JP2006208062A - 接点部材及び、前記接点部材を用いた接点シート、接点基板、ならびに電子機器ユニット - Google Patents

接点部材及び、前記接点部材を用いた接点シート、接点基板、ならびに電子機器ユニット Download PDF

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泰志 岡本
Kaoru Soeda
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Abstract

【課題】 特に前記スパイラル接触子の表面に形成されるAuメッキ層の形成領域を限定することで、前記電子部品と接点部材とを半田付けにて接合したときの電気的特性の安定性や、前記接点部材の損傷等を防止することが可能な接点部材及等を提供することを目的としている。
【解決手段】 Auメッキ層41をスパイラル接触子の変形部の先端領域36bのみに設けている。よって、前記Auメッキ層41を介して前記先端領域36bと電子部品の端子部とを半田接合でき、このとき溶融した半田は前記スパイラル接触子の先端領域36bのみに留まり、スパイラル接触子34の支持部35方向へ伝わって流れない。また、前記端子部と半田接合させたときの接触抵抗も従来に比べて安定させやすい。さらに振動や衝撃によって前記変形部36の先端領域36bと前記接続端子との半田接合部等が損傷を受けるのを適切に防止できる。
【選択図】図2

Description

本発明は、BGAやLGA等の端子を備えた電子部品に対して電気的に接続される接点部材に係わり、特に、前記電子部品と接点部材とを半田付けにて接合したときに電気的特性の安定性や、前記接点部材の損傷等を防止することが可能な接点部材及び、前記接点部材を用いた接点シート、接点基板、ならびに電子機器ユニットに関する。
特許文献1に記載されている半導体検査装置は、半導体を外部の回路基板などに電気的に仮接続させるものである。半導体の背面側には格子状またはマトリックス状に配置された多数の球状接触子が設けられており、これに対向する絶縁基板上には多数の凹部が設けられ、この凹部内にスパイラル接触子が対向配置されている。
前記半導体の背面側を前記絶縁基板に向けて押圧すると、前記球状接触子の外表面に前記スパイラル接触子が螺旋状に巻き付くように接触するため、個々の球状接触子と個々のスパイラル接触子との間の電気的接続が確実に行われるようになっている。
ところで、前記半導体の接続端子とスパイラル接触子とを接合する場合、特許文献1の詳細な説明の[0005]欄に記載されているように、前記接続端子は、半田等で形成されているから、前記スパイラル接触子と当接させた状態で加熱すれば半田付けにて、前記半導体の接続端子とスパイラル接触子とを接合することが可能になっている。
ところで前記スパイラル接触子の表面全体には前記スパイラル接触子の電気伝導性を向上させるためにAuメッキ層を形成することが好ましいとされていた。そして前記Auメッキ層は半田濡れ性にも優れるから、特に従来のスパイラル接触子構造を改良することなく、適切に前記スパイラル接触子と前記半導体の接続端子とを半田接合できると期待された。
特開2002−175859号公報
図16は、特許文献1の図5と同じ図面である。なお部材の名称は特許文献1に記載されている名称をそのまま用いず適宜変更している。
図16に示す電子部品8が下方向へ押圧されると、前記スパイラル接触子2は電子部品8の接続端子7と当接した状態で下方向へ向けて弾性変形する。図16に示す状態で加熱を行なうと、前記接続端子7の表面の半田層が溶ける。このとき前記スパイラル接触子2の表面に半田濡れ性に優れたAuメッキ層が形成されていると、前記スパイラル接触子2と前記接続端子7とが良好に半田接合される。
しかし前記スパイラル接触子2の表面全体がAuメッキ層であると次のような問題点があった。
すなわち、スパイラル接触子2の表面全体がAuメッキ層であると、前記スパイラル接触子2の表面全体が半田濡れ性に優れた状態になっているから、溶融した半田は前記スパイラル接触子2の表面を先端(巻き終端)から後端(巻き始端)方向へ伝って、例えば図16に示す基板6の電極4や接続部5等にまで到達する可能性があった。このとき前記電極4や接続部5が半田濡れ性に優れたAu等で形成されていると半田が前記電極4など思わぬ箇所に付着することで、高周波特性に代表される電気的特性に悪影響を及ぼす結果となった。
またスパイラル接触子2の表面全体が半田濡れ性に優れた状態であるから、スパイラル接触子2はどの位置でも前記接続端子7の表面と半田接合できる状態となっている。このため前記接続端子7に対する前記スパイラル接触子2の半田接合位置が製品によってばらつき易く、この結果、接触抵抗のばらつきが大きくなり易い。あるいは、前記スパイラル接触子2の大部分が前記接続端子7に半田付けにて接合されていると、前記スパイラル接触子2の弾性接点としての機能が適切に働かないため、強い振動・衝撃が前記スパイラル接触子2に与えられたときに、前記接続端子7とスパイラル接触子2との半田接合部等が切断されやすく、また上記のようにスパイラル接触子2の大部分が接続端子7に半田付けにて接合されているとフレッティングコロージョンが生じやすい等、スパイラル接触子2の表面全体にAuメッキ層を施した従来構造では、前記スパイラル接触子2と接続端子7とを半田付けにて接合したときに、電気的特性を安定化できず、またスパイラル接触子2が損傷がうけやすくなっていた。
そこで本発明は上記従来の課題を解決するためのものであり、特に前記スパイラル接触子の表面に形成されるAuメッキ層の形成領域を限定することで、前記電子部品と接点部材とを半田付けにて接合したときの電気的特性の安定性や、前記接点部材の損傷等を防止することが可能な接点部材及び、前記接点部材を用いた接点シート、接点基板、ならびに電子機器ユニットを提供することを目的としている。
本発明は、相手側部材に設けられた端子部との間で半田接合が可能な接点部材であって、
前記接点部材は、支持部と、前記支持部から延出形成された変形部とを有し、前記変形部の先端領域にのみ半田接合層が設けられ、前記半田接合層は前記先端領域のうち、少なくとも前記端子部との当接面に設けられていることを特徴とするものである。
本発明では前記半田接合層を前記変形部の先端領域のみに設けている。よって、前記半田接合層を介して前記接点部材の先端領域と端子部とを半田接合でき、このとき溶融した半田は前記接点部材の先端領域のみに留まり、支持部方向へ伝わって流れない。また、前記変形部の前記端子部に対する半田接合位置も前記先端領域と決まっているから前記端子部と半田接合したときの接触抵抗も従来に比べて安定させやすい。さらに前記変形部の先端領域のみが前記端子部と半田接合され、前記変形部の他の箇所は前記端子部と半田接合されないため前記変形部は、振動や衝撃が加わったときに適切に弾性変形し、衝撃力を前記変形部で緩和できるから、振動や衝撃によって前記変形部の先端領域と前記接続端子との半田接合部等が損傷を受けることを適切に防止できる。
本発明では、前記半田接合層は、前記先端領域から前記支持部方向へ間を空けて前記変形部の後端領域にも設けられていてもよい。
また、前記半田接合層はAuメッキ層であることが好ましい。前記Auメッキ層は半田濡れ性に優れているので、半田接合層として非常に優れた材質である。
また、前記半田接合層が設けられていない領域の表面にはNiメッキ層が露出していることが好ましい。Niメッキ層は半田濡れ性が悪いため、半田は前記Niメッキ層上を伝わって前記支持部方向へ流れることができない。よって溶融した半田を適切に前記変形部の先端領域に設けられた半田接合層上に留めて置くことが出来る。
本発明では、前記変形部は、外周側から内周側に向って螺旋状に延出形成されていることが好ましい。
本発明における接点シートは、上記のいずれかに記載された接点部材と、シート部材とを有し、
前記シート部材には貫通孔が形成され、前記貫通孔の縁部に前記支持部が固定され、かつ前記変形部が前記貫通孔に配置されていることを特徴とするものである。
また本発明における接点基板は、上記に記載された接点シートと、絶縁基板とを有し、
前記絶縁基板には前記貫通孔と高さ方向にて対向する位置にスルーホールが形成されており、前記スルーホールの内周面から絶縁基板の上面にわたって電極が形成され、前記絶縁基板の上面に延出した電極上に前記支持部が接続されていることを特徴とするものである。
上記に記載した接点基板では、特に前記絶縁基板に形成された電極がAu等、半田濡れ性に優れた材質であっても、電子部品を組み込み、半田付けにて前記電子部品の端子部と接点部材とを接合したとき、溶融した半田は、前記スパイラル接触子の先端領域に留まり、支持部方向へ流れないため、従来のように前記電極にまで半田が及ぶということはなく、従来より電気的安定性に優れる接点基板を製造することが出来る。
さらに本発明における電子機器ユニットは、上記に記載された接点基板と、端子部を有する電子部品を有し、
前記端子部は前記変形部の少なくとも先端領域に当接しており、前記端子部と前記変形部の先端領域とが前記半田接合層を介して接合されていることを特徴とするものである。
本発明では、前記電子部品の端子部と、変形部の先端領域とが半田接合層を介して接合され、このように、前記変形部の先端領域が、前記端子部への半田接合位置と決まっているから接触抵抗を従来に比べて安定させやすい。しかも上記したように、溶融半田は前記接点部材の先端領域のみに留まり支持部方向へ伝わって流れない等、従来よりも電気的特性に優れた電子機器ユニットを製造できるし、また、接点部材の変形部は先端領域を除いて前記端子部に半田接合されていないから、従来に比べて弾性変形可能な状態となっており、この結果、強い衝撃等によっても前記接合部材と端子部との接合部等が損傷をうけにくい電子機器ユニットを提供できる。
本発明では半田接合層を接点部材の変形部の先端領域のみに設けている。よって、前記半田接合層を介して前記接点部材の先端領域と電子部品の端子部とを半田接合でき、このとき溶融した半田は前記接点部材の先端領域のみに留まり、接点部材の支持部方向へ伝わって流れない。また、前記変形部の前記端子部に対する半田接合位置も前記先端領域と決まっているから前記端子部と半田接合したときの接触抵抗も従来に比べて安定させやすい。さらに前記変形部の先端領域のみが前記端子部と半田接合され、前記変形部の他の箇所は前記端子部と半田接合されないため前記変形部は、振動や衝撃が加わったときに適切に弾性変形し、衝撃力を前記変形部で緩和できるから、振動や衝撃によって前記変形部の先端領域と前記接続端子との半田接合部等が損傷を受けるのを適切に防止できる。
図1は電子部品の動作を確認するための試験に用いられる検査装置を示す斜視図、図2は本発明におけるスパイラル接触子の斜視図(第1の実施形態)、図3は図2とは異なる形態のスパイラル接触子の斜視図(第2の実施形態)、図4は図2に示すスパイラル接触子を真上から見たときの平面図、図5は本発明における接点基板上に、電子部品の接続端子を当接させる前の前記接点基板と電子部品との部分断面図、図6は、電子部品の接続端子を接点基板上に当接させた状態の前記接点基板と電子部品との部分断面図、図7は、図6に示す接続端子とスパイラル接触子の変形部との部分拡大断面図、図8,図9は、本発明における前記変形部の先端領域の層構造を説明するための部分拡大断面図、図10は、Auメッキ層が形成されていない箇所のスパイラル接触子の層構造を説明するための部分拡大断面図、図11ないし図15は本発明におけるスパイラル接触子の製造方法の一例を説明するための工程図(部分断面図)、である。
図1に示すように、検査装置20はソケット21と、このソケット21の一方の縁部に設けられたひんじ部13を介して回動自在に支持された蓋体12とで構成されている。前記ソケット21および蓋体12は絶縁性の樹脂材料などで形成されており、前記ソケット21の中心部には図示Z2方向に凹となる装填領域21Aが形成されている。そして、前記装填領域21A内に半導体などの電子部品1が装着できるようになっている。またソケット21の他方の縁部には、被ロック部14が形成されている。また蓋体12の縁部にはロック部15が形成されている。
前記装填領域21Aには、図5に示す接点基板31が設けられている。前記接点基板31は、シート部材33とスパイラル接触子34とを有して成る接点シート30と、前記接点シート30の下面側に設けられた絶縁基板32とを有して構成される。図5にはスパイラル接触子34は一つしか図示されていないが、実際にはシート部材33に多数のスパイラル接触子34が設けられている。
本発明における前記スパイラル接触子34は、図2,図4及び図5に示すように、支持部(固定部)35と螺旋形状で形成された変形部36とを有している。前記変形部36は、外周側の巻き始端Eから内周側の巻き終端(自由端)Dに向かって螺旋状に延びており、前記変形部36の外周側の位置で前記巻き始端Eに支持部35が連続して設けられている。
図4に示すように、前記変形部36の先端領域36bは巻き終端Dから、巻き始端E方向へ向う所定の領域である。前記先端領域36bについて定義すると、図4に示すように前記スパイラル接触子34の変形部36の巻き終端Dから巻き始端Eにかけて前記変形部36の幅寸法の中心に中心線Aを引く。前記巻き終端Dから前記中心線A上を辿っていき、このとき前記中心線Aの接線Bに対し直交する方向に直交線Cを引く。中心線A上をある位置まで辿ると直交線Cが最初に前記巻き終端Dに当接した、前記直交線Cの位置を先端領域36bの最後方端36b2とし、前記先端領域36bの後方端36b3は、前記最後方端36b2上あるいは前記最後方端36b2よりも巻き終端E側に設けられる。前記先端領域36bは前記巻き終端Dから前記後方端36b3までの領域である。あるいは、前記スパイラル接触子34の変形部36に、図4と同じように幅方向の中心に中心線Aを引き、巻き終端Dから、巻き始端Eまでの中心線Aの全長に対し、1/20〜1/2程度の長さ寸法の領域を、巻き終端Dから巻き始端E方向へ向けての先端領域36bと定義する。
一方、前記変形部36の後端領域36aは、図2,図4では、巻き始端Eから、先端領域36bの後方端36b3までの領域である。
なお前記後端領域36aの後方端及び前方端は、適宜変更できる。変更した例は図3に示されているが、図3については後で説明する。
図4の実施形態では、変形部36は先端領域36b以外の領域が後端領域36aとして画定されている。
また、領域とは図8で説明すると、スパイラル接触子34の上面、下面及び両側面の全ての面上を指す。
前記シート部材33には、図2,図4,図5に示すように貫通孔33aが形成されており、前記スパイラル接触子34の支持部35は、前記貫通孔33aの周縁部の下面33b(Z2側の面)に対して導電性接着剤などを介して固着されている。前記スパイラル接触子34の変形部36の一部は、図2,図5に示すように前記貫通孔33aを介して前記シート部材33の上面33cから上方(図示Z1方向)へ向けて突出している。
図5に示すように、前記シート部材33の下側には、ガラスエポキシやPWBなどで形成された絶縁基板32が設けられている。前記絶縁基板32には、前記シート部材33に形成された貫通孔33aと高さ方向(図示Z1−Z2方向)にて対向する位置にスルーホール32aが形成されている。前記スルーホール32aの内周面には、導電性材料、例えばAu等で形成された電極37が形成されており、前記電極37は前記絶縁基板32の上面32c及び下面32bの前記スルーホール32aの周縁部にまで延出して形成されている。図5に示すように前記絶縁基板32の上面32cに延出形成された前記電極37は、前記スパイラル接触子34の支持部35上に導電性接着剤等を介して接合されている。また、前記絶縁基板32の下面32bに延出形成された前記電極37は、プリント配線基板38上の接続端子39上に導電性接着剤等を介して導通接続されている。
図2及び図4に示すように、前記スパイラル接触子34の先端領域36bには前記電子部品1の接続端子40との当接面(上面)36b1に、Auメッキ層(半田接合層)41が形成されている。前記Auメッキ層41の形成領域(先端領域36bの当接面36b)を、図2,図4では斜線部で示している。
図8(図2,図4に示すスパイラル接触子の断面図)に示すようにスパイラル接触子34は、銅箔42と、その上に形成されたメッキ層41,43からなり、前記銅箔42はスパイラル接触子形状にエッチング等で形作られている。前記銅箔42の上にNiメッキ層43がメッキ形成されている。さらに前記スパイラル接触子34の先端領域36bの上面(当接面36b1)には、前記Niメッキ層43の上にAuメッキ層41がメッキ形成されている。一方、図10に示すように前記スパイラル接触子34の前記後端領域36aでは、銅箔42の上にNiメッキ層43が形成されているが、前記Niメッキ層43の上にAuメッキ層41は形成されていない。
ここで前記銅箔42の部分は、銅箔以外の材質の箔体で形成されてもよいし、あるいはメッキ層であってもよい。Niメッキ層43は特にスパイラル接触子34の弾性力を向上させるために設けられた層である。前記Niメッキ層43は図2に示す変形部36の後端領域36aの表面に露出している。またNiメッキ層43は半田濡れ性が非常に悪い。このためNiメッキ層43が露出した前記後端領域36aに半田は付き難くなっている。またNiメッキ層43には、Ni以外に元素が添加されていてもよい。メッキ層43は、Niを主体としたメッキ層であっても他の材質のメッキ層であってもよいが、少なくとも半田濡れ性が先端領域36bの当接面36b1よりも悪いことが条件である。Auメッキ層41は、電気伝導性に優れた材質である。このためAuメッキ層41を前記電子部品1の接続端子40に当接させると、スパイラル接触子34と前記電子部品1間の電気伝導性を良好に出来る。前記Auメッキ層41は、半田濡れ性に非常に優れる。このためスパイラル接触子34の変形部36では、先端領域36bが後端領域36aに比べて半田濡れ性に優れた状態になっている。メッキ層41はAuでなくてもよいが少なくとも半田濡れ性が後端領域36aよりも優れている必要があり、半田濡れ性に優れた材質が選択される。
図8,図10では、Niメッキ層43及びAuメッキ層41は前記銅箔42上に電解メッキ法によってメッキ形成されている。図9では、前記銅箔42に無電解メッキ法にてNiメッキ層43及びAuメッキ層41をメッキ形成した実施形態である。無電解メッキ法によりNiメッキ層43は前記銅箔42の周囲全体にメッキ形成され、前記Auメッキ層41はNiメッキ層43の周囲全体にメッキ形成される。すなわち図9の無電解メッキ法では前記Auメッキ層41を前記接続端子40との上面(当接面36b1)以外の面(下面、両側面)にもメッキ形成することが出来る。なお図9は、スパイラル接触子34の先端領域36bでの層構造であり、前記後端領域36aでの層構造は、銅箔42と前記銅箔42の周囲に形成されたNiメッキ層43で構成される。
図1に示すように、装填領域21Aに電子部品1を載せ、このとき図5に示すように、電子部品1の接続端子40を接点基板31側に向け、図1に示す蓋体12を閉じると、前記電子部品1が矢印方向(図5,図示Z2方向)に向けて移動し、前記電子部品1の接続端子40が前記スパイラル接触子34の変形部36を下方向(図示Z2方向)へ向けて押圧する。このとき、少なくとも前記変形部36の先端領域36bの当接面36b1の一部が、前記接続端子40の表面に当接する(図6を参照)。
図6に示す状態で、前記電子部品1に対し所定の電気試験を行なう。図6に示す接点基板31を前記電気試験のためだけに使用するときは、試験終了後、図6の状態から電子部品1を取り外し、新たな電子部品1に対し再び、前記電気試験を行なうが、電気試験によって所定の電気的特性が正常と判断された電子部品1を前記接点基板31に接合させるときは、図6に示す状態から加熱を施す。
図7に示すように前記接続端子40は、樹脂や金属等で形成された端子中心部50の周囲に半田層51が設けられている。図7に示す接続端子40は、BGA(Ball Grid Array:球状接触子)である。
図6の状態で加熱を施すと前記接続端子40の半田層51が溶解し、半田が、スパイラル接触子34の変形部36の先端領域36bの当接面36b1上に流れる。このとき、前記当接面36b1には、Auメッキ層41が露出しているため、半田濡れ性に優れたAuメッキ層41上に良好に半田が流れる。しかし前記Auメッキ層41は、前記変形部36の先端領域36bにのみ設けられ、後端領域36aには半田濡れ性の悪いNiメッキ層43が露出した状態であるから、前記半田は前記変形部36の先端領域36b上にのみ留まり、前記先端領域36bから後端領域36a方向へ向けて流れにくい状態になっている。この結果、半田が、スパイラル接触子34の表面を伝って例えば図6に示す絶縁基板32に形成された電極37等に付着することを適切に回避することが出来る。前記電極37は電気伝導性を良好にすべくAu等で形成される。かかる場合、前記電極37も半田濡れ性が良好であるから、半田が前記スパイラル接触子34の支持部35付近まで流れると、前記支持部35と導電性接着剤等で接合された前記電極37にまで半田が流れる可能性があったが、本発明では、前記半田は前記変形部36の先端領域36bのみに留まるため、半田が前記電極37にまで流れることを防止できる。
図7に示すように、前記スパイラル接触子34の変形部36は、その先端領域36bのみで前記接続端子40に半田接合される。すなわち前記変形部36の後端領域36aが前記接続端子40と半田接合されない。このように前記変形部36における前記接続端子40との半田接合位置は先端領域36bのみと決まっている。しかも通常、前記先端領域36bは螺旋状の巻き中心付近に設けられるから、BGAタイプの接続端子40の大体、真下に前記変形部36の先端領域36bが当接する。従って前記接続端子40と変形部46との半田接合位置がほぼ所定箇所で決まり、この結果、接触抵抗を安定化させることが出来る。
また図7に示すように、前記変形部36はその先端領域36bのみが前記接続端子40と半田接合され、変形部36の後端領域36aは前記接続端子40と半田接合されない。このため前記変形部36の後端領域36aは、依然として弾性力を発揮し、衝撃や振動が加わっても、前記変形部36が上下方向(図示Z1−Z2方向)へ弾性変形することで衝撃力を緩和(吸収)でき、前記先端領域36bと前記接続端子40との接合面に加わる前記衝撃力を低減できる。この結果、強い衝撃や振動が加わっても前記先端領域36bと前記接続端子40との半田接合部あるいは変形部36自体が切断されたりする等の損傷を受けにくい。
本発明では上記のようにスパイラル接触子34の変形部36の先端領域36bにのみ半田濡れ性に優れたAuメッキ層41を設け、前記後端領域36aには半田濡れ性の悪いNiメッキ層43を露出させているため、前記先端領域36bと接続端子40とを半田接合しても、半田がスパイラル接触子34の表面を伝わって前記変形部36の後端領域36a上に流れず、半田が絶縁基板32の電極37などに付着するのを抑制でき、また前記変形部36と接続端子40との半田接合をほぼ所定位置で行なうことが出来るから接触抵抗も安定化でき、高周波特性に代表される電気的特性を従来に比べて安定化でき、さらに振動・衝撃によって前記変形部36と接続端子40との半田接合部等が損傷することを適切に防止でき、さらにフレッティングコロージョンの発生も抑制できる。
図5,図6及び図7での接続端子40はBGA構造であったが、LGA(Land Grid Array:平面状接触子)構造であってもよい。
図3のように、前記Auメッキ層41の形成領域を先端領域36bのみならず、前記先端領域36bから所定の間隔を空けて前記スパイラル接触子34の変形部36の後端領域36aにも前記Auメッキ層60を設けてもよい。このとき、前記先端領域36bに形成されたAuメッキ層41と後端領域36aに形成されたAuメッキ層60との間の中間領域36cには、Niメッキ層43が表面に露出した状態になっている。
図2の実施形態では、前記後端領域36aの前方端が、前記先端領域36bの後方端36b3と一致しており、すなわち図2は変形部36を先端領域36bと後端領域36aとに画定していたが、図3の実施形態では、前記後端領域36aの前方端36a1を、前記先端領域36bの後方端36b3よりも、前記巻き始端E側にずらし、前記先端領域36bと後端領域36aとの間に中間領域36cを設けている。
前記Auメッキ層41,60はNiメッキ層43に比べて電気伝導性に優れ、しかも錆び等の腐食に強いといったメリットがある。またAuメッキ層41,60はNiメッキ層43に比べて半田濡れ性が良好である。図3に示す実施形態では、前記Auメッキ層41,60は中間領域36cの部分で分断されているから、スパイラル接触子34の先端領域36bと前記接続端子40とが半田にて接合されるとき、溶融した半田は、前記先端領域36bに留まる。すなわち、半田は、中間領域36cを越えて、後端領域36aに形成された前記Auメッキ層60にまで流れることがない。従って半田が絶縁基板32の電極37などに付着するのを抑制でき、高周波特性に代表される電気的特性を従来に比べて安定化できる。また図3に示す実施形態では、前記Auメッキ層60の形成領域の後方端を前記巻き始端E上ではなく巻き終端D寄りにすることも出来る。これによって前記巻き始端Eと前記後端領域36aの後方端との間に隙間(最後端領域)が生まれ、この隙間にNiメッキ層を露出させておくことで、仮に、前記後方領域36aのAuメッキ層60上に半田が付着した場合でも、前記半田が、後方領域36a上に留まり、前記支持部35方向へ流れず絶縁基板32の電極37などに付着するのを抑制することが出来る。
図11ないし図15を用いて本発明におけるスパイラル接触子34の製造方法について説明する。
図11に示す符号70は、銅などで形成された基台であり、前記基台70上に銅箔42を貼り付ける。図12に示す工程では図示しないレジスト層を前記銅箔42上に塗布し、露光現像にてスパイラル接触子形状の前記レジスト層を前記銅箔42上に残す。前記レジスト層に覆われていない銅箔42をエッチング等で除去すると図12に示すように、前記基台70上にスパイラル接触子34形状の銅箔42が残される。スパイラル接触子34は図4に示すように、支持部35と前記支持部35から螺旋形状に延出する変形部36とで構成される。
次に前記スパイラル接触子34上にNiメッキ層43を電解メッキ法にてメッキ形成する。次に図13に示す工程では、前記スパイラル接触子34のうち、前記スパイラル接触子34の変形部36の先端領域36b以外の前記スパイラル接触子34上及び基台70上にレジスト層71を塗布する。そして電解メッキ法にてAuメッキ層41を前記先端領域36bのNiメッキ層43上にのみメッキ形成する。そして前記レジスト層71を除去する。
図14に示す工程では、予め貫通孔33aが形成されたシート部材33を前記スパイラル接触子34の支持部35上に導電性接着剤等を用いて貼り付ける。このとき前記貫通孔33aから前記スパイラル接触子34の変形部36が露出するように位置合わせを行ない、前記支持部35をシート部材33に形成された前記貫通孔33aの周縁部の下面に接合する。これによって接点シート30が完成する。次に前記基台70を前記接点シート30から外し、図15の状態から前記スパイラル接触子34の変形部36を上方へ螺旋階段状に突出させるためのフォーミングを行い、その後、絶縁基板32と前記接点シート30とを接合すれば、接点基板31が完成し、さらに電子部品1の接続端子40を前記スパイラル接触子34の変形部36上に当接させ加熱して前記変形部36の先端領域36bと前記接続端子40とを半田接合すれば、電子機器ユニットが完成する。
なおスパイラル接触子34の製造方法は、図11ないし図15に示す工程のものに限らない。例えばスパイラル接触子34の上面全面にNiメッキ層43およびAuメッキ層41をメッキ形成した後、不要な箇所のAuメッキ層41をエッチング等にて除去してもよい。図3に示すスパイラル接触子34も図11ないし図15に示す工程を利用して、図13工程時のときにスパイラル接触子34の先端領域36b上のみらなず後端領域36a上にもレジスト層を設けず、前記後端領域36a上にもAuメッキ層がメッキ形成されるようにしておけばよい。
また本実施形態の接点部材はスパイラル接触子であったが、本発明では前記接点部材の変形部の形状をスパイラル形状に限定するものではない。前記接点部材の変形部は単なる直線的な棒形状などであってもよい。
電子部品の動作を確認するための試験に用いられる検査装置を示す斜視図、 本発明におけるスパイラル接触子の斜視図、 図2とは異なる形態のスパイラル接触子の斜視図、 図2に示すスパイラル接触子を真上から見たときの平面図、 本発明における接点基板上に、電子部品の接続端子を当接させる前の、前記接点基板と電子部品との部分断面図、 電子部品の接続端子を接点基板上に当接させた状態の前記接点基板と電子部品との部分断面図、 図6に示す接続端子とスパイラル接触子の変形部との部分拡大断面図、 本発明における前記変形部の先端領域の層構造を説明するための部分拡大断面図、 図8とは異なる形態であって、前記変形部の先端領域の層構造を説明するための部分拡大断面図、 Auメッキ層が形成されていない箇所(後端領域)のスパイラル接触子の層構造を説明するための部分拡大断面図、 スパイラル接触子の製造方法の一例を説明するための工程図(部分断面図)、 図11の次に行なわれる工程図(部分断面図)、 図12の次に行なわれる工程図(部分断面図)、 図13の次に行なわれる工程図(部分断面図)、 図14の次に行なわれる工程図(部分断面図)、 従来の接点基板の構造について問題点を説明するための、前記接点基板及び電子部品の部分断面図、
符号の説明
1 電子部品
20 検査装置
30 接点シート
31 接点基板
32 絶縁基板
33 シート部材
34 スパイラル接触子
35 支持部
36 変形部
36a 後端領域
36b 先端領域
37 電極
40 接続端子
41、60 Auメッキ層
42 銅箔
43 Niメッキ層
50 半田層
70 基台
71 レジスト層

Claims (8)

  1. 相手側部材に設けられた端子部との間で半田接合が可能な接点部材であって、
    前記接点部材は、支持部と、前記支持部から延出形成された変形部とを有し、前記変形部の先端領域にのみ半田接合層が設けられ、前記半田接合層は前記先端領域のうち、少なくとも前記端子部との当接面に設けられていることを特徴とする接点部材。
  2. 前記半田接合層は、前記先端領域から前記支持部方向へ間を空けて前記変形部の後端領域にも設けられている請求項1記載の接点部材。
  3. 前記半田接合層はAuメッキ層である請求項1記載の接点部材。
  4. 前記半田接合層が設けられていない領域の表面にはNiメッキ層が露出している請求項1ないし3のいずれかに記載の接点部材。
  5. 前記変形部は、外周側から内周側に向って螺旋状に延出形成されている請求項1ないし4のいずれかに記載の接点部材。
  6. 請求項1ないし5に記載された接点部材と、シート部材とを有し、
    前記シート部材には貫通孔が形成され、前記貫通孔の縁部に前記支持部が固定され、かつ前記変形部が前記貫通孔に配置されていることを特徴とする接点シート。
  7. 請求項6に記載された接点シートと、絶縁基板とを有し、
    前記絶縁基板には前記貫通孔と高さ方向にて対向する位置にスルーホールが形成されており、前記スルーホールの内周面から絶縁基板の上面にわたって電極が形成され、前記絶縁基板の上面に延出した電極上に前記支持部が接続されていることを特徴とする接点基板。
  8. 請求項7に記載された接点基板と、端子部を有する電子部品を有し、
    前記端子部は前記変形部の少なくとも先端領域に当接しており、前記端子部と前記変形部の先端領域とが前記半田接合層を介して接合されていることを特徴とする電子機器ユニット。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2451356C1 (ru) * 2011-03-31 2012-05-20 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-Технический Центр Информационные Технологии" (НТЦ Информационные Технологии) Контакт электрический
JP2017096722A (ja) * 2015-11-20 2017-06-01 日本電子材料株式会社 コンタクトプローブ
WO2019211988A1 (ja) * 2018-05-02 2019-11-07 北川工業株式会社 コンタクト

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0215662A (ja) * 1988-07-01 1990-01-19 Fujitsu Ltd 集積回路のリードメッキ方法
JP2002175859A (ja) * 2000-09-26 2002-06-21 Yukihiro Hirai スパイラルコンタクタ、これを用いた半導体検査装置及び電子部品

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0215662A (ja) * 1988-07-01 1990-01-19 Fujitsu Ltd 集積回路のリードメッキ方法
JP2002175859A (ja) * 2000-09-26 2002-06-21 Yukihiro Hirai スパイラルコンタクタ、これを用いた半導体検査装置及び電子部品

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2451356C1 (ru) * 2011-03-31 2012-05-20 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-Технический Центр Информационные Технологии" (НТЦ Информационные Технологии) Контакт электрический
JP2017096722A (ja) * 2015-11-20 2017-06-01 日本電子材料株式会社 コンタクトプローブ
WO2019211988A1 (ja) * 2018-05-02 2019-11-07 北川工業株式会社 コンタクト
CN112437999A (zh) * 2018-05-02 2021-03-02 北川工业株式会社 接触件
US11121494B2 (en) 2018-05-02 2021-09-14 Kitagawa Industries Co., Ltd. Contact
CN112437999B (zh) * 2018-05-02 2022-08-23 北川工业株式会社 接触件

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