JP2006133127A - 容器の外観検査方法 - Google Patents
容器の外観検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006133127A JP2006133127A JP2004323866A JP2004323866A JP2006133127A JP 2006133127 A JP2006133127 A JP 2006133127A JP 2004323866 A JP2004323866 A JP 2004323866A JP 2004323866 A JP2004323866 A JP 2004323866A JP 2006133127 A JP2006133127 A JP 2006133127A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- container
- inspection
- inspected
- image data
- defective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
【解決手段】選定した複数の良品容器Bの側面検査部を、被検査容器BKの側面部の検査と略同じ条件で撮像して良品画像データとして取込み、前記良品画像データをデータ処理して側面検査部の各画素の輝度閾値を予め設定する。そして、コンベヤ11上を搬送される被検査容器BKの側面検査部を撮像してデータ処理した被検査画像データの各画素の被検査輝度データを、対応する位置の各画素の前記輝度閾値とそれぞれ比較して、側面検査部の汚れ及び白化、並びに容器変形に起因する輝度の異常を検査して不良容器を検出する。
【選択図】図1
Description
2 容器撮像位置
3 照明器具
4 カメラ
5 データ処理装置
6 ミラー
10 コンベヤ支柱
11 コンベヤ
B 容器
BK 被検査容器
BS 容器底位置
G10 外形エッジの検査高さ設定
G30 外形エッジの閾値設定
G50 検査用外形エッジデータ作成
G60 外形エッジの閾値との比較
G70 外形エッジの良否判定
K 検査領域
R1 領域
R2 領域
R3 領域
S10 良品画像データ取得処理
S11 外形エッジの決定処理
S12 容器中心線決定
S20 検査領域設定
S30 画像検査用閾値設定
S40 被検査容器画像データ取得
S50 検査用画像データ作成
S60 各画素データの閾値との比較
S70 検査領域内画素の良否判断
T10 総合良否判断
T20 複数カメラによる側面全集評価
YN 指定高さ
Claims (3)
- コンベヤ上を直立して搬送される無地の被検査容器の側面を検査する方法であって、
選定した複数の良品容器の側面検査部を被検査容器の撮像条件と略同一条件で撮像して複数の良品画像データとして取込み、前記良品画像データを処理して被検査容器の側面検査部の各位置に対応する各画素の輝度閾値を予め設定し、
コンベヤ上を搬送される被検査容器の側面検査部を撮像してデータ処理した被検査画像データの各画素の被検査輝度データを、容器上の対応する位置の各画素の前記輝度閾値とそれぞれ比較して、側面検査部の汚れ及び白化、並びに容器変形に起因する輝度の異常を検査し、被検査容器中の不良容器を検出することを特徴とする容器側面の検査方法。 - 請求項1において、前記良品画像データを処理して、被検査容器の形状に応じて指定する前記良品画像データの複数所定高さにおける容器外形エッジの左右幅方向の位置閾値を予め設定し、
前記被検査画像データの前記複数所定高さにおける被検査容器外形エッジの左右幅方向の被検査位置データを、それぞれの高さの前記位置閾値と比較して、外形エッジ部における被検査容器の変形をあわせて検査することを特徴とする容器側面の検査方法。 - 請求項2において、被検査容器をコンベヤ両側の3箇所以上の位置からカメラで撮像して、それぞれの撮像位置に対応する側面検査部の各画素の輝度閾値並びに容器外形エッジの左右幅方向の位置閾値を設定し、
それぞれの撮像の位置に対応する各画素の被検査輝度データ及び被検査位置データをそれぞれの閾値と比較し、これらの検査結果データを統合処理することにより、被検査容器の側面全周の汚れ及び白化、並びに容器変形の検査を可能とすることを特徴とする容器側面の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004323866A JP4420796B2 (ja) | 2004-11-08 | 2004-11-08 | 容器の外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004323866A JP4420796B2 (ja) | 2004-11-08 | 2004-11-08 | 容器の外観検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006133127A true JP2006133127A (ja) | 2006-05-25 |
JP4420796B2 JP4420796B2 (ja) | 2010-02-24 |
Family
ID=36726790
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004323866A Active JP4420796B2 (ja) | 2004-11-08 | 2004-11-08 | 容器の外観検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4420796B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008064585A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Mitsutoyo Corp | 光学式測定装置、光学式測定方法、及び光学式測定処理プログラム |
WO2017043270A1 (ja) * | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 住友電装株式会社 | 端子付電線の検査方法及び端子付電線検査装置 |
JP2017111061A (ja) * | 2015-12-18 | 2017-06-22 | 株式会社 日立産業制御ソリューションズ | 検査装置 |
KR102260734B1 (ko) * | 2020-02-11 | 2021-06-07 | 주식회사 와이앤와이 | 제품 검사 장치 및 이를 이용한 제품 검사 방법 |
-
2004
- 2004-11-08 JP JP2004323866A patent/JP4420796B2/ja active Active
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008064585A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Mitsutoyo Corp | 光学式測定装置、光学式測定方法、及び光学式測定処理プログラム |
WO2017043270A1 (ja) * | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 住友電装株式会社 | 端子付電線の検査方法及び端子付電線検査装置 |
JP2017111061A (ja) * | 2015-12-18 | 2017-06-22 | 株式会社 日立産業制御ソリューションズ | 検査装置 |
KR102260734B1 (ko) * | 2020-02-11 | 2021-06-07 | 주식회사 와이앤와이 | 제품 검사 장치 및 이를 이용한 제품 검사 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4420796B2 (ja) | 2010-02-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7329855B2 (en) | Optical inspection of glass bottles using multiple cameras | |
US7330251B2 (en) | Method and apparatus for producing reference image in glass bottle inspecting apparatus | |
US7505149B2 (en) | Apparatus for surface inspection and method and apparatus for inspecting substrate | |
US11313806B2 (en) | Defect inspection method and defect inspection device | |
KR101794964B1 (ko) | 검사 시스템 및 검사 방법 | |
JP2007303853A (ja) | 端部検査装置 | |
JP4882268B2 (ja) | 金属製キャップの不良検出方法および金属製キャップの不良検査装置 | |
JP5074998B2 (ja) | 透明フィルムの外観検査方法およびその装置 | |
US20060222232A1 (en) | Appearance inspection apparatus and appearance inspection method | |
JP4241361B2 (ja) | キャップ天面の検査方法 | |
JP4910128B2 (ja) | 対象物表面の欠陥検査方法 | |
JP2007303854A (ja) | 端部検査装置 | |
JP5167731B2 (ja) | 検査装置および方法 | |
JP6360782B2 (ja) | ねじ類の検査方法 | |
JP2008064715A (ja) | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | |
JP4420796B2 (ja) | 容器の外観検査方法 | |
TWI427263B (zh) | 突起之高度測定方法、突起之高度測定裝置、程式 | |
JP7003669B2 (ja) | 表面検査装置、及び表面検査方法 | |
JP2001194322A (ja) | 外観検査装置及び検査方法 | |
JP2006145415A (ja) | 表面検査方法及び装置 | |
KR20170124509A (ko) | 검사 시스템 및 검사 방법 | |
JP5666894B2 (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
JP2011112593A (ja) | 印刷物の検査方法及び検査装置 | |
JP4967132B2 (ja) | 対象物表面の欠陥検査方法 | |
JP6260175B2 (ja) | サインパネル検査システム、サインパネル検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060706 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090421 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090929 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091019 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091111 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091201 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4420796 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151211 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |