と、Rxパス208のNF値の両方は、プロセスの変動範囲に亘って利得よりも確実に一定であり、温度及び電圧の範囲に亘って予測可能である。したがって、本発明の種々の実施形態は、RF受信機のイン・シトゥ利得校正のための局部的な校正信号を提供するので、利得校正は「進行中」に行われ、その結果として、製造中に予定どおりの利得校正を実行するか、又は、校正パラメータをメモリ装置に保存する必要性を除去する。したがって、Rxパス208の利得は、温度の暴走又は経年変化する電気部品の動作特性の変化のどちらとも無関係に、ほぼその動作の希望値に校正される。さらに、イン・シトゥ校正信号発生器214は、本発明の実施形態によれば、無線受信機サブシステム202の1個以上の既存の電子部品を使用して実施されるので、熱雑音電力信号を発生するために付加的な電気部品を必要としない。或いは、イン・シトゥ校正信号発生器214は、非熱的に発生した信号を発生するように構成された専用校正信号発生器として実施される。代替的な実施形態では、利得校正器206は、利得校正中に測定誤差を解明することにより、及び/又は、周囲温度を利得計算プロセスに因子化することにより、利得校正の精度を改善する。
[0027]例示的な利得校正器206は、計算利得と期待利得との間の利得差を決定し、その後に利得差に等価的な量によってRxパス208の利得を調整するように構成される。計算利得を決定するため、利得校正器206は、Rxパス出力212bで出力雑音電力信号を定量化(すなわち、測定)する。特定の実施形態では、利得校正器206は、式(1)の通りに計算利得を決定し、それによって、計算利得が出力雑音電力信号値と実効入力雑音電力値の両方の関数として記述され、
RX=PmOUTdBm−PeffINdBm[±デルタdBm] 式(1)
式中、G(RX)は計算利得であり、P(mOUT)は計量(すなわち、測定)された雑音出力電力信号値であり、P(effIN)は実効入力雑音電力信号値である。
[0028]式(1)に示されるように、「デルタ」は推定パラメータ値の累積誤差として場合により組み込まれる。本発明の利得校正器は、Rxパスの利得が希望利得から+/−デルタdBmの範囲で利得値の範囲内で調整されることを保証するため、オプションとして「デルタ」を使用する。本明細書に記載された校正器206と校正技術を実施しないならば、Rxパス208の利得はプロセスの変動に起因して±15dB変化する。この利得の揺らぎの量は、一般に、殆どの無線受信機の実施で許容できない。校正器206は、著しいプロセスの変動から比較的影響されない予測可能パラメータ値から実効入力雑音電力信号値P(effIN)を導出することにより、±5dB以下のデルタの範囲内で利得を校正するように構成される。これらのパラメータの一部は図3〜5を参照して次に説明される。一実施形態では、利得校正器206は、以降のパラメータ値:熱雑音源(TNS)によって発生されるような熱雑音電力の推定量P(TNS)、Rxパス208の雑音指数値(NF(Rxパス))、及び、フィルタ308の等価雑音帯域幅値(EQ_NBW)の推定値に基づいてP(effIN)を計算又は実施する。
[0029]本発明の実施形態による、雑音指数(NF)値をもつようにモデル化された無線受信機サブシステムの等価回路のブロック図である。無線受信機サブシステム202は、モデル化されるべき第1のパラメータであり、P(effIN)の決定に組み込まれる入力熱雑音信号303を発生するように構成された熱雑音源(TNS)302を含むことが示されている。TNS302は、自由電子のランダム運動に起因する熱雑音電力を発生し、一般的に殆どの周波数スペクトルの全体に亘って一定である。熱雑音電力は以下の式(2):
TNS=10log(kT)=10log(kT0T/T0)=−174+10log(T/T0) 式(2)
によって推定され、式中、P(TNS)はdBm/Hzの単位で表現された推定熱雑音電力を表し、kはボルツマン定数であり、Tは300度ケルビンである。一実施形態では、熱雑音源302は、無線受信機サブシステム202の、50オーム終端抵抗器のような既存の電子部品として実施される。このような抵抗器は、典型的に、低雑音増幅器(LNA)の前に置かれるフロントエンド受信機帯域フィルタのようなフィルタの一部を形成する。よって、TNS302は、熱雑音電力量P(TNS)を発生する雑音源としてモデル化される。
[0030]P(effIN)を計算するため使用される第2のパラメータは、Rxパス208の雑音指数、すなわち、NF(Rxパス)である。Rxパス208を校正するとき、入力熱雑音信号303は、低雑音増幅器(LNA)304を介して、局部発振器(LO)によってドライブされるミキサ306まで移動する。無線受信機サブシステム202の上記の構成部品及びその他の構成部品(図示せず)は、Rxパス208を通過する信号に付加される熱雑音を総合的に生成し、その結果、入力信号対雑音比を劣化させる。Rxパス208の雑音指数NF(Rxパス)はこの劣化の指標である。無線受信機サブシステム202の設計及び回路レイアウトは、主としてNF(Rxパス)の値に影響を与えるので、雑音指数値は、同じプロセスで製造されたRF IC間で+/−15dB変化し得るRxパス208の利得より、プロセス、電圧及び温度の変動の範囲で比較的安定である(すなわち、NF値の間の偏差が小さい)。実際に、NF(Rxパス)値は、かなり多数の方法で決定され、そのうちの一つの方法は、無線受信機サブシステム202のソフトウェアモデルを使用する雑音シミュレーションの実行を含む。一実施形態では、NF(Rxパス)値は、第2のパラメータとして推定NF(Rxパス)値を形成するために無線受信機サブシステム202を実施するいくらかの台数の電子装置に亘ってRxパス208の雑音指数を測定することにより経験的に決定される。
[0031]P(effIN)を計算するため使用される第3のパラメータは、1個以上のフィルタ308の等価雑音帯域幅値(EQ_NBW)である。入力雑音電力信号は、LNA304によって増幅された後、次に、IFフィルタ(例えば、表面音響波、すなわち、SAWフィルタ)又はベースバンドフィルタ(例えば、ローパスフィルタ、すなわち、LPF)が例に含まれる1個以上のフィルタ308を通過するときに帯域制限される。その後、無線受信機サブシステム202の出力は、利得係数により入力の増幅を表現する値を有する出力雑音電力信号313として表される。本発明の特定の実施形態では、EQ_NBWは以下の式(3):
EQ_NBW=10loag(BW) 式(3)
によって推定され、式中、EQ_NBWはHzで表現され、Rxパス208の動作帯域幅に依存する。よって、上記に鑑みて、式(1)の実効構成信号P(effIN)は以下の式(4):
P(effIN)=[P(TNS)]+[NF(Rxパス)]+[EQ_NBW] 式(4)
によって決定され、式中、P(TNS)、NF(Rxパス)、及び、EQ_NBWは、特定の実施形態によれば、推定パラメータ値である。したがって、式(4)は、本発明の実施形態によれば、Rxパス入力212a(図3)への入力としてモデル化され、Rxパス208の利得を校正するため、全体的又は部分的に、使用可能な校正信号を表現する。これらの推定パラメータ値の実施例は、P(TNS)に対する−174dBm/Hz、NF(Rxパス)に対する7dB、及び、EQ_NBWに対する73dBである。
[0032]利得校正器206は、推定パラメータ値と関連した誤差寄与に起因するコレクティブトレランスとして式(1)の「デルタ」を決定するために以下の式(5):
デルタ=ΔP(TNS)+ΔNF(Rxパス)+10log(1+ΔBW/BW) 式(5)
を使用し、式中、ΔP(TNS)は周囲動作温度の揺らぎに起因する誤差量であり、ΔNF(Rxパス)はPVT(すなわち、プロセス、電圧、及び、温度)の揺らぎに起因する誤差量であり、ΔBWは動作帯域幅への無線受信機サブシステム202の帯域制限に起因する。式(2)は、一実施形態によれば、T0が300度ケルビンに一致すると仮定され、動作中の周囲温度が0℃から65℃までの範囲に制限されるならば、ΔP(TNS)が約±0.4dBであることを決定する。ΔNF(Rxパス)は、典型的に、無線受信機サブシステム202の種々の設計に亘って±2dBまで変化し、その値は経験的に、又は、シミュレーションによって決定される。式(3)は、フィルタ308が一例として約20MHzに帯域制限されるならば、ΔBW(すなわち、ΔEQ_NBW)が±1.0dB未満(例えば、±0.7dB)であることを推定する。一部の実施形態では、ΔP(TNS)及びΔNF(Rxパス)は、周囲動作温度の揺らぎに起因する誤差の大きさ、及び、PVTの温度成分の揺らぎに起因する誤差の量を削減するために温度補償される(すなわち、周囲温度に従って修正される)ことに注意すべきである。
[0033]図2をもう一度参照すると、利得校正器206は、式(1)に従って計算利得G(RX)を決定するように構成される。実効入力雑音電力値P(effIN)及びデルタ値を決定するために、それぞれ、式(4)及び(5)を使用することにより、利得校正器206は、計量された(測定された)雑音出力電力信号値P(mOUT)が与えられるならば、G(RX)を定式化できる。その後、利得差(Δ利得)が計算利得を希望値に調整するため以下の式(6):
Δ利得=G(RX)−G(希望) 式(6)
によって記述されるように形成され、式中、G(希望)はRxパス208の利得が調整されるべき希望利得である。希望利得G(希望)はユーザ定義可能である。
[0034]図4は、周波数に関係した雑音指数(NF(f))のグラフ表現であり、本発明の実施形態による実効校正信号として実効入力雑音電力値P(effIN)の値を表す。NF(f)400は、RF無線受信機のアンテナ(すなわち、Rxパスへの入力)の場所、又は、近くの例示的な熱雑音源によって発生された熱雑音が殆どの周波数に亘って雑音指数値408を有することを示し、その値がdBm/Hz単位のP(TNS)によって表現されている。付加的な雑音の量410(例えば、〜7dB)は、信号がRF無線受信機の中を伝搬するときに信号に追加され、よって、dB単位でRxパスの雑音指数を記述する。したがって、dBm/Hz単位でP(effIN)の値を有する実効雑音電力信号404は、RF受信機パスの利得を決定するための入力信号として確定される。NF(f)はP(effIN)に対し〜2dBのような誤差マージン402を含み、P(effIN)に対して示された値は式(3)による帯域制限を受けていない。説明の目的のため、本実施例でのRxパスは、周波数f0に中心が置かれた20MHzの帯域幅であるとして示されている帯域幅420に帯域制限されている。図5は、フィルタ308(図3)を実施するため適した例示的なフィルタの周波数特性を表すグラフ500である。特に、フィルタ308は、このようなフィルタがベースバンドフィルタ(例えば、ローパスフィルタ、すなわち、LPF)である場合のフィルタ特性502を示す。或いは、フィルタ308は、このようなフィルタがIFフィルタ(例えば、表面音響波、すなわち、SAWフィルタ)である場合のフィルタ特性505を示す。
[0035]図6〜10は、利得校正器が利得構成中の測定誤差を緩和するように構成された本発明の種々の実施形態を記載する。図6は、ベースバンドアナログ信号を、Nビット幅、例えば、10ビット幅でもよい出力604で量子化されたワードに変換するアナログ・デジタル(AD)変換器602を含むRF無線サブシステムのブロック図600である。校正中に、雑音電力信号がAD変換器602の入力606に供給される。本発明の実施形態によれば、AD変換器602に内在する変換誤差は推定され、雑音出力電力信号の測定中に利得校正の精度を改善するため使用される。特に、利得校正器206(図2)は、AD変換中のクリッピング誤差、量子化雑音、及び、サンプルサイズを考慮するように構成される。
[0036]図7は利得校正中のAD変換器のための動作のウィンドウを示し、ウィンドウは本発明の特定の実施形態に従って測定誤差を改善する。AD変換器602は、上端における動作のフルスケールレベル702と、下端における量子化雑音フロア712との間に画定された動作のダイナミックレンジを有する。出力604(図6)におけるデジタル化された雑音出力電力信号はクリッピングを回避するために上限704より下にあるが、計算利得を決定する際に量子化雑音の影響を最小限に抑えるために十分に頑強であろう。クリッピングと量子化雑音誤差の両方は、AD変換プロセスに影響を与える雑音に起因する。理想的には、入力606における雑音電力信号は、出力604におけるデジタル化された出力雑音電力信号が、正確な利得校正を妨げることになる許容できない測定誤差の影響を受けないことを保証するために、デジタル化された雑音出力電力信号レベル710付近で動作するであろう。上限704を決定する「バックオフ」706の量と、下限714を設定する「マージン」716の量は、それぞれ、図8及び9に記載されている。
[0037]図8は、本発明の特定の実施形態による、入力606における雑音電力信号のクリッピングに起因する推定クリッピング誤差(Pce)と、ピーク対平均比(PARclip)との間の例示的な関係を表すグラフ800である。図7のΔ1はピーク対平均比、すなわち、PARclipを表すことに注意すべきである。図8は、Pceの値及びPARclipの値がそれぞれY軸及びX軸に沿うことを示す。本実施例において、推定誤差Pceが2%の飽和と関連した−0.1dBより大きくないことが望ましい場合を考える。図に示されるように、−0.1dBの推定クリッピング誤差は、約10dBのPARclip値802を意味し、この約10dBは特定のPceの値に対する動作のフルスケールレベルからのPARclip、すなわち、図7のΔ1によるバックオフに必要な量である。例えば、上限704は、Δ1であるPARclip値802を用いてバックオフすることによって、すなわち、0dBフルスケール動作限界を低下させることによって決定される。
[0038]図9は、本発明の実施形態による、AD変換中の量子化雑音「Pq」と熱雑音電力「Pn」との間のマージンに起因する推定マージン誤差(Pm)の間の例示的な関係を表すグラフである。例えば、Pmは以下の式(7):
=10log(1+10−R/10) 式(7)
から導出され、式中、RはPnの値とPqの値との間の差と等価である(すなわち、R≡Pn−Pq)。本実施例において、推定マージン誤差Pmは0.1dBより大きくないことが望ましい場合を考える。図に示されるように、0.1dBの推定マージン誤差Pmは、約17dBの「Pn−Pq」値902を意味する。「Pn−Pq」の値902は、計算利得を決定するため使用される雑音電力信号(すなわち、図7の下限)と、AD変換器の量子化雑音フロアとの間のマージンを提供するために必要な量である図7のΔ2を表現することに注意すべきである。図8及び9のそれぞれの推定誤差Pce及びPmの両方は、理論的に(例えば、予め決められるか、若しくは、進行中に)決められるか、経験的に決められるか、又は、それらの組み合わせで決められることに注意すべきである。
[0039]図10は、本発明の実施形態による、サンプルサイズのサンプル量Nsに起因する出力雑音電力信号を計量又は測定する際の推定誤差(Pmeas)と例示的な関係を表すグラフ1000である。RF無線受信機のRxパスのDCオフセットがRxパス利得校正より前に校正されている場合を最初に考える。従って、ガウス雑音信号は一般にDC成分がなく、したがって、測定出力雑音電力信号P(mOUT)の推定値が以下の式(8):
Figure 2007013937

によって決定され、式中、測定された(すなわち、計量された)雑音出力電力信号値P(mOUT)の標準偏差が以下の式(9):
Figure 2007013937

によって決定される。
[0040]その結果、推定誤差「Pmeas」は、2シグマの信頼区間で±0.4dB未満であることが望ましいならば、サンプルサイズNsは1000より大きいことが必要である。上記のPmeasの決定は時間領域に関係することに注意すべきである。一部の実施形態では、電力スペクトル密度推定の技術を使用して周波数領域でPmeasを計算する方が有利である。その結果、DCオフセットは、ビン0にあるとき容易に除去される。同様に、帯域幅の変動は、水晶発振器の精度の点でより良好に制御されるので、電力スペクトル密度の平らな部分に亘る積分を容易化する。さらに、スパー(すなわち、電力スペクトル密度のピーク)はより容易に排除される。
[0041]図11は、本発明の種々の実施形態による利得校正で使用される推定許容誤差の表を示す。図に示されるように、±3.7dBの全体的な許容誤差は、上記の説明で導かれた典型的な許容誤差に基づいて決定される。図12の利得校正器は、Rxパスの利得を調整するための利得差を決定するために、これらの許容誤差を、それらの関連したパラメータ値と同様に使用するように構成される。
[0042]図12は、本発明の実施形態による、無線受信機サブシステムと、イン・シトゥ利得校正のための出力雑音電力信号を少なくとも測定するように構成されたプロセッサとを含むシステムを表すブロック図である。システム1200は、熱雑音源214及び任意の熱センサ1204(例えば、オンチップ)を有する無線受信機サブシステム1202を含む。熱センサ1204は、雑音指数(NF)への温度効果の変動性を除去校正するために導入される。NFは、例えば、−20〜85℃の温度の範囲に亘って温度のほぼ線形関数であるので、一部の実施形態における利得校正の精度は0.5dBから1.0dBまで良くなる。特に、雑音指数が温度の変動と相関関係があるならば、温度を決定することにより、雑音指数の精度は0.5〜1dBのいずれかの値で良くなる。熱雑音電力の推定量P(TNS)が、同様に、温度と相関関係があるならば(すなわち、測定温度を含むならば)、無線受信機サブシステムの全体的な精度は0.8dB〜1.3dBのいずれかの値によってさらに改善される。
[0043]システム1200は、イン・シトゥ利得校正器1252を収容するプロセッサ1250をさらに含む。プロセッサ1250は中央処理ユニットでもよく、又は、いずれかの知られているコンピューティング装置でもよいが、プロセッサ1250は、少なくとも一つの特定の実施形態において、媒体アクセスコントローラ(MAC)モジュールを含むシングルチップベースバンドプロセッサ(BBP)であり、ワイヤレスローカルエリアネットワーク(WLAN)アプリケーションで動作するように構成される。したがって、無線受信機サブシステム1202は、少なくとも2.4GHz〜5.2GHzの周波数範囲と、同様にその他の適当な周波数とで動作するように構成可能である。一部の実施形態では、プロセッサ1250は、IEEE802.11x標準規格又は同等な規格で動作する。プロセッサ1250は、データパス1210を介して、無線受信機サブシステム1202に連結され、例えば、AD変換器の出力から、少なくともデジタル化された出力雑音電力信号を受信する。プロセッサ1250は、校正プロセスを管理するため、制御ライン1212を介して、制御信号を同様に通信する。例えば、制御ライン1212は、イン・シトゥ利得校正器1252によって使用される周囲温度を表す熱データを伝達する。
[0044]イン・シトゥ利得校正器1252は、イン・シトゥ利得校正器206(図2)と動作及び/又は構造が類似するが、図12に示されたイン・シトゥ利得校正器は、利得評価器1260及び利得調整器1270を含み、両方共にハードウェア、ソフトウェア、又は、それらの組み合わせにより構成されている。利得評価器1260は、データパス1210を介して熱雑音電力信号を測定し、その後に、測定された熱雑音電力信号、及び、Rxパスの少なくとも実効雑音指数(NF)値の関数として、無線受信機サブシステム1202の利得を決定する。利得評価器1260が利得を決定した後、次に、利得調整器1270は、必要に応じて、制御ライン1212を介してRxパスの利得を希望利得値に調整する。例えば、利得調整器1270は、無線受信機サブシステム1202内の調整可能な増幅器(図示せず)に制御信号1212を供給するように構成されるので、増幅器は、希望利得又は期待利得に一致するように測定利得を調整することができる。制御信号1212は、全体的又は部分的に、計算利得(すなわち、誤差を含む測定利得に基づいている)から希望利得までの利得差(すなわち、利得を期待値に調整する利得の量)を表現するデータを含む。
[0045]一実施形態では、利得評価器1260は、出力計量器(OQ)1262及びパラメータ発生器(PG)1264を含む。出力計量器1262は、全体的又は部分的に、上記のPmOUTを表す値を測定するように構成される。種々の実施形態において、出力計量器1262は、クリッピング誤差、量子化雑音、AD変換器602のサンプルサイズなどに起因する測定誤差を最小限に抑えるようにPmOUTを表現する値を測定する。特に、出力計量器1262は、利得校正の精度を最適化するために、「バックオフ」(すなわち、PARclip)値、「マージン」(すなわち、Pn−Pq)値、及び、サンプルサイズ値を示すパラメータ値を使用する。パラメータ発生器(PG)1264は、すべてが上記されているP(TNS)、NF(Rxパス)、及び、EQ_NBWと、同様にそれらの許容誤差のような他のパラメータ値を発生するように構成される。パラメータ発生器(PG)1264は、式(5)に従ってP(effIN)の値を形成するためにパラメータ及び許容誤差(すなわち、デルタ)を使用する。その後、利得評価器1260は、式(1)に従って計算利得G(RX)を発生するため、出力計量器1262からのPmOUTの値とパラメータ発生器(PG)1264からのP(effIN)の値とを使用する。その後、利得調整器1270は、式(6)に従ってΔ利得の値を決定し、その後に、増幅器利得を調整するためその値を使用することができる。少なくとも一実施形態において、イン・シトゥ利得校正器1252は、「デルタ」のような上記の許容誤差の範囲内で式(1)及び(6)を使用してRxパスの利得を校正する。
[0046]利得校正器1252の機能はプロセッサ1250に限定されるべきでないことに注意する必要がある。他の実施形態では、図12に記載された要素の種々の機能がシステム1200の全域、及び、システムの域を超えて分布される。例えば、調整器1270は無線受信機サブシステム202に存在する。その他のケースでは、イン・シトゥ利得校正器1252と利得調整器1270(又はそれらの機能的な部分)の両方が無線システム202内に一緒に置かれる。少なくとも一実施形態において、無線受信機サブシステム1202は、CMOS、又は、利得がPVTに亘って著しく変化するその他の同様の半導体技術で製造される。システム1200は、その無線受信機サブシステムのイン・シトゥ利得校正を実行するので、Rxパスの利得は、温度の暴走又は経年変化した電気部品の動作特性の変化のいずれとも無関係に、ほぼその動作の希望値に校正される。よって、(ラップトップ、携帯電話機などの)コンピューティング装置がシステム1200を実施するならば、本発明の利得校正は、コンピューティング装置が動作する間の(例えば、寒い冬から暑い夏までの)温度の範囲とは無関係に、そのワイヤレス受信の動作を最適化する。
[0047]本発明の通信システムが送信及び受信するため適した周波数の実施例は、IEEE規格802.11によって管理されるワイヤレスLANアプリケーションで使用される周波数である。本発明は、広範囲の周波数に適用可能である。上記の記載は、説明の目的のため、本発明の完全な理解を提供するように特定の術語を使用した。しかし、本発明を実施するために具体的な詳説が必要とされないことは当業者に明らかである。実際には、この記載は、本発明の何らかの特長又は態様をいずれかの実施形態に限定するように読まれるべきでなく、それどころか、一実施形態の特長及び態様は他の実施形態と容易に入れ替えられる。例えば、実施形態の上記の記載はRF通信システムに関連するが、検討内容はすべての通信システムに適用される。よって、本発明の特定の実施形態の上記の記載は、例示と説明のために提示されている。上記の記載は、網羅的であること、又は、発明を開示されたものと全く同一の形式に限定することを目的とすることなく、明らかに、多数の変更及び変形が上記の教示を考慮して可能である。実施形態は、発明の原理及びその実際的なアプリケーションを最も良く説明するために選択され記載されているので、当業者が発明及び考えられる特定の使用に適するような種々の変更を伴う種々の実施形態を最良に利用することを可能にする。特に、明細書に記載されたすべての利点が必ずしも本発明の各実施形態によって実現されなくてもよく、むしろ、ある特定の実施形態は上記の利点のうちの一つ以上を提供することが可能である。特許請求の範囲及びその均等の範囲は発明の範囲を規定することが意図されている。
RF集積回路の増幅器利得を校正する従来のシステムである。 一方の動作モードが本発明の一実施形態によるRF受信機の利得を校正するイン・シトゥ校正モードである少なくとも二つの動作モードを有する装置を図示するブロック図である。 本発明の少なくとも一実施形態による、雑音指数(NF)値をもつようにモデル化された無線受信機サブシステムの等価回路のブロック図である。 周波数に対する雑音指数(NF(f))のグラフ表現であり、本発明の実施形態による校正信号としての有効入力雑音電力信号の値を示す図である。 本発明の少なくとも一実施形態による図3のフィルタを実施するため適した例示的なフィルタの周波数特性を示すグラフである。 本発明の一実施形態によるベースバンドアナログ信号を量子化された「N」ビットのワードに変換するアナログ・デジタル(AD)変換器を含むRF無線サブシステムのブロック図である。 本発明の特定の実施形態によって測定誤差を改善する、利得校正中のAD変換器の動作のウィンドウを示す図である。 本発明の特定の実施形態による雑音電力信号のクリッピングに起因する推定誤差(Pc)とピーク対平均比(PARclip)との間の例示的な関係を示すグラフである。 本発明の実施形態による、AD変換中における、量子化雑音「Pq」と熱雑音電力「Pn」の間のマージンに起因する推定誤差(Pm)の間の典型的な関係を示すグラフである。 本発明の実施形態による、特定のサンプルサイズに対する、あるサンプル量Nsの選択に起因する出力雑音電力信号を計量(すなわち、測定)するときの推定誤差(Pmeas)の間の例示的な関係を示すグラフである。 本発明の種々の実施形態による利得校正で使用される推定許容誤差の表を示す。 本発明の実施形態による、無線受信機サブシステム、及びイン・シトゥ利得校正のための出力雑音電力信号を少なくとも測定するように構成されたプロセッサを含むシステムを示すブロック図である。
符号の説明
200…装置、202…無線受信機サブシステム、204…制御ライン、206…利得校正器、208…Rxパス、210…アンテナ、212a…Rxパス入力、212b…Rxパス出力、214…イン・シトゥ校正信号発生器、220…モード選択、230…Rx回路、302…熱雑音源、303…入力熱雑音信号、304…低雑音増幅器、306…局部発振器、308…フィルタ、313…出力雑音電力信号、602…AD変換器、604…出力、606…入力、1200…システム、1202…無線受信機サブシステム、1204…熱センサ、1210…データパス、1212…制御ライン、1250…プロセッサ、1252…利得校正器、1260…利得評価器、1262…出力計量器、1264…パラメータ発生器、1270…利得調整器。

Claims (10)

  1. 無線周波数(RF)集積回路の無線受信機(Rx)パスの利得を校正する装置であって、
    前記Rxパスの入力への校正信号として熱雑音を発生するように構成された熱雑音発生器と、
    前記Rxパスの出力からの出力信号を測定し、前記熱雑音に基づいて前記Rxパスの利得を調整するように構成された校正器と、
    を備える装置。
  2. 前記熱雑音発生器が終端抵抗器又はインピーダンスをさらに備え、前記熱雑音発生器から発生された前記熱雑音が前記RF集積回路によって使用可能な周波数に亘って実質的に一定である、請求項1に記載の装置。
  3. 前記校正器が前記Rxパスの雑音指数(NF)から導出された量によって前記利得を調整し、前記雑音指数が前記利得よりもプロセス及び温度に亘る変動の影響を受けにくい、請求項2に記載の装置。
  4. 前記校正器が、
    前記出力信号に基づく計算利得と期待利得との間の利得差を決定するように構成された利得評価器と、
    調整可能な増幅器を含む前記Rxパスの前記利得を前記利得差と等価な量によって調整するように構成された利得調整器と、
    をさらに備える、請求項1に記載の装置。
  5. 前記校正器が、前記RF集積回路がRF通信信号を受信するように構成されたままである間に前記利得を校正するため校正信号を発生するように構成されたイン・シトゥ校正器であり、
    前記装置が、
    校正精度を改善するため測定周囲温度に従って雑音指数の値を調整する前記校正器に連結された温度センサと、
    アンテナからRF通信信号を受信するように構成されたアンテナポートと、
    前記利得に影響を与える前記RXパスに配置された増幅器と、
    前記Rxパスに連結され、第1のモードにおいて前記アンテナポートからの信号源を選択し、又は、第2のモードにおいてイン・シトゥ校正発生器からの信号源を選択するように構成されたモード選択器と、
    をさらに備え、
    前記RF集積回路が、
    受信機モードで動作するときにRF通信信号を増幅するため前記第1のモードで動作し、
    校正モードで動作するときに前記校正信号を増幅するため前記第2のモードで動作する、請求項1に記載の装置。
  6. 無線周波数(RF)集積回路を校正する方法であって、
    RF無線受信機への入力としてRF無線受信機と関連した少なくとも1個の雑音指数(NF)値から実効入力雑音電力信号値をモデル化するステップと、
    測定出力雑音電力信号値を形成するため前記RF無線受信機からの出力雑音電力信号を測定するステップと、
    前記実効入力雑音電力信号値及び前記測定出力雑音電力信号値の関数として前記RF無線受信機の利得を校正するステップと、
    を備える方法。
  7. 前記出力雑音電力信号を測定するステップが、
    熱雑音を発生する工程と、
    前記RF無線受信機への校正信号として前記熱雑音を適用する工程と、
    を備え、
    熱雑音を発生するステップ及び前記熱雑音を適用するステップが、前記利得のイン・シトゥ校正を実行するため繰り返される、請求項6に記載の方法。
  8. 校正精度を改善するための測定温度を決定するため周囲温度を測定するステップと、
    前記測定温度に基づいて修正雑音指数値を形成するため前記少なくとも1個の雑音指数の値を修正するステップと、
    前記修正雑音指数値に従って前記利得を調整するステップと、
    をさらに備える、請求項6に記載の方法。
  9. 前記実効入力雑音電力信号をモデル化するステップが、
    推定熱雑音値の第1の雑音指数値を決定する工程と、
    前記RF無線受信機のRxパスの第2の雑音指数値を決定する工程と、
    前記Rxパスの等価雑音帯域幅を決定する工程と、
    前記第1の雑音指数値、前記第2の雑音指数値、及び、前記等価雑音帯域幅から前記実効入力雑音電力信号値を導出する工程と、
    を備える、請求項6に記載の方法。
  10. 前記利得を校正するステップが、
    前記測定出力雑音電力信号値及び前記実効入力雑音電力信号値に基づいて計算利得を計算する工程と、
    前記計算利得と希望利得との間の利得差を決定する工程と、
    前記利得差と等価的な量によって前記RF無線受信機の前記利得を調整する工程と、
    を備える、請求項6に記載の方法。
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