JP2006329834A - 走査型変位測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】
光検出手段の受光面積を小さくして、かつ被測定物が鏡面、粗面のいずれであっても三角測量によって、変位を測定できる技術を提供する。
【解決手段】
対物レンズ4を被測定物(基板12)側の近くに配置して、LD1からの平行光をポリゴンミラー3で走査してその走査された平行光を対物レンズ4の中心を外れた位置に入射させ、対物レンズ4によって斜めに屈折させて被測定物に照射させ、その被測定物からの反射光を再び対物レンズ4で受けて、平行光にしてポリゴンミラー3へ返し、ポリゴンミラー3からの反射光をPSD7で受光する構成とした。
【選択図】 図1
光検出手段の受光面積を小さくして、かつ被測定物が鏡面、粗面のいずれであっても三角測量によって、変位を測定できる技術を提供する。
【解決手段】
対物レンズ4を被測定物(基板12)側の近くに配置して、LD1からの平行光をポリゴンミラー3で走査してその走査された平行光を対物レンズ4の中心を外れた位置に入射させ、対物レンズ4によって斜めに屈折させて被測定物に照射させ、その被測定物からの反射光を再び対物レンズ4で受けて、平行光にしてポリゴンミラー3へ返し、ポリゴンミラー3からの反射光をPSD7で受光する構成とした。
【選択図】 図1
Description
本発明は、被測定物に光を走査しつつ照射し、被測定物からの反射光を検出して、被測定物における変位、例えば位置の変位、被測定物の形状等を測定する走査型変位測定装置に関する。特に、被測定物からの反射光としては、被測定物の表面にもよるが、鏡面(入射光と反射光の角度が一義的にきまるような面)または粗面(入射光に対して反射光の方向が拡散傾向にある面)に対して、例えば、ポリゴンミラーにより走査して被測定物を照射するとともに、被測定物からの反射光を再びポリゴンミラーを通して検出することにより、光検出手段の受光面の大きさを走査範囲に関わらず小さなものにすることができる技術に係る。
走査型変位測定装置は、図5に示すように、光源101からある被測定物へ光を照射し、その被測定物からの反射光をレンズ103を介して光検出器であるPSD(位置検出センサー)102で検出した場合、被測定物の高さがP1,P2,P3のように変化したとき、PSD102における検出位置もK1,K2、K3と異なって検出される。したがって、三角測量により、変位、形状を測定できる。
走査型変位測定装置の測定例を、印刷はんだ検査装置等に組みこまれている形態で説明する。例えば、図6の下段に示すように、距離方向に走査しつつはんだの高さ方向の変位を測定する(図6の下段に示す形状をも測定することになる。)。このとき、PSD102の出力は、ある走査(距離)の一点では、図6の上段に示すような光の強さ(強度、輝度)として示される。図6の上段の図で示すように、ピーク値に対して広い裾の範囲にも光の強度が現れている。これは、測定したい位置からの反射光ばかりでなく、その他の位置からの反射光も検出してしまった雑音である。したがって、本来は、図6の上段の斜線部分の裾を除いた特性を得たいところである。
このような雑音を除く方法の一つとして、引用文献1に示すように光検出器の受光面を制限する遮光板(或いはスリット)が考えられている。引用文献1の技術は、例えば、図5のような位置P1,P2,P3からの反射光を同時に受けて、その中の一つの反射光だけ選択して検出するのに便利であり、雑音の除去が可能である。
しかしながら、走査型変位測定装置では、例えば、走査範囲中に図5におけるような高さがP1,P2,P3の位置のものがあれば、当然、PSD102における検出位置もK1,K2、K3も測定に必要な受光面であるから、引用文献1の遮光板を固定して取り付けることはできない。遮光板も走査に応じて移動させるには、速度等が問題になり困難である。
走査しても、光検出器の受光面積を拡大することなく、複数方向の反射光を検出して部品の実装済みプリント基板の実装状態を検査しようとするものがある(引用文献2)。引用文献2の光学系を簡単化したものを図7に示す。図7で、ポリゴンミラー104で回転によって走査した入射光をレンズ105の中央を介して垂直に基板107に入射させ、その拡散された反射光を偏向器106及び再びレンズ105を介してポリゴンミラーへ返して、その後に光検出器で検出しようとするものである。特許文献2の技術によれば、回転しているポリゴンミラー104によって光を走査し、かつ反射光をその回転しているポリゴンミラー104へ入射させているので、走査に関わらず、反射光はほぼ一点で受光できるので、光検出器の受光面積は、狭いもので良い。
上記の特許文献2の技術は、図7に示すように、基板107に対して、レンズ105の中央を通して垂直に光を照射し、その照射によって多方面に反射して拡散した光(散乱光)のうち互いに平行な光を再びレンズ105で受けてポリゴンミラー104に集光させた後に、光検出器で受光することにより、部品の実装状態を調べるものである。したがって、特許文献2では、被測定物の対象となるのは、ほぼ垂直に入射した光を多方面に反射する、つまり拡散反射(散乱)する粗面の状態のものである。それ故に、垂直に入射された光を垂直に反射させる鏡面の状態の被測定物における高さ等の変位を測定するのが困難である。つまり、鏡面の被測定物に対しては、三角測量にならないおそれがある。この問題に対して特許文献2では、垂直方向の反射光が大きい場合は、異なる方向の反射光(散乱光)を参照する旨のような記載もあるが、鏡面であれば、異なる方向の反射光が少なくなるので、その分、感度が悪くなることが考えられる。
また、光源からの光と被測定物からの反射光をポリゴンミラー104の同一位置に入射させる場合は、両者の分離度が感度に影響するおそれがある。
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を改良するものであって、光検出手段の受光面積を走査範囲に関わらず小さくして、かつ被測定物が鏡面、粗面のいずれであっても三角測量によって変位を測定できる技術を提供することである。また、光源からの光と被測定物からの反射光との分離が容易な技術を提供する。
上記目的を達成するため、本発明においては、次の主旨で手段を構成した。つまり、集光手段、例えば、対物レンズを基板側の近くに配置して、偏光手段、例えば、ポリゴンミラーからの平行光を対物レンズの中心を外れた位置に入射させることにより、対物レンズによって斜めに屈折させて被測定物に照射させ、その被測定物からの反射光を再び対物レンズで受けて、平行光にしてポリゴンミラーへ返す構成とした。なお、本発明における構成と図7の構成の主な違いは、図7のレンズ105は、ポリゴンミラー104の近くに配置され、入射光に対してはレンズとしての作用をしておらず、基板107からの互いに平行な反射光をポリゴンミラー104へ集光させていることである。
具体的には、請求項1に記載の発明は、所定方向に走査された光を第1の光路から受けて、前記走査の方向に直交する一方向に屈折させて被測定物(12)へ集光させ、かつ前記被測定物からの反射光を受けて第2の光路へ出力する集光手段(E)と、光源(A)と、回転可能にされ、回転する鏡面で前記光源からの光を折り返し反射することにより前記光を走査して前記第1の光路へ出力するとともに、前記第2の光路からの前記反射光を受けて折り返し反射する偏向手段(D)と、前記偏向手段により折り返し反射された前記反射光を検出する光検出手段(7)と、を備え、前記光検出手段の出力を基に変位を測定する構成とした。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記集光手段は、凸レンズを含み、前記第1の光路からの光を前記凸レンズの中央からはずれた一方の半面で受けるとともに、前記中央を挟んだ前記一方の半面の反対側の他の半面で前記被測定物からの反射光を受けるように、かつ前記第1の光路と前記第2の光路は平行になるように、配置構成した。
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の発明において、前記集光手段は、前記一方向に斜めに屈折させて被測定物(12)へ集光させる第1の集光手段(14a)と、かつ前記被測定物から斜めに反射されてくる反射光を受けて前記第1の光路と平行な前記第2の光路へ出力する第2の集光手段(14b)とを分離して備えた。
請求項4に記載の発明は、請求項1、2又は3に記載の発明において、前記光源からの光を受けた前記偏向手段が折り返し反射する第1の反射点(3b)と、前記反射光を第2の光路から受けた前記偏向手段が折り返し反射する第2の反射点(3c)とは、回転方向における位置が同じであって、回転方向に直交する方向の位置が異なるように、前記偏向手段及び前記集光手段を含む配置構成した。
請求項5に記載の発明は、請求項1、2又は3に記載の発明において、前記偏向手段と前記第1の光路の間に、又は前記偏向手段と前記第2の光路の間に、もしくはそれらの双方に設けられ、前記偏向手段と前記第1の光路の間の光路、又は前記偏向手段と前記第2の光路の間の光路、もしくはそれらの双方の光路を、前記光源からの光を受けた前記偏向手段が折り返し反射する第1の反射点(3b)と前記反射光を第2の光路から受けた前記偏向手段が折り返し反射する第2の反射点(3c)とが同一位置になるように光路を形成する光路形成手段(13)を備えた。
請求項6に記載の発明は、光源(A)と、前記光源からの入射光を被測定物に対して斜めに入射させ、前記被測定物からの鏡面反射、粗面反射又はそれらの双方を含む反射光を検出する光検出手段(7)とを備えた走査型変位測定装置であって、前記光源及び前記光検出手段の側と前記被測定物側との間に、前記入射光を走査するための偏向手段(D)及び集光手段(E)が順に配置され、かつ前記偏向手段と前記集光手段は、前記光源からの平行な光が前記偏向手段の回転によって走査されつつ折り返し反射された後に前記集光手段により集光されて前記入射光となる光路、及び前記集光手段により前記反射光が平行な反射光にされた後に前記偏向手段によって折り返し反射されて前記光検出手段で検出される光路を形成するように配置構成した。
請求項1、6に記載の発明は、走査を行う偏向手段からの光を斜めに被測定物に対して照射させ、さらに被測定物からの反射光を偏向手段に入射させることにより、光検出手段の受光面を小さいくでき、かつ被測定物が鏡面、粗面にかかわらず変位を測定できる。
請求項2によれば、一つの凸レンズで被測定物への照射、及び被測定物からの反射光の取得ができる構成なので、シンプルに構成できる。
請求項3に記載の発明よれば、2つの素子で被測定物への照射と被測定物からの反射光の取得が別々にできるので、偏向手段と被測定物の関係において、自由度のある光路の構成ができる。
請求項4に記載の発明は、光源からの光と被測定物からの反射光のそれぞれが偏向手段に入射する位置を、偏向手段における走査方向の位置を同一にして、走査方向に直交する方向の位置を異なるように配置構成しているので、偏向手段の回転ムラの影響を防止し、両者の分離を容易にして感度への悪影響を軽減できる。
本発明をプリント基板にクリーム状のはんだが印刷されたときのそのはんだの形状等を検査する印刷はんだ検査装置に取り入れた実施形態を図1〜図3を用いて説明する。なお、本発明は、変位測定装置としてはんだ以外のものの変位について測定可能である。図1(A)は、本発明の一実施形態の構成を示す図である。図1(B)及び(D)は、それぞれ図1(A)における矢視Bから見た図、矢視Aから見た図で、部分的に説明するための図である。図1(D)及び(E)は、図1(A)における光学的構成の一部分を変更した構成例を示す図である。図2は、図2(A)の対物レンズの他の例を示す図である。図3は、他の実施形態の構成を示す図である。
図1において、LD1は、半導体レーザを含む光源である。コリメートレンズ2は、LD1からの光(実際は、ある幅をもったビームであるが、以下、光で統一して説明する。なお、図1では、光をビームの態様として2本の線で表している。)を平行光にして出力する。ポリゴンミラー3は、光を走査して偏向する偏向手段であって、回転可能にされ、かつN角形の周囲にN個の鏡面(ミラー)3aを有する。そして、コリメートレンズ2からの平行光をその鏡面で回転しながら、反射点3b(第1の反射点)で受けることにより、走査された平行光を、折り返して出力する。これは、第1の光路へ入り、基板12への入射光とされる。図1(A)はポリゴンミラー3の鏡面3bを正面から見た図であり、光の走査方向は、図の奥へ向かう方向である。図1(B)が、図1(A)の矢視Bから見た図(横方向から見た図)である。図1(B)において、LD1からの光は、反射点3bで走査開始から走査終了までの回転に応じて、ある走査範囲(回転角に応じた角度範囲)に亘り走査される。
対物レンズ4は、凸レンズを含む集光手段であって、第1の光路から走査された平行光を、その凸レンズの中心から外れた半面側の位置で受けて、凸レンズの中心部方向に斜めに屈折させて集光することによって、被測定物である基板12に対して斜めに照射している。そして、対物レンズ4は、基板12から反射されてきた反射光を、凸レンズの中心部から外れ、かつ第1の光路から平行光を受けた位置とは反対側の半面の位置で受けて、平行光にして第2の光路へ出力する。なお、基板12からの反射光は、特に、基板12が粗面であれば多方面に反射光が出力されるが、図1(A)における反射光は、多方面に反射される反射光のうち、対物レンズ4へ入射されたときに、平行光となりうる反射光(つまり、検出対象の反射光)だけを示している。基板12が鏡面であれば、反射光は基板12への入射光と同じ角度で反射されるので、当然に対物レンズ4で平行光にされる。なお、第1の光路と第2の光路が重ならないようにすれば、上記多方面に反射される反射光のうち対物レンズ4の中央部分からの反射光を検出対象として利用できる。
図1(B)に、図1(A)の対物レンズ4を矢視Aから見て、その表面に光が通過する領域を表した図である。図1(B)に示すように、入射光と反射光は、それぞれ、対物レンズ4の中心を外した対象な半面に線対称に属し、それぞれの走査方向は同一方向である。対物レンズ4は、第1の光路から受けた光を、その屈折力により斜め方向へ屈折させて基板12を照射し、その反射光を斜め方向から受けて平行光にし、第1の光路と平行な第2の光路へ出力している。したがって、基板12の表面が鏡面であっても粗面であっても、反射を受け取ることができる。
回転しているポリゴンミラー3は、対物レンズ4で平行光にされた反射光を反射点3c(第2の反射点)で受けて、折り返し反射して光路偏向ミラー5へ送る。このとき、ポリゴンミラー3の鏡面3aは、反射点3bが在る鏡面であって、回転方向(走査方向)の位置が同一(図1(A)の紙面で横方向の位置が同一)で回転方向(走査方向)に直交する方向の位置(図1(A)の紙面で縦方向の位置)が異なるように配置されている。したがって、ポリゴンミラー3の回転方向のムラ等があっても、ポリゴンミラー3によって送りと受けとで2回通すことによって、減少する効果がある。また、反射点3b、3cの位置が異なり、光路も異なる構成であるから入射光側(第1の光路側)と反射光側(第2の光路側)とでは、分離されている構成である。
回転しているポリゴンミラー3が対物レンズ4からの反射光を受けて反射する光路は、図1(B)の方向とは全く反対で、かつ折り返し反射する角度は同じである。したがって、光路偏向ミラー5が受光する光は、走査範囲があるにも関わらず、一点(光のビームとしての幅分は必要である。)で受け取ることができる。なお、光路偏向ミラー5は、PSD7とLD1とを並べると、狭いため、光路を変更する便宜的なものである。
光路偏向ミラー5から反射されて光路を変更された反射光(平行光)は、結像レンズ6により、集光されてPSD7(光検出手段)に入力される。PSD7の受光面では、反射光は、走査範囲に関わらずほぼ点で受光される。したがって、狭い範囲の受光面でよく、PSD7は、必ずしも、PSD(位置検出素子)である必要性はなく、通常の受光素子でも良い。数値例としては、本実施形態においては、従来のPSDの受光面積に対して、1/100以下の面積で十分であり、それに応じて、受光して電気信号として出力するさいの応答速度も格段に良くなる。なお、受光面を小さくできるので、スリット等も基本的に不要となる。
上記のLD1からPSD7までの光路は、ポリゴンミラー3,対物レンズ4の大きさや配置によって構成される。図1(A)の第1の光路と第2の光路が狭い場合は、図1(D)のように光路偏向ミラー15を使用して光路の間隔を拡大することもできる。また、対物レンズ4としては、凸レンズを半分にしたものを2つ用いても良いし、図1(E)のように、入射光用と反射光用とで屈折力を持たせた2つのプリズム(14a,14b)で構成しても良い。こうすると、光路の構成に自由度が出てくる。さらに、丸い面積の対物レンズ4の代わり、図2のように、入射光と反射光を受ける間の中央部分が走査方向に沿って厚い四角形のレンズであっても良い。
なお、参考に、本発明における対物レンズ4は、図7におけるレンズ(特許文献2における第1のレンズ系)とは、大いに異なることを説明しておく。つまり、本実施形態の対物レンズ4は、平行光を屈折して集光させて、基板12へ送り、その反射を受けて平行光に変換しているのに対して、図7のレンズは、被測定物からの多数の並列なポリゴンミラーに集光させており、対被測定物に対して入射させる際は、基本的にレンズとしての作用はない。
図1において、測定制御部10は、モータ等からなる主走査駆動部8を所定スピードで回転させる命令を出して走査させるとともに、やはり移動機構部を有する副走査駆動部9を駆動して基板12を光の走査方向と直交する方向に移動させる。データ処理部11は、PSD7の出力を2値化して、測定制御部10が制御した主走査の走査距離(位置)及び副走査位置とに対応づけて、2値化したPSD7の出力を記憶し、基板12の判定に必要な画像処理、判定処理を行う手段へ送付して、クリームはんだされた箇所の面積、体積、高さ等の画像データを生成させ、それとレファレンスデータとを比較する事により、はんだ形状の良否を行わせる。
図3は、本発明に係る他の実施形態である。図3(A)は、図1のものに対して光路形成手段13を設けている。光路形成手段13は、折返ミラー13a、13bからなり、ポリゴンミラー3と第1の光路との間、及びポリゴンミラー3と第2の光路との間にあって、ポリゴンミラー3の鏡面3aにおいて、LD1からの入射光用の平行光を受ける反射点3b(第1の反射点)と被測定物からの反射光(平行光)を受ける反射点3c(第2の反射点)とが同一点になるように光路を形成するものである。
具体的には、図3(A)において、LD1とPSD7とは、ポリゴンミラー3の回転元側に、かつ反射点3bに対して在る程度の角度を持って離して配置されており、折返ミラー13a、13bは、ポリゴンミラー3に対して回転先側に配置されている。そして、折返ミラー13aは、LD1の方角からの平行光が反射点3bで折り返し反射されてきた光を受けて反射して第1の光路へ送る光路を形成している。折返ミラー13bは、第2の光路からの反射光を受けて折り返し反射させて、PSD7へ向かう方角から反射点3bへ送る光路を形成している。
図3(B)には、図3(A)と同様に、ポリゴンミラー3における反射点を共有使用するものであるが、光路形成手段13としては、図3(A)では2つの折返ミラー13a、13bを用いていたが、1つの折返ミラー13bだけで行うものである。図3(B)では、折返ミラー13bが、対物レンズ4からの反射光を第2の経路を介して受けて折り返し反射して、反射点3b(LD1の方角からの平行光を受けて反射する反射点でもある。)へ送ることにより、PSD7へ送る光路を形成するものである。なお、上記のように反射光側に折返ミラー3bを入れる代わりに、図1(A)で、反射点3bと第1の光路との間に折返ミラー3aを入れる構成であっても、上記と同様の動作が可能である(不図示)。
具体的な実施例を説明する。上記実施形態を実施することにより、例えば、集光レンズの焦点距離20mm(従来70mm)、ビーム径φ6μm(従来20μm)
、及び分解能1μm(従来10μm)の実績が得られる。つまり、集光レンズの焦点距離を短くでき、ビーム径が絞れ、分解能が従来に対して1/10で測定可能である。その結果、図4(A)(イ)に示される、プラズマディスプレイの背面にある発光体を仕切るリブのような細かい測定が可能である。
、及び分解能1μm(従来10μm)の実績が得られる。つまり、集光レンズの焦点距離を短くでき、ビーム径が絞れ、分解能が従来に対して1/10で測定可能である。その結果、図4(A)(イ)に示される、プラズマディスプレイの背面にある発光体を仕切るリブのような細かい測定が可能である。
さらに、本実施形態についての特徴について、図4を用いて説明する。図4(A)(イ)に示される略台形状の被測定物(リブ)を測定する場合、従来技術で測定すると図4(A)(ロ)に示すように角部が潰れて精度の良い測定が得られない。その原因には、ビーム径の小さなものが得られない、分解能が不十分といった原因があるが、さらに図4(B)に示すように被測定物(リブ)の角部から斜面にかけて入射光を当てて測定しているとき、その斜面(拡大してみれば凹凸があり光を散乱させている。)を流れた光が不要な反射光として光検出手段7で受けてしまうことがある。したがって、光検出手段7の受光面では、本来の所望の受光範囲のほかに不要な受光範囲ができてしまい、受光面が広がってしまう。つまり実質的に分解能が悪化する。
そこで、図4(C)に示すように受光面に、所望の受光範囲だけ光を通すスリットを設け、不要な受光範囲をマスクするマスク部材を配置して、分解能を確保することができる。従来の走査型の変位測定装置では、上記「背景技術」の欄でも説明したように、入射光の走査に応じて、光検出手段7の受光面における所望とする受光範囲部分が走査(移動)されてしまうので、マスクが困難であった。この点、本実施形態を走査型の変位測定装置であるが、上記のように入射光と反射光とを、走査を行うポリゴンミラー3の鏡面3aを通過させる構成により光検出手段7の受光面における所望の受光範囲が移動しないことから、上記、スリットを設けたマスクが可能になる。
なお、上記したように、本発明の構成によれば、受光範囲(面積)が従来に比べ1/100ぐらいになるので、上記のようなマスクすることなく、上記スリット幅にみあった受光面積の狭い光検出手段7を用いてもよい。
1 LD(光源)、 2 コリメートレンズ、 3 ポリゴンミラー(偏向手段)、
4 対物レンズ(集光手段)、 5 光路偏向ミラー、 6 結像レンズ、 7 PSD(光検出手段)、8 主走査駆動部、 9 副走査駆動部、 10 測定制御部、 11 データ処理部、 12 基板、 13 光路形成手段、14a,14b プリズム、15 光路偏向ミラー
4 対物レンズ(集光手段)、 5 光路偏向ミラー、 6 結像レンズ、 7 PSD(光検出手段)、8 主走査駆動部、 9 副走査駆動部、 10 測定制御部、 11 データ処理部、 12 基板、 13 光路形成手段、14a,14b プリズム、15 光路偏向ミラー
Claims (6)
- 所定方向に走査された光を第1の光路から受けて、前記走査の方向に直交する一方向に屈折させて被測定物(12)へ集光させ、かつ前記被測定物からの反射光を受けて第2の光路へ出力する集光手段(4)と、光源(1)と、回転可能にされ、回転する鏡面で前記光源からの光を折り返し反射することにより前記光を走査して前記第1の光路へ出力するとともに、前記第2の光路からの前記反射光を受けて折り返し反射する偏向手段(3)と、前記偏向手段により折り返し反射された前記反射光を検出する光検出手段(7)と、を備え、前記光検出手段の出力を基に変位を測定することを特徴とする走査型変位測定装置。
- 前記集光手段は、凸レンズを含み、前記第1の光路からの光を前記凸レンズの中央からはずれた一方の半面で受けるとともに、前記中央より前記一方の半面の反対側の他の半面で前記被測定物からの反射光を受けるように、かつ前記第1の光路と前記第2の光路は平行になるように、配置構成されたことを特徴とする請求項1に記載の走査型変位測定装置。
- 前記集光手段は、前記一方向に斜めに屈折させて被測定物(12)へ集光させる第1の集光手段(14a)と、かつ前記被測定物から斜めに反射されてくる反射光を受けて前記第1の光路と平行な前記第2の光路へ出力する第2の集光手段(14b)とを分離して備えたことを特徴とする請求項1に記載の走査型変位測定装置。
- 前記光源からの光を受けた前記偏向手段が折り返し反射する第1の反射点(3b)と、前記反射光を第2の光路から受けた前記偏向手段が折り返し反射する第2の反射点(3c)とは、回転方向における位置が同じであって、回転方向に直交する方向の位置が異なるように、前記偏向手段及び前記集光手段を含む配置構成がされたことを特徴とする請求項1、2又は3に記載の走査型変位測定装置。
- 前記偏向手段と前記第1の光路の間に、又は前記偏向手段と前記第2の光路の間に、もしくはそれらの双方に設けられ、前記偏向手段と前記第1の光路の間の光路、又は前記偏向手段と前記第2の光路の間の光路、もしくはそれらの双方の光路を、前記光源からの光を受けた前記偏向手段が折り返し反射する第1の反射点(3b)と前記反射光を第2の光路から受けた前記偏向手段が折り返し反射する第2の反射点(3c)とが同一位置になるように光路を形成する光路形成手段(13)を備えたことを特徴とする請求項1、2又は3に記載の走査型変位測定装置。
- 光源(1)と、前記光源からの入射光を被測定物に対して斜めに入射させ、前記被測定物からの鏡面反射、粗面反射又はそれらの双方を含む反射光を検出する光検出手段(7)とを備えた走査型変位測定装置であって、前記光源及び前記光検出手段の側と前記被測定物側との間に、前記入射光を走査するための偏向手段(3)及び集光手段(4)が順に配置され、かつ前記偏向手段と前記集光手段は、前記光源からの平行な光が前記偏向手段の回転によって走査されつつ折り返し反射された後に前記集光手段により集光されて前記入射光となる光路、及び前記集光手段により前記反射光が平行な反射光にされた後に前記偏向手段によって折り返し反射されて前記光検出手段で検出される光路を形成するように配置構成されたことを特徴とする走査型変位測定装置。
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