JP2006350503A - 解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、および、解析メッシュモデル生成プログラム - Google Patents

解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、および、解析メッシュモデル生成プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2006350503A
JP2006350503A JP2005173371A JP2005173371A JP2006350503A JP 2006350503 A JP2006350503 A JP 2006350503A JP 2005173371 A JP2005173371 A JP 2005173371A JP 2005173371 A JP2005173371 A JP 2005173371A JP 2006350503 A JP2006350503 A JP 2006350503A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mesh
analysis
model
generation
mesh model
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005173371A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4389843B2 (ja
Inventor
Yukihiro Iwata
進裕 岩田
Toshiaki Takasu
敏彰 高須
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2005173371A priority Critical patent/JP4389843B2/ja
Publication of JP2006350503A publication Critical patent/JP2006350503A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4389843B2 publication Critical patent/JP4389843B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】 解析メッシュモデルの作成は、数値解析の結果に大きな影響を与え、また、経験、習熟度を要する。経験、習熟度の浅い設計者は、専任者と同等の精度、時間で数値解析を実施することが困難であった。
【解決手段】 解析メッシュモデル生成で行われる解析モデルの形状簡略、メッシュ生成において、部品の重要度に応じて設定された許容基準を満足するようにすることで、経験、習熟度の浅い設計者が、専任者と同等の精度、時間で数値解析を実施することが可能となる。
【選択図】図6

Description

本発明は、熱流体解析等の数値解析(シミュレーション)に用いるメッシュモデル生成技術に関する。
近年、商品開発期間の短縮が進み、開発上流での課題解決を目指して、数値解析(シミュレーション)が広く利用されている。
図22は、従来の解析装置の処理手順を説明するフローチャートである。
最初に、解析対象となる製品の部品毎に形状が入力される(S41)。次に、部品毎の材質や境界条件が設定されて(S42)、解析プリミティブが作成される(S40)。複数部品によって構成される製品全体の解析を行なうために、部品毎に形状、材質および境界条件が設定されて解析プリミティブが作成され、それらの解析プリミティブが組み合わされて製品全体の解析プリミティブが作成される。
次に、解析プリミティブが小さなエレメントに分割されて、メッシュモデルが生成される(S43)。解析に必要な熱伝達係数、発熱量等の解析条件がメッシュモデルに設定されて、解析処理(計算)が実行される(S44)。最後に、解析結果が画面に表示されて処理を終了する。
メッシュモデルとしては、汎用的な有限要素モデル、差分格子モデル、境界要素モデル等があって、例えば製品の発熱状態に応じた温度分布を解析する3次元熱流体解析においては、物体の周囲に流れる熱の挙動を、3次元格子を用いて解析するのが一般的である。
3次元格子の作成方法は、各物体の頂点をキーポイントとして直交格子を自動的に発生させた後、設計者が要素分割数を指定する、もしくは注目すべき部分を指示することで、直交格子を細分化する。逆に、発熱源の影響が非常に小さいと判断される部分、もしくは注目する必要のない部分を指定して、その部分に関しては計算に必要な格子を発生させない等のメッシュ要素の粗密制御が行われる。
現在、これらメッシュモデルを効率よく生成することによって、計算速度および計算精度の向上が図られているが、個々の部品が重要であるか否か、直交格子を細分化するか無視するか等の判断は、設計者の経験に依存する部分が大きく、利用者の熟練度によって解析時間、解析精度が異なるという問題があった。
この問題点を解決する技術として、たとえば特許文献1に開示された発明がある。この発明は、解析の種類に応じた部品の重要度と部品間の影響を表す影響属性を抽出すると共に、この重要度と影響属性を用いてメッシュ生成を粗密制御することを開示している。
特開2002−82999号公報
しかしながら、引用文献1においては、重要度と影響属性を用いてメッシュ生成の粗密制御を行うという概念は示されているが、具体的に重要度等をどのように用いるかについては開示されていない。したがって、メッシュ生成の粗密制御の良し悪しをどのように判断し、重要度をこれにどう関連させるかが不明であり、上述の利用者の熟練度によって解析時間、解析精度が異なるという課題は十分に解決されていない。
従って、本発明は上記問題点を鑑みて、経験、習熟度の浅い設計者が、専任者と同等の精度、時間で数値解析を実施するための解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、および、解析メッシュモデル生成プログラムを提供する。
上記目的のうち1つは、以下の解析メッシュモデル生成装置によって達成される。数値解析に用いる解析メッシュモデルを生成する解析メッシュモデル生成装置であって、
複数の部品の形状データを部品モデルとして解析装置に読みこむ形状入力部と、
前記各部品モデルに対し、数値解析への影響に応じて設定された重要度を設定する部品重要度設定部と、
前記部品モデルを前記重要度に基づいて設定された許容基準に従い簡略化する形状簡略部と、
前記部品重要度に基づいて決定された許容基準に従い、前記部品モデルにメッシュ要素を生成し部品メッシュモデルを作成するメッシュ要素生成部と、
を含む解析メッシュモデル生成装置。
また、上記目的のうち1つは、以下の解析メッシュモデル生成方法によって達成される。数値解析に用いる解析メッシュモデルを生成する解析メッシュモデル生成方法であって、
複数の部品の形状データを部品モデルとして解析装置に読みこむ形状入力ステップと、
前記各部品モデルに対し、数値解析への影響に応じて設定された重要度を設定する部品重要度設定ステップと、
前記部品モデルを前記重要度に基づいて設定された許容基準に従い簡略化する形状簡略ステップと、
前記部品重要度に基づいて決定された許容基準に従い、前記部品モデルにメッシュ要素を生成し部品メッシュモデルを作成するメッシュ要素生成ステップと、
を含む解析メッシュモデル生成方法。
また、上記目的のうち1つは、以下の解析メッシュモデル生成プログラムによって達成される。解析メッシュモデル生成方法をコンピュータで実現するための解析メッシュモデル生成プログラム。
本発明によれば、経験、習熟度の浅い設計者が、専任者と同等の精度、時間で数値解析を実施するための解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、および、解析メッシュモデル生成プログラムを提供することが可能となる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。実施の形態として、熱流体解析に用いる解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、および、解析メッシュモデル生成プログラムについて説明する。なお、本実施の形態の熱流体解析装置は、解析メッシュモデル生成装置としても機能する。
図1は、本実施の形態における熱流体解析装置の概略構成を示すブロック図である。この熱流体解析装置は、キーボード、マウス等の入力部20と、ディスプレイ、プリンタ等の出力部22と、入力部20と出力部22の間でデータの入出力を行なうためのI/O(Input/Output)デバイス21と、FD(Floppy(登録商標) Disc)、CD−ROM(Compact Disc)等の記録媒体23と、記録媒体23に対するデータの読書きを行うための外部記憶ドライバ24と、熱流体解析装置全体の制御を行うためのCPU(Central Processing Unit)25と、各種のプログラムおよびデータが格納されるROM(Read Only Memory)26と、インターネット等の外部通信ネットワーク29との間の通信接続を行うための通信デバイス27と、処理対象のデータを一時的に格納するためのRAM(Random Access Memory)28と、ハードディスク30を含む。
解析メッシュモデル生成プログラムおよび解析処理のためのプログラム(以下、解析プログラムと呼ぶ。)は、記録媒体23によって供給される。記録媒体23に記録された解析プログラムは、CPU25によって外部記憶ドライバ24を介して一旦ハードディスク30に格納される。CPU25は、ハードディスク30から適宜解析プログラムをRAM28にロードして実行することによって解析メッシュモデル生成を行い、その後に解析処理を行なう。また、解析プログラムは他のコンピュータより通信ネットワーク29を経由して供給されてもよい。
図2は、本実施の形態における熱流体解析装置の機能的な構成を示すブロック図である。熱流体解析装置は、装置全体的の制御を行うための制御部1と、形状入力部3と、解析条件設定部4と、部品重要度設定部5と、形状修正メッシュ部6と、要素生成部7と、メッシュ要素修正部8と、解析処理部9と、表示部10とを含む。
なお、解析メッシュモデル生成装置11は、制御部1と、形状入力部3と、解析条件設定部4と、部品重要度設定部5と、形状修正メッシュ部6と、要素生成部7と、メッシュ要素修正部8とを含む。
図3は、本実施の形態における熱流体解析装置の処理手順のフローチャートである。本実施の形態の熱流体解析装置は、以下の処理を行う。
(1)オペレータからの指示により、形状入力部3に解析対象である製品の形状データが入力される(S31)。解析対象である製品は、複数の部品からなる。また、解析対象は、形状データとして頂点、稜先、面および、これらからなる立体によって定義される。
また、形状データとしては、面積、体積等を含んでも良い。含んでいない場合は形状データから面積、体積等を算出し形状データに追加する。形状データとしては、3次元CAD等を用いて構築される3次元設計データを用いることが出来る。
このとき、各部品を識別するための部品識別データを形状データと関連させて入力する。以下、識別データと形状データとを含む部品ごとのデータを部品モデルと称する。部品モデルは解析装置における仮想空間での部品であるといえる。
またこのとき、所定のサイズを越える部品モデルは、前記所定のサイズ以下になるように分割される。
(2)オペレータからの指示により、解析条件設定部4は、材料特性、発熱量、および解析計算に必要な境界条件を含む解析条件を設定する(S32)。材料特性としては、熱流体解析に必要な熱物性値として、熱伝導率、比熱、比重、放射率、比重等を部品モデル毎に設定する。発熱量としては、部品全体の発熱量、もしくは単位体積あたりの発熱密度を部品モデル毎に設定する。具体的には、材料特性および発熱量は、部品識別子と関連付けて設定される。境界条件としては、重力の方向、解析空間と外部における圧力、流入出、熱伝達等を設定する。
以下、全ての部品モデルと解析条件とを含むデータを解析形状モデルと称する。
(3)部品重要度設定部5は、数値解析への影響である熱流体現象への影響に応じてあらかじめ設けられた部品重要度決定ルールに基づき、各部品に対し重要度を設定する(S33)。そして、部品重要度が設定されると、各重要度(ランク)に対応して設定された、許容基準値としての形状体積誤差が形状簡略部で行われる形状簡略化に適用され、メッシュモデル体積誤差、メッシュ面積誤差がメッシュ要素生成部で行われるメッシュ粗密制御に適用される。
部品重要度決定ルールとしては、部品の機能を考慮してランク分けするもの、発熱体に対する配置関係を考慮してランク分けするもの等が考えられる。
図4は、部品重要度決定ルールの一例を示す図である。部品の機能を考慮して重要度をランク分けしたものである。部品の機能を、発熱体、基板、放熱部材、外装、通風孔、その他と分類し、それぞれに重要度ランク(1〜5)が設定されている。
オペレータは、各部品モデルについて、部品重要度決定ルールに含まれる部品の機能の中から最適なものを選択する。部品重要度設定部5は、選択された部品の機能に対応する重要度を当該部品モデルに対して設定する。
図5は、部品重要度決定ルールの他の一例を示す図である。発熱体に対する各部品モデルの配置関係を考慮してランク分けしたもので、ランク分けの指標MQを、次式(1)
MQ=ΣQi/Ri ・・・ 式(1)
より、算出し、MQ値が大きなもの程、熱流体現象への影響が大きい重要な部品であると考え、高い重要度を設定するものである。ここで、Qは、重要度を設定する部品モデルの周辺の発熱体の発熱量、Rは当該部品モデルと発熱体との距離で、各発熱体についてQ/Rを算出し、総和した値である。
なお、本実施の形態では、部品モデルの内、発熱量が設定されているものを発熱体としている。
図6は、各重要度ランクと許容基準の対応の一例を表す図である。許容基準として、形状体積誤差、メッシュモデル体積誤差が設定されている。
重要度および重要度に対応した許容基準の設定に関しては、解析熟練者の経験をベースとした方法、田口メソッドなどの統計的手法を用いて、過去の計算結果等を参考に設定する方法等が考えられる。
(4)形状簡略部6は、第1のメッシュ要素生成部7の事前準備に対応する部分で、部品モデルの微小形状を簡略し、形状を簡略化するものである(S34)。微小形状は、メッシュ数の増加、メッシュアスペクト比の悪化の原因となるからである。具体的には、微小形状である突起、孔、R部、面取り部、等々を簡略し、形状を簡略化するものである。
以下、形状簡略部6の動作について、部品モデルの形状データがフィーチャーによる作成履歴を持っているデータである場合を例に説明する。この場合、微小形状に関与しているフィーチャーを削除し、形状を簡略化する。
図7は、形状簡略部6の詳細な構成を示すブロック図である。形状簡略部6は、削除基準設定部71、対象フィーチャー抽出部72、体積算出部73、体積比較部74、削除基準更新部75を含む。
図8は、形状簡略ステップS34の詳細なフローチャートである。
削除基準設定部71は、初期の削除基準として形状サイズを設定する(S71)。例えば、解析対象サイズの1/100を初期値として設定する。
対象フィーチャー抽出部72は、この削除基準より小さな形状に関連するフィーチャーを抽出する(S72)。
体積算出部73は、抽出されたフィーチャーを削除した場合の部品モデルの体積を算出する(S73)。
体積比較部74は、抽出されたフィーチャーを削除しない場合の部品モデルの体積に対する削除した場合の部品モデルの体積の変化の割合である体積誤差を算出する。そして、当該体積誤差が許容基準である形状体積誤差以内であれば抽出されたフィーチャーの削除を実行する(S74)また、体積誤差が許容基準より大きければ抽出されたフィーチャーの削除を実行しない(S74)。
削除基準更新部75は、更に削除基準としての形状サイズを大きくして、簡略化を継続する(S75)。
体積誤差が許容基準である形状体積誤差を越えた時点で簡略化を終了し、次のメッシュ要素生成部7にデータを受け渡す。形状体積誤差は、部品重要度設定部5における値を適用する(図6)。
図9は、形状簡略前の部品モデルの一例を示す図、図10は、形状簡略後の部品モデルの一例を示す図である。形状簡略前の部品モデルは、2つの部品モデル、基板81とLSI82からなる。形状簡略後は、基板取り付け孔83、放熱板R部84、LSI足85が削除されている。
(5)第1のメッシュ要素生成部7は、重要度に基づいてメッシュ要素を粗密制御し、メッシュ要素を生成する。
図11は、メッシュ要素生成部7の詳細なブロック図である。メッシュ要素生成部7は、最小メッシュサイズ設定部101、頂点分割部102、第1のメッシュ数判定部103、削減軸(順番)設定部104、メッシュモデル体積算出部105、メッシュモデル体積比較部106、メッシュ間引き部107、第2のメッシュ要素数判定部108、許容基準緩和部109、メッシュアスペクト比改善部110を含む。
図12は、メッシュ要素生成ステップS35の詳細なフローチャートである。
最小メッシュサイズ設定部101は、生成されるメッシュ要素の最小サイズを決定する(S101)。最小サイズは、経験値、解析対象全体サイズに対する割合、最小部品サイズ、メッシュ要素数上限値等々を考慮して決定する。メッシュ要素数の上限値を越えない範囲で、なるべく最小サイズを小さく設定する方法を用いる。解析を実行するパソコンの能力(主に利用可能なメモリーサイズ)によって、生成可能なメッシュ要素数が限定されるためである。例えば、32ビットPC、ウインドウズNT、2000(登録商標)では、アプリケーションのメモリー使用量が2GBYTE以内と制限されるため、メッシュ要素数上限値は500万メッシュ前後とする。
頂点分割部102は、全ての部品モデルおよびこれらを含みこれより若干大きな領域として設定される解析領域に関し、その全頂点を通過するようにメッシュラインを生成し、生成されたメッシュラインに従ってメッシュ要素を生成する(S102)。以下、メッシュ要素の生成された部品モデルを部品メッシュモデルと称する。メッシュラインの生成においては、上記の最小メッシュサイズ設定部101で設定された値を参照し、それ以下のメッシュ要素を生成するメッシュラインは削除する。
なお、メッシュラインとは、メッシュ要素の境界である。また、メッシュラインは、3次元の解析では面であり、2次元の解析では線である。
第1のメッシュ要素数判定部103は、生成したメッシュ要素数があらかじめ設定されたメッシュ要素数上限値以内であるという条件を満足するか判定する部分である。満足しない場合は、以降のメッシュ間引きプロセスに進む。満足する場合は、メッシュ要素生成を完了し、メッシュ要素のアスペクト比改善ステップS110に移る。
削減軸(順番)設定部104は、メッシュ要素数を削減するための、メッシュライン間引き対象軸を設定する(S104)。熱流体解析は直交座標系(デカルト座標系:XYZ軸)で行われる場合を想定する。各軸に直交するメッシュラインの数の多い順に1軸、2軸、3軸と設定し、1軸から順番にメッシュラインの間引きを進める。
図13は、各軸に直交する解析領域の概要を示す図である。解析形状モデル50の周辺の熱流体現象を計算する場合に、解析形状モデル50を含みこれより若干大きな領域51を設定する。この場合は、各軸に直交するメッシュライン数は、Y軸に直交なメッシュライン53の数、Z軸に直交なメッシュライン54の数、X軸に直交なメッシュライン52の数の順番で多いので、1軸=Y軸、2軸=Z軸、3軸=X軸の順番でメッシュラインの間引きを進めることとなる。
メッシュモデル体積算出部105、メッシュモデル体積比較部106、メッシュ間引き部107、メッシュ数判定部108は、1軸、2軸、3軸の順番で行われる。また、各軸において、各軸に直交する全メッシュラインに対して任意に番号が付与され、番号1のメッシュラインから順に全メッシュラインに対して実行される。
メッシュモデル体積算出部105は、対象とする軸の対象とするメッシュラインを仮に削減した場合のメッシュ要素生成を行い、各部品メッシュモデルの体積を算出する(S105)。
メッシュモデル体積比較部106は、簡略化された部品モデルの体積に対する上記算出された部品メッシュモデルの体積の変化の割合である体積誤差を算出する。そして、当該体積誤差が許容基準であるメッシュ体積誤差を満足するかを判定する(S106)。満足する場合は、メッシュ間引きステップ(S107)に進む。満足しない場合は、メッシュラインの番号を1増やし、次のメッシュラインについて、メッシュモデル体積算出(S105)に進む。
メッシュ間引き部107は、上記メッシュモデル体積比較部106での結果に基づき、体積誤差が許容基準以内であるという条件を満足する場合は、メッシュラインの削除および削除されなかった残りのメッシュラインに基づく、メッシュ要素生成を実行する(S107)。
メッシュ要素数判定部108は、生成されたメッシュ要素数が上記のメッシュ要素数上限値以内であるという条件を満足するか判定する(S108)。満足する場合は、メッシュ要素生成を完了し、メッシュ要素のアスペクト比改善部110に実行を移す。
満足しない場合は、メッシュラインの番号を1増やし、次のメッシュラインについて、メッシュモデル体積算出(S105)に進む。メッシュラインの番号が最後の場合は、軸の番号を1増やして次の軸に進み、当該軸に直交するメッシュラインの番号1について、メッシュモデル体積算出(S105)に進む。
許容基準緩和部109は、各軸、全メッシュラインに対して、間引きを実行した結果として、メッシュ要素数がメッシュ要素数上限値以内におさめられない場合は、許容基準を緩和して、再度メッシュ間引きを実行する(S109)。例えば、許容基準であるメッシュ体積誤差を一律1.05倍して、再実行するなどの方法が考えられる。
図14は、メッシュアスペクト比改善部110の詳細な構成を示すブロック図である。メッシュアスペクト比改善部110は、低アスペクト・リスト作成部201、メッシュライン設定部202、第3のメッシュ要素数判定部203、第2のメッシュ要素生成部204、低アスペクト比・リスト更新部205を含む。
図15は、メッシュアスペクト比改善ステップS110の詳細なフローチャートである。
低アスペクト・リスト作成部201は、全メッシュ要素に対し、アスペクト比を算出し、アスペクト比の悪い要素から順番にリストアップし、低アスペクト・リストを作成する(S201)。なお、アスペクト比が悪いとは、アスペクト比を短辺/長辺で算出する場合、アスペクト比が小さいことを意味し、アスペクト比を長辺/短辺で算出する場合、アスペクト比が大きいことを意味する。
メッシュライン設定部202は、上記低アスペクト・リストに基づき、最もアスペクト比の悪いメッシュを選択し、改善するためのメッシュラインを設定する(S202)。例えば、対象とするメッシュ要素の長辺方向のメッシュ要素間を2分割する。
メッシュ数判定部203は、上記メッシュ分割によって生成したメッシュ要素数が上記のメッシュ要素数上限値以内であるという条件を満足するか判定する(S203)。満足しない場合は、メッシュアスペクト比改善を完了する。満足する場合は、メッシュラインを確定する。
メッシュ要素生成部204は、上記確定したメッシュラインに基づいて部品モデルに対し、メッシュ要素を生成する(S204)。
低アスペクト・リスト更新部205は、メッシュ要素生成ステップS204で新規に生成されたメッシュ要素に対し、アスペクト比を算出し、低メッシュアスペクト・リストを更新する(S205)そして、メッシュライン設定ステップS202に戻る。
(6)メッシュ要素修正部8は、メッシュ要素の不具合を修正する(S36)。
図16は、メッシュ要素修正部8の詳細な構成を示すブロック図である。メッシュ要素修正部8は、共有面・エッジ算出部301、エッジ接続判定部302、変更要素設定部303を含む。
図17は、メッシュ要素修正ステップ(S36)の詳細なフローチャートである。
以下のステップは、各軸毎に順番に行われる。また、各軸において、当該軸に直交するメッシュライン毎に順番に行われる。さらに、当該メッシュラインに含まれる部品メッシュモデル毎に順番に行われる。
共有面・エッジ算出部301は、対象とする軸において、対象とするメッシュラインに含まれる、対象とする部品に対して生成された各メッシュ要素について、隣り合う他のメッシュ要素との共有面の総数および共有エッジの総数をそれぞれ算出する(S301)。
エッジ接続判定部302は、隣り合う他のメッシュ要素とエッジでのみ接しているメッシュ要素(以下、エッジ接続要素と称する)の総数を抽出する。エッジ接続要素は、上記共有面数および共有エッジ数から共有面=0、かつ、共有エッジ=1となるメッシュ要素として判断する。そして、抽出したエッジ接続要素の総数が1以上でない場合、処理を終了し、抽出したエッジ接続要素の総数が1以上の場合は次のステップに進む(S302)。
図18は、メッシュ要素の接続形態の全パターンを示す図である。40は対象とするメッシュ要素であり、41は同じ断面内の同じ部品に対して生成されたメッシュ要素で、対象とするメッシュ要素40と他のメッシュ要素41の接続形態と、それぞれの場合の共有面数、共有エッジ数をそれぞれ示している。
メッシュ要素40の接続形態のパターンとしては、全部で7通りのパターンが考えられる。これらのうち、エッジだけを共有するパターン2は、エッジを通しての熱伝導が行われないため、解析処理を実行した場合、この共有エッジの前後で温度分布が不連続になるという現象が発生する。しかし、これらは同一部品であって本来熱の伝達が行われるべきものであるため、メッシュ要素の修正が必要となる。したがって、上述のように、パターン2の接続形態となるエッジ接続要素を抽出する。
変更要素設定部303は、エッジ接続要素および当該エッジ接続要素とエッジでのみ接しているメッシュ要素の両方と面で接するメッシュ要素を選定する。そして、選定したメッシュ要素を部品メッシュモデルの一部へと変更する(S303)。具体的には、選定したメッシュ要素のメッシュ属性を部品メッシュモデルの各メッシュ要素と同じものに変更する。なお、メッシュ属性とは、各メッシュ要素がどの部品メッシュモデルに属するかを示す部品識別データ等を意味する。
図19(a)は、変更要素設定ステップS303の実行前の一例を示す図、(b)は実行後の一例を示す図である。図19(a)に示すように、対象となっているエッジ接続要素50とこれとエッジでのみ接しているメッシュ要素51とがある。これらは、対象となっている部品の部品モデル52から生成された部品メッシュモデルに属する。
属性を変更するメッシュ要素としては、メッシュ要素53、54の双方が考えられるので、部品モデル52からの体積変化を考慮して属性を変更するメッシュ要素を決定する必要がある。
この例では、より部品メッシュモデルの体積と部品モデル52の体積を比較した場合に体積誤差が少なくなる、メッシュ要素53を選択し、メッシュ属性を変更して新たなメッシュ要素55を生成している。
図20は、変更要素設定ステップS303の実行後の他の一例を示す図である。
図20に示すように、波線で示された中間メッシュライン57を設定し、細分化した上でメッシュ要素55、56を生成する方法も有効である。
変更要素設定部303における変更要素設定ステップS303は、抽出されたエッジ接続要素全てに対して順に行われる。そして、全てのエッジ接続要素に対しての処理が終わった場合、次の部品に進む。また、全ての部品について処理が終わった場合、次のメッシュラインに進む。さらに、全てのメッシュラインについて処理が終わった場合、次の軸に進む。またさらに、全ての軸について処理が終わった場合、処理を終了する。
以上(1)から(6)のステップにより、解析対象に対してメッシュ要素の生成、および解析条件が設定された解析メッシュモデルが生成される。
(7)解析処理部9は、解析メッシュモデルを用いて数値解析を行う(S37)。
(8)表示部10は、解析処理部9の解析結果を種々の方法で表示する(S38)。
なお、解析条件の設定は、メッシュ要素の生成が終了した後に行ってもよい。
また、許容基準としては、体積以外にも、図21に示すように、形状体積誤差およびメッシュ面積誤差を用いてもよい。これらは特に部品モデルが薄板状の場合に有効であり、面積としては解析で用いる座標軸に直交な面への投影面積を算出する。そして、メッシュ要素生成部7でのメッシュ要素生成ステップS35においては、体積算出に替えて上記面積算出を用い、許容基準としてメッシュ面積誤差を用いる。
また、本実施の形態の各構成および各構成での各ステップは、プログラムによってコンピュータで実行可能にしてもよい。
以上、本実施の形態によれば、経験、習熟度の浅い設計者が、専任者と同等の精度、時間で数値解析を実施することが可能になる。また、メッシュ要素数上限値に収まるように解析メッシュモデルを生成することができる。
なお、今回開示された実施の形態は、全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記に説明した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での全ての変更が含まれることが意図されている。
本発明にかかる解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、および、解析メッシュモデル生成プログラムは、経験、習熟度の浅い設計者が、専任者と同等の精度、時間で数値解析を実施することが可能になるため、構造解析、衝撃解析、熱流体解析、樹脂流動解析、振動解析、熱伝導解析、磁場解析、電流解析、流体解析等に関して有用である。
本実施の形態における熱流体解析装置の概略構成を示すブロック図 本実施の形態における熱流体解析装置の機能的な構成を示すブロック図 本実施の形態における熱流体解析装置の処理手順のフローチャート 部品重要度決定ルールの一例を示す図 部品重要度決定ルールの他の一例を示す図 各重要度ランクと許容基準の対応の一例を表す図 形状簡略部6の詳細な構成を示すブロック図 形状簡略ステップS34の詳細なフローチャート 形状簡略前の部品モデルの一例を示す図 形状簡略後の部品モデルの一例を示す図 メッシュ要素生成部7の詳細な構成を示すブロック図 メッシュ要素生成ステップS35の詳細なフローチャート 各軸に直交する解析領域の概要を示す図 メッシュアスペクト比改善部110の詳細な構成を示すブロック図 メッシュアスペクト比改善ステップS110の詳細なフローチャート メッシュ要素修正部8の詳細な構成を示すブロック図 メッシュ要素修正ステップ(S36)の詳細なフローチャート メッシュ要素の接続形態の全パターンを示す図 (a)変更要素設定ステップS303の実行前の一例を示す図、(b)変更要素設定ステップS303の実行後の一例を示す図 変更要素設定ステップS303の実行後の他の一例を示す図 各重要度ランクと許容基準の対応の他の一例を表す図 従来の解析装置の処理手順を説明するフローチャート
符号の説明
1 制御部
3 形状入力部
4 解析条件設定部
5 部品重要度設定部
6 形状簡略部
7 第1のメッシュ要素生成部
8 メッシュ要素修正部
9 解析処理部
10 表示部
20 入力部
21 I/Oデバイス
22 出力部
23 記録媒体
24 外部記憶ドライバ
25 CPU
26 ROM
27 通信デバイス
28 RAM
29 外部通信ネットワーク
30 ハードディスク
71 削除基準設定部
72 対象フィーチャー抽出部
73 体積算出部
74 体積比較部
75 削除基準更新部
101 最小メッシュサイズ設定部
102 頂点分割部
103 第1のメッシュ要素数判定部
104 削減軸(順番)設定部
105 メッシュモデル体積算出部
106 メッシュモデル体積比較部
107 メッシュ間引き部
108 第2のメッシュ要素数判定部
109 許容基準緩和部
110 メッシュアスペクト比改善部
201 低アスペクト・リスト作成部
202 メッシュライン設定部
203 第3のメッシュ要素数判定部
204 第2のメッシュ要素生成部
205 低アスペクト比・リスト更新部
301 共有面・エッジ算出部
302 エッジ接続判定部
303 変更要素設定部

Claims (13)

  1. 数値解析に用いる解析メッシュモデルを生成する解析メッシュモデル生成装置であって、
    複数の部品の形状データを部品モデルとして解析装置に読みこむ形状入力部と、
    前記各部品モデルに対し、数値解析への影響に応じて設定された重要度を設定する部品重要度設定部と、
    前記部品モデルを前記重要度に基づいて設定された許容基準に従い簡略化する形状簡略部と、
    前記部品重要度に基づいて決定された許容基準に従い、前記部品モデルにメッシュ要素を生成し部品メッシュモデルを作成するメッシュ要素生成部と、
    を含む解析メッシュモデル生成装置。
  2. 前記形状簡略部は、簡略化前の部品モデルの体積に対する簡略化後の部品モデルの体積の変化の割合が前記部品重要度に応じて設定された形状体積誤差の範囲内に入るように簡略化を行う請求項1に記載の解析メッシュモデル生成装置。
  3. 前記メッシュ要素生成部は、前記簡略部で簡略化された部品モデルの体積に対するメッシュ要素の生成後の部品メッシュモデルの体積の変化の割合が前記部品重要度に応じて設定されるメッシュ体積誤差の範囲内に入るようにメッシュ要素を生成する請求項1または2に記載の解析メッシュモデル生成装置。
  4. 前記メッシュ要素生成部は、前記簡略部で簡略化された部品モデルの面積に対するメッシュ要素の生成後の部品メッシュモデルの面積の変化の割合が前記部品重要度に応じて設定される面積誤差基準内におさまることを特徴とする請求項1または2に記載の解析メッシュモデル生成装置。
  5. 前記面積は、解析で用いる座標軸に直交する面への投影面積であることを特徴とする請求項4記載の解析メッシュモデル生成装置。
  6. 所定のサイズを越える部品モデルは、前記所定のサイズ以下になるように分割されることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の解析メッシュモデル生成装置。
  7. 数値解析に用いる解析メッシュモデルを生成する解析メッシュモデル生成方法であって、
    複数の部品の形状データを部品モデルとして解析装置に読みこむ形状入力ステップと、
    前記各部品モデルに対し、数値解析への影響に応じて設定された重要度を設定する部品重要度設定ステップと、
    前記部品モデルを前記重要度に基づいて設定された許容基準に従い簡略化する形状簡略ステップと、
    前記部品重要度に基づいて決定された許容基準に従い、前記部品モデルにメッシュ要素を生成し部品メッシュモデルを作成するメッシュ要素生成ステップと、
    を含む解析メッシュモデル生成方法。
  8. 前記形状簡略ステップは、簡略化前の部品モデルの体積に対する簡略化後の部品モデルの体積の変化の割合が前記部品重要度に応じて設定された形状体積誤差の範囲内に入るように簡略化を行う請求項7に記載の解析メッシュモデル生成方法。
  9. 前記メッシュ要素生成ステップは、前記簡略部で簡略化された部品モデルの体積に対するメッシュ要素の生成後の部品メッシュモデルの体積の変化の割合が前記部品重要度に応じて設定されるメッシュ体積誤差の範囲内に入るようにメッシュ要素を生成する請求項7または8に記載の解析メッシュモデル生成方法。
  10. 前記メッシュ要素生成ステップは、前記簡略部で簡略化された部品モデルの面積に対するメッシュ要素の生成後の部品メッシュモデルの面積の変化の割合が前記部品重要度に応じて設定される面積誤差基準内におさまることを特徴とする請求項7または8に記載の解析メッシュモデル生成方法。
  11. 前記面積は、解析で用いる座標軸に直交する面への投影面積であることを特徴とする請求項10記載の解析メッシュモデル生成方法。
  12. 請求項7から11のいずれかの解析メッシュモデル生成方法をコンピュータで実現するための解析メッシュモデル生成プログラム。
  13. 請求項12の解析メッシュモデル生成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
JP2005173371A 2005-06-14 2005-06-14 解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、解析メッシュモデル生成プログラム、および記録媒体 Expired - Fee Related JP4389843B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005173371A JP4389843B2 (ja) 2005-06-14 2005-06-14 解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、解析メッシュモデル生成プログラム、および記録媒体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005173371A JP4389843B2 (ja) 2005-06-14 2005-06-14 解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、解析メッシュモデル生成プログラム、および記録媒体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006350503A true JP2006350503A (ja) 2006-12-28
JP4389843B2 JP4389843B2 (ja) 2009-12-24

Family

ID=37646304

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005173371A Expired - Fee Related JP4389843B2 (ja) 2005-06-14 2005-06-14 解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、解析メッシュモデル生成プログラム、および記録媒体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4389843B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009048537A (ja) * 2007-08-22 2009-03-05 Fujitsu Ltd 多面体生成プログラム、多面体生成装置および多面体生成方法
JP2011090638A (ja) * 2009-10-26 2011-05-06 Fujitsu Ltd 部品選択プログラム、部品選択方法および部品選択装置
JP2011113530A (ja) * 2009-11-30 2011-06-09 Canon Inc 形状簡略化装置、形状簡略化方法及びプログラム
JP2011159674A (ja) * 2010-01-29 2011-08-18 Fujitsu Ltd 温度解析プログラム、温度解析装置及び温度解析方法
JP2012073670A (ja) * 2010-09-27 2012-04-12 Mitsubishi Motors Corp 熱解析方法
JP2017027104A (ja) * 2015-07-15 2017-02-02 富士ゼロックス株式会社 測定基準の判断システムおよび測定基準の判断プログラム
JP2019121174A (ja) * 2018-01-05 2019-07-22 キヤノン株式会社 嵌合部解析モデル作成方法、嵌合部解析モデル作成装置、及びプログラム、並びに解析モデル作成方法
JP2019153100A (ja) * 2018-03-05 2019-09-12 富士通株式会社 構造解析シミュレーションプログラム、構造解析シミュレーション方法及び情報処理装置
JP7456919B2 (ja) 2020-11-09 2024-03-27 大成建設株式会社 構造躯体データ変換装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009048537A (ja) * 2007-08-22 2009-03-05 Fujitsu Ltd 多面体生成プログラム、多面体生成装置および多面体生成方法
JP2011090638A (ja) * 2009-10-26 2011-05-06 Fujitsu Ltd 部品選択プログラム、部品選択方法および部品選択装置
JP2011113530A (ja) * 2009-11-30 2011-06-09 Canon Inc 形状簡略化装置、形状簡略化方法及びプログラム
JP2011159674A (ja) * 2010-01-29 2011-08-18 Fujitsu Ltd 温度解析プログラム、温度解析装置及び温度解析方法
JP2012073670A (ja) * 2010-09-27 2012-04-12 Mitsubishi Motors Corp 熱解析方法
JP2017027104A (ja) * 2015-07-15 2017-02-02 富士ゼロックス株式会社 測定基準の判断システムおよび測定基準の判断プログラム
JP2019121174A (ja) * 2018-01-05 2019-07-22 キヤノン株式会社 嵌合部解析モデル作成方法、嵌合部解析モデル作成装置、及びプログラム、並びに解析モデル作成方法
JP7013248B2 (ja) 2018-01-05 2022-01-31 キヤノン株式会社 嵌合部解析モデル作成方法、嵌合部解析モデル作成装置、及びプログラム、並びに解析モデル作成方法
JP2019153100A (ja) * 2018-03-05 2019-09-12 富士通株式会社 構造解析シミュレーションプログラム、構造解析シミュレーション方法及び情報処理装置
JP7111945B2 (ja) 2018-03-05 2022-08-03 富士通株式会社 構造解析シミュレーションプログラム、構造解析シミュレーション方法及び情報処理装置
JP7456919B2 (ja) 2020-11-09 2024-03-27 大成建設株式会社 構造躯体データ変換装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4389843B2 (ja) 2009-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4389843B2 (ja) 解析メッシュモデル生成装置、解析メッシュモデル生成方法、解析メッシュモデル生成プログラム、および記録媒体
KR101649096B1 (ko) 컴퓨터-지원 디자인 시스템에서 오브젝트들의 어셈블리를 디자인하는 방법 및 시스템
JP4893148B2 (ja) 形状簡略化装置及びそれに用いられるプログラム
US9129075B2 (en) Mesh generation system
JP5644606B2 (ja) メッシュ数予測方法、解析装置及びプログラム
JP2010128562A (ja) リーク電流分布検証支援プログラム、リーク電流分布検証支援装置およびリーク電流分布検証支援方法
KR100994693B1 (ko) 해석 지원 장치, 해석 지원 방법 및 해석 지원 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록매체
CN111079273A (zh) 一种自动布局设计方法和装置
JP5141050B2 (ja) 設計方法及びプログラム
JP5790873B2 (ja) 打ち抜き穴のグループを特定するコンピュータ実施の方法
JP2001297118A (ja) 構造最適化方法および構造最適化装置
JP5056079B2 (ja) 設計方法及びプログラム
US8024158B2 (en) Management system and management method of CAD data used for a structural analysis
US20070118342A1 (en) Mesh creating device, mesh creating method and mesh creating program
US20220405433A1 (en) Parting line identification
US20060095246A1 (en) Method and apparatus for analyzing electromagnetic wave, and computer product
JP2009182056A (ja) 半導体装置の設計方法、設計装置及びプログラム
JPH1196398A (ja) 解析用メッシュ生成方法及び装置
KR101182015B1 (ko) 아키텍쳐 설계 시스템 및 이를 이용한 아키텍쳐 설계 방법
JP2002082999A (ja) 解析装置、解析方法および解析プログラムを記録した記録媒体
US20090192770A1 (en) Analysis supporting apparatus, analysis supporting method, and analysis supporting program
JP4979257B2 (ja) メッシュ粗密制御装置、メッシュ粗密制御方法及びプログラム
JP2002140378A (ja) 設計方法、cad装置、コンピュータプログラム及び記憶媒体
JP2009003900A (ja) メッシュモデル作成装置およびプログラム
JP2008052499A (ja) 熱伝導率算出装置、熱伝導率算出方法および熱伝導率算出プログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090709

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090804

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090820

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090915

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090928

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121016

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121016

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131016

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees