JP2006190860A - ダイオード - Google Patents

ダイオード Download PDF

Info

Publication number
JP2006190860A
JP2006190860A JP2005002160A JP2005002160A JP2006190860A JP 2006190860 A JP2006190860 A JP 2006190860A JP 2005002160 A JP2005002160 A JP 2005002160A JP 2005002160 A JP2005002160 A JP 2005002160A JP 2006190860 A JP2006190860 A JP 2006190860A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diode
electrode
electrode plate
chip
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005002160A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryoichi Ikuhashi
良一 生橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
POWERED KK
Original Assignee
POWERED KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by POWERED KK filed Critical POWERED KK
Priority to JP2005002160A priority Critical patent/JP2006190860A/ja
Publication of JP2006190860A publication Critical patent/JP2006190860A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/83801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/84Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
    • H01L2224/848Bonding techniques
    • H01L2224/84801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/84Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1203Rectifying Diode
    • H01L2924/12036PN diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

【課題】ダイオードチップの発熱を効率よく放熱するとともに、圧接による外部電極接続にも耐え得る構造のダイオードを提供する。
【解決手段】ダイオード20Aを、P−N接合チップ、P層側のアノード電極23、及びN層側のカソード電極24からなるダイオードチップ21と、アノード電極23に高融点半田25により接続された電極板27と、カソード電極24に高融点半田26により接続された電極板28と、ダイオードチップ21及び電極板27の側面を包囲して設けられた硬質の高熱伝導性材29とで構成する。
【選択図】 図1

Description

この発明は、主として太陽電池に使用されるチップ型のダイオードに関する
一般に、太陽電池に使用されるダイオードは、太陽光が影になるなどして、発電に寄与しない太陽電池セルに逆バイアスの高電圧が印加されないように、各セルにそれぞれ並列にバイパス用として接続される。
このようなダイオードは例えば図9に示すような構造である。このようなダイオードは、メサ構造ガラスパッシベーション型のベアチップ型であり、P層、そのアノード電極3、N層、及びそのカソード電極4からなるダイオードチップ1と、ダイオードチップ1の側面にP−N接合に渡って設けられたガラス層2と、カソード電極4に半田付けされた電極板5と、アノード電極3にワイヤボンデイングされたワイヤ6とを有する。
ところで、太陽電池に使用されるダイオードは、太陽光線が照射されるときは、自身の発熱と相まってかなりの高温に晒されるため、放熱性がよいことが要求される。しかしながら、図9に示すような構造のダイオードでは、熱は主に外部電極との接触面積の大きいN層側の電極板5から外部電極に放散され,P層側からの放熱は殆ど無く、良好な放熱性は期待できない。
一方、本出願人の先願に係る下記の特許文献1に記載された半導体素子がある。この半導体素子(ダイオード)は、温度差の激しいところで使用しても破壊されないことを目的として発明されたもので、図10に示すようなベアチップ型であり、P層とN層からなるチップ部12と、チップ部12のP層のアノード電極に半田付けされた電極板13と、N層のカソード電極に半田付けされた電極板14とから構成され、電極板13に長手方向に直交する方向にスリット(切り欠き凹部)15が形成されている。このダイオードは、使用に際しては電極板13,14が外部電極に半田付けされる(特許文献1参照)。
特開2002−158324号公報
しかしながら、上記特許文献1記載の半導体素子(ダイオード)では、電極板13はスリット15により部分13aの幅が狭くなっているので、チップ12からの熱が電極板13を経て外部電極に伝わり難い。
また、電極板14は、その左端部分14aが外部電極に半田付けされ、それ以外の部分14bは外部電極に接続されない。このため、電極板14の部分14bと外部電極との間には間隙(空気層)が存在することになるので、チップ部12の発熱が電極板14を通じて外部電極に十分に伝わり難い。
以上の理由で、上記特許文献1記載の半導体素子(ダイオード)でも、その構造上、チップ部12の発熱の外部電極への熱伝導性が余りよくない、という問題点がある。
ところで、チップダイオードを装置の端子箱等に実装し、アノード、カソードを装置に電気的に接続するのに、半田付けによらず、装置の端子箱等の基板をチップダイオードのアノード、カソードに圧接する方法の採用が検討されている。このような圧接による電気的接続を行う場合には、チップダイオードが圧接に耐え得るものであることが望ましい。
この発明は、上記問題点に着目してなされたもので、ダイオーヂチップの発熱をP層側及びN層側の外部電極に効率良く伝える放熱に優れ、かつ接続のための圧接力にも耐えうる構造のダイオードを提供することを目的とする。
この発明のダイオードは、ダイオードチップのアノード電極及びカソード電極に、このアノード電極及びカソード電極を覆う以上の領域を有する電極板をそれぞれ設け、かつ前記ダイオードチップの側面に硬質の高熱伝導性材を設けたことを特徴とする。
この発明において、前記硬質の高熱伝導性材は、前記ダイオードチップの側面に加え、前記アノード用電極板の側面を包囲して設けるとよい。
また、この発明において、前記硬質の高熱伝導性材は、前記ダイオードチップの側面に加え、前記アノード用電極板及びカソード用電極板の側面を包囲して設けてもよい。硬質の高熱伝導性材としては、例えばエポキシ樹脂が使用される。ダイオードチップとしては、メサ型を使用するとよい。
この発明によれば、アノード電極側及びカソード電極側の電極板がそれぞれアノード電極及びカソード電極を覆う以上の領域を有し、かつダイオードチップの側面に硬質の高熱伝導性材を設けているので、ダイオードチップの発熱をP層及びN層側の外部電極に両電極板を通じて効率良く伝えることができ、また高熱伝導性材を通して外部に放熱することができ、放熱性にすぐれている。また、電流容量に応じてチップサイズと電極サイズ・形状などを容易に変更でき、汎用性が高い。さらに、アノード側の電極板及びカソード側の電極板に外部電極を圧接力により接続する場合、硬質の高熱伝導性材によって、ダイオードチップを圧接力による破壊から保護できる。
以下、実施の形態により、この発明をさらに詳細に説明する。
その、一実施形態に係るダイオードの要部断面を図1に、その表側からみた外観斜視図を図2の(a)に、裏側から見た外観斜視図を図2の(b)に示す。
このダイオード20Aは、メサ構造ガラスパッシベーション型のベアチップ型であり、全体が円板状を呈する。このダイオード20Aは、P層、N層,P層側のアノード電極23、及びN層側のカソード電極24からなるダイオードチップ21と、ダイオードチップ21の側面にP−N接合に渡って設けられたガラス層22と、アノード電極23に高融点(例えば295℃)半田25により接続された電極板27と、カソード電極24に高融点(例えば295℃)半田26により接続された電極板28と、ダイオードチップ21の側面に設けられた硬質の高熱伝導性材(例えばエポキシ樹脂)29とで構成される。
電極板27,28は、共に表面に錫メッキを施した円形状の銅板からなり、電極板27はアノード電極23を覆う以上の領域(面積)を有し、電極板28はカソード電極24を覆う以上の領域(面積)を有する。すなわち、電極板27はアノード電極23よりも大きく、電極板28はカソード電極24よりも大きい。
ダイオード20Aのサイズの一例として、全体の厚さt=2mmに対して、電極板27の厚さt1=0.5mm、直径6.4mmであり、電極板28の厚さt2=0.8mm、直径7.4mmである。勿論、ダイオード20A(ダイオードチップ)の全体サイズ、電極板27,28の形状・厚さなどは、電流容量に応じて適宜変更すればよい。例えば、電極板27,28の形状は円形の他に四角形、または五角形などの多角形でもよい。つまり、このダイオード20Aは構造的に汎用性が高いものである。
高熱伝導性材29は、接着力が強いもので、アノード電極23側ではアノード電極23側の電極板27の周囲を包囲するように電極板27の外周に隣接して位置し、かつ上面は、アノード電極23の電極板27の上面と略面一となるように形成する。カソード電極24側ではカソード電極24側の電極板28の外周よりも突出しないように電極板28の外周部分の内側に隣接して位置する。これにより電極板27,28の大きさが相違するので、図2より明らかなように,P層(アノード電極23)とN層(カソード電極24)側との識別が容易となる。
このダイオード20Aでは、構造的に電極板27,28が全体に渡ってそれぞれ外部電極に半田付けされるため、ダイオードチップ21の発熱をP層側及びN層の外部電極に電極板27,28を通じて効率良く伝えることができ、放熱性が非常に良い。
また、高熱伝導性材29により、ダイオードチップの発熱が電極板27,28、牽いては外部電極に一層効率良く伝わり、より放熱性が向上する。さらに、高熱伝導性材29は、硬質のエポキシ樹脂で形成されているので、アノード電極23側の電極板27とカソード電極24側の電極板28に対し、上方と下方から外部電極と圧接による接続を行う場合でも、硬質の高熱伝導性材29の圧接力に対する耐力により、ダイオードチップ21の破壊を防止することができる。
この他、ガラス層22により、ダイオードチップ21の側面をリーク電流が流れるのを防止でき、動作がより安定する。
他の実施形態のダイオードの要部断面図を図3に示す。このダイオード20Bは、硬質の高熱伝導性材29が、アノード電極23側の電極板27の周囲、及びダイオードチップ21の周囲を包囲するほか、さらにカソード電極24側の電極板28間の周囲も包囲して設けられている。硬質の高熱伝導性材29は、上面がアノード電極23の電極板27の上面と、及び下面がカソード電極24の電極板28の下面と略面一となるように形成されている。
この実施形態ダイオードでは、アノード側の電極板27とカソード側の電極板28に対し、上方と下方から圧接して電気的接続する場合に、その圧接力に対し硬質の高熱伝導性材29で耐えて保護するので、ダイオードチップ21の破壊を防止することができる。
上記のようなダイオード20A,20Bは、主に太陽電池において太陽電池セルのバイパス用として使用され、その際、各ダイオードは直列接続される。そのダイオードの直列接続の一例を図4(接続形態の概略断面図)に示す。図4では、3個のダイオード20A(1〜3)が導電板に31,32で直列接続されている。図4では省略されているが、ダイオード20A1とダイオード20A2は、ダイオード20A1のP層側の電極板27とダイオード20A2のN層側の電極板28とが導電版32で接続され、ダイオード20A2とダイオード20A3は、ダイオード20A2のP層側の電極板27とダイオード20A3のN層側の電極板28とが導電板31に接続されている。勿論、4個以上のダイオードを直列接続する場合は、同様の接続形態を、繰り返えせばよい。
図4の接続形態はダイオードを横向きにするものであるが、縦向きにする場合の例を図5(接続形態の概略断面図)に示す。図5では、3個のダイオード20A(1〜3)が導電板33,34で直列接続されている。ここでは、両端用の導電板33は断面L字状で、中継用の導電板34は断面コ字状であり、導電板34を用いてダイオードの接続個数を増やすことができる。
上記図4、図5、における各電極と導電板の接続は半田付け、あるいは圧接のいずれを用いても良い。
図6に、上記ダイオード20A,20Bを適用したダイオード20Cを示す。図6の(a)はダイオード20Cの平面図、図6の(b)は同側断面図、図6の(c)は同底面図である。このダイオード20Cは、ダイオード20Aのアノード側の電極板27に、扁平状の導電板31を半田付けし、カソード側の電極板28に扁平状の導電板32を半田付けしてなるものである。導電板31と導電板32を面一の外部基板に半田付け等できるように、導電板31を屈曲させている。
このダイオード20Cをユーザに供給することにより、ユーザは、導電板31,32を自己の製品の例えば端子箱の基板に半田付けすればよいので、取り付け上、便利である。

図7に、上記ダイオード20A,20B,を適用した他のダイオード20Dを示す。図7の(a)はダイオード20Dの平面図、図7の(b)は同側断面図、図7の(c)は同底面図である。このダイオード20Dは、図6に示すダイオード20Cの導電板32を接続していない状態のものと同様である。そして、導電板31の後端31aの底面とダイオード20Aのカソード側の電極板28が面一となるように構成している。このダイオード20Dは、カソード側の電極板28を、通電板31に接続し、逆にアノード側の電極板27に通電板32を接続しないタイプとしても良い。このダイオード20Dをユーザに提供することにより、ユーザは、ダイオード20Dを例えば図8に示す端子箱の基板35,36に接続することができる。図8は、図7のダイオード20Dを3個、端子箱の基板35,36により直列接続した場合の断面図である。図8ではダイオード20D1のカソード側の電極板28と端子箱の基板35が、ダイオード20D2の導電板31と端子箱の基板35、カソード側の電極板28と端子箱の基板36が、リフロー半田で接続され、ダイオード20D3のアノード側の電極板27と基板36が、リフロー半田で接続されている。なお、ここではダイオード20D3のみがカソード側の電極板28が導電版31に接続されたタイプのものを使用している。このダイオード20Dを使用することにより、複数個のダイオード20Dをリフロー半田で一挙に実装することができ、便利である。
この発明の一実施形態のダイオードの要部断面図である。 図1のダイオードの表側から見た外観斜視図(a)、及び裏側から見た外観斜視図(b)である。 別実施形態に係るダイオードの要部断面図である。 上記各実施形態に係るダイオードの直列接続の一例を示す接続形態の概略断面図である。 上記各実施形態に係るダイオードの直列接続の別例を示す接続形態の概略断面図である。 上記実施形態のダイオードを適用した他のダイオードを示し、(a)は平面図,(b)は側断面図、(c)は底面図である。 上記実施形態ダイオードを適用した、さらに他のダイオードを示し、(a)は平面図,(b)は側断面図、(c)は底面図である。 図7に示すダイオードを複数個、端子箱の基板を使用して直列接続した場合の断面図である。 従来例に係るダイオードの要部断面図である。 別の従来例に係るベアチップ型のダイオードの平面図(a)、及び断面図(b)である。
符号の説明
20A,20B,20C、20D ダイオード
21 ダイオードチップ
22 ガラス層
23 アノード電極
24 カソード電極
25,26 高融点半田
27,28 電極板
29 硬質の高熱伝導性材
31,32,33,34 導電板
35,36 端子箱の基板

Claims (4)

  1. ダイオードチップのアノード電極及びカソード電極に、このアノード電極及びカソード電極を覆う以上の領域を有する電極板をそれぞれ設け、かつ前記ダイオードチップの側面に硬質の高熱伝導性材を設けたことを特徴とするダイオード。
  2. 前記硬質の高熱伝導性材は、前記ダイオードチップの側面に加え、前記アノード用電極板の側面を包囲して設けたことを特徴とする請求項1記載のダイオード。
  3. 前記硬質の高熱伝導性材は、前記ダイオードチップの側面に加え、前記アノード用電極板及びカソード用電極板の側面を包囲して設けたことを特徴とする請求項1記載のダイオード。
  4. 前記ダイオードチップは、メサ型であることを特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3記載のダイオード。
JP2005002160A 2005-01-07 2005-01-07 ダイオード Pending JP2006190860A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005002160A JP2006190860A (ja) 2005-01-07 2005-01-07 ダイオード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005002160A JP2006190860A (ja) 2005-01-07 2005-01-07 ダイオード

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006190860A true JP2006190860A (ja) 2006-07-20

Family

ID=36797782

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005002160A Pending JP2006190860A (ja) 2005-01-07 2005-01-07 ダイオード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006190860A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012059876A (ja) * 2010-09-08 2012-03-22 Sanken Electric Co Ltd 半導体モジュール及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012059876A (ja) * 2010-09-08 2012-03-22 Sanken Electric Co Ltd 半導体モジュール及びその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3852710B1 (ja) 太陽電池モジュール用端子ボックス
US11862745B2 (en) One-dimensional metallization for solar cells
WO2016095859A1 (zh) 太阳能电池片、太阳能电池组件和旁路二极管的组装方法
JP2007116173A (ja) 接続装置、その製造方法及びソーラーモジュール
US20110265871A1 (en) Semiconductor solar cell package
KR20110030376A (ko) 태양 전지 모듈 기판 및 태양 전지 모듈
KR102113070B1 (ko) 집광형 태양광발전 모듈들을 위한 태양 전지 어레이들
TW201413982A (zh) 二極體單元模組
KR101542002B1 (ko) 태양 전지 모듈
JP2005150277A (ja) 太陽電池モジュール用端子ボックス
EP3179627B1 (en) Photovoltaic junction box
JP2006190860A (ja) ダイオード
JP2009246053A (ja) フレーム板を備えたダイオード
JP4509213B1 (ja) 太陽電池モジュールの製造方法
JP2004193444A (ja) 半導体素子及び太陽電池
JP2011029500A (ja) 太陽電池用素子装置
JP2006351597A (ja) 太陽電池モジュール用端子ボックス
JP2007311437A (ja) 太陽電池用ダイオード素子装置
KR20160034706A (ko) 태양 전지 모듈과 그 제조 방법
CN215731676U (zh) 一种超薄型贴片二极管
JP2006134934A (ja) ダイオード
JP3174886U (ja) バイパスダイオード
JP2002237613A (ja) 太陽電池の端子箱
JP2012156504A (ja) パワー半導体素子及び少なくとも1つのソーラセルに関するパワー半導体素子の配置構造
CN215815870U (zh) 一种双芯片的导热型贴片二极管