JP2006242572A - 多光軸光電センサ - Google Patents

Abstract

【課題】 近接して配置されて複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光を受けて誤動作することを防止することができる多光軸光電センサを提供する。
【解決手段】 干渉光検出手段５０は、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し、投光制御手段３０は、干渉光検出手段５０が検出した干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとが一致したことを条件としてパルス点灯動作の点灯間隔を変更して投光スキャン動作を実行する多光軸光電センサ１。
【選択図】図１

Description

本発明は、多光軸光電センサに関する。

例えば、物体が検出エリア内に侵入したことを検出する多光軸光電センサが知られている（特許文献１参照。）。この多光軸光電センサは、複数の投光手段が備えられた投光器と各投光手段に対応して複数の検出用受光手段を備えた受光器とが対向して配置されており、それぞれの投光手段と検出用受光手段とが光軸を構成している。この多光軸光電センサは、各投光手段が、対向する各検出用受光手段に対して順次投光する動作を繰り返す投光スキャン動作を行い、当該投光手段と対向して光軸を構成する検出用受光手段からの受光信号に基づいて光軸の遮光を検出して、検出エリア内への侵入物体を検知するものである。この種の多光軸光電センサ１００，１１０は、図１２に図示するように、より広い領域で物体が侵入したことを検出するため、複数台が近接して配置されることがある。
特許第２９１１３６９号公報

しかしながら、この多光軸光電センサ１００は、図示するように、物体１２０が検出エリアＥに侵入したにもかかわらず、近接して配置された同種類の他の多光軸光電センサ１１０が放つ光１３０によって、物体１２０が検出エリアＥにないと判断して誤動作することがある。

また、この種の多光軸光電センサには、侵入物体の検出精度を高めるため、各投光手段が、対向する各検出用受光手段に複数回パルス点灯させる投光を順次行うものがある。この多光軸光電センサについても、近接して配置された同種類の他の多光軸光電センサが放つ光によって、物体が検出エリアにないと判断して誤動作することがある。

本発明は、このような状況に鑑み提案されたものであって、近接して配置されて複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光を受けて誤動作することを防止することができる多光軸光電センサを提供することを目的とする。

請求項１の発明は、複数の投光手段と、各投光手段に対応して光軸を構成するように配置された複数の検出用受光手段と、干渉光を受光する干渉光受光手段と、各投光手段に対して複数回パルス点灯するパルス点灯動作を順次行う投光スキャン動作を周期的に実行する投光制御手段と、前記各投光手段のパルス点灯動作に同期して、当該投光手段に対応する検出用受光手段の受光信号に基づいて各光軸の遮光判定を行う遮光判定手段と、前記各投光手段が投光しない非投光時間における前記干渉光受光手段の受光信号に基づいて干渉光の有無を検出する干渉光検出手段とを備えた多光軸光電センサであって、前記干渉光検出手段は、前記干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し、前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段が検出した干渉光の検出パターンと前記現在のパルス点灯動作パターンとが一致したことを条件として前記パルス点灯動作の点灯間隔を変更して前記投光スキャン動作を実行することを特徴とする。

請求項２の発明は、請求項１において、前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件としてすべての投光手段の前記パルス点灯動作の点灯間隔を変更して前記投光スキャン動作を実行することを特徴とする。

請求項３の発明は、請求項１又は２において、前記各投光手段の点灯間隔が互いに異なるパルス点灯動作パターンを複数種類記憶する記憶手段を備え、前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件として前記記憶手段に記憶された当該現在のパルス点灯動作パターンとは異なるパルス点灯動作パターンを選択して前記投光スキャン動作を実行することを特徴とする。

請求項４の発明は、請求項１ないし３のいずれかにおいて、前記干渉光受光手段は、前記複数の検出用受光手段のうちの少なくとも一つの検出用受光手段からなることを特徴とする。

請求項５の発明は、請求項１ないし４のいずれかにおいて、前記非投光時間は、前記複数の投光手段それぞれのパルス点灯動作の直前及び直後とした干渉光検出時間であることを特徴とする。

請求項６の発明は、請求項５において、前記干渉光検出時間では、前記パルス点灯動作を行う前記投光手段に対応した検出用受光手段のみで干渉光を検出することを特徴とする。

請求項７の発明は、請求項５又は６において、前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段が前記パルス点灯動作の直前で検出した干渉光の検出パターンと前記現在のパルス点灯動作パターンとが一致したときと、当該干渉光検出手段が前記パルス点灯動作の直後で検出した干渉光の検出パターンと前記現在のパルス点灯動作パターンとが一致したときとで、互いに異なるパルス点灯動作パターンを選択して前記投光スキャン動作を実行することを特徴とする。

請求項８の発明は、請求項１ないし７のいずれかにおいて、前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件として前記投光スキャン動作が開始するタイミングを変更することを特徴とする。

請求項９の発明は、請求項１ないし８のいずれかにおいて、前記遮光判定手段は、前記各投光手段のパルス点灯動作の各パルス点灯に同期して、当該投光手段に対応する検出用受光手段の受光信号に基づいて各光軸の遮光状態が所定回数検出されたことを条件として遮光と判定して遮光検出信号を出力することを特徴とする。

＜請求項１の発明＞
本発明によれば、干渉光検出手段が検出した干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとが一致したことを条件としてパルス点灯動作の点灯間隔を変更し、点灯間隔が変更されたパルス点灯動作に同期した各検出用受光手段の受光信号に基づいて各光軸の遮光判定を行うことができ、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止する多光軸光電センサを提供することができる。

＜請求項２の発明＞
本発明によれば、投光制御手段がすべての投光手段のパルス点灯動作の点灯間隔を変更し、各投光手段毎にパルス点灯動作の点灯間隔を変更して投光スキャン動作を実行することに比べて当該投光制御手段が行う処理の負担を軽減させつつ近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止する多光軸光電センサを提供することができる。

＜請求項３の発明＞
本発明によれば、記憶手段に記憶された干渉光の検出パターンとは異なるパルス点灯動作パターンに基づいて各光軸の遮光判定を行うことができ、パルス点灯パターンの変更処理を迅速に行い、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止する多光軸光電センサを提供することができる。

＜請求項４の発明＞
本発明によれば、干渉光受光手段が、投光手段が放つ光を受ける複数の検出用受光手段のうちの少なくとも一つの検出用受光手段からなり、干渉光受光手段を当該検出用受光手段と別個に設ける必要がなく、費用を削減しつつ近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止する多光軸光電センサを提供することができる。

＜請求項５の発明＞
本発明によれば、各光軸の干渉光検出時間に干渉光の有無を確実に検出することができ、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止する多光軸光電センサを提供することができる。

＜請求項６の発明＞
本発明によれば、パルス点灯動作を行う光軸の干渉光検出時間に干渉光の有無を確実に検出することができ、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止する多光軸光電センサを提供することができる。

＜請求項７の発明＞
本発明によれば、干渉光検出手段が複数の投光手段それぞれのパルス点灯動作の直前又は直後で干渉光を検出したときに、近接して配置された多光軸光電センサのパルス点灯動作パターンを互いに異なるようにすることができ、複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止する多光軸光電センサを提供することができる。

＜請求項８の発明＞
本発明によれば、パルス点灯動作の点灯間隔を変更することに加えて投光動作が開始するタイミングを変更し、投光スキャン動作の周期と干渉光を受光する周期とが同期することを防ぎ、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止する多光軸光電センサを提供することができる。

＜請求項９の発明＞
本発明によれば、所定回数の遮光状態を各光軸毎に検出して遮光と判定し、遮光判定の精度を向上させた多光軸光電センサを提供することができる。

＜第一実施例＞
以下添付図面の実施例に従ってこの発明を詳細に説明する。本実施例の多光軸光電センサ１は、図１に図示すように、投光器１０と受光器２０とを対向させた状態で構成され、例えば、４つの光軸Ｌ１〜Ｌ４を有する。投光器１０のうち受光器２０と対向する面には、各光軸Ｌ１〜Ｌ４毎に１個（計４個）の投光手段１１（ＬＥＤ）が上下方向に一列に配置され、受光器２０のうち投光器１０と対向する面には当該投光手段１１と対をなす検出用受光手段２１（フォトダイオード、ＰＤと称する）が同じく上下方向に配されている。

図１は、本実施例の多光軸光電センサ１の電気的構成を示すものである。投光器１０には投光手段１１を点灯させるための駆動回路１５Ａ〜１５Ｄが備えられ、各駆動回路１５Ａ〜１５Ｄは、ＡＮＤ回路１４Ａ〜１４Ｄからの信号を受けると投光手段１１に駆動電流を供給する。ＡＮＤ回路１４Ａ〜１４Ｄにはシフトレジスタ１３及び投光側ＣＰＵ１２からの出力信号が入力され、双方からの信号が入力されると駆動回路１５Ａ〜１５Ｄに信号を送信するようになっている。投光側ＣＰＵ１２は、後述する受光器２０に備えられた受光側ＣＰＵ２７から投光タイミング信号Ｓｔを受け取り、この投光タイミング信号Ｓｔと駆動回路制御信号Ｓｕを、シフトレジスタ１３及びＡＮＤ回路１４Ａ〜１４Ｄに出力する。

この投光タイミング信号Ｓｔは、各投光手段１１が複数回（ここでは３回）パルス点灯するパルス点灯動作を所定周期Ｔ（図３参照。）で行うための信号であり、受光側ＣＰＵ２７が、ＲＯＭ６５のパルス点灯動作パターン設定領域に記憶された当該多光軸光電センサ１のパルス点灯動作パターンに対応させて生成される。また、駆動回路制御信号Ｓｕは、前記投光手段１１の点灯タイミングを決定するための信号であり、受光側ＣＰＵ２７によって生成される。この投光タイミング信号Ｓｔと駆動回路制御信号Ｓｕによって、３回のパルス点灯動作を４個の投光手段１１が上から下へと順次行う投光スキャン動作が繰り返し行なわれる。従って、ＡＮＤ回路１４Ａ〜１４Ｄ、シフトレジスタ１３、投光側ＣＰＵ１２及び受光側ＣＰＵ２７が投光制御手段３０を構成する。

一方、受光器２０には、検出用受光手段２１からの受光信号を所定の増幅率で増幅する受光アンプ２３Ａ〜２３Ｄがそれぞれ備えられている。受光アンプ２３Ａ〜２３Ｄから出力される受光信号は、アナログスイッチ２４Ａ〜２４Ｄを介し、共通の信号線にまとめられてコンパレータ２５に取り込まれる。この受光信号がコンパレータ２５に設定されている閾値を超過すると受光側ＣＰＵ２７に入光検出信号Ｓｄが入力され、入光したことが検出される。

受光側ＣＰＵ２７は、前述の投光タイミング信号Ｓｔと周期及び位相が一致した遮光検出タイミング信号Ｓｒと、この遮光検出タイミング信号Ｓｒよりも位相が僅かに進んだ干渉光検出タイミング信号Ｓｉと、当該信号Ｓｒよりも位相が僅かに遅れた干渉光検出タイミング信号Ｓｊとを受光制御回路２６に送信している。受光側ＣＰＵ２７から遮光検出タイミング信号Ｓｒ及び干渉光検出タイミング信号Ｓｉ，Ｓｊを受けた受光制御回路２６は、これに接続された各アナログスイッチ２４Ａ〜２４Ｄをオン状態にするためのゲート制御信号をアナログスイッチ２４Ａからアナログスイッチ２４Ｄへと順次送信し、各検出用受光手段２１からの受光信号がコンパレータ２５に入力される。すると、受光側ＣＰＵ２７は、遮光検出タイミング信号Ｓｒを送信したときには、各投光手段１１が点灯状態にあるから、コンパレータ２５からの入光検出信号Ｓｄの有無によって遮光検出を行い、干渉光検出タイミング信号Ｓｉ，Ｓｊを送信したときには、投光手段１１が非点灯状態であるから、コンパレータ２５からの入光検出信号の有無によって干渉光の検出を行う。この受光制御回路２６は、受光側ＣＰＵ２７が、各信号Ｓｒ，Ｓｉ，Ｓｊを送信して遮光検出と干渉光の検出とを行うように、各アナログスイッチ２４Ａ〜２４Ｄを順次オン状態にする。本実施例では、干渉光を検出する干渉光検出手段５０が、コンパレータ２５と、受光側ＣＰＵ２７とによって構成される。また、本実施例の遮光判定手段４０は、アナログスイッチ２４Ａ〜２４Ｄと、コンパレータ２５と、受光制御回路２６と、受光側ＣＰＵ２７とによって構成される。図中の符号２８は出力回路、６５は記憶手段である。

記憶手段６５は、図４に図示するように、各投光手段１１Ａ等の点灯間隔が互いに異なるパルス点灯動作パターンを複数種類記憶する。ここでは、図４の（ａ）図ないし（ｃ）図に図示するように、３種類のパルス点灯動作パターンを記憶する。各点灯間隔は、ｔ１＜ｔ２＜ｔ３の関係を有する。各パルス点灯動作パターンに関する情報は、前記投光タイミング信号Ｓｔによって、投光側ＣＰＵ１２に送信される。

この多光軸光電センサ１は、図１に図示し請求項４の発明として規定したように、干渉光受光手段２２が、複数の検出用受光手段２１Ａ〜２１Ｄのうちの少なくとも一つの検出用受光手段からなるものである。この実施例では、干渉光受光手段２２が、図示するように、４つの検出用受光手段２１Ａ〜２１Ｄからなるものである。このように、干渉光受光手段２２が、投光手段１１Ａ〜１１Ｄが放つ光を受ける複数の検出用受光手段２１Ａ〜２１Ｄのうちの少なくとも一つの検出用受光手段からなり、干渉光受光手段２２を当該検出用受光手段２１Ａ等と別個に設ける必要がなく、費用を削減することができる。

上述した多光軸光電センサ１は、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し、検出した干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとが一致したことを条件として前記パルス点灯動作の点灯間隔を変更して投光スキャン動作を実行することを特徴とするものである。以下に、実施例の多光軸光電センサ１の制御方法を、図２及び図３を用いて説明する。なお、ここでは、この制御方法を、第一光軸Ｌ１で行うものを例として説明する。

投光側ＣＰＵ１２及び受光側ＣＰＵ２７は、図２に示すメイン処理Ｍを行う。このメイン処理Ｍにおいては、第一干渉光検出処理（Ｓ１）を行う。この第一干渉光検出処理（Ｓ１）は、受光側ＣＰＵ２７が、非投光時間ｔ６（図３の（ｄ）図及び（ｅ）図参照、具体的には、投光手段１１Ａのパルス点灯動作の直前のタイミング）において、前記干渉光検出タイミング信号Ｓｉを送信してアナログスイッチ２４Ａをオン状態にし、干渉光受光手段２２（２１Ａ）の受光信号に基づいて干渉光を検出する処理を行う。第一干渉光検出処理（Ｓ１）は、干渉光の検出パターンを、前記記憶手段６５の干渉光検出パターン記憶領域に記憶する処理も行う。このメイン処理Ｍにおいては、第一干渉光検出処理（Ｓ１）の後に、第一投光処理（Ｓ２）と第一受光処理（Ｓ３）を行う。

第一投光処理（Ｓ２）は、投光側ＣＰＵ１２が、投光時間ｔ５（図３の（ｄ）図及び（ｅ）図参照。）において、前記投光タイミング信号Ｓｔと駆動回路制御信号Ｓｕを送信し駆動回路１５Ａを働かせて、投光手段１１Ａが複数回パルス点灯するパルス点灯動作を実行する。

第一受光処理（Ｓ３）は、検出用受光手段２１Ａが、前記投光時間ｔ５において、対応する投光手段１１Ａのパルス点灯動作に同期して受光する処理を行う。

第一受光処理（Ｓ３）の後に、第二干渉光検出処理（Ｓ４）を行う。この第二干渉光検出処理（Ｓ４）は、受光側ＣＰＵ２７が、非投光時間ｔ７（図３の（ｄ）図及び（ｅ）図参照、具体的には、投光手段１１Ａのパルス点灯動作の直後のタイミング）において、前記干渉光検出タイミング信号Ｓｊを送信してアナログスイッチ２４Ａをオン状態にし、干渉光受光手段２２（２１Ａ）の受光信号に基づいて干渉光を検出する処理を行う。この第二干渉光検出処理（Ｓ４）は、干渉の検出パターンを、前記記憶手段６５の干渉光検出パターン記憶領域に記憶する処理も行う。

第二干渉光検出処理（Ｓ４）の後に、遮光判定処理（Ｓ５）を行う。この遮光判定処理（Ｓ５）においては、図示するように、遮光状態を検出したか否かの判断（Ｓ５Ａ）、遮光状態を所定回数（３回）検出したか否かの判断（Ｓ５Ｂ）、遮光検出信号出力処理（Ｓ５Ｃ）を行う。

この遮光判定処理（Ｓ５）においては、最初に、検出用受光手段２１Ａの受光信号に基づいて第一光軸Ｌ１の遮光状態を検出したか否かを判断する（Ｓ５Ａ）。Ｓ５Ａにおいて、検出用受光手段２１Ａの受光信号の強度が閾値を超過せず、受光側ＣＰＵ２７が入光検出信号Ｓｄを検出せずに第一光軸Ｌ１の遮光状態を検出したときは、遮光状態を所定回数検出したか否かを判断する（Ｓ５Ｂ）。ここでは、遮光状態を、前記パルス点灯動作のパルス点灯に合わせ、３回検出したか否かを判断する。これによって、所定回数（ここでは３回）の遮光状態を検出して遮光と判定し、遮光判定の精度を向上させることができる。

Ｓ５Ｂにおいて遮光状態を所定回数（３回）検出したと判断（遮光と判定）したときは、遮光検出信号を出力する遮光検出信号出力処理（Ｓ５Ｃ）を行う。なお、この遮光検出信号出力処理（Ｓ５Ｃ）の後に、第二報知処理を行う。第二報知処理は、物体が検出エリア内に侵入して投光手段１１Ａが放つ光を遮る異常状態を報知する処理を行う。一方、前記Ｓ５Ｂにおいて遮光状態を所定回数（３回）検出しないと判断したときは、遮光判定処理（Ｓ５）を終了する。なお、遮光判定処理（Ｓ５）は、前記Ｓ５Ａにおいて受光信号の強度が閾値を超過し、受光側ＣＰＵ２７が入光検出信号Ｓｄを検出して第一光軸Ｌ１の遮光状態を検出しないときは、第一報知処理を行う。第一報知処理は、検出用受光手段２１Ａが受光する正常な状態を報知する処理を行う。

メイン処理Ｍにおいては、遮光判定処理（Ｓ５）の後に、干渉光検出対応処理（Ｓ６）を行う。この干渉光検出対応処理（Ｓ６）においては、図示するように、干渉光の検出の判断（Ｓ６Ａ）、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとの対比（Ｓ６Ｂ）、パルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）を行う。

この干渉光検出対応処理（Ｓ６）は、前記Ｓ５Ａにおいて第一光軸Ｌ１の遮光状態を検出しないときは、投光手段１１Ａが投光しない非投光時間（ｔ６，ｔ７）における干渉光受光手段２２の受光信号に基づいて干渉光の有無を検出する（Ｓ６Ａ）。

Ｓ６Ａにおいて干渉光が非投光時間（ｔ６，ｔ７）に検出されたと判断したときは、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し（Ｓ６Ｂ）、当該検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したときはパルス点灯間隔変更処理を行う（Ｓ６Ｃ）。このパルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）においては、受光側ＣＰＵ２７が、干渉光の検出パターンに関する入光検出信号Ｓｄと記憶手段６５に記憶された現在のパルス点灯動作パターンとを対比し、現在のパルス点灯動作パターンを変更する。なお、受光側ＣＰＵ２７は、変更されたパルス点灯動作に関する投光タイミング信号Ｓｔを投光側ＣＰＵ２７に送信するとともに、受光素子２１Ａが投光素子１１Ａのパルス点灯動作に同期して受光するようにして各信号Ｓｒ，Ｓｉ，Ｓｊを受光制御回路２６に送信する。

Ｓ６Ｂでは、前記Ｓ１，Ｓ４で記憶手段６５の干渉光検出パターン記憶領域に記憶された干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比する。前記Ｓ６Ａにおいて干渉光が非投光時間（ｔ６，ｔ７）に検出されないと判断したとき若しくは前記Ｓ６Ｂにおいて干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致しないと判断したときは、以降の処理が行われず、メイン処理Ｍが終了する。なお、このメイン処理Ｍは、上述した処理（Ｓ１〜Ｓ６）を、第一光軸Ｌ１と同様に、第二光軸Ｌ２，第三光軸Ｌ３，第４光軸Ｌ４のそれぞれにおいても行う。例えば、干渉光が第一光軸Ｌ１のみで検出されたときは、パルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）を、当該光軸Ｌ１のみで行い、第二〜第四光軸（Ｌ２〜Ｌ４）では行わない。

以下に、干渉光を第一光軸Ｌ１と第二光軸Ｌ２で検出したときの処理を説明する。この実施例では、図３の（ｂ）図及び（ｃ）図に図示すように、第一投光処理（Ｓ２）によって、投光手段１１Ａ，１１Ｂが３回のパルス点灯からなるパルス点灯動作を行う。図３中の符号Ｔは、投光スキャン動作の周期である。

検出用受光手段２１Ａ，２１Ｂは、図３の（ｄ）図及び（ｅ）図に図示するように、第一受光処理（Ｓ３）によって、パルス点灯動作（３回のパルス点灯）に同期して受光する処理を行う。

この実施例では、図３の（ｄ）図及び（ｅ）図に図示するように、干渉光の検出の判断（Ｓ６Ａ）によって、非投光時間ｔ７における干渉光受光手段２２（２１Ａ，２１Ｂ）の受光信号に基づいて干渉光の有無を検出する。ここでは、図３の（ａ）図に図示するように、干渉光が、近接して配置された同種類の他の多光軸光電センサが放つ光である。この光は、図示するように、本実施例の多光軸光電センサ１と同様に、点灯間隔ｔ１毎に３回のパルス点灯を行うものである。

Ｓ６Ａにおいて干渉光が非投光時間ｔ７に検出されたと判断したときは、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し（Ｓ６Ｂ）、当該検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したときはパルス点灯間隔変更処理を行う（Ｓ６Ｃ）。このパルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）は、図３の（ｂ）図及び（ｃ）図に図示するように、両光軸Ｌ１，Ｌ２のパルス点灯間隔をｔ１からｔ２に変更する処理を行う。これによって、点灯間隔がｔ２に変更されたパルス点灯動作に同期した各検出用受光手段２１Ａ等の受光信号に基づいて各光軸Ｌ１，Ｌ２の遮光判定を行うことができ、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止することができる。

実施例の制御方法は、検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件として予め記憶された当該現在のパルス点灯動作パターンとは異なるパルス点灯動作パターンを選択して投光スキャン動作を実行する。図３の（ａ）図ないし（ｃ）図に図示するように、干渉光の点灯間隔と投光手段２１Ａ等の点灯間隔とが、ｔ１であって一致し、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとが、パルス点灯動作パターン１（図４参照。）となる。この場合には、図３の（ｂ）図及び（ｃ）図に図示するように、投光スキャン動作を、パルス点灯動作パターン１からパルス点灯動作パターン２に変更して実行する。これによって、干渉光の検出パターンとは異なるパルス点灯動作パターン２に基づいて各光軸Ｌ１等の遮光判定を行うことができ、パルス点灯動作パターンの変更処理を迅速に行い、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止することができる。なお、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとが一致したときは、投光スキャン動作を、パルス点灯動作パターン１からパルス点灯動作パターン３に変更して実行してもよい。

この実施例では、請求項６の発明として規定したように、干渉光検出時間では、前記パルス点灯動作を行う前記投光手段１１Ａ等に対応した検出用受光手段２１Ａ等のみで干渉光を検出する。これによって、パルス点灯動作を行う光軸Ｌ１等の干渉光検出時間（ｔ６，ｔ７）に干渉光の有無を確実に検出することができ、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止することができる。

＜第二実施例＞
第二実施例の制御方法は、図５に図示するように、パルス点灯動作の直前で検出した干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとが一致したときと、前記パルス点灯動作の直後で検出した干渉光の検出パターンと前記現在のパルス点灯動作パターンとが一致したときとで、互いに異なるパルス点灯動作パターンを選択して前記投光スキャン動作を実行するものである。図５に示すメイン処理Ｍ１においては、Ｓ７（Ｓ７Ａ〜Ｓ７Ｅ）以外の処理が、図２のメイン処理Ｍと同様のものであるため、それらの説明を省略する。

この実施例では、図５のＳ７Ａにおいて干渉光を非投光時間ｔ６（図３参照。）に検出したと判断したときは、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し（Ｓ７Ｂ）、当該検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したときは第一パルス点灯間隔変更処理を行う（Ｓ７Ｃ）。この第一パルス点灯間隔変更処理（Ｓ７Ｃ）は、当該現在のパルス点灯動作パターンとは異なり予め記憶されたパルス点灯動作パターンを選択する処理を行う。なお、前記Ｓ７Ｂで干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致しないと判断したときは、第一パルス点灯間隔変更処理（Ｓ７Ｃ）を行わず、メイン処理Ｍ１が終了する。

一方、Ｓ７Ａにおいて干渉光を非投光時間ｔ６に検出しないと判断したときは、干渉光を非投光時間ｔ７に検出したか否かを判断する（Ｓ７Ｆ）。ここで、干渉光を非投光時間ｔ７に検出したと判断したときは、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し（Ｓ７Ｄ）、当該検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したときは第二パルス点灯間隔変更処理を行う（Ｓ７Ｅ）。この第二パルス点灯間隔変更処理（Ｓ７Ｅ）は、当該現在のパルス点灯動作パターンとは異なりかつ前記第一パルス点灯間隔変更処理（Ｓ７Ｃ）によって選択されたパルス点灯動作パターンとは異なるパルス点灯動作パターンを選択する処理を行う。前記Ｓ７Ｄで現在のパルス点灯動作パターンと一致しないと判断したときは、第二パルス点灯間隔変更処理（Ｓ７Ｅ）を行わず、メイン処理Ｍ１が終了する。

以下に、干渉光を検出したときの処理を説明する。ここでは、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを、パルス点灯パターン１（図４参照。）として説明する。

この実施例では、図５のＳ７Ａにおいて干渉光を非投光時間ｔ６（図３参照。）に検出したと判断したときは、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し（Ｓ７Ｂ）、当該検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したときは第一パルス点灯間隔変更処理を行う（Ｓ７Ｃ）。この第一パルス点灯間隔変更処理（Ｓ７Ｃ）は、パルス点灯動作パターン２（図４参照。）を選択する処理を行う。

一方、Ｓ７Ａにおいて干渉光を非投光時間ｔ６に検出しないと判断し、Ｓ７Ｆにおいて干渉光を非投光時間ｔ７に検出したと判断したときは、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し（Ｓ７Ｄ）、当該検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したときは第二パルス点灯間隔変更処理を行う（Ｓ７Ｅ）。この第二パルス点灯間隔変更処理（Ｓ７Ｅ）は、パルス点灯動作パターン３を選択する処理を行う。

一般に、多光軸光電センサは、投光手段を投光させる発振回路の発振周波数がばらつくことにより、投光スキャン動作の周期が、近接して配置された同種類の他の多光軸光電センサの投光スキャン動作の周期と徐々に近づくことがある。この実施例では、多光軸光電センサ１の投光スキャン動作の周期が、近接して配置された同種類の他の多光軸光電センサの投光スキャン動作の周期と徐々に近づくことがあっても、各多光軸光電センサの非投光時間ｔ６で検出した干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンが一致した場合と、非投光時間ｔ７で検出した干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンが一致した場合とで、変更するパルス点灯動作パターンを、それぞれ異なるようにしている。この実施例では、このように、近接して配置された多光軸光電センサのパルス点灯パターンを互いに異なるようにすることができ、一方の多光軸光電センサが、他方の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止することができる。

＜第三実施例＞
第三実施例の制御方法は、図６及び図７に図示するように、検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件として投光スキャン動作が開始するタイミングを変更するものである。図６に示すメイン処理Ｍ２においては、Ｓ８以外の処理が、図２のメイン処理Ｍと同様のものであるため、それらの説明を省略する。このメイン処理Ｍ２においては、図６に図示するように、前記干渉光検出対応処理（Ｓ６）の後に、投光スキャン動作開始タイミング変更処理（Ｓ８）を行う。

この実施例では、図７の（ｂ）図に図示するように、投光スキャン動作の周期をＴからＴ−ａに変更し、投光スキャン動作の開始タイミングを変更する処理を行う。ここでは、干渉光が近接して配置された同種類の他の多光軸光電センサが放つ光であり、当該干渉光の周期がＴである。この実施例では、図示するように、各投光手段１１Ａ等のパルス点灯間隔を、ｔ１からｔ２に変更し、投光スキャン動作の周期をＴからＴ−ａに変更する。これによって、投光スキャン動作の周期（Ｔ−ａ）と干渉光を受光する周期（Ｔ）とが同期することを防ぎ、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止することができる。なお、投光スキャン動作開始タイミング変更処理（Ｓ８）は、ａの値を、設定した適宜の値に変更する。

＜第四実施例＞
第四実施例の制御方法は、図８及び図９に図示するように、各光軸Ｌ１等の遮光状態を検出したことを条件として投光制御信号を送信するものである。この制御方法は、投光制御信号を受信したことを条件として遮光状態が検出された光軸の投光手段が現在のパルス点灯動作パターンによって少なくとも一回以上繰り返し投光するものである。さらに、この制御方法は、遮光状態が検出された光軸の検出用受光手段の受光信号に基づいて、複数回数遮光と判定したことを条件として遮光検出信号を出力するものである。

図８に示すメイン処理Ｍ３においては、Ｓ１０〜Ｓ１５以外の処理が、図２のメイン処理Ｍ等と同様のものであるため、それらの説明を省略する。

このメイン処理Ｍ３においては、図８に図示するように、Ｓ５において、検出用受光手段２１の受光信号の強度が閾値を超過せず、いずれかの光軸が遮光状態であると判断したときは、投光制御信号を送信する投光制御信号送信処理（Ｓ１０）を行う。投光制御信号送信処理（Ｓ１０）の後に、投光制御信号を受信したか否かを判断する（Ｓ１１）。Ｓ１１において投光制御信号を受信したと判断したときは、第二投光処理（Ｓ１２）と第二受光処理（Ｓ１３）を行う。第二投光処理（Ｓ１２）は、遮光状態が検出された光軸の投光手段１１が現在のパルス点灯動作パターンによって所定回数（ここでは２回）に亘って投光する処理を行う。なお、前記Ｓ１１において投光制御信号を受信しないと判断したときは、当該投光制御信号を受信したか否かの判断が繰り返し行われる。

第二受光処理（Ｓ１３）は、遮光状態が検出された光軸の検出用受光手段２１が、投光手段１１のパルス点灯動作に同期して受光する処理を行う。この第二受光処理（Ｓ１３）の後に、当該光軸Ｌ２の検出用受光手段２１の受光信号に基づいて、遮光状態を複数回（ここでは２回）検出したか否かを判断する（Ｓ１４）。

Ｓ１４において、遮光状態が検出された光軸の検出用受光手段２１の受光信号の強度が複数回（２回）に亘って閾値を超過せず、遮光状態を複数回（２回）検出したと判断したときは、遮光検出信号出力処理（Ｓ１５）を行う。なお、この遮光検出信号出力処理（Ｓ１５）の後に、第二報知処理を行う。第二報知処理は、メイン処理Ｍ，Ｍ１，Ｍ２の各第二報知処理と同様の処理を行う。前記Ｓ１４において、遮光状態を複数回（２回）検出しないと判断したときは、第二干渉光検出処理（Ｓ５Ｄ）及び前記Ｓ６の処理を行う。なお、この第二干渉光検出処理（Ｓ５Ｄ）は、メイン処理Ｍ，Ｍ１，Ｍ２の各第二干渉光検出処理と同様の処理を行う。

以下に、遮光状態を検出したときに行う処理を説明する。ここでは、第二光軸Ｌ２が遮光状態を検出したと判断した場合について説明する。第二投光処理（Ｓ１２）は、図９の（ｂ）図に図示するように、遮光状態が検出された第二光軸Ｌ２の投光手段１１Ｂが現在のパルス点灯動作パターンＰ１によって２回に亘って投光する処理を行う。

第二受光処理（Ｓ１３）は、図９の（ｅ）図に図示すように、第二光軸Ｌ２の検出用受光手段２１Ｂが、投光手段１１Ｂのパルス点灯動作に同期して受光する処理を行う。この第二受光処理（Ｓ１３）の後に、第二光軸Ｌ２の検出用受光手段２１Ｂの受光信号に基づいて、遮光状態を複数回（ここでは２回）検出したか否かを判断する（Ｓ１４）。これによって、遮光状態が検出された第二光軸Ｌ２に重ねて投光して遮光状態をより確実に検知し、遮光判定の精度をさらに向上させることができる。

Ｓ１４において、検出用受光手段２１Ｂの受光信号の強度が複数回（２回）に亘って閾値を超過せず、遮光状態を複数回（２回）検出したと判断したときは、遮光検出信号出力処理（Ｓ１５）を行う。この遮光検出信号出力処理（Ｓ１５）は、図９の（ｇ）図に図示するように、遮光検出信号を出力する。

次に、上述の処理を行う多光軸光電センサについて説明する。上述した多光軸光電センサ１は、図１に図示し請求項１の発明として規定したように、投光手段１１と、検出用受光手段２１と、干渉光受光手段２２と、投光制御手段３０と、遮光判定手段４０と、干渉光検出手段５０とを備える。

投光制御手段３０は、各投光手段１１Ａ〜１１Ｄに対して複数回パルス点灯するパルス点灯動作を順次行う投光スキャン動作を周期的に実行するものである。この実施例では、投光側ＣＰＵ１２が、前記メイン処理Ｍにおいて、第一投光処理（Ｓ２）を行う。

遮光判定手段４０は、各投光手段１１Ａ〜１１Ｄのパルス点灯動作に同期して、当該投光手段１１Ａ〜１１Ｄに対応する検出用受光手段２１Ａ〜２１Ｄの受光信号に基づいて各光軸Ｌ１〜Ｌ４の遮光判定を行うものである。この実施例では、受光側ＣＰＵ２７が、前記メイン処理Ｍにおいて、遮光判定処理（Ｓ５）を行う。

干渉光検出手段５０は、各投光手段１１Ａ〜１１Ｄが投光しない非投光時間における干渉光受光手段２２の受光信号に基づいて干渉光の有無を検出するものである。この実施例では、受光側ＣＰＵ２７が、前記メイン処理Ｍにおいて、干渉光の検出の判断（Ｓ６Ａ）を行う。

この干渉光検出手段５０は、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比するものである。この実施例では、受光側ＣＰＵ２７が、前記メイン処理Ｍにおいて、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとの対比（Ｓ６Ｂ）を行う。

前記投光制御手段３０は、干渉光検出手段５０が検出した干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとが一致したことを条件として当該パルス点灯動作の点灯間隔を変更して投光スキャン動作を実行するものである。この実施例では、受光側ＣＰＵ２７が、前記メイン処理Ｍのパルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）を行い、図３の（ｂ）図及び（ｃ）図に図示するように、第一光軸Ｌ１，第二光軸Ｌ２のパルス点灯間隔をｔ１からｔ２に変更する処理を行う。

投光側ＣＰＵ１２は、前記メイン処理Ｍの第一投光処理（Ｓ２）によって、図３の（ｂ）図及び（ｃ）図に図示すように、３回のパルス点灯からなるパルス点灯動作を順次行う投光スキャン動作を周期的に実行する。

また、投光制御手段３０は、図２に図示し請求項２の発明として規定したように、干渉光検出手段５０によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件としてすべての投光手段１１Ａ〜１１Ｄのパルス点灯動作の点灯間隔を変更して投光スキャン動作を実行するものである。この実施例では、受光側ＣＰＵ２７が、前記メイン処理Ｍにおいて、パルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）を行う。そして、投光側ＣＰＵ１２等は、前記メイン処理Ｍの第一投光処理（Ｓ２）によって、点灯間隔が変更されたパルス点灯動作パターンにより投光スキャン動作を実行する。

多光軸光電センサ１は、図１に図示し請求項３の発明として規定したように、記憶手段６５を備える。記憶手段６５は、複数のパルス点灯動作パターンを記憶するものである。ここでは、記憶手段６５が、図４に図示するように、３種類のパルス点灯動作パターンを記憶する。このパルス点灯パターンは、図示するように、各投光手段１１Ａ〜１１Ｄの点灯間隔（ｔ１，ｔ２，ｔ３）が互いに異なるものである。なお、この実施例では、記憶手段６５がＲＯＭによって構成される。ただし、この記憶手段６５は、ＲＯＭに限定されず、ＲＡＭ等によって構成することもできる。図１中の符号Ｓ５は信号線である。

さらに、この多光軸光電センサ１を構成する投光制御手段３０は、図２及び図３に図示し請求項３の発明として規定したように、前記干渉光検出手段５０によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件として記憶手段６５に記憶された当該現在のパルス点灯動作パターンとは異なるパルス点灯動作パターンを選択して投光スキャン動作を実行するものである。

ここでは、受光側ＣＰＵ２７が、図３の（ａ）図ないし（ｃ）図に図示するように、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとがパルス点灯動作パターン１（図４参照。）となって一致したときに、前記メイン処理Ｍのパルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）を行う。このパルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）は、記憶手段６５（ＲＯＭ）に記憶されたパルス点灯動作パターン２を選択する処理を行う。そして、投光側ＣＰＵ１２等は、前記メイン処理Ｍの第一投光処理（Ｓ２）によって、図３の（ｂ）図及び（ｃ）図に図示するように、選択されたパルス点灯動作パターン２により投光スキャン動作を実行する。

加えて、この多光軸光電センサ１を構成する投光制御手段３０は、図５に図示し請求項７の発明として規定したように、干渉光検出手段５０が複数の投光手段１１Ａ〜１１Ｄそれぞれのパルス点灯動作の直前及び直後で検出した干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンが一致したことを条件として記憶手段６５に記憶された当該現在のパルス点灯動作パターンとは互いに異なるパルス点灯動作パターンをそれぞれ選択して投光スキャン動作を実行するものである。

ここでは、受光側ＣＰＵ２７が、干渉光を非投光時間ｔ６（図３参照。）に検出し、干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したと判断したときは、前記メイン処理Ｍ１の第一パルス点灯間隔変更処理を行う（Ｓ７Ｃ）。一方、受光側ＣＰＵ２７は、干渉光を非投光時間ｔ７に検出し、干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したと判断したときは、前記メイン処理Ｍ１の第二パルス点灯間隔変更処理を行う（Ｓ７Ｅ）。

そして、投光側ＣＰＵ１２は、前記メイン処理Ｍ１の第一投光処理（Ｓ２）によって、選択されたパルス点灯動作パターン２，３により投光スキャン動作を実行する。

実施例の多光軸光電センサ１を構成する投光制御手段３０は、図６及び図７に図示し請求項８の発明として規定したように、干渉光検出手段５０によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件として投光スキャン動作を開始するタイミングを変更するものである。

ここでは、投光側ＣＰＵ１２が、図７の（ａ）図ないし（ｃ）図に図示するように、干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとがパルス点灯動作パターン１となって一致したときに、前記メイン処理Ｍ２の投光スキャン動作開始タイミング変更処理（Ｓ８）を行う。この投光スキャン動作開始タイミング変更処理（Ｓ８）は、図７の（ｂ）図に図示するように、投光スキャン動作の周期をＴからＴ−ａに変更し、投光スキャン動作の開始タイミングを変更する処理を行う。

実施例の多光軸光電センサ１を構成する遮光判定手段４０は、図２に図示し請求項９の発明として規定したように、各投光手段１１Ａ〜１１Ｄのパルス点灯動作の各パルス点灯に同期して、当該投光素子１１Ａ等に対応する検出用受光手段２１Ａ〜２１Ｄの受光信号に基づいて各光軸Ｌ１〜Ｌ４の遮光状態が所定回数検出されたことを条件として遮光と判定して遮光検出信号を出力するものである。

ここでは、受光側ＣＰＵ２７が、図２に図示するように、前記メイン処理Ｍの遮光状態を複数回（３回）検出したか否かの判断（Ｓ５Ｂ）を行う。このメイン処理ＭのＳ５Ｂでは、遮光状態を、前記パルス点灯動作のパルス点灯に合わせ、３回検出したか否かを判断する。受光側ＣＰＵ２７は、メイン処理ＭのＳ５Ｂで遮光状態を３回検出したと判断したときに、図示の遮光検出信号出力処理（Ｓ５Ｃ）を行う。

実施例の遮光判定手段４０は、図８に図示するように、各光軸Ｌ１〜Ｌ４の遮光状態を検出したことを条件として投光制御信号を前記投光制御手段３０に送信するものである。ここでは、受光側ＣＰＵ２７が、メイン処理Ｍ３のＳ５で第二光軸Ｌ２の遮光状態を検出したときに、投光制御信号送信処理（Ｓ１０）によって、投光制御信号を投光側ＣＰＵ１２に送信する。

実施例の投光制御手段３０は、図８及び図９に図示するように、投光制御信号を受信したことを条件として遮光状態が検出された光軸の投光手段１１が現在のパルス点灯動作パターンによって少なくとも一回以上繰り返し投光するようにするものである。ここでは、投光側ＣＰＵ１２が、メイン処理Ｍ３のＳ１１で投光制御信号を受信したと判断したときに、第二投光処理（Ｓ１２）を行う。投光側ＣＰＵ１２は、第二投光処理（Ｓ１２）によって、図９の（ｂ）図に図示するように、第二光軸Ｌ２の投光手段１１Ｂが現在のパルス点灯動作パターンＰ１によって２回に亘って投光する処理を行う。

さらに、実施例の遮光判定手段４０は、遮光状態が検出された光軸の検出用受光手段２１の受光信号に基づいて、複数回遮光と判定したことを条件として遮光検出信号を出力するものである。ここでは、受光側ＣＰＵ２７が、メイン処理Ｍ３の第二受光処理（Ｓ１３）による第二光軸Ｌ２の検出用受光手段２１Ｂの受光信号に基づき、当該メイン処理Ｍ３のＳ１４において遮光状態を複数回（２回）検出したか否かを判断する。この受光側ＣＰＵ２７は、Ｓ１４において遮光状態を複数回（２回）検出したと判断したときに、遮光信号出力処理（Ｓ１５）によって遮光検出信号を出力回路２８に出力する。

＜他の実施例＞
本発明は、実施例に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において構成の一部を適宜変更して実施することができる。例えば、検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件としてすべての投光手段１１Ａ〜１１Ｄのパルス点灯動作の点灯間隔を変更して投光スキャン動作を実行することもできる。この場合には、図２に図示するように、受光側ＣＰＵ２７が、メイン処理Ｍのパルス点灯間隔変更処理（Ｓ６Ｃ）において、すべての光軸Ｌ１〜Ｌ４のパルス点灯間隔をｔ１からｔ２に変更する処理を行う。これによって、各投光手段１１Ａ等毎にパルス点灯動作の点灯間隔を変更して投光スキャン動作を実行することに比べて処理の負担を軽減させつつ近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止することができる。

また、投光側ＣＰＵ１２及び受光側２７が、第一実施例のメイン処理Ｍ（図２参照。）に変えて、図１０に図示するように、遮光判定処理（Ｓ５、図２参照。）を、第一受光処理（Ｓ３）と第二干渉光検出処理（Ｓ４）との間で行ってもよい。また、図示しないが、メイン処理Ｍ´において、干渉光検出対応処理（Ｓ６、図２参照。）を、第一干渉光検出処理（Ｓ１）と第一投光処理（Ｓ２）との間で行うようにしてもよい。

例えば、多光軸光電センサ１Ａを、図１１に図示するように、干渉光受光手段２２が複数の検出用受光手段２１Ａ〜２１Ｄとは別に設けられるようにしてもよい。図中の符号２３Ｅは受光アンプ、２４Ｅはアナログスイッチ、２５Ａはコンパレータである。

この実施例では、請求項５の発明として規定したように、非投光時間Ｔ１を、複数の投光手段１１Ａ等のそれぞれのパルス点灯動作の直前及び直後とした干渉光検出時間としている。ここでは、図３の（ｄ）図及び（ｅ）図に図示するように、非投光時間Ｔ１を、投光時間ｔ５の直前の干渉光検出時間ｔ６と投光時間ｔ５の直後の干渉光検出時間ｔ７とした。これによって、第一光軸Ｌ１等の干渉光検出時間ｔ６，ｔ７に干渉光の有無を確実に検出することができ、近接して配置された複数回パルス点灯させる同種類の他の多光軸光電センサが放つ光（干渉光）を受けて誤動作することを防止することができる。

本発明の一実施例に係る多光軸光電センサの概略構成図である。 本発明の第一実施例に係る多光軸光電センサの制御方法に関するフローチャートである。 本発明の第一実施例に係る多光軸光電センサの制御方法に関するタイミングチャートである。 本発明の一実施例に係る各投光手段のパルス点灯動作パターンを示す図である。 本発明の第二実施例に係る多光軸光電センサの制御方法に関するフローチャートである。 本発明の第三実施例に係る多光軸光電センサの制御方法に関するフローチャートである。 本発明の第三実施例に係る多光軸光電センサの制御方法に関するタイミングチャートである。 本発明の第四実施例に係る多光軸光電センサの制御方法に関するフローチャートである。 本発明の第四実施例に係る多光軸光電センサの制御方法に関するタイミングチャートである。 本発明の第五実施例に係る多光軸光電センサの制御方法に関するフローチャートである。 本発明の他の実施例に係る多光軸光電センサの概略構成図である。 従来の多光軸光電センサを近接した配置した概略斜視図である。

符号の説明

１，１Ａ…多光軸光電センサ
１１…投光手段
２１…検出用受光手段
２２…干渉光受光手段
３０…投光制御手段
４０…遮光判定手段
５０…干渉光検出手段
６５…記憶手段
Ｔ…投光スキャン動作の周期
Ｌ１〜Ｌ４…光軸
ｔ１〜ｔ３…パルス点灯動作の点灯間隔
ｔ６，ｔ７，ｔ９，ｔ１０…非投光時間

Claims (9)

1. 複数の投光手段と、
   各投光手段に対応して光軸を構成するように配置された複数の検出用受光手段と、
   干渉光を受光する干渉光受光手段と、
   各投光手段に対して複数回パルス点灯するパルス点灯動作を順次行う投光スキャン動作を周期的に実行する投光制御手段と、
   前記各投光手段のパルス点灯動作に同期して、当該投光手段に対応する検出用受光手段の受光信号に基づいて各光軸の遮光判定を行う遮光判定手段と、
   前記各投光手段が投光しない非投光時間における前記干渉光受光手段の受光信号に基づいて干渉光の有無を検出する干渉光検出手段とを備えた多光軸光電センサであって、
   前記干渉光検出手段は、前記干渉光の検出パターンと現在のパルス点灯動作パターンとを対比し、
   前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段が検出した干渉光の検出パターンと前記現在のパルス点灯動作パターンとが一致したことを条件として前記パルス点灯動作の点灯間隔を変更して前記投光スキャン動作を実行することを特徴とする多光軸光電センサ。
2. 前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件としてすべての投光手段の前記パルス点灯動作の点灯間隔を変更して前記投光スキャン動作を実行することを特徴とする請求項１に記載の多光軸光電センサ。
3. 前記各投光手段の点灯間隔が互いに異なるパルス点灯動作パターンを複数種類記憶する記憶手段を備え、
   前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件として前記記憶手段に記憶された当該現在のパルス点灯動作パターンとは異なるパルス点灯動作パターンを選択して前記投光スキャン動作を実行することを特徴とする請求項１又は２に記載の多光軸光電センサ。
4. 前記干渉光受光手段は、前記複数の検出用受光手段のうちの少なくとも一つの検出用受光手段からなることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の多光軸光電センサ。
5. 前記非投光時間は、前記複数の投光手段それぞれのパルス点灯動作の直前及び直後とした干渉光検出時間であることを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の多光軸光電センサ。
6. 前記干渉光検出時間では、前記パルス点灯動作を行う前記投光手段に対応した検出用受光手段のみで干渉光を検出することを特徴とする請求項５に記載の多光軸光電センサ。
7. 前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段が前記パルス点灯動作の直前で検出した干渉光の検出パターンと前記現在のパルス点灯動作パターンとが一致したときと、当該干渉光検出手段が前記パルス点灯動作の直後で検出した干渉光の検出パターンと前記現在のパルス点灯動作パターンとが一致したときとで、互いに異なるパルス点灯動作パターンを選択して前記投光スキャン動作を実行することを特徴とする請求項５又は６に記載の多光軸光電センサ。
8. 前記投光制御手段は、前記干渉光検出手段によって検出された干渉光の検出パターンが現在のパルス点灯動作パターンと一致したことを条件として前記投光スキャン動作が開始するタイミングを変更することを特徴とする請求項１ないし７のいずれかに記載の多光軸光電センサ。
9. 前記遮光判定手段は、前記各投光手段のパルス点灯動作の各パルス点灯に同期して、当該投光手段に対応する検出用受光手段の受光信号に基づいて各光軸の遮光状態が所定回数検出されたことを条件として遮光と判定して遮光検出信号を出力することを特徴とする請求項１ないし８のいずれかに記載の多光軸光電センサ。

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