JP2006526155A - 水素ガスを感知するための方法および装置 - Google Patents

水素ガスを感知するための方法および装置 Download PDF

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Abstract

金属または金属合金から構成されたナノワイヤまたはナノ粒子の厚みのフィルムのアレイから製造された、水素センサーおよび/またはスイッチ。上記センサーおよび/またはスイッチは、製造材料および製造方法に起因して、広範な作動温度範囲および短縮された応答時間を実証する。上記ナノワイヤまたはナノ粒子の厚みのフィルムは、水素の存在下で導電率の上昇を実証する。本発明の実施形態は、パラジウム−銀合金のナノワイヤの技術に関し、これは、(1)パラジウムナノワイヤの予測不可能な形成;(2)作動の狭小な温度範囲;および(3)水素濃度に対する感度の狭小な範囲を解消する。

Description

(関連出願への相互参照)
本発明は、米国仮特許出願第60/475,558号への優先権を主張する。
(技術分野)
本発明は、水素ガスセンサーに関し、より具体的には、金属ナノワイヤを利用する水素ガスセンサーおよびスイッチに関する。
(背景情報)
任意の燃料のように、水素は、多量のエネルギーを貯蔵し、そして水素を取り扱うことは、安全対策を必要とする。水素燃料の使用がより一般的になるにつれて、信頼のおける水素センサーに対する必要性が高まっている。水素は現在、輸送、石油化学、食品加工、マイクロチップ、および宇宙船の産業に使用されている。これらの産業の各々は、多くの用途のための信頼のおける水素センサー(例えば、製造装置、輸送タンク、および貯蔵タンクにおいて、漏出を突き止めて爆発の可能性を防止すること)を必要とする。燃料電池技術の進歩により、水素センサーについて多くの未来の用途が提供される。
いくつかの場合において、水素センサーは、緊急の装置の故障を警告するために使用され得る。変圧器および他の電気装置は、多くの場合、電圧を印加された部分の間の電気絶縁性を提供するために、絶縁油で充填されている。この絶縁油中の水素の存在は、故障または爆発の可能性を示し得る。水素センサーは、上記絶縁油の下で、および上記絶縁油のすぐ上の空気中の両方で利用され得る。従って、絶縁油を含有する装置中およびその周りの水素レベルをしっかりとモニタリングリングすることは、装置の故障を予測および防止することにおける効果的なツールであり得る。
燃料電池技術が進歩するにつれて、燃料電池は、車両用および家庭用の両方の電源としてのより多くの使用を見込む。水素は、爆発性の高い気体であり得るので、各燃料電池システムは、水素の漏出の事象を感知および警告する水素検出器を必要とする。水素検出器はまた、燃料電池の調子をモニタリングするために燃料電池の内部に配置され得る。水素センサーパッケージもまた、加工制御用の、燃料電池への供給ガスの水素濃度をモニタリングするために必要とされる。
燃料電池における水素センサーパッケージは、高い感度を必要とする。このようなセンサーパッケージは、1%未満から100%の水素にわたる広範な測定範囲を有するべきである。この測定範囲は、燃料電池技術が使用される場合およびこの燃料電池の状態に依存する。検出器は、送達システムにおける漏出をモニタリングすることにも必要とされる。輸送用および他の携帯用の用途について、周囲空気中で作動する水素検出器が、水素/空気混合物の安全性を確認するために、および水素の漏出が危険になる前にその漏出を検出するために、必要とされる。高い水素濃度レベルにおいては、酸素ポンプ作動に対する効果を潜在的に悪化させることに関連する問題が、取り組まれるべきである。最終的には、水素センサーは、周囲空気中の水素をモニタリングするのに高度に選択的でなければならない。
多くの市販されている水素センサーが存在するが、これらの大部分は、非常に高価であるか、または広範な作動温度範囲を有さないかのいずれかである。さらに、今日販売されている大部分のセンサーは、作動温度を維持するためにセンサーに備えられたヒーターを有し、携帯用の用途には所望されない高い消費電力を必要とする。
Favierらは、実証用の水素検出器を製造しており、2001年においてパラジウムナノワイヤの使用の第一人者であった。Favierらの開示を、Science,Vol.293,September 21,2001に刊行された文献にて読むことができる。この方法によって作製された水素センサーは、パラジウムナノワイヤのナノテクノロジーの化学的/機械的/電気的特徴の性質に起因して、非常に良好な特性を有する。上記水素センサーは、平行に整列した金属ナノワイヤの導電率を測定することによって作動する。水素ガスの存在下では、金属ナノワイヤの導電率が上昇する。
ナノワイヤ材料におけるαからβへの相転移は、これらのセンサーの作動機構である。ナノワイヤのパラジウムナノ結晶による水素の化学的吸収が最初に存在する。これは、格子の5〜10%程の膨張を引き起こし、最初は互いから離れていたパラジウムナノ結晶を接触させて、優れた低い抵抗のワイヤを形成する。
しかし、Favierらによって作製され、開示されたようなシステムには多くの欠点が存在する。パラジウムナノワイヤの完全な特徴付けがないことは、これらのデバイスの理解を制限した。また、Favierらの方法および装置は、階段状の導電性表面(例えば、黒鉛)への電着によって電気化学的に作製されたナノワイヤを利用する。これは、問題を与える。なぜなら、導電性表面上に作製されたナノワイヤは、そのナノワイヤアレイの導電性がより容易に測定され得るように、その導電性表面から移動されて離されることが必要であるからである。ナノワイヤのこのような移動は、高温にて感知する水素の分解を引き起こす。要約すると、黒鉛の段の端部上に作製された純粋なパラジウムナノワイヤに関する主な問題は:(1)パラジウムナノワイヤの予測不可能な形成;(2)作動の狭小な温度範囲;および(3)水素濃度に対する感度の狭小な範囲である。
結果として、当該分野において、(1)パラジウムナノワイヤおよびパラジウム合金ナノワイヤを予測可能に形成すること;(2)センサーの温度作動範囲を増大すること;および(3)測定され得る水素濃度の範囲を増大させることについて必要性がある。
(発明の要旨)
本発明は、水素ガスを感知するための、向上した方法および装置に関する。実施形態は、シリコン基板上に絶縁層を堆積させる工程;上記絶縁層の上面に金属層を堆積させる工程、および上記金属層の側壁に複数のナノ粒子を堆積させる工程を包含する。1つの実施形態において、金属層が取り除かれ得る。
本発明の別の実施形態は、基板上に堆積されて1つ以上のナノ粒子経路を形成するナノ粒子を備える水素感知装置に関し、このナノ粒子経路は、水素の存在下で電気を通し、ここで、上記ナノ粒子は、上記基板の近くに形成され、そして導電性基板から移動されて離されない。
本発明の別の実施形態は、水素を感知する方法に関し、この方法は、以下の工程を包含する:材料の第1の層を材料の第2の層上に堆積させる工程、金属層を上記材料の第2の層上に堆積させる工程、材料の第3の層を上記金属層上に堆積させる工程、上記金属層の一部を取り除いてこの金属層の1つ以上の側壁を露出する工程、上記金属層の側壁にナノ粒子を堆積させる工程、および上記ナノ粒子が水素に曝露された場合に上記ナノ粒子の抵抗の変化を感知する工程。
本発明の実施形態は、パラジウム−銀合金のナノワイヤの技術に関し、これは、(1)パラジウムナノワイヤの予測不可能な形成;(2)作動の狭小な温度範囲;および(3)水素濃度に対する感度の狭小な範囲を解消する。本発明の基本は、電気化学的に、パターン化された表面上に、移動プロセスの必要性なしに、パラジウムのナノ粒子またはナノワイヤ、およびパラジウム−銀合金のナノ粒子またはナノワイヤを同時堆積する能力である。
本発明は、水素ガスの存在下で、平行に整列した多くの金属ナノワイヤの抵抗を測定することによって作動する。本発明はまた、水素の存在下で、フィルムとして堆積したナノワイヤの抵抗を測定することによって作動する。ナノワイヤまたはナノフィルムは、水素の非存在下でオープンスイッチとして機能するギャップを備える。水素の存在下では、上記ギャップは、クローズドスイッチのように閉じて挙動する。従って、パラジウムまたはパラジウム合金のナノワイヤまたはナノフィルムのアレイにわたる抵抗は、水素の非存在下では高く、そして水素の存在下では低い。
上記ナノワイヤまたはナノフィルムは、代表的に、パラジウムおよびその合金から構成される。当業者は、安定な金属水素化物相を有する任意の他の金属または金属合金(例えば、銅、金、ニッケル、白金など)もまた使用され得ると認識する。本明細書中で使用される用語「経路」は、ナノワイヤ、ナノフィルム、および/または任意の潜在的に導電性の経路を包含することを意味する。
先行技術において、ナノワイヤは、黒鉛のような階段状の表面上への電着によって電気化学的に作製された。次いで、このナノワイヤは上記黒鉛から離されて、ポリスチレンフィルムまたはシアノアクリレートフィルムに移動された。この移動プロセスは、水素センサーについての感度および作動範囲の減少をもたらした。製造の間にナノワイヤを移動させる必要性を省くことによって、水素センサーの感度および作動範囲を増大させることが、本発明の目的である。
本発明およびその利点のより完全な理解のために、添付の図面と組み合わされて以下の説明に対して、言及がここでなされる。
(詳細な説明)
以下の記載において、本発明の完全な理解を提供するために、多くの特定の詳細(例えば、特定の合金の組み合わせなど)が示される。しかし、本発明は、このような特定の詳細がなくても実施され得ることは、当業者に明らかである。このような詳細と同程度に省略された、いくらかの詳細は、本発明の完全な理解を得るために必要ではなく、関連技術の当業者の技術内である。
ここで、図面に対して言及がなされ、ここでは、示された要素は実物大に示される必要はなく、そして同様または類似の要素は、いくつかの観点から、同じ参照の数字によって指定される。
本発明は、水素ガスを感知するための向上した装置および方法に関する。パラジウムナノワイヤへの銀の付加は、センサーの操作温度範囲を有意に増大させる。パラジウムと一緒にする銀の取り込みもまた、種々のレベルの水素濃度に対するナノワイヤの感度の問題に取り込む。純粋なパラジウムのナノワイヤは、代表的に、広範囲の水素濃度にわたる検出を可能にするような十分な感度を提供しない。室温において、純粋なパラジウムナノワイヤは、約2%の水素の濃度を検出し得る。より高い温度においては、純粋なパラジウムナノワイヤは、検出のためにより高い水素濃度を必要とする。しかし、パラジウムナノワイヤへの銀の取り込みは、水素センサーを作製するのに適切な、検出のより大きな範囲を提供する。
1つの実施形態のための基板は、ポリマー、ガラス、ケイ素、または窒化ケイ素のような任意の絶縁表面であり得る。チタンの薄層が、上記基板上に堆積されて、電気メッキ用の導電性領域を形成する。フォトレジストパターンは、リソグラフィーによって上記基板の上に作製される。次いで、パラジウムまたはパラジウム−銀合金のナノ粒子/ナノワイヤは、露出されたチタン表面上に電気メッキされる。このパラジウム電気メッキ浴は、水中に1mM PdCl、0.1M HClを含む。このパラジウム銀電気メッキ浴は、脱イオン水中に、0.8mM PdCl、0.2mM AgNO、0.1M HCl、0.1M NaNO、および2M NaClを含む。上記ナノ粒子/ナノワイヤは、SCEに対して−50mVで、600秒間、二分の一の大きさの過電圧パルス(SCEに対して−500mV)を使用して堆積される。図1は、100nm直径を有するナノ粒子から構成されるナノ粒子の薄いフィルムの像を示す。図2は、側壁技術によって作製された300nmのパラジウムナノワイヤの像を示す。
図3および図4は、長時間にわたって変動する水素濃度に対する、70℃でのパラジウム−銀合金水素センサーの応答を示す。ここで留意すべきことは、上記デバイスは、水素が存在しない場合は基本的にオフであり、そして上記デバイスにおけるパラジウム合金−ナノ結晶は、非常に高い抵抗を有する「開回路」として作動することである。上記デバイスが水素に曝露される場合、上記デバイスにおけるパラジウム合金−ナノ結晶は、格子の膨張によって互いに接触する。これは、上記ワイヤ中の任意のナノギャップを閉鎖させ(オン状態)、そして上記ナノワイヤは、非常に低い抵抗を有する「短路回路」として挙動する。上記センサーは、水素の非存在下では基本的に電力を必要としないという、非常に望ましい特徴を有する。上記センサーは、水素の非存在下では開回路のように作動し、そして警告状態が発生した場合に少量の電力を引き出すだけである。これは、水素の存在下ではオフ、および水素が存在する場合だけオンという、良好な水素検出器についての理想的な状態である。
図5aを参照すると、水素センサーを作製する特定の実施形態は、1000Åのチタンの層302を、ポリイミド(polymide)フィルム300(例えば、Kapton)上に乾固させる工程を包含する。当業者は、任意の絶縁材料(例えば、ガラスまたはケイ素)が、Kaptonと置き換えられ得ると認識する。次に、フォトレジスト(示さず)が、周知の様式でチタン層302上にパターン化される。次いで、パラジウム−銀合金のナノ粒子の層304が、上記表面上に電気メッキされる。上記デバイスは、空気中で2時間、500℃に加熱され、上記チタン層を酸化する。図5bは、この実施形態の100℃での試験結果を表す。この試験において、本実施形態の例示的なセンサーは、3サイクルにわたって、0.5%、1.5%、および2%の水素濃度で試験された。図5cは、120℃、1%水素濃度での試験結果を表す。図5cは、上記センサーが、5サイクルの試験後に性能低下しなかったことを例示する。
本発明の別の実施形態は、図6aに概略的に示される。この実施形態において、5000ÅのSiNxの層602が、シリコン基板600上に堆積される。次いで、1000Åの厚さのチタンの層604が、層602上に堆積される。リソグラフィーを使用して、パターン(示さず)が上記基板上に作製される。パラジウム−銀ナノ粒子の薄いフィルム606が、層604に電気メッキされる。本実施形態の一例において、パラジウム−銀合金を、300μAで1秒間、および20μAで600秒間電気メッキした。次に、チタン604を酸化して、TiOを形成した。一例において、上記チタンを500℃の空気に一晩にわたって曝露させた。チタンの酸化の後、パラジウム−銀の別の層608を、層606に堆積させる。一例において、パラジウム−銀を、300μAで1秒間、および20μAで200秒間電気メッキした。
図6b〜6dは、図6aに示したような例示的な実施形態を試験することによって実施された結果を例示する。図6bは、室温で実施された試験結果を例示する。このデバイスを、最初に、室温で、0.5%〜4%の範囲の水素濃度で試験した。適用した電圧は0.1Vであった。電流は、水素が存在しない場合は約3E−6Aであった。この電流は、0.5%の水素では7E−6Aに、および1%の水素では1E−5Aに上昇した。この応答は、3%の水素濃度あたりで、1.2E−5Aの電流(オフ状態における電流の約400%)で、ゆっくりと飽和状態になった。
図6cは、図6aに示したような例示的な実施形態について70℃で実施された試験結果を例示する。120℃において、上記センサーは水素に対して応答しなかった。図6cに示される結果は、温度を120℃から70℃にゆっくりと低下させた後に達成された。図6cは、上記センサーが、温度が120℃に上昇された場合は基本的に非作動性であるが、上記センサーは温度が70℃に低下された場合はその作動を回復することを例示する。
図6dは、図6aに示した実施形態についての、上記デバイスを70℃から室温に冷却した後の試験結果を例示する。このデバイスは、室温での以前の試験(図6bに例示した試験)と類似の大きさで、水素に対して応答した。オフ状態では、このデバイスは、約1.5E−6Aの電流を有した。オン状態では、電流は4%の水素で約7E−6Aであった。この結果は、オフ状態とオン状態との間の、約400%の大きさの変化を示した。高温試験の前後のオフ状態の電流の差異は、いくらかの性能低下を示すかもしれないが、抵抗の相対的な変化(400%)は、ほぼ同じだった。
図6aに示した実施形態は、移動方法を使用せずに水素センサーを作製するための方法を提供する。しかし、Kaptonを使用するのとは異なって、試験したデバイスは、120℃では作動しなかった。実際に、センサーの感度は、温度が上昇するにつれて低下した。それにも拘らず、上記センサーは、より安定でノイズの小さい応答曲線をともなって、室温で良好な感度を示した。
本発明の別の実施形態は、図7aに概略的に示される。図7aは、5000ÅのSiNxで堆積されたシリコン基板700を示し、これは、層702を形成する。次に、200Åのチタンが堆積され、層704を形成する。パラジウム−銀の層706を、チタン層704に対して電気メッキする。本実施形態の一例において、パラジウム−銀を、300μAで1秒間、および20μAで600秒間電気メッキした。本実施形態の一例の試験結果を、図7bに例示する。図7bにおける結果は、室温で達成された。120℃で実施した第2の試験は、図7cに示される結果をもたらした。120℃においては、オフ状態とオン状態との間の変化はあまり大きくなかったが、この実施形態に由来するデバイスは、室温および120℃の両方で、0.5%の濃度の水素を検出し得た。
本発明の別の実施形態は、図8a〜8eに概略的に示される。この実施形態において、SiOがシリコン基板800上に堆積され、5000ÅのSiOの層802を形成する。当業者は、SiNxまたは他の適切な材料が、SiOと置き換えられ得ると認識する。200Å厚さのチタンが堆積され、層804を形成する。次に、フォトレジスト806が上記基板上に堆積され、図8bに示されるようなアセンブリを実質的に維持しながらフォトリソグラフィーによってパターン化され、ここで層804は2つの側壁を有する。次いで、パラジウム−銀合金から作製されたナノワイヤ808が、チタン804の側壁に電気メッキされる。本実施形態の一例において、パラジウム−銀を、300μAで1秒間、および20μAで600秒間で、側壁メッキ技術を使用して、電気メッキした。上記金属の側壁は、電解槽に曝露された唯一の部分であるので、パラジウム−銀は、側壁だけに堆積され、そして金属ラインの端部にナノワイヤを形成する。次に、残りのチタン804を、エッチングして取り除き、アセンブリを図8cに示すようにする。あるいは、このチタン804は、高温で酸化され得るか、または上記基板上に残され得る。上記センサーは、上記金属層を取り除くことなく機能するが、低いS/N比を有する。上記金属層を取り除くと、より大きなS/N比を提供する。
図8(c)で示されるような実施形態についての、高温での操作の側壁メッキ技術は、以下のように達成され得る:上記基板は、照合電極として飽和状態のカロメル電極(SCE)、および対電極として白金ワイヤを備える3つの電極のメッキシステムにおいて、作用電極として使用され得る。従来の電気化学的な堆積/メッキを使用して、上記3つの電極は、水中の、2.5mMのPdCl、0.5mMのAgNO、0.05MのNaNO、0.05MのHCl、および2M(100mL中20g)のNaClから構成されるパラジウム銀合金のメッキ溶液の浴溶液に浸漬され得る。標準的な電気化学的プログラム(すなわち、クロノポテンショメトリー)が、このプロセスのために使用され得る。基板上のナノワイヤの形成のための電気化学的メッキ条件は、以下の通りであり得る:純粋なパラジウムメッキ浴を使用して、−300μAを10秒間適用し、次いで、−20μAを450秒間適用する。電気メッキの後、上記基板はアセトン中に浸漬され、続いて、IPAおよび水に浸漬されて、上記基板上のフォトレジストを取り除き得る。
図8(c)に示されるような実施形態についての、室温での操作の側壁メッキ技術は、以下のように達成され得る:上記基板は、照合電極として飽和状態のカロメル電極(SCE)を、および対電極として白金ワイヤを備える3つの電極のメッキシステムにおいて、作用電極として使用され得る。従来の電気化学的な堆積/メッキを使用して、上記3つの電極は、水中の、1mMのPdClおよび0.1MのHClから構成される純粋なパラジウムのメッキ浴に浸漬され得る。標準的な電気化学的プログラム(すなわち、クロノポテンショメトリー)が、このプロセスのために使用され得る。基板上のナノワイヤの形成のために、電気化学的メッキ条件は、以下の通りであり得る:純粋なパラジウムメッキ浴を使用して、−300μAを10秒間適用し、次いで、−20μAを450秒間適用する。電気メッキの後、上記基板はアセトン中に浸漬され、続いて、IPAおよび水に浸漬されて、上記基板上のフォトレジストを取り除き得る。
図8dは、フォトリソグラフィーを使用して基板をパターン化して、複数のナノワイヤ808を、チタンストリップ804の側壁に電気メッキすることによって作製された実施形態を示す。図8(d)は、8(a)〜8(c)で概略されたものと類似の様式で作製された;しかし、図8(d)は、アレイに整列した複数のナノワイヤを示す。水素センサーは、導線をナノワイヤのアレイの端部に連結することによって利用され、この導線は、ナノワイヤを平行に連結する。1つの実施形態において、銀ペーストがナノワイヤのアレイの端部に適用され、そして別々のワイヤが、その銀ペーストに各端部で連結される。次いで、電圧が、平行のナノワイヤにわたって適用され、そしてその結果生じた電流が測定されて、水素が存在するかどうかを決定する。パラジウム−銀合金ナノワイヤを使用すると、上記電流は、水素の非存在下でよりも、水素の存在下でより大きい。
図8dに記載されるような特定の実施形態は、以下のように製造され得る:Eビーム蒸発装置を使用して、5000ÅのSiO(項目802)が、4インチのシリコンウエハ(項目800)上に堆積され、続いて、200Åのチタンの層(項目804)が堆積される。次いで、この基板を、30秒間、700RPMで、フォトレジストヘキサメチレンジシラン(HMDS)でコーティングし、続いて、ポジティブフォトレジストを、90秒間、3000RPMでコーティングする。次いで、この基板を、手製のH−センサーの5mmラインマスク(示さず)を使用して、25秒間UV下にさらに曝露し、そしてさらに、希釈したフォトレジスト現像液によって40秒間現像する。次いで、この基板を、水で30分間リンスし、ブロードライヤーを使用して乾燥させ、そしてオーブン中で10分間、120℃で加熱する。次いで、フォトレジストで覆われなかったチタン層を、チタンエッチャントによってエッチングして取り除き、基板の全体にチタン層の側壁を露出する。このパターンを、センサーパターンの適切な整列の後に、手製のマスク(示さず)を使用して、25秒間UV光下に曝露する。次いで、この基板を、希釈した400K現象液で40秒間現像する。次いで、この基板を、水で30分間リンスし、ブロードライヤーを使用して乾燥させ、そしてオーブン中で10分間、120℃で加熱する。
次いで、側壁メッキ技術を使用して、ナノ粒子808を上記基板上に電気メッキする。電気メッキ後、上記基板をアセトン中に浸漬し、続いて、IPAおよび水に浸漬して、上記基板からフォトレジストを取り除き得る。1つの実施形態において、ナノワイヤ808およびチタン804を802から取り外すことなく、ナノワイヤ808をチタン804から離す。
図8eは、図8cに示したような実施形態の一例の試験からの結果を示す。この試験を、室温で始めた。この温度を、103℃に上げ、次いで136℃に上げ、そして次いで178℃に上げた。温度が上昇するにつれて、電流は、SiNxと比較して、パラジウム−銀の大きな熱膨張係数に起因して増大した。パラジウム−銀ナノワイヤ808は、上記基板よりもより速く膨張し、そして抵抗は低下した。103℃の試験チャンバを使用して、上記センサーを、0.25%、1.0%および4.0%の水素濃度で試験した。図8eが示すように、このセンサーは、各濃度レベルに応答した。このデバイスは、178℃でさえも機能的であった。
図9a〜図9bは、本発明の別の実施形態を示す。図9a〜図9bの実施形態は、本明細書中に記載された他の実施形態に典型的な応答曲線を作製したが、図9a〜図9bの実施形態は、周囲空気および油(例えば、変圧器油)の両方の下で作動可能である水素センサーを製造するのに適切である。
図9a〜図9bの実施形態は、以下のようにフォトリソグラフィーを使用して製造され得る:最初に、Eビーム蒸発装置を使用して、窒化ケイ素の5000Åの層912を、4インチのシリコンウエハ900上に堆積し、続いて、200Åのチタンの層902を堆積する。次いで、この基板を、30秒間、700RPMで、フォトレジストヘキサメチレンジシラン(HMDS)でコーティングし、続いて、ポジティブフォトレジストを、90秒間、3000RPMでコーティングする。次いで、この基板を、手製のH−センサーの5mmラインマスク(示さず)を使用して、25秒間UV光下に曝露し、そしてさらに、希釈したフォトレジスト現像液によって40秒間現像した。次いで、この基板を、水で30分間リンスし、ブロードライヤーを使用して乾燥させ、そしてオーブン中で10分間、120℃で加熱する。100Åのクロムの層904および300Åの金(項目906)を、Eビームを使用して堆積させる。1つの実施形態において、基板の抵抗は、10オーム未満であると測定され得る。このフォトレジストを、適切なストリッパーを使用して持ち上げて離し、続いて、オーブン中で30分間90℃で加熱し、続いて乾燥させる。
次いで、この基板を、30秒間、700RPMで、フォトレジスト908でコーティングし、続いて、90秒間、3000RPMで、ポジティブフォトレジストでコーティングする。このパターンを、センサーパターンの適切な整列の後に、手製のマスク(示さず)を使用して、25秒間UV下に曝露する。次いで、この基板を、希釈した現象液で40秒間現像する。次いで、この基板を、水で30分間リンスし、ブロードライヤーを使用して乾燥させ、そしてオーブン中で10分間、120℃で加熱する。次いで、メッキ技術を使用して、ナノ粒子910を上記基板上に電気メッキする。ここで注意することは、1つの実施形態において、側壁メッキ技術は使用されないことである。なぜなら、チタンはこのプロセスではエッチングされないからである。電気メッキ後、上記基板をアセトン中に浸漬し、続いて、IPAおよび水に浸漬して、上記基板上のフォトレジストを取り除いた。
図10a〜10dは、本発明についての種々の用途を示す。図10aは、車両の内部および燃料電池の内部の水素レベルをモニタリングリングする水素センサーを利用することについての適用を示す。車両キャビン中のセンサーは、危険な水素濃度が、運転手および乗客にとって安全でない状況をつくらないことを確認するためにモニタリングする。燃料電池内のセンサーは、この燃料電池の適切な作動および状態を確認する。図10bは、燃料電池の状態をモニタリングするために使用される燃料電池を表す。この水素センサーは、吸気口の適切な水素レベルを確認するために、および排気ガス中の水素レベルをモニタリングするために配置される。
同様に、図10dは、燃料電池を利用する家庭内およびその周囲の水素濃度をモニタリングリングするための適用を示す。家庭内の水素センサーは、危険な水素レベルをモニタリングし、爆発性の水素蓄積を防ぐことによって現住者を保護する。
図10cは、電力設備における水素センサーについてのさらに別の適用を示す。以前に考察したように、電力変圧器およびスイッチ装置は、多くの場合、絶縁油で充填される。この絶縁油の分解および汚染は、漏電を引き起こし得、そして危険な爆発および火事を生じ得る。いくつかの潜在的な故障は、変圧器の油中の水素および他の気体の蓄積をモニタリングリングすることによって予測され得る。図10cは、変圧器の絶縁油の下に配置された水素センサーを示す。別のセンサーが、水素レベルをモニタリングリングするために、この油の上に配置され得る。当業者は、水素センサーはまた、水素の蓄積が危険な状態の信号を送る任意の適用に配置され得ると認識する。
本発明は、水素感知の適用のための活動的な要素として、パラジウム−銀合金の薄いフィルム(またはアレイ、ネットワーク)およびナノ/メソワイヤを使用することに関する。本発明の実施形態により、窒素中の0.25%の水素を検出し得る。本発明において、金属(例えば、チタン)の非常に薄い層を作製することによってか、またはチタン層をTiOに酸化することによって、および導電性が低いチタン表面またはTiO表面に、導電性のパラジウムまたはパラジウム−銀のナノ構造を作製することによって、高温にてセンサーの性能低下を引き起こす移動プロセスの必要性がない。試験結果は、チタン(またはTiO)上のパラジウムまたはパラジウム−銀のナノ粒子(ナノワイヤ)は、非常に高い温度(178℃)にて、非常に低い水素濃度(0.25%)を検出するために使用され得ると示す。
本発明およびその利点が詳細に記載されたが、種々の変化、置換および変更が、添付の特許請求の範囲によって定義されたような本発明の精神および範囲を逸脱することなく、本明細書中でなされ得ると理解されるべきである。
図1は、ナノ粒子の薄いフィルムの走査型電子顕微鏡(SEM)からの像である。 図2は、側壁電気メッキ技術によって作製された300nmのパラジウムナノワイヤのSEM像である。 図3は、70℃における、変動する水素濃度での水素センサー応答のグラフである。 図4は、70℃における、変動する水素濃度での水素センサー応答のグラフである。 図5aは、本発明の1つの実施形態の略図である。 100℃における、0.5%、1.5%、および2%の水素濃度での、水素センサー応答のグラフである。 図5cは、1%の水素濃度、120℃での、5サイクルの試験の間の水素センサー応答のグラフである。 図6aは、本発明の1つの実施形態の略図である。 図6bは、室温における、示されるように変動する水素レベルでの、図6aからの水素センサーについての応答のグラフである。 図6cは、70℃における、示されるように変動する水素レベルでの、図6aからの水素センサーについての応答のグラフである。 図6dは、室温における、示されるように変動する水素レベルでの、図6aからの水素センサーについての応答のグラフである。 図7aは、本発明の別の実施形態の略図である。 図7bは、室温における、示されるように変動する水素レベルでの、図7aからの水素センサーについての応答のグラフである。 図7cは、120℃における、示されるように変動する水素レベルでの、図7aからの水素センサーについての応答のグラフである。 図8aは、本発明の実施形態の製造の初期段階の略図である。 図8bは、本発明の実施形態の製造の中間段階の略図である。 図8cは、本発明の実施形態の製造の最終段階の略図である。 図8dは、ナノワイヤのアレイの中に構成された、本発明の実施形態の略図である。 図8eは、変動する水素レベル、ならびに103℃、136℃および178℃で試験された、本発明の実施形態からの試験結果のグラフである。 図9は、発明の実施形態の略図である。 図10aは、自動車の用途に使用される水素センサーの図である。 図10bは、燃料電池内の水素センサーの図である。 図10cは、変圧器の用途に使用される水素センサーの図である。 図10dは、家庭の用途に使用される水素センサーの図である。

Claims (12)

  1. 水素を感知するための装置であって、該装置は:
    基板であって、ここで、複数のナノ粒子が該基板上に堆積して、少なくとも1つのナノ粒子経路を形成する、基板を備え、ここで、該少なくとも1つのナノ粒子経路は、水素の存在下では導電率の上昇を、および水素の非存在下では導電率の低下を示し、そして該少なくとも1つのナノ粒子経路は、側壁メッキ技術を使用して該基板の近くに形成されており、該少なくとも1つのナノ粒子経路の導電率は、該基板の非導電性の性質に起因して、該基板の導電率を超えて容易に識別可能である、
    装置。
  2. 前記少なくとも1つのナノ粒子経路が、少なくとも1つのナノワイヤを形成する、請求項1に記載の装置。
  3. 前記複数のナノ粒子が、金属層の少なくとも1つの側壁に堆積され;
    ここで、該金属層は、前記複数のナノ粒子を堆積する間に前記基板上に存在し、そして該金属層は、該複数のナノ粒子を堆積した後に該基板から取り除かれる、
    請求項1に記載の装置。
  4. 前記少なくとも1つのナノ粒子経路が、PdおよびAgの組み合わせから構成される、請求項1に記載の装置。
  5. 前記基板が、SiNxから構成される、請求項1に記載の装置。
  6. 前記基板が、SiOから構成される、請求項1に記載の装置。
  7. 水素を感知するための装置であって、該装置は、以下:
    上面を有する、半導体基板;
    該半導体基板の上面に堆積したTiOの層であって、ここで該TiOの層は、上面を有する、TiOの層;および
    該TiOの層の該上面に堆積したナノ粒子であって、ここで該ナノ粒子の経路は、上面を有し、そして該ナノ粒子経路は、水素の存在下で導電率の上昇を示す、ナノ粒子、
    を備える、装置。
  8. 前記TiOの層が、上面を有するTiの層を酸化することによって形成され、そして該Tiの層は、前記ナノ粒子経路が該Tiの層の上面に堆積された後に酸化される、請求項7に記載の装置。
  9. 請求項7に記載の装置であって、該装置は、前記TiOの層が前記Tiの層を酸化することによって形成された後に、前記ナノ粒子の上面に堆積される第2のナノ粒子経路を備える、装置。
  10. 水素を感知するための装置であって、該装置は、以下:
    上面を有する、半導体基板;
    該半導体基板の上面に堆積したSiNxの層であって、ここで該SiNxの層は、上面を有する、SiNxの層;
    該SiNxの層の該上面に堆積したTi層であって、ここで該Ti層は、少なくとも1つの側壁を有する、Ti層;および
    該SiNxの層の該上面に堆積した複数のナノ粒子であって、ここで該複数のナノ粒子は、水素の非存在下でよりも水素の存在下でより高い導電率を有するナノ粒子経路を形成する、ナノ粒子、
    を備える、装置。
  11. 前記複数のナノ粒子が、該複数のナノ粒子を前記Ti層の少なくとも1つの側壁に側壁メッキすることによって、前記SiNxの層上に堆積される、請求項10に記載の装置。
  12. 水素を感知するための装置であって、該装置は、以下:
    上面を有する、半導体基板;
    該半導体基板の上面に堆積された第1の金属層であって、ここで該第1の金属層は、上面を有する、第1の金属層;
    該第1の金属層の上面に堆積した第2の金属層であって、該第2の金属層は、該第1の金属層の上面の覆われた領域、および該第1の金属層の上面の露出した領域を作製し、そして該第2の金属層は、少なくとも1つの側壁を有する、第2の金属層;ならびに
    該第2の金属層の該少なくとも1つの側壁に堆積した複数のナノ粒子、および該第1の金属層の露出した領域に堆積した複数のナノ粒子であって、ここで該複数のナノ粒子は、少なくとも1つのナノ粒子経路を形成し、該ナノ粒子経路は、水素の存在下で上昇した導電率を示す、ナノ粒子、
    を備える、装置。
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