RU2644578C1 - Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре - Google Patents

Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре Download PDF

Info

Publication number
RU2644578C1
RU2644578C1 RU2016145878A RU2016145878A RU2644578C1 RU 2644578 C1 RU2644578 C1 RU 2644578C1 RU 2016145878 A RU2016145878 A RU 2016145878A RU 2016145878 A RU2016145878 A RU 2016145878A RU 2644578 C1 RU2644578 C1 RU 2644578C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ion
ions
mass
time
fieldless
Prior art date
Application number
RU2016145878A
Other languages
English (en)
Inventor
Константин Евгеньевич Воронов
Игорь Владимирович Пияков
Дмитрий Владимирович Родин
Марина Александровна Родина
Original Assignee
федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва" filed Critical федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва"
Priority to RU2016145878A priority Critical patent/RU2644578C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2644578C1 publication Critical patent/RU2644578C1/ru

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области масс-спектрометрии, преимущественно для космических исследований и для применения в других областях при условиях жестких ограничений массы и габаритов. Способ основан на выталкивании ионов из ускоряющего промежутка нелинейным полем и отклонении ионов в бесполевом пространстве двумя парами отклоняющих пластин, формирующих динамическое электрическое поле. Технический результат - повышение разрешающей способности и чувствительности времяпролетных масс-спектрометров, работающих в режиме сепарации массовых линий. 2 ил.

Description

Изобретение относится к приборостроению средств экспериментальной физики и химии, в частности к масс-спектрометрии.
Наиболее близким по технической сущности к заявляемому способу является выбранный в качестве прототипа способ формирования массовой линии во времяпролетном масс-спектрометре (патент SU 1691905 A1 H01J 49/40, опубл. Бюл. №42 15.11.91 г.), включающий ионизацию атомов в источнике ионов, ускорение ионов выталкивающим импульсом электрического поля, временная зависимость которого имеет вид:
Figure 00000001
где:
Figure 00000002
Figure 00000003
E0 - напряженность электрического поля;
m - масса иона;
q - заряд иона;
Т - точка расположения массовой линии на временной оси;
Figure 00000004
- длина бесполевого пространства;
Figure 00000005
- расстояние от области ионизации до бесполевого пространства;
t0 - длительность, в течение которой напряженность поля постоянна во времени;
VГР - скорость иона, пролетающего ускоряющий промежуток за время t0;
дрейф ионов в бесполевом пространстве, отклонение в бесполевом пространстве поперечным полем всех ионов, вылетевших из ускоряющего промежутка за время t0, и регистрацию ионов в приемнике ионов.
Недостатком прототипа является сложность реализации генератора выталкивающих импульсов и необходимость точной синхронизации начала ионизации с выталкивающим и отклоняющим импульсами, а также необходимость точного определения длительности отклоняющего импульса. Так же для формирования массовой линии только из ионов одной массы требуется узкая зона ионизации и короткое время ионизации, что не позволяет улучшить разрешающую способность и чувствительность одновременно.
В основу изобретения положена задача разработки способа формирования массовой линии от ионов одной массы, позволяющей увеличить время ионизации, размер зоны ионизации и использовать выталкивающий и отклоняющий импульсы в виде постоянных или легко реализуемых периодических функций.
Поставленная задача достигается тем, что в способе формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре, включающем ионизацию атомов в источнике ионов, ускорение ионов выталкивающим импульсом электрического поля, временная зависимость которого имеет вид:
Figure 00000006
где:
Figure 00000007
Figure 00000008
E0 - напряженность электрического поля;
m - масса иона;
q - заряд иона;
Т - точка расположения массовой линии на временной оси;
Figure 00000004
- длина бесполевого пространства;
Figure 00000005
- расстояние от области ионизации до бесполевого пространства;
t0 - длительность, в течение которой напряженность поля постоянна во времени;
VГР - скорость иона, пролетающего ускоряющий промежуток за время t0;
дрейф ионов в бесполевом пространстве, отклонение в бесполевом пространстве поперечным полем всех ионов, вылетевших из ускоряющего промежутка за время t0, и регистрацию ионов в приемнике ионов, согласно изобретению, с целью улучшения сепарации выбранной массовой линии и увеличения разрешающей способности и чувствительности отклонение ионов производится двумя парами отклоняющих пластин, векторы напряженности электрического поля которых взаимно перпендикулярны и перпендикулярны оси движения ионов, и напряжение между которыми имеет вид:
Figure 00000009
где Ux - напряжение между отклоняющими пластинами первой пары;
Uy - напряжение между отклоняющими пластинами второй пары;
U - амплитуда отклоняющих импульсов;
Т - период отклоняющих импульсов;
t - время,
а выталкивающее поле имеет вид:
Figure 00000010
где m - масса иона;
n - кратность периода колебаний;
|е| - заряд иона;
Figure 00000011
- расстояние от зоны ионизации до бесполевого участка;
Figure 00000012
- длина отклоняющих пластин.
Сущность способа поясняется следующими чертежами. На фиг. 1 изображена схема времяпролетного масс-спектрометра. На фиг. 2 изображены графики напряжений между отклоняющими пластинами.
Устройство, реализующее способ, содержит ионный источник с электронной пушкой 1, заземленные сетки 2, ускоряющую сетку 3, генератор выталкивающих импульсов 4, генератор выталкивающих импульсов 5, две пары отклоняющих пластин 6, приемник ионов 7 и ионный коллиматор 8. Для устранения массовых линий несепарируемых ионов предусмотрено их отклонение с помощью периодического во времени электростатического поля, создаваемого отклоняющими пластинами.
Заземленные сетки 2 расположены на расстоянии друг от друга между выталкивающей сеткой 3 и приемником ионов 7, образуя общую оптическую ось. Поток электронов из электронной пушки ионного источника с электронной пушкой 1 создает плоскость ионизации между ускоряющей сеткой 3 и ближайшей к ней заземленной сеткой 2. Четыре отклоняющих пластины 6 образуют две пары, которые расположены таким образом, чтобы вектора напряженностей формируемых ими электрических полей были взаимно перпендикулярны и перпендикулярны общей оптической оси, а сами отклоняющие пластины были симметричны друг другу относительно этой оси. Выход синхронизации генератора выталкивающих импульсов 4 соединен со входом синхронизации ионного источника с электронной пушкой 1. Выходы генератора отклоняющих импульсов подключены к одной из отклоняющих пластин 6 каждой пары, вторая отклоняющая пластина каждой пары заземлена. Заземленные сетки 2 заземлены.
Предложенный способ заключается в формировании массовой линии только от одной массы путем отклонения ионов, неудовлетворяющих условию изохронности, системой отклоняющих пластин с периодическим изменением потенциала на них с равными амплитудами и частотами, но со сдвигом фазы на 180°. При этом допускается длительная ионизация, что повышает чувствительность масс-спектрометра.
Ионизация газа производится электронным пучком, который формируется в ионном источнике с электронной пушкой 1, и траектория движения электронов расположена между ускоряющей сеткой 3 и соседней с ней заземленной сеткой 2. Таким образом, будем считать, что ионы пролетают расстояние
Figure 00000013
и оказываются в бесполевом пространстве
Figure 00000014
. Для обеспечения движения ионов параллельно оси масс-спектрометра z в начале бесполевого участка расположен ионный коллиматор 8, который может быть выполнен в виде наборной диафрагмы, линзы Френеля, квадруполя и т.д. Далее ионы попадают в пространство между двумя парами отклоняющих пластин 6, которые расположены таким образом, чтобы вектора напряженностей формируемых ими электрических полей были взаимно перпендикулярны и перпендикулярны оси z.
Сигнал на отклоняющих пластинах имеет вид:
Figure 00000015
где Т - период колебаний, U - амплитуда.
Скорость ионов в направлении приемника ионов (вдоль оси z) определяется выражением:
Figure 00000016
где V0 - начальная скорость иона определяется как тепловая скорость и подчиняется закону Максвелла-Больцмана, е - заряд иона, m - масса иона, U32 - ускоряющее напряжение, t1 - время вылета иона в бесполевой участок
Figure 00000017
В случае постоянного напряжения на ускоряющей сетке скорость (2) можно выразить в виде:
Figure 00000018
Для компенсации начального энергетического разброса ионов напряжение U32 следует выбирать с учетом выполнения условия V>>V0.
Далее ионы движутся равномерно вдоль оси z. В какой-то момент ионы попадают в пространство между отклоняющими пластинами 6. Условие прямолинейности движения вдоль оси z в пространстве дрейфа
Figure 00000019
имеет вид:
Figure 00000020
где Vx и Vy - скорость иона в направлении осей х и у.
Это условие вытекает из того, что половину периода ионы будут отклоняться к одной пластине, а другую половину периода - к противоположенной. Суммарное отклонение при этом будет равно нулю.
Для реализации данного условия (4) предложенным способом длина отклоняющих пластин и период отклоняющих импульсов должны быть связаны зависимостью:
Figure 00000021
где Т - период импульсов на отклоняющих пластинах 6, n - целое натуральное положительное число больше ноля.
То есть время пролета иона между отклоняющими пластинами должно быть кратно периоду меандра отклоняющего напряжения. При использовании только одной пары отклоняющих пластин в формировании массовой линии могут принимать участия ионы, для которых уравнение (5) не выполняется. Фаза меандра на одной паре отклоняющих пластин смещена относительно другой пары отклоняющих пластин. Это необходимо для того, чтобы ионы с массой, отличной от m, не участвовали в формировании массовой линии, так как для них не будет выполняться условие (4). Это вызвано тем, что процесс ионизации не мгновенный и может занимать некоторое время Т0. Предположим, что ионы с массой m1≠m прилетели в пространство отклоняющих пластин позднее или раньше ионов массой m. Учитывая, что скорость V1≠V время пролета тоже будет отличаться. Тогда, если переключение отклоняющего напряжения произойдет в момент, когда ионы будут посередине отклоняющих пластин, то условие (4) выполнится даже при невыполнении условия (5). Вторая пара отклоняющих пластин исключает такое развитие событий, так как выполнит отклонение всех лишних ионов в другой плоскости. При этом добиваться точной фразировки отклоняющих напряжение U1 и U1 не обязательно.
Выбор массы, из которой будет сформирована массовая линия, осуществляется изменением амплитуды выталкивающего импульса, величину которой можно определить из (5) с учетом (3):
Figure 00000022
где n подбирается таким образом, чтобы V>>V0, а nТ не должно превышать времени ионизации Т0.
Таким образом, окончательно уравнение (6) примет вид:
Figure 00000023
где m - масса иона;
n - кратность периода колебаний;
|е| - заряд иона;
Figure 00000024
- расстояние от зоны ионизации до бесполевого участка;
Figure 00000025
- длина отклоняющих пластин.
Длина
Figure 00000019
и напряжение U на отклоняющих пластинах выбирается таким образом, чтобы ионы, для которых не выполняется условие прямолинейности движения вдоль оси z, отклонились на величину, большую размера входного окна приемника ионов 7.
Как видно из (7), длина бесполевого участка
Figure 00000026
не оказывает влияние на формирование массовой линии, а значит этот участок ограничен только конструктивным исполнением ионного коллиматора 8 и может быть уменьшен по сравнению с классическими времяпролетными масс-спектрометрами. Длина второго бесполевого участка
Figure 00000019
зависит только от амплитуды напряжения на отклоняющих пластинах, что позволяет существенно уменьшить размеры масс-спектрометра без потери разрешающей способности.

Claims (27)

  1. Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре, включающий ионизацию атомов в источнике ионов, ускорение ионов выталкивающим импульсом электрического поля, временная зависимость которого имеет вид:
  2. Figure 00000027
  3. где:
  4. Figure 00000028
  5. Figure 00000029
  6. Е0 - напряженность электрического поля;
  7. m - масса иона;
  8. q - заряд иона;
  9. Т - точка расположения массовой линии на временной оси;
  10. l12 - длина бесполевого пространства;
  11. l01 - расстояние от области ионизации до бесполевого пространства;
  12. t0 - длительность, в течение которой напряженность поля постоянна во времени;
  13. VГР - скорость иона, пролетающего ускоряющий промежуток за время t0;
  14. дрейф ионов в бесполевом пространстве, отклонение в бесполевом пространстве поперечным полем всех ионов, вылетевших из ускоряющего промежутка за время t0, и регистрацию ионов в приемнике ионов, отличающийся тем, что, с целью улучшения сепарации выбранной массовой линии и увеличения разрешающей способности и чувствительности, отклонение ионов производится двумя парами отклоняющих пластин, векторы напряженности электрического поля которых взаимно перпендикулярны и перпендикулярны оси движения ионов, и напряжение между которыми имеет вид:
  15. Figure 00000030
  16. где Ux - напряжение между отклоняющими пластинами первой пары;
  17. Uy - напряжение между отклоняющими пластинами второй пары;
  18. U - амплитуда отклоняющих импульсов;
  19. Т - период отклоняющих импульсов;
  20. t - время,
  21. а выталкивающее поле имеет вид:
  22. Figure 00000031
  23. где m - масса иона;
  24. n - кратность периода колебаний;
  25. |е| - заряд иона;
  26. l02 - расстояние от зоны ионизации до бесполевого участка;
  27. l6 - длина отклоняющих пластин.
RU2016145878A 2016-11-22 2016-11-22 Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре RU2644578C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016145878A RU2644578C1 (ru) 2016-11-22 2016-11-22 Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016145878A RU2644578C1 (ru) 2016-11-22 2016-11-22 Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2644578C1 true RU2644578C1 (ru) 2018-02-13

Family

ID=61226733

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016145878A RU2644578C1 (ru) 2016-11-22 2016-11-22 Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2644578C1 (ru)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1691905A1 (ru) * 1988-07-29 1991-11-15 Самарский Авиационный Институт Им.Академика С.П.Королева Способ формировани массовой линии ионов во врем пролетном масс-спектрометре
US20060192110A1 (en) * 2005-02-15 2006-08-31 Shimadzu Corporation Time of flight mass spectrometer
EP1665326B1 (en) * 2003-06-21 2010-04-14 Leco Corporation Multi reflecting time-of-flight mass spectrometer and a method of use
RU113070U1 (ru) * 2011-08-25 2012-01-27 Федеральное государственное унитарное предприятие Экспериментальный завод научного приборостроения со Специальным конструкторским бюро Российской академии наук Масс-спектрометр и отклоняющая магнитная система
RU2458427C2 (ru) * 2006-10-13 2012-08-10 Симадзу Корпорейшн Времяпролетный масс-анализатор с многократными отражениями и времяпролетный масс-спектрометр, включающий в себя данный масс- анализатор

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1691905A1 (ru) * 1988-07-29 1991-11-15 Самарский Авиационный Институт Им.Академика С.П.Королева Способ формировани массовой линии ионов во врем пролетном масс-спектрометре
EP1665326B1 (en) * 2003-06-21 2010-04-14 Leco Corporation Multi reflecting time-of-flight mass spectrometer and a method of use
US20060192110A1 (en) * 2005-02-15 2006-08-31 Shimadzu Corporation Time of flight mass spectrometer
RU2458427C2 (ru) * 2006-10-13 2012-08-10 Симадзу Корпорейшн Времяпролетный масс-анализатор с многократными отражениями и времяпролетный масс-спектрометр, включающий в себя данный масс- анализатор
RU113070U1 (ru) * 2011-08-25 2012-01-27 Федеральное государственное унитарное предприятие Экспериментальный завод научного приборостроения со Специальным конструкторским бюро Российской академии наук Масс-спектрометр и отклоняющая магнитная система

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10727039B2 (en) Mass spectrometer and method for time-of-flight mass spectrometry
CN108022823B (zh) 具有减速级的多反射质谱仪
JP6389762B2 (ja) 多重反射質量分析計
JP6236016B2 (ja) 多重反射質量分析計
US5117107A (en) Mass spectrometer
US8975579B2 (en) Mass spectrometry apparatus and methods
GB2274197A (en) Time-of-flight mass spectrometer
US3576992A (en) Time-of-flight mass spectrometer having both linear and curved drift regions whose energy dispersions with time are mutually compensatory
RU2644578C1 (ru) Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре
CN103531432B (zh) 一种脉冲式离子源、质谱仪及产生离子的方法
EP2958134B1 (en) Ion injection device for a time-of-flight mass spectrometer
CN110534394B (zh) 用于飞行时间(tof)质谱仪的离子前沿倾斜校正
US10438788B2 (en) System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer
EP1737018A2 (en) Detecting ions in a spectrometer
Sudakov et al. TOF systems with two-directional isochronous motion
JP2017195183A (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP5243977B2 (ja) 垂直加速型飛行時間型質量分析計
RU2769377C1 (ru) Времяпролетный масс-спектрометр
JP3967694B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
US6791079B2 (en) Mass spectrometer based on the use of quadrupole lenses with angular gradient of the electrostatic field
CN203481184U (zh) 一种脉冲式离子源及质谱仪
RU2025821C1 (ru) Времяпролетный масс-спектрометр газов
CN207834250U (zh) 一种具有阵列离子光阑结构的多次反射质谱仪
US3745337A (en) Apparatus for separating charged particles according to their respective ranges
Senturk et al. The velocity component effect to the mass resolution within de Heer and Milani criteria

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20201123