JP2006521278A - ナノクリスタルを生成するためのプロセスおよびそれによって生成されるナノクリスタル - Google Patents
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- 239000002159 nanocrystal Substances 0.000 title claims abstract description 180
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 96
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims abstract description 85
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 130
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 125
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 41
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 41
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 claims abstract description 36
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims abstract description 29
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 claims abstract description 10
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 31
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 20
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 17
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N trioctylphosphane Chemical compound CCCCCCCCP(CCCCCCCC)CCCCCCCC RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 241001455273 Tetrapoda Species 0.000 claims description 10
- -1 alkyl carboxylic acid Chemical class 0.000 claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- ZMBHCYHQLYEYDV-UHFFFAOYSA-N trioctylphosphine oxide Chemical compound CCCCCCCCP(=O)(CCCCCCCC)CCCCCCCC ZMBHCYHQLYEYDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- ABLZXFCXXLZCGV-UHFFFAOYSA-N Phosphorous acid Chemical compound OP(O)=O ABLZXFCXXLZCGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 claims description 7
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002082 metal nanoparticle Substances 0.000 claims description 6
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910020366 ClO 4 Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 5
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 4
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 150000003973 alkyl amines Chemical class 0.000 claims description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 4
- 125000001188 haloalkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- GJWAEWLHSDGBGG-UHFFFAOYSA-N hexylphosphonic acid Chemical compound CCCCCCP(O)(O)=O GJWAEWLHSDGBGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- KLRHPHDUDFIRKB-UHFFFAOYSA-M indium(i) bromide Chemical compound [Br-].[In+] KLRHPHDUDFIRKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 4
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 4
- HVCIDAMVJRAKAM-UHFFFAOYSA-N 1-di(tetradecyl)phosphoryltetradecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCP(=O)(CCCCCCCCCCCCCC)CCCCCCCCCCCCCC HVCIDAMVJRAKAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 claims description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 3
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000003009 phosphonic acids Chemical class 0.000 claims description 3
- 239000013638 trimer Substances 0.000 claims description 3
- BRLCBJSJAACAFG-UHFFFAOYSA-N 1-didodecylphosphoryldodecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCP(=O)(CCCCCCCCCCCC)CCCCCCCCCCCC BRLCBJSJAACAFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- GBPPJPKBRDHVOJ-UHFFFAOYSA-N 1-dihexadecylphosphorylhexadecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCP(=O)(CCCCCCCCCCCCCCCC)CCCCCCCCCCCCCCCC GBPPJPKBRDHVOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- PPDZLUVUQQGIOJ-UHFFFAOYSA-N 1-dihexylphosphorylhexane Chemical compound CCCCCCP(=O)(CCCCCC)CCCCCC PPDZLUVUQQGIOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XHOHEJRYAPSRPZ-UHFFFAOYSA-N 1-dioctadecylphosphoryloctadecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCP(=O)(CCCCCCCCCCCCCCCCCC)CCCCCCCCCCCCCCCCCC XHOHEJRYAPSRPZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910016569 AlF 3 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910017119 AlPO Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910004573 CdF 2 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910005269 GaF 3 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910021617 Indium monochloride Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910007709 ZnTe Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 claims description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 2
- XOYLJNJLGBYDTH-UHFFFAOYSA-M chlorogallium Chemical compound [Ga]Cl XOYLJNJLGBYDTH-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- DZQISOJKASMITI-UHFFFAOYSA-N decyl-dioxido-oxo-$l^{5}-phosphane;hydron Chemical compound CCCCCCCCCCP(O)(O)=O DZQISOJKASMITI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- SVMUEEINWGBIPD-UHFFFAOYSA-N dodecylphosphonic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCP(O)(O)=O SVMUEEINWGBIPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 2
- APHGZSBLRQFRCA-UHFFFAOYSA-M indium(1+);chloride Chemical compound [In]Cl APHGZSBLRQFRCA-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- XTAZYLNFDRKIHJ-UHFFFAOYSA-N n,n-dioctyloctan-1-amine Chemical group CCCCCCCCN(CCCCCCCC)CCCCCCCC XTAZYLNFDRKIHJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- NJGCRMAPOWGWMW-UHFFFAOYSA-N octylphosphonic acid Chemical compound CCCCCCCCP(O)(O)=O NJGCRMAPOWGWMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- BASAKOUVGYHNRZ-UHFFFAOYSA-N oxido(tridecyl)phosphanium Chemical compound C(CCCCCCCCCCCC)[PH2]=O BASAKOUVGYHNRZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- AUONHKJOIZSQGR-UHFFFAOYSA-N oxophosphane Chemical compound P=O AUONHKJOIZSQGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- BNOPYGRAXZULSM-UHFFFAOYSA-N tri(tetradecyl)phosphane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCP(CCCCCCCCCCCCCC)CCCCCCCCCCCCCC BNOPYGRAXZULSM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- MOSFSEPBWRXKJZ-UHFFFAOYSA-N tridecylphosphane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCP MOSFSEPBWRXKJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- YHLFKRHUIBDYJG-UHFFFAOYSA-N trihexadecylphosphane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCP(CCCCCCCCCCCCCCCC)CCCCCCCCCCCCCCCC YHLFKRHUIBDYJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- FPZZZGJWXOHLDJ-UHFFFAOYSA-N trihexylphosphane Chemical compound CCCCCCP(CCCCCC)CCCCCC FPZZZGJWXOHLDJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- KJFAJLYXKTVJDA-UHFFFAOYSA-N trioctadecylphosphane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCP(CCCCCCCCCCCCCCCCCC)CCCCCCCCCCCCCCCCCC KJFAJLYXKTVJDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 6
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 claims 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims 3
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 1
- 229910005191 Ga 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims 1
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 claims 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 claims 1
- CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N cadmium oxide Inorganic materials [Cd]=O CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000000539 dimer Substances 0.000 claims 1
- ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-N phosphinic acid Chemical compound O[PH2]=O ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- UEZVMMHDMIWARA-UHFFFAOYSA-M phosphonate Chemical compound [O-]P(=O)=O UEZVMMHDMIWARA-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 claims 1
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 1
- BVQJQTMSTANITJ-UHFFFAOYSA-N tetradecylphosphonic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCP(O)(O)=O BVQJQTMSTANITJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- GRAKJTASWCEOQI-UHFFFAOYSA-N tridodecylphosphane Chemical compound CCCCCCCCCCCCP(CCCCCCCCCCCC)CCCCCCCCCCCC GRAKJTASWCEOQI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000012010 growth Effects 0.000 description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 10
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 10
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 10
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 9
- 239000004054 semiconductor nanocrystal Substances 0.000 description 9
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 8
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 8
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 8
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 8
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 5
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 5
- 238000004627 transmission electron microscopy Methods 0.000 description 5
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 4
- 229910021476 group 6 element Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- FTMKAMVLFVRZQX-UHFFFAOYSA-N octadecylphosphonic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCP(O)(O)=O FTMKAMVLFVRZQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 229910052699 polonium Inorganic materials 0.000 description 3
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003917 TEM image Methods 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003698 anagen phase Effects 0.000 description 2
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002798 polar solvent Substances 0.000 description 2
- 229920000553 poly(phenylenevinylene) Polymers 0.000 description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000002424 x-ray crystallography Methods 0.000 description 2
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XRHFHISEKQBHIN-UHFFFAOYSA-N [Se].P Chemical compound [Se].P XRHFHISEKQBHIN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000304 alkynyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004104 aryloxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001661 cadmium Chemical class 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007942 carboxylates Chemical class 0.000 description 1
- 238000005119 centrifugation Methods 0.000 description 1
- 238000007385 chemical modification Methods 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000000412 dendrimer Substances 0.000 description 1
- 229920000736 dendritic polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 238000003113 dilution method Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 125000005678 ethenylene group Chemical group [H]C([*:1])=C([H])[*:2] 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021478 group 5 element Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 1
- 238000002173 high-resolution transmission electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000000126 in silico method Methods 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 229910001463 metal phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MPQXHAGKBWFSNV-UHFFFAOYSA-N oxidophosphanium Chemical class [PH3]=O MPQXHAGKBWFSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005007 perfluorooctyl group Chemical group FC(C(C(C(C(C(C(C(F)(F)F)(F)F)(F)F)(F)F)(F)F)(F)F)(F)F)(F)* 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 150000003008 phosphonic acid esters Chemical class 0.000 description 1
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002098 polyfluorene Polymers 0.000 description 1
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 1
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229930195734 saturated hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000000371 solid-state nuclear magnetic resonance spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 150000003871 sulfonates Chemical class 0.000 description 1
- 150000003460 sulfonic acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000003467 sulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000005208 trialkylammonium group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005259 triarylamine group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000026 trimethylsilyl group Chemical group [H]C([H])([H])[Si]([*])(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
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Abstract
ナノクリスタルを生成するためのプロセスおよびこのプロセスによって生成されたナノクリスタル。このプロセスは、金属前駆体を、配位溶媒、および必要に応じて界面活性剤および金属触媒を含む混合物と接触させ、第1の前駆体混合物を形成する工程を-包含する。このプロセスはまた、上記第1の前駆体混合物を第1の温度に加熱する工程、およびこの第1の前駆体混合物を、第V族または第VI族前駆体であり得る第2の前駆体と接触させ、第2の温度で反応混合物を形成する工程を包含する。これらプロセスは、上記反応混合物を第3の温度で加熱してナノクリスタルを成長する工程をさらに包含し、それによって、この第2の温度は、上記第1の温度から約15℃を超えないでより低い。この図は、このナノクリスタル生成プロセスを図示するフローチャートである。
Description
(発明の背景)
(発明の分野)
本発明は、半導体ナノクリスタルの分野、およびその調製のためのプロセスに関する。
(発明の分野)
本発明は、半導体ナノクリスタルの分野、およびその調製のためのプロセスに関する。
(背景技術の説明)
ナノクリスタルは、電気的、化学的、光学的およびその-他の適用において、それらの興味深く、かつ新規な性質のために相当量の注目を得ている。このようなナノクリスタルは、広範な種類の、期待され、かつ実際の適用を有し、これには、ナノスケール電子工学適用、例えば、ナノレーザー、LEDなどの発光デバイスにおける光電子工学適用、光起電力技術適用、および、例えば、ナノChemFETSのようなセンサー適用のための半導体の使用を含む。
ナノクリスタルは、電気的、化学的、光学的およびその-他の適用において、それらの興味深く、かつ新規な性質のために相当量の注目を得ている。このようなナノクリスタルは、広範な種類の、期待され、かつ実際の適用を有し、これには、ナノスケール電子工学適用、例えば、ナノレーザー、LEDなどの発光デバイスにおける光電子工学適用、光起電力技術適用、および、例えば、ナノChemFETSのようなセンサー適用のための半導体の使用を含む。
ナノクリスタルの分子的、物理的、化学的および光学的性質の商業的適用は、実現されることが開始しているが;広範な種類の生産のための商業的に実行可能なプロセスは限られている。用いられる出発材料、およびナノクリスタルが成長される条件の両方は、商業的には妨げられている。ナノクリスタルを生成するために用いられる化学的反応は、ナノクリスタルの核形成および成長を含む。合成プロセスにおける核形成事象および成長相に亘る制御の欠如は、広範な種類のナノクリスタル型の生産を妨げている。
半導体のナノクリスタルは、伝統的に、厚い配位溶媒中への自燃性前駆体の迅速注入によって形成される。その全体の開示が、すべての目的のためにその全体で参考として本明細書よって援用されるAlivisatosらによる米国特許第6,225,198B1は、ロッド形状の第II〜VI族半導体ナノクリスタルの形成のためのプロセスを開示する。開示される方法では、第II族金属および第VI族要素の冷溶液(−10℃)が、温度約360℃まで加熱された2成分界面活性剤混合物中に注入され、これは、この反応温度を約300℃まで下げる。ナノクリスタルは、核形成温度より約50〜70℃より低い温度で成長する。5℃ほどの少ない温度低下における変動が、異なる成長速度および異なるサイズ、形状および構造のナノクリスタルを生じ得る。
その全体の開示が、すべての目的のためにその全体で参考として本明細書よって援用されるPengらによる公開された米国特許出願第20020066401号は、コロイド状ナノクリスタルを合成する方法を開示し、そこでは、第II族の金属化合物が、配位溶媒と組み合わせられ、そして約360℃の温度に加熱される。第VI族の元素の冷溶液が注入されて核形成が開始し、これは、反応温度を約300℃まで下げる。ナノクリスタルは、上記核形成温度より約50〜70℃低い温度で成長する。5℃ほどの少ない温度低下における変動が、異なる成長速度および異なるサイズ、形状および構造のナノクリスタルを生じ得る。
従って、商業的に実行可能で、より大きな制御、予測可能性および再現性を提供するナノクリスタルを生成するプロセス、ならびに、広範な種類の半導体ナノクリスタル形状およびタイプの生産が可能なプロセスを有することが所望され得る。
(発明の要旨)
本発明は、ナノクリスタルを生産するプロセスに関する。1つの実施形態は:金属前駆体を、配位溶媒を含む混合物と接触し、第1の前駆体混合物を形成する工程;この第1の前駆体混合物を第1の温度に加熱する工程;この第1の前駆体混合物を、第V族および第VI族の化合物の1つを含む第2の前駆体混合物と接触し、第2の温度で反応混合物を形成する工程;およびこの反応混合物を第3の温度で加熱してナノクリスタルを成長する工程を包含し;それによって、上記第2の温度は、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低い。あるいは、上記第第2の温度は、上記第1の温度から約10℃、7℃、5℃、3℃または1℃を超えずにより低い。
本発明は、ナノクリスタルを生産するプロセスに関する。1つの実施形態は:金属前駆体を、配位溶媒を含む混合物と接触し、第1の前駆体混合物を形成する工程;この第1の前駆体混合物を第1の温度に加熱する工程;この第1の前駆体混合物を、第V族および第VI族の化合物の1つを含む第2の前駆体混合物と接触し、第2の温度で反応混合物を形成する工程;およびこの反応混合物を第3の温度で加熱してナノクリスタルを成長する工程を包含し;それによって、上記第2の温度は、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低い。あるいは、上記第第2の温度は、上記第1の温度から約10℃、7℃、5℃、3℃または1℃を超えずにより低い。
本発明のさらなる実施形態は:金属前駆体を、配位溶媒および金属触媒を含む混合物と接触し、第1の前駆体混合物を形成する工程;この第1の前駆体混合物を第1の温度に加熱する工程;この第1の前駆体混合物を、第V族および第VI族の化合物の1つを含む第2の前駆体混合物と接触し、第2の温度で反応混合物を形成する工程;およびこの反応混合物を第3の温度で加熱してナノクリスタルを成長する工程を包含し;それによって、上記第2の温度は、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低い。あるいは、上記第第2の温度は、上記第1の温度から約10℃、7℃、5℃、3℃または1℃を超えずにより低い。
本発明の別の実施形態は、少なくとも約50%の六方晶構造、および少なくとも約4:1のアスペクト比を有する、ロッド形状の第III〜V族ナノクリスタルの組成物に関する。あるいは、上記ロッド形状の第III〜V族ナノクリスタルの組成物は、少なくとも約70%、80%、90%または95%の六方晶構造および少なくとも約4:1のアスペクト比を有する。
本発明のさらなる特徴および利点は、以下の説明で提示され、そして一部はこの説明から明らかであるか、または本発明の実施により学習され得る。本発明の利点は、上記構造、そして、特に記載された明細書およびその請求項、ならびに添付の図面で指摘された構造によって実現および達成され得る。
先行する一般的説明および以下の詳細な説明の両方は、例示的かつ説明であり、そして請求項に記載のような本発明のさらなる説明を提供する意図であることが理解されるべきである。
本発明を、ここで、添付の図面を参照して説明する。図面において、同様の参照番号は、同一または機能的に類似の要素を示す。さらに、参照番号の最も左の桁は参照番号が最初に出現する図面を識別する。
(発明の詳細な説明)
ここで、本発明の実施形態への参照が詳細になされ、その例が添付の図面で示される。
ここで、本発明の実施形態への参照が詳細になされ、その例が添付の図面で示される。
多くの変数が、生産されるナノクリスタルの形状に寄与する。例えば、これら変数は、反応混合物温度、前駆体化合物の濃度、前駆体化合物のモル比ならびに界面活性剤および配位溶媒の濃度およびタイプを含む。本発明者らは、第1の温度と第2の温度との間の最小の再現可能でかつ予測可能な温度変化が、ナノクリスタル合成における最大の制御と再現可能性を与えることを発見した。この制御は、広範な範囲のナノクリスタルタイプおよび形状の生産を可能にし、これは、当該技術分野で公知の従前のプロセスを用いては可能でなかった形状化ナノクリスタルタイプを含む。
図1は、CdSeナノクリスタルを生産する伝統的なプロセスを示す。このプロセスは、混合、106、界面活性剤、102、および酸化ホスフィン、104、および加熱、108、前駆体混合物を生産するための混合物、110を含む。このプロセスは、接触、118、同時に、室温未満に冷却されたカドミユウム塩、116、およびこれもまた室温未満に冷却されたセレン−ホスフィン錯体、114をさらに含み、第2の温度で反応混合物120を形成する。この第2の温度は、上記第1の温度より少なくとも約30℃〜約70℃低い。用語「約」は、特定数±5%を含む。例えば、「約400℃」は、380〜420℃を含む。上記反応混合物は、加熱、122によってさらに処理され、この反応混合物は、ナノクリスタルを形成し、そしてナノクリスタルを単離すること、124は、ナノクリスタル組成物、126を生産する。
本発明は、II−VIまたはIII−V半導体のナノクリスタルを生成するためのプロセスを含み、これは、ナノクリスタル核形成および成長相に、そして、次に、上記第1の温度と第2の温度との間の温度変化を最小にすることにより、ナノクリスタルの形状およびサイズに対する制御を提供する。本発明に従って作製されるII−VIまたはIII−V半導体の例は以下を含む:周期表の、Zn、CdおよびHgのような第II族からの元素の、S、Se、Te、Poのような第VI族からの任意の元素との任意の組み合わせ;および、周期表の、B、Al、Ga、In、およびTlのような第III族からの元素の、N、P、As、SbおよびBiのような第V族からの任意の要素との任意の組み合わせ。詳細な例は、制限されないで、ZnS、ZnSe、ZnTe、CdS、CsSe、CdTe、GaN、GaP、GaAs、InN、InPおよびInAsナノクリスタルを含む。本発明はまた、ナノクリスタルの得られる形状およびサイズに対する制御を可能にする。本発明に従って作製される形状の例は、制限されずに、球、ロッド、アローヘッド、ティアドロップおよびテトラポッドを含む。
本発明に従って作製されるナノクリスタルは、必要に応じてさらなる処理に供される。例えば、表面化学改変が、必要に応じて、本発明のナノクリスタルに対してなされる。表面改変の例は、制限されないで、本発明のナノクリスタルの上に、コーティング層の付加およびシェルの付加を含む。これらコーティクング層および/またはシェルは任意の材料であり得、例えば、半導体材料などである。このような処理工程は、当業者に公知であり、例えば、すべての目的のためにそれらの完全な開示が、それらの全体で本明細書によって援用される、米国特許第6,207,229B1号および同第6,322,901B1号を参照のこと。
図2aは、本発明の1つの実施形態を示し、最初、金属前駆体、200、を配位溶媒202を含む混合物と接触し、第1の前駆体混合物204を形成する工程を包含する。この金属前駆体は、金属酸化物、金属塩または有機金属錯体のような、周期表の第II族または第III族からの元素を含む任意の金属化合物であり得る。本発明における使用のための金属酸化物は、元素Zn、Cd、Hg、B、Al、Ga、InおよびTlの酸化物を含む。金属酸化物の例は、制限されないで、CdO、ZnO、Al2O3およびIn2O3を含む。本発明における使用のための金属塩は、元素Zn、Cd、Hg、B、Al、Ga、InおよびTlの塩を含む。金属塩の例は、制限されずに、ZnF2、ZnCl2、ZnBr2、ZnI2、Zn(酢酸)2、ZnSO4、CdF2、CdCl2、CdBr2、CdI2、Cd(酢酸)2、Cd(OH)2、Cd(NO3)2、Cd(BF4)2、CdSO4、CdCO3、AlF3、AlCl3、AlBr3、AlI3、Al(OH)2(CO2CH3)、AlNH4(SO4)2、Al(OH)3、Al(NO3)3、Al(ClO4)3、AlPO4、Al2(SO4)3、GaF3、GaCl3、GaBr3、GaI3、Ga(NO3)3、Ga(ClO4)3、Ga2(SO4)3、InF3、InCl3、InBr3、InI3、In(NO3)3、In(ClO4)3およびIn(酢酸)3のような金属ハロゲン化物、金属カルボン酸、金属硫酸塩および金属リン酸塩を含む。本発明における使用のための有機金属錯体は、元素Zn、Cd、Hg、B、Al、Ga、InおよびTlの任意の有機金属錯体を含む。有機金属錯体の例は、制限されないで、第II族または第III族の元素と、アルキル、ハロアルキル、アルケニル、アルキニル、アリール、アルコシキル、アルケノキシルおよびアリールオキシル基との間の錯体を含む。有機金属錯体の特定の例は、制限されないで、ジアルキル亜鉛、ジアルキルカドミウム、ジアルキル水銀、トリアルキルアンモニウム、トリアルキルガリウムおよびトリアルキルインジウムを含み、Zn(CH3)2、Zn(CH2CH3)2、Cd(CH3)2、Cd(CH2CH3)2、Hg(CH3)2、Hg(CH2CH3)2、Al(CH3)3、Al(CH2CH3)3、Ga(CH3)3、Ga(CH2CH3)3、In(CH3)3およびIn(CH2CH3)3を含む。
本発明における使用のための配位溶媒は、金属に配位し得る溶媒を含み、そして150℃より高い沸点を有する。好ましくは、この溶媒は、300℃を超える分解温度を有している。本発明における使用のための配位溶媒の例は、式X=Y(R)3をもつ溶媒を含み、ここで、Xは、OおよびSからなる群から選択されるか、またはそれに代わってXは存在せず;YはNおよびPからなる群から選択され;そして、各Rは、アルキルおよびハロアルキルからなる群から独立に選択される。YがNであるとき、Xは存在しない。当業者によって、窒素原子Nは、本発明の条件下では5価ではなく、そしてそれ故、NがYである場合Xは存在し得ず、そしてNは3つのR基に結合されることが理解される。アルキルは、本明細書では、4〜40の炭素原子をもつ任意の分岐または非分岐飽和炭化水素をいうために用いられる。ハロアルキルは、本明細書では、Cl、F、BrおよびIのような任意の数のハロゲン原子によって置換されたアルキル鎖をいうために用いられる。例は、パーフルオロオクチル(−C8F17)およびペンタデカフルオロオクチル(−CH2CF15)を含む。配位溶媒の例は、制限されずに、トリオクチルアミン、トリヘキシルホスフィン、酸化トリヘキシルホスフィン、トリオクチルホスフィン、酸化トリオクチルホスフィン、トリデシルホスフィン、酸化トリデシルホスフィン、トリドデシルホスフィン、酸化トリドデシルホスフィン、トリテトラデシルホスフィン、酸化トリテトラデシルホスフィン、トリヘキサデシルホスフィン、酸化トリヘキサデシルホスフィン、およびトリオクタデシルホスフィン、酸化トリオクタデシルホスフィンを含む。
図2aに戻って言及すると、配位溶媒、202を含む混合物は、必要に応じて、回目面活性剤をさらに含む。界面活性剤は、本明細書では、II−VIまたはIII−V半導体ナノクリスタルの表面と動的に相互作用する任意の分子をいうために用いられる。界面活性剤は、この界面活性剤がナノクリスタルから分子を除去し得るか、および/または付加し得るとき、またはそれに代わって、この界面活性剤がナノクリスタル表面に接着、吸着または結合し得るとき、ナノクリスタル表面と動的に作用すると理解される。この界面活性剤は、アルキルカルボン酸、アルキルアミン、酸化アルキルアミン、スルホン酸塩、スルホン酸、ホスホン酸塩およびそれらのポリマー、ホスホン酸およびそれらのポリマー、ホスフィン酸およびそれらのポリマーならびに酸化ホスフィンおよびそれらのポリマーを含む。例は、ヘキシルホスホン酸、オクチルホスホン酸、デシルホスホン酸、ドデシルホスホン酸およびホスホン酸エステルならびにホスホン酸のポリマーを含み、ホスホン酸のダイマー、トリマー、テトラマー、ペンタマー、ヘキサマー、ヘプタマーなどを含む。
本発明の別の実施形態では、図2aに示されるように、第1の前駆体混合物、204、は、金属触媒、205をさらに含む。この金属触媒は、ナノクリスタル核形成および/または成長を促進する。本発明における使用のための金属触媒は、制限されずに、コロイド金属ナノ粒子を含む。本発明における使用のための金属ナノ粒子は、II−VIまたはIII−V半導体ナノクリスタルの異方性成長を促進する任意の金属ナノ粒子、例えば、金を含む。本発明における使用のためのその他の金属は、周期表からの任意の遷移金属を含み、制限されずに、銅、銀、ニッケル、パラジウム、白金、コバルト、ロジウム、イリジウム、鉄、ルテニウム、オスミウム、マンガン、クロム、モリブデン、タングステン、バナジウム、ニオブ、タンタル、チタン、ジルコニウムおよびハフニウムを含む。この金属ナノ粒子は、任意の形状、好ましくは球であり得、そして約1〜約50ナノメートルの範囲のサイズを有している。
図2aを参照して、第1の前駆体混合物、204、は、第1の温度まで加熱され、206、これは、ナノクリスタル合成を開始するに十分である。例えば、この第1の温度は約200〜500℃である。あるいは、この第1の温度は約205〜450℃である。あるいは、この第1の温度は約290〜400℃である。第1の温度まで加熱された第1の前駆体混合物、208、は、直ちにナノクリスタル合成で用いられるか、またはそれに代わり、時間遅延、210、があり、ここで、この第1の前駆体混合物は、それをさらに用いる前に上記第1の温度で所定の時間保持される。この所定の時間は、約5分〜約12時間の範囲にある。あるいは、第1の温度まで加熱されたこの第1の前駆体混合物、208、は、約0℃〜約100℃の温度に冷却され、212、そして次に必要に応じて加熱され、214、第1の温度にある第1の前駆体混合物、208、を形成する。
図2bは、本発明の別の実施形態を示す。金属前駆体、200、を、界面活性剤、216、および必要に応じて配位溶媒、217、と接触することは、さらに、金属前駆体錯体、226、を含む、第1の前駆体混合物、204、を形成する。例えば、ヘキシルホスホン酸のような界面活性剤、およびCdOのような金属前駆体は反応して、Cd−ヘキシルホスホン酸前駆体錯体を形成する。
第1の前駆体混合物、204、は、必要に応じて加熱、218、される。金属前駆体錯体、226、は、さらに必要に応じて、この金属前駆体混合物を冷却すること、および/または溶媒、例えば、メタノールを添加することにより単離、220、される。必要に応じて、このプロセスは、上記金属前駆体錯体、226を、精製するステップ、222、および乾燥するステップ、224、を包含する。この金属前駆体錯体、226、を、配位溶媒、217、そして必要に応じて界面活性剤、216、そして必要に応じて金属触媒、250、と接触することは、第1の前駆体混合物、204を形成する。この第1の前駆体混合物、204、を第1の温度まで加熱、228、することは、第1の温度にある第1の前駆体混合物、208、を形成する。
図3aは、本発明の別の実施形態を示す。第2の前駆体混合物、302、は、第V族および第VI族の化合物の1つ、304、を含む。第V族の化合物は、本明細書で用いられるとき、周期表の第V族の元素を含む任意の化合物をいうために用いられる。周期表の第V族からの元素は、N、P、As、SbおよびBiを含む。第V族の化合物の例は、制限されないで、N(TMS)3、P(TMS)3、As(TMS)3、Sb(TMS)3およびBi(TMS)3を含み、ここで、TMSは、トリメチルシリル基−Si(CH3)3;N(CH3)3、N(CH2CH3)3、P(CH3)3、P(CH2CH3)3、As(CH3)3、As(CH2CH3)3、Sb(CH3)3、Sb(CH2CH3)3、Bi(CH3)3、Bi(CH2CH3)3を含む。第VI族の化合物は、本明細書で、周期表の第VI族の元素を含む任意の化合物をいうために用いられる。周期表の第VI族の元素は、O、S、Se、TeおよびPoを含む。第VI族の化合物の例は、制限されないで、S、Se、TeおよびPoのような、元素カルコゲンを含む。
図3aに戻ると、第2の前駆体混合物、302、は、必要に応じて、配位溶媒、217、例えば、トリオクチルホスフィン酸化物またはトリテトラデシルホスフィン酸化物のようなトリオクチルホスフィン酸化物をさらに含む。必要に応じて、この第2の前駆体混合物は、界面活性剤、216、例えば、ヘキシルホスホン酸をさらに含む。あるいは、この第2の前駆体混合物、302、は、配位溶媒、217、または界面活性剤、216を含まない。好ましくは、この第2の前駆体混合物、302、は、約70〜100%の第V族または第VI族前駆体化合物を含む。好ましくは、配位溶媒、217、および随意の界面活性剤、216、の用いられる量は、この第2の前駆体混合物、302、が、第1の温度まで加熱された第1の前駆体混合物、208、と接触し、第2の温度で反応混合物を形成するとき、以下に記載のように、この第2の温度が、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低いようである。
図3aに戻り、第2の前駆体混合物、302、は、必要に応じて加熱、310、され、温度約25〜400℃で第2の前駆体混合物を形成する。好ましくは、この第2の前駆体混合物、302、は、それが、第1の温度まで加熱された第1の前駆体混合物、208、と接触し、もそして第2の温度で反応混合物を形成するとき、以下に記載のように、この第2の温度が、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低いような温度まで加熱される。
図3bは、本発明のさらなる実施形態を示す。第2の前駆体混合物、302、の部分量が、必要に応じて、界面活性剤、216、および配位溶媒、217、で希釈され、希釈された第2の前駆体混合物、318、を形成する。この希釈された第2の前駆体混合物、318、は、上記第2の前駆体混合物、302、とは異なる濃度の第V族または第VI族化合物、304、を含む。この希釈された第2の前駆体混合物、318、は、しかし、上記第2の前駆体混合物、302、と同じ容量を有している。従って、本発明は、ナノクリスタル合成に対し、制御、予測可能性および再現性を失うことなく、II−VIおよびIII−Vタイプ半導体ナノクリスタル中の2つの元素間のモル比を変更することを可能にする。この希釈のプロセスは、任意の数の回数繰り返され得る。第2の前駆体混合物、302、の部分量を変動することは、任意の数の希釈された第2の前駆体混合物を生成し、すべては異なる濃度の第V族または第VI族化合物、304、を有するが、すべては一定容量を有している。必要に応じて、この希釈された第2の前駆体混合物、318、を加熱することは、約25〜400℃の希釈された第2の前駆体混合物、320、を形成する。
あるいは、II−VIおよびIII−Vタイプ半導体ナノクリスタル中の2つの元素間のモル比は、上記第1の前駆体混合物中で用いられる金属前駆体の量および/または濃度を変更することにより変動される。またはそれに代わり、この第2の前駆体混合物において、用いられる金属前駆体の量および/または濃度、および用いられる第V族または第VI族化合物の濃度の両方が変動される。
図4は、本発明のさらなる実施形態を示す。第1の前駆体混合物、208、を、第2の前駆体混合物、312、または必要に応じて、希釈された第2の前駆体混合物、320、と接触、402、することは、第2の温度にある反応混合物、404を形成する。この接触、402は、当業者に公知の任意の手段によって実施され得る。例えば、この第2の前駆体混合物は、上記第1の前駆体混合物中に迅速に注入される。この第2の温度は、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低いか、あるいは、この第2の温度は、上記第1の温度から約10℃、7℃、5℃、3℃または1℃を超えずにより低い。あるいは、温度変化はなく、上記第1の温度および第2の温度は等しいことを意味する。この接触の後、必要に応じて時間遅延、406、があり、ここで、この反応混合物は、所定の時間、第2の温度で保持される。この時間は、約10秒〜約10分である。このプロセスは、反応混合物、404、を、第3の温度で加熱し、第3の温度、410で反応混合物、410、を形成し、そしてナノクリスタル成長する工程をさらに包含する。この第3の温度は、所定のかつ規定された結晶構造にあるナノクリスタルの制御された成長を可能にする任意の温度であり得る。例えば、このナノクリスタルは、約100〜約450℃の温度で成長される。上記反応混合物は、所定の時間、第3の温度で加熱され、ナノクリスタルを成長させる。この加熱、408のための時間の長さは、約1分間〜約1時間の範囲内である。
本発明の別の実施形態では、図4に示されるプロセスは、第3の温度まで加熱された反応混合物、410、を、さらなる第2の前駆体混合物、312、または必要に応じて、希釈された第2の前駆体混合物、320、と接触する工程をさらに包含する。このさらなる第2の前駆体混合物は、すべて一度に添加され得る。あるいは、このさらなる第2の前駆体混合物または希釈された第2の前駆体混合物は、一連の添加によって添加され得る。あるいは、このさらなる第2の前駆体混合物または希釈された第2の前駆体混合物は、この加熱、408、の経過に亘りゆっくり、または一定に添加され得る。
図4に示されるプロセスは、上記反応混合物から、ナノクリスタル組成物、416、を単離、414、することをさらに包含する。この単離は、当業者に公知の任意の方法によって実施され得る。単離することの1つの例は、上記反応混合物を室温まで冷却すること、メタノール、イソプロパノールまたはアセトンのような極性溶媒の十分量を添加すること、および濾過または遠心分離のような任意の方法によって収集することを包含する。ナノクリスタルは、サイズおよび形状によって分離され得る。好ましくは、これらナノクリスタルは、狭いサイズ分布および形状分布を有し、そしてサイズまたは形状分離を必要としない。組成物、416、中のナノクリスタルは、サイズが約20%を超えて変動しない。あるいは、組成物416中のナノクリスタルは、サイズが約15%、10%または5%を超えて変動しない。組成物416中のナノクリスタルの約20%を超えないナノクリスタルは、変動する形状を有する。あるいは、組成物416中のナノクリスタルの約15、10または5%を超えないナノクリスタルは、変動する形状を有する。
ナノクリスタルは、当業者に公知の任意の方法により、サイズおよび形状に従って分離され得る。例えば、ナノクリスタルは、ナノクリスタルの組成物を、漸次より小さなポアを有するフィルターを通過することによりサイズに従って分離され得る。フィルターは、約100nm〜約10μmの範囲にあるポアサイズを有し得る。あるいは、ナノクリスタルは、形状選択的沈殿を用いて分離され得る。異なる極性の溶媒の、ナノクリスタルの溶液への添加は、より可溶性である形状は溶液中に残ったままで、より可溶性でないナノクリスタルを沈殿する。
上記第1の温度と第2の温度との間の温度変化を制御することは、反応混合物の温度に対する正確な制御を、そしてそれ故、ナノクリスタルが核形成および成長する結晶構造に対する正確な制御を可能にする。この制御された温度変化はまた、広範な範囲の適切な第1の温度を可能にする。なぜなら、この第2の温度は、上記反応混合物が形成された後、所望の結晶構造にあるナノクリスタルを成長するに十分高いままであるからである。さらに、第1の温度のより広い範囲は、広範な範囲の試薬、配位溶媒、および界面活性剤の使用を可能にし、それ故、製造コストを低減する。
異方性形状にあるII−VIタイプナノクリスタルを生成することは、特定の結晶構造で材料を核形成および/または成長することに依存する。異方性は、本明細書では、測定の方向によって異なる性質を有するナノクリスタルを意味するために用いられる。例えば、異方性ロッド形状のナノクリスタルは、約2:1〜約10:1またはそれ以上の異方性アスペクト比を有している。ロッド形状のナノクリスタルに対する2:1のアスペクト比は、ロッドの幅の2倍であるロッドの長さを意味する。ロッド形状のナノクリスタル500が、長さ504、および幅502を有する例が図5に示されている。アスペクト比は、当業者に公知の任意の方法、例えば、高解像度または低解像度の透過型電子顕微鏡(それぞれ、HRTEMまたはTEM)、操作型電子顕微鏡(SEM)または原子間力顕微鏡(AFM)によって測定され得る。
結晶構造は、本明細書では、ナノクリスタルの原子が存在する空間中の点の幾何学的配列を意味するために用いられる。結晶構造の特定の例として、CdSeは、その他のII−VIナノクリスタルのように、六角形または立方体結晶構造を形成する。図6は、立方体結晶構造にある核形成および/または成長から生じ、4つの面、602、604、606、および608をもつ、ピラミッド形状にあるナノクリスタル、600、を描写している。CdSeおよびその他のII−VIナノクリスタルを六方晶構造に核形成するためには、立方体結晶構造より高い温度が必要である。同様に、CdSeおよびその他のナノクリスタルを六方晶構造に核形成するためには、立方体結晶構造より高い温度が必要である。CdSeおよびその他のII−VIナノクリスタルを六方晶構造に核形成および成長することは、異方性ロッド形状のナノクリスタルに至る。ナノクリスタルの結晶構造は、当業者に公知の任意のプロセスによって決定され得、そして制限されないで、X線結晶学、透過型電子顕微鏡(TEM)、操作型電子顕微鏡(SEM)および半導体核磁気共鳴(SSNMR)を含む。好ましくは、X線結晶学またはTEMが用いられる。
本発明のさらなる実施形態は、異方性ロッド形状のII−VIおよびIII−Vナノクリスタルを生成するためのプロセスを含む。このプロセスは、第1の温度に加熱された第1の前駆体混合物を、第2の前駆体混合物と接触させ、第2の温度にある反応混合物を形成する工程を包含する。この第1および第2の温度は、六方晶構造にあるII−VIまたはIII−Vナノクリスタルを核形成および/または成長するに十分高い。この反応混合物は、次いで、第3の温度まで加熱され、これはまた、このII−VIまたはIII−Vナノクリスタルを六方晶構造に成長するに十分高い。この第2の温度は、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低く、あるいは、この第2の温度は、上記第1の温度から、約10℃、7℃、5℃、3℃、または1℃を超えずにより低い。あるいは、温度変化はなく、上記第1および第2の温度が等しいことを意味する。従って、延長された時間がないため、核形成または成長のための温度は、II−VIまたはIII−Vナノクリスタルを六方晶構造に核形成および/または成長するために必要なそれ未満に低下する。この句「延長された時間」は、本明細書では、ナノクリスタルの成長のために必要な時間と同じオーダーの時間を意味するために用いられる。例えば、ナノクリスタルが10分で成長する場合、そのときは、延長された時間は、約1分〜約10分の範囲であり得る。
なおさらなる実施形態では、本発明は、テトラポッド形状のII−VIおよびIII−Vナノクリスタルを生産するためのプロセスを含む。このプロセスは、第1の温度まで加熱されている第1の前駆体混合物を、第2の前駆体混合物と接触させ、第2の温度にある反応混合物を形成する工程を包含する。これら第1および第2の温度は、II−VIおよびIII−Vナノクリスタルを立方体結晶構造に核形成するに十分高い。この反応混合物は、次いで、第3の温度まで加熱され、これは、このII−VIおよびIII−Vナノクリスタルを六方晶構造に成長するに十分高い。上記第2の温度は、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低く、あるいは、上記第2の温度は、上記第1の温度から約10℃、7℃、5℃、3℃、または1℃を超えずにより低い。あるいは、温度変化はなく、上記第1および第2の温度が等しいことを意味する。従って、延長された時間がないため、核形成のための温度は、II−VIまたはIII−Vナノクリスタルを立方体結晶構造に核形成するために必要なそれ未満に低下する。そして時間なしでは、従って、成長のための温度は、このII−VIまたはIII−Vナノクリスタルを六方晶構造に成長するために必要なそれ未満に低下する。図7に示されるように、このプロセスは、ナノクリスタル、600(各々は立方体結晶構造を有する)、の中心の各対応する面、602、604、606、および608から延び、ロッド形状のアーム、702、704、706、および708(各々は六方晶構造を有する)テトラポッド形状のナノクリスタル、700、を生じる。
図8aは、本発明に従って生産された、ロッド形状のCdSeナノクリスタルの透過型電子顕微鏡(TEM)写真である。この写真は、均一な長さ、およびアスペクト比をもつロッド形状を有するナノクリスタルを示す。図8bは、このロッド形状のCdSeナノクリスタルのとられたX線回折(XRD)パターンを示す。このXRDパターンは、六方晶構造に形成されるナノクリスタルを示す。
図9は、本発明による、テトラポッド形状のナノクリスタルの生産を経時的に示す3つの一連のTEM顕微鏡写真である。この一連の顕微鏡写真は、各テトラポッド上のアームの長さに対して提供される、本発明のプロセスの正確な制御を示す。この反応は、示されるように、上から下に進行し、そしてテトラポッドアームの増加する長さを示す。図10は、このナノクリスタル合成の間に経時的にとったテトラポッドのサンプルのXRDパターンを示す。下のXRDパターンは、このプロセスの初期には、ナノクリスタルは、存在するより大きな部分の立方体結晶構造を有することを示す。このプロセスが時間とともに進行するとき、各XRDパターン(グラフ上を上に移動する)は、ナノクリスタル中の六方晶構造の増加する量を示し、テトラポッド上のアームの成長に対応する。このデータは、ナノクリスタルが立方体結晶構造で核形成し、ピラミッド形状の中心を形成するが、ナノクリスタルが六方晶構造で成長し、上記テトラポッドのロッド形状アームを生成することを確認する。
本発明の別の実施形態は、少なくとも約50%の六方晶構造および少なくとも約4:1のアスペクト比をもつロッド形状のIII−Vナノクリスタルを生成するためのプロセスを含む。あるいは、このロッド形状のIII−Vナノクリスタルは、少なくとも約60%、70%、80%、90%または95%の六方晶構造および少なくとも約4:1のアスペクト比をもつ。このプロセスは、周期表の第III族元素を含む金属前駆体を、配位溶媒、および金属触媒を含む混合物と接触させ、第1の前駆体混合物を形成する工程を包含する。このプロセスは、この第1の前駆体混合物を第1の温度まで加熱する工程を包含する。この第1の温度は、III−Vナノクリスタルを六方晶構造に核形成および/または成長するに十分高い。このプロセスはまた、上記第1の前駆体を、第V族化合物を含む第2の前駆体混合物と接触させ、第2の温度で反応混合物を形成する工程、および第3の温度でこの反応混合物を加熱し、ナノクリスタルを成長する工程をさらに包含する。この第2の温度は、上記第1の温度から約15℃を超えずにより低く、そして時間なしでは、温度が、上記III−Vナノクリスタルを六方晶構に成長するために必要なそれ未満に低下する。金属触媒および最小温度変化を採用するこのプロセスは、ロッド形状III−Vナノクリスタルの等方性成長のために特に有用である。
本発明の別の実施形態は、従って、少なくとも約50%の六方晶構造および少なくとも約4:1のアスペクト比を有するロッド形状のIII−Vナノクリスタルの組成物に関する。あるいは、このロッド形状のIII−Vナノクリスタルの組成物は、少なくとも約60%、70%、80%、90%または95%の六方晶構造および少なくとも約4:1のアスペクト比を有する。立方体結晶構造を有さないロッド形状のナノクリスタルを生成することが好ましい。なぜなら、立方体結晶構造を有する領域は、ナノクリスタルの形状が真直ぐなロッドではなく、ジグザグ形状のロッドであるような積み上げ欠陥として作用するからである。このジグザグ形状は、ナノクリスタルの光学的および電気的性質に悪影響し得る。特定のナノクリスタルに対する結晶構造の%は、当業者に公知の任意の方法によって決定され得る。例えば、ナノクリスタルの総量に対する1つの結晶構造のナノクリスタルの量を測定すること、または生成されたナノクリスタル中の結晶構造の、1つの結晶構造で純粋なナノクリスタルのそれに対する比率を測定することにより、結晶構造の%を決定する。結晶構造において純粋なナノクリスタルのX線回折パターンは、当業者に公知であり、そして、例えば、理論的に、インシリコ(in silico)で、または実験的に作製され得る。
本発明のナノクリスタルは、種々のデバイスで適用され得る有用な光学的および電気的性質を有している。デバイスの例は、制限されないで、光学的データ記憶のためのデバイスのような、白色光源、発光ダイオード(LED)、光屈折率デバイス、RFフィルターのような電気光学デバイス、太陽エネルギー変換のためのデバイスのような、通信および光起電性デバイスを含む。
デバイスにおいて、ナノクリスタルは、基体、例えば、電極の上に堆積されるか、または2つ以上の基体間に挟まれる。本発明における使用のための基体は、制限されずに、シリコンおよびその他の無機半導体、例えば、ZnO、TiO2、およびIn2O3−SnO2(ITO);例えば、ポリフェニレンビニレンのような半導体ポリマーのようなポリマー;およびITO−被覆ガラスのようなガラスを含む。ナノクリスタルを基体表面に付与するための方法は、当業者に周知である。例えば、ナノクリスタルは、溶液からスピンコーティングを経由して付与される。
ナノクリスタルは、正味(neat)として、またはナノクリスタルを含む混合物として堆積され得る。この混合物は、制限されないで電気光学的および半導体の、有機および無機の分子およびポリマーを含む物質をさらに含む。分子およびポリマーの特定の例は、制限されないで、トリアリールアミンのようなアミン、およびそのポリマーまたはデンドリマー;GaAs、InPおよびTiO2のような無機半導体;ポリチオフェン、ポリピロール、ポリフェニレン、およびポリフルオレンのようなポリアリーレン、およびポリフェニレンビニレンおよびポリチエニルビニレンのようなポリアリールビニレンを含む。
ナノクリスタルは、単層または複数層として堆積される。層は、1つのみのタイプのナノクリスタル、例えば、II−VIのロッドを備える。あるいは、層は、2つ以上の異なるタイプのナノクリスタルを含む。例えば、層は、2、3、4、5、6、7、8、9、10などの異なるタイプのナノクリスタルを含む。3つの異なるタイプのナノクリスタルを含む層の非制限的な例として、層は、II−VIのロッド、II−VIのテトラポッドおびIII−Vのロッドを含む。ナノクリスタルが複数層で堆積されるとき、各層は、同じタイプのナノクリスタルを備える。あるいは、ナノクリスタルが複数層で堆積されるとき、各層は、異なるタイプのナノクリスタルを備える。層厚みは、約10nm〜約1000μmである。好ましくは、この層厚みは、約50μm〜約100μmである。層厚みは、当業者公知の任意の方法、例えば、原子間力顕微鏡(AFM)または走査型電子顕微鏡(SEM)によって測定され得る。
ナノクリスタルは、電極表面上で一方向に配向され得る。あるいは、ナノクリスタルは、ランダムに配向され得る。これらナノクリスタルは、当業者に公知の任意の方法よって配向され得る。例えば、これらナノクリスタルは、付与された電気的、光学的または磁場の下で配向されるか、またはこれらナノクリスタルは、流体流れ配向よって機械的に配向される。
以下の例は、本発明の方法および組成物の例示であって制限するものではない。通常、ナノクリスタル合成で遭遇され、そして当業者に自明である、その他の適切な種々の条件およびパラメーターの改変および適合は、本発明の思想および範囲内にある。
(実施例1)
高品質CdSeロッドを、約0.74gのオクタデシルホスホン酸(ODPA)、約3.23gのトリオクチルホスフィン酸化物(TOPO)および約0.095gのCdOを3ネックフラスコ中に混合することにより調製した。このフラスコを脱気し、そして約1.51gのトリオクチルホスフィン(TOP)を添加して、第1の前駆体混合物を形成した。別個のフラスコに、セレン前駆体混合物(Se:TOP)を、約10重量%のセレンとともに調製した。約0.11gのSe:TOP混合物を、約0.52gの総重量のために、約0.41gのTOPに添加した。この第1の前駆体混合物を、約320℃まで加熱した。新たなセレン前駆体混合物を、さらなるTOPとともに、この加熱された第1の前駆体混合物中に注入し、CdSeナノクリスタルを核形成し、そして反応混合物を形成した。この反応混合物の温度は、注入の際に約315℃まで落とした。この反応混合物を、約315℃で約15分間加熱し、高品質ウルツ鉱CdSeロッドを生成した。
高品質CdSeロッドを、約0.74gのオクタデシルホスホン酸(ODPA)、約3.23gのトリオクチルホスフィン酸化物(TOPO)および約0.095gのCdOを3ネックフラスコ中に混合することにより調製した。このフラスコを脱気し、そして約1.51gのトリオクチルホスフィン(TOP)を添加して、第1の前駆体混合物を形成した。別個のフラスコに、セレン前駆体混合物(Se:TOP)を、約10重量%のセレンとともに調製した。約0.11gのSe:TOP混合物を、約0.52gの総重量のために、約0.41gのTOPに添加した。この第1の前駆体混合物を、約320℃まで加熱した。新たなセレン前駆体混合物を、さらなるTOPとともに、この加熱された第1の前駆体混合物中に注入し、CdSeナノクリスタルを核形成し、そして反応混合物を形成した。この反応混合物の温度は、注入の際に約315℃まで落とした。この反応混合物を、約315℃で約15分間加熱し、高品質ウルツ鉱CdSeロッドを生成した。
(実施例2)
高品質CdTeテトラポッドを、約0.40gのオクタデシルホスホン酸(ODPA)、約3.63gのトリオクチルホスフィン酸化物(TOPO)および約0.050gのCdOを3ネックフラスコ中に混合することにより調製した。このフラスコを減圧下で加熱することにより脱気し、そして約1.50gのトリオクチルホスフィン(TOP)を添加して、第1の前駆体混合物を形成した。別個のフラスコに、テルル前駆体混合物(Te:TOP)を、約10重量%のテルルとともに調製した。約0.16gのTe:TOP混合物を、約0.55gの総重量のために、約0.39gのTOPに添加した。この第1の前駆体混合物を、約320℃まで加熱した。新たなテルル前駆体混合物を、さらなるTOPとともに、この加熱された第1の前駆体混合物中に注入し、CdTeナノクリスタルを核形成し、そして反応混合物を形成した。この反応混合物の温度は、注入の際に約315℃まで落とした。この反応混合物を、約315℃で約15分間加熱し、高品質CdTeロッドを生成した。
高品質CdTeテトラポッドを、約0.40gのオクタデシルホスホン酸(ODPA)、約3.63gのトリオクチルホスフィン酸化物(TOPO)および約0.050gのCdOを3ネックフラスコ中に混合することにより調製した。このフラスコを減圧下で加熱することにより脱気し、そして約1.50gのトリオクチルホスフィン(TOP)を添加して、第1の前駆体混合物を形成した。別個のフラスコに、テルル前駆体混合物(Te:TOP)を、約10重量%のテルルとともに調製した。約0.16gのTe:TOP混合物を、約0.55gの総重量のために、約0.39gのTOPに添加した。この第1の前駆体混合物を、約320℃まで加熱した。新たなテルル前駆体混合物を、さらなるTOPとともに、この加熱された第1の前駆体混合物中に注入し、CdTeナノクリスタルを核形成し、そして反応混合物を形成した。この反応混合物の温度は、注入の際に約315℃まで落とした。この反応混合物を、約315℃で約15分間加熱し、高品質CdTeロッドを生成した。
形態および詳細における種々の変更が、添付の請求項で規定されるような本発明の思想および範囲から逸脱することなくその中でなされ得ることが当業者によって理解される。従って、本発明の広さ、および範囲は、上記に記載の例示の実施形態にいずれにも制限されるべきではなく、添付の請求項およびそれらの透過物によってのみ規定される。
Claims (51)
- ナノクリスタルを生成するためのプロセスであって:
(a)金属前駆体を、配位溶媒を含む混合物と接触させ、第1の前駆体混合物を形成する工程;
(b)該第1の前駆体混合物を第1の温度に加熱する工程;
(c)該第1の前駆体混合物を、第V族および第VI族の化合物の1つを含む第2の前駆体混合物と接触させ、第2の温度で反応混合物を形成する工程;および
(d)該反応混合物を第3の温度で加熱して該ナノクリスタルを成長させかつそれによって生成する工程
を包含し;
ここで、該第2の温度が該第1の温度から約15℃を超えずにより低い、プロセス。 - 前記前駆体が、第II族または第III族の元素を含む、金属酸化物、金属塩または有機金属錯体である、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第II族の元素が、Zn、CdおよびHgからなる群から選択される、請求項2に記載のプロセス。
- 前記第III群の元素がB、Al、Ga、InおよびTlからなる群から選択される、請求項2に記載のプロセス。
- 前記金属酸化物が、CdO、ZnO、Al2O3、Ga2O3およびIn2O3からなる群から選択される、請求項2に記載のプロセス。
- 前記金属塩が、ZnF2、ZnCl2、ZnBr2、ZnI2、Zn(酢酸)2、ZnSO4、CdF2、CdCl2、CdBr2、CdI2、Cd(酢酸)2、Cd(OH)2、Cd(NO3)2、Cd(BF4)2、CdSO4、CdCO3、AlF3、AlCl3、AlBr3、AlI3、Al(OH)2(CO2CH3)、AlNH4(SO4)2、Al(OH)3、Al(NO3)3、Al(ClO4)3、AlPO4、Al2(SO4)3、GaF3、GaCl3、GaBr3、GaI3、Ga(NO3)3、Ga(ClO4)3、Ga2(SO4)3、InF3、InCl3、InBr3、InI3、In(NO3)3、In(ClO4)3およびIn(酢酸)3からなる群から選択される、請求項2に記載のプロセス。
- 前記有機金属錯体が、ジアルキル亜鉛、ジアルキルカドミウム、ジアルキル水銀、トリアルキルアルミニウム、トリアルキルガリウムおよびトリアルキルインジウムからなる群から選択される、請求項2に記載のプロセス。
- 前記有機錯体が、Zn(CH3)2、Zn(CH2CH3)2、Cd(CH3)2、Cd(CH2CH3)2、Hg(CH3)2、Hg(CH2CH3)2、Al(CH3)3、Al(CH2CH3)3、Ga(CH3)3、Ga(CH2CH3)3、In(CH3)3およびIn(CH2CH3)3からなる群から選択される、請求項7に記載のプロセス。
- 前記配位溶媒が、約50℃〜約500℃の沸点を有する、請求項1に記載のプロセス。
- 前記配位溶媒が式X=Y(R)3を有し、ここで:
XはOおよびSからなる群から選択されるか、またはXは存在せず;
YはNおよびPからなる群から選択され;
各Rは、6〜20の炭素原子を有するアルキルおよびハロアルキルからなる群から独立に選択され;
ここで、YがNであるとき、Xは存在しない、請求項9に記載のプロセス。 - 前記配位溶媒が、トリオクチルアミン、トリヘキシルホスフィン、酸化トリヘキシルホスフィン、トリオクチルホスフィン、酸化トリオクチルホスフィン、トリデシルホスフィン、酸化トリデシルホスフィン、トリドデシルホスフィン、酸化トリドデシルホスフィン、トリテトラデシルホスフィン、酸化トリテトラデシルホスフィン、トリヘキサデシルホスフィン、酸化トリヘキサデシルホスフィン、およびトリオクタデシルホスフィン、酸化トリオクタデシルホスフィンからなる群から選択される、請求項10に記載のプロセス。
- 前記第1の前駆体混合物が、界面活性剤をさらに含む、請求項1に記載のプロセス。
- 前記界面活性剤が、アルキルカルボン酸、アルキルアミン、酸化アルキルアミン、スルホン酸塩、スルホン酸、ホスホン酸塩およびそれらのポリマー、ホスホン酸およびそれらのポリマー、ホスフィン酸およびそれらのポリマーならびに酸化ホスフィンおよびそれらのポリマーからなる群から選択される、請求項12に記載のプロセス。
- 前記界面活性剤が、ホスホン酸のダイマー、トリマー、テトラマー、ペンタマー、ヘキサマー、ヘプタマー、オクタマー、ナノマーおよびデカマーからなる群から選択される、請求項13に記載のプロセス。
- 前記界面活性剤が、ヘキシルホスホン酸、オクチルホスホン酸、デシルホスホン酸、ドデシルホスホン酸、テトラデシルホスホン酸およびそれらのポリマーからなる群から選択される、請求項13に記載のプロセス。
- 前記第1の温度が、約250〜約450℃である、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第1の温度が、約290〜約400℃である、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第1の前駆体混合物を、前記工程(b)の後であって、かつ前記工程(c)の前に、約5分〜約12時間の時間の間、第1の温度で保持する工程をさらに包含する、請求項1に記載のプロセス。
- 前記工程(b)の後であって、そして前記工程(c)の前に;
(1)前記第1の前駆体混合物を、約0℃〜約100℃の温度に冷却する工程;および
(2)該第1の前駆体混合物を前記第1の温度まで加熱する工程
をさらに包含する、請求項1に記載のプロセス。 - 前記第1の前駆体混合物が、約1nm〜約50nmの直径を有する金属ナノパーティクルをさらに含む、請求項1に記載のプロセス。
- 前記金属ナノパーティクルが、金ナノパーティクルである、請求項20に記載のプロセス。
- 前記第1の前駆体混合物が、金属前駆体錯体をさらに含む、請求項1に記載のプロセス。
- 前記金属前駆体錯体が:
(1)第II族または第III族金属;および
(2)ホスホン酸、ホスホン酸のダイマー、ホスホン酸のトリマー、およびホスホン酸のポリマーからなる群から選択される界面活性剤
を含む、請求項22に記載のプロセス。 - 前記工程(a)の後に:
(1)前記第1の前駆体混合物から前記金属前駆体錯体を単離する工程;および
(2)該金属前駆体錯体を、配位溶媒を含む混合物と接触させ、前記第1の前駆体混合物を形成する工程
をさらに包含する、請求項22に記載のプロセス。 - 前記工程(1)の後であって、かつ前記工程(2)の前に、前記金属前駆体錯体を精製する工程をさらに包含する、請求項24に記載のプロセス。
- 前記配位溶媒を含む混合物が、金属触媒をさらに含む、請求項24に記載のプロセス。
- 前記金属触媒が、金ナノパーティクルである、請求項26に記載のプロセス。
- 前記金ナノパーティクルが、約1nm〜約50nmの直径を有する、請求項27に記載のプロセス。
- 前記第V族の化合物が、N[Si(CH3)3]3、P[Si(CH3)3]3、As[Si(CH3)3]3、Sb[Si(CH3)3]3、Bi[Si(CH3)3]3、N(CH3)3、N(CH2CH3)3、P(CH3)3、P(CH2CH3)3、As(CH3)3、As(CH2CH3)3、Sb(CH3)3、Sb(CH2CH3)3、Bi(CH3)3およびBi(CH2CH3)3からなる群から選択される、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第VI族の化合物が、元素カルコゲンを含む、請求項1に記載のプロセス。
- 前記元素カルコゲンが、S、SeおよびTeからなる群から選択される、請求項30に記載のプロセス。
- 前記工程(c)が、前記第1の前駆体混合物を、約25℃〜約250℃の温度まで加熱された前記第2の前駆体混合物と接触させ、前記第2の温度で前記反応混合物を形成する工程をさらに包含する、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第2の温度が、約235℃〜約500℃である、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第2の温度が、約275℃〜約350℃である、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第2の温度が、前記第1の温度から約10℃を超えずにより低い、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第2の温度が、前記第1の温度から約5℃を超えずにより低い、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第2の温度および第3の温度がほぼ同じである、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第3の温度が、約200〜500℃である、請求項1に記載のプロセス。
- 前記工程(d)の後に:前記反応混合物を、第V族および第VI族の化合物の1つを含む第2の前駆体混合物と接触させる工程をさらに包含する、請求項1に記載のプロセス。
- 前記工程(d)の後に:基板上に、ナノクリスタルを含む薄膜を形成する工程をさらに包含する、請求項1に記載のプロセス。
- 前記薄膜が、ポリマーをさらに含む、請求項40に記載のプロセス。
- 前記薄膜が、100nm〜100μmである。、請求項40に記載のプロセス。
- 前記基板が、半導体である、請求項40に記載のプロセス。
- 前記半導体が、シリコン、ポリマー、ITOでコートされたガラスおよびTiO2からなる群から選択される、請求項43に記載のプロセス。
- 請求項1に記載のプロセスによって生成されるナノクリスタルを含む、組成物。
- 前記ナノクリスタルが、ZnSナノクリスタル、ZnSeナノクリスタル、ZnTeナノクリスタル、CdSナノクリスタル、CdSeナノクリスタル、CdTeナノクリスタル、GaNナノクリスタル、GaPナノクリスタル、GaAsナノクリスタル、InNナノクリスタル、InPナノクリスタルおよびInAsナノクリスタルからなる群から選択される、請求項45に記載の組成物。
- 前記ナノクリスタルが、ロッド、テトラポッド、アローヘッド、ティアドロップまたはコメの形状である、請求項45に記載の組成物。
- 少なくとも約50%の六方晶構造、および少なくとも約4:1のアスペクト比を有する、ロッド形状の第III〜V族ナノクリスタルの組成物。
- 前記ナノクリスタルが、GaNナノクリスタル、GaPナノクリスタル、GaAsナノクリスタル、InNナノクリスタル、InPナノクリスタルおよびInAsナノクリスタルからなる群から選択される、請求項48に記載の組成物。
- 前記ナノクリスタルが、少なくとも約70%の六方晶構造、および少なくとも約4:1のアスペクト比を有する、請求項48に記載の組成物。
- 前記ナノクリスタルが、少なくとも約90%の六方晶構造、および少なくとも約4:1のアスペクト比を有する、請求項48に記載の組成物。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US45319803P | 2003-03-11 | 2003-03-11 | |
PCT/US2004/007138 WO2005022120A2 (en) | 2003-03-11 | 2004-03-10 | Process for producing nanocrystals and nanocrystals produced thereby |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006521278A true JP2006521278A (ja) | 2006-09-21 |
Family
ID=34272394
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006509242A Withdrawn JP2006521278A (ja) | 2003-03-11 | 2004-03-10 | ナノクリスタルを生成するためのプロセスおよびそれによって生成されるナノクリスタル |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1601612A2 (ja) |
JP (1) | JP2006521278A (ja) |
AU (1) | AU2004269297A1 (ja) |
CA (1) | CA2518352A1 (ja) |
WO (1) | WO2005022120A2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007537886A (ja) * | 2004-04-30 | 2007-12-27 | ナノコ テクノロジーズ リミテッド | ナノ粒子材料の作製 |
JP2019505403A (ja) * | 2015-12-31 | 2019-02-28 | ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー | ナノ構造材料の連続フロー合成 |
Families Citing this family (81)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7454295B2 (en) | 1998-12-17 | 2008-11-18 | The Watereye Corporation | Anti-terrorism water quality monitoring system |
US8958917B2 (en) | 1998-12-17 | 2015-02-17 | Hach Company | Method and system for remote monitoring of fluid quality and treatment |
US9056783B2 (en) | 1998-12-17 | 2015-06-16 | Hach Company | System for monitoring discharges into a waste water collection system |
US8920619B2 (en) | 2003-03-19 | 2014-12-30 | Hach Company | Carbon nanotube sensor |
JP4789809B2 (ja) | 2004-01-15 | 2011-10-12 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | ナノ結晶をドーピングしたマトリックス |
US7645397B2 (en) | 2004-01-15 | 2010-01-12 | Nanosys, Inc. | Nanocrystal doped matrixes |
EP1738378A4 (en) | 2004-03-18 | 2010-05-05 | Nanosys Inc | NANOFIBRE SURFACE BASED CAPACITORS |
CN102004393B (zh) | 2004-04-27 | 2013-05-01 | 伊利诺伊大学评议会 | 用于软光刻法的复合构图设备 |
KR101368748B1 (ko) | 2004-06-04 | 2014-03-05 | 더 보오드 오브 트러스티스 오브 더 유니버시티 오브 일리노이즈 | 인쇄가능한 반도체소자들의 제조 및 조립방법과 장치 |
US8217381B2 (en) | 2004-06-04 | 2012-07-10 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Controlled buckling structures in semiconductor interconnects and nanomembranes for stretchable electronics |
US7799699B2 (en) | 2004-06-04 | 2010-09-21 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Printable semiconductor structures and related methods of making and assembling |
US7521292B2 (en) | 2004-06-04 | 2009-04-21 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Stretchable form of single crystal silicon for high performance electronics on rubber substrates |
US7943491B2 (en) | 2004-06-04 | 2011-05-17 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Pattern transfer printing by kinetic control of adhesion to an elastomeric stamp |
TW201341440A (zh) | 2004-06-08 | 2013-10-16 | Sandisk Corp | 奈米結構之沉積後包封:併入該包封體之組成物、裝置及系統 |
JP5000510B2 (ja) | 2004-06-08 | 2012-08-15 | ナノシス・インク. | ナノ構造単層の形成方法および形成デバイスならびにかかる単層を含むデバイス |
US7968273B2 (en) | 2004-06-08 | 2011-06-28 | Nanosys, Inc. | Methods and devices for forming nanostructure monolayers and devices including such monolayers |
US7776758B2 (en) | 2004-06-08 | 2010-08-17 | Nanosys, Inc. | Methods and devices for forming nanostructure monolayers and devices including such monolayers |
US8563133B2 (en) | 2004-06-08 | 2013-10-22 | Sandisk Corporation | Compositions and methods for modulation of nanostructure energy levels |
US7557028B1 (en) | 2004-07-28 | 2009-07-07 | Nanosys, Inc. | Process for group III-V semiconductor nanostructure synthesis and compositions made using same |
US7794600B1 (en) | 2004-08-27 | 2010-09-14 | Nanosys, Inc. | Purification of nanocrystal solutions by chromatography |
US8558311B2 (en) | 2004-09-16 | 2013-10-15 | Nanosys, Inc. | Dielectrics using substantially longitudinally oriented insulated conductive wires |
US7365395B2 (en) | 2004-09-16 | 2008-04-29 | Nanosys, Inc. | Artificial dielectrics using nanostructures |
WO2008133660A2 (en) | 2006-11-21 | 2008-11-06 | Qd Vision, Inc. | Nanocrystals including a group iiia element and a group va element, method, composition, device and other prodcucts |
CA2580589C (en) | 2006-12-19 | 2016-08-09 | Fio Corporation | Microfluidic detection system |
MY149292A (en) | 2007-01-17 | 2013-08-30 | Univ Illinois | Optical systems fabricated by printing-based assembly |
US20100110728A1 (en) | 2007-03-19 | 2010-05-06 | Nanosys, Inc. | Light-emitting diode (led) devices comprising nanocrystals |
WO2008119184A1 (en) | 2007-04-02 | 2008-10-09 | Fio Corporation | System and method of deconvolving multiplexed fluorescence spectral signals generated by quantum dot optical coding technology |
JP2010530912A (ja) | 2007-06-22 | 2010-09-16 | フィオ コーポレイション | 量子ドットをドープしたポリマーマイクロビーズの製造システム及び方法 |
US8551786B2 (en) | 2007-07-09 | 2013-10-08 | Fio Corporation | Systems and methods for enhancing fluorescent detection of target molecules in a test sample |
JP5628037B2 (ja) | 2007-10-12 | 2014-11-19 | フィオ コーポレイション | 濃縮されたミクロビーズを形成するためのフローフォーカシング方法及びシステム、並びにそのシステムに形成されたミクロビーズ |
CN101999162A (zh) * | 2007-12-14 | 2011-03-30 | 纳米系统公司 | 形成衬底元件的方法 |
KR101755207B1 (ko) | 2008-03-05 | 2017-07-19 | 더 보드 오브 트러스티즈 오브 더 유니버시티 오브 일리노이 | 펴고 접을 수 있는 전자장치 |
WO2009134367A1 (en) | 2008-04-30 | 2009-11-05 | Nanosys, Inc. | Non-fouling surfaces for reflective spheres |
WO2010005707A1 (en) | 2008-06-16 | 2010-01-14 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Medium scale carbon nanotube thin film integrated circuits on flexible plastic substrates |
WO2009155704A1 (en) | 2008-06-25 | 2009-12-30 | Fio Corporation | Bio-threat alert system |
CN105759021A (zh) | 2008-08-29 | 2016-07-13 | Fio公司 | 用于检测生物和环境检测样品的一次性手持式诊断检测设备和相关系统与方法 |
US8389862B2 (en) | 2008-10-07 | 2013-03-05 | Mc10, Inc. | Extremely stretchable electronics |
EP2349440B1 (en) | 2008-10-07 | 2019-08-21 | Mc10, Inc. | Catheter balloon having stretchable integrated circuitry and sensor array |
US8886334B2 (en) | 2008-10-07 | 2014-11-11 | Mc10, Inc. | Systems, methods, and devices using stretchable or flexible electronics for medical applications |
US8540889B1 (en) | 2008-11-19 | 2013-09-24 | Nanosys, Inc. | Methods of generating liquidphobic surfaces |
KR101462658B1 (ko) * | 2008-12-19 | 2014-11-17 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 나노 결정 및 그 제조 방법 |
US10214686B2 (en) | 2008-12-30 | 2019-02-26 | Nanosys, Inc. | Methods for encapsulating nanocrystals and resulting compositions |
US8343575B2 (en) | 2008-12-30 | 2013-01-01 | Nanosys, Inc. | Methods for encapsulating nanocrystals and resulting compositions |
US11198270B2 (en) | 2008-12-30 | 2021-12-14 | Nanosys, Inc. | Quantum dot films, lighting devices, and lighting methods |
CN104374932A (zh) | 2009-01-13 | 2015-02-25 | Fio公司 | 与电子设备和快速诊断测试中的测试盒结合使用的手持诊断测试设备 |
CN102656233B (zh) | 2009-05-01 | 2015-04-29 | 纳米系统公司 | 用于纳米结构体分散的官能化基质 |
TWI592996B (zh) | 2009-05-12 | 2017-07-21 | 美國伊利諾大學理事會 | 用於可變形及半透明顯示器之超薄微刻度無機發光二極體之印刷總成 |
US8012448B2 (en) | 2009-07-13 | 2011-09-06 | University Of Southern California | Synthesis of metal chalcogenide nanocrystals using organodichalcogenide reagents |
US9723122B2 (en) | 2009-10-01 | 2017-08-01 | Mc10, Inc. | Protective cases with integrated electronics |
JP6046491B2 (ja) | 2009-12-16 | 2016-12-21 | ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ イリノイ | コンフォーマル電子機器を使用した生体内での電気生理学 |
US10441185B2 (en) | 2009-12-16 | 2019-10-15 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Flexible and stretchable electronic systems for epidermal electronics |
US9936574B2 (en) | 2009-12-16 | 2018-04-03 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Waterproof stretchable optoelectronics |
WO2011100023A1 (en) | 2010-02-10 | 2011-08-18 | Qd Vision, Inc. | Semiconductor nanocrystals and methods of preparation |
EP2547258B1 (en) | 2010-03-17 | 2015-08-05 | The Board of Trustees of the University of Illionis | Implantable biomedical devices on bioresorbable substrates |
EP3540300B1 (en) | 2010-11-10 | 2024-05-08 | Shoei Chemical Inc. | Quantum dot films, lighting devices, and lighting methods |
WO2012099653A2 (en) | 2010-12-08 | 2012-07-26 | Qd Vision, Inc. | Semiconductor nanocrystals and methods of preparation |
US9442285B2 (en) | 2011-01-14 | 2016-09-13 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Optical component array having adjustable curvature |
WO2012158709A1 (en) | 2011-05-16 | 2012-11-22 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Thermally managed led arrays assembled by printing |
JP2014523633A (ja) | 2011-05-27 | 2014-09-11 | エムシー10 インコーポレイテッド | 電子的、光学的、且つ/又は機械的装置及びシステム並びにこれらの装置及びシステムを製造する方法 |
EP2713863B1 (en) | 2011-06-03 | 2020-01-15 | The Board of Trustees of the University of Illionis | Conformable actively multiplexed high-density surface electrode array for brain interfacing |
WO2013028253A1 (en) | 2011-08-19 | 2013-02-28 | Qd Vision, Inc. | Semiconductor nanocrystals and methods |
US9159872B2 (en) | 2011-11-09 | 2015-10-13 | Pacific Light Technologies Corp. | Semiconductor structure having nanocrystalline core and nanocrystalline shell |
US20130112942A1 (en) * | 2011-11-09 | 2013-05-09 | Juanita Kurtin | Composite having semiconductor structures embedded in a matrix |
WO2013089867A2 (en) | 2011-12-01 | 2013-06-20 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Transient devices designed to undergo programmable transformations |
WO2013149181A1 (en) | 2012-03-30 | 2013-10-03 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Appendage mountable electronic devices conformable to surfaces |
WO2013173409A1 (en) * | 2012-05-15 | 2013-11-21 | Qd Vision, Inc. | Semiconductor nanocrystals and methods of preparation |
US9139770B2 (en) | 2012-06-22 | 2015-09-22 | Nanosys, Inc. | Silicone ligands for stabilizing quantum dot films |
TWI596188B (zh) | 2012-07-02 | 2017-08-21 | 奈米系統股份有限公司 | 高度發光奈米結構及其製造方法 |
US9425365B2 (en) | 2012-08-20 | 2016-08-23 | Pacific Light Technologies Corp. | Lighting device having highly luminescent quantum dots |
US9171794B2 (en) | 2012-10-09 | 2015-10-27 | Mc10, Inc. | Embedding thin chips in polymer |
US8889457B2 (en) | 2012-12-13 | 2014-11-18 | Pacific Light Technologies Corp. | Composition having dispersion of nano-particles therein and methods of fabricating same |
CA2905890C (en) | 2013-03-14 | 2022-02-08 | Nanosys, Inc. | Method for solventless quantum dot exchange |
KR101525525B1 (ko) | 2014-02-05 | 2015-06-03 | 삼성전자주식회사 | 나노 결정 입자 및 그의 제조 방법 |
EP2905321B1 (en) * | 2014-02-05 | 2019-05-15 | Samsung Electronics Co., Ltd | Semiconductor nanocrystal particles and processes for synthesizing the same |
US10677647B2 (en) | 2015-06-01 | 2020-06-09 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Miniaturized electronic systems with wireless power and near-field communication capabilities |
US11029198B2 (en) | 2015-06-01 | 2021-06-08 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Alternative approach for UV sensing |
EP3337872A1 (en) | 2015-08-19 | 2018-06-27 | 3M Innovative Properties Company | Perfluoroether-stabilized quantum dots |
US10925543B2 (en) | 2015-11-11 | 2021-02-23 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Bioresorbable silicon electronics for transient implants |
US11320577B2 (en) | 2016-10-31 | 2022-05-03 | Nanosys, Inc. | Radiation absorbing element for increasing color gamut of quantum dot based display devices |
TW201842164A (zh) | 2017-03-14 | 2018-12-01 | 美商3M新設資產公司 | 經添加劑穩定之複合奈米粒子 |
US11092850B2 (en) | 2017-08-25 | 2021-08-17 | Nanosys, Inc. | Using multiple excitation wavelengths in nanostructure based display devices |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5505928A (en) * | 1991-11-22 | 1996-04-09 | The Regents Of University Of California | Preparation of III-V semiconductor nanocrystals |
US6306736B1 (en) * | 2000-02-04 | 2001-10-23 | The Regents Of The University Of California | Process for forming shaped group III-V semiconductor nanocrystals, and product formed using process |
US6788453B2 (en) * | 2002-05-15 | 2004-09-07 | Yissum Research Development Company Of The Hebrew Univeristy Of Jerusalem | Method for producing inorganic semiconductor nanocrystalline rods and their use |
-
2004
- 2004-03-10 CA CA002518352A patent/CA2518352A1/en not_active Abandoned
- 2004-03-10 JP JP2006509242A patent/JP2006521278A/ja not_active Withdrawn
- 2004-03-10 WO PCT/US2004/007138 patent/WO2005022120A2/en not_active Application Discontinuation
- 2004-03-10 EP EP04775831A patent/EP1601612A2/en not_active Withdrawn
- 2004-03-10 AU AU2004269297A patent/AU2004269297A1/en not_active Abandoned
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007537886A (ja) * | 2004-04-30 | 2007-12-27 | ナノコ テクノロジーズ リミテッド | ナノ粒子材料の作製 |
KR101342684B1 (ko) | 2004-04-30 | 2014-01-15 | 나노코 테크놀로지스 리미티드 | 나노입자의 제조 |
JP2019505403A (ja) * | 2015-12-31 | 2019-02-28 | ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー | ナノ構造材料の連続フロー合成 |
JP7018021B2 (ja) | 2015-12-31 | 2022-02-09 | ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー | ナノ構造材料の連続フロー合成 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2004269297A1 (en) | 2005-03-10 |
EP1601612A2 (en) | 2005-12-07 |
CA2518352A1 (en) | 2005-03-10 |
WO2005022120A3 (en) | 2005-04-28 |
WO2005022120A2 (en) | 2005-03-10 |
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---|---|---|---|
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