JP2006329807A - 画像処理方法およびこれを用いた装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 測定対象面30と参照面15から反射して戻る両反射光の位相差を位相差算出部26で理論演算により求め、当該位相差を有する反射光を利用して所定のサンプリング間隔で取得した画像データの画素ごとに、光の強度値を補正する補正係数を求めるとともに、実撮像により取得した画像データ上の画素ごとの光の実強度値群に補正係数を反映させた強度値を補正処理部28で求める。この補正後の強度値に基づいて、画像データ作成部28が画像データを作成する。
【選択図】 図1
Description
前記測定対象面と参照面とに照射された光が反射して同一光路に戻ってまとめられるまでの間の各光路上にある媒質、および測定対象面と参照面との距離の変動による光路差を求めるとともに、その光路差から位相差を求める位相差算出過程と、
前記測定対象面と参照面との距離を変動させながら所定のサンプリング間隔で測定対象面を撮像手段により撮像したと仮定し、前記位相差に基づいて理論演算により画像データから同一箇所の画素ごとの光の強度値群を求め、当該強度値群の干渉信号成分を補正する補正係数を算出する補正係数算出過程と、
前記光源から光の照射された前記測定対象面と参照面との距離を変動させながら、測定対象面を撮像手段により所定のサンプリング間隔で連続的に実撮像して画像データを取得する画像データ取得過程と、
前記実撮像により取得した複数枚分の画像データから同一箇所の画素ごとの光の実強度値群を求め、当該実強度値群に前記補正係数を反映させる補正過程と、
補正された前記画素ごとの光の強度値を利用して前記測定対象面の画像データを作成する画像データ作成過程と、
を備えたことを特徴とする。
前記測定対象面と参照面とに光を照射する光源と、
前記測定対象面と参照面とに照射された光が反射して同一光路に戻ってまとめられるまでの間の各光路上にある媒質と、
前記測定対象面と参照面との距離を変動させる変動手段と、
前記光が照射された測定対象面と参照面との距離の変動に伴って測定対象面と参照面から反射して同一光路を戻る反射光によって干渉縞を生じさせるとともに、測定対象面を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段による測定対象面の撮像を所定の時間間隔で行なわせ、取得した画像データから画素ごとの光の実強度値を取り込むサンプリング手段と、
前記サンプリング手段によって取り込んだ実強度値を記憶する記憶手段と、
前記各光路上にある媒質および測定対象面と参照面との距離の変動による光路差を求めるとともに、その光路差から位相差を求める位相差算出手段と、
前記測定対象面と参照面との距離を変動させながら所定のサンプリング間隔で測定対象面を撮像手段により撮像したと仮定し、前記位相差に基づいて理論演算により画像データから同一箇所の画素ごとの光の強度値群を求め、当該強度値群の干渉信号成分を補正する補正係数を算出するとともに、撮像手段により実撮像して取得した複数枚分の画像データから同一箇所の画素ごとの光の実強度値群を求め、当該実強度値群に補正係数を反映させる補正手段と、
前記補正手段により求めた補正後の各画素の強度値に基づいて画像データを作成する画像データ作成手段と、
を備えたことを特徴とする。
さらに、前記空気を密閉した透明容器と、
前記透明容器内の空気を加熱する加熱手段と、
前記透明容器内の空気を冷却する冷却手段と、
前記加熱手段と冷却手段を操作して、前記透明容器内の空気の温度を調節する温度調節手段と、
を備えたことを特徴とする。
2 … 制御系ユニット
10 … 白色光源
13 … ハーフミラー
14 … 対物レンズ
15 … 参照面
16 … ミラー
17 … ビームスプリッタ
18 … 結像レンズ
19 … CCDカメラ
20 … CPU
21 … メモリ
24 … 駆動部
26 … 位相差算出部
27 … 補正処理部
28 … 画像データ作成部
30 … 測定対象物
30A… 測定対象面
Claims (6)
- 光源から測定対象物の測定対象面と参照面とに光を照射しながら測定対象面と参照面との距離を変動させることにより、測定対象面と参照面から反射して同一光路を戻る反射光によって干渉縞の変化を生じさせ、このときの干渉縞の光の強度に基づいて測定対象面の形状を測定する過程で、測定対象面の画像データを得る画像処理方法において、
前記測定対象面と参照面とに照射された光が反射して同一光路に戻ってまとめられるまでの間の各光路上にある媒質、および測定対象面と参照面との距離の変動による光路差を求めるとともに、その光路差から位相差を求める位相差算出過程と、
前記測定対象面と参照面との距離を変動させながら所定のサンプリング間隔で測定対象面を撮像手段により撮像したと仮定し、前記位相差に基づいて理論演算により画像データから同一箇所の画素ごとの光の強度値群を求め、当該強度値群の干渉信号成分を補正する補正係数を算出する補正係数算出過程と、
前記光源から光の照射された前記測定対象面と参照面との距離を変動させながら、測定対象面を撮像手段により所定のサンプリング間隔で連続的に実撮像して画像データを取得する画像データ取得過程と、
前記実撮像により取得した複数枚分の画像データから同一箇所の画素ごとの光の実強度値群を求め、当該実強度値群に前記補正係数を反映させる補正過程と、
補正された前記画素ごとの光の強度値を利用して前記測定対象面の画像データを作成する画像データ作成過程と、
を備えたことを特徴とする画像処理方法。 - 請求項1に記載の画像処理方法において、
前記両反射光の光路上の媒質は、空気である
ことを特徴とする画像処理方法。 - 請求項1に記載の画像処理方法において、
前記両反射光の光路上の媒質は、透過性物質である
ことを特徴とする画像処理方法。 - 測定対象物の測定対象面と参照面とに光を照射しながら、測定象面と参照面との距離を変動させることにより、測定対象物と参照面から反射して同一光路を戻る反射光によって干渉縞の変化を生じさせ、このときの干渉縞の光の強度に基づいて測定対象面の形状を測定する過程で、測定対象面の画像データを得る画像処理装置であって、
前記測定対象面と参照面とに光を照射する光源と、
前記測定対象面と参照面とに照射された光が反射して同一光路に戻ってまとめられるまでの間の各光路上にある媒質と、
前記測定対象面と参照面との距離を変動させる変動手段と、
前記光が照射された測定対象面と参照面との距離の変動に伴って測定対象面と参照面から反射して同一光路を戻る反射光によって干渉縞を生じさせるとともに、測定対象面を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段による測定対象面の撮像を所定の時間間隔で行なわせ、取得した画像データから画素ごとの光の実強度値を取り込むサンプリング手段と、
前記サンプリング手段によって取り込んだ実強度値を記憶する記憶手段と、
前記各光路上にある媒質および測定対象面と参照面との距離の変動による光路差を求めるとともに、その光路差から位相差を求める位相差算出手段と、
前記測定対象面と参照面との距離を変動させながら所定のサンプリング間隔で測定対象面を撮像手段により撮像したと仮定し、前記位相差に基づいて理論演算により画像データから同一箇所の画素ごとの光の強度値群を求め、当該強度値群の干渉信号成分を補正する補正係数を算出するとともに、撮像手段により実撮像して取得した複数枚分の画像データから同一箇所の画素ごとの光の実強度値群を求め、当該実強度値群に補正係数を反映させる補正手段と、
前記補正手段により求めた補正後の各画素の強度値に基づいて画像データを作成する画像データ作成手段と、
を備えたことを特徴とする画像処理装置。 - 請求項4に記載の画像処理装置において、
前記媒質は、屈折率の異なる複数個の透過物であり、
さらに、複数個の前記透過物の組み合わせを切り換える切換手段を備えたことを特徴とする画像処理装置。 - 請求項4に記載の画像処理装置において、
前記媒質は、空気であり、
さらに、前記空気を密閉した透明容器と、
前記透明容器内の空気を加熱する加熱手段と、
前記透明容器内の空気を冷却する冷却手段と、
前記加熱手段と冷却手段を操作して、前記透明容器内の空気の温度を調節する温度調節手段と、
を備えたことを特徴とする画像処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005153638A JP2006329807A (ja) | 2005-05-26 | 2005-05-26 | 画像処理方法およびこれを用いた装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005153638A JP2006329807A (ja) | 2005-05-26 | 2005-05-26 | 画像処理方法およびこれを用いた装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006329807A true JP2006329807A (ja) | 2006-12-07 |
Family
ID=37551645
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005153638A Pending JP2006329807A (ja) | 2005-05-26 | 2005-05-26 | 画像処理方法およびこれを用いた装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006329807A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008299210A (ja) * | 2007-06-01 | 2008-12-11 | Olympus Corp | 干渉対物レンズと、その干渉対物レンズを備える干渉顕微鏡装置 |
CN102298245A (zh) * | 2011-09-21 | 2011-12-28 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种航空相机调焦系统 |
GB2483481A (en) * | 2010-09-09 | 2012-03-14 | Phase Vision Ltd | Method and apparatus of measuring the shape of an object |
WO2023149468A1 (ja) * | 2022-02-07 | 2023-08-10 | 株式会社東京精密 | 三次元形状測定装置、三次元形状測定装置の参照面位置調整方法、及び三次元形状測定装置の測定モード切替方法 |
-
2005
- 2005-05-26 JP JP2005153638A patent/JP2006329807A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN102298245B (zh) * | 2011-09-21 | 2013-06-19 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种航空相机调焦系统 |
WO2023149468A1 (ja) * | 2022-02-07 | 2023-08-10 | 株式会社東京精密 | 三次元形状測定装置、三次元形状測定装置の参照面位置調整方法、及び三次元形状測定装置の測定モード切替方法 |
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