JP2006518809A - アルミニウム及びアルミニウム酸化物の少なくとも一方を有し、ルチル構造を具えるチタン酸化物透明被膜 - Google Patents
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Abstract
Description
0.02≦Al/Me≦0.40
ここで、Meは透明被膜中の金属原子の総数を示すものである。本発明による好適な透明被膜は、Al及びTi以外の金属原子を有しないため、以下の原子比の関係が得られる。
0.02≦Al/(Al+Ti)≦0.40
ここで原子記号は、それぞれの金属原子の数を示すものである。
本明細書中でAl2O3とも称するアルミニウム酸化物は、本発明においてはx=2.9〜3.1であるAl2Oxをも意味しうる。
このようにすると、既知の方法よりも著しく低い温度でルチル相即ちルチル構造を形成することができる。このことにより、150℃より高い温度に加熱すべきでない基板にも光学的に有用なルチルを被覆しうるという利点が得られる。既に述べたようにルチルは極めて高い屈折率を有する。
測定は、特に記載しない限り23℃の周囲温度において行っている。
900℃とした炉内で15時間テンパーリングを行った後のTiAlOx の原子数比及び散乱指数は以下の表1の通りである。
本発明による透明干渉被膜中の低屈折率の被膜としては、シリコン二酸化物を用いるのが好ましい。
図1に示されるように、透明干渉被膜3は、主成分が酸化チタン(TiO2 )である高屈折率の被膜1と、主成分が酸化シリコン(SiO2 )である低屈折率の被膜2とを有している。高屈折率の被膜1を、透明基板4の外面上に形成し、その後この被膜1上に低屈折率の被膜2を形成する。更に、高屈折率及び低屈折率の被膜1及び2を交互に形成することにより、所望数の被膜1及び2を有する重畳構造を形成する。
これらの中ではスパッタリング法が、酸化被膜の形成に特に適しており、従って本発明では好ましい技術である。
スパッタリングの用語は、イオンによるカソードの微粉化を意味し、広い意味ではこの微粉化した材料を基板上にスパッタ堆積することも表している。
スパッタ密度とは、使用するターゲット面積に対してノーマライズして導出した処理電力として規定される。
スパッタリング作業は、一般に酸素/アルゴン雰囲気中で行う。
実施例:
二極パルスマグネトロンスパッタリング法を用いて、50×50mmの寸法の石英ガラス基板上に、チタン酸化物及びアルミニウム酸化物からなる本発明による透明被膜を形成した。
T=23℃(周囲温度)
大気圧=実験室の空気圧(常圧)
実験室の雰囲気中で常圧下でテンパーリング処理した。テンパーリング時間は、それぞれの場合について15時間とした。
X線回折:
相の組成及び粒子寸法に関する情報を得るために、Siemens 社の型番D5000である回折装置によりX線回折測定を行った。ここでは、モノクロメータのないBragg-Brentano型の装置を(θ‐2θ)法において使用した。入射するCu‐Kβ線をNiフィルタにより除去した。
相の割り当てを決定するために、Siemens 社により開発され、測定用ソフトウェアに組み込まれているパッケージを使用した。
サンプルの散乱レベルは、“へーズ(Haze)”と称されるパラメータの測定に基づき定量化した。この測定方法では、分光光度計を用いて、透過電磁放射の拡散散乱成分を測定し、これを全透過成分(Ttotal=Tspec+Tdiffus)に対してノーマライズする。従って、透過電磁放射のへーズは0〜1の範囲の値であり次式(1)として定義されるものである。
測定は、Varian社の型番Cary 5E である分光光度計により非偏光を用いて350〜800nmのスペクトル範囲において行った。拡散透過信号成分Tdiffus(λ)を測定するために、積分球(測定スポット寸法:10×10mm)を設けた。
サンプルの屈折率及び被膜厚を決定するために偏光解析測定法を利用した。この方法は、検査中のサンプル表面上で反射させた場合の波の偏光状態の変化に基づくものである。偏光状態の変化は2つの複素フレネル反射係数rp 及びrs の商ρにより表される。これは偏光解析の基本方程式としても知られる次式(3)により示すことができる。
与えられる屈折率n550 は、波長λ=550に関するもので、その精度は±0.01内である。
1.透明被膜(第1の被膜)
2.第1の被膜より屈折率が低い第2の被膜
3.透明干渉被膜
4.透明基板
Claims (11)
- チタン酸化物を含む温度安定性のある透明被膜であって、アルミニウム及びアルミニウム酸化物からなる群から選択した少なくとも1種の添加物を有する透明被膜において、
ルチル構造を有するこの被膜中の金属原子の総数に対する当該被膜中のAl原子の比率が、2〜40%の範囲内にあることを特徴とする透明被膜。 - 請求項1に記載の透明被膜において、
前記ルチル構造を有する透明被膜が、チタン酸化物及びアルミニウム酸化物を主成分としており、この被膜中の金属原子の総数に対する当該被膜中のAl原子の比率が、10〜30%とするのが好ましく15〜20%とするのがより好ましい2〜40%の範囲内にあることを特徴とする透明被膜。 - 請求項1又は2に記載の透明被膜において、
波長λ=550nmにおける前記透明被膜の屈折率nが、n=2.40〜n=2.65であるのが好ましくn=2.45〜n=2.60であるのがより好ましいn=2.30〜n=2.68であることを特徴とする透明被膜。 - 請求項1〜3のいずれか一項に記載の透明被膜において、
前記透明被膜が、950℃にした炉内で15時間熱処理を行った後も、透明のままであるか、又はλ=550nmの波長において、n=2.40〜n=2.65であるのが好ましくn=2.45〜n=2.60であるのがより好ましいn=2.30〜n=2.68の屈折率を有するか、又はこれらの双方に該当することを特徴とする透明被膜。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の透明被膜において、
400nmの被膜厚を有する前記透明被膜が、900℃にした炉内で15時間熱処理を行った後も、透明のままであるか、又は20nm〜70nmであるのが好ましく、30nm〜60nmであるのがより好ましく、40nm〜50nmであるのが更に好ましい0nm〜80nmであるiHaze値を有するか、又はこれらの双方に該当することを特徴とする透明被膜。 - 請求項1〜5のいずれか一項に記載の透明被膜において、
この透明被膜が、完全に非晶質であるのが好ましいほぼ非晶質であり、いかなるアナターゼ構造をも有してないのが好ましいルチル状の短範囲規則構造を有していることを特徴とする透明被膜。 - 380nm〜3000nmとするのが好ましく、350nm〜2500nmとするのがより好ましく、400nm〜2000nmとするのが特に好ましく、420nm〜1500nmとするのが最も好ましい250nm〜5000nmの透過スペクトル波長範囲内の光を反射する透明干渉被膜であって、この透明干渉被膜が、透明とするのが好ましい基板上に、第1の被膜と、この又はこれらの第1の被膜より屈折率の低い第2の被膜とを交互に重ね合せて有している当該透明干渉被膜において、
前記第1の被膜が、請求項1〜6のいずれか一項に記載の透明被膜であることを特徴とする透明干渉被膜。 - 請求項7に記載の透明干渉被膜において、
前記第2の被膜に対する屈折率が、λ=550nmにおいてn=1.35〜n=1.80とするのが好ましく、n=1.44〜n=1.75とするのが最も好ましいn=1.32〜n=2.0であることを特徴とする透明干渉被膜。 - 請求項1〜6のいずれか一項に記載の透明被膜及び請求項6又は7に記載の透明干渉被膜の少なくとも一方を有する特に高圧放電ランプとするランプにおいて、
前記透明被膜及び前記透明干渉被膜の双方又はいずれか一方が、ランプ管の内面及び外面の双方又はいずれか一方の上及び管壁内の双方又はいずれか一方に設けられていることを特徴とする高圧放電ランプ。 - 本体を被覆するための請求項1〜6のいずれか一項に記載の温度安定性のある透明被膜及び請求項7又は8に記載の透明干渉被膜の少なくとも一方の使用方法において、
前記本体が、ビーム形成装置、ビーム分割装置、光ファイバ部材、特にランプである照明媒体、ランプハウジング、ガスセンサ、特に断熱ガラスであるガラス、プラスチック、透明素子、フィルタ、レンズ、ミラー、特に透明フィルタシステムであるレーザーミラー、ホットミラー、コールドミラー、反射防止システム、帯域フィルタ、エッジフィルタ、低放射ガラスのような光情報技術における部材と、特に拡散障壁及びキャパシタ素子である電気部材のような電気用途に用いる本体とからなる群から選択したものであることを特徴とする使用方法。 - 請求項1〜6のいずれか一項に記載のルチル構造を具える温度安定性のある透明被膜であって、チタン酸化物を有し、アルミニウム及びアルミニウム酸化物からなる群から選択した少なくとも1種の添加物を含む透明被膜の製造方法において、
チタン、チタン酸化物、アルミニウム及びアルミニウム酸化物から成る群から選択した少なくとも1つのターゲットから、規定可能な酸素分圧pで、20〜300℃の堆積温度で、特にスパッタリングとする気相堆積処理により、ルチル構造を達成したチタン酸化物を有する前記透明被膜を、被覆すべき基板面上に堆積することを特徴とする透明被膜の製造方法。
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