JP2001050857A

JP2001050857A - 光線路試験システム

Info

Publication number: JP2001050857A
Application number: JP11225085A
Authority: JP
Inventors: Yoshitaka Enomoto; 圭高榎本; Junji Odo; 淳司大堂; Naoki Nakao; 直樹中尾
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date: 1999-08-09
Filing date: 1999-08-09
Publication date: 2001-02-23

Abstract

(57)【要約】【課題】通信設備ビルに直接収容されていない光ファ
イバケーブルの試験を行うことができる光線路試験シス
テムを提供する。【解決手段】光線路に、通信設備ビルで、光パルス試
験器及び光ファイバに光パルス試験器からの試験光を挿
入する光カプラーが挿入され、各伝送装置の前に、通信
光を透過し試験光を遮断する光フィルタが挿入され、中
継点となるビルでは、受信側光ファイバと送信側光ファ
イバとの間に、それぞれの光ファイバに対応して一対二
の光カプラーを有し、受信側の該光カプラーでは、入力
光のうち通信光を伝送装置へ、試験光を送信側の光カプ
ラーへそれぞれ送り、送信側の該光カプラーでは、伝送
装置からの通信光と受信側の光カプラーからの試験光と
を合波して送信側の光ファイバに送る構成を有する光回
路が挿入された構成を具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバを媒体
とする光通信システムにおける光ファイバケーブルの試
験監視システムに関し、特に、通信回線が使用状態でも
通信に影響することなく、光パルス試験器を用い、複数
の心線の中の任意の光ファイバについて、接続点の接続
損失及び反射減衰量の測定、光ファイバ区間の損失の測
定、故障位置の探索等を行うための光線路試験システム
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１は、通信回線を使用している状態で
光ファイバケーブルの試験及び監視を行うシステムの構
成を示すブロック図である。この試験システムは、試験
及び監視の対象となる光ファイバ51を媒体として光信号
を送出する光送受信部12及び22、光送受信部12及び22を
収容する伝送装置11及び21、光ファイバ51に試験光を挿
入する光カプラー14、心線選択装置15、ＯＴＤＲ（光パ
ルス試験器）16、伝送装置11及び21の前で波長λ1 の信
号光を透過し波長λ2 の試験光を遮断する光フィルタ13
及び23を含む。光カプラー14は、四つの入出力ポート
Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤを有し、ポートＡ及びＣには光通信を
行う光ファイバ51が接続され、ポートＢ及びＤには１×
Ｎの心線選択装置15が接続され、心線選択装置15の可動
側には、試験光として波長λ2 のパルス光を出力するＯ
ＴＤＲ16が接続されている。光送受信部12、光カプラー
14、心線選択装置15及びＯＴＤＲ16は通信設備ビル１に
設置され、光送受信部22は他のビル２に設置されてい
る。通信設備ビル１と他のビル２とは、光ファイバケー
ブル52で接続されている。

【０００３】ここで、ＯＴＤＲ16を用いて光ファイバケ
ーブル52に収容されている光ファイバ51を測定する際、
光カプラー14のポートＢとＯＴＤＲ16とを接続するよう
に、心線選択装置15を動作させる。このようにして、Ｏ
ＴＤＲ16により光ファイバ51を測定して光ファイバ51の
状態を知ることができる。この場合、光送受信部12及び
22の前にある光フィルタ13及び23でＯＴＤＲ16からの波
長λ2 の試験光を遮断するので、光送受信部12と光送受
信部22との間の波長λ1 による光通信に対して影響を与
えることなく、任意の光ファイバの試験を行うことがで
きる。

【０００４】しかしながら、このような光線路試験シス
テムにおいては、通信設備ビル１に直接収容されている
光ファイバを含む光ファイバケーブル以外は試験するこ
とができない。従って、新しい他のビルを建設し、他の
ビル２とその新しい他のビルとの間に光ファイバケーブ
ルを新たに敷設した場合には、その新たに敷設したケー
ブルは通信設備ビル１に直接収容されていないので試験
することができないという問題がある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたものであり、通信設備ビルに直接収
容されていない光ファイバケーブルの試験を行うことが
できる光線路試験システムを提供することを目的とす
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の光線路試験シス
テムは、上記の目的を達成するため、光線路に、通信設
備ビルで、光パルス試験器及び光ファイバに光パルス試
験器からの試験光を挿入する光カプラーが挿入され、各
伝送装置の前に、通信光を透過し試験光を遮断する光フ
ィルタが挿入され、中継点となるビルの受信側光ファイ
バと送信側光ファイバとの間に、それぞれの光ファイバ
に対応して一対二の光カプラーを有し、受信側の該光カ
プラーでは、入力光（ポートＸ）のうち通信光を伝送装
置（ポートＹ）へ、試験光を送信側の光カプラー（ポー
トＺ）へそれぞれ送り、送信側の該光カプラーでは、伝
送装置からの通信光（ポートＹ）と受信側の光カプラー
からの試験光（ポートＺ）とを合波して送信側の光ファ
イバ（ポートＸ）に送る構成を有する光回路が挿入さ
れ、通信設備ビルから複数の他のビルに敷設された光フ
ァイバを試験できる構成を具備することを特徴とする。

【０００７】本発明の光線路試験システムは、また、通
信設備ビル及び複数の他のビルの伝送装置が光ファイバ
によって環状に接続され、通信設備ビルで、双方の光フ
ァイバに光パルス試験器からの試験光を挿入する光カプ
ラーが挿入され、通信設備ビルから複数の他のビルに敷
設された光ファイバを双方向から試験できるようにして
もよい。

【０００８】本発明の光線路試験システムは、また、前
記光回路が、平面基板上又は光ファイバで構成された複
数の光カプラー、該光カプラーの各ポートと端子とを結
ぶ光導波路又は光ファイバ及び１個の光フィルタを具
え、該光カプラーが、ポートＸとポートＹとの間では通
信光に比べて試験光の損失が大きく、ポートＸとポート
Ｚとの間では試験光に比べて通信光の損失が大きい光学
特性を有し、該光フィルタが、通信光のみを透過する光
学特性を有し、複数の光導波路又は光ファイバに一括し
て挿入された構成を具備する光カプラーモジュールであ
ってもよい。

【０００９】本発明の光線路試験システムは、また、前
記光回路が、基板上に形成されたポートＸとポートＹと
を結ぶ光導波路からポートＺとなる光導波路の分岐点
に、通信波長はポートＸとポートＹとの方向に透過し、
試験波長はポートＸ方向からポートＺ方向に又はポート
Ｚ方向からポートＸ方向に反射する、光フィルタが挿入
された構成を具備する光カプラーモジュールであっても
よい。

【００１０】

【発明の実施の形態】次に、図面を用いて本発明の実施
例を説明する。

【００１１】〔実施例１〕図２は、本発明の光線路試験
システムの第１実施例を説明する図であり、図１の構成
に加えて、ビル２とビル３との間に光ファイバ53を含む
光ファイバケーブル54が敷設された構成を示す。光ファ
イバ53の両端には、光送受信部24及び光送受信部32がそ
れぞれ接続されている。ここで、光ファイバ53を通信設
備ビル１に設置されているＯＴＤＲ16によって試験でき
るようにするため、ビル２に二つの光カプラー26、27及
び光フィルタ28を設置する。使用する光カプラー26及び
27は、図３(a) に示すように、Ｘ、Ｙ及びＺの三つの光
入出力ポートを具え、ポートＸの入力はポートＹ及びポ
ートＺに出力され、ポートＹの入力及びポートＺの入力
はポートＸに出力される。ここでは、光カプラー26のポ
ートＸは光ファイバ51に、ポートＹは光フィルタ23を介
して光送受信部22に、ポートＺは光フィルタ28を介して
光カプラー27のポートＺに、それぞれ接続され、光カプ
ラー27のポートＸは光ファイバ53に、ポートＹは光フィ
ルタ25を介して光送受信部24に、ポートＺは光フィルタ
28を介して光カプラー26のポートＺに、それぞれ接続さ
れている。光フィルタ28は光送受信部12と光送受信部21
との間の通信光が光送受信部24と光送受信部32との間の
通信に影響を与えないように、波長λ1 の通信光を遮断
し、波長λ2 の試験光のみを透過する光学特性を有す
る。

【００１２】このような構成により、通信設備ビル１に
設置されているＯＴＤＲ16からの波長λ2 の試験光は、
心線選択装置15、光カプラー14、光ファイバ51、光カプ
ラー26、光フィルタ28及び光カプラー27を経由して、光
ファイバ53に入射され、光ファイバ53を伝搬してビル３
の伝送装置31の前に設置されている光フィルタ33によっ
て遮断され、一方、通信設備ビル１に設置されている光
送受信部12からの通信光は、光フィルタ13、光カプラー
14、光ファイバ51、光カプラー26及び光フィルタ23を経
由して、光送受信部22に入射される。更に、同一の伝送
装置21の光送受信部24からの通信光は、光フィルタ25、
光カプラー27、光ファイバ53及び光フィルタ33を経由し
て、光送受信部32に入射される。

【００１３】このように、ビル２に光カプラー26、27、
光フィルタ28及び光フィルタ23、25を設置することによ
り、ビル２とビル３との間の光ファイバケーブル54を、
通信に影響を与えることなく、通信設備ビル１から試験
することが可能になる。なお、この例では３個のビルに
ついて説明したが、このビルの個数に制限はないことは
勿論である。

【００１４】〔実施例２〕実施例１において、ビル２を
例にとると、光カプラー26、27、光フィルタ28及び光フ
ィルタ23、25を含む光回路を一体にして光カプラーモジ
ュールを形成することができる。図３(b) はそのような
光カプラーモジュール60の構成例を示す図である。図
中、光カプラー65(26)及び66(27)のポートＸが端子61及
び62にそれぞれ接続され、ポートＹは光フィルタ67（2
3、25）を介して端子63及び64に接続され、光カプラー6
5(26)及び66(27)のポートＺが相互に接続されている。
端子61及び62はそれぞれ光ファイバ51及び53に接続さ
れ、端子63及び64はそれぞれ光送受信部22及び24に接続
される。

【００１５】この光カプラーモジュール60の光カプラー
65及び66は上述のようにＸ、Ｙ及びＺの三つの入出力ポ
ートを具え、図３(c) に示すように、ポートＸとポート
Ｙとの間では通信光に比べて試験光の損失が大きく、ポ
ートＸとポートＺとの間では試験光に比べて通信光の損
失が大きい光学特性を持つ。この光学特性により、ポー
トＸ（61又は62）から波長λ1 の通信光及び波長λ2 の
試験光を入力すると、ポートＹから波長λ1 の通信光
が、ポートＺを通して他のポートＸ（62又は61）から波
長λ2 の試験光が、それぞれ出力される。従って、光フ
ィルタ28を省略することができる。ポートＹの後には光
フィルタ67(23 、25）があり、端子63には波長λ1 の通
信光のみが出力される。また、端子64に入力された波長
λ1 の通信光は、端子62に出力される。この光カプラー
モジュール60では、光カプラー65及び66のポートＹと端
子63及び64とを接続する光ファイバ又は光導波路に、２
心を一括して光フィルタ67を挿入すれば、光フィルタ23
及び25を１枚の光フィルタ67で構成することができる。

【００１６】このように、光カプラー65及び66を具える
光カプラーモジュール60を用いることにより、光フィル
タ28を用いることなく、異なる波長の信号を１本の光フ
ァイバに合波し、又は逆に１本の光ファイバからそれぞ
れの波長の光信号に分波することができ、経済化を図る
ことができる。また、２心を一括して光フィルタを挿入
し、本来２枚必要な光フィルタ23及び25を１枚の光フィ
ルタ67で構成することにより、小型化及び経済化を図る
ことができる。ここで用いられる光カプラーの構成に
は、例えば、大久保勝彦「ＩＳＤＮ時代の光ファイバ技
術」（理工学社、pp.7-14,1989）から既知の技術を適用
することができる。

【００１７】〔実施例３〕図４は、本発明の光線路試験
システムの第３実施例を説明する図であり、通信設備ビ
ル１、ビル２、ビル３及びビル４にそれぞれ伝送装置1
1、21、31及び41が設置され、各ビル間が光ファイバケ
ーブル52、54、56及び58でそれぞれ接続されて環状の光
通信ネットワークが構成されており、このネットワーク
の光ファイバケーブルを試験するための光線路試験シス
テムの構成を示す。

【００１８】光ファイバケーブル52には光ファイバ51が
含まれ、光ファイバ51の両端は、通信設備ビル１で光送
受信部12に、ビル２で光送受信部22に、それぞれ接続さ
れている。光ファイバケーブル54には光ファイバ53が含
まれ、光ファイバ53の両端は、ビル２で光送受信部24
に、ビル３で光送受信部32に、それぞれ接続されてい
る。光ファイバケーブル56には光ファイバ55が含まれ、
光ファイバ55の両端は、ビル３で光送受信部34に、ビル
４で光送受信部42に、それぞれ接続されている。更に、
光ファイバケーブル58には光ファイバ57が含まれ、光フ
ァイバ57の両端は、ビル４で光送受信部44に、通信設備
ビル１で光送受信部17に、それぞれ接続されている。

【００１９】通信設備ビル１においては、光ファイバ51
は、実施例１と同様に、光カプラー14及び光フィルタ13
を経由して光送受信部12に接続されており、光ファイバ
57は光フィルタ18を経由して光送受信部17に接続されて
いる。また、ビル２、ビル３及びビル４においては、実
施例１と同様に、二つの光カプラー26及び27、36及び3
7、46及び47、二つの光フィルタ23及び25、33及び35、4
3及び45、並びに光フィルタ28、38、48がそれぞれ設置
されており、ＯＴＤＲ16からの試験光を次のビルに接続
されている光ファイバに入射することが可能になってい
る。

【００２０】このような構成により、通信設備ビル１に
設置されているＯＴＤＲ16からの波長λ2 の試験光は、
心線選択装置15、光カプラー14及び光ファイバ51を伝搬
し、ビル２の光カプラー26、光フィルタ28及び光カプラ
ー27を経由して、光ファイバ53に入射され、光ファイバ
53を伝搬し、ビル３の光カプラー36、光フィルタ38及び
光カプラー37を経由して、光ファイバ55に入射され、光
ファイバ55を伝搬し、ビル４の光カプラー46、光フィル
タ48及び光カプラー47を経由して、光ファイバ57に入射
され、光ファイバ57を伝搬し、通信設備ビル１の伝送装
置11の前に設置されている光フィルタ18によって遮断さ
れる。

【００２１】このように、図４に示すような環状の光通
信ネットワークに対しても、各ビル２、ビル３及びビル
４に、二つの光カプラー26及び27、36及び37、46及び4
7、二つの光フィルタ23及び25、33及び35、43及び45、
並びに光フィルタ28、38、48をそれぞれ設置することに
より、各ビル間の光ファイバケーブルを、通信に影響を
与えることなく、通信設備ビル１から試験することが可
能になる。

【００２２】〔実施例４〕図５は、本発明の光線路試験
システムの第４実施例を説明する図であり、この例は、
図４の例に対して、通信設備ビル１に更に光カプラー19
を追加設置した例である。光カプラー19は光カプラー14
と同様の四つの入出力ポートＡ、Ｂ、Ｃ及びＤを有し、
ポートＡ及びＣには光通信を行う光ファイバ57が接続さ
れ、ポートＢ及びＤには１×Ｎの心線選択装置15が接続
されている。心線選択装置15を動作させることにより、
ＯＴＤＲ16から光カプラー19を経由して光ファイバケー
ブル58に収容されている光ファイバ57に試験光を送出す
ることができる。

【００２３】このような構成にすれば、環状のネットワ
ークの両方向から試験することができ、実施例３の場合
に比較して試験可能範囲が２倍になるので、この構成
は、特にビルの数が多い場合に有効である。

【００２４】〔実施例５〕図６及び図７は、本発明の第
５実施例を説明する図である。上述の実施例では１本の
光ファイバで往復の通信が行われる場合について説明し
たが、この実施例では、往復の通信が別の光ファイバを
通して行われる場合についての光線路試験システムの例
を示す。図６は図２に、図７は図５に、それぞれ対応し
ており、図中、ａ及びｂはそれぞれ２本の光ファイバの
一方に対応することを表す符号である。このようなネッ
トワーク構成に対しても本発明を適用することができ
る。

【００２５】〔実施例６〕図７の場合において、ビル２
を例にとると、光カプラー26ａ、26ｂ、27ａ、27ｂ、光
フィルタ28ａ、28ｂ及び光フィルタ23ａ、23ｂ、25ａ、
25ｂを一体にして光カプラーモジュールを形成すること
ができる。図８(a) はそのような光カプラーモジュール
70の構成例を示す図である。図中、光カプラー81(26a)
、82(27a)、83(26b) 、84(27b) のポートＸが端子71、
72、73、74にそれぞれ接続され、ポートＹは光フィルタ
80（23ａ、25ａ、23ｂ、25ｂ）を介して端子75、76、7
7、78に接続され、光カプラー81(26a) と82(27a) との
ポートＺが相互に接続され、光カプラー83(26b) と84(2
7b) とのポートＺが相互に接続されている。端子71、7
2、73、74はそれぞれ光ファイバ51ａ、53ａ、51ｂ、53
ｂに接続され、端子75、76、77、78はそれぞれ光送受信
部22ａ、24ａ、22ｂ、24ｂに接続される。

【００２６】この光カプラーモジュール70の光カプラー
81、82、83、84は上述のようにＸ、Ｙ及びＺの三つの入
出力ポートを具え、図３(c) に示すように、ポートＸと
ポートＹとの間では通信光に比べて試験光の損失が大き
く、ポートＸとポートＺとの間では試験光に比べて通信
光の損失が大きい光学特性を持つ。この光学特性によ
り、ポートＸ（71〜74）から波長λ1 の通信光及び波長
λ2 の試験光を入力すると、ポートＹから波長λ1 の通
信光が、ポートＺから波長λ2 の試験号が、それぞれ出
力される。従って、光フィルタ28ａ及び28ｂを省略する
ことができる。また、図８(b) に示すように、光カプラ
ー81、82、83、84のポートＹに接続された４心光ファイ
バテープ85−86を基板上に固定し、４心を一括して光フ
ィルタ80を挿入すれば、光フィルタ23ａ、23ｂ、25ａ及
び25ｂを１枚の光フィルタ80で構成することができる。

【００２７】このように、光カプラー81、82、83、84を
具える光カプラーモジュール70を用いることにより、光
フィルタ（28ａ及び28ｂ）を用いることなく、異なる波
長の信号を１本の光ファイバに合波し、又は逆に１本の
光ファイバからそれぞれの波長の光信号に分波すること
ができ、経済化を図ることができる。また、４心を一括
して光フィルタを挿入し、本来４枚必要な光フィルタ23
ａ、23ｂ、25ａ及び25ｂを１枚の光フィルタ80で構成す
ることにより、小型化及び経済化を図ることができる。

【００２８】〔実施例７〕実施例６に示す光カプラーモ
ジュールを他の方法によって形成することができる。図
９(a) はその例の構成を説明する図である。光カプラー
モジュール90は石英系交差型光導波路回路（線100 で囲
まれた部分）を含み、端子91、92、93、94に接続されて
いる導波路がポートＸに対応し、端子95、96、97、98に
接続されている導波路がポートＹに対応し、光ファイバ
101 及び102 に接続されている導波路がポートＺに対応
し、導波路がポートＺに分岐する点に誘導体多層膜から
なる光フィルタ99を角度を付けて挿入して構成したもの
である。この誘導体多層膜からなる光フィルタ99は、通
信波長λ1 は透過し、試験波長λ2 は反射する性質を持
つ。

【００２９】図９(b) は線100 で囲まれた部分を模式的
に示す図である。例えば端子91から入射した通信光λ1
は、光フィルタ99を透過して端子95に達し、同様に端子
91から入射した試験光λ2 は、光フィルタ99で反射して
ポートＺに入り、光ファイバ101 を経由して再び光フィ
ルタ99で反射して端子92に進む。

【００３０】このように、光導波路及び光フィルタ99を
具える光カプラーモジュール90を用いることにより、一
つの光部品で四つの光カプラーと光フィルタの機能を実
現するため、著しく経済化及び小型化を図ることができ
る。ここで用いられる交差型光導波路回路の構成には、
例えば、居林他「フィルタ型カプラを用いた光線路試験
用分岐モジュールの検討」（1998年電子情報通信学会総
合大会予稿集B-10-46)又は肥田他「1.65μm 光線路試験
カプラアレイ集積スプリッタ」（1998年電子情報通信学
会エレクトロニクスソサエティ大会予稿集C-3-79) から
既知の技術を適用することができる。

【００３１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光線路試
験システムによれば、通信設備ビルから、複数のビルに
敷設された光ファイバに対して、通信に影響を与えるこ
となく試験を行うことが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の光線路試験システムの例を示すブロッ
ク図である。

【図２】本発明の光線路試験システムの第１実施例を
説明する図である。

【図３】光回路の構成を説明する図である。

【図４】本発明の光線路試験システムの第２実施例を
説明する図である。

【図５】本発明の光線路試験システムの第３実施例を
説明する図である。

【図６】本発明の光線路試験システムの第４実施例を
説明する図である。

【図７】本発明の光線路試験システムの第４実施例を
説明する図である。

【図８】光カプラーモジュールの構成を説明する図で
ある。

【図９】光カプラーモジュールの他の構成を説明する
図である。

【符号の説明】

１通信設備ビル２、３、４ビル１１、２１伝送装置１２、１７、２２、２４、３２、３４、４２、４４光
送受信部１３、１８、２３、２５、３３、３５、４３、４５光
フィルタ１４、１９光カプラー１５心線選択装置１６ＯＴＤＲ（光パルス試験器）２６、２７、３６、３７、４６、４７光カプラー２８、３８、４８光フィルタ５１、５３、５５、５７光ファイバ５２、５４、５６、５８光ファイバケーブル６０光カプラーモジュール６１、６２、６３、６４端子６５、６６光カプラー６７光フィルタ７０光カプラーモジュール７１、７２、７３、７４、７５、７６、７７、７８端
子８０光フィルタ８１、８２、８３、８４光カプラー８５、８６４心テープ光ファイバ９０光カプラーモジュール９１、９２、９３、９４、９５、９６、９７、９８端
子９９光フィルタ１００交差型光導波路回路１０１、１０２光ファイバ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者中尾直樹東京都千代田区大手町二丁目３番１号日本電信電話株式会社内Ｆターム(参考） 2G086 CC02 CC03 5K002 BA04 BA05 EA06 EA07 FA01

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】通信設備ビル及び複数の他のビルにそれ
ぞれ伝送装置が設置され、各伝送装置が光ファイバによ
って順次接続された光通信システムにおける光線路試験
システムであって、光線路に、通信設備ビルで、光パルス試験器及び光ファ
イバに光パルス試験器からの試験光を挿入する光カプラ
ーが挿入され、各伝送装置の前に、通信光を透過し試験光を遮断する光
フィルタが挿入され、中継点となるビルの受信側光ファイバと送信側光ファイ
バとの間に、それぞれの光ファイバに対応して一対二の
光カプラーを有し、受信側の該光カプラーでは、入力光
（ポートＸ）のうち通信光を伝送装置（ポートＹ）へ、
試験光を送信側の光カプラー（ポートＺ）へそれぞれ送
り、送信側の該光カプラーでは、伝送装置からの通信光
（ポートＹ）と受信側の光カプラーからの試験光（ポー
トＺ）とを合波して送信側の光ファイバ（ポートＸ）に
送る構成を有する光回路が挿入され、通信設備ビルから複数の他のビルに敷設された光ファイ
バを試験できる構成を具備することを特徴とする光線路
試験システム。
【請求項２】通信設備ビル及び複数の他のビルの伝送
装置が光ファイバによって環状に接続され、通信設備ビルで、双方の光ファイバに光パルス試験器か
らの試験光を挿入する光カプラーが挿入され、通信設備ビルから複数の他のビルに敷設された光ファイ
バを双方向から試験できる構成を具備することを特徴と
する請求項１に記載の光線路試験システム。
【請求項３】前記光回路が、平面基板上又は光ファイ
バで構成された複数の光カプラー、該光カプラーの各ポ
ートと端子とを結ぶ光導波路又は光ファイバ及び１個の
光フィルタを具え、該光カプラーが、ポートＸとポート
Ｙとの間では通信光に比べて試験光の損失が大きく、ポ
ートＸとポートＺとの間では試験光に比べて通信光の損
失が大きい光学特性を有し、該光フィルタが、通信光の
みを透過する光学特性を有し、複数の光導波路又は光フ
ァイバに一括して挿入された構成を具備する光カプラー
モジュールであることを特徴とする請求項１又は２に記
載の光線路試験システム。
【請求項４】前記光回路が、基板上に形成されたポー
トＸとポートＹとを結ぶ光導波路からポートＺとなる光
導波路の分岐点に、通信波長はポートＸとポートＹとの
方向に透過し、試験波長はポートＸ方向からポートＺ方
向に又はポートＺ方向からポートＸ方向に反射する、光
フィルタが挿入された構成を具備する光カプラーモジュ
ールであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光
線路試験システム。