JP2006203823A - 光スプリッタ及び光スプリッタ監視システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本願発明に係る光スプリッタ監視システムは光ファイバ伝送路を介し、光スプリッタの光入力端子に光パルスを入力し、各光出力端子の端面で反射する反射光パルスを測定することとした。光スプリッタの光出力端子の状態及び異常により反射光パルスのパルス強度が変化するため、遠隔から光スプリッタの接続状態を容易に確認することができ、PONの管理の作業性を向上させることができる。
【選択図】図1
Description
図1は、本願第一の発明の一実施形態である光スプリッタ101を備えた本願第二の発明の一実施形態である光スプリッタ監視システム111を示す図である。
なお、図3における光スプリッタ監視システム111の光スプリッタ101においては、結合分岐部15とは別に設けられた終端器接続用の結合分岐部にピグテイル光ファイバを介して終端器19を接続してもよい。
図7は、本願第三の発明の一実施形態である光スプリッタ102を使用した本願第五の発明の一実施形態である光スプリッタ監視システム112を示す図である。
図10は、本願第四の発明の一実施形態である光スプリッタ103を使用した本願第五の発明の他の実施形態である光スプリッタ監視システム113を示す図である。
図13は、本願第一の発明に係る光スプリッタの他の実施形態である光スプリッタ101aを示す図である。
図16は本願第三の発明に係る光スプリッタの他の実施形態である光スプリッタ103aを示す図である。
111、111a、112、113、113a 光スプリッタ監視システム
15 結合分岐部
17 プレーナ型光導波路
18 光終端回路
19 終端器
21、22 光入力端子
21a、22a ピグテイル光ファイバ
31、32、33、34、35、36、37、38 光出力端子
31a、32a、33a、34a、35a、36a、37a、38a ピグテイル光ファイバ
51 光ファイバ伝送路
52 光パルス試験器
71 延伸用光ファイバ
81、82、91、92、93、94、95、96、97、98、99 波形
Claims (11)
- M(M:1以上の整数)個の光入力端子からの入力光を分岐してN(N:2以上の整数)個の光出力端子に出力する光スプリッタであって、前記M個の光入力端子のうち一つの光入力端子の端面から前記N個の光出力端子の各端面までの光路長が前記N個の光出力端子毎に固有値を有することを特徴とする光スプリッタ。
- 前記N個の光出力端子のうち一つの光出力端子に所定の反射減衰量を有する終端器を備えたことを特徴とする請求項1に記載の光スプリッタ。
- 前記N個の光出力端子は、それぞれ、(1)所定の反射減衰量を有する終端器が接続されているか、(2)光コネクタにより延伸用光ファイバが前記所定の反射減衰量と異なる反射減衰量で接続されているか、(3)空気にさらされているか、の何れかであることを特徴とする請求項1に記載の光スプリッタ。
- 前記M個の光入力端子からの入力光を前記N個の光出力端子へ分岐する光分岐回路と、
前記光分岐回路の出力の一つを前記所定の反射減衰量とする光終端回路と、
を基板上に有するプレーナ型光導波路を備えたことを特徴とする請求項1又は3に記載の光スプリッタ。 - 請求項1から4に記載するいずれかの光スプリッタと、
光ファイバ伝送路を介して接続される前記光スプリッタの前記M個の光入力端子のうちの一つの光入力端子に光パルスを入力し、前記入力した光パルスが前記光スプリッタの前記N個の光出力端子の各端面で反射する反射光パルスのパルス強度及び前記N個の光出力端子までの伝搬往復時間により前記光スプリッタの前記光出力端子における接続状況を監視する光パルス試験器と、
を備える光スプリッタ監視システム。 - 前記光スプリッタの前記N個の光出力端子毎に有する前記固有値の差が前記光パルス試験器の距離分解能より長いことを特徴とする請求項5に記載の光スプリッタ監視システム。
- M(M:1以上の整数)個の光入力端子からの入力光を分岐してN(N:2以上の整数)個の光出力端子に出力する光スプリッタであって、前記M個の光入力端子のうち一つの光入力端子の端面から前記N個の光出力端子の各端面までの光路長が全て同じであることを特徴とする光スプリッタ。
- M(M:1以上の整数)個の光入力端子からの入力光を分岐してN(N:2以上の整数)個の光出力端子に出力する光スプリッタであって、前記N個の光出力端子のうち一つの光出力端子に所定の反射減衰量を有する終端器が設置され、前記M個の光入力端子のうち一つの光入力端子の端面から前記終端器が設置されていない光出力端子の各端面までの光路長が全て同じであり、かつ前記一つの光入力端子の端面から前記終端器が設置された光出力端子の端面までの光路長が前記終端器が設置されていない光出力端子の各端面までの光路長と異なることを特徴とする光スプリッタ。
- 前記M個の光入力端子からの入力光を前記N個の光出力端子へ分岐する光分岐回路と、
前記光分岐回路の出力の一つを前記所定の反射減衰量とする光終端回路と、
を基板上に有するプレーナ型光導波路を備えたことを特徴とする請求項7に記載の光スプリッタ。 - 請求項7、8又は9に記載する光スプリッタと、
光ファイバ伝送路を介して接続される前記光スプリッタの前記M個の光入力端子のうちの一つの光入力端子に光パルスを入力し、前記入力した光パルスが前記光スプリッタの前記N個の光出力端子の各端面で反射する反射光パルスのパルス強度及び前記N個の光出力端子までの伝搬往復時間により前記光スプリッタの前記光出力端子における接続状況を監視する光パルス試験器と、
を備える光スプリッタ監視システム。 - 請求項8又は9に記載する光スプリッタと、
光ファイバ伝送路を介して接続される前記光スプリッタの前記M個の光入力端子のうちの一つの光入力端子に光パルスを入力し、前記入力した光パルスが前記光スプリッタの前記N個の光出力端子の各端面の間で反射する反射光パルスのパルス強度及び前記N個の光出力端子までの伝搬往復時間により前記光スプリッタの前記光出力端子における接続状況を監視する光パルス試験器と、
を備える光スプリッタ監視システムであって、
前記光スプリッタにおける前記M個の光入力端子のうちの一つの光入力端子の端面から前記終端器が接続された光出力端子の端面までの光路長又は前記光終端回路の光路長と前記終端器が接続されていない光出力端子の各端面までの光路長との差長が前記光パルス試験器の距離分解能より長いことを特徴とする光スプリッタ監視システム。
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