JP2006237105A - 電子部品およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】プリント配線板などの基板に磁気抵抗センサ素子などの電子素子を搭載して保護樹脂で封止した電子部品において、その製造コストを削減する。
【解決手段】金属プレート3上に磁気抵抗センサ素子5を搭載し、プリント回路6と磁気抵抗センサ素子5とを結線7で接続する。その後、磁気抵抗センサ素子5および結線7を覆うように保護樹脂9を塗布する。この保護樹脂9として、硬化前の粘度が10〜20Pa・sで、硬化後の伸び率が50〜150%で、硬化後のショア硬さが20〜50である紫外線硬化型樹脂を用いる。最後に、保護樹脂9に紫外線を照射して硬化させる。これにより、保護樹脂9の流動を防ぎ、所望の形状で封止することができる。また、保護樹脂9の剥離を避け、電子部品1の信頼性を確保することができる。さらに、保護樹脂9に外力が加わっても結線7は断線しない。
【選択図】図1
【解決手段】金属プレート3上に磁気抵抗センサ素子5を搭載し、プリント回路6と磁気抵抗センサ素子5とを結線7で接続する。その後、磁気抵抗センサ素子5および結線7を覆うように保護樹脂9を塗布する。この保護樹脂9として、硬化前の粘度が10〜20Pa・sで、硬化後の伸び率が50〜150%で、硬化後のショア硬さが20〜50である紫外線硬化型樹脂を用いる。最後に、保護樹脂9に紫外線を照射して硬化させる。これにより、保護樹脂9の流動を防ぎ、所望の形状で封止することができる。また、保護樹脂9の剥離を避け、電子部品1の信頼性を確保することができる。さらに、保護樹脂9に外力が加わっても結線7は断線しない。
【選択図】図1
Description
本発明は、プリント配線板などの基板に磁気抵抗センサ素子などの電子素子を搭載して保護樹脂で封止した電子部品と、この電子部品を製造する際に適用するに好適な、電子部品の製造方法に関するものである。
この種の電子部品1を製造する際には、図2に示すように、基板2に電子素子5を搭載し、基板2上に印刷されたプリント回路6と電子素子5とを結線(ワイヤーボンディング)7で接続した後、電子素子5および結線7を覆うように保護樹脂9を塗布し、保護樹脂9を硬化させて封止する。従来、この保護樹脂9としては、一般に熱硬化型樹脂が用いられていた。
ところが、電子部品1の製造過程において、図3に示すように、保護樹脂9の流動が起こり、予定した形状での保護(封止)ができない場合があった。
そこで、紫外線硬化型樹脂と熱硬化型樹脂を混合した材料からなる保護樹脂9で封止することにより、保護樹脂9の形状を保持したり(例えば、特許文献1参照)、熱硬化型樹脂を完全硬化させる前にその表面を紫外線硬化樹脂で被覆することにより、保護樹脂9の変形を防止したり(例えば、特許文献2参照)する対応策が提案されていた。
また、保護樹脂9と基板2や電子素子5との熱膨張率差や接着力不足から、保護樹脂9が硬化後に剥離する場合があった。この場合、電子部品1の信頼性が低下してしまう。
そこで、基板2の表面部分に柔軟性樹脂を形成してから通常の熱硬化型樹脂を形成することにより、保護樹脂9の剥離を抑制する対応策が提案されていた(例えば、特許文献3参照)。
特開平6−45378号公報
特開平9−51009号公報
特開平11−40710号公報
しかし、これらの従来技術は、いずれも熱硬化型樹脂の使用を前提とするため、加熱設備および加熱工程が必要となり、その分だけ電子部品1の製造コストが高騰するという不都合があった。
本発明は、こうした不都合を解消することが可能な、電子部品およびその製造方法を提供することを目的とする。
まず、請求項1に係る電子部品の製造方法の発明は、基板に電子素子を搭載する電子素子搭載工程と、前記電子素子を覆うように保護樹脂を塗布する樹脂塗布工程と、前記保護樹脂を硬化させて前記電子素子を封止する封止工程とを含む、電子部品の製造方法であって、前記保護樹脂は、硬化前の粘度が10〜20Pa・sの紫外線硬化型樹脂であることを特徴とする。
また、請求項2に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、シリコーン樹脂であることを特徴とする。
また、請求項3に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、硬化後の伸び率が150%以下であることを特徴とする。
また、請求項4に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、硬化後の伸び率が50%以上であることを特徴とする。
また、請求項5に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、硬化後のショア硬さが20以上であることを特徴とする。
また、請求項6に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、硬化後のショア硬さが50以下であることを特徴とする。
さらに、請求項7に係る電子部品の発明は、請求項1乃至6のいずれかに記載の電子部品の製造方法によって製造されたことを特徴とする。
また、請求項2に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、シリコーン樹脂であることを特徴とする。
また、請求項3に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、硬化後の伸び率が150%以下であることを特徴とする。
また、請求項4に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、硬化後の伸び率が50%以上であることを特徴とする。
また、請求項5に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、硬化後のショア硬さが20以上であることを特徴とする。
また、請求項6に係る電子部品の製造方法の発明は、前記保護樹脂は、硬化後のショア硬さが50以下であることを特徴とする。
さらに、請求項7に係る電子部品の発明は、請求項1乃至6のいずれかに記載の電子部品の製造方法によって製造されたことを特徴とする。
本発明によれば、保護樹脂の流動を防ぎ、所望の形状で封止することができる。また、保護樹脂の剥離を避け、電子部品の信頼性を確保することができる。しかも、熱硬化型樹脂の使用を前提としないので、加熱設備および加熱工程が不要となる分だけ電子部品の製造コストを削減することができる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
電子部品1は、図1に示すように、ステンレス鋼(SUS)からなる金属プレート3が埋設されたポリイミド製のプリント配線板(基板)2を有しており、金属プレート3上には磁気抵抗センサ素子(電子素子)5が搭載されている。また、プリント配線板2上にはプリント回路6が印刷されており、プリント回路6と磁気抵抗センサ素子5とは、金(Au)からなる結線7で接続されている。さらに、磁気抵抗センサ素子5および結線7を覆う形で、紫外線硬化型樹脂からなる保護樹脂9が添設されている。
次に、この電子部品1の製造方法について説明する。
まず、金属プレート3上に磁気抵抗センサ素子5を搭載し、プリント回路6と磁気抵抗センサ素子5とを結線7で接続する。その後、磁気抵抗センサ素子5および結線7を覆うように、紫外線硬化型樹脂からなる保護樹脂9を塗布し、この保護樹脂9に紫外線を照射して硬化させる。
このとき、保護樹脂9としては、硬化前の粘度が10〜20Pa・sで、硬化後の伸び率が50〜150%で、硬化後のショア硬さ(試料の試験面上に一定の高さh0から落下させたハンマのはね上がり高さhに比例する値で、比例定数をkとして、ショア硬さHS=k(h/h0)で定義される。ショア硬さが大きいほど硬い。)が20〜50(A20〜A50)である紫外線硬化型樹脂を用いる。こうした条件を満たす紫外線硬化型樹脂としては、例えば、株式会社スリーボンド製の紫外線硬化性シリコーン樹脂「スリーボンド3163」「スリーボンド3164B」、株式会社スリーボンド製の紫外線硬化性アクリル樹脂「スリーボンド3027D」、協立化学産業株式会社製の紫外線硬化性アクリル樹脂「ワールドロック8803SS」「ワールドロック8840LL」を挙げることができる。
すると、硬化前の保護樹脂9は、10Pa・s以上の高い粘度を有していることから、保護樹脂9の流動を防ぎ、所望の形状で封止することができる。なお、硬化前の保護樹脂9の粘度の上限を20Pa・sと定めたのは、粘度が20Pa・sを越えると、作業性が悪くなり、実用性に乏しくなるからである。
また、保護樹脂9は、硬化後の伸び率が150%以下に抑えられているため、保護樹脂9の剥離を避け、電子部品1の信頼性を確保することができる。これに対して、硬化後の伸び率が150%を越えると、保護樹脂9以外の部品(プリント配線板2や金属プレート3、磁気抵抗センサ素子5など)は紫外線照射によって伸縮しないと考えられるので、保護樹脂9だけが伸びて剥離する危険性が生じる。しかも、保護樹脂9は、硬化後の伸び率が50%以上となっているので、電子部品1の熱衝撃試験において割れが生じる不都合を回避することができる。
さらに、保護樹脂9は、硬化後のショア硬さが20(A20)以上となっているので、たとえ保護樹脂9に外力が加わっても、結線7が断線する心配はない。また、保護樹脂9は、硬化後のショア硬さが50(A50)以下となっているので、電子部品1の熱衝撃試験において割れが生じる不都合を回避することができる。
上述した熱衝撃試験における適性を確認するため、4種類の紫外線硬化型樹脂を用いて電子部品1を試作し、熱衝撃試験を実施した。この4種類の紫外線硬化型樹脂とは、(イ)協立化学産業株式会社製の紫外線硬化性アクリル樹脂「ワールドロック8803SS」(粘度:15.5±2Pa・s、伸び率:7%、ショア硬さ:84±3)、(ロ)協立化学産業株式会社製の紫外線硬化性アクリル樹脂「ワールドロック8840LL」(粘度:12±2Pa・s、伸び率:18%、ショア硬さ:71±3)、(ハ)株式会社スリーボンド製の紫外線硬化性アクリル樹脂「スリーボンド3027D」(粘度:2.0Pa・s、伸び率:12%、ショア硬さ:80)、(ニ)株式会社スリーボンド製の紫外線硬化性シリコーン樹脂「スリーボンド3164B」(粘度:20Pa・s、伸び率:140%、ショア硬さ:27)である。また、熱衝撃試験は、−40℃の低温から2〜3分間に+70℃の高温まで昇温し、+70℃の温度を27〜28分間だけ保持した後、+70℃の高温から2〜3分間に−40℃の低温まで降温し、−40℃の温度を27〜28分間だけ保持するという合計1時間の温度プロファイルを1サイクルとし、これを5段階のサイクル数(50サイクル、100サイクル、200サイクル、500サイクル、700サイクル)だけ繰り返した。
その結果、50サイクルの場合、(イ)では10個すべてが熱衝撃試験に合格し、(ロ)では10個すべてが熱衝撃試験に合格し、(ハ)では5個すべてが熱衝撃試験に合格し、(ニ)では8個すべてが熱衝撃試験に合格した。また、100サイクルの場合、(イ)では10個すべてが熱衝撃試験に合格し、(ロ)では10個のうち9個が熱衝撃試験に合格し、(ハ)では5個のうち4個が熱衝撃試験に合格し、(ニ)では8個すべてが熱衝撃試験に合格した。また、200サイクルの場合、(イ)では10個のうち7個が熱衝撃試験に合格し、(ロ)では10個のうち7個が熱衝撃試験に合格し、(ハ)では5個のうち4個が熱衝撃試験に合格し、(ニ)では8個すべてが熱衝撃試験に合格した。また、500サイクルの場合、(イ)では10個のうち5個が熱衝撃試験に合格し、(ロ)では10個のうち4個が熱衝撃試験に合格し、(ハ)では5個のうち2個が熱衝撃試験に合格し、(ニ)では8個すべてが熱衝撃試験に合格した。さらに、700サイクルの場合、(イ)では10個のうち3個が熱衝撃試験に合格し、(ロ)では10個のうち3個が熱衝撃試験に合格し、(ハ)では5個すべてが熱衝撃試験に不合格となり、(ニ)では8個すべてが熱衝撃試験に合格した。
これらの結果から、(イ)、(ロ)、(ハ)の3種、つまりアクリル樹脂では優れた熱衝撃性を発現し、(ニ)、つまりシリコーン樹脂では、さらに優れた熱衝撃性を発現することが判明した。
また、熱硬化型樹脂の使用を前提としないので、加熱設備および加熱工程が不要となり、その分だけ電子部品1の製造コストを削減することができる。
しかも、保護樹脂9に紫外線を照射するだけで硬化するので、樹脂硬化工程が迅速で、生産性が向上する。さらに、単一の材料(紫外線硬化型樹脂)での工程であり、管理が容易である。また、保護樹脂9は耐寒性および耐熱性に優れるので、電子部品1の製品としての信頼性が向上する。
なお、上述の実施形態においては、基板としてプリント配線板2を採用した場合について説明したが、プリント配線板2以外の基板(例えば、ユニバーサル基板など)を代用しても構わない。
なお、上述の実施形態においては、電子素子として磁気抵抗センサ素子5を採用した場合について説明したが、磁気抵抗センサ素子5以外の電子素子(例えば、SAW、アクチュエータ、磁歪素子など)を代用してもよい。
1……電子部品
2……プリント配線板(基板)
3……金属プレート
5……磁気抵抗センサ素子(電子素子)
6……プリント回路
7……結線
9……保護樹脂
2……プリント配線板(基板)
3……金属プレート
5……磁気抵抗センサ素子(電子素子)
6……プリント回路
7……結線
9……保護樹脂
Claims (7)
- 基板に電子素子を搭載する電子素子搭載工程と、
前記電子素子を覆うように保護樹脂を塗布する樹脂塗布工程と、
前記保護樹脂を硬化させて前記電子素子を封止する封止工程と
を含む、電子部品の製造方法であって、
前記保護樹脂は、硬化前の粘度が10〜20Pa・sの紫外線硬化型樹脂であることを特徴とする、電子部品の製造方法。 - 前記保護樹脂は、シリコーン樹脂であることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の製造方法。
- 前記保護樹脂は、硬化後の伸び率が150%以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載の電子部品の製造方法。
- 前記保護樹脂は、硬化後の伸び率が50%以上であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の電子部品の製造方法。
- 前記保護樹脂は、硬化後のショア硬さが20以上であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の電子部品の製造方法。
- 前記保護樹脂は、硬化後のショア硬さが50以下であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の電子部品の製造方法。
- 請求項1乃至6のいずれかに記載の電子部品の製造方法によって製造されたことを特徴とする電子部品。
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JP2005046490A JP2006237105A (ja) | 2005-02-23 | 2005-02-23 | 電子部品およびその製造方法 |
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Citations (3)
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JPH07145323A (ja) * | 1993-11-22 | 1995-06-06 | Three Bond Co Ltd | 光硬化及び湿気硬化し得るシリコーン組成物 |
JPH11274447A (ja) * | 1998-03-26 | 1999-10-08 | Nec Corp | 全モールド型固体撮像装置およびその製造方法 |
JP2004259875A (ja) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Sekisui Chem Co Ltd | 電気・電子部品の封止方法、及び、その封止方法により封止されてなる電気・電子部品 |
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2005
- 2005-02-23 JP JP2005046490A patent/JP2006237105A/ja active Pending
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