JP2006114912A - キャリヤトラッピング物質を含む単極性ナノチューブトランジスタ及びその製造方法 - Google Patents

キャリヤトラッピング物質を含む単極性ナノチューブトランジスタ及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】キャリヤトラッピング物質を含む単極性ナノチューブトランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】両極性ナノチューブ電界効果トランジスタは、炭素ナノチューブに酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質を吸着させるか、または前記炭素ナノチューブに隣接してキャリヤトラッピング物質を含む付加層を設けることによって、単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに変換される。
【選択図】図2

Description

本発明は、両極性ナノチューブ特性を単極性ナノチューブ特性に変換したキャリヤトラッピング物質を備えた単極性の炭素ナノチューブ電界効果トランジスタ(Carbon Nano Tube Field Effect Transistor:CNT FET)及びその製造方法に関する。
ナノチューブ電界効果トランジスタは、電子的性質に優れて電子的用途に広範囲に使われている。しかし、ナノチューブ電界効果トランジスタは、典型的に、両極性の電子的特性を表し、これは、多くの素子応用に望ましくない。
非特許文献1に開示されたように、ゲート酸化物の厚さを減少させてCNT FETのスイッチング特性を改善することは、公知である。しかし、ゲート酸化物の厚さを減少させると、両極性トランジスタ特性が顕著になり、オフ電流が高くなるので、望ましくない。
CNTのスイッチング特性は、高誘電率物質を使用することによって改善される。しかし、トランジスタで金属とナノチューブとの境界面に形成されたショットキー障壁コンタクトが従来のFETとは異なるスケーリング行動をCNT FETが起こしてしまう。
前記非特許文献1で、ゲート構造エンジニアリングを使用して、両極性CNTトランジスタを単極性CNTトランジスタに変換する少なくとも一つの技術が開示されている。単極性CNT FETがソース電極及びドレイン電極に対して非対称ゲート構造を提供することによって得られた。このような工程によって、p型CNT FETが両極性CNT FETから製造された。
前記非特許文献1によれば、両極性CNT FETがドレイン電極の長手方向に沿ってゲート酸化物層に“V”字形のトレンチを形成して単極性CNT FETとして作られている。前記素子で、CNTは、ソースとドレインとの間に延びている。しかし、前記非特許文献1に開示されるように、満足すべき単極性特性を得るために、比較的長い(深い)トレンチが必要である。
前記非特許文献1に開示された構造において、前記トレンチは、前記基板に延びる深さを有する。前記トレンチは、前記ソース及びドレイン静電気学間の非対称をもたらし、したがって、ナノチューブの一部分のみがバックゲートを通じて静電気的に制御される。しかし、両極性CNT FETから単極性CNT FETに転換する前記トレンチの能力は、トレンチ幅の機能であり、そしてこれは素子のスケール減少を望ましくなく、または問題のあるものにしてしまう。前記非特許文献1の著者は、比較的深いトレンチを使用して類似した部分ゲート構造を有する両極性CNT FETのp型ブランチを除去することによって、n型CNT FETが得られ得ると提案している。
したがって、比較的大きいトレンチの使用のようなゲート構造エンジニアリングの使用を必要としない単極性ナノチューブ電界効果トランジスタが必要である。
Yu-Ming Lin,Joerg Appenzeller,Phaedon Avouris,"Ambipolar-to-Unipolar Conversion of Carbon Nanotube Transistors by Gate Structure Engineering"NANO LETTERS 2004 Vol.4,No.5,PP947-950
本発明が解決しようとする課題は、キャリヤトラッピング物質を使用することによって容易に両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに変換する方法を提供することである。
本発明で、キャリヤトラッピング物質を利用して両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに転換する容易な方法が提供される。本発明の例示的な実施形態において、前記キャリヤトラッピング物質は、酸素(特に、酸素分子)であり、前記酸素は、前記ナノチューブに吸着される。
本発明の実施形態による両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに転換する方法において、ナノチューブ電界効果トランジスタは、ソース電極、ドレイン電極とゲート、前記ソース電極、及びドレイン電極と前記ゲートとを分離する絶縁層を備える。ナノチューブは、前記ソース電極及びドレイン電極と電気的に接触されるように提供され、前記ナノチューブは、前記電界効果トランジスタのチャンネル領域として作用する。本発明において、キャリヤトラッピング物質がナノチューブの表面に設けられる。
本発明による一実施形態において、前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を提供する工程は、キャリヤトラッピング物質、好ましくは酸素分子を前記ナノチューブに吸着させることを含む。
本発明による他の実施形態において、前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を提供する工程は、前記ナノチューブと前記絶縁層との間に一つの物質層を設けることを含む。前記物質層は、前記ナノチューブのための前記キャリヤトラッピング物質を含み、前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることが好ましい。
本発明によるさらに他の実施形態において、前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を設ける工程は、酸素分子のキャリヤトラッピング物質を前記ナノチューブに近い表面に吸着させることを含む。前記キャリアトラッピング剤が酸素分子であってもよい。
本発明による電界効果トランジスタの製造方法は、基板を提供する工程、前記基板上に絶縁層を形成する工程、前記絶縁層上にソース電極及びドレイン電極を形成する工程を含む。ナノチューブは、前記ソース電極とドレイン電極との間に提供され、前記ナノチューブは、前記ソース電極及びドレイン電極と電気的に接触されるように配置される。前記キャリヤトラッピング物質が提供される前記ナノチューブは、前記電界効果トランジスタのチャンネル領域として作用する。望ましくは、前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であってもよく、前記基板は、前記電界効果トランジスタのためのバックゲートとして作用するようにドーピングされてもよい。
本発明による実施形態において、前記ナノチューブのためのキャリヤトラッピング物質を設ける工程は、前記ナノチューブに前記キャリヤトラッピング物質を吸着させることを含む。他の実施形態において、前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を設ける工程は、前記ナノチューブと前記絶縁層との間に前記ナノチューブのための前記物質層を設けるか、または前記ナノチューブに近い表面に前記キャリヤトラッピング物質を吸着させることを含む。
本発明による電界効果トランジスタは、ソース電極及びドレイン電極、ゲート、前記ソース電極及びドレイン電極から前記ゲートを離隔させる絶縁層、前記ソース電極及びドレイン電極と電気的に接触するナノチューブを備える。前記ナノチューブは、前記電界効果トランジスタのチャンネル領域に作用し、キャリヤトラッピング物質が前記ナノチューブの表面に設けられる。
本発明の他の実施形態において、前記電界効果トランジスタは、前記絶縁層とナノチューブとの間に付加層をさらに備える。前記付加層は、前記ナノチューブのための前記キャリヤトラッピング物質を含む。
本発明のさらに他の実施形態において、前記キャリヤトラッピング物質は、前記ナノチューブに吸着される。望ましくは、前記ゲートは、前記電界効果トランジスタのための基板をさらに備え、前記絶縁層は、前記基板上に位置し、前記ソース電極、ドレイン電極及びナノチューブは、前記絶縁層上に位置する。望ましくは、前記ナノチューブは、前記ソース電極とドレイン電極との間で延び、前記基板は、バックゲートとして作用するようにドーピングされる。
本発明によれば、CNTの表面にキャリヤトラッピング物質を吸着させることによって、両極性トランジスタを単極性トランジスタに容易に変換できる。
以下、図面を参照して本発明によるキャリヤトラッピング物質を備えたナノチューブ電界効果トランジスタ及びその製造方法についてさらに詳細に説明する。
FETは、従来のFET設計にCNTを用いたものである。FETと共にCNTの使用は、シリコンベーストランジスタの電流を超える特性を有する素子を具現する。従って、種々の電子機器にCNT FETの適用が考えられる。
図1を参照すれば、従来のCNT FETは、バックゲートを形成するpドーピングシリコン基板102を備えている。二酸化ケイ素(SiO2)の絶縁層104は、バックゲート102上に位置し、ソース電極106が絶縁層104上に配置されている。同様に、ドレイン電極108が絶縁層104上に配置される。CNT 110がソース電極106とドレイン108との間に位置し、CNT 110がソース電極106及びドレイン電極108と電気的に接触されている。
CNT FETの動作原理は、一般に、従来のシリコンFETと類似している。しかし、図1のCNT FETの物理的素子構造は、典型的なシリコンFETの物理的素子構造に対して逆転(上側が下側に位置)されている。言い換えれば、従来のシリコンFETでゲートがソース及びドレイン上に位置することと比較して、CNT FETでソース及びドレインがゲート上に位置する。
また、ソースとドレインとの間のチャンネルは、シリコン単結晶の代りに、CNTが設けられる。従来のCNT FETで、CNTとソース及びドレインがゲート上に設けられている場合であっても、ソース及びドレインがゲートの下側に配置されるか、またはCNTが素子構造内に埋め込まれることが可能であると考えられている。本発明も同様にCNT FETの基板としてソースおよびドレインの上に隔離されたゲートまたはマルチゲートを備えたシリコン層であってもよいと考えられる。本発明は、図1のCNT FETの使用に制限されるものではなく、ナノチューブまたはナノワイヤによって提供されるチャンネルを備えた全てのFETと共に使用できる。
公知のCNT FETで、ソース電極106及びドレイン電極108は、導電体として作用するようにドーピングされたポリシリコンから形成されることもあるが、ソース電極106及びドレイン電極108は、代表的には金属から形成されている。バックゲート102を形成する基板は、CNT FETのための機能的ゲートを提供するいずれの物質から構成することができ、典型的にはシリコンから構成される。前記絶縁層104は、比較的高い誘電定数kを有する適切な物質から構成され、好ましくはSiO2から構成される。比較的高い誘電定数k指数は、SiO2の誘電定数指数である約4.0より大きいことを意味する。前記ナノチューブは、他の物質から構成してもよいが、望ましくは、炭素から構成される。
本発明による素子の前記ナノチューブ110は、1壁CNT(SWCNT:Single Wall CNT)または2壁CNT(DWCNT:Double Wall CNT)であることができ、あるいはナノチューブの束であってもよい。また、ナノワイヤも前記ナノチューブ110として使用できる。前記ナノチューブは、ショットキー障壁を形成するいかなる物質から構成してもよく、ショットキー障壁のエネルギーは、吸着された酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質の存在を通じて変わりうる。キャリヤトラッピング物質は、チャンネル物質、すなわち、ナノチューブのバンドギャップ間に存在するLUMO(最低空間分子軌道;Lowest Unoccupied Molecular Orbital)レベルを有することが望ましい。キャリヤトラッピング物質のLUMO値がチャンネル物質のフェルミレベルの下側に位置した場合には、正孔がキャリヤとしてトラッピングされる。
従来のCNT FETは、両極性素子である。典型的なシングルゲートCNT FET素子が図示しているが、本発明は、CNTがソース電極とドレイン電極との間にわたっているFETだけでなく、マルチゲートまたは多壁FETのようなCNTを導電体として使用する全てのタイプのFETに使用可能である。CNTは、シリコンの単結晶の代りに、チャンネルとして作用する。本発明による素子において、CNTは、素子内に埋め込んでもよい。
接合は、典型的にはCNTと金属電極との間に存在せず、その代りに、CNTとソース電極及びドレイン電極との境界面に設けられている。ゲートは、CNTの上側または下側に設けることができる。
図2を参照すれば、本発明によるナノチューブ電界効果トランジスタは、一般的に、図1に示した従来の素子に相当する。図2のナノチューブ電界効果トランジスタは、素子のゲートを形成するpドーピングシリコン基板102を備える。シリコン基板102は、素子のバックゲートとして作用するように高濃度でドーピングできる。二酸化ケイ素SiO2の絶縁層104は、ドーピングされた基板102上に設けられ、ソース電極106が絶縁層104上に設けられる。ドレイン電極108が絶縁層104上に設けられる。ソース電極106及びドレイン電極108は、チタン、モリブデンまたは金のような金属、またはこれら元素の合金から構成されることが望ましい。電極106,108は、導電体として作用するようにドーピングされたポリシリコンから構成されてもよい。CNT 110は、ソース電極106とドレイン電極108との間でソース電極106及びドレイン電極108と電気的に接触されるように延びている。
本発明によるCNT FETは、ナノチューブにキャリヤトラッピング物質112が設けられている点で従来のCNTと異なる。図2において、キャリヤトラッピング物質112は、酸素分子から構成される。酸素分子は、CNT FETの製造中にナノチューブ110に吸着される。酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質の存在は、ドレイン電極から電子注入を抑制し、これは、従来の両極性CNT FET素子から単極性CNTFET素子に変える。
酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質をCNT上に設けた場合(または絶縁層104上の近傍にまたはCNTと隣接した付加層内にまたは付加層上に設けた場合)、キャリヤトラッピング物質の存在は、CNTエネルギーギャップのほぼ中間にLUMOレベルを提供する(図6A〜図6Cを参照)。酸素分子のLUMOレベルが酸素原子のOppπ*軌道レベルによって提供される。したがって、酸素分子(または他のキャリヤトラッピング物質)は、ドレイン電極から電子をトラップさせる。電子のトラップ結果として、全体バンド(価電子バンドだけでなく、導電性バンドも)が金属(または電極)仕事関数に対して上方に移動する。結果として、電子注入のためのエネルギーバリヤが増加し、これは、CNT FETを両極性よりは単極性にする。
図3を参照すると、製造過程において、CNTは、酸素分子に曝露され、望ましくは、酸素分子がCNTに吸着されるのに十分な酸素圧にCNTが曝露される。酸素分子は、約200℃まで安定的であり、これは、いくつかのの半導体製造工程で不安定的である。キャリヤトラッピング物質は、その物質のLUMOがチャンネル物質のバンドギャップ内であれば、すなわち、CNTのフェルミレベルとほぼ一致すれば、酸素以外の他の分子(高温に耐えられる)であってもよい。
図2(および図1)に示したように、ソースとドレインとの間のチャンネルは、シリコン単結晶の代りにCNTが設けられている。CNTとソース及びドレイン電極がゲート上に設けられているが、本発明は、ソース及びドレイン電極がゲートの下側に設けられ、CNTが素子構造内に埋め込まれる構造にも適用可能である。このように、CNT FETの基板は、シリコン層であってもよく、ソース及びドレイン電極上に離隔されたゲートが配置されるか、または公知のCNT FETのマルチゲートが配置できる。
ソース及びドレイン電極は、導電体として作用するように十分にドーピングされたポリシリコンから構成できるが、典型的には金属から構成される。ゲート102を形成する基板は、CNT FETにゲートを提供するいかなる物質からも構成できるが、典型的にはシリコンから構成される。このように、ゲート102上の絶縁層104は、適切な絶縁性物質、望ましくは、酸化物から構成できるが、二酸化ケイ素から構成するのが好ましい。同じ方式で、ナノチューブは、他の物質で構成してもよいが、炭素から構成するのが好ましい。
図3を参照すれば、酸素分子がCNTの表面から33nm(3.3Å)ほど離隔されるように吸着されている。このとき、酸素分子のナノチューブ壁に対する結合エネルギーは、0.1eVであって、酸素分子とナノチューブとの間には、結合力が弱い吸着状態を示す。各酸素原子がナノチューブの隣接した炭素原子に支持されている。以下で詳細に説明するが、酸素原子は、ナノチューブでのキャリヤトラッピングを容易にする。実施形態において酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質がCNTに吸着されているが、キャリヤトラッピング物質は、絶縁層104に吸着されてもよい。酸素分子は、CNTの内部だけでなく、CNTの表面上にも吸着されうる。また、酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質は、CNTに近接したSiO2のような絶縁層104上に吸着されて、結果的に、素子を単極性にすることができる。図4を参照すれば、キャリヤトラッピング物質が素子上にスピンコーティングされて付加層105を形成でき、または半導体素子の製造工程として適切な方法で蒸着されてもよい。
キャリヤトラッピング物質は、付加層105の物質として設けられることもある。または、次の製造工程で層を形成した後にに吸着されることもある。付加層105は、酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質を吸着または含むことができる何れか適切な物質から構成される。付加層105は、素子の保護層、特に、比較的低温製造工程中に形成された層であることができる。
キャリヤトラッピング物質がナノチューブ110よりは絶縁層104または付加層105に含有または吸着される例示的な実施形態において、CNTとキャリヤトラッピング物質を有する物質との間のギャップは、1nm以下(すなわち、電子移動の量子長さ以下)であることができる。
図4を再び参照すれば、付加層105は、CNT110の上側にまたは下側に、または上下側に(すなわち、ナノチューブに近接して)CNT FET製造工程中に設けることができる。付加層105は、ソース電極106とドレイン電極108との間にCNTが提供される前または提供された後に設けることができる。
図5Aを参照すれば、従来のCNT FET(すなわち、酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質の使用がない)でゼロゲート電圧でのエネルギーkグラフ(すなわち、ウェーブベクトル)が示されている。下曲線は、従来のCNT FETでのCNTチャンネルのHOMO(最高被占有分子軌道レベル:Highest Occupied Molecular Orbital Level)を表し、上曲線は、LUMOレベルを表す。
図5Bにおいて、酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質がCNTに吸着された本発明の実施形態によるCNT FETで、ゼロゲート電圧でのエネルギーkグラフ(すなわち、ウェーブベクトル)が示されている。
図5Cにおいて、ゲート電圧が高まるとき、電子を受容するキャリヤトラッピング物質の存在は、LUMOを表す曲線を上昇させるだけでなく、HOMOを表す曲線も上昇させる。電子がキャリヤトラッピング物質にトラッピングされてトラップエネルギーレベルがフェルミレベルより高くなる。
図6は、CNTの長手方向位置に応じた種々のゲート電圧での電子注入のエネルギーを示す。前述したように、CMOS素子及びCNT FETを含むロジックゲートは、一般的に、nまたはpトランジスタ素子(すなわち、単極性特性の素子)を必要とし、なおかつ同じゲートバイアスで作動する。しかし、従来のCNT FETは、ソースまたはドレインの障壁を低めることによって、キャリヤを注入する結果、両極性特性を示す。図6において、ゲートの種々のバイアス条件でのバンドエネルギーが現れている。種々の電圧における正孔注入のエネルギーは、CNTの長手方向位置関数としての電圧でプロットされている。正孔注入エネルギーは、電子−電圧(eV)で提供され、位置は、nmで表した。
図7を参照すれば、CNTのフェルミレベル220は、CNTのLUMOレベル212とCNTのHUMOレベル214との間に一点鎖線で示されている。酸素分子のLUMOレベル216がCNTのLUMOレベル212とCNTのHOMOレベル214とのほぼ中間に位置する。
本発明の実施形態による製造方法において、ナノチューブ電界効果トランジスタは、ナノチューブに酸素分子のようなキャリヤトラッピング物質を設けることによって、両極性素子から単極性素子に転換される。キャリヤトラッピング物質は、ナノチューブに容易に吸着されるようにナノチューブを適切な圧力及び温度条件にすることが望ましい。
ナノチューブ電界効果トランジスタの製造工程中に、キャリヤトラッピング物質は、素子の絶縁層(SiO2層のような)に設けられることもある。選択的に(または付加して)、他の層が素子の製造工程中にCNTの上側または下側にスピンコーティングされるか、または蒸着される。キャリヤトラッピング物質が製造工程中に付加層に設けられない場合には、素子を製造工程中に再びキャリヤトラッピング物質(酸素分子のような)に曝露してキャリヤトラッピング物質を付加層に吸着させてもよい。キャリヤトラッピング物質を含む前記絶縁層または付加層は、CNTと接触するか、または近接して位置して、CNTとキャリヤトラッピング物質を含む物質との間のギャップを1nm以下(または電子移動の量子長さ以下)にすることが望ましい。
以上、多くの事項が具体的に記載されているが、それらは、発明の範囲を限定するものではなく、望ましい実施形態の例示として解釈されねばならない。したがって、本発明の範囲は、説明された実施形態によって決定されず、特許請求の範囲に記載された技術的思想によって決定されねばならない。
本発明は、CNT FETに関連した技術分野に適用可能である。
従来のナノチューブ電界効果トランジスタの側面図である。 本発明の一実施形態によるナノチューブ電界効果トランジスタの側面図である。 ナノチューブに酸素分子が吸着されたことを示す写真である。 本発明の他の実施形態によるナノチューブ電界効果トランジスタの側面図である。 従来のCNT FETのエネルギーバンドギャップを示すグラフである。 ゲート電圧が‘0'(ゼロ)である状態での本発明によるCNT FETのエネルギーバンドギャップを示すグラフである。 ゲート電圧が’0’より大きい状態での本発明によるCNT FETのエネルギーバンドギャップを示すグラフである。 本発明によるCNT FETで、CNTの長手方向位置によってソース電極と隣接した電子及び正孔のエネルギーを示すグラフである。 本発明の実施形態によるCNT FETのLUMO及びHOMOのグラフである。
符号の説明
102 バックゲート
104 絶縁層
106 ソース
108 ドレイン
112 キャリヤトラッピング物質

Claims (30)

  1. ソース電極及びドレイン電極と、
    ゲートと、
    前記ソース電極及びドレイン電極から前記ゲートを離隔させる絶縁層と、
    前記ソース電極及びドレイン電極と電気的に接触し、電界効果トランジスタのチャンネル領域として作用するナノチューブと、
    前記ナノチューブ上のキャリヤトラッピング物質と、
    を備えることを特徴とする電界効果トランジスタ。
  2. 前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることを特徴とする請求項1に記載の電界効果トランジスタ。
  3. 前記絶縁層とナノチューブとの間に付加層をさらに備え、
    前記付加層は、前記キャリヤトラッピング物質を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の電界効果トランジスタ。
  4. 前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることを特徴とする請求項3に記載の電界効果トランジスタ。
  5. 前記キャリヤトラッピング物質は、前記電界効果トランジスタを両極性素子から単極性素子に変換することを特徴とする請求項1に記載の電界効果トランジスタ。
  6. 前記電界効果トランジスタのための基板をさらに備え、
    前記絶縁層は、前記基板上に位置し、前記ソース電極、ドレイン電極及びナノチューブは、前記絶縁層上に位置し、前記ナノチューブは、前記ソース電極とドレイン電極との間で延びたことを特徴とする請求項1に記載の電界効果トランジスタ。
  7. 前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることを特徴とする請求項6に記載の電界効果トランジスタ。
  8. 前記絶縁層とナノチューブとの間に付加層をさらに備え、
    前記付加層は、前記キャリヤトラッピング物質を含むことを特徴とする請求項6に記載の電界効果トランジスタ。
  9. 前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることを特徴とする請求項8に記載の電界効果トランジスタ。
  10. 前記基板は、バックゲートとして作用するようにドーピングされたことを特徴とする請求項8に記載の電界効果トランジスタ。
  11. 前記ソース電極及びドレイン電極は、Ti、MO又は両者から構成されたことを特徴とする請求項10に記載の電界効果トランジスタ。
  12. 前記キャリヤトラッピング物質は、前記電界効果トランジスタを両極性素子から単極性素子に変換することを特徴とする請求項11に記載の電界効果トランジスタ。
  13. 前記ナノチューブ上に前記絶縁層が位置し、前記ゲートは、前記絶縁層上に配置されることを特徴とする請求項1に記載の電界効果トランジスタ。
  14. 前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることを特徴とする請求項13に記載の電界効果トランジスタ。
  15. 前記絶縁層とナノチューブとの間に付加層をさらに備え、
    前記付加層は、前記キャリヤトラッピング物質を含むことを特徴とする請求項13に記載の電界効果トランジスタ。
  16. 前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることを特徴とする請求項15に記載の電界効果トランジスタ。
  17. 前記ソース電極及びドレイン電極は、Ti、MO又は両者から構成されたことを特徴とする請求項16に記載の電界効果トランジスタ。
  18. 前記キャリヤトラッピング物質は、前記電界効果トランジスタを両極性素子から単極性素子に変換することを特徴とする請求項17に記載の電界効果トランジスタ。
  19. 前記キャリヤトラッピング物質は、前記ナノチューブに吸着されたことを特徴とする請求項1に記載の電界効果トランジスタ。
  20. ソース電極及びドレイン電極と、ゲートと、前記ソース電極及びドレイン電極から前記ゲートを離隔させる絶縁層と、前記ソース電極及びドレイン電極と電気的に接触し、前記電界効果トランジスタのチャンネル領域として作用するナノチューブとを備えたナノチューブ両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに変換する方法であって、
    前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を設ける工程を備えることを特徴とする両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに変換する方法。
  21. 前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を設ける工程は、前記キャリヤトラッピング物質を前記ナノチューブに吸着させることを特徴とする請求項20に記載の両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに変換する方法。
  22. 前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることを特徴とする請求項21に記載の両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに変換する方法。
  23. 前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を設ける工程は、前記絶縁層と前記ナノチューブとの間に前記ナノチューブのための前記キャリヤトラッピング物質を含む付加層を設けることを特徴とする請求項20に記載の両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに変換する方法。
  24. 前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を設ける工程は、前記ナノチューブの近くの表面に前記キャリヤトラッピング物質を吸着させることを特徴とする請求項20に記載の両極性ナノチューブ電界効果トランジスタを単極性ナノチューブ電界効果トランジスタに変換する方法。
  25. 基板を設ける工程と、
    前記基板上に絶縁層を形成する工程と、
    前記絶縁層上にソース電極を形成する工程と、
    前記絶縁層上にドレイン電極を形成する工程と、
    前記ソース電極及びドレイン電極と電気的に接触し、前記電界効果トランジスタのチャンネル領域に作用するナノチューブを設ける工程と、を含み、
    前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を設ける工程を含むことを特徴とする電界効果トランジスタの製造方法。
  26. 前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を設ける工程は、前記キャリヤトラッピング物質を前記ナノチューブに吸着させることを特徴とする請求項25に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  27. 前記キャリヤトラッピング物質は、酸素分子であることを特徴とする請求項26に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  28. 前記基板は、前記電界効果トランジスタでバックゲートとして作用するようにドーピングされたことを特徴とする請求項26に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  29. 前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を提供する工程は、前記絶縁層と前記ナノチューブとの間に前記ナノチューブのための前記キャリヤトラッピング物質を含む付加層をを設けることを特徴とする請求項25に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  30. 前記ナノチューブにキャリヤトラッピング物質を提供する工程は、前記ナノチューブの近くの表面に前記キャリヤトラッピング物質を吸着させることを特徴とする請求項26に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
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