JPH021632A - 光線路試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

〔産業上の利用分野〕 本発明は光通信分野に利用される。 本発明は、光ファイバケーブルを用いた光伝送方式にお
ける光線路試験方式に関し、特に通信回線が使用状態で
も通信に影響を与えないで光ファイバケーブルの試験お
よび監視を行う光線路試験方式に関する。 〔従来の技術〕 第１８図は、通信回線を使用した状態で光ファイバケー
ブルの試験および監視を行う従来の方式を示すブロック
構成図である（特開昭５９−１６６８３７号公報参照）
。第１８図において、１および２は光伝送端局、３は光
ファイバケーブル、４および５はそれぞれ光伝送端局１
および２が使用する通信波長光のみを通過する光フィル
タ、６はこの通信波長と異なる波長の試験波長光を繰り
返し発射する光フアイバロケータ、７は光分岐装置であ
る。 第１９図は光フィルタ４および５の挿入損失波長特性を
示しており、通信波長のみを通過する特性を有している
。 第２０図は光分岐装置７の各ポート間の挿入損失を示す
説明図で、各ポー）ａ、ｂおよび０間の損失は第１表に
示すようになっている。 第１表　光分岐装置の損失特性 ポートａおよびＣは光ファイバケーブル３に、ｂは光フ
アイバロケータ６に接続される。ここで、ボー）ａ−ｃ
およびｂ−ｃ間は挿入損失３ｄＢ、　ａｂ間は４０ｄＢ
であり、通信波長光は比較的低損失でポートａからＣへ
通過するがポートｂすなわち光フアイバロケータ６には
入らない。また光フアイバロケータ６から発射された試
験波長光はポートｂからＣへ比較的低損失で挿入される
。光フアイバロケータ６から発射された試験波長光は前
述の光分岐装置７を経由して光ファイバケーブル３に挿
入され、光伝送端局２へ向けて進行する。その際、光フ
ァイバケーブル３の任意の地点での後方散乱光およびフ
レネル反射光が試験波長光と逆の経路で光分岐装置７を
経由して光フアイバロケータ６へ戻り、その受光時間お
よび受光レベルを初期のものと比較し続けることにより
故障の発見および故障位置の特定ができる。前記試験波
長光および後方散乱光等は光フィルタ４および５により
遮断され光伝送端局１および２では受信されないため、
通信に影響を与えずに光ファイバケーブルの試験および
監視ができる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、前述の従来の光線路試験方式では、 ■　光伝送端局ｌまたは光フィルタ４と光分岐装置７の
間の光ファイバケーブル３の試験および監視ができない
。 ■　光伝送端局１および２間の伝送方式が波長多重双方
向伝送方式の場合（例えば、Ｆ−６Ｍ光伝送方式）、光
伝送端局２から発射される通信波長光が光分岐装置７か
ら光フアイバロケータ６に入射し測定不能となる。 ■　光ファイバケーブル３が多心の場合、試験対象心線
が複数となり試験のたびに光フアイバロケータ６と光分
岐装置７とを接続替えする必要があり測定の遠隔自動化
ができない。 という欠点があった。 本発明の目的は、前記の欠点を除去することにより、光
伝送端局間の光ファイバで構成された先導波路区間全域
にわたり通信信号に影響を与えることなく、遠隔自動で
迅速な光ファイバケーブルの試験および監視ができる光
線路試験方式を提供することにある。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、光伝送装置間に接続された光ファイバケーブ
ルの途中に挿入され外部からの試験波長光の前記光ファ
イバケーブルへの挿入の制御を行う光分岐手段と、前記
試験波長光の発生ならびに前記光ファイバケーブルから
戻された前記試験波長光の検出を行う光パルス試験器を
含む試験手段とを備えた光線路試験方式において、前記
光分岐手段は、前記光ファイバケーブルの任意の点に挿
入されたＮ／２個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラを含
み、前記試験手段は、前記合分波形光カプラの試験回線
用ポートを選択する１×Ｎ光スイッチと、この１×Ｎ光
スイッチのプログラム制御を行う制御手段とを含むこと
を特徴とする。 また本発明は、前記光伝送装置の直近に挿入された第一
の光フィルタと、前記光パルス試験器の直近に挿入され
た第二の光フィルタとを含むことができる。 また本発明は、第一の光フィルタはしゃ断特性が緩やか
なフィルタであり、第二の光フィルタは前記光パルス試
験器に内蔵されることができる。 また本発明は、前記１×Ｎ光スイッチと前記光パルス試
験器との間に挿入された１×Ｍ光スイッチ（Ｍは自然数
）と、この１ｘｌｖｉ光スイツチに前記光パルス試験器
と並列に接続された光信号モニタ装置および光信号送出
装置を含む複数の光信号装置を含むことができる。 また本発明は、前記１×Ｎ光スイッチおよび前記１×Ｍ
光スイッチの替わりにＮ×Ｍ光スイッチを用いることが
できる。 また本発明は、前記合分波形光カプラが広波長域形光カ
プラであることが好ましい。 〔作用〕 合分波形光カプラは４個のポートを有しており、このう
ちの相対する２個はそれぞれ光フアイバ心線に接続され
、他の相対する２個はそれぞれ１×Ｎ光スイツチからの
挿入用光フアイバ心線に接続される。そして通信波長光
は相対する２個のポート間をほとんど損失なく通過でき
、他の２個のポートにはほとんど通過しない。一方試験
波長光は斜めに上側のポートにはほとんど損失なく通過
でき他のポートにはほとんど通過しない。 従って、通信波長光と波長の異なる試験波長光を一方の
ポートへ挿入すると試験波長光は一方の光フアイバ心線
へほとんど損失なく挿入でき、同様に他方のポートへ挿
入された試験波長光は他方の光フアイバ心線へ挿入され
、それぞれ光ファイバケーブルの試験および監視を行う
ことができる。 前記合分波形光カプラとして広波長域形光カプラを用い
た場合には、通信波長光および試験波長光はともに広波
長域においてポート間を損失一定で通過でき、これらの
損失はカプラの製造条件を変えることにより容易に所望
値に設定できる。従って試験波長光として通信波長光以
外の任意の光を使用でき、光ファイバケーブルの試験お
よび監視をより容易に行うことができる。 １×Ｎ光スイッチは、制御手段の制御によりＮ本の光フ
アイバ心線に対して試験波長光の挿入の切り換えを行い
、光パルス試験器で試験波長光の発生と検出を行い、制
御手段によりデータ処理を行う。 すなわち、光伝送装置間に接続された光ファイバケーブ
ルの全域にわたり通信信号に影響を与えることなく、遠
隔自動で迅速な試験および監視を行うことが可能となる
。 また、光伝送装置の直近に試験波長光が前記光伝送装置
へ進入しない構成にて第一の光フィルタを挿入し、さら
に前記光パルス試験器の直近に通信波長光が前記光パル
ス試験器へ侵入しない構成にて第二の光フィルタを挿入
することにより、通信信号への影響をより少なくし試験
および監視の精度を上げることができる。 また、前記光パルス試験器の受光器直近に通信波長光が
前記光パルス試験器へ侵入しない構成にて前記第二の光
フィルタを挿入し、前記光パルス試験器の試験波長光の
レベルを可変にし試験波長光のレベルを前記光伝送装置
へ侵入しないレベルに調整することにより、同様に通信
信号への影響をより少なくし試験および監視の精度を上
げることができる。 また、前記１×Ｎ光スイッチと前記光パルス試験器との
間に１×Ｍ光スイッチを挿入し、この１×Ｍ光スイッチ
のＭポートに前記光パルス試験器ならびに光信号モニタ
装置および光信号送出装置等を接続し、さらにこれらの
遠隔自動化手段を接続することにより、光通信回線の試
験および監視を遠隔自動化することができる。なお、こ
の場合、前記１×Ｎ光スイッチと前記１×Ｍ光スイッチ
の替わりにＮ×Ｍ光スイッチを用いても同様の性能を得
ることができる。 また、合分波形光カプラ（広波長域形光カプラを含む）
を光ファイバケーブルの中心地点に挿入することにより
１×Ｎ光スイッチの操作により、前記合分波形光カプラ
が挿入された上位および下位の光ファイバケーブルの試
験ができるので、前記光パルス試験器のダイナミックレ
ンジを上げることなく、試験可能距離を従来の２倍にす
ることができる。 〔実施例〕 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。 〔実施例１〕 第１図は本発明の第一実施例を示すブロック構成図であ
る。 本第−実施例は、光伝送端局１および２間に接続された
上位および下位の光ファイバケーブル３１および３２と
、光ファイバケーブル３１および３２間に挿入され外部
からの試験波長光の光ファイバケーブル３１および３２
への挿入の制御を行う光分岐手段としてのＮ個の合分波
形光カプラ１０と、前記試験波長光の発生ならびに光フ
ァイバケーブル３１または３２から戻された前記試験波
長光の検出を行う光パルス試験器１２を含む試験手段と
しての、Ｎ／２個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラ１０
の試験回線用ポートを選択する１×Ｎ光スイッチ１１と
、１×Ｎ光スイツチ１１および光パルス試験器１２のプ
ログラム制御およびデータ処理を行う制御装置１４と表
示装置１５とを含んでいる。 なお、８１および８２は各々上位および下位の先ファイ
バ心線、９１．９２．９３および９４は合分波形光カプ
ラ１０の各ポート、８３．８４および８５は試験光伝送
用光フアイバ心線、１３はバスである。ここで、１×Ｎ
光スイツチ１１は光パルス試験器１２に接続する端子を
１個、試験波長光挿入のため合分波形光カプラ１０に接
続する端子をＮ個有しており、このＮ個の端子から一個
を選択して光パルス試験器１２に接続される。 本発明の特徴は、第１図において、合分波形光カプラ１
０と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４とを設けた
ことにある。 次に、本第−実施例の動作について説明する。 初めに合分波形光カプラ１０のより詳細な構造とその動
作を説明する。第２図は合分波形光カプラ１０の具体的
構成例を示す説明図であって、８６および８７は各々光
フアイバ心線８１〜８４およびカプラ８８８におけるク
ラッド部分およびコア部分である。この合分波形光カプ
ラ１０は第１図に示すように４個のポー）９１〜９４を
有しており、９１および９３が各々通信用光フアイバ心
線８１および８２に接続されており、９２および９４が
各々試験光伝送用光フアイバ心線８３および８４に接続
されている。通信波長λアおよびλ。の光についてはポ
ート９１および９３間でほとんど損失なく通過でき、そ
の他のポート９２および９４にはほとんど通過しない。 また、試験波長λ。 の光についてはポート９２−９３問およびポート９４−
９１間でほとんど損失なく通過でき、ポート９１から９
２へ、ポート９４から９３へはほとんど通過しない特性
を有している。第２図中のカプラ部８８において、光導
波路である２本のコア８７について適当な間隔ｄおよび
長さｌを維持しておくとエバネセント効果により、この
ｄおよびｌから波長λ。、λ７、λ′０の値が決められ
、前述した合分波特性が生じる。第２表はこの合分波形
光カプラ１０の各ポート間の挿入損失の一例を示したも
ので、米国グールド社製合分波形光カプラ（ファイバ形
、Ｖ　Ｗ　Ｄ９７６８）についての実測結果である。通
信波長ＩＪμ山、試験波長１．５５μｍとして、通信波
長光の挿入損失および試験波長光が通信用心線に伝搬す
る挿入損失が０．５ｄＢ以下、その他の各ポート間の挿
入損失がすベて２０ｄＢ以上という良好な特性が得られ
ている。 第２表　合分波形光カプラの挿入損失 （λ。＝λ’、＝１．３μｍ、λ。＝１．５５μｍ）従
って、試験波長光λ。を光フアイバ心線８３からポート
９２へ挿入すると、ポート９３に伝搬し下位の光フアイ
バ心線８２へ挿入でき、また光フアイバ心線８４からポ
ート９４へ挿入すると、ポート９１に伝搬し上位の光フ
アイバ心線８１へ極めて小さい損失で挿入できる。 次に、本第二実施例の動作を説明する。第１図において
、制御装置１４からのプログラム制御により１×Ｎ光ス
イッチ１１が任意の合分波形光カプラ１０の試験光挿入
ポート９２を選択して光パルス試験器１２に接続する。 次に光パルス試験器１２から試験光パルスを発射して被
試験光ファイバ心線８２の損失特性測定および故障位置
検知を行う。さらに、ｌｘＮ光スイッチ１１で試験光挿
入ポート９４を選択して光パルス試験器１２により前述
と同様な試験を行う。この操作を繰り返すことにより光
伝送端局１および２間の伝送路の上位および下位の光フ
ァイバケーブル３１および３２の全域にわたり試験およ
び監視ができる。なお、光パルス試験器１２から送出す
る試験波長光のレベルは光伝送品質を劣化させない程度
に通信波長光のレベルより小さく設定しておく。また、
光パルス試験器１２の受光器は通信波長光を受光しない
程度に狭波長域のものを使用する。 このような動作をするので、 ■　光伝送端局１および２間の光ファイバケーブル全域
にわたり任意の位置から通信波長が複数で双方向伝送の
場合でも通信に影響なく試験ができる。 ■　合分波形光カプラ１０の挿入地点を伝送路の中心地
点とすれば、１×Ｎ光スイッチの操作により上位および
下位光ファイバケーブル３１および３２の試験ができる
ので、光パルス試験器１２のダイナミックレンジを上げ
ることなく試験可能距離を従来の２倍に向上することが
できる。 ■　ｌｘＮ光スイッチ１０を用いるので多数の試験心線
を１台の光パルス試験器１２で自動的に試験することが
できるため装置コストおよび保守コストの削減ができる
。 この結果から明らかなように、従来の技術に比べて光フ
ァイバケーブル伝送路全域にわたり任意の地点で双方向
伝送方式の場合でも通信に影響なく線路の試験および監
視ができること、光パルス試験器のダイナミックレンジ
を上げることなく試験可能距離を最大２倍に向上できる
こと、多数の試験回線を一台の光パルス試験器で自動的
に試験ができ保守コスト削減ができること等の効果が得
られた。 〔実施例２〕 第３図は本発明の第二実施例を示すブロック構成図であ
る。本第二実施例は、第１図の第一実施例において、光
伝送端局１および２と光フアイバ心線８１および８２と
の間、および１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス試験器１
２との間に合分波形光カプラ１０’ａおよび１０ｂをそ
れぞれを挿入し、光伝送端局ｌおよび２へ試験波長光の
進入および光パルス試験器１２へ通信波長光の進入を少
なくしたものである。 本発明の特徴は、第３図において、合分波形光カプラ１
０と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４とを設けた
ことにある。なお、合分波形光カプラ１０’ａおよび１
０１１が付加される。 本第二実施例、］ま前述のような構成であるので、光パ
ルス試験器１２の試験波長光送出レベルをある程度大き
くしても通信へ妨害を与えにくく、また通信波長光の光
パルス試験器１２への進入を小さくできる。従って、光
パルス試験器１２のダイナミックレンジを大きくできる
効果がある。その他の効果については第一実施例と同様
である。 〔実施例３〕 第４図は本発明の第三実施例を示すブロック構成図であ
る。本第三実施例は第１図の第一実施例において、光伝
送端局１および２と光フアイバ心線８１および８２との
間および１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス試験器１２と
の間にそれぞれ光フィルタ１６および１７を挿入し、光
伝送端局ｌおよび２へ試験波長光の進入および光パルス
試験器１２へ通信波長光の進入を少な″くしたものであ
る。ここで、試験回線挿入用の光フィルタ１６は第５図
に示すような損失特性を有しており、第５図中１９．２
０および２１は各々試験波長λ。１、λ。２およびλ、
３の場合であり、通信波長光を通過して試験波長光を遮
断する特性である。また、１×Ｎ光スイッチ１１と光パ
ルス試験器１２の間に挿入された光フィルタ１７は、第
６図に示すような損失特性を有しており、第６図中２２
．２３および２４は各々試験波長がλ。１、λｏ２およ
びλ。３の場合であり、試験波長光を通過して通信波長
光を遮断する特性である。 本第三実施例は、前述のような構成であるので、光パル
ス試験器１２の試験波長光送出レベルをある程度大きく
しても、通信への妨害を与えに＜（シ、また、光パルス
試験器１２の受光器をある程度広波長域にしても通信波
長光の光パルス試験器１２への進入を小さくできる。 従って、光パルス試験器１２のダイナミックレンジを大
きくできる利点がある。その他の効果については第一実
施例と同様である。 本発明の特徴は、第４図において、合分波形光カプラ１
０と、１ｘＮ光スイツチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４と、光フィ
ルタ１６および１７とを設けたことにある。 〔実施例４〕 第７図は本発明の第四実施例を示すブロック構成図であ
る。本第四実施例は第１図の第一実施例における光パル
ス試験器１２を光出力可変形にした光パルス試験器２５
に替え、さらに１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス試験器
２５との間に合分波形光カプラ１０１１を挿入したもの
である。第８図は光パルス試験器２５の試験光のレベル
を可変にするため、同試験器内蔵の発受光モジュール（
ＬＤモジュール）２６に光減衰器２７を挿入して改造し
たものであり、２９は光サーキュレータ、２８は受光部
、３５は発光部、３６はＣＰＵである。試験波長光は光
サーキュレータ２９のポート３４から３０へ挿入され、
受信光はポート３０から３３へ伝搬する。このような構
成であるので、試験波長光の光レベルを光減衰器２８で
変化させて光伝送端局１および２における通信波長光と
試験波長光とのレベル差を大きくし、通信への影響を小
さくすることができる。 本第四実施例の効果としては、第二および第三実施例に
おける光伝送端局ｌおよび２の直近に設置した合分波形
光カプラ１０’ａが不用となるので、これらの実施例よ
り経済的にシステム構成ができる。その他の効果は第二
および第三実施例と同様である。 本発明の特徴は、第７図において、合分波形光カプラ１
０と、ｌｘＮ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４と、試験光
レベル可変形の光パルス試験器２５とを設けたことにあ
る。なお、合分波形光カプラ１０ｂが付加される。 〔実施例５〕 第９図は本発明の第五実施例を示すブロック構成図であ
る本第五実施例は、第７図の第四実施例において、合分
波形光カプラ１０ｂに替えて光フィルタ１７を挿入した
ものであり、その動作ならびに効果は第四実施例と同様
である。 本発明の特徴は、第９図において、合分波形光カプラ１
０と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４と、光フィ
ルタ１７と、試験光レベル可変形の光パルス試験器２５
とを設けたことにある。 〔実施例６〕 第１０図は本発明の第六実施例を示すブロック構成因で
ある。本第六実施例は、第１図に示した第一実施例にお
いて、合分波形光カプラ１０を広波長域形光カプラＩＯ
Ｃに替え、さらに制御装置１４に試験結果を保存するデ
ータベース１４’ａを接続したものである。 本発明の特徴は、第１０図において、広波長域形光カプ
ラｔＯＣと、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッ
チ１１のプログラム制御手段を有する制御装置１４とを
設けたことにある。 次に、本第六実施例の動作について説明する。 初めに広波長域形光カプラＩＯＣのより詳細な構造とそ
の動作を説明する。広波長域形光カプラ１０ｃの構造は
第２図に示した合分波形光カプラ１０と同じで、８６お
よび８７は各々光フアイバ心線８１〜８４およびカプラ
部８８におけるクラッド部分およびコア部分である。こ
の広波長域形光カプラＩＯＣは第１０図に示すように４
個のポート９１〜９４を有しており、９１および９３が
各々通信用光フアイバ心線８１および８２に接続されて
おり、９２および９４が各々試験光伝送用光フアイバ心
線８３および８４に接続されている。 通信波長λ。およびλ′７の光についてはポート９１お
よび９３間で広波長域かつ一定損失で通過できる。 また、試験波長λ。の光についてはポー）９２−９３問
およびポー）９４−９１間で広波長域かつ一定損失で通
過できる。従って、通信波長、試験波長とも広波長域に
わたり自由に選択できる。第２図中のカプラ部８８にお
いて、光導波路である２本のコア８７について適当な間
隔ｄおよび長さβを維持し、更にコア径を少し変えてお
くとエバネセント効果により、広波長域の光結合特性が
生じる。第３表はこの広波長域形光カプラ１０ｃの各ポ
ート間の挿入損失の一例を示したもので、米国グールド
社製広波長域形光カプラ（ファイバ形、ＷＩＣＡタイプ
、分岐比２０　：　８０）についての実測結果である。 （以下本頁余白） 第３表　広波長域形光カプラの挿入損失（１２００ｎｍ
≦λ７、λ′７、λ。≦１６５０ｎｍ）１２００ｎｍか
ら１６５０ｎｍの広波長域にわたり通信ポート９１Ｈ９
３間の損失が１．５ｄＢ以下であり、また、試験光挿入
ポート間９２→９３．９４→９１の損失も６〜９ｄＢ程
度の良好な特性を示している。 本第六実施例は前述の説明から明らかなように、前述の
第一実施例と同様の動作を行う。 そして前述の第一実施例の効果に加えて、合分波形光カ
プラとして前述の特性を有する広波長域形光カプラ１０
ｃを用いているので、通信波長光および試験波長光の波
長を自由に選択できる効果が得られる。 〔実施例７〕 第１１図は本発明の第七実施例を示すブロック構成図で
ある。本第七実施例は第１０図の第六実施例において、
光伝送端局１および２と光フアイバ心線８１および８２
との間および１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス試験器１
２との間にそれぞれ光フイルタ１６右よび１７を挿入し
、光伝送端局１および２へ試験波長光の進入および光パ
ルス試験器１２へ通信波長光の進入を少なくしたもので
あり、合分波形光カプラを用いた第４図の第三実施例に
対応する。 本第七実施例は前述のような構成であるので、光パルス
試験器１２の試験波長光送出レベルをある程度大きくし
ても通信へ妨害を与えにくく、また光パルス試験器１２
の受光器をある程度広波長域に゛しても通信波長光の光
パルス試験器１２への進入を小さくできる。従って、光
パルス試験器１２のダイナミックレンジを大きくできる
効果がある。その他の効果については第六実施例と同様
である。 本発明の特徴は、第１１図において、広波長域形光カプ
ラ１０Ｃと、ｌｘＮ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッ
チ１１のプログラム制御手段を有する制御装置１４と、
光フィルタ１６および１７とを設けたことにある。 〔実施例８〕 第１２図は本発明の第八実施例を示すブロック構成図で
ある。本第八実施例は第１１図の第七実施例における光
パルス試験器１２を光出力可変形および光フイルタ１７
内蔵形にした光パルス試験器２５’ａに替え、さらに光
フィルタ１６をしゃ断特性をある程度悪く緩やかにした
光フィルタ１６’ａに替えたものである。第１３図は光
パルス試験器２５’ａの試験光のレベルを可変にするた
めおよび光フィルタ１７を内蔵するため、同試験器内蔵
の発受光モジュール２６’ａに光減衰器２７および光フ
ィルタ１７を挿入して改造したものであり、２９は光サ
ーキユレータ、２８は受光部、３５は発光部、３６はＣ
ＰＵである。試験波長光は光サーキュレータ２９のボー
ト３４から３０へ挿入され、受信光はボート３０から３
３へ伝搬する。このような構成であるので、試験波長光
の光レベルを光減衰器２８で変化させて光伝送端局ｌお
よび２における通信波長光と試験波長光とのレベル差を
大きくし、通信への影響を小さくすることができる。 さらに、光フィルタ１７によって通信光をしゃ断し、受
光部２８へ広波長域の受光器の使用が可能となる。 本第八実施例の効果としては、第七実施例における光伝
送端局１および２の直近に設置した光フィルタ１６をし
ゃ断特性の悪く、経済的に作製できる光フィルタ１６’
ａに代えたため、第七実施例より経済的にシステム構成
ができる。その他の効果は第七実施例と同様である。 本発明の特徴は、第１２図および第１３図において、広
波長域形光カプラＩＯＣと、ｌｘＮ光スイッチ１１と、
１×Ｎ光スイッチ１１のプログラム制御手段を有する制
御装置１４と、試験光レベル可変形および光フイルタ１
７内蔵形の光パルス試験器２５’ａとを設けたことにあ
る。 〔実施例９〕 第１４図は本発明の第九実施例を示すブロック構成図で
ある。本第九実施例は、第１０図の第六実施例において
、１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス試験器１２との間に
１×ＭＸＮ光スイツチ３７入し、１×Ｍ光スイッチ３７
０Ｍボートに光パルス試験器１２と、光信号モニタ装置
３８および光信号送出装置３９を含む光信号装置とを接
続し、さらにＩ、ＸＮ光スイツチ１１．１×Ｍ光スイッ
チ３７、光パルス試験器１２、光信号モニタ装置３８お
よび光信号送出装置３９が遠隔自動化操作できるように
、モデム４０ｂ１光線路試験ワークステーシヨン４２お
よびデータベース１４ａを含む広域保守センタ４３とモ
デム４０’ａとがモデム通信回線４１により接続された
遠隔自動化手段４４を設け、表示装置１５を除いたもの
である。 本第九実施例の動作は、光線路ワークステーション４２
からのプログラム制御により、光信号モニタ装置３８に
よる通信回線のモニタリング、光信号送出装置３９によ
る心線対照光の送出ならびに光パルス試験器１２による
通信回線の試験および監視が遠隔自動化できる。従って
、通信回線モニタならびにケーブル移転工事時の心線対
照光送出の遠隔自動化が図られる効果があるほか、第六
実施例と同様の効果がある。 本発明の特徴は、第１４図において、広波長域形光カプ
ラ１０ｃ　と、１×Ｎ光スイッチ１１と、ｉｘＭ光スイ
ッチ３７と、光パルス試験器１２と、制御装置１４と、
光信号モニタ装置３８と、光信号送出装置３９と、モデ
ム４．Ｏａおよび広域保守センタ４３を含む遠隔自動化
手段４４を設けたことにある。 〔実施例１０〕 第１５図は本発明の勇士実施例を示すブロック構成図で
ある。本第九実施例は、第九実施例を第八実施例に適用
したものであり、効果は第八および第九実施例と同様で
ある。 本発明の特徴は、第１５図において、第１４図の第九実
施例に対して光フィルタ１６ａを付加したことにある。 〔実施例１１〕 第１６図は本発明の勇士−実施例を示すブロック構成図
である。本勇士−実施例は、第１４図の第九実施例の１
×Ｎ光スイッチと１×Ｍ光スイッチ３７の替わりにＮ８
Ｍ光スイッチ４５を配置したものである。従って、本勇
士−実施例は、光パルス試験器１２、光信号モニタ装置
３８および光信号送出装置３９等、Ｎ８Ｍ光スイッチ４
５のＭボートに接続された装置から同時に通信回線を選
択およびアクセスできる効果が得られるほか、第九実施
例と同様の効果が得られる。 本発明の特徴は、第１６図において、広波長域形光カプ
ラＩＯＣと、Ｎ８Ｍ光スイッチ４５と、光パルス試験器
１２と、制御装置１４と、光信号モニタ装置３８と、光
信号送出装置３９と、モデム４０’ａおよび広域保守セ
ンタ４３を含む遠隔自動化手段４４とを設けたことにあ
る。 〔実施例１２〕 第１７図は本発明の勇士二実施例を示すブロック構成図
である。本勇士二実施例は、第１５図の勇士実施例の１
×Ｎ光スイッチ１１とｌｘＭ光スイッチ３７の替わりに
Ｎ８Ｍ光スイッチ４５を配置したものである。従って、
勇士−実施例と同様に、Ｎ８Ｍ光スイッチ４５のＭポー
トに接続された装置か′ら同時に通信回線を選択および
アクセスできる効果が得られるほか、勇士実施例と同様
の効果が得られる。 本発明の特徴は、第１７図において、第１６図の勇士−
実施例に対して光フィルタ１６ａを付加したことにある
。 なお、第３図の第二実施例、第７図の第四実施例および
第９図の第五実施例において、それぞれの合分波形光カ
プラ１０の替わりに広波長域形光カプラＩＯＣを用いる
ことで、第六実施例で付加された効果が同様にそれぞれ
付加される。 なお、以上の実施例の説明においては、合分波形光カプ
ラ１０および広波長域形光カプラＩＯＣの数を複数とし
たけれども、Ｎ＝２すなわち１個の場合においても本発
明は同様に適用される。 〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明によれば、従来の技術に比
べて光ファイバケーブル伝送路全域にわたり任意の地点
で双方向伝送方式の場合でも通信に影響なく線路の試験
および監視ができ、また光パルス試験器のダイナミック
レンジを上げることなく試験可能距離を最大２倍に向上
でき、さらに多数の試験回線を一台の光パルス試験器で
自動的に試験ができ、合分波形光カプラとして広波長域
形光カプラを使用した場合には、さらに通信波長光およ
び試験波長光の波長を広波長域で任意に選択できるので
、経済的で投首条件の緩やかなまた保守コストの大幅な
削減ができる光線路試験方式を提供でき、その効果は大
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第一実施例を示すブロック構成図。 第２図はその合分波形光カプラおよび広波長域形光カプ
ラの構造を示す説明図。 第３図は本発明の第二実施例を示すブロック構成図。 第４図は本発明の第三実施例を示すブロック構成図。 第５図はその光フィルタ１６の挿入損失特性図。 第６図はその光フィルタ１７の挿入損失特性図。 第７図は本発明の第四実施例を示すブロック構成図。 第８図はその光パルス試験器の発受光モジュールを示す
ブロック構成図。 第９図は本発明の第五実施例を示すブロック構成図。 第１０図は本発明の第六実施例を示すブロック構成図。 第１１図は本発明の第七実施例を示すブロック構成図。 第１２図は本発明の第八実施例を示すブロック構成図。 第１３図はその光パルス試験器の発受光モジュールを示
すブロック構成図。 第１４図は本発明の第九実施例を示すブロック構成図。 第１５図は本発明の勇士実施例を示すブロック構成因。 第１６図は本発明の勇士−実施例を示すブロック構成図
。 第１７図は本発明の勇士二実施例を示すブロック構成図
。 第１８図は従来例を示すブロック構成図。 第１９図はその光フィルタ５の挿入損失特性図。 第２０図はその分岐装置の挿入損失特性の説明図。 １．２・・・光伝送端局、３．３１．３２・・・光ファ
イバケーブル、４．５．１６．１６’ａ　、　１７−・
・光フィルタ、６・・・光フアイバロケータ、７・・・
光分岐装置、１０、ｌＱ’ａ　、１０ｂ・・・合分波形
光カプラ、１０ｃ・・・広波長域形光カプラ、１１・Ｉ
　Ｘ　Ｎ光スイッチ、１２．２５．２５’ａ・・・光パ
ルス試験器、１３・・・バス、１４・・・制御装置、１
４ａ・・・データベース、１５・・・表示装置、１９〜
２４・・・光フィルタの損失特性、２６．２６’ａ・・
・発受光モジュール、２７・・・光減衰器、２８・・・
受光部、２９・・・光サーキュレータ、３０．３３．３
４．９１〜９４・・・ポート、３５・・・発光部、３６
・・・ＣＰＵ、３７・・・１ｘＭ光スイッチ、３８・・
・光信号モニタ装置、３９・・・光信号送出装置、４０
’ａ　、　４０ｂ・・・モデム、４１・・・モデム通信
回線、４２・・・光線路試験ワークステーション、４３
・・・広域保守センタ、４４・・・遠隔自動化手段、４
５・・・Ｎ×Ｍ光スイッチ、８１．８２・・・光フアイ
バ心線、８３．８４．８５・・・試験光挿入用光フアイ
バ心線、８６・・・クラッド部、８７・・・コア部、８
８・・・カプラ部。 特許出願人　　日本電信電話株式会社 代理人　　弁理士　井　出　直　孝 扇 扇 ニ 従来例の構ミ 肩１８０ 波長 ｆＳ１９０ ８、補正の内容 ９、添付書類の目録 （１）訂正明細書　　１通 （２）図面（第２１図）　　　１通 手続補正書 平成元年５月／に日 昭和６３年特許願第１８６１６９号 ２、発明の名称 光線路試験方式 ３、補正をする者 事件との関係　　特許出願人 住　所　　東京都千代田区内幸町１丁目１番６号名　称
　　（４２２）日本電信電話株式会社代表者山口開生 ４、代理人 住　所　　東京都練馬区関町北二丁目２６番１８号２氏
名　弁理士（７ｇ　２３＞井出直孝 電話　０３−９２８−５６７３ ５、補正命令の日付　（自発補正） ６、補正により増加する請求項の数 な　　し 訂正明細書 一□　１０発明の名称 光線路試験方式 ２、特許請求の範囲 ■、光伝送装置間に接続された光ファイバケーブル（３
１３２）の途中に挿入され外部からの試験波長光の前記
光ファイバケーブルへの挿入の制御を行う光分岐手段と
、 前記試験波長光の発生ならびに前記光ファイバケーブル
から戻された前記試験波長光の検出を行う光パルス試験
器（１２）を含む試験手段とを備えた光線路試験方式に
おいて、 前記光分岐手段は、前記光ファイバケーブルの任意の点
に挿入されたＮ／２個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラ
（１０）を含み、 前記試験手段は、前記合分波形光カプラの試験回線用ポ
ートを選択する１×Ｎ光スイッチ（１１）と、この１×
Ｎ光スイッチのプログラム制御を行う制細手段（１４〉
とを含む ことを特徴とする光線路試験方式。 ２、光伝送装置の直近に挿入された第一の光フィルタ（
１６）と、光パルス試験器の直近に挿入された第二の光
フィルタ（１７）とを含む請求項１記載の光線路試験方
式。 ３、請求項２記載の光線路試験方式において、第一の光
フィルタはそのしゃ断特性が緩やかなフィルタであり、
第二の光フィルタは光パルス試験器に内蔵されたことを
特徴とする光線路試験方式。 ４、１×Ｎ光スイッチと光パルス試験器との間に挿入さ
れた１×Ｍ光スイッチ（Ｍは自然数）と、このｌｘＭ光
スイッチに前記光パルス試験器と並列に接続された光信
号モニタ装置および光信号送出装置を含む複数の光信号
装置と、前記光パルス試験器および前記光信号装置の動
作の遠隔自動制御を行う遠隔自動化手段とを含む請求項
１ないし請求項３のいずれかに記載の光線路試験方式。 ５、１×Ｎ光スイッチおよび１×Ｍ光スイッチの替わり
にＮ×Ｍ光スイッチを用いた請求項４に記載の光線路試
験方式。 ６、合分波形光カプラが広波長域形光カプラである請求
項１ないし請求項５のいずれかに記載の光線路試験方式
。 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は光通信分野に利用される。 本発明は、光ファイバケーブルを用いた光伝送方式にお
ける光線路試験方式に関し、特に通信回線が使用状態で
も通信に影響を与えないで光ファイバケーブルの試験お
よび監視を行う光線路試験方式に関する。 〔従来の技術〕 第１８図は、通信回線を使用した状態で光ファイバケー
ブルの試験および監視を行う従来の方式を示すブロック
構成図である（特開昭５９−１６６８３７号公報参照）
。第１８図において、１および２は光伝送端局、３は光
ファイバケーブル、４および５はそれぞれ光伝送端局１
および２が使用する通信波長光のみを通過する光フィル
タ、６はこの通信波長と異なる波長の試験波長光を繰り
返し発射する光フアイバロケータ、７は光分岐装置であ
る。 第１９図は光フィルタ４および５の挿入損失波長特性を
示しており、通信波長のみを通過する特性を有している
。 第２０図は光分岐装置７の各ポート間の挿入損失を示す
説明図で、各ボー）ａ、ｂおよび０間の損失は第１表に
示すようになっている。 第１表　光分岐装置の損失特性 ポートａおよびＣは光ファイバケーブル３に、ｂは光フ
アイバロケータ６に接続される。ここで、ボー）ａ−ｃ
およびｂ−ｃ間は挿入損失３ｄａＳａ−ｂ間は４０ｄＢ
であり、通信波長光は比較的低損失でボー）ａからＣへ
通過するがボー）ｂすなわち光フアイバロケータ６には
入らない。また光フアイバロケータ６から発射された試
験波長光はポートｂからＣへ比較的低損失で挿入される
。光フアイバロケータ６から発射された試験波長光は前
述の光分岐装置７を経由して光ファイバケーブル３に挿
入され、光伝送端局２へ向けて進行する。その際、光フ
ァイバケーブル３の任意の地点での後方散乱光およびフ
レネル反射光が試験波長光と逆の経路で光分岐装置７を
経由して光フアイバロケータ６へ戻り、その受光時間お
よび受光レベルを初期のものと比較し続けることにより
故障の発見および故障位置の特定ができる。前記試験波
長光および後方散乱光等は光フィルタ４および５により
遮断され光伝送端局１および２では受信されないため、
通信に影響を与えずに光ファイバケーブルの試験および
監視ができる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、前述の従来の光線路試験方゛式では、 ■　光伝送端局１または光フィルタ４と光分岐装置７０
間の光ファイバケーブル３の試験および監視ができない
。 ■　光伝送端局２に光送信装置がある場合、または光伝
送端局１および２間の伝送方式が波長多重双方向伝送方
式の場合（例えば、Ｆ−６Ｍ光伝送方式）、光伝送端局
２から発射される通信波長光が光分岐装置７から光フア
イバロケータ６に入射し測定不能となる。 ■　光ファイバケーブル３が多心の場合、試験対象心線
が複数となり試験のたびに光フアイバロケータ６と光分
岐装置７とを接続替えする必要があり測定の遠隔自動化
ができない。 という欠点があった。 本発明の目的は、前記の欠点を除去することにより、光
伝送端局間の光ファイバで構成された光導波路区間全域
にわたり通信信号に影響を与えることなく、遠隔自動で
迅速な光ファイバケーブルの試験および監視ができる光
線路試験方式を提供することにある。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、光伝送装置間に接続された光ファイバケーブ
ルの途中に挿入され外部からの試験波長光の前記光ファ
イバケーブルへの挿入の制御を行う光分岐手段と、前記
試験波長光の発生ならびに前記光ファイバケーブルから
戻された前記試験波長光の検出を行う光パルス試験器を
含む試験手段とを備えた光線路試験方式において、前記
光分岐手段は、前記光ファイバケーブルの任意の点に挿
入されたＮ／２個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラを含
み、前記試験手段は、前記合分波形光カプラの試験回線
用ポートを選択するｌｘＮ光スイッチと、この１×Ｎ光
スイッチのプログラム制御を行う制御手段とを含むこと
を特徴とする。 また本発明は、前記光伝送装置の直近に挿入された第一
の光フィルタと、前記光パルス試験器の直近に挿入され
た第二の光フィルタとを含むことができる。 また本発明は、第一の光フィルタはしゃ断特性が緩やか
なフィルタであり、第二の光フィルタは前記光パルス試
験器に内蔵されることができる。 また本発明は、前記１×Ｎ光スイッチと前記光パルス試
験器との間に挿入された１×Ｍ光スイッチ（Ｍは自然数
）と、この１×Ｍ光スイッチに前記光パルス試験器と並
列に接続された光信号モニタ装置および光信号送出装置
を含む複数の光信号装置を含むことができる。 また本発明は、前記ｌｘＮ光スイッチおよび前記１×Ｍ
光スイッチの替わりにＮ×Ｍ光スイッチを用いることが
できる。 また本発明は、前記合分波形光カプラが広波長域形光カ
プラであることが好ましい。 〔作用〕 合分波形光カプラは４個のポートを有しており、このう
ちの相対する２個はそれぞれ光フアイバ心線に接続され
、他の相対する２個はそれぞれ１×Ｎ光スイツチからの
試験波長光挿入用光フアイバ心線に接続される。そして
通信波長光は相対する２個のポート間をほとんど損失な
く通過でき、他０２個のポートにはほとんど通過しない
。一方試験波長光は斜めに上側のポートにはほとんど損
失なく通過でき他のポートにはほとんど通過しない。 従って、通信波長光と波長の異なる試験波長光を一方の
ポートへ挿入すると試験波長光は一方の光フアイバ心線
へほとんど損失なく挿入でき、同様に他方のポートへ挿
入された試験波長光は他方の光フアイバ心線へ挿入され
、それぞれ光ファイバケーブルの試験および監視を行う
ことができる。 前記合分波形光カプラとして広波長域形光カプラを用い
た場合には、通信波長光および試験波長光はともに広波
長域にふいてポート間を損失一定で通過でき、これらの
損失はカプラの製造条件を変えることにより容易に所望
値に設定できる。従って試験波長光として通信波長光以
外の任意の光を使用でき、光ファイバケーブルの試験お
よび監視をより容易に行うことができる。 １×Ｎ光スイッチは、制御手段の制御によりＮ本の光フ
アイバ心線に対して試験波長光の挿入の切り換えを行い
、光パルス試験器で試験波長光の発生と検出を行い、制
御手段によりデータ処理を行う。 すなわち、光伝送装置間に接続された光ファイバケーブ
ルの全域にわたり通信信号に影°響を与えることなく、
遠隔自動で迅速な試験および監視を行うことが可能とな
る。 また、光伝送装置の直近に試験波長光が前記光伝送装置
へ進入しない構成にて第一の光フィルタを挿入し、さら
に前記光パルス試験器の直近に通信波長光が前記光パル
ス試験器へ侵入しない構成にて第二の光フィルタを挿入
することにより、通信信号への影響をより少なくし試験
および監視の精度を上げることができる。 また、前記光パルス試験器の受光器直近に通信波長光が
前記光パルス試験器へ侵入しない構成にて前記第二の光
フィルタを挿入し、前記光パルス試験器の試験波長光の
レベルを可変にし試験波長光のレベルを前記光伝送装置
へ侵入しないレベルに調整することにより、同様に通信
信号への影響をより少なくし試験および監視の精度を上
げることができる。 また、前記１×Ｎ光スイッチと前記光パルス試験器との
間に１×Ｍ光スイッチを挿入し、この１×Ｍ光スイッチ
のＭポートに前記光パルス試験器ならびに光信号モニタ
装置および光信号送出装置等を接続し、さらにこれらの
遠隔自動化手段を接続することにより、光通信回線の試
験および監視を遠隔自動化することができる。なお、こ
の場合、前記１×Ｎ光スイッチと前記１×Ｍ光スイッチ
の替わりにＮ８Ｍ光スイツチを用いても同様の性能を得
ることができる。 また、合分波形光カプラ（広波長域形光カプラを含む）
を光ファイバケーブルの中心地点に挿入することにより
、１×Ｎ光スイツチの操作により、前記合分波形光カプ
ラが挿入された上位および下位の光ファイバケーブルの
試験ができるので、前記光パルス試験器のダイナミック
レンジを上げることなく、試験可能距離を従来の２倍に
することができる。 〔実施例〕 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。 〔実施例１〕 第１図は本発明の第一実施例を示すブロック構成図であ
る。 本箱−実施例は、光伝送端局１および２間に接続された
上位および下位の光ファイバケーブル３１および３２と
、光ファイバケーブル３１および３２間に挿入され外部
からの試験波長光の光ファイバケーブル３１および３２
への挿入の制御を行う光分岐手段としてのＮ個の合分波
形光カプラ１０と、前記試験波長光の発生ならびに光フ
ァイバケーブル３１または３２から戻された前記試験波
５長先の検出を行う光パルス試験器１２を含む試験手段
としての、Ｎ／２個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラ１
０の試験回線用ポートを選択する１×Ｎ光スイッチ１１
と、’１ｘＮ光スイッチ１１および光パルス試験器１２
のプログラム制御およびデータ処理を行う制御装置１４
と表示装置１５とを含んでいる。 なお、８１および８２は各々上位および下位の光フアイ
バ心線、９１．９２．９３および９４は合分波形光カプ
ラ１０の各ポー）　、８３．８１よび８５は試験光伝送
用光フアイバ心線、１３はバスである。ここで、１×Ｎ
光スイッチ１１は光パルス試験器１２に接続する端子を
１個、試験波長光挿入のため合分波形光カプラ１０に接
続する端子をＮ個有してあり、このＮ個の端子から一個
を選択して光パルス試験器１２に接続される。 本発明の特徴は、第１図に右いて、合分波形光カプラ１
０と、１×Ｎ光スイツチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４とを設けた
ことにある。 次に、本箱−実施例の動作について説明する。 初めに合分波形光カプラ１０のより詳細な構造とその動
作を説明する。第２図は合分波形光カプラ１０の具体的
構成例を示す説明図であって、８６および８７は各々光
フアイバ心線８１〜８４およびカプラ部８８におけるク
ラッド部分およびコア部分である。この合分波形光カプ
ラ１０は第１図に示すように４個のポート９１〜９４を
有しており、９１および９３が各々通信用光フアイバ心
線８１および８２に接続されており、９２および９４が
各々試験光伝送用光フアイバ心線８３および８４に接続
されている。通信波・長λ、およびλｌ、（λ。は光伝
送端局ｌから２へ送信される波長、λ′０は光伝送端局
２から１へ送信される波長）の光についてはポート９１
および９３間でほとんど損失なく通過でき、その他のポ
ート９２および９４にはほとんど通過しない。また、試
験波長λ。 の光についてはボー）９２−９３問およびポート９４−
９１間でほとんど損失なく通過でき、ポート９１から９
２へ、ポート９４から９３へはほとんど通過しない特性
を有している。第゛２図中のカプラ部８８において、先
導波路である２本のコア８７について適当な間隔ｄおよ
び長さｌを維持しておくとエバネセント効果により、こ
のｄおよびβから波長λ。、λ７、λｔの値が決められ
、前述した合分波特性が生じる。第２表はこの合分波形
光カプラ１０の各ボート間の挿入損失の一例を示したも
ので、米国グールド社製合分波形光カプラ（ファイバ形
、Ｖ　Ｗ　Ｄ９７６８）についての実測結果である。通
信波長１．３μｍ１試験波長１．５５μｍとして、通信
波長光の挿入損失および試験波長光が通信用心線に伝搬
する挿入損失が０．５ｄＢ以下、その他の各ポート間の
挿入損失がすべて２０ｄＢ以上という良好な特性が得ら
れている。 第２表　合分波形光カプラの挿入損失 （λア＝λ’、＝ｌＪμ、、λｏ　＝　１．５５μｍ）
従って、試験波長光λ。を光フアイバ心線８３からポー
ト９２へ挿入すると、ポート９３に伝搬し下位の光フア
イバ心線８２へ挿入でき、また光フアイバ心線８４から
ポート９４へ挿入すると、ポート９１に伝搬し上位の光
フアイバ心線８１へ極めて小さい損失で挿入できる。 次に、本第−実施例の動作を説明する。第１図において
、制御装置１４からのプログラム制御により１×Ｎ光ス
イッチ１１が任意の合分波形光カプラｌＯの試験光挿入
ボート９２を選択して光パルス試験器１２に接続する。 次に光パルス試験器１２から試験光パルスを発射して被
試験光ファイバ心線８２の損失特性測定および故障位置
検知を行う。さらに、１×Ｎ光スイッチ１１で試験光挿
入ポート９４を選択して光パルス試験器１２により前述
と同様な試験を行う。この操作を繰り返すことにより光
伝送端局１および２間の伝送路の上位および下位の光フ
ァイバケーブル３１および３２の全域にわたり試験およ
び監視ができる。なお、光パルス試験器１２から送出す
る試験波長光のレベルは光伝送品質を劣化させない程度
に通信波長光のレベルより小さく設定しておく。また、
光パルス試験器１２の受光器は通信波長光を受光しない
程度に狭波長域のものを使用する。 このような動作をするので、 ■　光伝送端局１および２間の光ファイバケーブル全域
にわたり任意の位置から通信波長が複数で双方向伝送の
場合でも通信に影響なく試験ができる。 ■　合分波形光カプラ１０の挿入地点を伝送路の中心地
点とすれば、１×Ｎ光スイツチの操作により上位および
下位光ファイバケーブル３１および３２の試験ができる
ので、光パルス試験器１２のダイナミックレンジを上げ
ることなく試験可能距離を従来の２倍に向上することが
できる。 ■　１×Ｎ光スイッチ１０を用いるので多数の試験心線
を１台の光パルス試験器１２で自動的に試験することが
できるため装置コストおよび保守コストの削減ができる
。 この結果から明らかなように、従来の技術に比べて光フ
ァイバケーブル伝送路全域にわたり任意の地点で双方向
伝送方式の場合でも通信に影響なく線路の試験および監
視ができること、光パルス試験器のダイナミックレンジ
を上げることなく試験可能距離を最大２倍に向上できる
こと、多数の試験回線を一台の光パルス試験器で自前的
に試験ができ保守コスト削減ができること等の効果が得
られた。 〔実施例２〕 第３図は本発明の第二実施例を示すブロック構成図であ
る。本第二実施例は、第１図の第一実施例において、光
伝送端局ｌおよび２と光フアイバ心線８１および８２と
の間、および１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス試験器１
２との間に合分波形光カプラ１０ａおよび１０ｂをそれ
ぞれを挿入し、光伝送端局１および２へ試験波長光の進
入および光パルス試験器１２へ通信波長光の進入を少な
くしたものである。 本発明の特徴は、第３図において、合分波形光カプラ１
０と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４とを設けた
ことにある。なふ、合分波形光カプラ１０ａおよび１０
ｂが付加される。 本第二実施例は前述のような構成であるので、光パルス
試験器１２の試験波長光送出レベルをある程度大きくし
ても通信へ妨害を与えにくく、また通信波長光の光パル
ス試験器１２への進入を小さくできる。従って、光パル
ス試験器１２のダイナミックレンジを大きくできる効果
がある。その他の効果については第一実施例と同様であ
る。 〔実施例３〕 第４図は本発明の第三実施例を示すブロック構成図であ
る。本第三実施例は第１図の第一実施例において、光伝
送端局１よび２と光フアイバ心線８１および８２との間
および１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス試験器１２との
間にそれぞれ光フィルタ１６および１７を挿入し、光伝
送端局１および２へ試験波長光の進入および光パルス試
験器１２へ通信波長光の進入を少なくしたものである。 ここで、試験回線挿入用の光フィルタ１６は第５図に示
すような損失特性を有しており、第５図中１９．２０お
よび２１は各々試験波長λ。１、λ。２およびλ。３の
場合であり、通信波長光を通過して試験波長光を遮断す
る特性である。また、１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス
試験器１２の間に挿入された光フィルタ１７は、第６図
に示すような損失特性を有しており、第６図中２２．２
３および２４は各々試験波長がλ。１、λ。２およびλ
ｏ３の場合であり、試験波長光を通過して通信波長光を
遮断する特性である。 本第三実施例は、前述のような構成であるので、光パル
ス試験器１２の試験波長光送出レベルをある程度大きく
しても、通信への妨害を与えに＜＜シ、また、光パルス
試験器１２の受光器をある程度広波長域にしても通信波
長光の光パルス試験器１２への進入を小さくできる。 従って、光パルス試験器１２のダイナミックレンジを大
きくできる利点がある。その他の効果については第一実
施例と同様である。 本発明の特徴は、第４図において、合分波形光カプラ１
０と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４と、光フィ
ルタ１６および１７とを設けたことにある。 〔実施例４〕 第７図は本発明の第四実施例を示すブロック構成図であ
る。本第四実施例は第１図の第一実施例における光パル
ス試験器１２を通信波長光への影響を小さくするため光
パルス出力レベルを自動的に減少できる光パルス試験器
２５に替え、さらに１×Ｎ光スイッチ１１と光パルス試
験器２５との間に合分波形光カプラ１０ｂを挿入したも
のである。光パルス出力レベルを減少させる手段として
は、ＬＤの駆動電流を減少する方法、または光減衰器を
挿入する方法が考えられる。第８図は前述の後者の例を
示しており光パルス試験器２５の試験光のレベルを減少
させるため、同試験器内蔵の発受光モジニール（ＬＤモ
ジニール）２６に光減衰器２７を挿入して改造したもの
である。ここで、２９は光サーキユレータ、２８は受光
部、３５は発光部、３６はＣＰＵである。試験波長光は
光サーキュレータ２９のボート３４から３０へ挿入され
、受信光はボート３０から３３へ伝搬する。このような
構成であるので、試験波長光の光レベルを光減衰器２８
で減少させて光伝送端局ｌおよび２における通信波長光
と試験波長光とのレベル差を大きくすることにより、通
信への影響を小さくすることができる。 本第四実施例の効果としては、第二および第三実施例に
おける光伝送端局１および２の直近に設置した合分波形
光カプラ１０ａが不用となるので、これらの実施例より
経済的にシステム構成ができる。その他の効果は第二お
よび第三実施例と同様である。 本発明の特徴は、第７図において、合分波形光カプラ１
０と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４と、試験光
レベルを減少できる光パルス試験器２５とを設けたこと
にある。なお、合分波形光カプラ１０ｂが付加される。 〔実施例５〕 第９図は本発明の第五実施例を示すブロック構成図であ
る。本第五実施例は、第７図の第四実施例において、合
分波形光カプラ１０ｂに替えて光フィルタ１７を挿入し
たものであり、その動作ならびに効果は第四実施例と同
様である。 本発明の特徴は、第９図において、合分波形光カプラ１
０と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイッチ１１
のプログラム制御手段を有する制御装置１４と、光フィ
ルタ１７と、試験光レベルを減少できる光パルス試験器
２５とを設けたことにある。 〔実施例６〕 第１０図は本発明の第六実施例を示すブロック構成可で
ある。本第六実施例は、第１図に示した第一実施例にお
いて、合分波形光カプラ１０を広波長域形光カプラＩＯ
Ｃに替え、さらに制御装置１４に試験結果を保存するデ
ータベース１４ａを接続したものである。 本発明の特徴は、第１０図において、広波長域形光カプ
ラ１０ｃ　と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイ
ッチ１１のプログラム制御手段を有する制御装置１４と
を設けたことにある。 次に、本第六実施例の動作について説明する。 初めに広波長域形光カプラＩＯＣのより詳細な構造とそ
の動作を説明する。広波長域形光カプラＩＯＣの構造は
第２図に示した合分波形光カプラ１０と同じで、８６お
よび８７は各々光フアイバ心線８１〜８４およびカプラ
部８８におけるクラッド部分およびコア部分である。こ
の広波長域形光カプラＩＯＣは第１０図に示すように４
個のボート９１〜９４を有しており、９１および９３が
各々通信用光フアイバ心線８１および８２に接続されて
おり、９２および９４が各々試験光伝送用光フアイバ心
線８３および８４に接続されている。 通信波長λ７およびλ′０の光についてはポート９１お
よび９３間で広波長域かつ一定損失で通過できる。 また、試験波長λ。の光についてはポー）９２−９３問
およびポー）９４−９１間で広波長域かつ一定損失で通
過できる。従って、通信波長、試験波長とも広波長域に
わたり自由に選択できる。第２図中のカプラ部８８にお
いて、先導波路である２本のコア８７について適当な間
隔ｄおよび長さｌを維持し、更にコア径を少し変えてお
くとエバネセント効果により、広波長域の光結合特性が
生じる。第３表はこの広波長域形光カプラ１０ｃの各ポ
ート間の挿入損失の一例を示したもので、米国グールド
社製広波長域形光カプラ（ファイバ形、ＷＩＣＡタイプ
、分岐比２０：８０）についての実測結果である。 第３表　広波長域形光カプラの挿入損失（１２００ｎｍ
≦λい　λ−１λ。６１６５０１ｍ）１２００ｎｍから
１６５０ｎｍの広波長域にわたり通信ポート９１→９３
間の損失が１．５ｄＢ以下であり、また、試験光挿入ボ
ート間９２→９３．９４→９１の損失も６〜９ｄＢ程度
の良好な特性を示している。 本第六実施例は前述の説明から明らかなように、前述の
第一実施例と同様の動作を行う。 そして前述の第一実施例の効果に加えて、合分波形光カ
プラとして前述の特性を有する広波長域形光がブラＩＯ
Ｃを用いているので、通信波長光および試験波長光の波
長を自由に選択できる効果が得られる。従って、線路建
設時は通信波長での試験、保守時は試験波長光による監
視の遠隔自動化ができる。 〔実施例７〕 第１１図は本発明の第七実施例を示すブロック構成図で
ある。本第七実施例は第１０図の第六実施例において、
光伝送端局１および２と光フアイバ心線８１および８２
との間およびｌｘＮ光スイッチ１１と光パルス試験器１
２との間にそれぞれ光フィルタ１６および１７を挿入し
、光伝送端局ｌおよび２へ試験波長光の進入および光パ
ルス試験器１２へ通信波長光の進入を少なくしたもので
あり、合分波形光カプラを用いた第４図の第三実施例に
対応する。 本第七実施例は前述のような構成であるので、光パルス
試験器１２の試験波長光送出レベルをある程度大きくし
ても通信へ妨害を与えにくく、また光パルス試験器１２
の受光器をある程度広波長域にしても通信波長光の光パ
ルス試験器１２への進入を小さくできる。従って、光パ
ルス試験器１２のダイナミックレンジを大きくできる効
果がある。その他の効果については第六実施例と同様で
ある。 本発明の特徴は、第１１図において、広波長域形光カブ
５１０ｃ　と、１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｎ光スイ
ッチ１１のプログラム制御手段を有する制御装置１４と
、光フィルタ１６および１７とを設けたことにある。 〔実施例８〕 第１２図は本発明の第八実施例を示すブロック構成図で
ある。本第八実施例は第１１図の第七実施例にふける光
パルス試験器１２を光出力減少形および光フイルタ１７
内蔵形にした光パルス試験器２５ａに替え、さらに光フ
ィルタ１６をしゃ断特性をある程度悪く緩やかにした光
フィルタ１６ａに替えたものである。第１３図は光パル
ス試験器２５ａの試験光のレベルを可変にするためおよ
び光フィルタ１７を内蔵するため、同試験器内蔵の発受
光モジュール２６ａに光減衰器２７および光フィルタ１
７を挿入して改造したものであり、２９は光サーキユレ
ータ、２８は受光部、３５は発光部、３６はＣＰＵであ
る。試験波長光は光サーキユレータ２９のポート３４か
ら３０へ挿入され、受信光はボート３０から３３へ伝搬
する。このような構成であるので、試験波長光の光レベ
ルを光減衰器２８で減少させて光伝送端局１および２に
おける通信波長光と試験波長光とのレベル差を大きくす
ることにより、通信への影響を小さくすることができる
。さらに、光フィルタ１７によって通信光をしゃ断し、
受光部２８へ広波長域の受光器の使用が可能となる。 本第八実施例の効果としては、第七実施例における光伝
送端局１および２の直近に設置した光フィルタ１６をし
ゃ断特性の悪く、経済的に作製できる光フィルタ１６ａ
に代えたため、第七実施例より経済的にシステム構成が
できる。その他の効果は第七実施例と同様である。 本発明の特徴は、第１２図および第１３図において、広
波長域形光カプラＩＯＣと、１×Ｎ光スイッチ１１と、
ｌｘＮ光スイッチ１１のプログラム制御手段を有する制
御装置１４と、試験光レベル可変形および光フイルタ１
７内蔵形の光パルス試験器２５ａとを設けたことにある
。 〔実施例９〕 第１・４図は本発明の第九実施例を示すブロック構成図
である。本第九実施例は、第１０図の第六実施例におい
て、１×Ｎ光スイツチ１１と光パルス試験器１２との間
に１×Ｍ光スイッチ３７を挿入し、ｌｘＭ光スイッチ３
７のＭボートに光パルス試験器１２と、光信号モニタ装
置３８および光信号送出装置３９を含む光信号装置とを
接続し、さらに１×Ｎ光スイッチＩＬｌｘＭ光スイッチ
３７、光パルス試験器１２、光信号モニタ装置３８およ
び光信号送出装置３９が遠隔自動化操作できるように、
モデム４０ｂ１光線路試験ワークステーシヨン４２およ
びデータベース１４ａを含む広域保守センタ４３とモデ
ム４０ａとがモデム通信回線４１により接続された遠隔
自動化手段４４を設け、表示装置１５を除いたものであ
る。 本第九実施例の動作は、光線路ワークステーション４２
からのプログラム制御により、光°信号モニタ装置３８
による通信回線のモニタリング、光信号送出装置３９に
よる心線対照光の送出ならびに光パルス試験器１２によ
る通信回線の試験および監視が遠隔自動化できる。従っ
て、通信回線モニタならびにケーブル移転工事時の心線
対照光送出の遠隔自動化が図られる効果があるほか、第
六実施例と同様の効果がある。 本発明の特徴は、第１４図において、広波長域形光カプ
ラ１０ｃ　と、・１×Ｎ光スイッチ１１と、１×Ｍ光ス
イッチ３７と、光パルス試験器１２と、制御装置１４と
、光信号モニタ装置３８と、光信号送出装置３９と、モ
デム４０ａおよび広域保守センタ４３を含む遠隔自動化
手段４４を設けたことにある。 〔実施例１０） 第１５図は本発明の策士実施例を示すブロック構成図で
ある。本第九実施例は、第九実施例を第八実施例に適用
したものであり、効果は第八および第九実施例と同様で
ある。 本発明の特徴は、第１５図において、第１４図の第九実
施例に対して光フィルタ１６ａを付加したことにある。 〔実施例１１） 第１６図は本発明の勇士−実施例を示すブロック構成図
である。本勇士−実施例は、第１４図の第九実施例の１
×Ｎ光スイッチと１×Ｍ光スイッチ３７の替わりにＮｘ
Ｍ光スイッチ４５を配置したものである。従って、本勇
士−実施例は、光パルス試験器１２、光信号モニタ装置
３８および光信号送出装置３９等、Ｎ×Ｍ光スイッチ４
５のＭボートに接続された装置から同時に通信回線を選
択およびアクセスできる効果が得られるほか、第九実施
例と同様の効果が得られる。 本発明の特徴は、第１６図において、広波長域形光カプ
ラ１０Ｃと、Ｎ×Ｍ光スイッチ４５と、光パルス試験器
１２と、制御装置１４と、光信号モニタ装置３８と、光
信号送出装置３９と、モデム４０ａ　ｉａよび広域保守
センタ４３を含む遠隔自動化手段４４とを設けたことに
ある。 〔実施例１２〕 第１７図は本発明の第十三実施例を示すブロック構成図
である。本第十三実施例は、第１５図の策士実施例の１
×Ｎ光スイッチ１１と１×Ｍ光スイッチ３７の替わりに
Ｎ×Ｍ光スイッチ４５を配置したものである。従って、
勇士−実施例と同様に、Ｎ×Ｍ光スイッチ４５０Ｍポー
トに接続された装置から同時に通信回線を選択およびア
クセスできる効果が得られるほか、策士実施例と同様の
効果が得られる。 本発明の特徴は、第１７図において、第１６図の勇士−
実施例に対して光フィルタ１６ａを付加したことにある
。 〔実施例１３〕 第２１図は本発明の第十三実施例を示すブロック構成図
である。 本第十三実施例は、第１７図の第十三実施例におけるＮ
×Ｍ光スイッチ４５をＮＸｍ光スイツチ４６およびｍＸ
ｌ光スイツチ４８で構成し、接続する装置類として光伝
送端局装置１右よび２に各々対応する予備用伝送装置５
１ａ’によび５１ｂ１光パルス試験器１２の入出力ファ
イバにフィルタ１７の挿入が自動的に行えるＩＸ２光ス
イッチ５０、さらに浸水検知ファイバ８１ａを追加した
ことを特徴としている。 ＮＸｍ光スイツチ４６は、複数個の広波長域形光カプラ
１０Ｃの試験用のポート９２および９４の複数の光ファ
イバ８３および８４の先端に、線路用多心コネクタ゛の
固定多心フェルール４７ｂを取りつけ、これらの固定多
心フェルール４７ｂは固定しておき、可動の多心コネク
タの可動多心フェルール４７ａにより、固定多心フェル
ール４７ｂを選択してスイッチングする構成である。 ここで用いた線路用多心コネクタは、ピンかん合により
数μｍ以下のファイバ位置決めを行い低損失で接続でき
るものである（特開昭５５−３６８０９号公報参照）。 本第十三実施例では、可動多心フェルール４７ａが左右
に移動してスイッチング対象フェルールの前で停止し、
さらに上方に移動して同フエルールに固定されたビン５
２が固定多心フェルール４７ｂの結合穴５３に挿入され
ることにより、心線接続ができる。 次に、ｍＸｌ光スイツチ４８は、前記Ｎ・×ｍ光スイッ
チ４６の可動多心フェルール４７ａから出た複数の光フ
ァイバの先端に固定単心フェルール４９ｂを取りつけ、
これらの固定単心フェルール４９ｂは固定しておき、可
動単心フェルール４９ａにより、固定単心フェルール４
９ｂを選択してスイッチングを行う。ここで、可動単心
フェルール４９ａは、可動板４９ｄに固定されているの
ですべて同時に同一方向へ移動する。可動板４９ｄが左
右に移動し、スイッチング対象固定単心フェルール４９
ｂの前で停止し、上方に移動し、割スリーブ５４内に可
動単心フェルール４９ａが挿入されて心線接続ができる
。すなわち数μｍ以下の軸合せは通常の単心コネクタと
同様に割スリーブ５４で行う構成である。なお、第２１
図において４９Ｃは固定ダミーフェルールである。 次に、ＩＸ２光スイッチ５０は、動作は前述のｍ×１光
スイツチ４８と同様であるが、第２１図の状態から可動
板４９ｄを右に移動させて、可動単心フェルール４９ａ
を上方へ移動せて、割スリーブ５４へ挿入することによ
り、光パルス試験器１２と広波長域形光カプラＩＯＣの
間に光フィルタ１７を挿入できる。 本第十三実施例はこのような構成であるので、勇士二実
施例の効果に加えて次に示す効果が得られる。 ■　光パルス試験器１２または光信号送出装置３９から
発射された光信号は、広波長域形カプラＩＯＣを経由し
て、通信ケーブルの光フェルール８１および８２に挿入
されるが、その挿入パワーはポート９４から光ファイバ
８４を経由して光信号モニタ装置３８へ挿入されるので
、常時そのレベルを自己確認できる機能を付加できる。 ■　光伝送端局装置１および２が故障の場合、ＮＸｍ光
スイツチ４６およびｍＸｌ光スイツチ４８を動作させて
故障回線を予備用伝送装置５１ａまたは５１ｂに遠隔自
動で接続することにより、迅速に故障を復旧することが
でき、サービス性向上が図れる。 ■　ＮＸｍ光スイツチ４６およびｍＸＮ光スイツチ４８
としては、可動板４９ｄの移動方向は２方向であるので
、移動機構が２軸で良いため小型化および経済化が図れ
る。 ■　前述のようにＩＸ２光スイッチ５０は、可動単心フ
ェルール４９ａの移動により、光パルス試験器１２と広
波長域形光カプラ１０ｃの間に光フィルタ１７を挿入で
きる。線路建設時は、光伝送端局装置ｌおよび２と光ケ
ーブル３１および３２が接続されてないので、フィルタ
入りの１×２光スイツチ５０を動作させてフィルタ１７
を挿入しない構成として、通信光と同じ波長で光パルス
試験を実施する。−方、建設工事が終了し、通信回線が
設定された後は、１×２光スイツチ５０を動作させて光
フィルタ１７を挿入する構成として、通信光と異なる波
長の光で試験を実施し、通信に影響を与えず、保守試験
ができる。 ■　浸水検知ファイバ８１ａには、水を吸収して体積が
増大する物質によりファイバに曲げを与える浸水検知器
５５がついており、ケーブル接続部のフロージャ内等に
設定されている。もし、浸水があればファイバに曲げ損
失が生じ、光パルス試験器１２ａによりその位置が遠隔
自動で検知できる。 なお、第３図の第二実施例、第７図の第四実施例および
第９図の第五実施例にふいて、それぞれの合分波形光カ
プラ１０の替わりに広波長域形光カプラｔＯＣを用いる
ことで、第六実施例で付加された効果が同様にそれぞれ
付加される。 なお、以上の実施例の説明においては、合分波形光カプ
ラ１０および広波長域形光カプラ１０Ｃの数を複数とし
たけれども、Ｎ＝２すなわち１個の場合においても本発
明は同様に適用される。 〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明によれば、従来の技術に比
べて光ファイバケーブル伝送路全域にわたり任意の地点
で双方向伝送方式の場合でも通信に影響なく線路の試験
および監視ができ、また光パルス試験器のダイナミック
レンジを上げることなく試験可能距離を最大２倍に向上
でき、さらに多数の試験回線を一台の光パルス試験器で
自動的に試験ができ、合分波形光カプラとして広波長域
形光カプラを使用した場合には、さらに通信波長光およ
び試験波長光の波長を広波長域で任意に選択できるので
、経済的で設置条件の緩やかなまた保守コストの大幅な
削減ができる光線路試験方式を提供でき、その効果は大
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第一実施例を示すブロック構成図。 第２図はその合分波形光カプラおよび広波長域形光カプ
ラの構造を示す説明図。 第３図は本発明の第二実施例を示すブロック構成図。 第４図は本発明の第三実施例を示すブロック構成図。 第５図はその光フィルタ１６の挿入損失特性図。 第６図はその光フィルタ１７の挿入損失特性図。 第７図は本発明の第四実施例を示すブロック構成図。 第８図はその光パルス試験器の発受光モジュールを示す
ブロック構成図。 第９図は本発明の第五実施例を示すブロック構成図。 第１０図は本発明の第六実施例を示すブロック構成図。 第１１図は本発明の第七実施例を示すブロック構成図。 第１２図は本発明の第八実施例を示すブロック構成図。 第１３図はその光パルス試験器の発受光モジュールを示
すブロック構成図。 第１４図は本発明の第九実施例を示すブロック構成図。 第１５図は本発明の勇士実施例を示すブロック構成図。 第１６図は本発明の第十三実施例を示すブロック構成図
。 第１７図は本発明の第十三実施例を示すブロック構成図
。 第１８図は従来例を示すブロック構成図。 第１９図はその光フィルタ５の挿入損失特性図。 第２０図はその分岐装置の挿入損失特性の説明図。 第２１図は本発明の第十三実施例を示すブロック構成図
。 １．２・・・光伝送端局、３．３Ｌ　３２・・・光ファ
イバケーブル、４．５．１６．１６ａ　、　１７・・・
光フィルタ、６・・・光フアイバロケータ、７・・・光
分岐装置、１０、ｌＱａ　、　１０ｂ・・・合分波形光
カプラ、１０Ｃ・・・広波長域形光カプラ、１１・Ｉ　
Ｘ　Ｎ光スイッチ、１２．２５．２５ａ・・・光パルス
試験器、１３・・・バス、１４・・・制御装置、１４ａ
・・・データベース、１５・・・表示装置、１９〜２４
・・・光フィルタの損失特性、２６．２６ａ・・・発受
光モジュール、２７・・・光減衰器、２８・・・受光部
、２９・・・光サーキユレータ、３０．３３．３４．９
１〜９４・・・ポート、３５・・・発光部、３６・・・
ＣＰＵ、３７・・・１×Ｍ光スイッチ、３８・・・光信
号モニタ装置、３９・・・光信号送出装置、４Ｑａ　、
４Ｑｂ・・・モデム、４１・・・モデム通信回線、４２
・・・光線路試験ワークステーション、４３・・・広域
保守センタ、４４・・・遠隔自動化手段、４５・・・Ｎ
×Ｍ光スイッチ、４６・・・ＮＸｍ光スイッチ、４７ａ
・・・可動多心フェルール、４７ｂ・・・固定多心フェ
ルール、４８・・・ｍＸｌ光スイッチ、４９ａ・・・可
動単心フェルール、４９ｂ・・・固定単心フェルール、
４９Ｃ・・・固定タミーフェルール、４９ｄ・・・可動
板、５０・・・ＩＸ２光スイッチ、５１ａ　、　５１ｂ
・・・予備用伝送装置、５２・・・がん合ピン、５３・
・・かん金穴、５４・・・割スリーブ、５５・・・浸水
センサ、８１ａ・・・浸水検知ファイバ、８１．８２・
・・光フアイバ心線、８３．８４．８５・・・試験光挿
入用光フアイバ心線、８６・・・クラッド部、８７・・
・コア部、８８・・・カプラ部、９１〜９４・・・ポー
ト。 特許出願人　　日本電信電話株式会社 代理人　　弁理士　井　出　直　孝

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光伝送装置間に接続された光ファイバケーブル（３
   １、３２）の途中に挿入され外部からの試験波長光の前
   記光ファイバケーブルへの挿入の制御を行う光分岐手段
   と、 前記試験波長光の発生ならびに前記光ファイバケーブル
   から戻された前記試験波長光の検出を行う光パルス試験
   器（１２）を含む試験手段とを備えた光線路試験方式に
   おいて、 前記光分岐手段は、前記光ファイバケーブルの任意の点
   に挿入されたＮ／２個（Ｎは偶数）の合分波形光カプラ
   （１０）を含み、 前記試験手段は、前記合分波形光カプラの試験回線用ポ
   ートを選択する１×Ｎ光スイッチ（１１）と、この１×
   Ｎ光スイッチのプログラム制御を行う制御手段（１４）
   とを含む ことを特徴とする光線路試験方式。 ２、光伝送装置の直近に挿入された第一の光フィルタ（
   １６）と、光パルス試験器の直近に挿入された第二の光
   フィルタ（１７）とを含む請求項１記載の光線路試験方
   式。 ３、請求項２記載の光線路試験方式において、第一の光
   フィルタはそのしゃ断特性が緩やかなフィルタであり、
   第二の光フィルタは光パルス試験器に内蔵されたことを
   特徴とする光線路試験方式。 ４、１×Ｎ光スイッチと光パルス試験器との間に挿入さ
   れた１×Ｍ光スイッチ（Ｍは自然数）と、この１×Ｍ光
   スイッチに前記光パルス試験器と並列に接続された光信
   号モニタ装置および光信号送出装置を含む複数の光信号
   装置と、前記光パルス試験器および前記光信号装置の動
   作の遠隔自動制御を行う遠隔自動化手段とを含む請求項
   １ないし請求項３のいずれかに記載の光線路試験方式。 ５、１×Ｎ光スイッチおよび１×Ｍ光スイッチの替わり
   にＮ×Ｍ光スイッチを用いた請求項４に記載の光線路試
   験方式。 ６、合分波形光カプラが広波長域形光カプラである請求
   項１ないし請求項５のいずれかに記載の光線路試験方式
   。