JP2006228435A - 飛行時間型質量分析装置 - Google Patents

飛行時間型質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006228435A
JP2006228435A JP2005037132A JP2005037132A JP2006228435A JP 2006228435 A JP2006228435 A JP 2006228435A JP 2005037132 A JP2005037132 A JP 2005037132A JP 2005037132 A JP2005037132 A JP 2005037132A JP 2006228435 A JP2006228435 A JP 2006228435A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ions
ion
orbit
trajectory
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005037132A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2006228435A5 (enExample
Inventor
Shinichi Yamaguchi
真一 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2005037132A priority Critical patent/JP2006228435A/ja
Priority to US11/353,112 priority patent/US7355168B2/en
Publication of JP2006228435A publication Critical patent/JP2006228435A/ja
Publication of JP2006228435A5 publication Critical patent/JP2006228435A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/28—Static spectrometers
    • H01J49/282—Static spectrometers using electrostatic analysers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34—Dynamic spectrometers
    • H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
    • H01J49/408—Time-of-flight spectrometers with multiple changes of direction, e.g. by using electric or magnetic sectors, closed-loop time-of-flight

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
JP2005037132A 2005-02-15 2005-02-15 飛行時間型質量分析装置 Pending JP2006228435A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005037132A JP2006228435A (ja) 2005-02-15 2005-02-15 飛行時間型質量分析装置
US11/353,112 US7355168B2 (en) 2005-02-15 2006-02-14 Time of flight mass spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005037132A JP2006228435A (ja) 2005-02-15 2005-02-15 飛行時間型質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006228435A true JP2006228435A (ja) 2006-08-31
JP2006228435A5 JP2006228435A5 (enExample) 2007-05-31

Family

ID=36931224

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005037132A Pending JP2006228435A (ja) 2005-02-15 2005-02-15 飛行時間型質量分析装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7355168B2 (enExample)
JP (1) JP2006228435A (enExample)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008535164A (ja) * 2005-03-22 2008-08-28 レコ コーポレイション 等時性湾曲イオンインタフェースを備えた多重反射型飛行時間質量分析計
WO2008139507A1 (ja) * 2007-05-09 2008-11-20 Shimadzu Corporation 質量分析装置
WO2008139506A1 (ja) * 2007-05-09 2008-11-20 Shimadzu Corporation 荷電粒子分析装置
JP2010506349A (ja) * 2006-10-13 2010-02-25 株式会社島津製作所 多重反射飛行時間型質量分析器、及び質量分析器を有する飛行時間型質量分析計
WO2010038260A1 (ja) * 2008-10-02 2010-04-08 株式会社島津製作所 多重周回飛行時間型質量分析装置
US8258467B2 (en) 2008-11-10 2012-09-04 Shimadzu Corporation Mass-analyzing method and mass spectrometer
US8354635B2 (en) 2008-10-30 2013-01-15 Shimadzu Corporation Mass spectrometer

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4182843B2 (ja) * 2003-09-02 2008-11-19 株式会社島津製作所 飛行時間型質量分析装置
JP4980583B2 (ja) * 2004-05-21 2012-07-18 日本電子株式会社 飛行時間型質量分析方法及び装置
GB0607542D0 (en) * 2006-04-13 2006-05-24 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer
JP4766170B2 (ja) * 2007-05-22 2011-09-07 株式会社島津製作所 質量分析装置
US8093555B2 (en) * 2007-11-21 2012-01-10 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
US7932487B2 (en) * 2008-01-11 2011-04-26 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer with looped ion path
WO2010041296A1 (ja) * 2008-10-09 2010-04-15 株式会社島津製作所 質量分析装置
CN101752179A (zh) 2008-12-22 2010-06-23 岛津分析技术研发（上海）有限公司 质谱分析器
CN103578907B (zh) * 2013-11-04 2016-03-02 清华大学深圳研究生院 离子迁移谱仪及其补偿式弯曲型离子漂移管
CN103681202B (zh) * 2013-12-03 2016-03-30 清华大学深圳研究生院 弯曲型离子迁移谱仪及其补偿式离子收集装置
CN103745908B (zh) * 2014-01-10 2016-06-22 清华大学深圳研究生院 一种时间补偿离子检测器及弯曲型离子迁移谱仪
US9761431B2 (en) * 2015-09-21 2017-09-12 NOAA Technology Partnerships Office System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer
RU2644578C1 (ru) * 2016-11-22 2018-02-13 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва" Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6240150A (ja) * 1985-08-14 1987-02-21 Shimadzu Corp 飛行時間型質量分析計
JPH11135060A (ja) * 1997-10-31 1999-05-21 Jeol Ltd 飛行時間型質量分析計
JP2000243346A (ja) * 1999-02-19 2000-09-08 Jeol Ltd 飛行時間型質量分析計のイオン光学系
JP2001143655A (ja) * 1999-11-10 2001-05-25 Jeol Ltd 周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置
JP2001143654A (ja) * 1999-11-10 2001-05-25 Jeol Ltd 飛行時間型質量分析装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4151926B2 (ja) 1997-10-28 2008-09-17 日本電子株式会社 飛行時間型質量分析計のイオン光学系
WO2003029922A2 (en) * 2001-10-01 2003-04-10 Kline & Walker, Llc Pfn/trac system faa upgrades for accountable remote and robotics control
JP4208674B2 (ja) * 2003-09-03 2009-01-14 日本電子株式会社 多重周回型飛行時間型質量分析方法
JP4033133B2 (ja) * 2004-01-13 2008-01-16 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP4980583B2 (ja) * 2004-05-21 2012-07-18 日本電子株式会社 飛行時間型質量分析方法及び装置
JP5357538B2 (ja) * 2005-03-22 2013-12-04 レコ コーポレイション 等時性湾曲イオンインタフェースを備えた多重反射型飛行時間質量分析計
JP4569349B2 (ja) * 2005-03-29 2010-10-27 株式会社島津製作所 飛行時間型質量分析装置
JP4766549B2 (ja) * 2005-08-29 2011-09-07 株式会社島津製作所 レーザー照射質量分析装置
WO2007044696A1 (en) * 2005-10-11 2007-04-19 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration
JP4645424B2 (ja) * 2005-11-24 2011-03-09 株式会社島津製作所 飛行時間型質量分析装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6240150A (ja) * 1985-08-14 1987-02-21 Shimadzu Corp 飛行時間型質量分析計
JPH11135060A (ja) * 1997-10-31 1999-05-21 Jeol Ltd 飛行時間型質量分析計
JP2000243346A (ja) * 1999-02-19 2000-09-08 Jeol Ltd 飛行時間型質量分析計のイオン光学系
JP2001143655A (ja) * 1999-11-10 2001-05-25 Jeol Ltd 周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置
JP2001143654A (ja) * 1999-11-10 2001-05-25 Jeol Ltd 飛行時間型質量分析装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6010014964, Ｍｉｃｈｉｓａｔｏ Ｔｏｙｏｄａ， Ｄａｉｓｕｋｅ Ｏｋｕｍｕｒａ， Ｍｏｒｉｏ Ｉｓｈｉｈａｒａ ａｎｄ Ｉｔｓｕｏ Ｋａｔａｋｕｓｅ, ""Ｍｕｌｔｉ−ｔｕｒｎ ｔｉｍｅ−ｏｆ−ｆｌｉｇｈｔ ｍａｓｓ ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒｓ ｗｉｔｈ ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ ｓｅｃｔｏｒｓ"", Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｍａｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ, 20031103, Ｖｏｌ． ３８, Ｐ． １１２５−１１４２, US *

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008535164A (ja) * 2005-03-22 2008-08-28 レコ コーポレイション 等時性湾曲イオンインタフェースを備えた多重反射型飛行時間質量分析計
JP2010506349A (ja) * 2006-10-13 2010-02-25 株式会社島津製作所 多重反射飛行時間型質量分析器、及び質量分析器を有する飛行時間型質量分析計
JPWO2008139507A1 (ja) * 2007-05-09 2010-07-29 株式会社島津製作所 質量分析装置
WO2008139506A1 (ja) * 2007-05-09 2008-11-20 Shimadzu Corporation 荷電粒子分析装置
JPWO2008139506A1 (ja) * 2007-05-09 2010-07-29 株式会社島津製作所 荷電粒子分析装置
WO2008139507A1 (ja) * 2007-05-09 2008-11-20 Shimadzu Corporation 質量分析装置
US8013292B2 (en) 2007-05-09 2011-09-06 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
CN101669188B (zh) * 2007-05-09 2011-09-07 株式会社岛津制作所 质谱分析装置
JP4883177B2 (ja) * 2007-05-09 2012-02-22 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP4883176B2 (ja) * 2007-05-09 2012-02-22 株式会社島津製作所 荷電粒子分析装置
US8680479B2 (en) 2007-05-09 2014-03-25 Shimadzu Corporation Charged particle analyzer
WO2010038260A1 (ja) * 2008-10-02 2010-04-08 株式会社島津製作所 多重周回飛行時間型質量分析装置
US8354635B2 (en) 2008-10-30 2013-01-15 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
US8258467B2 (en) 2008-11-10 2012-09-04 Shimadzu Corporation Mass-analyzing method and mass spectrometer

Also Published As

Publication number Publication date
US20060192110A1 (en) 2006-08-31
US7355168B2 (en) 2008-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006228435A (ja) 飛行時間型質量分析装置
US9196469B2 (en) Constraining arcuate divergence in an ion mirror mass analyser
JP4980583B2 (ja) 飛行時間型質量分析方法及び装置
JP5316419B2 (ja) 同軸飛行時間型質量分析装置
JP5259169B2 (ja) タンデム型飛行時間型質量分析装置および方法
JP5628165B2 (ja) 疑似平面多重反射飛行時間型質量分析計
Radionova et al. In pursuit of resolution in time‐of‐flight mass spectrometry: A historical perspective
US8642951B2 (en) Device, system, and method for reflecting ions
USRE38861E1 (en) Multideflector
JP6287419B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP4939138B2 (ja) 質量分析装置用イオン光学系の設計方法
JP5900770B2 (ja) 直交加速同軸円筒飛行時間型質量分析器
WO2010041296A1 (ja) 質量分析装置
JP5226292B2 (ja) タンデム型飛行時間型質量分析法
JPWO2012132550A1 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP4766170B2 (ja) 質量分析装置
US5744797A (en) Split-field interface
US6310353B1 (en) Shielded lens
JP5946881B2 (ja) 疑似平面多重反射飛行時間型質量分析計
JP5238054B2 (ja) 飛行時間型質量分析方法及び装置
JP7556333B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP2001028253A (ja) 垂直加速型飛行時間型質量分析装置
JP2007317375A (ja) らせん軌道型飛行時間型質量分析計

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070410

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070410

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100323

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100519

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20100519

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100803