JPH04324326A - 太陽光校正光学系 - Google Patents

太陽光校正光学系

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JPH04324326A
JPH04324326A JP3093858A JP9385891A JPH04324326A JP H04324326 A JPH04324326 A JP H04324326A JP 3093858 A JP3093858 A JP 3093858A JP 9385891 A JP9385891 A JP 9385891A JP H04324326 A JPH04324326 A JP H04324326A
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Yuji Miyaji
宮地 雄二
Yoshio Tange
丹下 義夫
Osamu Shintou
進籐 修
Tadashi Matsushita
松下 匡
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National Space Development Agency of Japan
Mitsubishi Electric Corp
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National Space Development Agency of Japan
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は人工衛星に搭載される
地表観測用または惑星観測用光学機器の太陽光校正光学
系に関するものである。
【0002】
【従来の技術】これまで、人工衛星によって多くの地表
観測用または惑星観測用光学機器が宇宙空間に打ち出さ
れ、様々なリモートセンシングのデータが地上に送信さ
れ、地球資源の開発や天体観測等において、めざましい
成果をあげてきた。しかし、そうした成果の陰には、そ
れらの光学機器を宇宙空間という過酷な環境下において
、長期間にわたり安定して機能させるための様々な工夫
があった。そのような工夫の一つに、光学的校正技術が
ある。
【0003】光学的構成技術というのは、高真空、高放
射線量、高紫外線量、そして激しい温度変化等といった
過酷な環境条件に対して、観測用光学機器の性能が万が
一、劣化するなどの変化をしたとしても、観測データを
常に信頼性のあるものとして保障するための技術である
【0004】この様な光学的校正技術の一つに、光源と
して太陽光を用いる方法がある。
【0005】図3はそのような太陽光を用いた校正光学
系(以後、太陽光校正光学系という)の構成の一例であ
る。この従来例においては、太陽光Sを導入する入射光
学系1と、導入された光を後方に配置された観測用望遠
鏡等から構成される光学機器に向かって射出する射出光
学系2と、前記射出光学系2に光を伝送するための伝達
光学系3とからなりたっている。図には示さないが、こ
のような構成を持った太陽光校正光学系を観測用望遠鏡
を有する光学機器に搭載し、入射光学系をほぼ太陽の方
角に向ける。射出光学系2は図4に示すような状態に設
置される。図4において、ポインティングミラー4とは
、地表の様々な位置を観測するために角度を変え、観測
用望遠鏡5に、その地表からの映像または光を導き入れ
るためのものである。通常、ポインティングミラー4は
地表を観測するように点線のような状態で使用されてい
るが、校正を実施するときは実線で示された状態に傾け
られ、射出光学系2からの太陽光を観測用望遠鏡5に導
き入れる働きをする。
【0006】太陽光校正光学系の機能は、ポインティン
グミラー4や観測用望遠鏡5等の光学機器を構成する全
ての光学部分を透過もしくは反射してきた光を、観測用
望遠鏡5等の光学機器の終端または地表像の結像面に設
置された検出器6の全域で検知して、光学機器の光エネ
ルギー伝送効率の劣化及び検出器6の検出感度の劣化を
検出するものである。
【0007】そのため、太陽光校正光学系の性能として
、 (R1).照射される光エネルギー分布が検出器6上で
一様となるような校正光学系でなければならないこと。 (R2).校正光学系への太陽光の入射角度が季節変化
等によって変動したとしても検出器6上に照射される光
エネルギー分布の一様に影響しないこと。の2点が要求
される。
【0008】(R1)の要求を満足させるためには、射
出光学系2の物体面、つまり図3の場合には光ファイバ
ーの射出端が一様な輝度を持った面光源でなければなら
ず、(R2)の要求を満足させるためには、その輝度の
一様性が太陽光の入射角で変化しないことが必要である
【0009】そこで、従来においては図3に示されるよ
うに、伝達光学系3に光ファイバーを用い、光エネルギ
ー分布が一様になるようにし、それでも尚、一様化が不
十分な場合には、例えば光ファイバーの入射端の近傍に
拡散板7を配設するなどの工夫をして、光エネルギー分
布の一様性に対する目的を達成してきた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の太陽
光校正光学系は前記2点の要求性能を満足させるため、
前述のように、光を拡散板7で散乱させるという手段を
用いており、光エネルギーの利用効率がきわめて悪かっ
た。その結果、検出器6で十分なS/Nが得られるよう
に光エネルギーを採り込むためには、入射光学系1の有
効径を大きくしなければならなくなり、太陽光校正光学
系の質量が増大するという問題が生じた。こうした質量
の像かは人工衛星の搭載機器によってはきわめて重大な
問題であって、解決されなければならない課題である。
【0011】この発明は、従来の太陽光校正光学系の抱
える上記の如き課題を解決せんがためになされたもので
あって、この発明の目的は、前記要求性能を満足するも
のであって、前記問題を発生しない、光エネルギーの利
用効率の高い太陽光校正光学系を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明に係る太陽光校
正光学系は要求性能の(R1)及び(R2)を満たすた
めに、入射光学系1を伝達光学系3または射出光学系2
の入射端の近傍に像側焦点を置いたコンデンサーレンズ
と、その前方に配設されたフライアイレンズから構成し
たものである。
【0013】
【作用】この発明におけるフライアイレンズを構成する
ロッドレンズはそれぞれほぼ等しい角型の開口径を有し
、太陽光をその開口面で波面分割する。そして、各ロッ
ドレンズはその焦点上に微小な太陽の二次光源を生成し
、その結果、フライアイレンズ全体として、網の目上に
分布した等輝度微小光源群を構成する。その等輝度微小
光源群より発した光束を、後方のコンデンサーレンズに
より寄せ集め、コンデンサーレンズの後方に配置された
伝達光学系3または射出光学系2の入射端上で混合する
【0014】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1はこの発明に係る太陽光校正光学系の入射光
学系である。伝達光学系3及び射出光学系2は従来と同
様であってもよく、ここでは図示しない。フライアイレ
ンズ8に入射する太陽光は、フライアイレンズ8を構成
する各ロッドレンズ9によって、ロッドレンズ9の後面
(第2面)上にあるロッドレンズ9の像側焦点上に結像
される。これらの像は新たに二次光源として後方のコン
デンサーレンズ10によって寄せ集められる。
【0015】一方、ロッドレンズ9の像側焦点はロッド
レンズ9の前面(第1面)上にあるため、ロッドレンズ
9の前面の開口の像はコンデンサーレンズ10の像側焦
点上に結ばれる。つまり、ロッドレンズ9の前面の開口
とコンデンサーレンズ10の像側焦点とは、ロッドレン
ズ及びコンデンサーレンズに関して共役である。
【0016】従って、コンデンサーレンズ10の像側焦
点上には全てのロッドレンズ9の前面開口像が重畳して
結像されることになり、その場合に伝達光学系3の入射
端STを設置すれば、全てのフライアイレンズを透過し
てきた光を一定の面積領域内に集めることができ、しか
もその一定の面積領域に向かって、光が集中する前記し
た等輝度微小光源群からなる面光源が存在するに等しく
、従来のように伝達光学系3の入射端ST近傍に拡散板
7を設置したのと同様に、一様な拡散効果が得られ、し
かも拡散板7のように光を入射側に反射するなどという
、光エネルギーの利用効率を著しく低下させるような散
乱減少がないため、きわめてエネルギー利用効率の高い
光学系となっている。以上により、(R1)の要求が満
足させることが示された。
【0017】次に、図2に示されるように各ロッドレン
ズ9によって結像された二次光源は、太陽光の入射角の
変動ψがある範囲内に限定されているかぎり、ロッドレ
ンズ9後面の開口面内に留まるように設計することが可
能である。もし、変動ψがその後面の開口面内に留まれ
ない場合には、隣のロッドレンズ内に光が進行し、輝度
の一様性が変化してしまう。一方、変動ψに対して二次
光源がロッドレンズ9の後面の開口面内に留まれるとい
う条件下においては、太陽光の入射角が変動しても伝達
光学系3の入射端での入射角度の変化はわずかなものと
なり、拡散効果の一様化にほとんど影響を与えない。
【0018】すなわち、太陽光の入射角の季節変化等に
よる変動ψが、
【0019】
【数2】
【0020】なる不等式を満たすように、ロッドレンズ
9の長さd及び有効半径rを決定すれば、前述の「変動
ψに対して二次光源がロッドレンズ9の後面の開口面内
に留まれるという条件」を満たすことが出来る。ここで
、nはロッドレンズ9の屈折率であり、有効半径rはロ
ッドレンズが円柱状を想像させるが、先にも述べた角型
のものに対しても適用できることは明かである。上式は
ロッドレンズの前面を絞りとした入射角ψの主光線に対
して屈折の式を適用すれば容易に求められる。
【0021】太陽光の二次光源がロッドレンズ9の後面
の開口面内を動いたときの伝達光学系3の入射端出の入
射角度の変化θは、fをコンデンサーレンズ8の焦点距
離としたとき、光軸近辺で、高々 θ=arctan(r/f) で与えられる。rは2.3mm程度の値であってfは一
般に数十乃至数百mmといった大きな値となるので、θ
は十分に小さい値となる。従って、光エネルギー分布の
一様性にはほとんど影響しない。つまり、別な表現をす
れば入射角度の変化θはロッドレンズ9とコンデンサー
レンズ10の合成倍率の逆数倍に変動が圧縮されてしま
い、光エネルギー分布の一様性への影響もほぼ同じ割合
で押さえ込まれる。以上により、(R2)の要求が満足
されることが示された。
【0022】尚、実施例の説明において、入射光学系1
の直後の光学系を伝達光学系3として説明を進めたが、
伝達光学系3の代わりに、射出光学系2が直後に配置さ
れてもよい。また、伝達光学系3が光ファイバーでなく
てもよい。いずれの変形例もこの発明の範囲内にある。 更に、この発明の全体を通して使用された用語「入射端
」は、伝達光学系3及び射出光学系2の光学構成によっ
て、ある時は「入射瞳」を指し、ある時は光学系内のい
わゆる「中間結像画」を指す。そして、光ファイバー等
の場合には、光ファイバーの入射端そのものを指す。 従って、その指し示すところは、伝達光学系3及び射出
光学系2のエネルギー伝送効率上の有効性によって決定
されるものであって、この発明は、それによって決定さ
れたいかなる「入射端」に対しても適用されるものであ
り、「入射端」の解釈によって制限を受けるものではな
い。
【0023】
【発明の効果】以上のようにこの発明は、少なくともフ
ライアイレンズ8と、そのフライアイレンズ8の後方に
配設されたコンデンサーレンズ10とから構成され、コ
ンデンサーレンズ10の像側焦点の近傍に、伝達光学系
3または射出光学系2の入射端を配設した入射光学系1
とすることにより、照射される光エネルギー分布は検出
器6上で一様となることが保障されるとともに、拡散板
7を用いた場合のように、光を入射側に反射するなどと
いう、光エネルギーの利用効率を著しく低下させるよう
な散乱現象がないため、きわめてエネルギー利用効率が
高く、小型・軽量な光学系が実現されている。
【0024】更に、フライアイレンズ8を構成するロッ
ドレンズ9の有効半径をrと長さdを、太陽光校正光学
系に入射する太陽光の入射角度の変動ψに対して、
【0
025】
【数3】
【0026】なる不等式を満たすように定めることによ
って、校正光学系への太陽光の入射角度が季節変化等に
よって変動したとしても検出器6上に照射される光エネ
ルギー分布の一様性にほとんど影響を与えないような光
学系を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る太陽光校正光学系の入射光学系
を示す図。
【図2】ロッドレンズにおける太陽光の入射角変動と二
次光源の振舞いを説明するための図。
【図3】従来の太陽光校正光学系の構成図。
【図4】太陽光校正光学系の運用状態を説明するための
図。
【符号の説明】
1  入射光学系 2  射出光学系 3  伝達光学系 4  ポインティングミラー 5  観測用望遠鏡 6  検出器 7  拡散板 8  フライアイレンズ 9  ロッドレンズ 10  コンデンサーレンズ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  少なくともフライアイレンズと、この
    フライアイレンズの後方に配設されたコンデンサーレン
    ズとから構成され、上記コンデンサーレンズの像側焦点
    の近傍に、伝達光学系または射出光学系の入射端を有す
    ることを特徴とする入射光学系を含んで成る太陽光校正
    光学系。
  2. 【請求項2】  フライアイレンズを構成するロッドレ
    ンズの有効半径rと長さdは、太陽光校正光学系に入射
    する太陽光の入射角度の変動ψ対して、 【数1】 なる不等式を満たすように定められることを特徴とする
    請求項1記載の太陽光校正光学系。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007003255A (ja) * 2005-06-22 2007-01-11 Koito Ind Ltd 発光状態測定装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0460427A (ja) * 1990-06-29 1992-02-26 Mitsubishi Electric Corp 放射計校正装置

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JP4641873B2 (ja) * 2005-06-22 2011-03-02 小糸工業株式会社 発光状態測定装置

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