JP2001174655A - 双方向通信光モジュール用素子及びその検査方法 - Google Patents
双方向通信光モジュール用素子及びその検査方法Info
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Abstract
通信モジュール用素子及びその検査法を提供する。 【解決手段】導波路3と発光素子4と受光素子5とが搭
載または形成され、導波路3が、発光素子ポート12と
受光素子ポート11とに対する入出力ポート7とモニタ
ポート18とを有し、光を分岐結合するためのX字型分
岐部10を備えている双方向通信光モジュール用素子で
あって、発光素子4から発光し、導波路コアに結合し、
モニタポート18を介して伝搬してきた光をフレネル反
射させ、受光素子5で検出することにより、組み立て途
中で不良を早期検出できる。
Description
LD(Laser Diode)やLED(Light
Emitting Diode)等の発光素子及びP
D(PhotoDiode)等の受光素子が搭載又は形
成された双方向通信光モジュール用素子及びその検査方
法に関するものである。
ルでは小型化及び低価格化が重要課題である。この課題
を解決するために基板上に導波路を形成し、また、その
基板上にLD及びPDを表面実装した光モジュール用素
子が検討されてきている。ここでは、発光素子の例をL
D、受光素子の例をPDとして説明する。
ュール用素子の外観斜視図である。同図に示す光モジュ
ール用素子1は基板2に導波路3が形成ている。基板2
の片端にはLD4及びPD5が表面実装され、反対側に
はファイバ6が取付けられている。
3を伝搬する光を順をおって説明する。まず光ファイバ
6から入射された光は入出力ポート7から導波路コア8
に結合し、Y字型分岐部17で所望の分配比で分岐され
受光素子(PD)ポート11を通過してPD5へ達す
る。一方、LD4から出射された光は発光素子(LD)
ポート12から導波路コア8に結合し、Y字型分岐部1
7、入出力ポート7、光ファイバ6へと導波される。
おって説明する。
する。実装は高精度にLD4及びPD5の位置決めを行
うパッシブアライメントにより行う。この方法はLD4
及びPD5とそれらを実装する基板2に設けたマーカ
(図示せず)を同時認識する事により素子を位置決め実
装するものであり、また、光学レンズを用いないため、
量産化、低コスト化に適した工法である。
決めして固定し、光モジュールが完成する。なお、簡単
のため、光モジュール用素子1を覆う金属や樹脂のパッ
ケージは省略している。
なっている光モジュール用素子では、使用されるLD、
PD、導波路等の各部品にも低価格が要求されており、
その検査も抜き取り検査となっている。各部品において
は抜き取り検査を可能とするために品質の安定が検討さ
れているが、突発的に不良が起こった場合、抜き取り検
査で検出できない場合がある。また、LD4、PD5を
基板2に搭載する際にも突発的に位置ずれが発生する可
能性がある。LD4、PD5が搭載された光モジュール
用素子1の特性検査は、入出力ポート7にファイバ6を
位置決め、固定を行い、光モジュール用素子として完成
形にしてからファイバを通じて光を入出力させることに
より行っていた。このため不良品についてはファイバ位
置決め、固定の加工費及びファイバの部材費が無駄にか
かり、光モジュール用素子及びそれを用いた光モジュー
ルの低価格化を妨げる要因となっていた。
段階で不良の早期検出を行い、無駄な加工費、及び部材
費を削減する事により、光モジュール用素子及びそれを
用いた光モジュールの低価格化を実現する事にある。
に、基板上に導波路と発光素子と受光素子とが搭載また
は形成され、導波路が発光素子ポートと受光素子ポート
とに対する入出力ポートとモニタポートとを有し、光を
分岐結合するためのX字型分岐部を備えている双方向通
信光モジュール用素子であって、発光素子から発光し、
導波路コアに結合し、モニタポートを介して伝搬してき
た光をフレネル反射させるためのフレネル反射部が形成
されている事を特徴とする。
ジュール用素子は、発光素子の発光面が受光素子の受光
面に対し、後ろに位置していることを特徴とする。
ュール用素子は、導波路のコア周辺に、クラッドモード
を除去する構造を有していることを特徴とする。
ュール用素子は、導波路端面を斜め研磨することを特徴
とする。
図面に基づいて詳述する。
素子及びその検査法の一実施の形態を示す斜視図であ
る。尚、図3に示した従来例と同様の部材には共通の符
号を用いた。
2の一方の側にはLD及びPD搭載部13が形成されて
いる。搭載部13にはLD4及びPD5が導波路コア8
と光軸が一致するように搭載されている。これらのLD
4及びPD5は基板2上に直接形成してもよい。
光を分岐結合するため、LDポートとPDポートに対
し、光信号が入出力する入出力ポートと検査用のモニタ
ポート18を有している。なお、X字型分岐部10はY
字型分岐部が2つ連結した構造でもよい。導波路3はX
字型分岐部10及びLD4から導波路コア8に結合した
光を検査用のモニタポート18を介してフレネル反射さ
せるフレネル反射部14を有している。具体的には、開
口部のような切断面、または、導波路コア8と屈折率が
不整合でかつ除去可能な材料で充填すれば良い。
側の入出力ポート7の端面には最終工程で光ファイバ接
続する。上記構成によりLD4に通電させて得られる出
射光は導波路コア8に結合し、検査用のモニタポート1
8を介して、フレネル反射部14で一定の反射損失で反
射し、再びX字型分岐部10を通り、PD5で受光され
る。この際のPD5の受光電流から組み立て途中工程で
の良否判定が可能となる。
4を導波路コア8と屈折率マッチングのとれた部材で充
填することにより、光モジュール用素子の完成時にはフ
レネル反射部14で反射、PD5へ到達する光は除去さ
れる。
素子及びその検査法の一実施の形態を示す斜視図であ
る。ここで、導波路3の入出力ポート7との接続面は反
射戻り光対策として8°で斜め研磨されている。
後方に配置することによって、PD5に漏れ込む光を防
ぐことができる。具体的には、基板2のPD5搭載部と
LD4搭載部を図示の通り、クラッド部9に段差を設け
て分離してあり、これによりLD4の出射光の内、導波
路コア8と光学的に結合しなかった迷光がPD5に漏れ
こむ事が防げ、より精度の高い検査が可能となる。
導波路3の入出力ポート7との接続面側に設置して受光
電流を測定することにより、不良の要因がLD側、PD
側のどちらに存在しているかを判別することができる。
の際には、クラッド部を伝搬する光、いわゆるクラッド
モードを除去する必要がある。そこで、導波路コア8の
近傍にクラッド除去部15を形成する。クラッド除去部
15には遮光性部材が充填されていてもよい。クラッド
モード除去部15により、導波路クラッド9を伝搬する
光を遮断できる。
信モジュール用素子において、不良を組み立て工程途中
で早期検出を簡便に行い、且つ、不良要因がLD側、P
D側のどちら存在しているかを判別することができ、無
駄な加工費及び部材費を削減する事により低価格な光モ
ジュールを提供することができる。
効果を発揮する。
双方向通信光モジュール用素子及びその検査法を提供す
る。これにより無駄な加工費及び材料費を削減する事が
でき、低価格な光モジュールを提供する事が可能とな
る。
の検査法の一実施の形態を示す外観斜視図である。
の検査法実施の他の形態を示す外観斜視図である。
Claims (5)
- 【請求項1】基板上に導波路と発光素子と受光素子とが
搭載または形成され、 上記導波路が、上記発光素子ポートと上記受光素子ポー
トとに対する入出力ポートとモニタポートとを有し、光
を分岐結合するためのX字型分岐部を備えている双方向
通信光モジュール用素子であって、 上記発光素子から発光し、上記導波路コアに結合し、上
記モニタポートを介して伝搬してきた光をフレネル反射
させるためのフレネル反射部が形成されている事を特徴
とする双方向通信光モジュール用素子。 - 【請求項2】前記発光素子の発光面が前記受光素子の受
光面に対し、後ろに位置していることを特徴とする請求
項1記載の双方向通信光モジュール用素子。 - 【請求項3】前記導波路のコア周辺に、クラッドモード
を除去するための構造を有した請求項1から請求項2の
いずれかに記載の双方向通信光モジュール用素子。 - 【請求項4】前記入出力ポート端面を斜め研磨した請求
項1から請求項3のいずれかに記載の双方向通信光モジ
ュール用素子。 - 【請求項5】請求項1から4のいずれかに記載の双方向
通信光モジュール用素子の検査法であって、 前記発光素子に通電、発光させ、前記入出力ポートから
出射する光を大口径受光素子で検出し、 前記フレネル反射部での反射した光を前記受光素子で検
出する事を特徴とする双方向通信光モジュール用素子の
検査方法。
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JP35546399A JP3709313B2 (ja) | 1999-12-15 | 1999-12-15 | 双方向通信光モジュール用素子及びその検査方法 |
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1999
- 1999-12-15 JP JP35546399A patent/JP3709313B2/ja not_active Expired - Fee Related
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