JP2006333073A - 信号伝送回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】 クロック信号を含むいずれの信号であっても、その信号のデューティを維持することができる信号伝送回路を提供する。
【解決手段】 第1の配線経路11および第1のデューティ調整回路12からなる本経路の特性と同一の特性を有する、第2の配線経路22および第2のデューティ調整回路23からなるレプリカ回路を備え、本経路,レプリカ経路に1つのエッジから作られた相補信号を入力し、これら本経路からの信号INRとレプリカ経路からの信号INFとの双方の信号の位相を位相比較器30で比較し、比較結果に応じてそれら双方の信号INR,INFの位相が揃うように制御回路40で第1,第2のデューティ調整回路12,23を制御する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、信号を伝送する信号伝送回路に関する。
従来より、クロック信号を入力し、入力されたクロック信号の立ち上がりエッジ(もしくは立ち下がりエッジ)に同期して動作する構成を採用したSDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory)等の半導体集積回路が広く普及している。
近年では、データ転送速度を高めるために、DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM)に代表されるように、クロック信号の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジの双方のエッジに同期して動作する構成を採用した半導体集積回路が用いられてきている。これに伴い、半導体集積回路及びその周辺回路における配線経路を伝送するクロック信号のデューティを維持することが極めて重要になってきている。
ここで、クロック信号の伝送経路に多段の論理回路(例えば、多段のCMOSインバータからなる論理回路)が備えられた半導体集積回路では、それら論理回路の遅延等の回路特性に起因して、クロック信号のデューティが変化するという問題がある。また、半導体集積回路が実装された回路基板では、その回路基板の伝送線路特性等に起因して、クロック信号のデューティが変化するという問題もある。
これらの問題を解決するために、入力されるクロック信号の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ双方の位相を制御することにより、出力されるクロック信号のデューティを、入力されるクロック信号のデューティに一致させる技術が提案されている(特許文献1,2参照)。
特開平6−29835号公報 特開2002−42469号公報
上述した特許文献1,2に提案された技術は、いずれも、主にDDR SDRAMにおける位相調整用のDLL(Delay Locked Loop)回路に採用されて、クロック信号のデューティを維持するものである。即ち、一定の周期で‘H’レベルと‘L’レベルとを繰り返す信号のデューティを維持するものである。
ここで、DDR SDRAMにおいては、例えば16ビットのデータ信号DQおよびこれらデータ信号DQを取り込むためのデータストローブ信号DQSのデューティを維持することも重要である。即ち、クロック信号以外の信号のデューティを維持することも重要である。
また、CTS(Clock Tree Synthesis)のような単純な信号経路を伝送する信号のデューティや、半導体集積回路が実装された回路基板における配線経路を伝送する信号のデューティを維持することも重要である。
さらに、信号の‘H’レベルにおける時間(H区間)あるいは‘L’レベルにおける時間(L区間)そのものに意味があるアプリケーション、例えばPWM(Pulse Width Modulation)のように信号のH区間(もしくはL区間)に対し時間軸の変調をかけるアプリケーションにおいても、信号のデューティを維持することは重要である。
ここで、クロック信号以外の信号のデューティ維持に関しては、シミュレーションや、標準条件(所定の電源電圧,所定の温度,所定の製造ばらつき等)における実機により調整しているケースがほとんどである。このような調整は、実機の初期評価の時点では問題がなかったとしても、温度変化や特異ロット(但し規格内)等に起因して、後になって問題になる可能性がある。しかし、従来では、特許文献1,2に示すようにクロック信号のデューティを維持する技術は提案されているものの、クロック信号以外の信号のデューティを維持する技術は提案されていない。
本発明は、上記事情に鑑み、クロック信号を含むいずれの信号であっても、その信号のデューティを維持することができる信号伝送回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明の信号伝送回路は、
所定の信号入力端と所定の信号出力端とを結ぶ第1の配線経路と、
その第1の配線経路を伝送する信号のデューティを調整する第1のデューティ調整回路と、
上記信号出力端の信号を反転させる第1のインバータと、
上記信号入力端の信号を反転させる第2のインバータと、
上記第2のインバータからの出力信号を伝送する、上記第1の配線経路の特性と同一の特性を有する第2の配線経路と、
上記第2の配線経路を伝送する信号のデューティを調整する第2のデューティ調整回路と、
上記第1のインバータの出力信号と前記第2の配線経路を伝送してきた信号との双方が入力されこれら双方の信号の位相を比較する位相比較器と、
上記位相比較器による位相比較結果に応じて、上記双方の信号の位相が揃うように上記第1および第2のデューティ調整回路を制御する制御回路とを備えたことを特徴とする。
信号のデューティを維持するということは、信号の‘H’レベルにおける時間(H区間)と‘L’レベルにおける時間(L区間)とを忠実に維持することである。H区間,L区間の維持はどのようにすれば達成できるかというと、信号が通過する総経路における立ち上がりエッジの通過時間と立ち下がりエッジの通過時間が同じであればよい。本発明は、この点に着目して考案されたものである。
本発明の信号伝送回路は、所定の信号入力端と所定の信号出力端とを結ぶ第1の配線経路の特性と同一の特性を有する第2の配線経路を備えるとともに、それら第1,第2の配線経路を伝送する信号のデューティ比を調整する第1,第2のデューティ調整回路を備え、上記第1,第2の配線経路にあるひとつの立ち上がりエッジ(もしくは立ち下がりエッジ)から作られた相補信号を入力してそれら第1,第2の配線経路から出力される双方の信号の位相が揃うように第1,第2のデューティ調整回路を制御するものである。このため、所定の入力端に入力されるクロック信号を含むいずれの信号であっても、その信号の立ち上がりの通過時間と立ち下がりの通過時間が同じになるように制御することができる。従って、クロック信号を含むいずれの信号であっても、その信号のデューティを維持することができる。
ここで、上記第1および第2のデューティ調整回路が、互いに同一特性を有するものであることが好ましい。
また、上記制御回路が、上記第1および第2のデューティ調整回路双方を同一の状態に制御するものであることも好ましい。
このように、上記第1および第2のデューティ調整回路が同一の特性を持ち、また制御回路がこれら第1および第2のデューティ調整回路双方を同一の状態に制御するものであると、制御回路の回路構成を簡素化することができる。
本発明の信号伝送回路によれば、クロック信号を含むいずれの信号であっても、その信号のデューティを維持することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の一実施形態の信号伝送回路の構成を示す図である。
図1に示す信号伝送回路1には、所定の信号SINが入力される入力端子2と所定の信号SOUTが出力される出力端子3とを結ぶ、本経路を構成する第1の配線経路11が備えられている。また、この信号伝送回路1には、本経路を構成する、第1の配線経路11を伝送する信号SD1のデューティを調整する第1のデューティ調整回路12が備えられている。ここで、第1の配線経路11は、所定の遅延値troot(固定された遅延値)を有する。一方、第1のデューティ調整回路12は、後述する制御回路40で可変自在に制御される遅延値tadjを有する。
また、信号伝送回路1には、出力端子3の信号SOUTを反転させる第1のインバータ13と、入力端子2の信号SINを反転させる第2のインバータ21が備えられている。ここで、第1,第2のインバータ13,21は、ともに同じ遅延時間tinvを有する。
さらに、信号伝送回路1には、第2のインバータ21からの出力信号を伝送する、第1の配線経路11の特性と同一の特性を有する第2の配線経路22と、第2の配線経路22を伝送する信号SD2のデューティを調整する第2のデューティ調整回路23が備えられている。これら第2の配線経路22および第2のデューティ調整回路23から、本経路の特性と同一の特性を有するレプリカ経路が構成される。また、第2の配線経路22は、第1の配線経路11と同一の遅延値trootを有する。一方、第2のデューティ調整回路23は、制御回路40により第1のデューティ調整回路12と同一の状態に可変自在に制御される遅延値tadjを有する。
さらに、信号伝送回路1には、第1のインバータ13の出力信号INRと第2の配線経路を伝送してきた信号INFとの双方が入力され、これら双方の信号INR,INFの位相を比較する位相比較器30が備えられている。
また、信号伝送回路1には、位相比較器30による位相比較結果に応じて、双方の信号INR,INFの位相が揃うように第1,第2のデューティ調整回路12,23双方を同一の状態に制御する制御回路40が備えられている。詳細には、この制御回路40は、第1のデューティ調整回路12及び第1の配線経路11からなる本経路と第2のデューティ調整回路23及び配線経路22からなるレプリカ経路のうちの一方(例えば本経路)を通過する信号の立ち上がりエッジの通過時間と他方(例えばレプリカ経路)を通過する信号の立ち下がりエッジの通過時間が互いに同一となるように、これら第1,第2のデューティ調整回路12,23を制御する。
一般に、本経路を構成する配線経路11を伝送する信号の立ち上がりエッジが通過する時間(troot_rise)と立ち下がりエッジが通過する時間(troot_fall)は異なる。即ち、配線経路11を伝送する信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの遅延時間は互いに異なる(troot_rise≠troot_fall)。従って、信号のデューティが崩れてしまうこととなる。そこで、本実施形態では、以下に説明するように、「troot_rise+tadj_rise=troot_fall+tadj_fall」となるようにtadjを制御回路40で制御する。
図2は、本経路を通過する信号の立ち上がりエッジの通過時間とレプリカ経路を通過する信号の立ち下がりエッジの通過時間が互いに同一となるように制御する様子を説明するための図である。
図1に示す信号伝送回路1の入力端子2には、図2に示す信号SINが入力される。尚、説明を簡単にするために、ここでは入力端子2に入力される信号SINの立ち上がりエッジのみについて話を進める。この信号SINは、第1のデューティ調整回路12に入力されるとともに第2のインバータ21にも入力される。さらに、第2のインバータ21で信号SINの論理が反転された信号が、第2のデューティ調整回路23に入力される。即ち、第1,第2のデューティ調整回路12,23には、あるひとつの立ち上がりエッジから作られた相補信号が入力されることとなる。
ここで、信号SINの立ち上がりエッジが、位相比較器30の一方の入力端であるノードN1に到達する時間をttotal_rise、位相比較器30の他方の入力端であるノードN2に到達する時間をttotal_fallとすると、
ttotal_rise=tadj_rise+troot_rise+tinv_rise
ttotal_fall=tinv_rise+tadj_fall+troot_fall
と表わされる。
これらttotal_riseとttotal_fallが同じになるように、位相比較器30,制御回路40で第1,第2のデューティ調整回路12,23の遅延値tadjを調整する。ここでは、図2に示すように、信号INRの立ち下がりのタイミングを矢印A方向に移動するとともに、信号INFの立ち下がりのタイミングを矢印B方向に移動するように調整する。
換言すれば、ノードN1,N2である位相比較器30の入力端に本経路,レプリカ経路からの信号INR,INFが入力され、位相比較器30はこれらの信号INR,INFの位相を比較し、比較結果を制御回路40に向けて出力する。制御回路40は、この比較結果に応じて、これら双方の信号INR,INFの立ち下がりどうしが揃うように第1,第2のデューティ調整回路12,23双方を同一の状態に制御する。
図3は、図1に示すデューティ調整回路12の構成を示す図である。
尚、図1に示すデューティ調整回路23の構成も、この図3に示すデューティ調整回路12の構成と同じである。
図3に示すデューティ調整回路12には、電源VDDとグラウンドGNDとの間に、電源VDD側から順に直列に接続された、スイッチ12_11,PMOSトランジスタ12_21,NMOSトランジスタ12_31,スイッチ12_41からなる第1の組、スイッチ12_12,PMOSトランジスタ12_22,NMOSトランジスタ12_32,スイッチ12_42からなる第2の組、スイッチ12_13,PMOSトランジスタ12_23,NMOSトランジスタ12_33,スイッチ12_43からなる第3の組、…、およびスイッチ12_1n,PMOSトランジスタ12_2n,NMOSトランジスタ12_3n,スイッチ12_4nからなる第nの組が備えられている。
PMOSトランジスタ12_21,12_22,12_23,…,12_2nのゲートおよびNMOSトランジスタ12_31,12_32,12_33,…,12_3nのゲートは共通接続され、信号SINが入力される。
また、PMOSトランジスタ12_21とNMOSトランジスタ12_31の接続点,PMOSトランジスタ12_22とNMOSトランジスタ12_32の接続点,PMOSトランジスタ12_23とNMOSトランジスタ12_33の接続点,…,PMOSトランジスタ12_2nとNMOSトランジスタ12_3nの接続点は、デューティ調整用の負荷であるキャパシタ100の一端に共通接続されている。また、キャパシタ100の他端はグラウンドGNDに接続されている。
さらに、スイッチ12_11,12_12,12_13,…,12_1nおよびスイッチ12_41,12_42,12_43,…,12_4nは、それぞれ、制御回路40からの制御信号により制御される。
制御回路40は、信号SINの‘H’レベルにおける時間(H区間)を長くする場合は、デューティ調整回路12を構成するスイッチ12_11,…,12_1nを多数個オンしてキャパシタ100に急速に電荷を充電するように制御する。一方、信号SINの‘L’レベルにおける時間(L区間)を長くする場合は、スイッチ12_41,…,12_4nを多数個オンしてキャパシタ100から急速に電荷が放電するように制御する。
本実施形態の信号伝送回路1は、第1の配線経路11および第1のデューティ調整回路12からなる本経路の特性と同一の特性を有する、第2の配線経路22および第2のデューティ調整回路23からなるレプリカ回路を備え、これら本経路,レプリカ経路にある1つの立ち上がりエッジ(立ち下がりエッジ)から作られた相補信号を入力し、これら本経路からの信号INRとレプリカ経路からの信号INFとの双方の信号の位相を比較し、比較結果に応じてそれら双方の信号INR,INFの位相が揃うように第1,第2のデューティ調整回路12,23を、図2および図3を参照して説明したようにして制御するものである。このため、入力端子2に入力されるクロック信号を含むいずれの信号SINであっても、その信号SINの立ち上がりの通過時間と立ち下がりの通過時間が同じになるように制御することができる。従って、クロック信号を含むいずれの信号SINであっても、その信号SINのデューティを維持することができる。
また、本実施形態の信号伝送回路1を構成する制御回路40は、同一の特性を持つ第1および第2のデューティ調整回路12,23双方を同一の状態に制御するものであるため、制御回路40の構成が簡素化されている。
尚、本実施形態では、信号SINの立ち上がりエッジから作られた相補信号を本経路,レプリカ経路に入力し、これら本経路,レプリカ経路からの信号INR,INFの位相が揃うように制御する例で説明したが、これに限られるものではなく、信号SINの立ち下がりエッジから作られた相補信号を本経路,レプリカ経路に入力し、これら本経路,レプリカ経路からの信号INR,INFの位相が揃うように制御してもよい。また、図3で示したデューティ調整回路は1つの例であり、これに限ったものではない。
ここで、本実施形態では、レプリカ経路を備えたものであるため、面積及び消費電力の増大につながることが考えられるが、例えばデータ信号DQの配線等は半導体集積回路上に多数配置されているため、半導体集積回路に電源を投入した時点であるいは定期的に、他のデータ信号DQが伝送するDQ経路を一時的にレプリカ経路に切り替えて利用する等の工夫で回避することができる。
尚、本発明にいう第1の配線経路としては、DLL(Delay Locked Loop),CTS(Clock Tree Synthesis)における配線経路や、DDR SDRAMにおけるデータ信号DQおよびデータストローブ信号DQSが伝送される配線経路がある。また、PWM(Pulse Width Modulation)における配線経路や、半導体集積回路に備えられた入出力バッファおよび半導体集積回路が実装された回路基板における配線経路、さらには通信側の相手チップを含めた配線経路がある。
本発明の一実施形態の信号伝送回路の構成を示す図である。 本経路を通過する信号の立ち上がりエッジの通過時間とレプリカ経路を通過する信号の立ち下がりエッジの通過時間が互いに同一となるように制御する様子を説明するための図である。 図1に示すデューティ調整回路の構成を示す図である。
符号の説明
1 信号伝送回路
2 入力端子
3 出力端子
11 第1の配線経路
12 第1のデューティ調整回路
12_11,12_12,12_13,…,12_1n,12_41,12_42,12_43,…,12_4n スイッチ
12_21,12_22,12_23,…,12_2n PMOSトランジスタ
12_31,12_32,12_33,…,12_3n NMOSトランジスタ
13,21 インバータ
22 第2の配線経路
23 第2のデューティ調整回路
30 位相比較器
40 制御回路

Claims (3)

  1. 所定の信号入力端と所定の信号出力端とを結ぶ第1の配線経路と、
    該第1の配線経路を伝送する信号のデューティを調整する第1のデューティ調整回路と、
    前記信号出力端の信号を反転させる第1のインバータと、
    前記信号入力端の信号を反転させる第2のインバータと、
    前記第2のインバータからの出力信号を伝送する、前記第1の配線経路の特性と同一の特性を有する第2の配線経路と、
    前記第2の配線経路を伝送する信号のデューティを調整する第2のデューティ調整回路と、
    前記第1のインバータの出力信号と前記第2の配線経路を伝送してきた信号との双方が入力されこれら双方の信号の位相を比較する位相比較器と、
    前記位相比較器による位相比較結果に応じて、前記双方の信号の位相が揃うように前記第1および第2のデューティ調整回路を制御する制御回路とを備えたことを特徴とする信号伝送回路。
  2. 前記第1および第2のデューティ調整回路が、互いに同一特性を有するものであることを特徴とする請求項1記載の信号伝送回路。
  3. 前記制御回路が、前記第1および第2のデューティ調整回路双方を同一の状態に制御するものであることを特徴とする請求項2記載の信号伝送回路。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012104197A (ja) * 2010-11-11 2012-05-31 Elpida Memory Inc 半導体装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH046912A (ja) * 1990-04-24 1992-01-10 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 遅延回路
JP2000134071A (ja) * 1998-10-27 2000-05-12 Nec Corp 可変遅延回路
JP2001217694A (ja) * 2000-02-04 2001-08-10 Nec Corp 遅延調整回路及びこれを用いたクロック生成回路
JP2005294947A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Nec Corp 出力バッファ回路および半導体集積回路

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH046912A (ja) * 1990-04-24 1992-01-10 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 遅延回路
JP2000134071A (ja) * 1998-10-27 2000-05-12 Nec Corp 可変遅延回路
JP2001217694A (ja) * 2000-02-04 2001-08-10 Nec Corp 遅延調整回路及びこれを用いたクロック生成回路
JP2005294947A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Nec Corp 出力バッファ回路および半導体集積回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012104197A (ja) * 2010-11-11 2012-05-31 Elpida Memory Inc 半導体装置
US8732512B2 (en) 2010-11-11 2014-05-20 Kazutaka Miyano Semiconductor device having DLL circuit

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