JP2007003255A - 発光状態測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光変換手段11の凹面鏡14は発光体5の全体から射出された平行光を入射し、これを集光した後、再び平行光に戻して射出する。撮像手段12は、光変換手段11を介して発光体5を撮像し、解析手段13は撮像手段12が撮像した画像を解析して発光体5の各部の発光状態を検査する。光変換手段11を設けることで、レンズ開口が発光体5より小さい撮像手段12を用いて、発光体5の射出する平行光全体を平行光のまま受光して撮像できる。
【選択図】図1
Description
前記光変換手段(11、31)の入射部(14、34)前方の前記所定方向に配置された発光体(5)を、前記光変換手段(11、31)を介して撮像する撮像手段(12)と、
前記撮像手段(12)が撮像した画像から前記発光体(5)の各部の発光状態を解析する解析手段(13、33)と
を有する
ことを特徴とする発光状態測定装置である。
ことを特徴とする請求項1に記載の発光状態測定装置である。
ことを特徴とする請求項2に記載の発光状態測定装置である。
前記帯状の入射部(34)に対応して前記発光体(5)上に形成される帯状の測定可能領域がその長手方向と異なる方向へ発光体(5)上で移動するように前記発光体(5)を前記光変換手段(31)に対して相対移動させる移動手段(37)を有し、
前記測定可能領域に対する測定を前記相対移動させながら繰り返すことで、2次元領域を測定する
ことを特徴とする請求項2に記載の発光状態測定装置である。
前記解析手段(13、33)は、前記撮像手段(12)が撮像した画像から明るさがしきい値以上の画素で構成される画像領域を抽出し、その特徴量が規定範囲にある画像領域を光源(7)に対応する明領域と判定し、各明領域の明るさからその明領域に対応する光源(7)の輝度を求める
ことを特徴とする請求項1、2、3または4に記載の発光状態測定装置である。
ことを特徴とする請求項5に記載の発光状態測定装置である。
前記解析手段(13、33)は、前記撮像手段(12)が撮像した画像から明るさがしきい値以上の画素で構成される画像領域を抽出し、その特徴量が規定範囲にある画像領域を光源(7)に対応する明領域と判定し、各明領域の位置から光源(7)の位置ずれを判定する
ことを特徴とする請求項1、2、3または4に記載の発光状態測定装置である。
ことを特徴とする請求項1、2、3、4、5、6または7に記載の発光状態測定装置である。
6…基板
7…LED素子
7a…画像領域
10…発光状態測定装置
11…光変換手段
12…撮像手段
13…解析手段
14…凹面鏡
15…反射鏡
16…凹レンズ
30…入射部を帯状にした発光状態測定装置
31…光変換手段
33…画像処理装置
34…帯状凹面鏡
37…移動ステージ
38…信号灯器電源
39…露光タイミングパルス生成回路
Claims (8)
- 所定方向から入射する平行光を集光した後、これを平行光に戻して射出するように入射光の光路を変換する光変換手段と、
前記光変換手段の入射部前方の前記所定方向に配置された発光体を、前記光変換手段を介して撮像する撮像手段と、
前記撮像手段が撮像した画像から前記発光体の各部の発光状態を解析する解析手段と
を有する
ことを特徴とする発光状態測定装置。 - 前記光変換手段の入射部全体から前記所定方向に平行光を射出した場合にこの平行光が照射される範囲内を測定可能領域とする
ことを特徴とする請求項1に記載の発光状態測定装置。 - 前記光変換手段の入射部を、測定対象の発光体全体が前記測定可能領域に収まるように形成した
ことを特徴とする請求項2に記載の発光状態測定装置。 - 前記光変換手段の入射部を細長い帯状の形状にし、
前記帯状の入射部に対応して前記発光体上に形成される帯状の測定可能領域がその長手方向と異なる方向へ発光体上で移動するように前記発光体を前記光変換手段に対して相対移動させる移動手段を有し、
前記測定可能領域に対する測定を前記相対移動させながら繰り返すことで、2次元領域を測定する
ことを特徴とする請求項2に記載の発光状態測定装置。 - 前記発光体は、複数の光源を配列したものであり、
前記解析手段は、前記撮像手段が撮像した画像から明るさがしきい値以上の画素で構成される画像領域を抽出し、その特徴量が規定範囲にある画像領域を光源に対応する明領域と判定し、各明領域の明るさからその明領域に対応する光源の輝度を求める
ことを特徴とする請求項1、2、3または4に記載の発光状態測定装置。 - 複数の光源の平均輝度と各光源の輝度とを対比して、前記複数の光源における輝度のばらつきを求める
ことを特徴とする請求項5に記載の発光状態測定装置。 - 前記発光体は、複数の光源を配列したものであり、
前記解析手段は、前記撮像手段が撮像した画像から明るさがしきい値以上の画素で構成される画像領域を抽出し、その特徴量が規定範囲にある画像領域を光源に対応する明領域と判定し、各明領域の位置から光源の位置ずれを判定する
ことを特徴とする請求項1、2、3または4に記載の発光状態測定装置。 - 前記発光体は各部から特定方向に平行光を射出するものである
ことを特徴とする請求項1、2、3、4、5、6または7に記載の発光状態測定装置。
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