JP2006073920A - Tape pasting equipment, mounting equipment, and mounting method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide mounting equipment and a method for mounting a semiconductor wafer which forms a dicing tape applied with a cut by detecting an abnormality such as damage or the like to a tape substrate, and by removing an abnormal portion. <P>SOLUTION: An inspecting device 14 such as a CCD camera or the like arranged at the upstream of die cutting equipment 13 is desirable in that it is arranged just before a guide roll 25, and in that it covers the area of a dicing tape DT by one time image pick-up in its inspection. Inspection data inspected by the inspecting device 14 are outputted to a controlling unit, and when the abnormality is detected, an area in which the abnormality exists is made not to locate in the area of a cut C on the basis of the location data. When the abnormality is detected in an area forming a piece of the dicing tape DT, the die cutting equipment 13 is stopped operating while keeping a clearance CL until the abnormal portion has passed through. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明はテープ貼付装置、マウント装置及びマウント方法に係り、特に、半導体ウエハをリングフレームに固定する際に、ベースシートの一方の面にダイシングテープ形成用のテープ基材が仮着された原反を用いてダイシングテープを形成し、当該ダイシングテープを剥離して半導体ウエハをリングフレームに固定することに適したテープ貼付装置、マウント装置及びマウント方法に関する。   The present invention relates to a tape applying device, a mounting device, and a mounting method, and in particular, when a semiconductor wafer is fixed to a ring frame, a raw material in which a tape base material for forming a dicing tape is temporarily attached to one surface of a base sheet. The present invention relates to a tape applicator, a mounting apparatus, and a mounting method suitable for forming a dicing tape using a tape, peeling the dicing tape, and fixing a semiconductor wafer to a ring frame.

従来より、回路面が形成された半導体ウエハをダイシングする際に、リングフレームの内側に半導体ウエハを配置し、それらの面にダイシングテープを貼付することによって半導体ウエハをリングフレームに固定することが行われている。このダイシングテープの貼付は、帯状に連続するダイシングテープをリングフレーム及び半導体ウエハに貼付した後、カッターを用いてリングフレームの形状に合わせてダイシングテープの外周側を切り落とす方法が知られている。
他の貼付方法としては、例えば、特許文献1に示されるように、ベースシートの一方の面にテープ基材を仮着した帯状の原反を用い、前記テープ基材にリングフレームの形状に対応する閉ループ状の切り込みを設けてその内側にダイシングテープを形成し、その後にダイシングテープを一枚ずつ剥離してリングフレームに貼付する、という方法も採用されている。
Conventionally, when a semiconductor wafer having a circuit surface formed is diced, the semiconductor wafer is placed on the inner side of the ring frame and a dicing tape is attached to the surface to fix the semiconductor wafer to the ring frame. It has been broken. The dicing tape is affixed by applying a continuous dicing tape in a band shape to the ring frame and the semiconductor wafer, and then cutting off the outer peripheral side of the dicing tape according to the shape of the ring frame using a cutter.
As another pasting method, for example, as shown in Patent Document 1, a strip-shaped original fabric in which a tape base material is temporarily attached to one surface of a base sheet is used, and the tape base material corresponds to the shape of a ring frame. There is also adopted a method in which a closed-loop cut is formed, a dicing tape is formed on the inside, and then the dicing tape is peeled off one by one and attached to the ring frame.

特開平6−216242号公報JP-A-6-216242

しかしながら、帯状に連続するダイシングテープを貼付した後にリングフレームの形状に応じてカッターでダイシングテープの外周側を切り落とす方法では、リングフレームの面内でダイシングテープを切断するため、カッターの刃によってリングフレームが著しく損傷してしまう、という不都合がある。特に、安価に製造でき、且つ、軽量化を達成するために樹脂製のリングフレームを用いた場合には、前記損傷の度合いは一層顕著となる。   However, in the method of cutting the outer peripheral side of the dicing tape with a cutter according to the shape of the ring frame after applying a continuous dicing tape in a band shape, the ring frame is cut by the blade of the cutter in order to cut the dicing tape within the surface of the ring frame. Has the disadvantage of being significantly damaged. In particular, when a resin ring frame is used in order to reduce the weight and achieve weight reduction, the degree of damage becomes even more remarkable.

この一方、特許文献1に示されるように、予めリングフレームの形状に切り込まれたダイシングテープを貼付する方法では、前記テープ基材の面内にラベル状となるダイシングテープを事前に形成する工程が必要となる。また、テープ基材が硬く、厚い材料の場合には、繰り出し途中でベースシートから剥離してしまう不都合がある。更に、ラベル形状に切り込みが形成されたダイシングテープは、ベースシートに対して粘着剤を介して貼付された状態でロール状に巻回されているため、当該ロールの径方向に沿う各層毎にダイシングテープが常にぴったりと重なり合うように巻回される状態とはならない。従って、粘着剤の弾性変形と、相互に重なり合うダイシングテープのエッヂによって、巻き圧に伴う押し跡(段差)若しくは押し傷がダイシングテープの面に形成されて平面精度を大きく低下させてしまうこととなる。このような押し跡若しくは押し傷が存在したダイシングテープをリングフレームに貼合した場合には、平面精度の低下による空気混入等を惹起して貼付不良等の弊害をもたらす要因となる。   On the other hand, as shown in Patent Document 1, in the method of applying a dicing tape that has been cut into a ring frame shape in advance, a step of previously forming a dicing tape in a label shape on the surface of the tape base material Is required. Further, when the tape base material is hard and thick, there is a disadvantage that it is peeled off from the base sheet during feeding. Furthermore, since the dicing tape in which the cut is formed in the label shape is wound in a roll shape in a state of being attached to the base sheet via an adhesive, dicing is performed for each layer along the radial direction of the roll. The tape is not always wound so that it is exactly overlapped. Therefore, due to the elastic deformation of the adhesive and the edges of the dicing tape that overlap each other, a pressing mark (step) or a scratch caused by the winding pressure is formed on the surface of the dicing tape, and the plane accuracy is greatly reduced. . When a dicing tape having such a stamp mark or scratch is pasted on a ring frame, air mixing due to a decrease in planar accuracy is caused, which causes a bad effect such as sticking failure.

ところで、前述したダイシングテープは、その面内に傷があったり、ゴミ等の不純物が付着していたりする場合がある。このような場合には、それらの傷やゴミ等の存在により、半導体ウエハとダイシングテープとの貼付面に空気が混入する要因となり、部分的な貼付不良をもたらすこととなる。この点、従来では、予め所定の間隔で所定形状にダイシングテープが形成されているだけで、特別な対応策が講じられておらず、例え傷等があっても、そのまま貼付に用いてしまうので、貼付不良を回避することができない、という不都合があった。   By the way, the dicing tape described above may have scratches in its surface or may have impurities such as dust attached thereto. In such a case, the presence of such scratches and dusts causes air to be mixed into the bonding surface between the semiconductor wafer and the dicing tape, resulting in partial bonding failure. In this regard, conventionally, only a dicing tape is formed in a predetermined shape at a predetermined interval in advance, and no special countermeasures are taken. There was a problem that it was impossible to avoid defective pasting.

[発明の目的]
本発明は、このような不都合に着目して案出されたものであり、その目的は、ベースシートに仮着されたベース基材に切り込みを形成して貼付用のテープを形成する際に、テープ基材に異常があるか否かを検査し、異常が検出された場合に当該異常箇所を除く領域に切り込みを形成して貼付用のテープを形成し、その後に、貼付用のテープを被着体に貼付することのできるテープ貼付装置を提供することにある。
[Object of invention]
The present invention has been devised by paying attention to such inconveniences, and the purpose of the present invention is to form a tape for application by forming a cut in a base substrate temporarily attached to a base sheet. Inspect whether there is an abnormality in the tape substrate, and if an abnormality is detected, form a notch in the area excluding the abnormal part to form an adhesive tape, and then apply the adhesive tape. It is providing the tape sticking apparatus which can be stuck on a kimono.

本発明の他の目的は、テープ基材に異常があるか否かを検査し、異常が検出された場合に当該異常箇所を除く領域に切り込みを形成してダイシングテープ形成し、その後に、当該ダイシングテープをリングフレーム及び半導体ウエハに貼付して当該半導体ウエハをリングフレームにマウントするマウント装置及びマウント方法を提供することにある。   Another object of the present invention is to inspect whether or not there is an abnormality in the tape base material, and when an abnormality is detected, form a notch in the area excluding the abnormal part to form a dicing tape, An object of the present invention is to provide a mounting apparatus and a mounting method for attaching a dicing tape to a ring frame and a semiconductor wafer and mounting the semiconductor wafer on the ring frame.

前記目的を達成するため、本発明は、ベースシートの一方の面にテープ基材が仮着された帯状の原反を繰り出す繰出装置と、前記原反の繰り出し経路上で前記テープ基材に閉ループ状の切り込みを形成して貼付用テープを形成するカット装置と、前記貼付用テープを前記ベースシートから剥離する剥離装置と、所定の被着体を支持する支持体と前記剥離装置とを相対移動させて前記貼付用テープを被着体に貼付する貼付装置と、前記剥離装置で貼付用テープを剥離した後の原反を巻き取る巻取装置とを備え、
前記カット装置に対して原反の繰出方向上流側にテープ基材の検査装置が配置され、この検査装置がテープ基材の異常を検出したときに、当該異常箇所をカット装置に素通りさせて貼付用テープを形成する、という構成を採っている。
In order to achieve the above object, the present invention provides a feeding device for feeding a belt-shaped original fabric in which a tape base material is temporarily attached to one surface of a base sheet, and a closed loop on the tape base material on the original material supply route. Cutting device for forming an adhesive tape by forming an incision, a peeling device for peeling the adhesive tape from the base sheet, a support for supporting a predetermined adherend, and the peeling device A sticking device for sticking the sticking tape to an adherend, and a winding device for winding up the original fabric after peeling the sticking tape with the peeling device,
A tape base material inspection device is disposed upstream of the cutting device in the feed direction of the original, and when this inspection device detects an abnormality of the tape base material, the abnormal portion is passed through the cutting device and pasted. The structure of forming a tape for use is adopted.

また、本発明は、テーブル上にリングフレームを配置するとともに当該リングフレームの内側に半導体ウエハを配置し、前記リングフレームにダイシングテープを貼付して前記半導体ウエハをリングフレームに固定するマウント装置において、
ベースシートの一方の面にテープ基材が仮着された帯状の原反を繰り出す繰出装置と、前記原反の繰り出し経路上で前記テープ基材に閉ループ状の切り込みを形成してダイシングテープを形成するカット装置と、前記ダイシングテープを前記ベースシートから剥離する剥離装置と、前記テーブルと前記剥離装置とを相対移動させて前記ダイシングテープをリングフレーム及び半導体ウエハに貼付する貼付装置と、前記剥離装置でダイシングテープを剥離した後の原反を巻き取る巻取装置とを備え、
前記カット装置に対して原反の繰出方向上流側にテープ基材の検査装置が配置され、この検査装置がテープ基材の異常を検出したときに、当該異常箇所をカット装置に素通りさせてダイシングテープを形成する、という構成を採っている。
Further, the present invention provides a mounting apparatus in which a ring frame is arranged on a table and a semiconductor wafer is arranged inside the ring frame, and a dicing tape is attached to the ring frame to fix the semiconductor wafer to the ring frame.
Forming a dicing tape by forming a strip-shaped raw material with a tape base material temporarily attached to one surface of a base sheet, and forming a closed-loop cut in the tape base material on the raw material supply route A cutting device that peels off the dicing tape from the base sheet, a sticking device that sticks the dicing tape to a ring frame and a semiconductor wafer by relatively moving the table and the peeling device, and the peeling device And a winding device that winds up the original fabric after peeling the dicing tape with,
A tape substrate inspection device is arranged upstream of the cutting device in the feed direction of the original, and when this inspection device detects an abnormality of the tape substrate, the abnormal portion is passed through the cutting device and dicing is performed. The configuration is to form a tape.

更に、本発明は、テーブル上にリングフレームを配置するとともに、当該リングフレームの内側に半導体ウエハを配置し、前記リングフレームにダイシングテープを貼付して半導体ウエハをリングフレームに固定するマウント方法において、
ベースシートの一方の面にテープ基材が仮着された帯状の原反を繰り出し途中でテープ基材に異常があるか否かを検査する工程と、
前記検査工程を経たテープ基材に閉ループ状の切り込みを形成してダイシングテープを形成するカット工程と、
前記ダイシングテープを前記ベースシートから剥離してダイシングテープをリングフレーム及び半導体ウエハに貼付する工程と、
前記剥離装置でダイシングテープを剥離した後の原反を巻き取る工程とを含み、
前記検査工程でテープ基材の異常が検出されたときに、当該異常箇所を除外して前記切り込みを形成する、という方法を採っている。
Further, the present invention provides a mounting method in which a ring frame is arranged on a table, a semiconductor wafer is arranged inside the ring frame, and a dicing tape is attached to the ring frame to fix the semiconductor wafer to the ring frame.
A step of inspecting whether there is an abnormality in the tape base material in the middle of feeding the strip-shaped raw material in which the tape base material is temporarily attached to one surface of the base sheet;
A cutting process for forming a dicing tape by forming a closed-loop cut on the tape base material that has undergone the inspection process;
Peeling the dicing tape from the base sheet and attaching the dicing tape to a ring frame and a semiconductor wafer;
Winding the original fabric after peeling the dicing tape with the peeling device,
When an abnormality of the tape base material is detected in the inspection step, a method is employed in which the notch is formed by excluding the abnormality portion.

本発明によれば、ベースシートにテープ基材が貼付された状態で帯状の原反が構成され、当該原反は、ロール状に巻回された状態から繰り出されることとなる。繰り出された原反には、リングフレーム及び半導体ウエハ等の被着体に対応した平面形状となるように、カット装置によって閉ループ状の切り込みが形成されてダイシングテープが形成される。このダイシングテープは、ピールプレート等からなる剥離装置を介して剥離された後に、リングフレーム及び半導体ウエハ等の被着体に貼付される。従って、貼付後にリングフレーム上でフィルムをカットする工程は不要となり、当該リングフレームの損傷を回避することができる。しかも、ダイシングテープは、原反を繰り出す経路上で形成されるため、前述した巻き圧による押し跡や押し傷等がダイシングテープ内に形成されてしまうことがなく、これにより、平面精度を高精度に保った状態で半導体ウエハとリングフレームに貼付することが可能となる。
また、前記カット装置による切り込みを形成する前の段階でテープ基材にゴミの付着や傷の有無等の異常を検出し、異常が検出された場合に当該異常箇所を除いた領域に前記切り込みが形成されるので、貼付後にダイシングテープと半導体ウエハとの間に空気が混入して貼付不良を生ずる原因も回避することができる。
なお、本明細書において、「閉ループ」とは無端状であれば足り、円形に閉じられた場合の他、楕円形、多角形等も含むものである。
According to the present invention, a strip-shaped original fabric is formed in a state where the tape base material is adhered to the base sheet, and the original fabric is fed out from a state wound in a roll shape. A dicing tape is formed by forming a closed loop-shaped cut by a cutting device on the unrolled raw material so as to have a planar shape corresponding to an adherend such as a ring frame and a semiconductor wafer. The dicing tape is peeled off via a peeling device made of a peel plate or the like, and then attached to an adherend such as a ring frame or a semiconductor wafer. Therefore, the step of cutting the film on the ring frame after application is not necessary, and damage to the ring frame can be avoided. In addition, since the dicing tape is formed on the path through which the raw material is fed, the above-described pressing marks and scratches due to the winding pressure are not formed in the dicing tape, thereby improving the planar accuracy. It is possible to affix to the semiconductor wafer and the ring frame in a state kept in the above.
Also, in the stage before forming the cut by the cutting device, the tape base material is detected for abnormalities such as dust adhesion or the presence or absence of scratches. Since it is formed, air can be mixed between the dicing tape and the semiconductor wafer after sticking, and the cause of sticking failure can be avoided.
In the present specification, the “closed loop” is sufficient if it is endless, and includes an ellipse, a polygon, and the like in addition to the case where it is closed in a circle.

以下、本発明の好ましい実施の形態について図面を参照しながら説明する。
図1には、本実施形態に係るマウント装置の概略正面図が示されている。この図において、マウント装置10は、下部ユニット10Aと上部ユニット10Bとにより構成されている。下部ユニット10Aは、図1中紙面直交方向(図2中上下方向)に相対配置された一対のフレーム板F1からなる下部フレームLFと、この下部フレームLFの領域内に配置されるとともに、ベースシートSの一方の面にテープ基材TBが仮着された帯状の原反Lを繰り出す繰出装置11と、前記原反Lの繰り出し経路上で前記テープ基材TBに閉ループ状の切り込みC(図3参照)を形成して貼付用テープとしてのダイシングテープDTを形成するカット装置としてのダイカット装置13と、このダイカット装置13に対して原反Lの繰出方向上流側に配置されたテープ基材TBの検査装置14とを備えて構成されている。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic front view of the mounting device according to the present embodiment. In this figure, the mounting apparatus 10 is composed of a lower unit 10A and an upper unit 10B. The lower unit 10A includes a lower frame LF composed of a pair of frame plates F1 that are relatively arranged in a direction perpendicular to the paper surface in FIG. 1 (up and down direction in FIG. 2), and a base sheet. A feeding device 11 that feeds a strip-shaped original fabric L temporarily attached to one surface of S with a tape base material TB, and a closed-loop cut C (see FIG. 3) in the tape base material TB on the feed path of the original fabric L. A die cutting device 13 as a cutting device for forming a dicing tape DT as a sticking tape and a tape base material TB arranged on the upstream side in the feeding direction of the original fabric L with respect to the die cutting device 13 And an inspection device 14.

前記上部ユニット10Bは、フレーム板F2からなる上部フレームUFと、当該上部フレームUFの領域内に配置されるとともに、前記ダイシングテープDTをベースシートSから剥離する剥離装置15と、ダイシングテープDTを被着体であるリングフレームRF及び半導体ウエハWに貼付する貼付装置16と、剥離装置15でダイシングテープDTを剥離した後の原反を巻き取る巻取装置17とを備えて構成されている。剥離装置15の下部側には、図1中左右方向に移動可能な支持体としてのテーブル19が配置され、当該テーブル19の上面側に前記リングフレームRF及び半導体ウエハWが吸着支持されるようになっている。なお、下部ユニット10A及び上部ユニット10Bにおける装置各部は、図示しない制御装置を介して全体的に制御される。   The upper unit 10B is arranged in an area of the upper frame UF composed of the frame plate F2, the upper frame UF, the peeling device 15 for peeling the dicing tape DT from the base sheet S, and the dicing tape DT. It is configured to include a sticking device 16 for sticking to a ring frame RF and a semiconductor wafer W as a body, and a winding device 17 for winding up the original fabric after the dicing tape DT is peeled off by the peeling device 15. A table 19 as a support body movable in the left-right direction in FIG. 1 is disposed on the lower side of the peeling device 15, and the ring frame RF and the semiconductor wafer W are sucked and supported on the upper surface side of the table 19. It has become. In addition, each part of the apparatus in the lower unit 10A and the upper unit 10B is entirely controlled via a control device (not shown).

前記繰出装置11は、モータM1と、当該モータM1によって回転駆動される支持軸21とにより構成され、この支持軸21回りにロール状に巻回された原反Lが支持されている。この繰出装置11から繰り出された原反Lは、繰出方向下流側すなわち上部ユニット10B側に向かって順次配置されたガイドロール22、第1のダンサロール23、ガイドロール25,26を経てダイカット装置13にて切り込みCが形成され、更に、ガイドロール28,29を経て上部ユニット10B側に繰り出されるようになっている。ここで、第1のダンサロール23は、フレーム板F1に形成された上下方向に延びるスロット30に沿って上下移動可能に設けられ、スロット30の上下各位置には上部センサ32,下部センサ33が配置されている。上部センサ32は前記ダイカット装置13への原反Lの繰り出しに伴って第1のダンサロール23が上昇したときに、その上昇位置を検出して制御装置に信号を出力し、当該制御装置が前記モータM1に駆動信号を出力して繰出装置11から原反Lの繰り出しを行う一方、この繰り出しに伴って自重で第1のダンサロール23が下降して当該第1のダンサロール23の下降位置を下部センサ33が検出したときに、前記制御装置を介してモータM1の駆動を停止する動作を交互に行うようになっている。   The feeding device 11 includes a motor M1 and a support shaft 21 that is rotationally driven by the motor M1, and a raw fabric L wound around the support shaft 21 in a roll shape is supported. The raw fabric L fed from the feeding device 11 passes through a guide roll 22, a first dancer roll 23, and guide rolls 25 and 26 which are sequentially arranged toward the downstream side in the feeding direction, that is, the upper unit 10 </ b> B side. A notch C is formed at, and is further fed to the upper unit 10B side through the guide rolls 28 and 29. Here, the first dancer roll 23 is provided so as to be vertically movable along a vertically extending slot 30 formed in the frame plate F1, and an upper sensor 32 and a lower sensor 33 are provided at respective positions above and below the slot 30. Is arranged. When the first dancer roll 23 rises as the raw fabric L is fed to the die cutting device 13, the upper sensor 32 detects the raised position and outputs a signal to the control device. A drive signal is output to the motor M1 to feed out the raw fabric L from the feeding device 11, while the first dancer roll 23 is lowered by its own weight along with this feeding, and the lowered position of the first dancer roll 23 is set. When the lower sensor 33 detects, the operation of stopping the driving of the motor M1 is alternately performed via the control device.

前記ダイカット装置13は、図2に示されるように、フレーム板F1,F1間に配置されるとともに外周面に切断刃36Aが設けられたダイカットロール36と、これに相対配置されたダイ受けロール37と、当該ダイ受けロール37を回転させるモータM2と、ダイ受けロール37の回転軸38に固定された主動ギヤ39と、前記ダイカットロール36の回転軸40に固定されて前記主動ギヤ39に噛み合う従動ギヤ42とを備えて構成されている。ダイカットロール36とダイ受けロール37にはベアラ43,44が両側にそれぞれ配置され、これにより、ダイカットロール36とダイ受けロール37の中心軸間距離が一定に維持され、ひいては、切断刃36Aによるテープ基材TBの切断を高精度に行えるようになっている。なお、切断刃36Aは、ダイカットロール36が回転したときに、前記リングフレームRFの直径よりも若干小径となる閉ループの円を描く軌跡に沿って延び、且つ、前記テープ基材TBに切り込みを形成する高さに形成されている。また、切断刃36Aは、図5に示されるように、ダイカットロール36の周方向に刃が存在しない領域Nを備えており、図6に示されるように、当該切断刃36Aの存在しない領域Nがダイ受けロール37側に位置する状態で、原反Lに切り込みを形成することなく当該原反Lを素通りさせることができるクリアランスCLが前記ベアラ43,44によって保たれる。   As shown in FIG. 2, the die-cutting device 13 is disposed between the frame plates F1 and F1, and has a die-cut roll 36 provided with a cutting blade 36A on the outer peripheral surface, and a die-receiving roll 37 disposed relative thereto. A motor M2 for rotating the die receiving roll 37, a main driving gear 39 fixed to the rotating shaft 38 of the die receiving roll 37, and a driven gear fixed to the rotating shaft 40 of the die cut roll 36 and meshing with the main driving gear 39. The gear 42 is provided. Bearers 43 and 44 are disposed on both sides of the die cut roll 36 and the die receiving roll 37, respectively, whereby the distance between the center axes of the die cut roll 36 and the die receiving roll 37 is maintained constant, and as a result, the tape by the cutting blade 36A. The base material TB can be cut with high accuracy. The cutting blade 36A extends along a locus that draws a closed loop circle having a diameter slightly smaller than the diameter of the ring frame RF when the die cut roll 36 rotates, and forms a cut in the tape base material TB. It is formed at the height to be. Further, as shown in FIG. 5, the cutting blade 36 </ b> A includes a region N where no blade exists in the circumferential direction of the die cut roll 36, and as shown in FIG. 6, a region N where the cutting blade 36 </ b> A does not exist. Is located on the die receiving roll 37 side, the clearance CL that allows the original fabric L to pass through without forming a notch in the original fabric L is maintained by the bearers 43 and 44.

前記ダイカットロール36の回転軸40の両側には、図3に示されるように、軸受機能を備えたスライドブロック47,47が設けられ、これらのスライドブロック47,47は、フレーム板F1,F1の面内に形成された略コ字状の切欠部49,49内に配置されている。これを更に詳述すると、スライドブロック47は、側端面形状が略H型に設けられており、その上下の溝47Aに切欠部49の上下形成端部49Aが入り込むことでスライドブロック47がフレーム板F1の面を直交する方向に脱落不能に設けられている。スライドブロック47と、切欠部49のコ字状の底部49Bとの間にはばね部材51が介装されており、このばね部材51の存在下でダイカットロール36がダイ受けロール37から離れる方向に付勢されている。   As shown in FIG. 3, slide blocks 47 and 47 having a bearing function are provided on both sides of the rotary shaft 40 of the die cut roll 36, and these slide blocks 47 and 47 are provided on the frame plates F1 and F1, respectively. It is disposed in substantially U-shaped cutout portions 49, 49 formed in the plane. More specifically, the slide block 47 has a substantially H-shaped side end surface, and the upper and lower formation end portions 49A of the cutout portions 49 enter the upper and lower grooves 47A, so that the slide block 47 is moved to the frame plate. It is provided so that it cannot fall off in the direction perpendicular to the surface of F1. A spring member 51 is interposed between the slide block 47 and the U-shaped bottom portion 49B of the notch 49. In the presence of the spring member 51, the die cut roll 36 is separated from the die receiving roll 37. It is energized.

前記ベアラ43,43には、対応するベアラ44,44とは反対側となる外周面部分に上下二箇所で接するコロ53,53がそれぞれ配置されている。これらのコロ53は、軸受55,55を介して回転可能に設けられており、これら軸受55,55は、連結板56を介して相互に連結されている。この連結板56は、前記フレーム板F1,F1の各面に形成された切欠部49間に延びて当該切欠部49内で図1中左右方向に沿って移動可能に設けられている。また、切欠部49のコ字状の開放端側は、フレーム板F1,F1間に延びる板状部材59によって閉塞され、当該板状部材59の長手方向二箇所には、前記連結板56の面位置を左右方向に移動させるための調整ハンドル61が設けられている。本実施形態では、調整ハンドル61を時計方向に回転操作することで、連結板56が図1中右方向に移動可能となり、当該連結板56に固定された軸受55,55のコロ53,53がベアラ43,43を介してダイカットロール36を前記ばね部材51の付勢力に抗してダイ受けロール37側に移動させることができ、ダイカットロール36側のベアラ43と、ダイ受けロール37側のベアラ44とが接するように調整可能になっている。この一方、調整ハンドル61を反時計方向に回転操作することでダイカットロール36がばね部材51の付勢力によってダイ受けロール37から離間可能となっている。   The rollers 43 and 43 are respectively provided with rollers 53 and 53 that are in contact with the outer peripheral surface portion on the opposite side to the corresponding bearers 44 and 44 at two locations on the upper and lower sides. The rollers 53 are rotatably provided via bearings 55 and 55, and the bearings 55 and 55 are connected to each other via a connecting plate 56. The connecting plate 56 extends between the notches 49 formed on the respective surfaces of the frame plates F1 and F1, and is provided in the notch 49 so as to be movable in the left-right direction in FIG. The U-shaped open end side of the notch 49 is closed by a plate-like member 59 extending between the frame plates F1 and F1, and the surface of the connecting plate 56 is disposed at two longitudinal positions of the plate-like member 59. An adjustment handle 61 for moving the position in the left-right direction is provided. In the present embodiment, by rotating the adjustment handle 61 in the clockwise direction, the connecting plate 56 can be moved in the right direction in FIG. 1, and the rollers 53 and 53 of the bearings 55 and 55 fixed to the connecting plate 56 are moved. The die cut roll 36 can be moved to the die receiving roll 37 side against the urging force of the spring member 51 via the bearers 43, 43. The bearer 43 on the die cut roll 36 side and the bearer on the die receiving roll 37 side can be moved. 44 can be adjusted so as to be in contact with 44. On the other hand, the die cut roll 36 can be separated from the die receiving roll 37 by the urging force of the spring member 51 by rotating the adjustment handle 61 counterclockwise.

前記ダイカット装置13の位置に対して原反Lの繰出方向上流側に設けられた検査装置14は、本実施形態では、前記ガイドロール25の直前位置に設けられている。この検査装置14は、例えば、CCDカメラ等の光学系センサを用いることができ、一回の撮像でダイシングテープDTの面積をカバーできる広角型のセンサを採用することが好ましい。また、ダイシングテープDTの面積をカバーできないタイプのセンサであっても、複数回の撮像でテープ基材TBの異常を検出することでも差し支えない。検査装置14による検査データは制御装置に出力され、ダイシングテープDTに傷などの異常がない場合には、ダイカット装置13の駆動により切り込みCが形成される一方、異常が検出されたときは、その位置データに基づいて、当該異常が存在する領域が切り込みCの領域内に含まれないようにダイカット装置13を原反Lが素通りするようになっている。ここで、例えば、一枚のダイシングテープDTを形成する領域内に異常が検出された場合には、その異常箇所が素通りするまで前述したクリアランスCLを保ったままダイカット装置13の駆動が停止されることとなる。   In the present embodiment, the inspection device 14 provided on the upstream side in the feed direction of the original fabric L with respect to the position of the die cutting device 13 is provided at a position immediately before the guide roll 25. For example, an optical system sensor such as a CCD camera can be used as the inspection device 14, and it is preferable to employ a wide-angle sensor that can cover the area of the dicing tape DT with a single imaging. Moreover, even if it is a sensor of the type which cannot cover the area of the dicing tape DT, it does not matter even if it detects abnormality of the tape base material TB by imaging several times. Inspection data from the inspection device 14 is output to the control device. When there is no abnormality such as a scratch on the dicing tape DT, a cut C is formed by driving the die cutting device 13, while when an abnormality is detected, Based on the position data, the raw fabric L passes through the die-cutting device 13 so that the region where the abnormality exists is not included in the region of the cut C. Here, for example, when an abnormality is detected in a region where a single dicing tape DT is formed, the drive of the die cutting device 13 is stopped while maintaining the above-described clearance CL until the abnormal portion passes through. It will be.

前記下部ユニット10Aにおいて切り込みCが形成された原反Lは、図示しない支持装置を介して支持された一対のニップロール65,65及びガイドロール66を介して上部ユニット10Bに供給される。   The original fabric L in which the cut C is formed in the lower unit 10A is supplied to the upper unit 10B via a pair of nip rolls 65 and 65 and a guide roll 66 supported by a support device (not shown).

上部ユニット10Bにおいて、フレーム板F2の面内には、ガイドロール70、第2のダンサロール71、トルク調整可能なモータM3によって原反Lに所定張力を付与するテンションロール72及びピンチロール73、ガイドロール74を経て剥離装置15が配置され、この剥離装置15によってダイシングテープDTが順次剥離される。そして、剥離装置15によってダイシングテープDTが剥離された後の原反Lは、モータM4によって駆動する駆動ロール76とニップロール77、第3のダンサロール79、ガイドロール80を経て巻取装置17で巻き取られるようになっている。   In the upper unit 10B, in the plane of the frame plate F2, a guide roll 70, a second dancer roll 71, a tension roll 72 and a pinch roll 73 that apply a predetermined tension to the original fabric L by a motor M3 capable of torque adjustment, a guide The peeling device 15 is disposed via the roll 74, and the dicing tape DT is sequentially peeled by the peeling device 15. Then, the original fabric L after the dicing tape DT is peeled off by the peeling device 15 is wound by the winding device 17 via the drive roll 76 and the nip roll 77, the third dancer roll 79, and the guide roll 80 driven by the motor M4. It has come to be taken.

第2のダンサロール71は、フレーム板F2の面内に設けられた上下方向に延びるスロット82に沿って移動可能に設けられている。スロット82の上部と下部には、第2のダンサロール71の上昇位置と下降位置をそれぞれ検出する上部センサ84及び下部センサ85が設けられ、駆動ロール76の駆動によって原反Lの繰り出しが行われて上部センサ84が第2のダンサロール71の上昇位置を検出したときに、上流側から原反Lの繰り出しが行われて第2のダンサロール71が自重で下降する。そして、下部センサ85が第2のダンサロール71の下降位置を検出したときに、上流側からの原反Lの繰り出しが停止する。モータM3は、テンションロール72,駆動ロール76間の原反Lが所定の張力となるようにテンションロール72を反繰出方向に付勢している。   The second dancer roll 71 is provided so as to be movable along a vertically extending slot 82 provided in the plane of the frame plate F2. An upper sensor 84 and a lower sensor 85 for detecting the raised position and the lowered position of the second dancer roll 71 are provided at the upper and lower parts of the slot 82, respectively, and the raw roll L is fed out by driving the drive roll 76. When the upper sensor 84 detects the rising position of the second dancer roll 71, the web L is fed from the upstream side, and the second dancer roll 71 is lowered by its own weight. Then, when the lower sensor 85 detects the lowered position of the second dancer roll 71, the feeding of the original fabric L from the upstream side stops. The motor M3 urges the tension roll 72 in the anti-feeding direction so that the original fabric L between the tension roll 72 and the drive roll 76 has a predetermined tension.

前記剥離装置15は、本実施形態では、ピールプレート87により構成され、当該ピールプレート87の先端位置で原反Lの繰出方向を急激に反転させることで、原反LからダイシングテープDTを剥離でき、この剥離のタイミングに合わせて移動するテーブル19上のリングフレームRFと半導体ウエハWの上面にダイシングテープDTが貼付される。この際、ピールプレート87の先端側には、貼付装置を構成する押圧ロール90が配置されており、当該押圧ロール90によって剥離されたダイシングテープDTがリングフレームRFと半導体ウエハWの面に所定の貼付圧力を付与するようになっている。なお、押圧ロール90の手前側(原反Lの繰出方向上流側)にはセンサ91が配置されており、当該センサ91によってダイシングテープDTの繰出方向先端位置が検出され、テーブル19の移動タイミング調整が行えるようになっている。   In the present embodiment, the peeling device 15 is constituted by a peel plate 87, and the dicing tape DT can be peeled from the original fabric L by rapidly reversing the feeding direction of the original fabric L at the tip position of the peel plate 87. Then, the dicing tape DT is affixed to the ring frame RF on the table 19 and the upper surface of the semiconductor wafer W that move in accordance with the peeling timing. At this time, a pressing roll 90 constituting a sticking device is disposed on the front end side of the peel plate 87, and the dicing tape DT peeled off by the pressing roll 90 is provided on the ring frame RF and the surface of the semiconductor wafer W with a predetermined amount. Affixing pressure is applied. Note that a sensor 91 is disposed on the front side of the pressing roll 90 (upstream side in the feeding direction of the original fabric L). The sensor 91 detects the leading position of the dicing tape DT in the feeding direction, and adjusts the movement timing of the table 19. Can be done.

前記第3のダンサロール79は、フレーム板F2の面内に設けられた上下方向に延びるスロット92に沿って移動可能に設けられている。スロット92の上部と下部には、第3のダンサロール79の上昇位置と下降位置をそれぞれ検出する上部センサ94及び下部センサ95が設けられ、上部センサ94が第3のダンサロール79の上昇位置を検出したときに、前記第1及び第2のダンサロール23,71と同様に、第3のダンサロール79が自重によって下降するように制御される一方、下部センサ95が第3のダンサロール79の下降位置を検出したときに、巻取装置17によって原反Lの巻き取りが行われるようになっている。なお、巻取装置17は、モータM5と、当該モータM5に連結された巻取軸97とにより構成されている。   The third dancer roll 79 is provided so as to be movable along a vertically extending slot 92 provided in the plane of the frame plate F2. An upper sensor 94 and a lower sensor 95 for detecting the raised position and the lowered position of the third dancer roll 79 are provided at the upper part and the lower part of the slot 92, respectively, and the upper sensor 94 indicates the raised position of the third dancer roll 79. When detected, similarly to the first and second dancer rolls 23, 71, the third dancer roll 79 is controlled to descend by its own weight, while the lower sensor 95 is controlled by the third dancer roll 79. When the lowered position is detected, the take-up device 17 takes up the original fabric L. The winding device 17 includes a motor M5 and a winding shaft 97 connected to the motor M5.

次に、本実施形態におけるマウント装置10の全体的な動作について説明する。   Next, the overall operation of the mounting apparatus 10 in this embodiment will be described.

初期作業として、繰出装置11から原反Lを引き出し、図1に示されるように、巻取装置17の巻取軸97に原反Lのリード端を固定しておく。この一方、テーブル19の上面に、リングフレームRF及び半導体ウエハWを吸着し、図1中実線で示される位置に待機させておく。この初期作業に際し、ダイカット装置13は、ダイカットロール36の切断刃36Aが存在しない外周領域がダイ受けロール37側となって前記クリアランスCLを形成する初期位置に設定しておき、原反Lの素通りが許容される状態に保たれる。   As an initial operation, the original fabric L is pulled out from the feeding device 11, and the lead end of the original fabric L is fixed to the winding shaft 97 of the winding device 17 as shown in FIG. On the other hand, the ring frame RF and the semiconductor wafer W are adsorbed on the upper surface of the table 19 and kept at a position indicated by a solid line in FIG. At the time of this initial work, the die cutting device 13 sets the outer peripheral area where the cutting blade 36A of the die cutting roll 36 does not exist to the die receiving roll 37 side to the initial position where the clearance CL is formed, and the raw fabric L passes through. Is maintained in an acceptable state.

電源投入により、制御装置が上下の各ユニット10A、10Bにおける装置各部を全体的に制御する。すなわち、モータM1、M2,M3,M4及びM5が駆動して原反Lの繰り出しが行われると、前記第1ないし第3のダンサロール23,71,79が上下に往復移動して原反Lの張力を一定に保ちながら当該原反L繰り出し動作を行うこととなる。そして、この繰り出しの過程において、検査装置14がテープ基材TBの検査を行い、傷やゴミの付着の有無を検査することとなる。この検査により、異常が検出されないことを条件に、ダイカットロール36及びダイ受けロール37が回転してテープ基材TBの切断を行い、テープ基材TBに円形の切り込みCを順次形成することとなる。   When the power is turned on, the control device controls the respective units of the upper and lower units 10A and 10B as a whole. That is, when the motors M1, M2, M3, M4 and M5 are driven to feed out the original fabric L, the first to third dancer rolls 23, 71 and 79 are reciprocated up and down to move the original fabric L. The original fabric L feeding operation is performed while keeping the tension of the sheet constant. In the feeding process, the inspection device 14 inspects the tape base material TB to inspect for the presence of scratches and dust. By this inspection, on condition that no abnormality is detected, the die cut roll 36 and the die receiving roll 37 rotate to cut the tape base material TB, and circular cuts C are sequentially formed in the tape base material TB. .

このようにしてテープ基材TBに形成された切り込みCの内側領域をダイシングテープDTとして当該ダイシングテープDTが原反Lに形成されることとなる。ピールプレート87の近傍に設けられたセンサ90によってダイシングテープDTが検出されると、予め設定されたタイミングでテーブル19が図1中右側に移動を開始し、ピールプレート87の先端位置で順次剥離されるダイシングテープDTがリングフレームRFと半導体ウエハ上に繰り出されて押圧ロール90によって貼付されることとなる。   Thus, the dicing tape DT is formed on the raw fabric L with the inner region of the cut C formed in the tape base material TB as the dicing tape DT. When the dicing tape DT is detected by the sensor 90 provided in the vicinity of the peel plate 87, the table 19 starts moving to the right in FIG. 1 at a preset timing, and is sequentially peeled off at the tip end position of the peel plate 87. The dicing tape DT is fed onto the ring frame RF and the semiconductor wafer and stuck by the pressing roll 90.

ここで、検査装置14がテープ基材TBの異常を検出した場合には、当該異常箇所が、ダイシングテープの形成領域に属するか否かが検査データに基づいて制御装置によって判断される。すなわち、ダイシングテープDTの形成領域から外れた位置に異常があっても、その後に切り込みCを形成することに支障はない。この一方、異常がダイシングテープDTの形成領域に属することが判断されると、当該異常箇所が通過するまでの間、ダイカット装置14は、原反Lの素通りを許容する状態のまま停止状態に保たれ、異常箇所が通過した後、次の異常箇所が検出されるまでの間、回転動作を行って一定間隔毎にダイシングテープDTを形成することとなる。なお、原反Lの繰り出し方向に沿って異常箇所が複数検出され、それらが一つのダイシングテープDTの形成領域に属する場合には、最後の異常箇所がダイカット装置13を素通りするまで当該ダイカット装置13の動作が停止されることとなる。   Here, when the inspection device 14 detects an abnormality in the tape base material TB, it is determined by the control device based on the inspection data whether or not the abnormality portion belongs to the formation area of the dicing tape. That is, even if there is an abnormality in the position deviated from the formation area of the dicing tape DT, there is no problem in forming the cut C thereafter. On the other hand, if it is determined that the abnormality belongs to the formation area of the dicing tape DT, the die-cutting device 14 remains in a stopped state while allowing the original fabric L to pass through until the abnormal portion passes. After the passage of the abnormal portion, the dicing tape DT is formed at regular intervals by performing a rotation operation until the next abnormal portion is detected. In addition, when a plurality of abnormal portions are detected along the feed direction of the original fabric L and they belong to the formation area of one dicing tape DT, the die cutting device 13 until the last abnormal portion passes through the die cutting device 13. Will be stopped.

従って、このような実施形態によれば、ベースシートSにテープ基材TBを仮着した帯状の原反Lを繰り出す過程でダイシングテープDTを形成し、その後にリングフレームRF及び半導体ウエハWに貼付する構成としたから、予めラベル状に形成したダイシングテープをベースシートに仮着した原反を用いた場合の不都合を解消することができる。また、テープ基材TBに傷等の異常が検出されたときに、当該異常箇所を除いてダイシングテープDTを形成する構成としたことで、表面精度に優れたダイシングテープDTを得ることができ、半導体ウエハWに対するダイシングテープDTの貼付を高精度に行うことができる、という効果を得る。   Therefore, according to such an embodiment, the dicing tape DT is formed in the process of feeding the belt-shaped raw fabric L temporarily attached to the base sheet S with the tape base material TB, and then is attached to the ring frame RF and the semiconductor wafer W. Since it is set as the structure which carries out, the inconvenience at the time of using the original fabric which temporarily attached the dicing tape previously formed in the label form to the base sheet can be eliminated. In addition, when an abnormality such as a scratch is detected on the tape substrate TB, the dicing tape DT is formed by removing the abnormal portion to obtain the dicing tape DT having excellent surface accuracy. An effect is obtained that the dicing tape DT can be attached to the semiconductor wafer W with high accuracy.

本発明を実施するための最良の構成、方法などは、以上の記載で開示されているが、本発明は、これに限定されるものではない。
すなわち、本発明は、主に特定の実施の形態に関して特に図示し、且つ、説明されているが、本発明の技術的思想及び目的の範囲から逸脱することなく、以上に述べた実施の形態に対し、形状、材料、数量、その他の詳細な構成において、当業者が様々な変形を加えることができるものである。
従って、上記に開示した形状などを限定した記載は、本発明の理解を容易にするために例示的に記載したものであり、本発明を限定するものではないから、それら形状などの限定の一部若しくは全部の限定を外した部材の名称での記載は、本発明に含まれるものである。
Although the best configuration, method and the like for carrying out the present invention have been disclosed in the above description, the present invention is not limited to this.
That is, the invention has been illustrated and described with particular reference to certain specific embodiments, but the embodiments described above are within the scope of the technical idea and scope of the invention. On the other hand, those skilled in the art can make various modifications in shape, material, quantity, and other detailed configurations.
Accordingly, the description limited to the shape disclosed above is an example for easy understanding of the present invention, and does not limit the present invention. The description by the name of the member which excluded the limitation of all or part is included in this invention.

例えば、前記実施形態では、本発明が、原反LからダイシングテープDTを形成してリングフレームRF及び半導体ウエハWに貼付するマウント装置に適用された場合を図示、説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、その他の被着体、例えば、コンパクトディスク(CD)、デジタル他用途ディスク(DVD)、ディスプレイ用パネル、ガラス等を被着体としたテープ貼付装置一般に適用することができる。   For example, in the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to a mounting apparatus that forms the dicing tape DT from the raw fabric L and attaches it to the ring frame RF and the semiconductor wafer W has been illustrated and described. However, the present invention is not limited to this, and may be applied to other adherends, for example, a tape applicator in which a compact disc (CD), a digital other-use disc (DVD), a display panel, glass or the like is used as an adherend. it can.

また、前記実施形態では、下部ユニット10Aと上部ユニット10Bの二段構成としてマウント装置10を構成したが、これらユニット10A、10Bを横方向に併設したり、単一のユニットとして構成することも可能である。但し、前記実施形態のように別ユニットとして構成した場合には、それらのユニットを切り離し、独立したユニットとして利用することもできる汎用性が付与される。   In the above embodiment, the mount device 10 is configured as a two-stage configuration of the lower unit 10A and the upper unit 10B. However, the units 10A and 10B can be provided side by side or configured as a single unit. It is. However, when it is configured as separate units as in the above-described embodiment, versatility that allows these units to be separated and used as independent units is provided.

更に、前記実施形態では、テープ基材TBに切り込みCを形成するカット装置としてダイカット装置13を採用したが、テープ基材TBの面に沿う回転刃を用いて切り込みCを形成する他の装置であってもよい。   Furthermore, in the said embodiment, although the die-cutting apparatus 13 was employ | adopted as a cutting apparatus which forms the cut C in the tape base material TB, it is another apparatus which forms the cut C using the rotary blade along the surface of the tape base material TB. There may be.

本実施形態におけるマウント装置の概略正面図。The schematic front view of the mounting apparatus in this embodiment. ダイカット装置の要部概略平面図。The principal part schematic plan view of a die-cut apparatus. ダイカット装置の概略斜視図。The schematic perspective view of a die-cutting apparatus. フレーム板を省略した状態を示すダイカット装置の概略斜視図。The schematic perspective view of the die-cutting apparatus which shows the state which abbreviate | omitted the frame board. ダイカットロールの概略斜視図。The schematic perspective view of a die-cut roll. ダイカットロールとダイ受けロールの正面図。The front view of a die cut roll and a die receiving roll.

符号の説明Explanation of symbols

10 マウント装置(テープ貼付装置)
11 繰出装置
13 ダイカット装置(カット装置)
14 検査装置
15 剥離装置
16 貼付装置
17 巻取装置
C 切り込み
L 原反
RF リングフレーム(被着体)
S ベースシート
TB テープ基材
W 半導体ウエハ(被着体)
10 Mounting device (tape application device)
11 Feeding device 13 Die cutting device (cutting device)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 14 Inspection apparatus 15 Peeling apparatus 16 Sticking apparatus 17 Winding apparatus C Cutting L Original fabric RF Ring frame (adhered body)
S Base sheet TB Tape base W Semiconductor wafer (Substrate)

Claims (3)

ベースシートの一方の面にテープ基材が仮着された帯状の原反を繰り出す繰出装置と、前記原反の繰り出し経路上で前記テープ基材に閉ループ状の切り込みを形成して貼付用テープを形成するカット装置と、前記貼付用テープを前記ベースシートから剥離する剥離装置と、所定の被着体を支持する支持体と前記剥離装置とを相対移動させて前記貼付用テープを被着体に貼付する貼付装置と、前記剥離装置で貼付用テープを剥離した後の原反を巻き取る巻取装置とを備え、
前記カット装置に対して原反の繰出方向上流側にテープ基材の検査装置が配置され、この検査装置がテープ基材の異常を検出したときに、当該異常箇所をカット装置に素通りさせて貼付用テープを形成することを特徴とするテープ貼付装置。
A feeding device that feeds a strip-shaped raw material with a tape base material temporarily attached to one surface of a base sheet, and a tape for pasting by forming a closed-loop cut in the tape base material on the feeding route of the raw material A cutting device to be formed, a peeling device for peeling the sticking tape from the base sheet, a support for supporting a predetermined adherend and the peeling device are moved relative to each other to attach the sticking tape to the adherend. A sticking device for sticking, and a winding device for winding up the original fabric after peeling the sticking tape with the peeling device;
A tape base material inspection device is disposed upstream of the cutting device in the feed direction of the original, and when this inspection device detects an abnormality of the tape base material, the abnormal portion is passed through the cutting device and pasted. A tape applicator characterized in that a tape is formed.
テーブル上にリングフレームを配置するとともに当該リングフレームの内側に半導体ウエハを配置し、前記リングフレームにダイシングテープを貼付して前記半導体ウエハをリングフレームに固定するマウント装置において、
ベースシートの一方の面にテープ基材が仮着された帯状の原反を繰り出す繰出装置と、前記原反の繰り出し経路上で前記テープ基材に閉ループ状の切り込みを形成してダイシングテープを形成するカット装置と、前記ダイシングテープを前記ベースシートから剥離する剥離装置と、前記テーブルと前記剥離装置とを相対移動させて前記ダイシングテープをリングフレーム及び半導体ウエハに貼付する貼付装置と、前記剥離装置でダイシングテープを剥離した後の原反を巻き取る巻取装置とを備え、
前記カット装置に対して原反の繰出方向上流側にテープ基材の検査装置が配置され、この検査装置がテープ基材の異常を検出したときに、当該異常箇所をカット装置に素通りさせてダイシングテープを形成することを特徴とするマウント装置。
In a mounting device that places a ring frame on a table and places a semiconductor wafer inside the ring frame, affixes a dicing tape to the ring frame and fixes the semiconductor wafer to the ring frame,
Forming a dicing tape by forming a strip-shaped raw material with a tape base material temporarily attached to one surface of a base sheet, and forming a closed-loop cut in the tape base material on the raw material supply route A cutting device that peels off the dicing tape from the base sheet, a sticking device that sticks the dicing tape to a ring frame and a semiconductor wafer by relatively moving the table and the peeling device, and the peeling device And a winding device that winds up the original fabric after peeling the dicing tape with,
A tape substrate inspection device is arranged upstream of the cutting device in the feed direction of the original, and when this inspection device detects an abnormality of the tape substrate, the abnormal portion is passed through the cutting device and dicing is performed. A mounting device for forming a tape.
テーブル上にリングフレームを配置するとともに、当該リングフレームの内側に半導体ウエハを配置し、前記リングフレームにダイシングテープを貼付して半導体ウエハをリングフレームに固定するマウント方法において、
ベースシートの一方の面にテープ基材が仮着された帯状の原反を繰り出す途中でテープ基材に異常があるか否かを検査する工程と、
前記検査工程を経たテープ基材に閉ループ状の切り込みを形成してダイシングテープを形成するカット工程と、
前記ダイシングテープを前記ベースシートから剥離してダイシングテープをリングフレーム及び半導体ウエハに貼付する工程と、
前記剥離装置でダイシングテープを剥離した後の原反を巻き取る工程とを含み、
前記検査工程でテープ基材の異常が検出されたときに、当該異常箇所を除外して前記切り込みを形成することを特徴とするマウント方法。
In the mounting method of placing a ring frame on a table, placing a semiconductor wafer inside the ring frame, and attaching a dicing tape to the ring frame to fix the semiconductor wafer to the ring frame,
A step of inspecting whether there is an abnormality in the tape base material in the middle of feeding out the belt-like original fabric in which the tape base material is temporarily attached to one surface of the base sheet;
A cutting process for forming a dicing tape by forming a closed-loop cut on the tape base material that has undergone the inspection process;
Peeling the dicing tape from the base sheet and attaching the dicing tape to a ring frame and a semiconductor wafer;
Winding the original fabric after peeling the dicing tape with the peeling device,
A mounting method characterized in that, when an abnormality of a tape base material is detected in the inspection step, the cut is formed by excluding the abnormal portion.
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