JP2006294228A - コラム経路回路 - Google Patents

コラム経路回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2006294228A
JP2006294228A JP2006104230A JP2006104230A JP2006294228A JP 2006294228 A JP2006294228 A JP 2006294228A JP 2006104230 A JP2006104230 A JP 2006104230A JP 2006104230 A JP2006104230 A JP 2006104230A JP 2006294228 A JP2006294228 A JP 2006294228A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
node
page address
response
pull
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006104230A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4889348B2 (ja
Inventor
Sang Kwon Lee
相權 李
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SK Hynix Inc
Original Assignee
Hynix Semiconductor Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hynix Semiconductor Inc filed Critical Hynix Semiconductor Inc
Publication of JP2006294228A publication Critical patent/JP2006294228A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4889348B2 publication Critical patent/JP4889348B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/408Address circuits
    • G11C11/4087Address decoders, e.g. bit - or word line decoders; Multiple line decoders
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • G11C11/40615Internal triggering or timing of refresh, e.g. hidden refresh, self refresh, pseudo-SRAMs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/408Address circuits
    • G11C11/4082Address Buffers; level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4093Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1018Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
    • G11C7/1021Page serial bit line access mode, i.e. using an enabled row address stroke pulse with its associated word line address and a sequence of enabled column address stroke pulses each with its associated bit line address
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/06Address interface arrangements, e.g. address buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/10Decoders
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/12Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

【課題】一つのリードストローブ信号に対して2つの異なるコラム選択信号が生成されることのないコラム経路回路を提供する。
【解決手段】ページアドレス信号のレベル遷移を検出して所定のイネーブル区間を持つアドレス遷移検出信号の生成部と、前記複数のアドレス遷移検出信号を論理演算する検出信号結合部と、前記結合部出力のイネーブルに応答した所定のイネーブル区間を持つストローブ準備信号の発生部と、前記ストローブ準備信号に応答した所定リードストローブ信号及び前記ページアドレス信号をラッチするためのページアドレスストローブ信号の生成部と、前記ページアドレスストローブ信号によってイネーブルされてページアドレス信号をラッチする複数のバッファーと、前記複数のラッチされたページアドレス信号のデコーダと、前記リードストローブ信号に同期して前記デコードされたページアドレス信号に対応したコラム選択信号の発生部と、を備える。
【選択図】図3

Description

本発明は、コラム経路回路に係り、より具体的には、擬似SRAM(pseudo Static Random Access Memory)などにおいて、外部から入力されるページアドレス信号に対するスキュー発生から、リードストローブ信号のイネーブル区間においてページアドレス信号のレベルが遷移する場合、ページアドレス信号を新たにラッチしデコーディングするとともに、リードストローブ信号を再び生成してコラム選択信号を生成することによって、一つのリードストローブ信号に対して2つの異なるコラム選択信号が生成されるのを防止し、正常のデータリード動作を可能にしたコラム経路回路に関する。
一般に、擬似SRAM(pseudo SRAM)とは、半導体メモリの一つで、DRAM(Dynamic RAM)セルをメモリセルとして持つが、SRAMのような方式で動作するRAM、すなわちメモリセルはDRAM構造となっているが、SRAM方式によって動作するメモリ装置のことをいう。
図1は、従来のコラム経路回路、特に、擬似SRAM装置において、外部からページアドレス信号を取り込み、これをデコーディングしてコラム選択信号を出力するコラム経路回路の構成を示す図で、図2は、ここに使われる各信号のタイミング図を示す。以下、これら図面を参照して従来のコラム経路回路の動作について説明する。
図1に示すように、外部からページアドレス信号page address<0>,page address<1>,…が入力されると、ページアドレスバッファー111,112,…はこれら信号をそれぞれバッファリングし、バッファリングした信号page_add_outをページアドレスデコーダ130に供給する。すると、ページアドレスデコーダ130は、ページアドレスバッファー111,112,…からの信号page_add_outをデコーディングし、図2示すようにデコーディングされたページアドレス信号decoded address<0>、decoded address<1>,…を出力する。
一方、アドレス遷移検出部121,122,…は、ページアドレス信号(page address<1>、page address<2>,…を受信してそのレベル遷移を検出し、図2に示すように、所定のイネーブル区間を持つ遷移検出信号atd<0>,atd<1>,…を出力する。すると、検出信号結合部140は、これら遷移検出信号atd<0>,atd<1>,…を受信し、これらを論理和演算し、図2に示すような信号atd_sumを出力する。続いて、リードストローブ発生部150は、信号atd_sumを受信し、上記デコーディングされたページアドレス信号decoded address<0>,decoded address<1>,…をラッチするためのリードストローブ信号read_strobeを出力する。ここで、リードストローブ信号read_strobeは、上記デコーディングされたページアドレス信号を用いてコラム選択信号を生成する際に基準となるストローブ信号(strobe signal)または同期信号のことをいう。
続いて、コラム選択信号発生部160は、リードストローブ信号read_strobeに同期して、すなわち、リードストローブ信号read_strobeがイネーブルされている区間を基準としてデコーディングされたページアドレス信号decoded address<0>,decoded address<1>,…に対応するコラム選択信号Yi<0>,Yi<1>,…を出力する。
本出願と関連のある技術が、特許文献1〜7に開示されている。
米国特許第5768215号明細書 日本特許出願公開番号第2004/38705号明細書 米国特許第6564284B2号明細書 米国特許第6507534B2号明細書 米国特許第6389520B2号明細書 米国特許出願公開第2004/0015663A1号明細書 日本特許出願公開番号第2002/149486号明細書
しかしながら、かかる従来のコラム経路回路は、外部から入力されるページアドレス信号に対するスキュー発生によって、リードストローブ信号のイネーブル区間においてデコーディングされたページアドレスが変わる場合、一つのリードストローブ信号に対して2つの異なるコラム選択信号が生成されるという問題点があった。すなわち、図2に示すように、ページアドレス信号page address<0>,page address<1>,…に対するスキュー発生によって、リードストローブ信号read_strobeがイネーブルされている区間において、デコーディングされたページアドレスdecoded address<0>,decoded address<1>,…が変わると、コラム選択信号発生部160は、2つの異なるコラム選択信号Yi<1>,Yi<3>を出力し、この場合、2つのコラムが選択されるがために正常のリード動作が不可能になるという問題点があった。
本発明は、上記問題点を解決するためのもので、その目的は、外部から入力されるページアドレス信号に対するスキュー発生によって、リードストローブ信号のイネーブル区間においてデコーディングされたページアドレスが変わる場合、ページアドレス信号を新たにラッチしデコーディングするとともに、リードストローブ信号を再び生成してコラム選択信号を生成することによって、一つのリードストローブ信号に対して2つの異なるコラム選択信号が生成されるのを防止し、正常のデータリード動作を可能にしたコラム経路回路を提供することにある。
上記目的を達成する本発明は、ページアドレス信号のレベル遷移を検出して所定のイネーブル区間を持つ遷移検出信号を出力する複数のアドレス遷移検出部と、前記複数のアドレス遷移検出部からの遷移検出信号を論理演算して出力する検出信号結合部と、前記検出信号結合部からの信号のイネーブルに応答して、所定イネーブル区間を持つストローブ準備信号を出力する準備信号発生部と、前記ストローブ準備信号に応答して、所定のリードストローブ信号と、前記ページアドレス信号をラッチするためのページアドレスストローブ信号とを生成するストローブ信号生成部と、前記ページアドレスストローブ信号によってイネーブルされ、前記ページアドレス信号をラッチしバッファリングする複数のページアドレスバッファーと、前記複数のページアドレスバッファーによりバッファリングされたページアドレス信号をデコーディングするページアドレスデコーダと、
前記リードストローブ信号に同期して、前記デコーディングされたページアドレス信号に対応するコラム選択信号を出力するコラム選択信号発生部と、を備えて構成されるコラム経路回路とした。
好ましくは、前記検出信号結合部は、前記複数のアドレス遷移検出部からの遷移検出信号を論理和演算して出力する。
好ましくは、前記ストローブ信号生成部は、前記ストローブ準備信号に応答して、前記リードストローブ信号及びページアドレスストローブ信号の生成のためのリセット信号を出力するリセット信号生成部と、前記リセット信号に応答して、前記リードストローブ信号及びページアドレスストローブ信号を出力するリードストローブ出力部と、を備える。
また、前記リセット信号生成部は、フィードバックされる前記ページアドレスストローブ信号を所定時間遅延させた信号に応答して、第1ノードをプルダウン駆動する第1プルダウン素子と、フィードバックされる前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記第1ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、前記第1ノードからの信号と前記ストローブ準備信号とを論理演算して出力する第1論理部と、前記第1論理部からの信号に応答して、所定のイネーブル区間を持つ前記リセット信号を生成する第1信号発生部と、を備えて構成されることを特徴とする。
好ましくは、前記リセット信号生成部は、前記第1ノードと前記第1論理部との間に配置され、前記第1ノードの信号を所定時間ラッチする第1ラッチ部をさらに備える。
前記リセット信号生成部は、前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記第1ノードと第1プルダウン素子間のスイッチングを行う第1スイッチ素子をさらに備えると好ましい。
前記第1スイッチ素子は、NMOS(n-channel metal oxide semiconductor)素子であると好ましい。
好ましくは、前記第1論理部は、論理積演算を行う。
前記第1信号発生部は、前記第1論理部からの信号を所定時間遅延させる第1遅延部と、前記第1遅延部からの信号をバッファリングする第1バッファーと、前記第1論理部からの信号と前記第1バッファーからの信号とを論理演算して出力する第2論理部と、を備えて構成されることが好ましい。
好ましくは、前記第1バッファーはインバーティング動作を行い、前記第2論理部は論理積演算を行う。
前記リセット信号生成部は、所定の初期化信号に応答して前記第1ノードをプルアップ駆動する第2プルアップ素子をさらに備えることが好ましい。
好ましくは、前記リードストローブ出力部は、前記リセット信号に応答して第2ノードをプルダウン駆動する第2プルダウン素子と、フィードバックされる前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記第2ノードをプルアップ駆動する第3プルアップ素子と、前記第2ノードからの信号を所定時間ラッチさせる第2ラッチ部と、前記第2ラッチ部からの信号に応答して、所定のイネーブル区間を持つ前記ページアドレスストローブ信号を出力する第2信号発生部と、前記ページアドレスストローブ信号を所定時間遅延させて前記リードストローブ信号を出力する第2遅延部と、を備えて構成される。
前記リードストローブ出力部は、前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記第2ノードと第2プルダウン素子間のスイッチングを行う第2スイッチ素子をさらに備えることが好ましい。
好ましくは、前記第2スイッチ素子はNMOS素子である。
前記第2ラッチ部は、前記第2ノードの信号を反転させて出力する反転ラッチであると好ましい。
好ましくは、前記第2信号発生部は、前記第2ラッチ部からの信号を所定時間遅延させる第3遅延部と、前記第3遅延部からの信号をバッファリングする第2バッファーと、前記第2ラッチ部からの信号と前記第2バッファーからの信号とを論理演算して出力する第3論理部と、を備えて構成される。
好ましくは、前記第2バッファーはインバーティング動作を行い、前記第3論理部は論理積演算を行う。
前記リードストローブ出力部は、所定の初期化信号に応答して前記第2ノードをプルアップ駆動する第4プルアップ素子をさらに備えることが好ましい。
好ましくは、前記準備信号発生部は、前記検出信号結合部からの信号に応答して、第3ノードをプルダウン駆動する第3プルダウン素子と、前記リセット信号の反転信号に応答して、前記第3ノードをプルアップ駆動する第5プルアップ素子と、前記第3ノードからの信号を所定時間ラッチし、前記ストローブ準備信号を出力する第3ラッチ部と、を備えて構成される。
前記準備信号発生部は、前記リセット信号の反転信号に応答して前記第3ノードと第3プルダウン素子間のスイッチングを行う第3スイッチ素子をさらに備えることが好ましい。
前記第3スイッチ素子はNMOS素子であると好ましい。
前記第3ラッチ部は、前記第3ノードの信号を反転させて出力する反転ラッチであると好ましい。
前記準備信号発生部は、所定の初期化信号に応答して、前記第3ノードをプルアップ駆動する第6プルアップ素子をさらに備えることが好ましい。
前記ページアドレスバッファーは、前記ページアドレスストローブ信号に応答して、第4ノードをプルアップ駆動する第7プルアップ素子と、前記ページアドレスストローブ信号に応答して、第5ノードをプルアップ駆動する第8プルアップ素子と、前記ページアドレス信号に応答して、前記第4ノードをプルダウン駆動する第4プルダウン素子と、前記ページアドレス信号をバッファリングした信号に応答して、前記第5ノードをプルダウン駆動する第5プルダウン素子と、前記第4ノードからの信号に応答して、前記第5ノードをプルアップ駆動する第9プルアップ素子と、前記第5ノードからの信号に応答して、前記第4ノードをプルアップ駆動する第10プルアップ素子と、前記第4ノードからの信号をバッファリングした信号に応答して、第6ノードをプルダウン駆動する第6プルダウン素子と、前記第5ノードからの信号に応答して、第6ノードをプルアップ駆動する第11プルアップ素子と、を備えて構成されることが好ましい。
前記ページアドレスバッファーは、前記ページアドレスストローブ信号に応答して、前記第4プールダウン素子及び第5プルダウン素子の共通接続ノードと接地端間のスイッチングを行う第4スイッチをさらに備えると好ましい。
前記ページアドレスバッファーは、前記第6ノードからの信号を反転させて、前記バッファリングされたページアドレス信号として出力するインバータ素子をさらに備えると好ましい。
好ましくは、前記ページアドレスバッファーは、前記第6ノードの信号を所定時間ラッチする第4ラッチ部をさらに備える。
本発明に係るコラム経路回路は、外部から入力されるページアドレス信号に対するスキュー発生によって、リードストローブ信号がイネーブルされている区間においてページアドレス信号のレベルが遷移する場合、ページアドレス信号を新たにラッチしデコーディングするとともに、リードストローブ信号を再び生成してコラム選択信号を生成するため、1つのリードストローブ信号について2つの異なるコラム選択信号が生成されるのを防止し、正常のデータリード動作を可能にすることができる。
以下、本発明の好適な実施形態について、添付の図面を参照しつつ詳細に説明する。ただし、下記の実施形態は、本発明を例示するためのもので、本発明の権利保護範囲を制限するためのものでない。
図3は、本発明の一実施形態によるコラム経路回路の構成を示す図で、図4乃至図11は、図3のコラム経路回路に含まれた各構成要素の構成を示す図である。
図3に示すように、本発明によるコラム経路回路は、ページアドレス信号page address<0>,page address<1>,…のレベル遷移を検出して所定のイネーブル区間を持つ遷移検出信号atd<0>,atd<1>,…を出力する複数のアドレス遷移検出部301,302,…と、各アドレス遷移検出部301,302,…から出力される遷移検出信号atd<0>,atd<1>,…を論理和演算しatd_sum信号として出力する検出信号結合部500と、検出信号結合部500からの信号atd_sumのイネーブルに応答して、所定のイネーブル区間を持つストローブ準備信号readyを出力する準備信号発生部600と、該ストローブ準備信号readyに応答して、所定のリードストローブ信号read_strobe、及びページアドレス信号page address<0>,page address<1>,…をラッチするためのページアドレスストローブ信号p_add_stbを生成するストローブ信号生成部700と、ページアドレスストローブ信号p_add_stbによってイネーブルされてページアドレス信号page address<0>,page address<1>,…をラッチしバッファリングして、バッファリングされたページアドレス信号page_add_outをそれぞれ出力する複数のページアドレスバッファー201,202,…と、各ページアドレスバッファー201,202,…によりバッファリングされたページアドレス信号page_add_outをデコーディングするページアドレスデコーダ400と、リードストローブ信号read_strobeに同期して、デコーディングされたページアドレス信号decoded address<0>,decoded address<1>,…に対応するコラム選択信号Yi<0>,Yi<1>,…を出力するコラム選択信号発生部800と、を備えて構成される。
ストローブ信号生成部700は、ストローブ準備信号readyに応答してリードストローブ信号read_strobeとページアドレスストローブ信号p_add_stbの生成のためのリセット信号resetを出力するリセット信号生成部710と、該リセット信号resetに応答してリードストローブ信号read_strobeとページアドレスストローブ信号p_add_stbを出力するリードストローブ出力部720と、を備える。
図7に示すように、リセット信号生成部710は、フィードバックされるページアドレスストローブ信号p_add_stbを所定時間遅延させた信号に応答してノードBをプルダウン駆動するプルダウン素子の一例としてのNMOS N71と、フィードバックされるリードストローブ信号read_strobeの反転信号に応答してノードBをプルアップ駆動する第1プルアップ素子の一例としてのPMOS P71と、ノードBからの信号とストローブ準備信号readyを論理演算して出力する第1論理部の一例としての論理部713と、論理部713からの信号に応答して所定のイネーブル区間を持つリセット信号resetを生成する信号発生部714と、を備えて構成される。
図8に示すように、リードストローブ出力部720は、リセット信号resetに応答してノードCをプルダウン駆動するプルダウン素子の一例としてのNMOS N81と、フィードバックされるリードストローブ信号read_strobeの反転信号に応答してノードCをプルアップ駆動する第1プルアップ素子の一例としてのPMOS P81と、ノードCからの信号を所定時間ラッチさせるラッチ部723と、ラッチ部723からの信号に応答して、所定のイネーブル区間を持つページアドレスストローブ信号p_add_stbを出力する信号発生部721と、ページアドレスストローブ信号p_add_stbを所定時間遅延させてリードストローブ信号read_strobeを出力する第1遅延部の一例としての遅延部722と、を備えて構成される。
図6に示すように、準備信号発生部600は、検出信号結合部500からの信号atd_sumに応答してノードAをプルダウン駆動するプルダウン素子の一例としてのNMOS N61と、リセット信号resetの反転信号に応答してノードAをプルアップ駆動する第1プルアップ素子の一例としてのPMOS P61と、ノードAからの信号を所定時間ラッチさせ、ストローブ準備信号readyを出力するラッチ部601と、を備える。
図9に示すように、ページアドレスバッファー201,202,…のそれぞれは、ページアドレスストローブ信号p_add_stbに応答して第1ノードの一例としてのノードDをプルアップ駆動する第1プルアップ素子の一例としてのPMOS P91と、ページアドレスストローブ信号p_add_stbに応答して第2ノードの一例としてのノードEをプルアップ駆動する第2プルアップ素子の一例としてのPMOS P94と、ページアドレス信号page_addressに応答して第1ノードの一例としてのノードDをプルダウン駆動する第1プルダウン素子の一例としてのNMOS N91と、ページアドレス信号page_addressの反転信号(ページアドレス信号をバッファリングした信号)に応答して第2ノードの一例としてのノードEをプルダウン駆動する第2プルダウン素子の一例としてのNMOS N92と、第1ノードの一例としてのノードDからの信号に応答して第2ノードの一例としてのノードEをプルアップ駆動する第3プルアップ素子の一例としてのPMOS P93と、第2ノードの一例としてのノードEからの信号に応答して第1ノードの一例としてのノードDをプルアップ駆動する第4プルアップ素子の一例としてのPMOS P92と、第1ノードの一例としてのノードDからの信号の反転信号(ノードDからの信号をバッファリングした信号)に応答して第3ノードの一例としてのノードGをプルダウン駆動する第3プルダウン素子の一例としてのNMOS N94と、第2ノードの一例としてのノードEからの信号に応答して第3ノードの一例としてのノードGをプルアップ駆動する第5プルアップ素子の一例としてのPMOS P95と、を備えて構成される。
このように構成された本実施形態による動作を、図3乃至図12を参照して具体的に説明する。
図3に示すように、外部からページアドレス信号page address<0>,page address<1>,…が入力されると、ページアドレスバッファー201,202,…は、これをバッファリングして信号page_add_outとしてページアドレスデコーダ400にそれぞれ供給する。ところが、図9に示すように、ページアドレスバッファー201,202,…はページアドレスストローブ信号p_add_stbによってイネーブルされて動作するようになっているため、ページアドレスストローブ信号p_add_stbがハイレベルとイネーブルされるまではバッファリングを行わず、よって、初期にはバッファリングを行わない。
一方、アドレス遷移検出部301,302,…のそれぞれは、ページアドレス信号page_addressを取り込んでそのレベル遷移を検出し、図3に示すように所定のイネーブル区間を持つ遷移検出信号atd<0>,atd<1>,…をそれぞれ出力する。これを図4を参照して具体的に説明すると、ページアドレス信号page_addressがローレベルからハイレベルに遷移する場合には立上り遷移感知部350によって、ハイレベルからローレベルに遷移する場合には立下り遷移感知部360によってそれぞれその遷移が感知され、所定のイネーブル区間を持つ遷移検出信号atdが出力される。
まず、ページアドレス信号page_addressがローレベルの状態にある場合、NANDゲートND35はハイレベルの信号を出力し、NORゲートNR35からローレベルの信号が印加されるインバータIV41もハイレベルの信号を出力するので、NANDゲートND36はローレベルの信号を出力する。このときに、仮にページアドレス信号page_addressがハイレベルに遷移すると、NANDゲートND35の一側入力端への信号は直ちにハイレベルに遷移するが、NANDゲートND34から他側入力端へ入力される信号はインバータIV31〜IV35などによる遅延時間の間にはしばらく以前状態のハイレベルを維持する。したがって、NANDゲートND35はローレベルの信号を出力し、NANDゲートND36はハイレベルの遷移検出信号atdを出力する。この後当該遅延時間が経過すると、NANDゲートND34から出力される信号はローレベルに遷移するので、NANDゲートND35はハイレベルの信号を出力し、NANDゲートND36から出力される遷移検出信号atdはローレベルに遷移する。したがって、ページアドレス信号page_addressがローレベルからハイレベルに遷移すると、該当するアドレス遷移検出部は、当該遅延時間の間にイネーブルされる遷移検出信号atdを出力する。
一方、ページアドレス信号page_addressがハイレベルの状態にある場合、NANDゲートND35はハイレベルの信号を出力し、NORゲートNR35からローレベルの信号が印加されるインバータIV41もハイレベルの信号を出力するので、NANDゲートND36はローレベルの信号を出力する。このときに、仮にページアドレス信号page_addressがローレベルに遷移すると、NORゲートNR35の一側入力端への信号は直ちにローレベルに遷移するが、NORゲートNR34から他側入力端へ入力される信号は、インバータIV36〜IV40などによる遅延時間の間にはしばらく以前状態のローレベルを維持する。このため、NORゲートNR35はハイレベルの信号を出力し、インバータIV41はローレベルの信号を出力するので、NANDゲートND36はハイレベルの遷移検出信号atdを出力する。この後当該遅延時間が経過すると、NORゲートNR34から出力される信号はハイレベルに遷移するので、NORゲートNR35はローレベルの信号を出力し、インバータIV41はハイレベルの信号を出力するので、NANDゲートND36から出力される遷移検出信号atdはローレベルに遷移する。したがって、ページアドレス信号page_addressがハイレベルからローレベルに遷移すると、該当するアドレス遷移検出部は、当該遅延時間の間にイネーブルされる遷移検出信号atdを出力する。
続いて、検出信号結合部500は、遷移検出信号atd<0>,atd<1>,…を受信してこれらを論理和演算し、図12に示すように信号atd_sumを出力する。図5は、このような論理和演算を行う一例を示す図で、遷移検出信号atd<0>,atd<1>,…のいずれか一つでもハイレベルになると、それに対応するNORゲートはローレベルの信号を出力し、その信号が印加されたNANDゲートはハイレベルの信号を出力し、結果として論理和演算が行われる場合を示している。
また、準備信号発生部600は、信号atd_sumを受信し、これに応答して所定のイネーブル区間を持つストローブ準備信号readyを出力し、このストローブ準備信号readyは、後述するストローブ信号生成部700がページアドレスストローブ信号p_add_stbとリードストローブ信号read_strobeを生成するにおいて準備信号となる。次に、この準備信号発生部600の動作を、図6に基づいて説明する。
まず、初期状態においては、ノードAは、初期化信号pwrupによって動作するPMOS P62及びラッチ部601の動作によってハイレベルの状態にある。このときに、リセット信号生成部710からフィードバックされたリセット信号resetは、未だローレベルとディセーブル状態にあるので、NMOS N62はオン状態にあり、PMOS P61はオフ状態にある。この条件で、任意のページアドレス信号page address<0>,page address<1>,…がレベル遷移し信号atd_sumがハイレベルに遷移すると、NMOS N61がターンオンする。これにより、ノードAはローレベルに遷移するので、図12に示すように、ストローブ準備信号readyはハイレベルとイネーブルされて出力される。そして、この状態は、以降リセット信号生成部710からフィードバックされるリセット信号resetがハイレベルとイネーブルされてノードAがハイレベルにリセットされるまで維持される。
続いて、ストローブ信号生成部700は、ストローブ準備信号readyを受信し、リードストローブ信号read_strobe、ページアドレスストローブ信号p_add_stb、及びリセット信号resetとして出力する。この動作を、図7及び図8を参照して説明する。
まず、図7に示すように、ストローブ準備信号readyはリセット信号生成部710のNANDゲートND71の一側端に入力される。このときに、ノードBは、初期化信号pwrupによって動作するPMOS P72及びラッチ部712の動作によってハイレベルの状態にあるので、インバータIV74からNANDゲートND71に入力される信号は、ハイレベルの状態にある。したがって、ストローブ準備信号readyがハイレベルで入力されると、NANDゲートND71及びインバータIV75からなる論理部713から出力される信号は、ローレベルからハイレベルに遷移する。その結果、信号発生部714は、論理部713からのハイレベル信号に応じてイネーブルされることで、所定のイネーブル区間を持つリセット信号resetを出力する。信号発生部714の具体的な動作を、図10を参照して説明する。
図10に示すように、インバータIV75から出力される信号は、NANDゲートND72の一側端に入力されると同時に、遅延部715に入力される。ストローブ準備信号readyがローレベルである状態、すなわちインバータIV75からの信号がローレベルである状態では、インバータIV76からの信号はハイレベルとして入力され、NANDゲートND72はハイレベルの信号を出力するので、インバータIV77の出力であるリセット信号resetは、ローレベルの状態にある。このときに、ストローブ準備信号readyがハイレベルとイネーブルされると、インバータIV75からはハイレベルの信号が信号発生部714に入力される。
この条件下で、遅延部715による遅延時間が経過する前では、インバータIV76の出力は未だ以前状態のハイレベル状態を維持する。したがって、当該遅延時間が経過する前には、論理部716は2つのハイレベル信号を受信してハイレベルの信号を出力する。その後、当該遅延時間が経過すると、インバータIV76の出力はローレベルに遷移するので、論理部716の出力はローレベルに遷移する。要するに、リセット信号生成部710は、ストローブ準備信号readyがイネーブルされると、図12に示すように所定のイネーブル区間を持つリセット信号resetを出力する。
一方、後述するリードストローブ出力部720からページアドレスストローブ信号p_add_stbがイネーブル状態として遅延部711に入力されると、ノードBはローレベルに遷移し、論理部713はローレベルの信号を出力するので、図12に示すように、信号発生部714から出力されるリセット信号resetはローレベルとディセーブルされる。そして、リードストローブ信号read_strobeがリセット信号生成部710のインバータIV71に印加されると、ノードBは再びハイレベルに遷移してストローブ準備信号readyが入力される以前の状態に復帰する。
次に、図8に示すように、リセット信号resetはリードストローブ出力部720のNMOS N81に入力される。このときに、リードストローブ出力部720にフィードバックされるリードストローブ信号read_strobeは、未だローレベルとディセーブル状態にあり、したがって、リセット信号resetがハイレベルとイネーブルされると、ノードCはローレベルにプルダウンされ、信号発生部721はハイレベルの信号を受信して所定のイネーブル区間を持つページアドレスストローブ信号p_add_stbを出力する。信号発生部721の具体的な動作を、図11を参照して説明する。
図11に示すように、信号発生部721の基本的な構成は、リセット信号生成部710の信号発生部714と同様である。したがって、上述した信号発生部714の動作と同じ動作原理によって、信号発生部721はハイレベルの信号を受信して所定のイネーブル区間を持つページアドレスストローブ信号p_add_stbを出力する。すなわち、まず、初期状態においては、ノードCは初期化信号pwrupによって動作するPMOS P82及びラッチ部723の動作によってハイレベルの状態にあるので、信号発生部721はローレベルの信号を受信しディセーブル状態にある。以降、リセット信号resetがハイレベルとイネーブルされることで信号発生部721はイネーブルされ、図11の遅延部724による遅延時間の間にイネーブルされるページアドレスストローブ信号p_add_stbを出力する(図12参照)。なお、図12に示すように、ページアドレスストローブ信号p_add_stbは遅延部722によって所定時間遅延された後にリードストローブ信号read_strobeとして出力される。
このように、ストローブ信号生成部700は、ストローブ準備信号readyに応答してリードストローブ信号read_strobe及びページアドレスストローブ信号p_add_stbを出力する。このときに生成されたページアドレスストローブ信号p_add_stbは、図3に示すようにページアドレスバッファー201,202,…に供給され、ページアドレスバッファー201,202,…はページアドレスストローブ信号p_add_stbによりイネーブルされて(ページアドレスストローブ信号p_add_stbに同期して)ページアドレス信号page_address<0>,page_address<1>, page_address<2>,…をそれぞれラッチしバッファリングする。一方、リードストローブ信号read_strobeはコラム選択信号発生部800に供給されて、コラム選択信号発生部800は、リードストローブ信号read_strobeに同期してコラム選択信号を出力する。これについて詳細に説明すると、下記の通りである。
まず、ページアドレスバッファー201,202,…の動作を、図9に基づいて説明する。ページアドレスストローブ信号p_add_stbがイネーブルされる前には、NMOS N93はオフ状態にあり、PMOS P91とPMOS P94はオン状態にある。これにより、ノードD及びノードEはハイレベルにプルアップ駆動され、PMOS P95及びNMOS N94はオフ状態にあるので、ページアドレスバッファー201,202,…はバッファリング動作を行わずにいる。
このときに、ページアドレスバッファーに印加されるページアドレス信号page address<0>,page address<1>,…にレベル遷移が発生すると、信号atd_sum、ストローブ準備信号readyなどが生成され、ページアドレスストローブ信号p_add_stbがイネーブルされる。そして、ページアドレスストローブ信号p_add_stbはページアドレスバッファー201,202,…のそれぞれに印加される。こうなると、NMOS N93はターンオンされ、PMOS P91とPMOS P94はターンオフされることで、ページアドレスバッファー201,202,…はバッファリング動作を行う。
すなわち、仮に、ページアドレス信号page_addressがハイレベルである場合、NMOS N91がターンオンされてノードDはローレベルに遷移し、NMOS N92はターンオフされる。また、ノードDの信号に応答してPMOS P93がターンオンされてノードEはハイレベルになる。これにより、NMOS N94はターンオンされ、PMOS P95はターンオフされるので、ハイレベルにバッファリングされたページアドレス信号page_add_outが出力される。一方、もしページアドレス信号page_addressがローレベルである場合には、NMOS N92がターンオンされてノードEはローレベルに遷移し、NMOS N91はターンオフされる。そして、ノードEの信号に応答してPMOS P92がターンオンされてノードDはハイレベルになる。これにより、NMOS N94はターンオフされ、PMOS P95はターンオンされるので、ローレベルにバッファリングされたページアドレス信号page_add_outが出力される。ここで、ラッチ部901はノードGの信号を所定時間ラッチする役割を担う。
このように、ページアドレスバッファー201,202,203,…は、ページアドレスストローブ信号p_add_stbによりイネーブルされ、ページアドレス信号page_addressをラッチすることによって該当するページアドレス信号page_addressをバッファリングする。
続いて、図3に示すように、ページアドレスデコーダ400は、ページアドレスバッファー201,202,…からそれぞれ出力されたページアドレス信号page_add_outを順にデコーディングし、デコーディングされたページアドレス信号decoded address<0>,decoded address<1>,…を出力する。
最後に、コラム選択信号発生部800は、リードストローブ信号read_strobeに同期して、すなわちリードストローブ信号read_strobeのイネーブル区間において、デコーディングされたページアドレス信号decoded address<0>,decoded address<1>,…に対応するコラム選択信号Yi<0>,Yi<1>,…を出力する。
このように、本発明ではページアドレス信号にレベル遷移が発生する度にページアドレスストローブ信号及びリードストローブ信号を新たに生成し、これを用いてコラム選択信号を生成しているため、1つのリードストローブ信号に対して2つの異なるコラム選択信号が生成されることがない。
すなわち、本発明では、1つのコラム選択信号が出力されている中にページアドレス信号に対するスキュー発生からページアドレス信号にレベル遷移が発生する場合には、その遷移の検出によって新たにページアドレスストローブ信号及びリードストローブ信号を生成する。続いて、ページアドレスバッファーでは、レベル遷移したページアドレス信号を前記ページアドレスストローブ信号を用いて再びラッチしてバッファリングし、ページアドレスデコーダではそれらバッファリングされたページアドレス信号をデコーディングする。最終的に、コラム選択信号発生部では前記新たに生成されたリードストローブ信号に同期して前記デコーディングされたページアドレス信号に対応するコラム選択信号を生成して出力する。したがって、図12に示すように、本発明では、1つのリードストローブ信号については1つのコラム選択信号のみ出力されるので、2つの異なるコラムが同時に選択されることから生じるデータリード動作のエラーを根本的に防ぐことが可能になる。
従来の技術に係るコラム経路回路の構成を示す図である。 従来の技術に係るコラム経路回路に用いられる各信号のタイミング図である。 本発明による一実施形態によるコラム経路回路の構成を示す図である。 本発明によるコラム経路回路に用いられるアドレス遷移検出部の構成を示す図である。 本発明によるコラム経路回路に用いられる検出信号結合部の構成を示す図である。 本発明によるコラム経路回路に用いられる準備信号発生部の構成を示す図である。 本発明によるコラム経路回路に用いられるストローブ信号生成部のリセット信号生成部の構成を示す図である。 本発明によるコラム経路回路に用いられるストローブ信号生成部のリードストローブ出力部の構成を示す図である。 本発明によるコラム経路回路に用いられるページアドレスバッファーの構成を示す図である。 リセット信号生成部に含まれた信号発生部の構成を示す図である。 リードストローブ出力部に含まれた信号発生部の構成を示す図である。 本発明の一実施形態によるコラム経路回路に用いられる各信号のタイミング図である。
符号の説明
201,202、203・・・ページアドレスバッファ
301,302、303・・・アドレス遷移検出部
400・・・ページアドレスデコーダ
500・・・検出信号結合部
600・・・準備信号発生部
700・・・ストローブ信号生成部
710・・・リセット信号発生部
720・・・リードストローブ出力部
800・・・コラム選択信号発生部

Claims (47)

  1. ページアドレス信号のレベル遷移を検出して所定のイネーブル区間を持つ遷移検出信号を出力する複数のアドレス遷移検出部と、
    前記複数のアドレス遷移検出部からの遷移検出信号を論理演算して出力する検出信号結合部と、
    前記検出信号結合部からの信号のイネーブルに応答して、所定イネーブル区間を持つストローブ準備信号を出力する準備信号発生部と、
    前記ストローブ準備信号に応答して、所定のリードストローブ信号と、前記ページアドレス信号をラッチするためのページアドレスストローブ信号とを生成するストローブ信号生成部と、
    前記ページアドレスストローブ信号によってイネーブルされ、前記ページアドレス信号をラッチしバッファリングする複数のページアドレスバッファーと、
    前記複数のページアドレスバッファーによりバッファリングされたページアドレス信号をデコーディングするページアドレスデコーダと、
    前記リードストローブ信号に同期して、前記デコーディングされたページアドレス信号に対応するコラム選択信号を出力するコラム選択信号発生部と、
    を備えて構成されるコラム経路回路。
  2. 前記検出信号結合部は、前記複数のアドレス遷移検出部からの遷移検出信号を論理和演算して出力する、請求項1に記載のコラム経路回路。
  3. 前記ストローブ信号生成部は、
    前記ストローブ準備信号に応答して、前記リードストローブ信号及びページアドレスストローブ信号の生成のためのリセット信号を出力するリセット信号生成部と、
    前記リセット信号に応答して、前記リードストローブ信号及びページアドレスストローブ信号を出力するリードストローブ出力部と、
    を備えてなる、請求項1に記載のコラム経路回路。
  4. 前記リセット信号生成部は、
    フィードバックされる前記ページアドレスストローブ信号を所定時間遅延させた信号に応答して、所定のノードをプルダウン駆動するプルダウン素子と、
    フィードバックされる前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、
    前記ノードからの信号と前記ストローブ準備信号とを論理演算して出力する第1論理部と、
    前記第1論理部からの信号に応答して、所定のイネーブル区間を持つ前記リセット信号を生成する信号発生部と、
    を備えて構成される、請求項3に記載のコラム経路回路。
  5. 前記リセット信号生成部は、前記ノードと前記第1論理部との間に配置され、前記ノードの信号を所定時間ラッチするラッチ部をさらに備える、請求項4に記載のコラム経路回路。
  6. 前記リセット信号生成部は、前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記ノードとプルダウン素子間のスイッチングを行うスイッチ素子をさらに備える、請求項4に記載のコラム経路回路。
  7. 前記スイッチ素子は、NMOS(n-channel metal oxide semiconductor)素子である、請求項6に記載のコラム経路回路。
  8. 前記第1論理部は、論理積演算を行う、請求項4に記載のコラム経路回路。
  9. 前記信号発生部は、
    前記第1論理部からの信号を所定時間遅延させる遅延部と、
    前記遅延部からの信号をバッファリングするバッファーと、
    前記第1論理部からの信号と前記バッファーからの信号とを論理演算して出力する第2論理部と、
    を備えて構成される、請求項4に記載のコラム経路回路。
  10. 前記バッファーはインバーティング動作を行い、前記第2論理部は論理積演算を行う、請求項9に記載のコラム経路回路。
  11. 前記リセット信号生成部は、所定の初期化信号に応答して前記ノードをプルアップ駆動する第2プルアップ素子をさらに備える、請求項4に記載のコラム経路回路。
  12. 前記リードストローブ出力部は、
    前記リセット信号に応答して所定のノードをプルダウン駆動するプルダウン素子と、
    フィードバックされる前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、
    前記ノードからの信号を所定時間ラッチさせるラッチ部と、
    前記ラッチ部からの信号に応答して、所定のイネーブル区間を持つ前記ページアドレスストローブ信号を出力する信号発生部と、
    前記ページアドレスストローブ信号を所定時間遅延させて前記リードストローブ信号を出力する第1遅延部と、
    を備えて構成される、請求項3に記載のコラム経路回路。
  13. 前記リードストローブ出力部は、前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記ノードとプルダウン素子間のスイッチングを行うスイッチ素子をさらに備える、請求項12に記載のコラム経路回路。
  14. 前記スイッチ素子はNMOS素子である、請求項13に記載のコラム経路回路。
  15. 前記ラッチ部は、前記ノードの信号を反転させて出力する反転ラッチである、請求項12に記載のコラム経路回路。
  16. 前記信号発生部は、
    前記ラッチ部からの信号を所定時間遅延させる第2遅延部と、
    前記第2遅延部からの信号をバッファリングするバッファーと、
    前記ラッチ部からの信号と前記バッファーからの信号とを論理演算して出力する論理部と、
    を備えて構成される、請求項12に記載のコラム経路回路。
  17. 前記バッファーは、インバーティング動作を行い、前記論理部は論理積演算を行う、請求項16に記載のコラム経路回路。
  18. 前記リードストローブ出力部は、所定の初期化信号に応答して前記ノードをプルアップ駆動する第2プルアップ素子をさらに備える、請求項12に記載のコラム経路回路。
  19. 前記準備信号発生部は、
    前記検出信号結合部からの信号に応答して、所定のノードをプルダウン駆動するプルダウン素子と、
    前記リセット信号の反転信号に応答して、前記ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、
    前記ノードからの信号を所定時間ラッチし、前記ストローブ準備信号を出力するラッチ部と、
    を備えて構成される、請求項3に記載のコラム経路回路。
  20. 前記準備信号発生部は、前記リセット信号の反転信号に応答して前記ノードとプルダウン素子間のスイッチングを行うスイッチ素子をさらに備える、請求項19に記載のコラム経路回路。
  21. 前記スイッチ素子はNMOS素子である、請求項20に記載のコラム経路回路。
  22. 前記ラッチ部は、前記ノードの信号を反転させて出力する反転ラッチである、請求項19に記載のコラム経路回路。
  23. 前記準備信号発生部は、所定の初期化信号に応答して、前記ノードをプルアップ駆動する第2プルアップ素子をさらに備える、請求項19に記載のコラム経路回路。
  24. 前記ページアドレスバッファーは、
    前記ページアドレスストローブ信号に応答して、第1ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、
    前記ページアドレスストローブ信号に応答して、第2ノードをプルアップ駆動する第2プルアップ素子と、
    前記ページアドレス信号に応答して、前記第1ノードをプルダウン駆動する第1プルダウン素子と、
    前記ページアドレス信号をバッファリングした信号に応答して、前記第2ノードをプルダウン駆動する第2プルダウン素子と、
    前記第1ノードからの信号に応答して、前記第2ノードをプルアップ駆動する第3プルアップ素子と、
    前記第2ノードからの信号に応答して、前記第1ノードをプルアップ駆動する第4プルアップ素子と、
    前記第1ノードからの信号をバッファリングした信号に応答して、第3ノードをプルダウン駆動する第3プルダウン素子と、
    前記第2ノードからの信号に応答して、第3ノードをプルアップ駆動する第5プルアップ素子と、
    を備えて構成される、請求項1に記載のコラム経路回路。
  25. 前記ページアドレスバッファーは、前記ページアドレスストローブ信号に応答して、前記第1プルダウン素子及び第2プルダウン素子の共通接続ノードと接地端間のスイッチングを行うスイッチをさらに備える、請求項24に記載のコラム経路回路。
  26. 前記第2プルダウン素子は、前記ページアドレス信号の反転信号に応答して動作し、前記第3プルダウン素子は、前記第1ノードからの信号の反転信号に応答して動作する、請求項24に記載のコラム経路回路。
  27. 前記ページアドレスバッファーは、前記第3ノードからの信号を反転させて、前記バッファリングされたページアドレス信号として出力するインバータ素子をさらに備える、請求項24に記載のコラム経路回路。
  28. 前記ページアドレスバッファーは、前記第3ノードの信号を所定時間ラッチするラッチ部をさらに備える、請求項24に記載のコラム経路回路。
  29. それぞれのページアドレス信号をラッチしてバッファリングする複数のページアドレスバッファーと、
    前記少なくとも一つのページアドレス信号のレベル遷移に応答して、所定のイネーブル区間を持つストローブ準備信号を出力する準備信号発生部と、
    前記ストローブ準備信号に応答して、所定リードストローブ信号、及び前記ページアドレス信号をラッチするためのページアドレスストローブ信号を生成するストローブ信号生成部と、を備えて構成され、
    それぞれのページアドレスバッファーは、前記ページアドレスストローブ信号に同期してバッファリング動作を行う、コラム経路回路。
  30. 前記複数のページアドレスバッファーによりバッファリングされたページアドレス信号をデコーディングするページアドレスデコーダと、
    前記リードストローブ信号に同期して、前記デコーディングされたページアドレス信号に対応するコラム選択信号を出力するコラム選択信号発生部と、
    をさらに備える、請求項29に記載のコラム経路回路。
  31. 前記ストローブ信号生成部は、
    前記ストローブ準備信号に応答して、前記リードストローブ信号、及びページアドレスストローブ信号の生成のためのリセット信号を出力するリセット信号生成部と、
    前記リセット信号に応答して、前記リードストローブ信号及びページアドレスストローブ信号を出力するリードストローブ出力部と、
    を備えてなる、請求項29に記載のコラム経路回路。
  32. 前記リセット信号生成部は、
    フィードバックされる前記ページアドレスストローブ信号を所定時間遅延させた信号に応答して、所定のノードをプルダウン駆動するプルダウン素子と、
    フィードバックされる前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、
    前記ノードからの信号と前記ストローブ準備信号とを論理演算して出力する第1論理部と、
    前記第1論理部からの信号に応答して、所定のイネーブル区間を持つ前記リセット信号を生成する信号発生部と、
    を備えて構成される、請求項31に記載のコラム経路回路。
  33. 前記リセット信号生成部は、前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記ノードとプルダウン素子間のスイッチングを行うスイッチ素子をさらに備える、請求項32に記載のコラム経路回路。
  34. 前記第1論理部は論理積演算を行う、請求項32に記載のコラム経路回路。
  35. 前記信号発生部は
    前記第1論理部からの信号を所定時間遅延させる遅延部と、
    前記遅延部からの信号をバッファリングするバッファーと、
    前記第1論理部からの信号と前記バッファーからの信号とを論理演算して出力する第2論理部と、
    を備えて構成される、請求項32に記載のコラム経路回路。
  36. 前記バッファーはインバーティング動作を行い、前記第2論理部は論理積演算を行う、請求項35に記載のコラム経路回路。
  37. 前記リードストローブ出力部は、
    前記リセット信号に応答して、所定のノードをプルダウン駆動するプルダウン素子と、
    フィードバックされる前記リードストローブ信号の反転信号に応答して、前記ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、
    前記ノードからの信号を所定時間ラッチさせるラッチ部と、
    前記ラッチ部からの信号に応答して、所定のイネーブル区間を持つ前記ページアドレスストローブ信号を出力する信号発生部と、
    前記ページアドレスストローブ信号を所定時間遅延させて前記リードストローブ信号を出力する第1遅延部と、
    を備えて構成される、請求項31に記載のコラム経路回路。
  38. 前記リードストローブ出力部は、前記リードストローブ信号の反転信号に応答して前記ノードとプルダウン素子間のスイッチングを行うスイッチ素子をさらに備える、請求項37に記載のコラム経路回路。
  39. 前記ラッチ部は、前記ノードの信号を反転させて出力する反転ラッチである、請求項37に記載のコラム経路回路。
  40. 前記信号発生部は、
    前記ラッチ部からの信号を所定時間遅延させる第2遅延部と、
    前記第2遅延部からの信号をバッファリングするバッファーと、
    前記ラッチ部からの信号と前記バッファーからの信号とを論理演算して出力する論理部と、
    を備えて構成される、請求項37に記載のコラム経路回路。
  41. 前記バッファーはインバーティング動作を行い、前記論理部は論理積演算を行う、請求項40に記載のコラム経路回路。
  42. 前記準備信号発生部は、
    前記ページアドレス信号のレベル遷移を検出した検出信号に応答して、ノードをプルダウン駆動するプルダウン素子と、
    前記リセット信号の反転信号に応答して、前記ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、
    前記ノードからの信号を所定時間ラッチして前記ストローブ準備信号を出力するラッチ部と、
    を備える、請求項31に記載のコラム経路回路。
  43. 前記準備信号発生部は、前記リセット信号の反転信号に応答して、前記ノードとプルダウン素子間のスイッチングを行うスイッチ素子をさらに備える、請求項42に記載のコラム経路回路。
  44. 前記ラッチ部は、前記ノードの信号を反転させて出力する反転ラッチである、請求項42に記載のコラム経路回路。
  45. 前記ページアドレスバッファーは、
    前記ページアドレスストローブ信号に応答して、第1ノードをプルアップ駆動する第1プルアップ素子と、
    前記ページアドレスストローブ信号に応答して、第2ノードをプルアップ駆動する第2プルアップ素子と、
    前記ページアドレス信号に応答して、前記第1ノードをプルダウン駆動する第1プルダウン素子と、
    前記ページアドレス信号をバッファリングした信号に応答して、前記第2ノードをプルダウン駆動する第2プルダウン素子と、
    前記第1ノードからの信号に応答して、前記第2ノードをプルアップ駆動する第3プルアップ素子と、
    前記第2ノードからの信号に応答して、前記第1ノードをプルアップ駆動する第4プルアップ素子と、
    前記第1ノードからの信号をバッファリングした信号に応答して、第3ノードをプルダウン駆動する第3プルダウン素子と、
    前記第2ノードからの信号に応答して、第3ノードをプルアップ駆動する第5プルアップ素子と、
    を備えて構成される、請求項29に記載のコラム経路回路。
  46. 前記ページアドレスバッファーは、前記ページアドレスストローブ信号に応答して、前記第1プルダウン素子及び第2プルダウン素子の共通接続ノードと接地端間のスイッチングを行うスイッチをさらに備える、請求項45に記載のコラム経路回路。
  47. 前記ページアドレスバッファーは、前記第3ノードからの信号を反転させて前記バッファリングされたページアドレス信号として出力するインバータ素子をさらに備える、請求項45に記載のコラム経路回路。
JP2006104230A 2005-04-07 2006-04-05 コラム経路回路 Expired - Fee Related JP4889348B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050029108A KR100586558B1 (ko) 2005-04-07 2005-04-07 컬럼 경로회로
KR10-2005-0029108 2005-04-07

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006294228A true JP2006294228A (ja) 2006-10-26
JP4889348B2 JP4889348B2 (ja) 2012-03-07

Family

ID=37026461

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006104230A Expired - Fee Related JP4889348B2 (ja) 2005-04-07 2006-04-05 コラム経路回路

Country Status (5)

Country Link
US (2) US7428186B2 (ja)
JP (1) JP4889348B2 (ja)
KR (1) KR100586558B1 (ja)
DE (1) DE102006003583A1 (ja)
TW (1) TWI307512B (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100586558B1 (ko) * 2005-04-07 2006-06-08 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 경로회로
US9171609B2 (en) * 2013-12-04 2015-10-27 Integrated Silicon Solution (Shanghai), Inc. Address transition detecting circuit

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003297080A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP2003317472A (ja) * 2002-04-17 2003-11-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US20040015663A1 (en) * 2002-07-16 2004-01-22 Choi Jung Kyun Circuit for generating column selection control signal in memory device

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5764895U (ja) * 1980-10-03 1982-04-17
US5333300A (en) * 1991-02-11 1994-07-26 Intel Corporation Timing circuitry and method for controlling automated programming and erasing of a non-volatile semiconductor memory
CA2172890C (en) * 1995-06-06 2005-02-22 Harold R. Schnetzka Switch driver circuit
US5666321A (en) * 1995-09-01 1997-09-09 Micron Technology, Inc. Synchronous DRAM memory with asynchronous column decode
KR0169419B1 (ko) * 1995-09-28 1999-02-01 김광호 불휘발성 반도체 메모리의 독출방법 및 장치
JP3523004B2 (ja) * 1997-03-19 2004-04-26 株式会社東芝 同期式ランダムアクセスメモリ
KR100253297B1 (ko) * 1997-06-11 2000-04-15 김영환 메모리 소자의 어드레스 천이 검출회로
US6389520B2 (en) * 1998-12-23 2002-05-14 Micron Technology, Inc. Method for controlling out of order accessing to a multibank memory
US6564284B2 (en) * 1998-12-23 2003-05-13 Micron Technology, Inc. Apparatus for controlling a multibank memory device
DE60017704D1 (de) * 2000-02-29 2005-03-03 St Microelectronics Srl Spaltedekodierer für das Lesen von Seiten in einem Halbleiterspeicher
JP2002150768A (ja) * 2000-11-06 2002-05-24 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
KR100431303B1 (ko) * 2002-06-28 2004-05-12 주식회사 하이닉스반도체 페이지 기록 모드를 수행할 수 있는 슈도 스태틱램
KR100527569B1 (ko) * 2003-05-09 2005-11-09 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 강유전체 메모리 및 그 제어 장치
KR100586558B1 (ko) * 2005-04-07 2006-06-08 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 경로회로

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003297080A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP2003317472A (ja) * 2002-04-17 2003-11-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US20040015663A1 (en) * 2002-07-16 2004-01-22 Choi Jung Kyun Circuit for generating column selection control signal in memory device

Also Published As

Publication number Publication date
TW200639874A (en) 2006-11-16
US7626885B2 (en) 2009-12-01
KR100586558B1 (ko) 2006-06-08
US20060227651A1 (en) 2006-10-12
TWI307512B (en) 2009-03-11
JP4889348B2 (ja) 2012-03-07
DE102006003583A1 (de) 2006-10-12
US20090040845A1 (en) 2009-02-12
US7428186B2 (en) 2008-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4499069B2 (ja) 同期式半導体メモリ装置のカラム選択ライン制御回路及びその制御方法
JP5124136B2 (ja) 半導体記憶装置のアドレスバッファ及びアドレスバッファリング方法
JP3953691B2 (ja) 集積回路及び同期型半導体メモリ装置
JP2010238347A (ja) パイプラッチ回路及びこれを用いた半導体メモリ装置
GB2373906A (en) High speed wafer level test of a semiconductor memory device
US6181635B1 (en) Reduced delay address decoders and decoding methods for integrated circuit memory devices
US7652939B2 (en) Semiconductor memory device and method for driving the same
KR100642394B1 (ko) 어드레스 래치신호 생성회로 및 어드레스 디코딩회로
JPH1069783A (ja) 出力バッファ回路
US6950357B2 (en) Test mode flag signal generator of semiconductor memory device
JP4889348B2 (ja) コラム経路回路
JP4383028B2 (ja) 半導体記憶装置及びその制御方法
JP4859440B2 (ja) 半導体記憶装置
KR100334531B1 (ko) 반도체 메모리 장치
US20050099837A1 (en) Semiconductor memory device for controlling write recovery time
US6781919B2 (en) Address selection circuit and semiconductor memory device with synchronous and asynchronous address signal paths
JP2004104681A (ja) 入力バッファ回路
KR100278923B1 (ko) 초고속 순차 컬럼 디코더
US6757852B1 (en) Self resetting high speed redundancy circuit and method thereof
US6819139B2 (en) Skew-free dual rail bus driver
US20120155193A1 (en) Burst termination control circuit and semiconductor memory device using the same cross-references to related application
KR100555572B1 (ko) 메모리 장치의 테스트 모드 신호 발생 회로 및 테스트모드 세팅 방법
JP2009099156A (ja) フューズラッチ回路及びフューズラッチ方法
JPH07280856A (ja) 電圧レベル検出回路及び半導体記憶装置
US7257726B2 (en) Circuit for generating wait signal in semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090402

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111031

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111129

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111213

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141222

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees