JP2007011872A - メモリカードとその制御方法 - Google Patents
メモリカードとその制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007011872A JP2007011872A JP2005193958A JP2005193958A JP2007011872A JP 2007011872 A JP2007011872 A JP 2007011872A JP 2005193958 A JP2005193958 A JP 2005193958A JP 2005193958 A JP2005193958 A JP 2005193958A JP 2007011872 A JP2007011872 A JP 2007011872A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- block
- memory
- card
- data
- blocks
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/04—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
- G11C16/0483—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells having several storage transistors connected in series
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/14—Error detection or correction of the data by redundancy in operation
- G06F11/1402—Saving, restoring, recovering or retrying
- G06F11/1415—Saving, restoring, recovering or retrying at system level
- G06F11/1417—Boot up procedures
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/20—Initialising; Data preset; Chip identification
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
【解決手段】メモリ3は、管理情報を含む複数のブロックと、各ブロックの前記管理情報を集中した集中管理ブロックとを有する。制御部8は、起動時にメモリ3内の集中管理ブロックを検出し、この集中管理ブロックがエラーを含む場合、システムに設定された制約時間内において、メモリ内の複数のブロックから管理情報を検索し、この検索された管理情報をメモリの集中管理ブロックに書き込む。
【選択図】図3
Description
ホスト20が想定しているフラッシュメモリにおいて、各ページは528Byte(512Byte分のデータ記憶部+16Byte分の冗長部)を有しており、32ページ分が1つの消去単位(即ち、16kByte+0.5kByte(ここで、kは1024))となる。以下では、このようなフラッシュメモリを搭載したカードを、「小ブロックカード」と称す場合がある。
このようなフォーマットのパケットにおいては、図6(b)に示されるように、付随データ16Byte中の所定の位置に小ブロックカードの「論理ブロックアドレス」(アクセス対象となる16kByteブロックに対応する論理アドレス)が配置されている。大ブロックカードは、コマンド種別情報、物理ブロックアドレス、データを取得するほか、特に上記「論理ブロックアドレス」を取得する。なお、この「論理ブロックアドレス」は、読み出しコマンドの場合には付加されない。
ホスト20側(同図の左側)では、小ブロックカードの論理アドレスに基づく16kByteブロック単位のシーケンシャルな書き込み操作の発生時に、小ブロックカードの物理ブロックアドレスによる16kByteブロック単位のランダムな書き込み操作を行う。
図9に示すブロックフォーマットは、図8のブロックフォーマットに比べると、各ページにおけるECC0,ECC1,ECC2の領域の配置位置が異なる。ただし、各ページにおけるユーザデータの記憶容量は、図8に示すブロックフォーマットと図9に示すブロックフォーマットとでは同じである。即ち、図8に示すブロックフォーマットは、各ページに2048Byte(512Byte+512Byte+512Byte+512Byte)の記憶領域が設けられており、図9に示すブロックフォーマットは、各ページに2048Byte(518Byte+518Byte+518Byte+494Byte)の記憶領域が設けられている。以下では、図9に示すブロックフォーマットを採用した場合を前提にして説明する。
Claims (5)
- 管理情報を含む複数のブロックと、各ブロックの前記管理情報を集中した集中管理ブロックとを有するメモリと、
起動時に前記メモリ内の集中管理ブロックを検出し、この集中管理ブロックがエラーを含む場合、システムに設定された制約時間内において、前記メモリ内の複数の前記ブロックから前記管理情報を検索し、この検索された管理情報を前記メモリの前記集中管理ブロックに書き込む制御部と
を具備することを特徴とするメモリカード。 - 起動時にメモリ内の集中管理ブロックを検出し、
この集中管理ブロックがエラーを含む場合、システムに設定された制約時間内において、前記メモリ内の複数のブロックから管理情報を検索し、
検索された前記管理情報を前記メモリの前記集中管理ブロックに書き込む
ことを特徴とするメモリカードの制御方法。 - 前記集中管理ブロックは、前記ブロックが正常か否かを示す第1の情報を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載のメモリカード又はメモリカードの制御方法。
- 前記制約時間は、前記メモリの全ブロックをスキャンするに必要な時間の半分以上に設定され、前記制御部は、集中管理ブロックがエラーを含む場合、前記メモリの半分のブロックをスキャンすることを特徴とする請求項1又は2に記載のメモリカード又はメモリカードの制御方法。
- 前記制約時間は、前記メモリの全ブロックをスキャンするに必要な時間の半分以下に設定され、前記制御部は、集中管理ブロックがエラーを含む場合、前記メモリの全ブロック数の半分以下のブロックをスキャンすることを特徴とする請求項1又は2に記載のメモリカード又はメモリカードの制御方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005193958A JP2007011872A (ja) | 2005-07-01 | 2005-07-01 | メモリカードとその制御方法 |
US11/242,873 US7519876B2 (en) | 2005-07-01 | 2005-10-05 | Memory card using flash memory and method of controlling the same |
TW095121916A TW200715195A (en) | 2005-07-01 | 2006-06-19 | Memory card using flash memory and controlling method thereof |
KR1020060060629A KR100757128B1 (ko) | 2005-07-01 | 2006-06-30 | 플래시 메모리를 이용한 메모리 카드 및 그 제어 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005193958A JP2007011872A (ja) | 2005-07-01 | 2005-07-01 | メモリカードとその制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007011872A true JP2007011872A (ja) | 2007-01-18 |
Family
ID=37591158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005193958A Pending JP2007011872A (ja) | 2005-07-01 | 2005-07-01 | メモリカードとその制御方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7519876B2 (ja) |
JP (1) | JP2007011872A (ja) |
KR (1) | KR100757128B1 (ja) |
TW (1) | TW200715195A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009134416A (ja) * | 2007-11-29 | 2009-06-18 | Toshiba Corp | メモリシステム |
JP2010517168A (ja) * | 2007-01-26 | 2010-05-20 | マイクロン テクノロジー, インク. | Nandメモリのためのプログラミング管理データ |
JP2020086535A (ja) * | 2018-11-15 | 2020-06-04 | Tdk株式会社 | メモリコントローラ、及びメモリシステム |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4460967B2 (ja) | 2004-07-23 | 2010-05-12 | 株式会社東芝 | メモリカード、不揮発性半導体メモリ、及び半導体メモリの制御方法 |
JP2007011872A (ja) | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Toshiba Corp | メモリカードとその制御方法 |
KR100780963B1 (ko) * | 2006-11-03 | 2007-12-03 | 삼성전자주식회사 | 메모리 카드 및 메모리 카드의 구동 방법 |
KR101492116B1 (ko) * | 2008-01-24 | 2015-02-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 커넥터 및 이를 갖는 표시장치 |
TWI467579B (zh) * | 2011-01-14 | 2015-01-01 | Mstar Semiconductor Inc | 電子裝置及其記憶體控制方法以及相關電腦可讀取儲存媒體 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69421103T2 (de) * | 1993-01-22 | 2000-06-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Programmgesteuertes Prozessor |
JPH06332795A (ja) * | 1993-05-18 | 1994-12-02 | Sansei Denshi Japan Kk | 電気的消去可能な不揮発性メモリの制御方法及びシステム |
JP3472008B2 (ja) | 1996-01-16 | 2003-12-02 | 株式会社東芝 | フラッシュメモリ管理方法 |
US6330028B1 (en) * | 1996-02-15 | 2001-12-11 | Casio Computer Co., Ltd. | Electronic image pickup device which is operable even when management information related to recording/reproducing image data is not readable |
JP3718578B2 (ja) * | 1997-06-25 | 2005-11-24 | ソニー株式会社 | メモリ管理方法及びメモリ管理装置 |
JPH11185459A (ja) * | 1997-12-24 | 1999-07-09 | Sony Corp | 記録システム、記録装置 |
KR100429179B1 (ko) * | 1998-07-01 | 2004-06-16 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체의결함영역관리장치및그방법 |
US6407949B1 (en) * | 1999-12-17 | 2002-06-18 | Qualcomm, Incorporated | Mobile communication device having integrated embedded flash and SRAM memory |
IT1318979B1 (it) * | 2000-10-06 | 2003-09-19 | St Microelectronics Srl | Architettura di memoria a semiconduttore |
JP4323707B2 (ja) * | 2000-10-25 | 2009-09-02 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | フラッシュメモリの欠陥管理方法 |
TW539950B (en) * | 2000-12-28 | 2003-07-01 | Sony Corp | Data recording device and data write method for flash memory |
KR100416029B1 (ko) * | 2001-06-26 | 2004-01-24 | 삼성전자주식회사 | 시프트 리던던시 회로를 갖는 반도체 메모리 장치 |
JP2003140980A (ja) | 2001-10-31 | 2003-05-16 | Hitachi Ltd | 記録装置 |
US6707749B2 (en) * | 2002-08-14 | 2004-03-16 | Intel Corporation | Enabling an interim density for top boot flash memories |
KR20040038262A (ko) * | 2002-10-31 | 2004-05-08 | 주식회사 현대시스콤 | 플래시 디스크를 이용한 멀티 부팅 방법 |
US7330409B2 (en) * | 2003-01-13 | 2008-02-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Disc with temporary defect management area, and disc defect management method and apparatus therefor |
JP3912355B2 (ja) | 2003-10-14 | 2007-05-09 | ソニー株式会社 | データ管理装置、データ管理方法、不揮発性メモリ、不揮発性メモリを有する記憶装置及びデータ処理システム |
JP4460967B2 (ja) | 2004-07-23 | 2010-05-12 | 株式会社東芝 | メモリカード、不揮発性半導体メモリ、及び半導体メモリの制御方法 |
JP2007011872A (ja) | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Toshiba Corp | メモリカードとその制御方法 |
-
2005
- 2005-07-01 JP JP2005193958A patent/JP2007011872A/ja active Pending
- 2005-10-05 US US11/242,873 patent/US7519876B2/en active Active
-
2006
- 2006-06-19 TW TW095121916A patent/TW200715195A/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-06-30 KR KR1020060060629A patent/KR100757128B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010517168A (ja) * | 2007-01-26 | 2010-05-20 | マイクロン テクノロジー, インク. | Nandメモリのためのプログラミング管理データ |
KR101312146B1 (ko) | 2007-01-26 | 2013-09-26 | 마이크론 테크놀로지, 인크. | Nand 메모리들을 위한 관리 데이터의 프로그래밍 |
US8943387B2 (en) | 2007-01-26 | 2015-01-27 | Micron Technology, Inc. | Programming management data for a memory |
JP2009134416A (ja) * | 2007-11-29 | 2009-06-18 | Toshiba Corp | メモリシステム |
US8352672B2 (en) | 2007-11-29 | 2013-01-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Memory system with nonvolatile memory |
JP2020086535A (ja) * | 2018-11-15 | 2020-06-04 | Tdk株式会社 | メモリコントローラ、及びメモリシステム |
JP7143735B2 (ja) | 2018-11-15 | 2022-09-29 | Tdk株式会社 | メモリコントローラ、及びメモリシステム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200715195A (en) | 2007-04-16 |
US7519876B2 (en) | 2009-04-14 |
US20070005875A1 (en) | 2007-01-04 |
TWI317099B (ja) | 2009-11-11 |
KR20070003673A (ko) | 2007-01-05 |
KR100757128B1 (ko) | 2007-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3892851B2 (ja) | メモリカード及び半導体装置 | |
JP4828816B2 (ja) | メモリカード、半導体装置、及びメモリカードの制御方法 | |
US7404031B2 (en) | Memory card, nonvolatile semiconductor memory, and method of controlling semiconductor memory | |
JP3708047B2 (ja) | フラッシュメモリの管理方法 | |
TWI444825B (zh) | 記憶體儲存裝置、記憶體控制器與資料寫入方法 | |
US8386699B2 (en) | Method for giving program commands to flash memory for writing data according to a sequence, and controller and storage system using the same | |
KR100687151B1 (ko) | 메모리 카드, 반도체 장치, 및 반도체 메모리의 제어 방법 | |
US7245539B2 (en) | Memory card, semiconductor device, and method of controlling semiconductor memory | |
TWI494849B (zh) | 韌體碼載入方法、記憶體控制器與記憶體儲存裝置 | |
US8392797B2 (en) | Error correcting controller, flash memory chip system, and error correcting method thereof | |
TW200951979A (en) | Data writing method for flash memory and storage system and controller using the same | |
JPWO2005083573A1 (ja) | 半導体メモリ装置 | |
JP2007011872A (ja) | メモリカードとその制御方法 | |
JP4843222B2 (ja) | 半導体記憶装置の制御方法、メモリカード、及びホスト機器 | |
JP4256307B2 (ja) | メモリカード | |
JP2005115562A (ja) | フラッシュrom制御装置 | |
JP2012037971A (ja) | メモリコントローラ及びメモリコントローラを備える不揮発性メモリシステム、並びに不揮発性メモリの制御方法 | |
JP4498341B2 (ja) | メモリシステム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080610 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110615 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110628 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110829 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20111108 |