JP4823702B2 - 多光軸光電センサ - Google Patents

Description

本発明は、光同期方式の多光軸光電センサに関する。

従来より、投光素子を一列状に配した投光器と、受光素子を一列状に配した受光器とからなる多光軸光電センサが知られている。このものは、投光器並びに受光器を、各投光・受光素子が対をなして光軸を形成するように所定の検出領域を挟んで対向配置し、各光軸について順次検出動作（投光・受光動作）を行なうものである。そして、検出領域に物体が存在すると投光器から出射され受光器に向う光が特定光軸で遮られて、その光軸では受光レベルが、物体が存在しないときに比べて低下する。これにより、検出領域内における遮光物体の有無について検出出来る。

係る多光軸光電センサにおいては、複数光軸を設けているので、光軸間の干渉を回避するために、各光軸ごとに受光信号を取り出す必要がある。具体的には、一の光軸を構成する投光素子から検出光が出射されたときには、これと対応する受光素子から出力される受光信号のみを取り出し、他の光軸に対応する受光素子は無効にしておく必要がある。そして、次の光軸を構成する投光素子から検出光が出射されたときには、今度は、これと対応する受光素子から出力される受光信号のみを取り出し、他の光軸に対応する受光素子は無効にしなければならない。このように、多光軸光電センサでは、投光側の動作と受光側の動作とを合わせる必要があり、これを、同期基準信号を投受光させることで実行するものが知られている（いわゆる光同期）。尚、光同期を図る構成として、投光側に同期基準信号を出力する同期用の投光素子を備え、受光側には、同期基準信号を受ける同期用の受光素子を備えるものが、特許文献１に開示されている。
特公平５−２９１６８号公報

上記構造では、光信号（同期基準信号）を投光・受光させることで投光側の動作と受光側の動作を合わせたが、使用状況によっては同期基準信号が遮られる場合がある。係る場合には、受光器側を自走させることが考えられる。例えば、各光軸を一通り投光・受光させ遮光判定する１スキャンに費やされる時間（スキャン周期Ｔｏ）は予め決められており、このスキャン周期Ｔｏに基づいて投光側が動作するので、受光器側についても、このスキャン周期に基づいて動作させてやればよい。

しかしながら、自走状態では投光側と受光側が、それぞれ独立して動作しているので、投光器並びに受光器がそれぞれ備える内部クロックのばらつきにより、スキャン周期Ｔｏのカウントにずれが生じ、これにより、遮光判定が誤って行なわれる恐れがある。例えば、一の光軸を構成する投光素子から検出光が出射され、これと対応する受光素子が検出光を受光したとしても、受光素子から受光信号を取り出すタイミングが合わず、受光信号がないものとして処理（遮光判定）される場合などである。
特に、同期用の光軸を、検出用の光軸と兼用させる構成とする場合には、同期基準信号が遮られる状態が長い間続くことも想定され、対策の必要があった。

本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、光同期式のものにおいて、同期基準信号が遮られた状態が続いても、誤りなく遮光判定を行なうことが可能な多光軸光電センサを提供することを目的とする。

上記の目的を達成するための手段として、請求項１の発明は、一列状に配置された複数の投光素子からなる投光手段と、前記各投光素子とそれぞれ光軸を構成するように対をなして配される複数の受光素子からなる受光手段と、前記光軸を構成する複数の投光素子のうちの、いずれかの投光素子から同期基準信号を投光させた後に、前記各投光素子を所定の投光タイミングで順次投光させる投光制御手段と、前記いずれかの光軸を構成する投光素子と対をなす同期用の受光素子により受光される前記同期基準信号に基づいて、前記投光タイミングに同期した受光タイミング信号を生成し、これを順次出力して各光軸に受光処理動作を順次開始させる受光処理動作タイミング決定手段と、前記各受光処理動作を経て出力された受光信号に基づいて各光軸について遮光判定を行なう遮光判定手段と、を備えた多光軸光電センサであって、前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記同期用の受光素子が前記同期基準信号を受光できない場合には、前記同期用基準信号が受光できた前回のタイミングに基づいて前記受光タイミング信号を生成して一連の受光処理動作を行なわせる自走処理を行なうとともに、この自走処理中において、前記受光処理動作タイミング決定手段は、光軸を構成する投光素子から投光された光を受光素子が受光した時を受光位置と定義したときに、当該受光位置が前記同期基準信号に基づいて投光・受光が行なわれたときの受光タイミングと異なっている場合には、前記受光位置が受光タイミングと同じ位置になるように前記受光タイミング信号の出力タイミングを調整するタイミング調整処理を行なうところに特徴を有する。

尚、受光位置を検出する構成として以下のものが好ましい。
受光信号が遮光判定手段に取り込まれたタイミングを、受光処理動作タイミング決定手段などで監視し、これに基づいて受光位置を検出する構成とする。

尚、各光軸について受光処理動作を行なう構成として以下のものが好ましい。
前記各受光素子のそれぞれにアナログスイッチ等の受光処理手段を設ける。そして、受光タイミング信号をアナログスイッチに順次与えてアナログスイッチを順次、ＯＮ動作させる。これにより、アナログスイッチがＯＮされた光軸のみ受光信号の取り出し、すなわち受光処理動作が可能となる。

請求項２の発明は、請求項１に記載のものにおいて、前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記受光位置が前記受光タイミングに対して進み方向にある場合には、前記タイミング調整処理として、各光軸に対する前記受光タイミング信号の出力タイミングを一括して早め、前記受光位置が前記受光タイミングに対して遅れ方向にある場合には、前記タイミング調整処理として、各光軸に対する前記受光タイミング信号の出力タイミングを一括して遅くするところに特徴を有する。

請求項３の発明は、請求項１又は請求項２に記載のものにおいて、前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記受光位置が、前記受光タイミングに対して遅れ方向、或いは進み方向のいずれにあるかを各光軸についてそれぞれ検出し、光軸全体として受光位置がいずれかの方向に偏っていることを条件に、前記タイミング調整処理を行なうところに特徴を有する。

請求項４の発明は、請求項１又は請求項２に記載のものにおいて、前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記受光タイミングに対する前記受光位置のずれ量が許容値を超えることを条件に、前記タイミング調整処理を行なうところに特徴を有する。

請求項５の発明は、請求項１又は請求項２に記載のものにおいて、前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記受光タイミングに対して遅れ方向或いは、進み方向の少なくともいずか一方に所定量外れた位置で受光が確認された光軸数が予め定められた基準光軸数を上回っていることを条件に、前記タイミング調整処理を行なうところに特徴を有する。

請求項６の発明は、請求項１又は請求項２に記載のものにおいて、前記受光処理動作タイミング決定手段は、遮光状態となっている光軸の連続数が、予め定められた基準遮光光軸数を上回っていることを条件に、前記タイミング調整処理を行なうところに特徴を有する。

請求項７の発明は、請求項１ないし請求項６のいずれかに記載のものにおいて、前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記タイミング調整処理を行なう制御状態が所定回数連続し、かつ、調整後においても同期が合わない場合に、外部に異常を報知する報知手段を備えるところに特徴を有する。

＜請求項１の発明＞
受光処理は大まかには以下の要領で行なわれる。まず、受光タイミング信号が出力されることで、受光処理動作が開始される。その後、投光素子からは光が出射され、これが受光素子によって受光される。これにより、受光処理動作中に、受光素子から受光信号が出力される。ここで、受光処理動作の開始は受光タイミング信号（受光側）に従い、受光素子から受光信号が出力されるタイミングは投光側の投光タイミング（投光側）に従うが、投光側と受光側がそれぞれ同期基準信号に基づいて動作していれば（同期した状態）、受光処理動作が行なわれている時間帯の特定のタイミング（受光タイミング）で、投光受光動作が行なわれて受光信号が出力されてくる筈である。尚、本発明では、光軸を構成する投光素子から投光された光を受光素子が受光した時を受光位置と定義している。

本発明では、受光タイミングと受光位置との関係に着目した。すなわち、実際の受光位置が受光タイミングに一致していれば、そのときには、同期があっているものと思われるが、同期基準信号が遮られている場合に、受光位置が受光タイミングからずれている場合には同期が合っていない可能性が高い。そこで、このような場合には、次回の受光動作について受光タイミング信号を出力するタイミングを早めたり、或いは遅くしたり調整することとした。これにより、同期ずれが起きていても、それが解消されるので、同期ずれに起因する誤った遮光判定が行なわれることを回避でき、センサの信頼性が高まる。

＜請求項２の発明＞
同期ずれには、投光側に対して受光側が進むパターンと、遅れるパターンの２パターンがあるが、請求項２の発明によれば、受光位置を受光タイミングと比較することで、投光側に対して、受光側が進んだ状態にあるか、遅れた状態にあるか特定出来る。このように、同期のずれ方向を予め把握した上で、タイミング調整処理を行なうこととしているので、最小の調整回数で同期ずれを解消できる。

＜請求項３の発明＞
このような構成であれば、光軸全体としての同期ずれの有無を把握することが出来る。従って、ある光軸では同期がずれた状態にあるが光軸全体からみると同期がずれていない場合に、タイミング調整処理が行なわれてしまうといった事態を回避できる。

＜請求項４〜請求項６の発明＞
請求項４〜請求項６の構成であれば、同期ずれが進行してずれ量が大きくなったときにのみ、タイミング調整処理が行なわれることとなる。従って、タイミング調整処理の回数を少なく出来、受光処理動作タイミング決定手段の処理負担を軽減できる。

＜請求項７の発明＞
請求項７の発明では、受光タイミング信号の出力タイミングを調整する制御状態が所定回数連続し、かつ、調整後においても同期が合わない場合には、システムに異常が発生していることも考えられるので報知することとした。これにより、異常状態のまま遮光検出が続けられるといった状況を回避でき、システムの信頼性が高まる。

＜実施形態１＞
本発明の理解の助けとするために、実施形態１の説明に先立って本発明を端的に表した例を、図１ないし図３を参照して簡単に説明し、その後、実施形態１の具体的構成を説明する。

図１に示す符号１は投光制御手段としての投光側ＣＰＵ、符号２ａ、符号２ｂは投光素子、符号Ｓｅは投光タイミング信号である。

符号５は受光処理動作タイミング決定手段並びに遮光判定手段としての受光側ＣＰＵである。符号６ａ、６ｂは受光素子、符号７ａ、７ｂは受光処理手段としてのスイッチ、符号Ｓｒは受光信号である。そして、投光素子２ａと受光素子６ａにより一の光軸を形成し、投光素子２ｂと６ｂによりもう一つの光軸を形成している。

まず、多光軸光電センサの通常動作は、投光側と受光側が同期した状態で遮光検出が行なわれるように、同期基準信号（ここでは、詳細な説明を割愛する）を投光・受光させることで開始タイミングを計っている。具体的には（図２参照）、投光側においては、同期基準信号の出力の後、所定時間△ｔを経過すると投光動作が開始される。すなわち、投光側ＣＰＵ１により投光素子２ａ、投光素子２ｂに投光タイミング信号Ｓｅが所定間隔をあけて順次与えられ、これにより各投光素子２ａ、２ｂからは検出光が所定の投光タイミングで順次出射される。

これに対して、受光側では同期基準信号を受けてから△ｔ’時間の経過後に、受光処理動作が開始される。すなわち、受光側ＣＰＵ５は投光タイミングに同期する受光タイミング信号を生成し、これを△ｔ’時間の経過後に各スイッチ７ａ、７ｂに順に与える。これにより、各スイッチ７ａ、７ｂは常にはＯＦＦ状態（開いた状態）にあるが、受光タイミング信号Ｇが入力されると、信号処理時間ＴｕだけＯＮ状態（閉じた状態）となる。

そのため、スイッチ７ａがＯＮ動作している間は、投光素子２ａ、受光素子６ａで構成する光軸のみ受光信号Ｓｒの出力を許され（受光処理）、これとは反対に、スイッチ７ＢがＯＮ動作しているときには、投光素子２ｂ、受光素子６ｂで構成する光軸のみ受光信号Ｓｒの出力を許される（受光処理）。

そして、上記したように、同期基準信号に基づいて投光側、並びに受光側の双方が動作しているとき（同期が計られているとき）には、各信号処理時間Ｔｕのほぼ中央の時間帯（同期位置Ｐｏ）で各光軸について投光素子２から光が投光され、これを受光素子６が受光する。尚、同期位置Ｐｏが本発明の受光タイミングに相当するものである。

これに対して、同期基準信号が遮光され、これを受光側が受信できない場合には、投光側と受光側がそれぞれ独立して動くので、例えば、受光側の受光処理動作に対して、投光側の動作が遅れることがあり、このときには、図２の同期ずれ１に示すように、同期位置Ｐｏから遅れた位置（図２では右側）で投光・受光動作が行なわれる。すなわち、受光位置Ｐが同期位置Ｐｏに対して右側にずれる。尚、光軸を構成する投光素子から投光された光を受光素子が受光した時のことを、本明細書を通じて受光位置Ｐと定義している。

また、受光側の受光処理動作に対して、投光側の動作が進む場合もあるが、このときには、図２の同期ずれ２に示すように、同期位置Ｐｏから進んだ位置（図２では左側）で投光・受光動作が行なわれる。すなわち、受光位置Ｐが同期位置Ｐｏに対して左側にずれる。

このように同期位置Ｐｏに対し受光位置Ｐが位置ずれしている場合には、同期がずれている可能性が高いので、本発明では、受光位置Ｐを受光側ＣＰＵ５で監視することとした。

具体的には、受光位置Ｐは、受光側ＣＰＵ５に対して受光信号Ｓｒが取り込まれたタイミングに基づいて特定することが出来る。すなわち、受光側ＣＰＵ５は受光信号Ｓｒが入力される入力ポート（信号入力部）Ｒに対して定期的に読み取り動作を行なう。例えば、図３の例であれば、信号処理時間Ｔｕ中において、「ａ」〜「ｇ」の合計７回、信号の読み取り動作を行なうが、このうちの、「ｅ」、「ｆ」、「ｇ」のタイミングでそれぞれ受光信号Ｓｒの入力があるので、受光位置Ｐは「ｅ」から「ｇ」であると特定できる。

そして、検出された受光位置Ｐが同期位置Ｐｏに対してずれている場合には、受光位置Ｐが同期位置Ｐに一致するように受光タイミング信号の出力タイミングを受光側ＣＰＵ５が調整する。これにより、同期ずれが起きている場合には、自ずと、同期ずれが解消される。例えば、図２における同期ずれ２の場合であれば、同期位置Ｐｏに対して受光位置Ｐが進んだ状態にある（投光側が進んでいる）が、このときには、受光側ＣＰＵ５により、受光位置Ｐが同期位置Ｐｏに一致するように受光タイミング信号Ｇの出力タイミングが早められ、その結果、同期ずれが解消される。

尚、先にも述べたが受光側ＣＰＵ５が本発明の「受光処理動作タイミング決定手段」に相当しており、同受光側ＣＰＵ５によって実行される受光タイミング信号の出力タイミングを調整する処理が、本発明の「タイミング調整処理」に相当している。

次に、実施形態１の具体的な構成を図４ないし図１１によって説明する。
＜多光軸光電センサの全体構成＞
図４は、多光軸光電センサの外観構成を示す図である。同図に示すように、多光軸光電センサは、ケーシング内に投光素子１１を一列状に配した投光器（本発明の投光手段に相当）Ｓ１と、ケーシング内に受光素子２１を一列状に配した受光器（本発明の受光手段に相当）Ｓ２からなる。そして、これら投光器Ｓ１、受光器Ｓ２は各投光素子１１、受光素子２１が対をなして光軸Ｌを形成するように所定の検出領域を挟んで対向配置される。

本実施形態のものは、図４に示すように、Ｌａ〜Ｌｄの全４光軸が設けられている。検出領域に、遮光物体があると、特定光軸（例えば、光軸Ｌｄ）の光が遮られて、同光軸Ｌｄでは受光素子２１ｄの受光レベルが物体が存在しないときに比べて低下する。これにより、検出領域内における遮光物体の有無について検出することが可能となる。

尚、光軸Ｌａは遮光物体の有無について検出を行なうための検出用の光軸としての機能に加えて、同期用光軸としての機能を備えている（詳細は後述する）。

＜多光軸光電センサの電気的構成＞
以下、多光軸光電センサの電気的構成について、図５を参照して説明する。
まず、投光器Ｓ１側から説明すると、同図における符号１１ａ〜１１ｄは投光素子、符号１２は各投光素子１１ａ〜１１ｄを駆動させる駆動回路である。駆動回路１２は、各投光素子１１ａ〜１１ｄに対応して４つ設けられている。

また、符号１８は発振回路、符号１７は投光側ＣＰＵ（本発明の投光制御手段に相当）である。発振回路１８は所定のクロック信号を発生させる機能を備え、同クロック信号に従って、投光側ＣＰＵ１７が動作するようになっている。尚、後に受光側ＣＰＵ３１について説明するが、受光側ＣＰＵ３１は、発振回路１８とは別に設けられる発振回路３３が生成するクロック信号に従って動作する。

投光側ＣＰＵ１７は所定のタイミングで各駆動回路１２に動作信号Ｊａ〜Ｊｄを与える。これにより、投光器Ｓ１から受光器Ｓ２に向かって、例えば、投光素子１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄの順に検出光が所定の投光タイミングで出射される。尚、各投光素子１１ａ〜１１ｄから順次検出光が出射される動作が、一連の投光動作である。

次に、受光器Ｓ２側について説明すると、同図における符号２１ａ〜２１ｄは受光素子、符号３１は受光側ＣＰＵ（本発明の受光処理動作タイミング決定手段、遮光判定手段に相当）、符号３３は発振回路である。各受光素子２１ａ〜２１ｄの出力ラインには、受光アンプ２６、並びに常閉式のアナログスイッチ２５がそれぞれ設けられている。アナログスイッチ２５は、受光側ＣＰＵ３１から出力されるゲート信号（本発明の受光タイミング信号に相当）Ｇにより、ＯＮ動作するように構成されている。すなわち各アナログスイッチ２５はゲート信号Ｇが入力されている期間（以下、信号処理時間Ｔｕとする）だけ受光信号Ｓｒを出力させ、ゲート信号Ｇが入力されていない期間は受光信号Ｓｒを出力させない構成とされている。

そして、各受光素子１１の出力ラインは共にコンパレータ２２が設けられた共通の信号線Ｃ１に連なっている。これにより、各受光素子２１ａ〜２１ｄから出力された各受光信号Ｓｒは、アナログスイッチ２５がＯＮ状態に制御されている時のみコンパレータ２２に取り込まれ、それ以外の時は無効化されるようになっている。

コンパレータ２２は、入力された受光信号Ｓｒのレベルを閾値と比較して、受光側ＣＰＵ３１に二値信号Ｓｇを出力する。例えば、受光信号Ｓｒのレベルが、閾値以上のときはハイレベルの信号を出力し、閾値より小さいときはローレベルの信号を出力するように構成されている。また、符号３５は監視タイマ、符号３７はブザーである。

次に、遮光検出中に、受光側ＣＰＵ３１によって実行される処理の流れを図７を参照して説明するが、それに先立って投光器Ｓ１、受光器Ｓ２による遮光物体の有無についての検出動作の大まかな流れを簡単に説明しておくと、検出動作は例えば、光軸Ｌａから開始して光軸Ｌｄについて遮光判定がなされるまでのサイクルを１スキャンとし、この１スキャン動作を所定のスキャン周期Ｔｏで繰り返し行なうようになっている。

そして、スキャン周期Ｔｏは、同期基準信号検出期間Ｔａと、これに続く物体検出期間Ｔｂとから構成されており、以下に説明する、ステップ１〜ステップ３の処理、並びにステップ１０〜ステップ３０の処理が同期基準信号検出期間Ｔａ中に行なわれ、ステップ４０〜ステップ９０までの処理が物体検出期間Ｔｂ中に行なわれるようになっている。

さて、具体的な検出動作であるが、まず、投光器Ｓ１の投光素子１１ａからスタートパルスとしての同期基準信号が出力される。同期基準信号のパルス幅（図６に示すＡ寸法部）は、検出用の光信号（検出光）のパルス幅（図６に示すＢ寸法部）より広く設定されている。このように同期基準信号と、検出用の信号を異ならせることで、誤動作が生じないように配慮されている。また、本実施形態では、同期基準信号を高周波のバースト信号によって生成することで、外乱光に起因するセンサの誤動作を未然に回避するようになっている。

これに対して、受光器Ｓ２では、受光側ＣＰＵ３１により以下の処理が行なわれる。すなわち、受光側ＣＰＵ３１は検出処理の開始とともに、各設定値を初期設定する処理が行なわれる（ステップ１）。具体的には、同期フラグがＯＦＦ、調整カウンタが０、受光処理周期Ｔｍがスキャン周期Ｔｏと同じ周期（Ｔｍ＝Ｔｏ）にそれぞれ設定される。これら各値の意義については、後に説明する。

ステップ１により各値を設定する処理が完了すると、次に、ステップ２に移行する。ステップ２では、投光器Ｓ１から出力される同期基準信号を検出したか、否かについて判定する処理が受光側ＣＰＵ３１により行なわれる。同期基準信号が検出されるまでの間は、ステップ２の処理が繰り返し行なわれる結果、受光側ＣＰＵ３１は同期基準信号の検出を待つ待機状態になる。

そして、投光器Ｓ１から出力された同期基準信号は受光素子２１ａにより受光されると、受光素子２１ａからは同期検出信号が出力され、これが専用の出力ラインＣ２を介して受光側ＣＰＵ３１に入力される。

かくして、同期基準信号が検出される結果、ステップ２で受光側ＣＰＵ３１によりＹｅｓ判定されて、ステップ３に移行する。そして、ステップ３では、同期フラグがＯＦＦからＯＮに変更され、その後、同期基準信号検出期間Ｔａが経過すると、ステップ４０に移行する。

ステップ４０では、受光側ＣＰＵ３１の指令により監視タイマ３５によるカウント動作が開始され、その後、ステップ５０に移行する。ステップ５０では、物体検出処理が行なわれる。これにより、投光器Ｓ１側では、図６に示すように、同期基準信号の出力後、△ｔ時間の経過をまって一連の投光動作を開始させる。

これに対し、受光側ＣＰＵ３１は、図８の受光波形１に示すように、同期基準信号を受信した後、△ｔ’時間の経過をまって一連の受光処理動作を開始させる。これにより、各アナログスイッチ２５にはゲート信号Ｇが投光側の投光間隔と同じ間隔で与えられる。尚、ゲート信号Ｇは各アナログスイッチ２５ａ〜２５ｄに対して信号処理時間Ｔｕだけ与えられる。

かくして、投光側と受光側が同期基準信号に基づいて、一連の投光動作、並びに受光動作を行なうと、同図に示すように信号処理時間Ｔｕのほぼ中央の時間帯（以下、同期位置Ｐｏ）で各光軸による投光受光動作が行なわれる。

これにより、まず、最初の信号処理時間Ｔｕでは光軸Ｌａを構成する受光素子２１ａの受光信号Ｓｒがコンパレータ２２に取り込まれる。すると、コンパレータ２２は入力された受光信号Ｓｒのレベルに応じた二値信号Ｓｇが出力され、これが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれることで、同受光側ＣＰＵ３１内において光軸Ｌａについて遮光判定が行なわれる。

その後、次の信号処理時間Ｔｕでは光軸Ｌｂを構成する受光素子２１ｂの受光信号Ｓｒがコンパレータ２２に取り込まれる。すると、コンパレータ２２は入力された受光信号Ｓｒのレベルに応じた二値信号Ｓｇが出力され、これが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれることで、同受光側ＣＰＵ３１内において光軸Ｌｂについて遮光判定が行なわれる。その後、光軸Ｌｃ、光軸Ｌｄについても同様の手順に従って、遮光判定が行なわれ、物体検出処理が完了する。

物体検出処理が完了すると、ステップ６０に移行して、そこで、同期フラグについて判定する処理が受光側ＣＰＵ３１によって行なわれる。ここでは、同期フラグはＯＮであるためＹｅｓ判定され、その後、ステップ８０、ステップ９０の処理で各設定値を再び、リセットする処理が受光側ＣＰＵ３１により行われる。すなわち、ステップ８０では、調整カウンタをゼロにし、その後、ステップ９０で受光処理周期Ｔｍをスキャン周期Ｔｏと同じ周期（Ｔｍ＝Ｔｏ）にセットする。ここまでで、１スキャン中に行なわれる一通りの処理が完了することとなる。

その後、処理はステップ１０に移行する。ステップ１０では、ステップ４０でカウントを開始した監視タイマ３５がタイムアップしているか、否かが受光側ＣＰＵ３１により判定される。この監視タイマ３５による時刻の計時は、図６に示すように、同期基準信号検出期間Ｔａの終了と同時に開始され、その後、スキャン周期Ｔｏを経過したときにタイムアップする。

一方、投光器Ｓ１からは前回の同期基準信号の出力時点からスキャン周期Ｔｏが経過すると、次のスキャン動作を開始するべく同期基準信号が出力される。そのため、通常（同期基準信号が遮られていない場合）であれば、監視タイマ３５によるカウント動作中に、受光器Ｓ２では次の同期基準信号が受光され、これにより、同期検出信号が受光側ＣＰＵ３１に入力される。そのため、ステップ２０でＹｅｓ判定されて、ステップ３０に移行される。

そして、ステップ３０は、先に説明したステップ３における処理と全く同様が行なわれる。すなわち、同期フラグがＯＮに設定され、その後、同期基準信号検出期間Ｔａが経過すると、ステップ４０に移行する。

ステップ４０並びに、それ以降のステップ５０、ステップ６０、ステップ８０、ステップ９０の処理は既に述べた通りであり、受光側ＣＰＵ３１は、各処理を順に行なう。このように、同期基準信号が受光されている間は、ステップ１０→ステップ２０→ステップ３０→ステップ４０→ステップ５０→ステップ６０→ステップ８０→ステップ９０の処理が繰り返し行なわれることとなる。

次に、同期基準信号が遮られている場合であるが、このときには、監視タイマ３５がタイムアップしてしまうので、先のステップ１０でＹｅｓ判定されて、ステップ１５に移行する。ステップ１５では、同期フラグがＯＦＦに設定され、その後、同期基準信号検出時間Ｔａが経過すると、ステップ４０に移行して、監視タイマ３５がリセットされて、再び、カウント動作が開始される。

その後、ステップ５０で物体検出処理を行なうが、このときに、受光側ＣＰＵ３１は一連の受光処理動作の開始タイミングを、同期基準信号を受光できた前回（過去）の開始タイミング（本発明の前記同期基準信号を受光できた前回のタイミングに相当）に基づいて自ら決定する。

例えば、図９には、１回目のスキャン（同９図における左側のもの）では正しく同期基準信号が受光され、２回目目以降に同期基準信号が遮られた例を示してあるが、同例であれば、２回目以降の一連の受光処理動作の開始タイミングｔ２、ｔ３を１回目の開始タイミングｔ１に基づいて決定する。
ここでは、先のステップ９０の処理により、受光処理周期Ｔｍがスキャン周期Ｔｏと同じ周期に設定されているので、受光側ＣＰＵ３１は、１回目の開始タイミングｔ１を起算点とし、２回目以降の各回の一連の受光処理動作の開始タイミングｔ２、ｔ３を受光処理周期Ｔｍがスキャン周期Ｔｏと等しくなるように各回の受光処理動作の開始タイミングを決定する（自走処理）。

これにより、同期基準信号が受光器Ｓ２によって受信されない場合であっても、一応は信号処理時間Ｔｕ内で各光軸について投光・受光動作が行なわれ、各光軸の受光素子から出力される受光信号Ｓｒをコンパレータ２２に取り込むことが出来る。

そして、ステップ５０の処理が完了すると、ステップ６０に移行するが、同期基準信号が遮られている間は、同期フラグがＯＦＦであるため、ここでは、Ｎｏ判定されてステップ７０に移行する。

ステップ７０では同期ずれの有無を、検出する処理が受光側ＣＰＵ３１によって行なわれる。このステップ７０における判定処理については、後に詳しく述べるとして、ここではＮｏ判定されたものとして、以下、説明を続ける。

ステップ７０でＮｏ判定されると、再び、ステップ８０、ステップ９０で各値を再び、リセットする処理が受光側ＣＰＵ３１により行われる。すなわち、ステップ８０では、調整カウンタをゼロにし、その後、ステップ９０で受光処理周期Ｔｍをスキャン周期Ｔｏと同じ周期（Ｔｍ＝Ｔｏ）にセットする。これにより、１スキャン動作が完了することとなる。

それ以降は、同期基準信号が遮られている間は、ステップ１０→ステップ１５→ステップ４０、ステップ５０→ステップ６０→ステップ７０→ステップ８０、ステップ９０の処理が繰り返し行なわれることとなる。

さて、先にも述べたように、同期基準信号が遮られていると、受光側ＣＰＵ３１は一連の受光処理動作の開始タイミングを自ら決定する自走処理を行なうので、この状態が長く続くと、両ＣＰＵ１７、３１は正しく処理を実行していても発振回路１８、３３のクロック信号の周波数のばらつきにより、投光側の動作と受光側の動作に相対的なずれが生じ、これが原因となって同期ずれを引き起こす恐れがある。

そこで、本実施形態のものは、受光側ＣＰＵ３１に、以下に説明するステップ７０からステップ７９の一連の処理を行なわせることで、係る同期ずれを検出するととももに、同期ずれが起こっていると判定された場合には、同期が合うよう一連の受光処理動作の開始タイミングを自動調整するようになっている。

ステップ７０では、同期ずれの有無について検出する処理が行なわれる。具体的に説明すると、受光側ＣＰＵ３１は、先のステップ５０で遮光物体を検出する処理を行なうときに、コンパレータ２２から出力された二値信号Ｓｇの取り込みタイミング（受光位置Ｐ）を監視するように構成されている。

例えば、図１０の（ａ）であれば、二値信号Ｓｇの取り込みタイミングは「ｃ」、「ｄ」、「ｅ」であるとされ、図１０の（ｂ）であれば、二値信号Ｓｇの取り込みタイミングは「ｄ」、「ｅ」、「ｆ」、「ｇ」であるとされ、図１０の（ｃ）であれば、二値信号Ｓｇの取り込みタイミングは「ａ」、「ｅ」、「ｆ」、「ｇ」であるとされる。

そして、同期用の光軸Ｌａを除く、他の光軸Ｌｂ、Ｌｃ、Ｌｄのうち、いずれか一の光軸でも「ａ」のタイミング、或いは「ｇ」のタイミングで二値信号Ｓｇが取り込まれているときには、受光側ＣＰＵ３１により同期ずれと判定される。

また、このステップ７０では、「ａ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みのあった光軸数と、「ｇ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みのあった光軸数をそれぞれ算出する処理が合わせて行なわれる。

ステップ７０で同期がずれていると判定された場合には、ステップ７１に移行して、調整カウンタの値がインクリメントされ、続く、ステップ７３で調整カウンタの値について判定する処理が受光側ＣＰＵ３１により行なわれる。ここでは、ステップ７３でＹｅｓ判定されたものとして説明を続けると、その後、処理はステップ７５に移行される。

ステップ７５では、光軸全体としてみたときに、受光側から見て投光側が進んだ状態（図１１の（ａ））にあるか、或いは遅れた状態（図１１（ｂ）にあるかを判定する処理が行なわれる。
具体的な判定は、先のステップ７０で、「ａ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みのあった光軸数と、「ｇ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みのあった光軸数をそれぞれ算出してあるので、これらを大小比較し、「ａ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みのあった光軸数が、「ｇ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みのあった光軸数を上回っている場合には、投光側が進んでいると判定されて、ステップ７７に移行する。

ステップ７７に移行すると、受光処理周期Ｔｍを調整する処理が、次の（１）式に従って受光側ＣＰＵ３１により行なわれる。
Ｔｍ＝Ｔｏ−α・・・・・・・・・・・・・・・・・（１）
尚、Ｔｏはスキャン周期である。また、αは補正値であり、例えば、Ｔｕ／７、或いはＴｕ/１４のように設定することが望ましい。

そして、ステップ７７で受光処理周期Ｔｍを調整する処理がなされると、それ以降は、次のスキャン動作を行なうべくステップ１０、ステップ１５、ステップ４０の処理が行なわれ、これに続いてステップ５０に移行して物体検出処理が行なわれる。

すると、ステップ５０においては、一連の受光処理動作の開始タイミングを決定する処理が受光側ＣＰＵ３１により行なわれるが、このときには、先のステップ７７の処理において、受光処理周期Ｔｍが元の値Ｔｏに対してαだけ短く調整された状態にある。

これにより、図９、図１１に示すように一連の受光処理動作の開始タイミングが、調整をしない場合の開始タイミングｔａに比べて時間αだけ早められ、この結果、同期ずれが解消される。

すなわち、それまでは、各光軸による投光・受光動作が行なわれる時間帯に対して、各アナログスイッチ２５には遅れてゲート信号Ｇが与えられていたのが、これがαだけ早められるので、それ以降は、信号処理時間Ｔｕのほぼ中央の時間帯で各光軸による投光受光動作が行なわれることとなる。

そのため、各光軸Ｌの受光素子２１からは各信号処理時間Ｔｕの中央の時間帯（同期位置Ｐｏ）と一致したタイミングで受光信号Ｓｒが出力され、これが、コンパレータ２２に取り込まれる。そしてコンパレータ２２から出力される２値信号Ｓｇにより、各光軸の遮光判定が行なわれる。

かくして、物体検出処理が完了すると、ステップ６０に移行して、そこでは、受光側ＣＰＵ３１により同期フラグについて判定をする処理が行なわれるが、このときには、同期フラグがＯＦＦとなっているので、ステップ７０に移行する。そして、ステップ７０では、同期ずれの有無について判定する処理がおこなわれるが、このときには同期ずれが解消された状態にあるので、同ステップ７０の判定処理でＮｏ判定される。

すると、ステップ８０で調整カウンタがゼロに設定され、ステップ９０で受光処理周期Ｔｍがリセット、すなわちスキャン周期Ｔｏと同じ周期に戻される。従って、一旦、同期ずれが解消されると、それ以降の処理では、再び、スキャン周期Ｔｏと同じ周期で、一連の受光処理動作が開始されることとなる。

さて、ここまでは、受光側から見て投光側が進んだ状態（図１１の（ａ））に同期ずれが起きた場合について説明したが、これとは反対に、受光側から見て投光側が遅れた状態（図１１の（ｂ））に同期ずれが起きている場合には、ステップ７５でＮｏ判定されて、ステップ７８に移行する。

そして、ステップ７８では受光処理周期Ｔｍを調整する処理が、次の（２）式に従って受光側ＣＰＵ３１により行なわれる。
Ｔｍ＝Ｔｏ＋α・・・・・・・・・・・・・・・・・（２）

これにより、一連の受光処理動作の開始タイミングが、調整をしない場合の開始タイミングｔａに比べて時間αだけ遅くなる。すなわち、各アナログスイッチ２５にゲート信号Ｇが与えられるタイミングがαだけ遅くなり、この結果、同期ずれが解消される。

以上述べたように、同期ずれが起こっている場合には、同期ずれが自動的に調整されるので、同期がずれたままの状態で検出動作が繰り返されることがない。これにより、同期ずれに起因する誤った遮光判定、例えば、受光素子２１から出力された受光信号Ｓｒが同期ずれによってアナログスイッチ２５に無効化され、本来的には遮光物体なしと判定されるところを、遮光物体ありと判定されることを回避でき、センサの信頼性が高まる。

また、同期ずれは、受光側から見て投光側が進んだ状態になる場合と、遅れる状態になる場合の２パターンがあるが、ステップ７５の処理を行なうことで、進み、遅れの別を特定し、それに応じて次回の受光処理周期Ｔｍを決定するようにしている（ステップ７７、ステップ７８）。従って、進み、遅れの別がなんら特定されていない場合に比べて、少ない調整回数（例えば、１回）で同期ずれを解消することが期待できる。

また、本実施形態では、上述した受光処理周期Ｔｍを調整する処理を繰り返し行なっても同期ずれが解消されない場合には、エラー処理がされるようになっている。
すなわち、ステップ７０でＮｏ判定されると、その後、ステップ７１に移行されるが、そこでは調整カウンタの値がインクリメントされる。そのため、４回目の調整処理をおこなっても同期ずれが解消れていない場合には、５回目の調整処理を行う前に、ステップ７３でＮｏ判定される。すると、ステップ７５には移行されず、ステップ７９に移行して、そこで、エラー処理が行なわれる。

本実施形態では、受光器Ｓ２に報知手段として警告用のブザー３７が設けられ、これが受光側ＣＰＵ３１からの報知指令により報知される。このように、受光処理周期Ｔｍを調整する処理が所定回数連続して行なわれても、なお、同期ずれが解消されない場合に、エラー処理をすることとしたのは、他の要因（システムの異常など）も考えられるからである。
尚、受光処理周期Ｔｍを調整する処理が所定回数連続して行なわれても、なお、同期ずれが解消されない場合には、ステップ７９のエラー処理に変えて、スタート、或いはステップＳ１のすぐ後に処理を移してもよい。このような処理を行なえば、同期基準信号の入力を待つ状態となるので、同期基準信号が入ったところから、新たに処理が開始されることとなる。

＜実施形態２（請求項５）＞
次に、本発明の実施形態２について説明する。
実施形態１では、同期ずれの有無について判定する処理（ステップ７０）を、以下の要領で行なった。すなわち、同期用の光軸Ｌａを除く、他の光軸Ｌｂ、Ｌｃ、Ｌｄのうち、いずれか一の光軸でも「ａ」のタイミング、或いは「ｇ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みがあったときには、同期ずれと判定したが、実施形態２では、この判定方法を実施形態１と異ならせている。

具体的に説明すると、実施形態２では、「ａ」のタイミングで受光側ＣＰＵ３１に二値信号Ｓｇが取り込まれた光軸数、或いは「ｇ」のタイミングで受光側ＣＰＵ３１に二値信号Ｓｇが取り込まれた光軸数のいずれかが予め定められた基準光軸数を上回ったときに、同期ずれと判定することとしている。例えば、基準光軸数が「１」に設定されている場合に、「ａ」のタイミングで二値信号Ｓｇが取り込まれた光軸数が「１」つしかなく、「ｇ」のタイミングでは二値信号Ｓｇが取り込まれなかったときには、同期ずれと判定されず、「ａ」のタイミングで二値信号Ｓｇが取り込まれた光軸が「２」以上となったときに、初めて、同期ずれと判定される。

このような判定基準に基づいて同期ずれの有無を決めることで、同期のずれ始め（ずれ量の小さい段階）については同期ずれと判定されず、同期ずれが進行してきた（ずれ量が大きくなってきた時）になって初めて、同期ずれと判定される。従って、実施形態１の場合に比べて、同期ずれと判定される回数が少なくなるので、その分、受光処理周期Ｔｍの調整回数が少なく出来、これにより、受光側ＣＰＵ３１の処理負担を軽減できる。

尚、「ａ」のタイミング、或いは「ｇ」のタイミングで受光側ＣＰＵ３１に二値信号Ｓｇが取り込まれた、が本発明における「前記同期位置に対して遅れ方向或いは、進み方向の少なくともいずか一方に所定量外れた位置で受光が確認された」を具現化したものである。

＜実施形態３（請求項３に対応）＞
次に、本発明の実施形態３につい図１２、図１３を参照して説明する。
実施形態１では、同期ずれの有無について判定する処理（ステップ７０）を、以下の要領で行なった。すなわち、同期用の光軸Ｌａを除く、他の光軸Ｌｂ、Ｌｃ、Ｌｄのうち、いずれか一の光軸でも「ａ」のタイミング、或いは「ｇ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みがあったときには、同期ずれと判定したが、実施形態３では、この判定方法を実施形態１と異ならせている。

これに対して、実施形態２では同期ずれの有無を、同期光軸Ｌａを除く他の光軸Ｌｂ、Ｌｃ、Ｌｄについて二値信号Ｓｇが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれたタイミングをそれぞれ検出し、それに偏りがあるか、どうかに基づいて判定することとしている。例えば、図１２に示すように、光軸Ｌｂについては「ｂ」〜「ｄ」のタイミングで二値信号Ｓｇが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれ、光軸Ｌｃについては「ｃ」〜「ｅ」のタイミングで二値信号Ｓｇが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれ、光軸Ｌｄについては「ｄ」〜「ｆ」のタイミングで二値信号Ｓｇが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれた場合には、光軸全体として考えると、受光位置Ｐの位置に偏りがないので、このときには、同期ずれと判定される。

一方、図１３に示すように、光軸Ｌｂについては「ｂ」〜「ｄ」のタイミングで二値信号Ｓｇが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれ、光軸Ｌｃについては「ｂ」〜「ｄ」のタイミングで二値信号Ｓｇが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれ、光軸Ｌｄについては「ｃ」〜「ｅ」のタイミングで二値信号Ｓｇが受光側ＣＰＵ３１に取り込まれた場合には、光軸全体として考えると、受光位置Ｐが左側に偏っているので、このときには、同期ずれと判定される。

このような判定基準とすれば、光軸全体として同期のずれの傾向を捉えた上での、同期ずれ判定が可能となる。従って、ある光軸では同期がずれた状態にあるが光軸全体からみると同期がずれていない場合に、タイミング調整処理が行なわれていまうといった事態を回避できる。

また、図１３の例であれば、「ａ」のタイミング、「ｇ」のタイミングのいずれのタイミングでも二値信号Ｓｇの取り込みがないので、実施形態１のステップ７５の判定方法では、受光側に対して投光側が進んだ状態にあるのか、遅れた状態にあるのか判定できないが、このときには、全てのタイミング「ａ」〜「ｇ」における二値信号Ｓｇの取り込み状況（すなわち、偏り）に基づいて、同期のずれ方向を判別してやればよい。

＜実施形態４（請求項６に対応）＞
次に、本発明の実施形態４について説明する。
実施形態１では、同期ずれの有無について判定する処理（ステップ７０）を、以下の要領で行なった。すなわち、同期用の光軸Ｌａを除く、他の光軸Ｌｂ、Ｌｃ、Ｌｄのうち、いずれか一の光軸でも「ａ」のタイミング、或いは「ｇ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みがあったときには、同期ずれと判定したが、実施形態４では、この判定方法を実施形態１と異ならせている。

実施形態４では、遮光状態にある光軸の連続数Ｎを予め定められた基準値（本発明の基準遮光光軸数に相当）と比較し、連続数Ｎが基準値を上回っている場合には、同期ずれと判定し、下回っている場合には、同期ずれなしと判定することとした。尚、遮光状態にある光軸とは、ステップ５０において物体検出処理を行なったときに、遮光と判定された光軸のことである。

上記のように遮光状態にある光軸の連続数Ｎに基づいて、同期ずれを判定できるのは以下の理由による。すなわち、同期が正常にとれている場合にも、遮光物体が特定光軸Ｌを遮ることにより遮光されることがあるが、そのときの遮光光軸数は使用用途に応じて変わるものの、予め予想できる。例えば、遮光光軸数は「１」と予想される。

これに対して、同期ずれは、連続する複数の光軸で同じように起こるので、同期ずれが進行して投光側と受光側の動作のずれが大きくなると、連続する複数の光軸で受光信号Ｓｒが検出されない状態になる。より具体的に言えば、各受光素子２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄからそれぞれ受光信号Ｓｒ、それ自体は出力されるものの、アナログスイッチ２５ａ、２５ｂ、２５ｃ、２５ｄをＯＮ動作するタイミングが、それと外れたタイミングで行なわれる結果、受光信号Ｓｒはコンパレータ２２に取り込まれず、極端な例ではあるが、各光軸Ｌａ、Ｌｂ、Ｌｃ、Ｌｄとも受光信号Ｓｒの出力がない、すなわち遮光状態と判定される。

このように、同期ずれが起こっているときには、遮光状態にある光軸の連続数Ｎが、通常の使用状況における遮光時の遮光光軸数を上回るので、両者を比較することで同期ずれの有無を判別できる。尚、この場合に、同期ずれの方向を特定するには、少なくとも一の光軸については遮光されていないことが必要である。

＜実施形態５（請求項４に対応）＞
次に、本発明の実施形態４について図１４を参照して説明する。
実施形態１では、同期ずれの有無について判定する処理（ステップ７０）を、以下の要領で行なった。すなわち、同期用の光軸Ｌａを除く、他の光軸Ｌｂ、Ｌｃ、Ｌｄのうち、いずれか一の光軸でも「ａ」のタイミング、或いは「ｇ」のタイミングで二値信号Ｓｇの取り込みがあったときには、同期ずれと判定したが、実施形態５では、この判定方法を実施形態１と異ならせている。

この実施形態のものは、同期位置Ｐｏに対する受光位置Ｐのずれ量を受光側ＣＰＵ３１により算出して、受光位置Ｐのずれ量が許容値を超えるときに、同期ずれと判定するようにしたものである。一例を挙げて説明すると、同期位置Ｐｏに対して受光位置Ｐが読み取りタイミングとして１つずれている場合のずれ量１とし、許容値を２と設定しておく。
図１４の例であれば、光軸Ｌｂと光軸Ｌｃのずれ量は共に１であり、光軸Ｌｄのずれ量はゼロであるので、光軸全体としてのずれ量は２になる。そのため、この状態では、許容値内にずれ量が収まっているので、同期ずれと判定されることはないが、同図の状態からいずれかの光軸の受光位置Ｐが図示左方向にずれてしまうと、その時には、ずれ量が３になって、同期ずれと判定される。

＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。

（１）実施形態１では、同期用の光軸をＬａとしたが、同期用の光軸はこれに限定されるものではない。すなわち、他の光軸Ｌｂ〜Ｌｄのうちのいずれかの光軸を同期用の光軸としてもよいし、また光軸数についても１に限らず、複数個の構成としてよい。そして、更に、同期用の光軸をいずれかの光軸に固定する必要はなく、スキャン動作を行なうだびに、順次、或いはランダムに変更してもよい。このような構成とすることで、同期用の光軸が遮られる状態が継続する、という状況を未然に回避できる。

（２）実施形態１では、タイミング調整が所定回数連続しておこなっても、なお、同期ずれが解消されない場合に、エラー処理をすることとしたが、これに変えて、システムをリセット、すなわち受光開始周期を元の周期（スキャン周期）に戻してもよい。

実施形態１における多光軸光電センサの構成を簡易的に表したブロック図 同期がとれた状態並びに、同期がずれた状態を示す図 信号処理時間、同期位置、受光位置の関係を示す図 多光軸光電センサの全体構成を示す斜視図 多光軸光電センサの電気的構成を示すブロック図 投光波形、受光波形を示す図 受光側ＣＰＵによって実行される処理の流れを示すフローチャート図 同期があった場合の、受光波形と信号処理時間の関係を示す図 受光処理動作の開始タイミングが受光処理周期に基づいて決定されることを示す図 同期がずれた場合、同期があっている場合の、二値信号Ｓｇの取り込みタイミングを示す図 受光処理動作の開始タイミングの調整が行なわれた状態を示す図 実施形態３において、二値信号Ｓｇの取り込みタイミングを示す図（同期ずれなしと判定される例） 実施形態３において、二値信号Ｓｇの取り込みタイミングを示す図（同期ずれ有りと判定される例） 実施形態５において、同期ずれの判定方法の説明図

符号の説明

１１…投光素子
１７…投光側ＣＰＵ（投光制御手段）
２１…受光素子
２５…アナログスイッチ
３１…受光側ＣＰＵ(受光処理動作タイミング決定手段、遮光判定手段）
Ｌａ…同期用の光軸

Claims (7)

1. 一列状に配置された複数の投光素子からなる投光手段と、
   前記各投光素子とそれぞれ光軸を構成するように対をなして配される複数の受光素子からなる受光手段と、
   前記光軸を構成する複数の投光素子のうちの、いずれかの投光素子から同期基準信号を投光させた後に、前記各投光素子を所定の投光タイミングで順次投光させる投光制御手段と、
   前記いずれかの光軸を構成する投光素子と対をなす同期用の受光素子により受光される前記同期基準信号に基づいて前記投光タイミングに同期した受光タイミング信号を生成し、これを順次出力して各光軸に受光処理動作を順次開始させる受光処理動作タイミング決定手段と、
   前記各受光処理動作を経て出力された受光信号に基づいて各光軸について遮光判定を行なう遮光判定手段と、を備えた多光軸光電センサであって、
   前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記同期用の受光素子が前記同期基準信号を受光できない場合には、前記同期用基準信号が受光できた前回のタイミングに基づいて前記受光タイミング信号を生成して一連の受光処理動作を行なわせる自走処理を行なうとともに、この自走処理中において、
   前記受光処理動作タイミング決定手段は、
   光軸を構成する投光素子から投光された光を受光素子が受光した時を受光位置と定義したときに、当該受光位置が前記同期基準信号に基づいて投光・受光が行なわれたときの受光タイミングと異なっている場合には、前記受光位置が受光タイミングと同じ位置になるように前記受光タイミング信号の出力タイミングを調整するタイミング調整処理を行なうことを特徴とする多光軸光電センサ。
2. 前記受光処理動作タイミング決定手段は、
   前記受光位置が前記受光タイミングに対して進み方向にある場合には、前記タイミング調整処理として、各光軸に対する前記受光タイミング信号の出力タイミングを一括して早め、
   前記受光位置が前記受光タイミングに対して遅れ方向にある場合には、前記タイミング調整処理として、各光軸に対する前記受光タイミング信号の出力タイミングを一括して遅くすることを特徴とする請求項１に記載の多光軸光電センサ。
3. 前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記受光位置が、前記受光タイミングに対して遅れ方向、或いは進み方向のいずれにあるかを各光軸についてそれぞれ検出し、光軸全体として受光位置がいずれかの方向に偏っていることを条件に、前記タイミング調整処理を行なうこと特徴とする請求項１又は請求項２に記載の多光軸光電センサ。
4. 前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記受光タイミングに対する前記受光位置のずれ量が許容値を超えることを条件に、前記タイミング調整処理を行なうこと特徴とする請求項１又は請求項２に記載の多光軸光電センサ。
5. 前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記受光タイミングに対して遅れ方向或いは、進み方向の少なくともいずか一方に所定量外れた位置で受光が確認された光軸数が予め定められた基準光軸数を上回っていることを条件に、前記タイミング調整処理を行なうこと特徴とする請求項１又は請求項２に記載の多光軸光電センサ。
6. 前記受光処理動作タイミング決定手段は、遮光状態となっている光軸の連続数が、予め定められた基準遮光光軸数を上回っていることを条件に、前記タイミング調整処理を行なうこと特徴とする請求項１又は請求項２に記載の多光軸光電センサ。
7. 前記受光処理動作タイミング決定手段は、前記タイミング調整処理を行なう制御状態が所定回数連続し、かつ、調整後においても同期が合わない場合に、外部に異常を報知する報知手段を備えることを特徴とする請求項１ないし請求項６のいずれかに記載の多光軸光電センサ。

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