JP2006339631A - 電子部品アセンブリの製造方法及び対応する電子部品アセンブリ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 電子部品アセンブリの製造方法は、第1側面と第1半田接続パッドを有する第2側面と貫通孔とを有する基材を提供する工程、半導体チップを第1側面に取付ける工程、第1側面の半導体チップを被覆する第1モールド部と貫通孔を通って延在し第2側面の半田接続パッドよりも突出する第2モールド部とを含むモールドパッケージを得るために基材及び半導体チップに対してモールドプロセスを実施する工程、第1半田接続パッドに対応する第2半田接続パッドを備えた表面を有するプリント回路基板を提供する工程、第2モールド部がプリント回路基板の表面上においてモールドパッケージを支持するスペーサ構造を形成するように第1および第2半田接続パッドの間に配置される半田ボールによってモールドパッケージをプリント回路基板に半田付けする工程を含む。
【選択図】 図1
Description
特許文献1では、アンダーフィルが予め施された表面実装パッケージ、及びそのようなパッケージの組立て及び使用方法が開示されている。アンダーフィルを予め施したパッケージを顧客に供給することは、表面実装パッケージの熱的及び機械的信頼性を高めるとともに、アンダーフィル材料の塗布及び硬化に関係する付加的な費用、生産設備、人的資源、及びプロセス操作に対する顧客の要求を軽減する。
これらの問題を克服するために、例えば、適切な材料を選択することによって、又は応力を最小限に抑えるための新しい材料を開発することによって、パッケージと回路基板との熱膨張率を整合させるための試みが行われてきた。
しかしながら、これらのこれまで行われた全ての既知の対策は、上述した不都合を解決するのに充分ではない。
けする工程とを含むことを要旨とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1に記載の方法であって、前記半田ボールは、前記モールドプロセスを実施するステップの前に、第1の複数の半田接続パッド上に形成され、第2モールド部は、前記半田ボールを囲み、かつ、前記半田ボールの間において基材の第2の側面を被覆するように形成されることを要旨とする。
請求項6に記載の発明は、請求項4に記載の方法であって、前記第2モールド部は、前記半田ボールが第2モールド部の表面と同一平面を有するように形成されることを要旨とする。
請求項11に記載の発明は、請求項8に記載のアセンブリであって、前記第2モールド部は、前記半田ボールを囲み、かつ、前記半田ボールの間において基材の第2の側面を被覆するように形成されることを要旨とする。
本発明の根底をなす基本的な考え方は、パッケージの半田ボール側に設けられるプリント回路基板に対してスペーサとしての役割を果たし得る付加的なモールド構造を用いて、当該モールド構造を有さない場合には半田接合部に直接影響を及ぼす大部分の機械的応力を除去することである。任意で、これらのスペーサ構造は、プリント回路基板に接着され得る。
他の好適な実施形態によれば、前記半田ボールは、モールドプロセスを行うステップの前に、第1の複数の半田接続パッド上に形成され、また、第2モールド部は、前記半田ボールを囲み前記半田ボール間において基材の第2の側面を被覆するように形成される。
他の好適な実施形態によれば、前記第2モールド部は、前記半田ボールが第2モールド部の表面と同一平面を有するように形成される。
図面において、同様な参照記号は、等価な又は機能的に等価な構成要素を示す。
図1は、本発明の第1実施形態に基づき製造された電子部品アセンブリの概略断面図を示す。
面には、ワイヤ15a,15bを前記半導体チップ10の前記ボンディング領域b1にボンディングすることによって接続されるボンディングランド16a,16bが設けられている。
半導体チップ10が取り付けられた基材5をプリント回路基板1に半田付けする前に、モールド部(成形体部分)50a,50bが含まれるモールドパッケージを形成するために、モールドプロセスを行う。モールド部50aは、キャップ構造を有し、半導体チップ10及び周辺の基材領域の上に形成される。モールド部50bは、貫通孔5a内に形成され、この領域にスペーサ構造を提供するように、半田停止層20に対して隆起させられる。また、モールド部50bは、ボンドワイヤ15a,15bを封止する。従って、このようなモールドパッケージを実現することによって、モールド部50bによって形成された一体化スペーサ構造が、この半導体チップ10を有するのとは反対側の基材5の側面上に設けられる。
図2に示す第2実施形態においても、2つのモールド部50a' ,50b' が存在するが、第1実施形態とは対照的に、第2モールド部50b' は、半導体チップ10が設けられているのとは反対側の基材5の側面上に配置された半田接続パッド17a〜17d上に予め設けられた半田ボール19a' 〜19d' を囲むように設けられる。この利点は、第2モールド部50b' がスペーサ構造として機能するだけでなく、モールド部に前記半田ボールを埋め込むことによって半田ボールを安定化させる機能を果たし得ることである。特に、接続パッド17a〜17dと半田ボール19a' 〜19d' との界面(enter face)における金属間面の臨界領域が安定化される。
図3に示す実施形態は、半田ボール19a" 〜19d" が、第2モールド部50b' よりも突出していないことを除いて、図2に示す上述した第2実施形態とほぼ同様である。
このことは、モールドツールの適切な設計によって実現し得るが、この場合、半田ボールは、モールド成形時わずかに扁平になり、このため接触領域が大きくなる。
図4に示す第4実施形態は、図1の第1実施形態と同様であるが、基材5は、チップ10の周囲の基材5の周辺部に貫通孔55a,55bを更に備える点で異なる。貫通孔55a,55bには、第3モールド部50c及び第4モールド部50dが形成される。第3モールド部50c及び第4モールド部50dは、スペーサとして機能し、接着層60によってプリント回路基板1の上の半田停止層21に接着される。モールド部50c,50dによって形成されるこれらの付加的なスペーサ構造を設けることによって、熱サイクル時の湾曲に対して安定性の更なる強化を実現し得る。
図5に示す第5実施形態では、基材の中央貫通孔におけるモールド部50bの領域においては接着層60が省略されるため、この領域では、モールド部50b' は、ボンドワイヤ15a,15bを封止するためだけの役割を果たす。換言すれば、本実施形態において、スペーサ機能は、モールド部50c,50dによって完全に得られる。図示した縦断面図は、スペーサ構造としてモールド部50c,50dの形態のみを示しているが、この構造の全体的な面を考慮すると、最適な安定化及び平衡化効果を実現するためには、より多くのスペーサが存在し得ると言える。
図6に示す第6実施形態において、接着層60は、半田停止層21とモールド部50c,50dによって形成されたスペーサ構造との間においても省略されている。ここで、モールド成形されたパッケージとプリント回路基板との間の接続は、半田ボール19a〜19dのみによって形成されている。しかしながら、勿論、モールド部50c,50dによって形成されたスペーサ構造は、他の全ての実施形態と同様に、同じ安定化効果を実現する。
特に、材料及び形状の選択は、単なる例であり、様々に変更され得る。
Claims (12)
- 電子部品アセンブリの製造方法であって、
第1の側面及び第2の側面を有し、かつ、少なくとも1つの貫通孔を有する基材を提供する工程であって、前記第2の側面は第1の複数の半田接続パッドを有する工程と、
半導体チップを前記基材の第1の側面に取り付ける工程と、
モールドパッケージを得るために、基材及び取り付けられた半導体チップに対してモールドプロセスを実施する工程であって、前記モールドパッケージは、基材の第1の側面の前記半導体チップを被覆する少なくとも1つの第1モールド部と、前記貫通孔を通って延在し、基材の第2の側面において前記半田接続パッドよりも突出する少なくとも1つの第2モールド部とを含む、工程と、
前記第1の複数の半田接続パッドに対応する第2の複数の半田接続パッドを備えた表面を有するプリント回路基板を提供する工程と、
前記第2モールド部が、前記プリント回路基板の前記表面上において前記モールドパッケージを支持するスペーサ構造を形成するように、前記第1の複数の半田接続パッドと第2の複数の半田接続パッドとの間に配置される半田ボールによって、前記モールドパッケージを前記プリント回路基板に半田付けする工程と
を含む方法。 - 請求項1に記載の方法であって、前記貫通孔は、前記取り付けられた半導体チップのボンディング領域の下方に配置され、基材の第2の側面は、ボンドワイヤを前記ボンディング領域にボンディングすることによって接続される複数のボンディングパッドを有し、前記第2モールド部は、前記ボンディング領域、ボンドワイヤ、及びボンディングパッドを封止するように形成される方法。
- 請求項1又は2に記載の方法であって、前記スペーサ構造は、接着層によって前記プリント回路基板に接着される方法。
- 請求項1に記載の方法であって、前記半田ボールは、前記モールドプロセスを実施するステップの前に、第1の複数の半田接続パッド上に形成され、第2モールド部は、前記半田ボールを囲み、かつ、前記半田ボールの間において基材の第2の側面を被覆するように形成される方法。
- 請求項4に記載の方法であって、第2モールド部は、前記半田ボールが第2モールド部の表面から突出するように形成される方法。
- 請求項4に記載の方法であって、前記第2モールド部は、前記半田ボールが第2モールド部の表面と同一平面を有するように形成される方法。
- 請求項1乃至6のいずれか1項に記載の方法であって、前記基材は前記取り付けられた半導体チップの周囲に周辺領域を有し、その周辺領域に前記貫通孔が配置される方法。
- 電子部品アセンブリにおいて、
第1の側面及び第2の側面を有し、かつ、少なくとも1つの貫通孔を有する基材であって、第2の側面は、第1の複数の半田接続パッドを有する基材と、
前記基材の第1の側面に取り付けられた半導体チップと、
前記基材及び前記取り付けられた半導体チップの上に設けられたモールドパッケージであって、前記基材の第1の側面上の半導体チップを被覆する少なくとも1つの第1モールド部と、前記貫通孔を通って延在し、前記基材の第2の側面上の半田接続パッドよりも突出する少なくとも1つの第2モールド部とを備えるモールドパッケージと、
前記第1の複数の半田接続パッドに対応する第2の複数の半田接続パッドを備えた表面を有するプリント回路基板とを備え、
前記モールドパッケージは、前記第1の複数の半田接続パッドと第2の複数の半田接続パッドとの間に配置される半田ボールによって前記プリント回路基板に半田付けされることにより、前記少なくとも1つの第2モールド部が、前記プリント回路基板の前記表面上において前記モールドパッケージを支持するスペーサ構造を形成する、電子部品アセンブリ。 - 請求項8に記載のアセンブリであって、前記貫通孔は、前記取り付けられた半導体チップのボンディング領域の下方に配置され、基材の第2の側面は、ボンドワイヤを前記ボンディング領域にボンディングすることによって接続される複数のボンディングパッドを有し、前記第2モールド部は、前記ボンディング領域、ボンドワイヤ及びボンディングパッドを封止するように形成されるアセンブリ。
- 請求項8又は9に記載のアセンブリであって、前記スペーサ構造は、接着層によって前記プリント回路基板に接着されるアセンブリ。
- 請求項8に記載のアセンブリであって、前記第2モールド部は、前記半田ボールを囲み、かつ、前記半田ボールの間において基材の第2の側面を被覆するように形成されるアセンブリ。
- 請求項8乃至11のいずれか1項に記載のアセンブリであって、前記基材は前記取り付けられた半導体チップ周囲に周辺領域を有し、その周辺領域に、前記貫通孔が配置されるアセンブリ。
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