JP2006171818A

JP2006171818A - クロストーク検証装置およびクロストーク検証方法

Info

Publication number: JP2006171818A
Application number: JP2004359263A
Authority: JP
Inventors: Takeya Okada; 武也岡田
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2004-12-13
Filing date: 2004-12-13
Publication date: 2006-06-29

Abstract

【課題】半導体集積回路のレイアウト時に、クロストークの原因となる寄生容量を的確に探し出し、その寄生容量が発生したレイアウト箇所をエラー表示することができるクロストーク検証装置およびクロストーク検証方法を提供する。
【解決手段】設計者がクロストークの影響を分析したいネットを指定するネット指定手段１０７と、レイアウトパターン１０１から抽出した寄生容量をデータベース化した寄生容量情報１０５から、ネット指定手段１０７によって指定されたネットを接続情報として片側端子にもつ寄生容量を選択する寄生容量選択手段１０８と、寄生容量選択手段１０８で選択された寄生容量を１つずつ回路データに付加した回路を生成する回路生成手段１０９と、回路生成手段１０９で得た回路を回路シミュレーションする回路シミュレータ１１１と、その結果を表示するエラー出力手段１１２とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、半導体集積回路のレイアウト設計において、レイアウトした配線間の寄生容量に起因して起こる信号干渉の検証技術に関するものである。

半導体集積回路では、ある配線の信号変化が他の配線の信号に干渉するといった配線間の信号干渉現象（以下、クロストークと呼ぶ）が発生し、これにより、必要とする信号へのノイズ混入やそれらによる回路動作不良を引き起こしている。

このような配線間のクロストークは、半導体集積回路の配線パターン、つまり配線の重なりや配線の隣接などにより作り出される寄生容量が介在することによって発生し、特に近年では、半導体集積回路における回路規模の大型化による集積度の大幅なアップにより、配線間がさらに近接化し発生しやすくなっている。

そこで、従来から、半導体集積回路のレイアウト設計時に、レイアウトした配線間に作り出される多くの寄生容量の中から、上記のようなクロストークを引き起こす要因となる寄生容量を自動的に選択するためのクロストーク検証装置が提案されている。

以上のような従来のクロストーク検証装置（例えば、特許文献１を参照）について、図面を用いて以下に説明する。
図９は従来のクロストーク検証装置の構成を説明するためのブロック図である。図９に示すクロストーク検証装置では、半導体集積回路のレイアウト設計時に、レイアウトした（９０１〜９０９）配線間に作り出される多くの寄生容量の中から、クロストークを引き起こす寄生容量を自動的に選択するため、同時変化ノード抽出部９１０で同時に変化するノード情報９１２を生成し、またカップリング容量抽出部９１１でレイアウトパターンから寄生容量を抽出しカップリング容量情報９１３を生成し、選択ノード判定部９１４で同時に変化したノードの寄生容量だけを選択し、ノードおよびカップリング容量情報９１５を生成し、ノードおよびカップリング容量情報９１５とネットリスト９０４によりクロストーク検証用の回路データを生成し、クロストーク解析部９１６により動作確認を行うようにしている。
特開２００３−１８６９４３号公報

しかしながら、上記のような従来のクロストーク検証装置では、同時に変化するノードに着目して寄生容量を選択しているが、例えば大規模化した半導体集積回路では、同時に変化するノードに限定して寄生容量を選択しても、その数は膨大な量となり、それらの寄生容量に対するレイアウト修正を実行するためには、多大な工数が必要となるという問題点を有していた。

一方、作業者である設計者は、一度クロストークが確認されると、それを改善するためレイアウト修正を行う場合には、確認されたクロストークについて全ての寄生容量を分析し、真にクロストークの原因となる寄生容量を探し出して特定し、その寄生容量に対するレイアウト修正を実行しなければならず、その分析作業とレイアウト修正箇所の特定には熟練した技術と多大な工数が必要となるという問題点も有していた。

本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、半導体集積回路のレイアウト設計時に、設計者が、クロストークの原因となる寄生容量のみに対応したレイアウトの修正箇所を、容易にかつ正確に把握できて、クロストークの原因となる寄生容量に対するレイアウト修正を素早く的確に行うことができ、レイアウト設計時の作業工数を削減することができるクロストーク検証装置およびクロストーク検証方法を提供する。

上記の課題を解決するために、本発明の請求項１記載のクロストーク検証装置は、半導体集積回路のレイアウトパターンにおける配線間のクロストークを検証するためのクロストーク検証装置であって、前記レイアウトパターンから寄生容量を抽出しデータベース化した寄生容量情報、および集積化対象の回路に前記抽出した寄生容量を付加して第１の寄生容量付き回路を生成するレイアウト回路生成手段と、設計者が前記クロストークの影響について確認したいネットを指定するためのネット指定手段と、前記レイアウト回路生成手段からの寄生容量情報における前記寄生容量のデータベースから、前記ネット指定手段で指定されたネットを接続情報として持つ寄生容量を選択する寄生容量選択手段と、前記寄生容量選択手段で選択された寄生容量を接続情報毎に分類し、前記集積化対象の回路に前記分類毎の寄生容量を付加して第２の寄生容量付き回路を生成する回路生成手段と、前記レイアウト回路生成手段からの第１の寄生容量付き回路と前記回路生成手段からの第２の寄生容量付き回路を回路シミュレーションする回路シミュレータと、前記回路シミュレータによる前記第１の寄生容量付き回路と前記第２の寄生容量付き回路の各回路シミュレーション結果を比較し、その比較結果がエラー状態を示す前記ネットについてエラー信号を出力するエラー出力手段とを備えたことを特徴とする。

また、本発明の請求項２記載のクロストーク検証装置は、請求項１記載のクロストーク検証装置であって、ノイズ周波数と誤差値を入力する入力手段を備え、前記エラー出力手段は、前記比較結果として、前記第１の寄生容量付き回路と前記第２の寄生容量付き回路の各回路シミュレーション結果の間で、前記入力手段から入力されたノイズ周波数での振幅の差を求め、その振幅差について前記入力手段から入力された誤差値以内かの判定結果が前記エラー状態を示す場合に、そのネットについてエラー信号を出力するよう構成したことを特徴とする。

また、本発明の請求項３記載のクロストーク検証方法は、半導体集積回路のレイアウトパターンにおける配線間のクロストークを検証するためのクロストーク検証方法であって、前記レイアウトパターンから寄生容量を抽出しデータベース化した寄生容量情報、および集積化対象の回路に前記抽出した寄生容量を付加して第１の寄生容量付き回路を生成する第１の工程と、第１の工程で生成した前記第１の寄生容量付き回路を回路シミュレーションする第２の工程と、設計者が前記クロストークの影響について確認したいネットを指定する第３の工程と、第１の工程で生成した前記寄生容量情報における前記寄生容量のデータベースから、第３の工程で指定した前記ネットを接続情報として持つ寄生容量を選択する第４の工程と、第４の工程で選択した寄生容量を接続情報で分類し、前記集積化対象の回路に前記分類毎の寄生容量を付加して第２の寄生容量付き回路を生成する第５の工程と、第５の工程で生成した前記第２の寄生容量付き回路を回路シミュレーションする第６の工程と、第２の工程による回路シミュレーション結果と第６の工程による回路シミュレーション結果を比較し、その比較結果がエラー状態を示す前記ネットについてエラー信号を出力する第７の工程とを有する方法としたことを特徴とする。

また、本発明の請求項４記載のクロストーク検証方法は、請求項３記載のクロストーク検証方法であって、ノイズ周波数と誤差値を入力する第８の工程を有し、第７の工程では、前記比較結果として、前記第１の寄生容量付き回路と前記第２の寄生容量付き回路の各回路シミュレーション結果の間で、第８の工程で入力されたノイズ周波数での振幅の差を求め、その振幅差について第８の工程で入力された誤差値以内かの判定結果が前記エラー状態を示す場合に、そのネットについてエラー信号を出力する方法としたことを特徴とする。

以上により、半導体集積回路のレイアウト設計時に行うクロストーク検証において、自動的に、膨大な寄生容量群から、容易にかつ素早く、クロストークの原因となる寄生容量のみを的確に特定し、その寄生容量が発生したレイアウト箇所をレイアウト修正箇所とするエラー信号を出力することができる。

以上のように本発明によれば、半導体集積回路のレイアウト設計時に行うクロストーク検証において、自動的に、膨大な寄生容量群から、容易にかつ素早く、クロストークの原因となる寄生容量のみを的確に特定し、その寄生容量が発生したレイアウト箇所をレイアウト修正箇所とするエラー信号を出力することができる。

そのため、半導体集積回路のレイアウト設計時に、作業者が、クロストークの原因となる寄生容量のみに対応したレイアウトの修正箇所を、容易にかつ正確に把握できて、クロストークの原因となる寄生容量に対するレイアウト修正を素早く的確に行うことができ、レイアウト設計時の作業工数を削減することができる。

以下、本発明の実施の形態を示すクロストーク検証装置およびクロストーク検証方法について、図面を参照しながら具体的に説明する。
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１のクロストーク検証装置およびクロストーク検証方法を説明する。

図１は本実施の形態１のクロストーク検証装置の構成を示すブロック図である。図１において、レイアウト回路生成手段１０３は、半導体集積回路のレイアウトパターン１０１に対して、論理演算によりトランジスタや抵抗などの半導体素子を認識させ、等電位追跡によって、前記半導体素子と配線の接続関係からなる回路データ（ネットリスト）を生成し、その後、配線パターンから寄生容量を計算し、寄生容量の値とその接続情報とそのレイアウト座標を抽出し、寄生容量情報１０５を生成する。図３に寄生容量情報１０５の例を示す。図３に示す寄生容量情報１０５としては、容量値、接続情報１、接続情報２、レイアウト座標が保持される。さらに加えて、レイアウト回路生成手段１０３では、全寄生容量が付加された全寄生容量付き回路１０４を生成する。

ネット指定手段１０７は、作業者である設計者が、クロストークの影響を受けたネットとして分析したいネットを選択指定するための入力手段である。寄生容量選択手段１０８は、ネット指定手段１０７で選択されたネットに接続している寄生容量を、寄生容量情報１０５から全て選択する手段である。回路生成手段１０９は、寄生容量選択手段１０８で得た寄生容量から、接続ネット毎に寄生容量を分類し、寄生容量付き回路１１０を生成する。つまり、寄生容量選択手段１０８で選択された寄生容量は、片側の接続情報が前記ネット指定手段１０７で指定されたネットになるので、他方の接続情報毎に寄生容量を分類し、分類された寄生容量毎に寄生付き回路１１０を生成する。回路生成手段１０９では寄生容量付き回路１１０を接続情報毎に複数個生成することになる。

回路シミュレータ１１１は、全寄生容量付き回路１０４や寄生容量付き回路１１０を入力として、回路シミュレーションし、クロストークが発生するかを確認できる解析手段であり、一般に、ＳＰＩＣＥなどの回路シミュレータがある。エラー出力手段１１２は、回路シミュレーション結果である波形表示やレイアウトのエラー表示などをするための手段である。

以上のように構成されたクロストーク検証装置について、その動作を図面を用いて以下に説明する。
図２は本実施の形態１のクロストーク検証方法における手順を示すフローチャートである。図２に示すように、ＳＴＥＰ１で、対象のレイアウトパターン１０１から寄生容量を抽出し、ＳＴＥＰ２で全寄生容量が付加された全寄生容量付き回路１０４を生成する。ＳＴＥＰ１の全寄生容量の抽出と、ＳＴＥＰ２の全寄生容量付き回路生成には、市販のＬＰＥ（ＬａｙｏｕｔＰａｒａｓｉｔｉｃＥｘｔｒａｃｔｉｏｎ）ツールを利用することで容易に行うことができる。

ここで、生成された全寄生容量付きの回路情報について説明する。
図４は本実施の形態１のクロストーク検証方法における全寄生容量付き回路を示す表示例である。図４において、４１１〜４１６はトランジスタ素子、４１７〜４１９は抵抗素子を表す。また、４００〜４０８はレイアウトパターン１０１から抽出した寄生容量である。４００〜４０８の寄生容量は全て寄生容量情報１０５に保持される。この回路の場合の寄生容量を寄生容量情報１０５に格納した結果として、それらの格納例を図３に示す。寄生容量情報１０５には、それぞれの寄生容量の容量値、接続情報、レイアウト座標が格納されている。

ＳＴＥＰ３で、ＳＴＥＰ２で抽出した全ての寄生容量を集積化対象の回路に付加した第１の寄生容量付き回路として全寄生容量付き回路１０４を回路シミュレータに入力し、クロストークが発生しているかどうかを確認するための回路シミュレーション１を実行する。ＳＴＥＰ４で、ＳＴＥＰ３のシミュレーション結果からクロストークが発生しているかどうかを確認し、クロストークが発生していない場合は処理を終了し、クロストークが発生している場合は、本発明におけるＳＴＥＰ５以下の処理に移行する。

ＳＴＥＰ５で、設計者がネット指定手段１０７を用いてクロストークの影響を受けたネットとして分析したいネットを選択した場合、ネット指定手段１０７により、設計者がクロストークの影響を受けたネットとして分析するために選択したネットが指定される。図４の例において、設計者がトランジスタ４１２とトランジスタ４１６の間のネットを分析したい場合、設計者はネット指定手段１０７を用いて「ＯＵＴＢ」を選択することになり、ネット指定手段１０７により、設計者が分析するために選択したネットとして、「ＯＵＴＢ」が指定される。

ＳＴＥＰ６で、寄生容量情報１０５から、ＳＴＥＰ５で選択されたネットについて関係のある寄生容量を全て選択する。例えば、図３に示す接続情報例では、「ＯＵＴＢ」を選択した場合には、接続情報として「ＯＵＴＢ」が定義されている寄生容量４００、４０１、４０２が選択される。

ＳＴＥＰ７で、ＳＴＥＰ６で得られた寄生容量を接続情報毎に分類し、その接続情報の分類毎に寄生容量を集積化対象の回路に付加した第２の寄生容量付き回路として寄生容量付き回路１１０を生成する。例えば図３の寄生容量情報の場合、寄生容量４００と４０１における接続情報には、接続情報２として同一の「ＯＵＴＢ」があり、さらに「ＯＵＴＢ」とは異なるが同一の接続情報として「ＮＥＴＡ」が接続情報１にあり、これら「ＯＵＴＢ」および「ＮＥＴＡ」がそれぞれ同一の接続情報であることから、寄生容量４００と４０１は同じグループの寄生容量として分類され、集積化対象の回路における同じ部分に付加される。これら寄生容量４００、４０１だけを付加した寄生容量付き回路１１０の回路図を図５に示す。同様の方法で、寄生容量４０２を付加した寄生容量付き回路１１０も生成される。ＳＴＥＰ８で、ＳＴＥＰ７で得られた接続情報毎の寄生容量付き回路１１０についてだけ、それぞれ個別に回路シミュレーション２を実行する。

ＳＴＥＰ９で、エラー出力手段１１２において、ＳＴＥＰ３のシミュレーション結果から得られたクロストークと、ＳＴＥＰ８のシミュレーション結果から得られた各クロストークとを、それぞれ比較し、ネット指定手段１０７により指定されたネットのうち、ＳＴＥＰ３およびＳＴＥＰ８の各ＳＴＥＰ毎に得られたクロストークが最も類似したシミュレーション結果に対応するネットについて、それぞれエラー信号を画面表示や音響などにより出力する。さらに、寄生容量情報１０５にあるレイアウト座標をエラー出力手段１１２に出力することも可能である。

以上のようにして、ネット指定手段１０７により指定されたネットのうち、ＳＴＥＰ３およびＳＴＥＰ８の各ＳＴＥＰ毎に得られたクロストークが最も類似したシミュレーション結果に対応するネットについて、それぞれエラー信号を画面表示や音響などにより出力するとともに、寄生容量情報１０５にあるレイアウト座標をエラー出力手段１１２に出力することにより、半導体集積回路のレイアウト設計時に行うクロストーク検証において、自動的に、膨大な寄生容量群から、容易にかつ素早く、クロストークの原因となる寄生容量のみを的確に特定し、その寄生容量が発生したレイアウト箇所をレイアウト修正箇所とするエラー信号を出力することができる。

以上の結果、半導体集積回路のレイアウト設計時に、設計者が、ＳＴＥＰ３およびＳＴＥＰ８のそれぞれの処理で得られた各クロストークが最も類似したシミュレーション結果に着目することができ、クロストークの原因となる寄生容量のみに対応したレイアウトの修正箇所を、容易にかつ正確に把握できて、クロストークの原因として最も影響する寄生容量に対するレイアウト修正を、素早く的確に行うことができ、レイアウト設計時の作業工数を削減することができる。
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２のクロストーク検証装置およびクロストーク検証方法を説明する。

図６は本実施の形態２のクロストーク検証装置の構成を示すブロック図である。図７は本実施の形態２のクロストーク検証方法における手順を示すフローチャートである。図６および図７に示すように、本実施の形態２のクロストーク検証装置の基本構成および処理方法は、前述の実施の形態１の基本構成および処理方法と同様であり、本実施の形態２のクロストーク検証装置において、実施の形態１との相違点は、設計者がノイズ周波数と誤差値を入力するためのノイズ周波数・誤差値入力手段１１３を設け、エラー出力手段１１２で、クロストークの影響をノイズ周波数における振幅により判定する機能を持たせたところである。

以上のような機能を持つクロストーク検証装置におけるクロストーク検証方法について、図７を用いて以下に説明する。なお、図７に示すように、ＳＴＥＰ１からＳＴＥＰ８については、前述の実施の形態１と同様の処理方法であり、ここでの説明は省略する。

ＳＴＥＰ９´で、設計者はノイズ周波数・誤差値入力手段１１３から、クロストークとして認識したノイズ周波数と、判定に用いる誤差値を入力する。クロストークは所望の出力信号周波数に対して、他の信号線の周波数が重なることにより発生する。図８に周波数と振幅の関係で表された回路シミュレーション結果を示す。８０１が所望の出力信号であり、８０２が所望の出力信号の周波数に対して１０倍の周波数を持つノイズ出力である。設計者は、図８の結果を得た場合、ノイズ周波数・誤差値入力手段１１３でノイズ周波数である１ＧＨｚを入力し、判定に用いる誤差値を入力する。

ＳＴＥＰ１０´で、ＳＴＥＰ９´で指定されたノイズ周波数において、ＳＴＥＰ３で得られたクロストーク結果の振幅とＳＴＥＰ８で得た回路シミュレーション結果の振幅との差分をとり、これらの振幅差が誤差値以内かどうかを判定する。ＳＴＥＰ１１´では、ＳＴＥＰ１０´の判定で誤差値以内の場合に、ＳＴＥＰ３で得られたクロストーク結果がＳＴＥＰ８で得られた回路シミュレーション結果と最も類似しているネットであると判断し、エラー情報として、寄生容量情報１０５にあるレイアウト座標を、エラー出力手段１１２に出力する。

以上のようにして、設計者により指定されたノイズ周波数において、ＳＴＥＰ３で得られたクロストーク結果の振幅とＳＴＥＰ８で得た回路シミュレーション結果の振幅との振幅差が、設計者により指定された誤差値以内かどうかを判定することにより、半導体集積回路のレイアウト設計時に行うクロストーク検証において、自動的に、膨大な寄生容量群から、容易にかつ素早く、クロストークの原因となる寄生容量のみを的確に特定し、その寄生容量が発生したレイアウト箇所をレイアウト修正箇所とするエラー信号を出力することができる。

以上の結果、半導体集積回路のレイアウト設計時に、設計者が、クロストーク検証時の対象とするノイズ周波数およびシミュレーション結果の振幅の誤差値を、任意に選択指定することができて、用途に応じて適したクロストーク検証のみに絞って実行することができ、設計者が選択指定したノイズ周波数および振幅の誤差値においてクロストークの原因となる寄生容量のみに対応したレイアウトの修正箇所を、容易にかつ正確に把握できて、クロストークの原因として最も影響する寄生容量に対するレイアウト修正を、素早く的確に行うことができ、レイアウト設計時の作業工数を削減することができる。

本発明のクロストーク検証装置およびクロストーク検証方法は、半導体集積回路のレイアウト設計時に、設計者が、クロストークの原因となる寄生容量のみに対応したレイアウトの修正箇所を、容易にかつ正確に把握できて、クロストークの原因となる寄生容量に対するレイアウト修正を素早く的確に行うことができ、レイアウト設計時の作業工数を削減することができるもので、半導体集積回路におけるクロストークの原因である寄生容量の分析装置等に適用できる。

本発明の実施の形態１のクロストーク検証装置の構成を示すブロック図同実施の形態１のクロストーク検証方法における手順を示すフローチャート同実施の形態１のクロストーク検証装置における寄生容量情報の構成説明図同実施の形態１のクロストーク検証方法における全寄生容量付き回路を示す表示例同実施の形態１のクロストーク検証方法における寄生容量付き回路を示す表示例本発明の実施の形態２のクロストーク検証装置の構成を示すブロック図同実施の形態２のクロストーク検証方法における手順を示すフローチャート同実施の形態２のクロストーク検証装置における動作の説明図従来のクロストーク検証装置の構成を示すブロック図

符号の説明

１０１レイアウトパターン
１０２スケマティック回路
１０３レイアウト回路生成手段
１０４全寄生容量付き回路
１０５寄生容量情報
１０７ネット指定手段
１０８寄生容量選択手段
１０９回路生成手段
１１０寄生容量付き回路
１１１回路シミュレータ
１１２エラー出力手段
１１３ノイズ周波数・誤差値入力手段
４００〜４０８寄生容量
４１１〜４１６トランジスタ素子
４１７〜４１９抵抗素子
ＯＵＴＢクロストークを確認する接続情報
８０１出力信号
８０２ノイズ信号
９０１回路入力部
９０２回路データ
９０３ネットリスト生成部
９０４ネットリスト
９０５レイアウト入力部
９０６レイアウトパターン
９０７入力パターン
９０８、９０９指定条件
９１０同時変化ノード抽出部
９１１カップリング容量抽出部
９１２ノード情報
９１３カップリング容量情報
９１４選択ノード判定部
９１５ノードおよびカップリング容量情報
９１６クロストーク解析部
９１７波形データ
９１８波形表示部

Claims

半導体集積回路のレイアウトパターンにおける配線間のクロストークを検証するためのクロストーク検証装置であって、前記レイアウトパターンから寄生容量を抽出しデータベース化した寄生容量情報、および集積化対象の回路に前記抽出した寄生容量を付加して第１の寄生容量付き回路を生成するレイアウト回路生成手段と、設計者が前記クロストークの影響について確認したいネットを指定するためのネット指定手段と、前記レイアウト回路生成手段からの寄生容量情報における前記寄生容量のデータベースから、前記ネット指定手段で指定されたネットを接続情報として持つ寄生容量を選択する寄生容量選択手段と、前記寄生容量選択手段で選択された寄生容量を接続情報毎に分類し、前記集積化対象の回路に前記分類毎の寄生容量を付加して第２の寄生容量付き回路を生成する回路生成手段と、前記レイアウト回路生成手段からの第１の寄生容量付き回路と前記回路生成手段からの第２の寄生容量付き回路を回路シミュレーションする回路シミュレータと、前記回路シミュレータによる前記第１の寄生容量付き回路と前記第２の寄生容量付き回路の各回路シミュレーション結果を比較し、その比較結果がエラー状態を示す前記ネットについてエラー信号を出力するエラー出力手段とを備えたことを特徴とするクロストーク検証装置。
請求項１記載のクロストーク検証装置であって、ノイズ周波数と誤差値を入力する入力手段を備え、前記エラー出力手段は、前記比較結果として、前記第１の寄生容量付き回路と前記第２の寄生容量付き回路の各回路シミュレーション結果の間で、前記入力手段から入力されたノイズ周波数での振幅の差を求め、その振幅差について前記入力手段から入力された誤差値以内かの判定結果が前記エラー状態を示す場合に、そのネットについてエラー信号を出力するよう構成したことを特徴とするクロストーク検証装置。
半導体集積回路のレイアウトパターンにおける配線間のクロストークを検証するためのクロストーク検証方法であって、前記レイアウトパターンから寄生容量を抽出しデータベース化した寄生容量情報、および集積化対象の回路に前記抽出した寄生容量を付加して第１の寄生容量付き回路を生成する第１の工程と、第１の工程で生成した前記第１の寄生容量付き回路を回路シミュレーションする第２の工程と、設計者が前記クロストークの影響について確認したいネットを指定する第３の工程と、第１の工程で生成した前記寄生容量情報における前記寄生容量のデータベースから、第３の工程で指定した前記ネットを接続情報として持つ寄生容量を選択する第４の工程と、第４の工程で選択した寄生容量を接続情報で分類し、前記集積化対象の回路に前記分類毎の寄生容量を付加して第２の寄生容量付き回路を生成する第５の工程と、第５の工程で生成した前記第２の寄生容量付き回路を回路シミュレーションする第６の工程と、第２の工程による回路シミュレーション結果と第６の工程による回路シミュレーション結果を比較し、その比較結果がエラー状態を示す前記ネットについてエラー信号を出力する第７の工程とを有することを特徴とするクロストーク検証方法。
請求項３記載のクロストーク検証方法であって、ノイズ周波数と誤差値を入力する第８の工程を有し、第７の工程では、前記比較結果として、前記第１の寄生容量付き回路と前記第２の寄生容量付き回路の各回路シミュレーション結果の間で、第８の工程で入力されたノイズ周波数での振幅の差を求め、その振幅差について第８の工程で入力された誤差値以内かの判定結果が前記エラー状態を示す場合に、そのネットについてエラー信号を出力することを特徴とするクロストーク検証方法。