JP2006080131A - ボンディング装置及び方法、並びに電子素子 - Google Patents

ボンディング装置及び方法、並びに電子素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2006080131A
JP2006080131A JP2004259552A JP2004259552A JP2006080131A JP 2006080131 A JP2006080131 A JP 2006080131A JP 2004259552 A JP2004259552 A JP 2004259552A JP 2004259552 A JP2004259552 A JP 2004259552A JP 2006080131 A JP2006080131 A JP 2006080131A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
unit
supply unit
circuit member
air
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004259552A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4282574B2 (ja
Inventor
Yukihiro Maekawa
幸弘 前川
Naoto Hosoya
直人 細谷
Minoru Yamamoto
実 山本
Naoki Fukami
尚樹 深美
Daido Komyoji
大道 光明寺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2004259552A priority Critical patent/JP4282574B2/ja
Publication of JP2006080131A publication Critical patent/JP2006080131A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4282574B2 publication Critical patent/JP4282574B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

【課題】 一つのボンディング装置内において、雰囲気の適切な清浄度を確保可能なボンディング装置を提供する。
【解決手段】 ボンディング部140を取り囲む雰囲気を高清浄度に維持する高清浄度維持部1401を設けたことにより、ボンディング部を取り囲む雰囲気は高清浄度に維持される。よって、電子部品のボンディングの際に接合部分に塵埃が混入するのを低減させることができ、製品となる素子の不良率を低減させることができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、回路を形成した部材へ電子部品を載置するボンディング装置であって、特に上記電子部品の載置工程において雰囲気の高い清浄度が要求されるボンディング装置及び方法、並びに上記ボンディング装置にて作製される電子素子に関する。
半導体部品の製造において、該部品への塵埃の混入は、部品の歩留まりや、部品の信頼性等を劣化させる原因となることから、塵埃の排除が重要となる。よって、従来から、半導体製造工場内全体の雰囲気を高清浄度化したり、さらには、このようなクリーンルーム内に設置されている半導体製造装置内へ清浄空気を供給するような構成が採られている(例えば特許文献1及び特許文献2参照)。
特開平9−260226号公報 特開平9−45649号公報
一方、回路を形成した基板部にCCD(電荷結合素子)を実装してなる撮像素子の製造において、従来、撮像素子における画素数が少なく、塵埃を厳しく管理する必要は余り無かった。しかしながら、近年、画素数が非常に多くなり、撮像素子の製造装置においても塵埃の影響を無視することはできない状況になっている。
該撮像素子製造装置は、大きく区分して、基板部が搬入され保持される基板部領域と、CCDが搬入され保持されるCCD領域と、基板部にCCDを載置する動作を行う載置動作領域と、基板部にCCDを載置した撮像素子の搬出を行う素子搬出領域とに区分される。勿論、これらの領域の全てにおいて高清浄度の雰囲気であれば申し分ないが、必ずしもその必要はない。特に、高清浄度雰囲気が要求される領域は、塵埃が撮像素子に封入される可能性が最も高い、上記載置動作領域である。
しかしながら、従来、一つの装置内において、要求される雰囲気の清浄度の高低に応じて清浄度を別々に管理することは行われていない。上記特許文献2では、処理動作に応じて、基板回転処理部及び基板搬送部と区分けされた状態が開示されているが、上記特許文献2は、各領域には同じ清浄度のエアーが供給される構成を開示するものである。
本発明は、一つのボンディング装置内において、要求される清浄度の高低に応じて雰囲気を適切に管理可能なボンディング装置及び方法、並びに上記ボンディング装置にて作製される電子素子を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は以下のように構成する。
即ち、本発明の第1態様のボンディング装置によれば、回路を形成した回路部材を供給する回路部材供給部と、上記回路部材にボンディングされる電子部品を供給する部品供給部と、上記回路部材供給部により供給された上記回路部材に、上記部品供給部により供給された上記電子部品をボンディングして電子素子を形成するボンディング部と、上記電子素子を上記ボンディング部から搬出する搬出部とを一つの筐体内に配置したボンディング装置において、
上記回路部材供給部、上記部品供給部、及び上記搬出部における雰囲気に比べて上記ボンディング部における雰囲気を高清浄度に維持する高清浄度維持部を備えたことを特徴とする。
ある程度の気密性を有する一つの筐体内に、回路部材供給部と、部品供給部と、ボンディング部と、搬出部とを備えたボンディング装置では、回路部材に電子部品をボンディングするとき、その接合部分に塵埃が混入したときには作製される電子素子に影響を及ぼすことから、ボンディング部を取り囲む雰囲気は、その他の部分に比べて高い清浄度が要求される。そこで、ボンディング部を取り囲む雰囲気を高清浄度に維持する高清浄度維持部を設けた。該高清浄度維持部により、ボンディング部を取り囲む雰囲気は高清浄度に維持される。よって、電子部品のボンディングの際に接合部分に塵埃が混入するのを低減させることができ、製品となる素子の不良率を低減させることができる。
上記塵埃とは、通常一般のクリーンルーム内に存在する、人体等から排出される埃等に加えて、ボンディング装置ゆえ発生する塵、埃を含む概念である。ボンディング装置ゆえ発生する塵、埃としては、例えば、電子部品及び回路部材の欠片、電子部品と回路部材とを接合する接合剤が乾燥した場合の粉体、電子部品及び回路部材の搬送を行う搬送機構から発生する塵埃、等がある。
又、上記高清浄度維持部は、上記回路部材供給部、上記部品供給部、及び上記搬出部から上記ボンディング部を含むボンディング部空間を区画する仕切り部材と、上記ボンディング部空間に高清浄度の空気を供給する空気供給機構とを有し、
上記仕切り部材は、上記ボンディング部空間を形成する天井に立設され下方へ延在する第1枠材と、上記第1枠材の第1先端部に対して水平方向に隙間を空けて重なり合う第2先端部を有しかつ上記回路部材供給部、上記部品供給部、上記ボンディング部、及び上記搬出部を設置し上記天井に対向する床部材に立設され上方へ延在する第2枠材とを有し、上記第1枠材及び上記第2枠材は、上記第1先端部及び上記第2先端部による上記隙間にて排気用通路を形成し、
上記空気供給機構は、上記天井に設けた送気用フィルタと、該送気用フィルタを通して下方へ吹き下ろされ上記排気用通路を通して排気される気流を生成する第1送風機とを有するように構成してもよい。
上記仕切り部材は、基本的に、上、下よりそれぞれ延在する第1枠材及び第2枠材から構成され、第1枠材及び第2枠材は、水平方向に若干ずれて配置される。又、第1枠材は、筐体の天井から床部材に向かって延在するが、第1枠材の先端部は、床部材まで達していない。又、第2枠材は、床部材から天井に向かって延在するが、第2枠材の先端部は、天井まで達していない。よって、第1枠材及び第2枠材は、第1枠材の先端部及び第2枠材の先端部において、排気用通路となる隙間を空けて互いに一部分重なり合う。このように一部、重なり合う部分を設けることで、上記空気供給機構により、ボンディング部空間へ吹き下ろされた空気は、上記排気用通路部分において気流変化後、ボンディング部空間外へ放出される。このような気流の変化を生じさせることで、ボンディング装置内の各領域にて要求される清浄度を効率的に作成するという効果を得ることができる。
尚、仕切り部材は、必ずしも第1枠材及び第2枠材から構成される必要はなく、いずれか一方のみから構成することもできる。このとき、ボンディング部空間内における気流の向きを考慮すると、第2枠材よりも、床部材の近傍にて仕切りの無い第1枠材を設けるのが好ましい。又、ボンディング部と、回路部材供給部及び部品供給部との境界部分、並びに、ボンディング部と搬出部との境界部分において、仕切り部材の構成を変えてもよい。
又、仕切り部材は、ボンディング部を取り囲むように配置されるだけでなく、さらに、搬出部近辺の雰囲気と、回路部材供給部及び部品供給部近辺の雰囲気とを仕切るために配置するのが好ましい。これは、ボンディング装置の筐体内において、回路部材供給部及び部品供給部近辺の雰囲気には、中程度の清浄度が要求され、搬出部近辺の雰囲気は比較的低い清浄度でよいことから、要求されるそれぞれの清浄度を適切に維持するためである。
尚、ボンディング部空間の内外方向における第1枠材と第2枠材との位置関係は、問わないが、ボンディング部空間内では、気流変化を生じさせない方が塵埃をよりスムーズに外部へ排出可能なことから、ボンディング部空間の内側に第1枠材を、外側に第2枠材を配置するのが好ましい。
又、ボンディング部と、回路部材供給部及び部品供給部との境界部分では、空気の流れを上から下へと単純化してもよい。よって、ボンディング部と、回路部材供給部及び部品供給部との境界部分では、第1枠材又は第2枠材のいずれか一方のみを設けた構成としてもよい。この場合、第1枠材を設けたときには、第1枠材の先端部と床部材との隙間にフィルタを設け、第2枠材を設けたときには、第2枠材の先端部と天井との隙間にフィルタを設けるのが好ましい。さらに又、上記排気用通路にも排気用フィルタを設けるのが好ましい。
又、ボンディング部空間内には、ボンディング部の他に、電子部品のバンプ部分に接着ペーストを塗布するためのペースト展延部材が設けられる場合がある。該ペースト展延部材には、接着ペーストが展延されており、該接着ペーストに塵埃が混入すると回路部材と電子部品との電気的接続や接着性に不具合が生じる可能性がある。よって、ペースト展延部材上には、該ペースト展延部材を覆い接着ペーストに塵埃が混入するのを防止する塵埃防止用カバーを設けるのが好ましい。該塵埃防止用カバーにより、接着ペーストへの塵埃の混入を防止できることから、上記電気的接続や接着性における不具合発生を防止することができ、製品となる素子の不良率を低減させることができる。さらに又、上述したように、ボンディング部空間では、上記空気供給機構による気流が存在することから、接着ペーストに直接上記気流が当たることで接着ペーストが乾燥してしまい電子部品への塗布に支障が生じたり、乾燥した接着ペーストが飛散したりする場合がある。上記塵埃防止用カバーを設けることで、接着ペーストに直接上記気流が当たることも防止でき、接着ペーストの乾燥を防止することもできる。
尚、電子部品へ接着ペーストを塗布するときには、塵埃防止用カバーを電子部品が通過する必要があることから、塵埃防止用カバーには、シャッター付きの開口が設けられる。
又、当該ボンディング装置では、上述の、回路部材供給部、部品供給部、ボンディング部、及び搬出部の下方には、これらの動作制御用機器を納めた制御機器室が配置される。上記動作制御用機器の中には、発熱するものもあり、該発熱により上昇気流が発生し、塵埃を再び巻き上げる場合も考えられる。そこで、上記床部材と、制御機器室との間に、塵埃を排出するためのダクトを形成しているが、床部材には開口を設け、ボンディング部空間等から排除された塵埃がダクト内へ吸引されるように構成している。一方、上記制御機器室の天井となり上記ダクトを形成する通路形成用板には、開口を設けていない。よって、制御機器室から塵埃が再び回路部材供給部、部品供給部、ボンディング部、及び搬出部へ進入するのを防止することができる。よって、上記通路形成用板は、回路部材供給部、部品供給部、ボンディング部、及び搬出部における雰囲気を適切な清浄度に維持するように寄与する。
さらに、上記ダクトを通して吸引された空気を、制御機器室内へ導くように連結用ダクトを設けても良い。このように構成することで、ダクトを通して吸引された空気を、動作制御用機器の冷却用として利用することも可能となる。
又、回路部材供給部、部品供給部、ボンディング部、及び搬出部の内、ボンディング部空間が最も高い清浄度を要求されることから、制御機器室内においてボンディング部空間の下方に相当する領域には、発熱量の大きな動作制御用機器を配置しないように構成するのが好ましい。該構成によれば、動作制御用機器の熱により上記通路形成用板が加熱され、上昇気流を発生し、塵埃の巻き上げを誘発するというメカニズムを遮断することができ、特にボンディング部空間における雰囲気を適切な清浄度に維持することができる。
又、本発明の第2態様のボンディング方法は、一つの筐体内にて、回路を形成した回路部材と電子部品とをボンディングするボンディング方法において、
上記筐体内において、上記回路部材と上記電子部品とをボンディングするボンディング部の雰囲気を、当該筐体内の他の領域の雰囲気に比べてより高い清浄度に維持しながら上記ボンディングを行うことを特徴とする。
又、本発明の第3態様の電子素子は、上記第1態様のボンディング装置にて回路部材と電子素子とがボンディングされてなることを特徴とする。
本発明の上記第1態様におけるボンディング装置及び第2態様のボンディング方法によれば、ボンディング部を取り囲む雰囲気を高清浄度に維持する高清浄度維持部を設けたことにより、ボンディング部を取り囲む雰囲気は高清浄度に維持される。よって、電子部品のボンディングの際に接合部分に塵埃が混入するのを低減させることができ、製品となる素子の不良率を低減させることができる。
又、本発明の第3態様における電子素子によれば、上記第1態様のボンディング装置において、ボンディング部を取り囲む雰囲気が他の領域に比べて高清浄度に維持されることから、作製される電子部品では、接合部分における塵埃混入が低減され、回路部材と電子部品との電気的及び物理的な接続が確実かつ高精度な電子素子となる。
本発明の一実施形態であるボンディング装置、及び該ボンディング装置にて実行されるボンディング方法、並びに上記ボンディング装置にて作製される電子素子について、図を参照しながら以下に詳しく説明する。尚、各図において同じ構成部分については同じ符号を付している。
図1に示すように、本実施形態のボンディング装置101は、一つの筐体110内に、上層から下層に向けて、清浄空気供給装置190、作業室170、排気装置195、制御機器室180の順に層状の構成を有する。
作業室170には、回路部材供給部120と、部品供給部130と、ボンディング部140と、搬出部150とが収納されかつ配置され、さらに、ボンディング部140における雰囲気を、他の回路部材供給部120、部品供給部130、及び搬出部150における雰囲気に比べて高清浄度に維持する高清浄度維持部1401を備えている。作業室170の下方には、これら回路部材供給部120、部品供給部130、ボンディング部140、及び搬出部150の動作制御を行う動作制御用機器160を収納する制御機器室180が設けられている。又、作業室170の上方に位置する、当該ボンディング装置101の最上部分には、作業室170内へ清浄な空気を供給する清浄空気供給通路191を有する清浄空気供給装置190が設けられ、一方、作業室170と制御機器室180との間には、排気通路196を有する排気装置195が配置されている。
大略このように構成されるボンディング装置101では、筐体110内は、制御機器室180を除き、外部とほぼ遮断され、清浄空気供給装置190にて作業室170の上部から送風された清浄空気は、作業室170内を通り、排気通路196へ流入し、排気装置195にて外部へ排出される。よって、筐体110内は、外部に比して清浄な雰囲気に維持される。
このような構成を有するボンディング装置101は、ボンディング部140において、図5に示すように、回路部材121に形成された回路1211部分に電子部品122をボンディングして、図6に示す電子素子123を作製する装置である。
上記回路部材供給部120は、当該ボンディング装置101に搬入されてくる回路部材121を上記ボンディング部140へ搬送する装置を備える。尚、実際には、回路部材121の搬送は、複数の回路部材121を載置したパレットを搬送することで行われる。
上記部品供給部130は、当該ボンディング装置101に搬入されてくる電子部品122を上記ボンディング部140へ搬送する装置を備える。
上記ボンディング部140は、回路部材供給部120にて供給された、複数の回路部材121を載置した上記パレットを載置し各回路部材121を支持する、図5に示す支持部材141と、部品供給部130にて供給された電子部品122を保持しかつボンディング動作を行う、図5に示すボンディング用ヘッド142とを備える。尚、当該ボンディング装置101における上記ボンディング動作は、電子部品122の電極部分に形成されているバンプ1221には接着ペースト211が塗布されており、該電子部品122を、支持部材141に支持されている回路部材121の規定位置に載置する動作であり、よって、電子部品122と回路部材121とを固定する動作ではない。
よって、当該ボンディング装置101では、詳細後述するように、上記接着ペースト211をバンプ1221に塗布するためのペースト塗布装置201がボンディング部140に隣接して設置されている。尚、接着ペースト211は、導電性物質、例えば銀粒子等を含んだ導電性樹脂材にてなる。
上記搬出部150は、ボンディング部140にて回路部材121に電子部品122が載置された電子素子123を当該ボンディング装置101から次工程へ搬出する搬出装置を有する。
尚、回路部材121及び電子部品122は、特に限定されないが、本実施形態では、電子素子123は、例えば携帯電話等に使用される撮像素子に相当し、電子部品122は、CCD(電荷結合素子)に相当する。又、回路部材121の大きさの一例としては、一辺が約10mmのほぼ正方形状であり、約1〜2mm程度の厚みを有する。よって、電子部品122としてのCCDは、回路部材121よりも遙かに小さいサイズにてなる。よって、非常に微細な大きさの塵埃も、電子部品122と回路部材121とのボンディングに悪影響を与えることになる。
上記作業室170内では、上述のようにボンディング部140等がそれぞれの作業を実行するが、各作業内容に応じて、雰囲気の清浄度が要求される。即ち、回路部材121に電子部品122をボンディングするとき、塵埃が接合部分に混入すると製品不良につながることから、当然に、ボンディング部140近辺における雰囲気は、最も高い清浄度が要求される。又、ボンディングされる前の回路部材121及び電子部品122に塵埃が付着することは、製品不良を引き起こす原因となることから、回路部材供給部120及び部品供給部130近辺における雰囲気も中程度の清浄度が要求される。一方、ボンディング後においては、塵埃の影響を余り考慮する必要はない。よって、搬出部150近辺における雰囲気の清浄度は、比較的低くても構わない。このように、作業室170内において要求される空気清浄度は、各場所によって異なる。
そこで、当該ボンディング装置101では、最も高い清浄度が要求されるボンディング部140近辺における雰囲気を高清浄度に維持するため、上記高清浄度維持部1401を設けている。本実施形態では、高清浄度維持部1401は、図1及び図2に示すように、回路部材供給部120、部品供給部130、及び搬出部150からボンディング部140を含むボンディング部空間143を区画する仕切り部材144と、該仕切り部材144にて仕切られたボンディング部空間143に高清浄度の空気を供給する空気供給機構145とを備える。
又、仕切り部材144は、ボンディング部140を囲むように形成するだけでなく、図2に示すように、中程度の清浄度が要求される回路部材供給部120及び部品供給部130の領域と、比較的低い清浄度でよい搬出部150の領域とを仕切り部材144aによって区切っている。よって、当該ボンディング装置101では、一つの筐体110内の作業室170を、高清浄度空間、中清浄度空間、低清浄度空間に区分けしている。尚、当該明細書において、仕切り部材144には、仕切り部材144aを含む概念である。
空気供給機構145は、作業室170の天井111部分に設けられた送気用フィルタ1451と、該送気用フィルタ1451を通して高清浄度の空気をボンディング部空間143内へ吹き下ろし、矢印117にて示す気流を形成する第1送風機1452とを有する。
本実施形態では、仕切り部材144は、第1枠材1441と、第2枠材1442とを有する。又、図2では、第1枠材1441及び第2枠材1442を一体的に一部材として簡略化し図示している。第1枠材1441は、ボンディング部空間143を形成する天井111に立設され下方へ延在する板材であり、第2枠材1442は、回路部材供給部120、部品供給部130、ボンディング部140、及び搬出部150を設置し天井111に対向する床部材112に立設され上方へ延在する板材である。図示するように、第1枠材1441の第1先端部1441aは、床部材112との間に隙間1443を形成するように床部材112まで延在せず、第2枠材1442の第2先端部1442aは、天井111との間に隙間を形成するように天井111まで延在していない。さらに、第1枠材1441及び第2枠材1442は、水平方向118に互いにずれて設置され、さらに、ずれた状態において、第1枠材1441の第1先端部1441aと、第2枠材1442の第2先端部1442aとが互いに重なり合うような長さにて構成される。このような形状及び配置により、隙間を空けて互いに重なり合う第1先端部1441aと第2先端部1442aとによって、排気用通路1444が形成される。
本実施形態では、図1に示すように、第1枠材1441をボンディング部空間143の内側に、第2枠材1442を外側にして配置している。ボンディング部空間143内では、空気供給機構145により、天井111側から床部材112側へ空気が吹き下ろされることから、上述の構成によれば、吹き下ろされた空気は、矢印117に示すように、上記内側に配置され第1先端部1441aが床部材112との間で形成する隙間1443を通り、排気用通路1444を通り、ボンディング部空間143外へ排出される。よって、ボンディング部空間143内において空気をスムーズに流すことができ、ボンディング部空間143内での、例えば塵埃の巻き上げ等を防止することができる。
尚、第1枠材1441又は第2枠材1442のいずれか一方のみにて仕切り部材144を構成することもできる。又、図7に示すように、第1枠材1441をボンディング部空間143の外側に、第2枠材1442を内側にして配置することもできる。
又、ボンディング部空間143に対して、中程度の清浄度が要求される回路部材供給部120及び部品供給部130の領域側と、比較的低い清浄度でよい搬出部150の領域側とで、仕切り部材144の構成を異ならせても良い。例えば図8に示すように、回路部材供給部120及び部品供給部130の領域側には、第1枠材1441又は第2枠材1442のいずれか一方のみを設ける構成を採ることもできる。尚、図8では、第1枠材1441を設けた場合を図示している。詳細後述するように床部材112を通して作業室170内の空気は吸引されることから、図8に示す構成を採ることで、ボンディング部空間143内にて吹き下ろされた空気は、第1枠材1441と床部材112との間の隙間1443部分から床部材112を通して吸引される。よって、ボンディング部空間143と、回路部材供給部120及び部品供給部130近辺の空間との境界部分では、気流は下向きのままであり、回路部材供給部120及び部品供給部130近辺の空間からボンディング部空間143へ塵埃が進入しようとしても、床部材112を通して外部へ排出され、ボンディング部空間143内への進入を防止することができる。
又、図8に示すように、第1先端部1441aと第2先端部1442aとで形成される排気用通路1444部分に、排気用フィルタ146を設けることもできる。尚、排気用フィルタ146は、第1枠材1441と床部材112との間の隙間1443部分に取り付けることもできる。これらのフィルタを取り付けることで、他の領域へ塵埃が飛散することを防止できる。
尚、上述のように、ボンディング部140と、回路部材供給部120、部品供給部130、及び搬出部150との間では、それぞれ回路部材121、電子部品122、及び電子素子123の搬送が行われることから、該搬送が可能となるような機構が第1枠材1441に設けられている。該機構として、例えば、第1枠材1441は開閉可能なシャッタを有しても良いし、第1枠材1441そのものを上下方向119に昇降させる構成を設けても良い。
上述したように、ボンディング部空間143内には、ボンディング部140に隣接してペースト塗布装置201が設置されている。ペースト塗布装置201は、図3に示すように、ペースト展延部材210と、塵埃防止用カバー220とを有する。ペースト展延部材210は、円板状で駆動モータによる回転可能な板材であり、該部材上に滴下された接着ペースト211を、上記駆動モータによる回転により均一又はほぼ均一の膜厚に展延する部材である。尚、ボンディング部140の上記ボンディング用ヘッド142にて電子部品122が保持された状態で、電子部品122のバンプ1221が、ペースト展延部材210に展延されている接着ペースト211に接触し、バンプ1221に接着ペースト211が塗布される。
塵埃防止用カバー220は、ペースト展延部材210を覆い、塵埃が接着ペースト211へ混入するのを防止する部材である。又、当該塵埃防止用カバー220にてペースト展延部材210が覆われた状態において、電子部品122への接着ペースト211の塗布が可能なように、塵埃防止用カバー220は、電子部品122が通過可能で、かつ開閉可能なシャッタ221を有する。勿論、該シャッタ221は、通常閉じられており、電子部品122への接着ペースト211の塗布のときのみ開かれる。
塵埃防止用カバー220を設けることで、接着ペースト211へ塵埃が混入するのを防止することができ、製品の不良化率の低減に寄与することができる。又、ボンディング部空間143内には、空気供給機構145による気流が形成されていることから、該気流が直接に接着ペースト211に当たることで、接着ペースト211を乾燥させるおそれがある。よって、塵埃防止用カバー220を設けることで、気流が直接に接着ペースト211に当たることが防止でき、接着ペースト211の乾燥を防止することもできる。
排気装置195は、排気通路196と、該排気通路196内の空気を吸引し外部へ排出する第2送風機198とを有する。ここで、第2送風機198による空気吸引量は、ボンディング部空間143における空気供給機構145の上記第1送風機1452による送風量に比べて小さくなるように設定している。即ち、回路部材供給部120、部品供給部130、及び搬出部150における雰囲気に比べてボンディング部空間143内を高圧とする空気吸引量である。
床部材112は、複数の開口1121を形成した通風可能な板材であり、排気通路196の天井部材を形成する。尚、開口1121は、作業室170内のボンディング部空間143、及びその他の空間に対応して形成してもよいが、ボンディング部空間143に対応する床部材112には、開口1121を設けないようにしてもよい。該構成によれば、ボンディング部空間143内は、その周りの雰囲気に比べて高圧となりやすく、ボンディング部空間143内への塵埃の進入を防止できるからである。
又、作業室170に面する床部材112の表面112aには、落下してきた塵埃の再飛散を防止するため、表面112aに粘着部材を取り付けることもできる。
一方、上記制御機器室180の天井部材として制御機器室180を形成する板材で、排気通路196の底板となる通路形成用板197は、開口を有しない。よって、通路形成用板197は、制御機器室180から排気通路196への空気の流入を禁止する通風遮断板である。通路形成用板197を通風遮断板にて構成することで、制御機器室180から発生する塵埃が排気通路196、さらには排気通路196及び床部材112を通して作業室170に進入するのを禁止することができる。
又、制御機器室180内においてボンディング部空間143の下方に相当する領域181には、発熱量の大きな動作制御用機器160を配置しないように構成するのが好ましい。該構成を採ることで、発熱量の大きな動作制御用機器160の熱により通路形成用板197が加熱され、上昇気流を発生し、塵埃の巻き上げを誘発するというメカニズムを遮断することができ、特にボンディング部空間143における雰囲気を適切な清浄度に維持することができる。
又、本実施形態では、図1に示すように、排気通路196から排出される空気は、当該ボンディング装置101の外部へ放出されるが、図4に示すように、排気通路196と制御機器室180との間を連結用ダクト230にて接続してもよい。該構成を採ることで、排気通路196から排出される空気を、制御機器室180内の動作制御用機器160の冷却用空気として再利用することができる。排気通路196から排出される空気には、作業室170から生じた塵埃を含む可能性があるが、該塵埃の動作制御用機器160に対する影響は全く無い。
以上説明したようなボンディング装置101の構成において、回路部材供給部120、部品供給部130、ボンディング部140、及び搬出部150は、塵埃が舞い上がったときの影響を極力避けるため、上下方向119において床部材112から若干隙間を空けて設置されるのか好ましい。
以上説明したようなボンディング装置101における動作を以下に簡単に説明する。
当該ボンディング装置101には、前工程より、回路部材121及び電子部品122が作業室170内へ供給される。回路部材121及び電子部品122は、それぞれ回路部材供給部120及び部品供給部130により、ボンディング部空間143内のボンディング部140へ供給される。ボンディング部140は、ペースト塗布装置201にて電子部品122に接着ペースト211を塗布した後、当該電子部品122を回路部材121にボンディングする。ボンディングされてなる電子素子123は、搬出部150により、ボンディング部140から搬出され、さらに次工程へ搬送される。
一方、作業室170内には、上述の作業工程中、連続して、清浄空気供給装置190にて作業室170の天井111を通して清浄空気が吹き下ろされる。吹き下ろされる上記清浄空気は、当然ながら、搬入された回路部材121及び電子部品122を吹き飛ばすような過剰な流量及び風速ではない。風速の一例としては、約0.2m/秒程度である。又、ボンディング部空間143内には、さらに空気供給機構145にて、送気用フィルタ1451を通して高清浄度の空気が吹き下ろされ、該高清浄度の空気は、矢印117に示すように、排気用通路1443を通り作業室170内へ排気される。作業室170内の空気は、第2送風機198により、作業室170の床部材112の開口1121を通して排気通路196へ吸引され、外部又は制御機器室180内へ放出される。
このようにボンディング装置101によれば、ボンディング部140を取り囲む雰囲気を高清浄度に維持可能なように、仕切り部材144及び空気供給機構145を設けたことにより、ボンディング部140を取り囲む雰囲気は高清浄度に維持される。よって、電子部品122のボンディングの際に接合部分に塵埃が混入するのを低減させることができ、製品となる電子素子123の不良率を低減させることができる。
又、仕切り部材144aにて、回路部材供給部120及び部品供給部130の領域の雰囲気と、搬出部150の領域の雰囲気とを仕切っていることから、回路部材供給部120及び部品供給部130の領域に要求される中程度の清浄度を維持することができる。
このように本実施形態のボンディング装置101によれば、一つの筐体110内において、要求される清浄度の高低に応じて適切に清浄度の管理を行うことができる。
本発明は、一つの装置内において、回路を形成した部材へ素子を載置するボンディング装置であって、特に上記素子の載置工程において高い清浄度が要求されるボンディング装置に適用可能である。
本発明の実施形態におけるボンディング装置の構成を示す図である。 図1に示すボンディング装置の平面図である。 図1に示すボンディング装置に備わるペースト塗布装置の斜視図である。 図1に示すボンディング装置の変形例を示す図である。 図1に示すボンディング装置にて扱われる電子部品及び回路部材を示す図である。 図5に示す電子部品及び回路部材がボンディングされてなる電子素子を示す図である。 図1に示すボンディング装置に備わる仕切り部材の変形例を示す図である。 図1に示すボンディング装置に備わる仕切り部材のさらに別の変形例を示す図である。
符号の説明
110…筐体、111…天井、112…床部材、118…水平方向、
120…回路部材供給部、121…回路部材、122…電子部品、
123…電子素子、130…部品供給部、140…ボンディング部、
143…ボンディング部空間、144…仕切り部材、145…空気供給機構、
146…排気用フィルタ、150…搬出部、180…制御機器室、
196…排気通路、197…通路形成用板、198…第2送風機、
210…ペースト展延部材、211…接着ペースト、220…塵埃防止用カバー、
230…連結用ダクト、
1121…開口、1401…高清浄度維持部、1441…第1枠材、
1441a…第1先端部、1442…第2枠材、1442a…第2先端部、
1444…排気用通路、1451…送気用フィルタ、1452…第1送風機。

Claims (12)

  1. 回路を形成した回路部材を供給する回路部材供給部と、上記回路部材にボンディングされる電子部品を供給する部品供給部と、上記回路部材供給部により供給された上記回路部材に、上記部品供給部により供給された上記電子部品をボンディングして電子素子を形成するボンディング部と、上記電子素子を上記ボンディング部から搬出する搬出部とを一つの筐体内に配置したボンディング装置において、
    上記回路部材供給部、上記部品供給部、及び上記搬出部における雰囲気に比べて上記ボンディング部における雰囲気を高清浄度に維持する高清浄度維持部を備えたことを特徴とするボンディング装置。
  2. 上記高清浄度維持部は、上記回路部材供給部、上記部品供給部、及び上記搬出部から上記ボンディング部を含むボンディング部空間を区画する仕切り部材と、上記ボンディング部空間に高清浄度の空気を供給する空気供給機構とを有し、
    上記仕切り部材は、上記ボンディング部空間を形成する天井に立設され下方へ延在する第1枠材と、上記第1枠材の第1先端部に対して水平方向に隙間を空けて重なり合う第2先端部を有しかつ上記回路部材供給部、上記部品供給部、上記ボンディング部、及び上記搬出部を設置し上記天井に対向する床部材に立設され上方へ延在する第2枠材とを有し、上記第1枠材及び上記第2枠材は、上記第1先端部及び上記第2先端部による上記隙間にて排気用通路を形成し、
    上記空気供給機構は、上記天井に設けた送気用フィルタと、該送気用フィルタを通して下方へ吹き下ろされ上記排気用通路を通して排気される気流を生成する第1送風機とを有する、請求項1記載のボンディング装置。
  3. 上記回路部材供給部及び上記部品供給部と、上記ボンディング部との境界部分には、上記第1枠材又は上記第2枠材のいずれか一方が設けられ、上記ボンディング部と上記搬出部との境界部分には、上記第1枠材及び上記第2枠材が上記排気用通路を形成して配置されかつ該排気用通路には排気用フィルタを設けた、請求項2記載のボンディング装置。
  4. 上記ボンディング空間内には、さらに、上記電子部品と上記回路部材とを接着する接着ペーストを展延し上記電子部品に上記接着ペーストを塗布するためのペースト展延部材と、該ペースト展延部材を覆いかつ上記接着ペーストへの塵埃の混入を防止する塵埃防止用カバーとが設けられる、請求項2又は3記載のボンディング装置。
  5. 上記床部材の下方に設けられ、上記床部材との間でダクトを形成する板であり、上記回路部材供給部、上記部品供給部、上記ボンディング部、及び上記搬出部の動作制御用機器を納めた制御機器室を形成する通路形成用板をさらに備え、
    上記床部材は、上記ダクトへ通じ上記ボンディング部空間からの排気を通過させる開口を形成した通風性板であり、一方、上記通路形成用板は、上記制御機器室から上記ダクトへの空気の流入を禁止する、開口の無い通風遮断板である、請求項2から4のいずれかに記載のボンディング装置。
  6. 上記ダクトには、当該ダクト内空気を吸引する第2送風機と、該第2送風機による上記ダクトから排出されて上記制御機器室内の上記動作制御用機器を冷却する排気を上記制御機器室内へ導く連結用ダクトとが接続される、請求項5記載のボンディング装置。
  7. 上記第2送風機による空気吸引量は、上記第1送風機による送風量に比べて小さく、上記ボンディング部空間内を、上記回路部材供給部、上記部品供給部、及び上記搬出部における雰囲気に比べて高圧とする空気吸引量である、請求項6記載のボンディング装置。
  8. 上記制御機器室内において、上記ボンディング空間の下方に位置する領域には、比較的発熱量の少ない動作制御用機器を配置する、請求項5から7のいずれかに記載のボンディング装置。
  9. 上記仕切り部材は、さらに、上記搬出部から上記ボンディング部空間を区画する部材を有する、請求項2から8のいずれかに記載のボンディング装置。
  10. 上記電子部品はCCD(電荷結合素子)であり、上記素子は撮像素子である、請求項1から9のいずれかに記載のボンディング装置。
  11. 一つの筐体内にて、回路を形成した回路部材と電子部品とをボンディングするボンディング方法において、
    上記筐体内において、上記回路部材と上記電子部品とをボンディングするボンディング部の雰囲気を、当該筐体内の他の領域の雰囲気に比べてより高い清浄度に維持しながら上記ボンディングを行うことを特徴とするボンディング方法。
  12. 請求項1から10のいずれかに記載のボンディング装置にて回路部材と電子部品とがボンディングされてなることを特徴とする電子素子。
JP2004259552A 2004-09-07 2004-09-07 ボンディング装置 Expired - Fee Related JP4282574B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004259552A JP4282574B2 (ja) 2004-09-07 2004-09-07 ボンディング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004259552A JP4282574B2 (ja) 2004-09-07 2004-09-07 ボンディング装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006080131A true JP2006080131A (ja) 2006-03-23
JP4282574B2 JP4282574B2 (ja) 2009-06-24

Family

ID=36159368

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004259552A Expired - Fee Related JP4282574B2 (ja) 2004-09-07 2004-09-07 ボンディング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4282574B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007138671A1 (ja) * 2006-05-30 2007-12-06 Hirata Corporation ワーク自動作業装置
JP6993491B1 (ja) 2020-06-29 2022-01-13 パナソニックi-PROセンシングソリューションズ株式会社 内視鏡製造方法およびカメラデバイスの製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007138671A1 (ja) * 2006-05-30 2007-12-06 Hirata Corporation ワーク自動作業装置
JPWO2007138671A1 (ja) * 2006-05-30 2009-10-01 平田機工株式会社 ワーク自動作業装置
JP4598124B2 (ja) * 2006-05-30 2010-12-15 平田機工株式会社 ワーク自動作業装置
CN101449639B (zh) * 2006-05-30 2011-11-30 平田机工株式会社 工件自动作业装置
JP6993491B1 (ja) 2020-06-29 2022-01-13 パナソニックi-PROセンシングソリューションズ株式会社 内視鏡製造方法およびカメラデバイスの製造方法
JP2022024961A (ja) * 2020-06-29 2022-02-09 パナソニックi-PROセンシングソリューションズ株式会社 内視鏡製造方法およびカメラデバイスの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4282574B2 (ja) 2009-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI453808B (zh) A foreign matter removing device and a wafer bonding machine provided with the same
JP6268425B2 (ja) Efem、ロードポート、ウェーハ搬送方法
KR101901012B1 (ko) 기판 처리 장치
JP6138019B2 (ja) 電極形成装置、電極形成システム、及び電極形成方法
JPH067542B2 (ja) 製造装置
CN110265318B (zh) 芯片贴装装置及半导体装置的制造方法
JP2009170740A (ja) 搬送装置
JP4505378B2 (ja) ボンディング装置及び方法
CN102883551B (zh) 安装装置、涂敷装置、安装方法、涂敷方法以及程序
TWI627697B (zh) Die bonding device with inert gas environment
JP4282574B2 (ja) ボンディング装置
JP4291393B2 (ja) 電子部品実装装置
TW201911511A (zh) 柱狀構件搭載裝置以及柱狀構件搭載方法
JPH09330972A (ja) 基板搬送装置
JP7248557B2 (ja) ブレード交換装置、切断装置、及び、切断品の製造方法
JP5755845B2 (ja) 処理装置
JP2008213943A (ja) 半導体装置の搬送方法
US6392286B1 (en) Semiconductor chip packaging system and a semiconductor chip packaging method using the same
JP2015109355A (ja) 局所クリーン化搬送装置
JP5554671B2 (ja) ダイボンディング装置及びボンディング方法
JP2009059836A (ja) 電子部品の実装装置及び実装方法
JP4282575B2 (ja) ボンディング装置及び方法
KR100641342B1 (ko) 스트립 형상 인쇄회로기판의 세정장치 및 방법
JP2007220871A (ja) 導電性ボールの形成方法
JP2003095216A (ja) 電子部品のテーピング方法及び電子部品集合体

Legal Events

Date Code Title Description
RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20061206

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070613

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080912

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081202

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090217

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090317

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120327

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120327

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130327

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130327

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140327

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees