JP2006063432A - 成膜装置用マルチソース機構 - Google Patents
成膜装置用マルチソース機構 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006063432A JP2006063432A JP2004251150A JP2004251150A JP2006063432A JP 2006063432 A JP2006063432 A JP 2006063432A JP 2004251150 A JP2004251150 A JP 2004251150A JP 2004251150 A JP2004251150 A JP 2004251150A JP 2006063432 A JP2006063432 A JP 2006063432A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- source
- drive shaft
- stage mechanism
- rotation
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
【解決手段】 真空チャンバーの開口を密閉するように取り付ける真空フランジ11と、真空フランジを貫通して外部に延びると共に、外端に回転駆動力を加える駆動軸12と、駆動軸の内端に回転可能に取り付けたソースステージ機構13と、ソースステージ機構の周囲方向に沿って分散配置され、その表面に垂直な回転軸の周りに回転可能に支持された複数個のソースヘッド15と、ソースステージ機構の一方向のみの回転を許すラチェット機構16と、駆動軸の回転を各ソースヘッドに伝達する伝達部17と、を備えるように、成膜装置用マルチソース機構10を構成する。
【選択図】 図1
Description
このようなコンビナトリアル成膜装置を使用することによって、同一真空工程で、種々の組成を備えた物質群のライブラリーを同一基板上に一度に形成することができ、ライブラリーから新物質、新組成の発見、あるいはライブラリーの特性から理論的予測を得ることができる。これにより、従来法では100年かかる物質探査を、コンビナトリアル成膜装置を用いれば一ヶ月程度に短縮することができるといわれている。
また、第二の駆動機構56は、第一の駆動機構54の第一駆動軸54aと平行にベース53aから回転軸53bとは反対側に延びている第二駆動軸56aを備えており、外部から第二駆動軸56aに対して回転駆動力が伝達されることにより、各ターゲットヘッド53cを矢印B方向に回転駆動するようになっている。
尚、第一の駆動機構54の第一駆動軸54a及び第二の駆動機構56の第二駆動軸56aは、成膜装置による成膜の際には、共に真空チャンバー52から外側に突出するようになっている。
これにより、ターゲット55がアブレーション・レーザ光Lにより加熱されて蒸発すると、真空チャンバー52内に配置された基板(図示せず)の表面に蒸着し、当該ターゲット55の材料から成る薄膜が基板上に形成されることになる。そして、ターゲット55の選択そしてターゲット55の自転を繰り返しながら、アブレーション・レーザ光Lを当該ターゲット55に対して照射することにより、同一真空中にて、種々のターゲット55の材料から成る薄膜を上記基板上に形成することができる。
最初に、本発明による成膜装置用マルチソース機構10の第一の実施形態について、図1乃至図3を参照して説明する。図1において、マルチソース機構10は、成膜装置用のマルチソース機構であって、真空フランジ11と、駆動軸12と、ソースステージ機構13と、を含んでいる。
ここで、成膜装置は、マルチソース機構10を備える成膜装置であれば、各種蒸着装置、スパッタ装置、レーザー堆積装置、コンビナトリアル成膜装置などの何れでもよい。以下、成膜装置は、コンビナトリアル成膜装置として説明する。
なお、本発明におけるマルチソース機構10とは、成膜用の材料を、少なくとも2種類以上供給する機構と定義する。例えば、各種蒸着装置では蒸着用ソース、スパッタ装置及びレーザー堆積装置では、ターゲットと呼ばれる材料がソースに相当する。
この際、駆動軸12が一方向(図1にて矢印A方向)に回転駆動されたとき、ソースステージ機構13は、駆動軸12と一体的に矢印A方向に回転される。同時に、駆動軸12が他方向(図1にて矢印B方向)に回転駆動されたとき、ラチェット機構16が機能して、すなわち、ラチェット爪16cがラチェット16aに係合して、ソースステージ機構13は、その回転が阻止される。
ここで、この伝達部17は、駆動軸12の内端に備えられた第一の傘歯車17aと、各ソースヘッド15の回転軸15aの内端に備えられ、第一の傘歯車17aと噛合する第二の歯車17bと、から構成されている。これにより、駆動軸12が他方向(図1にて矢印B方向)に回転駆動されると、ソースステージ機構13の回転がラチェット機構16により阻止されることによって、駆動軸12が固定されたソースステージ機構13に対して相対的に回転することになる。このため、駆動軸12の回転駆動が伝達部17を介して各ソースヘッド15に伝達される。したがって、各ソースヘッド15は、その回転軸15aの周りに矢印Bで示すように自転する。
さらに、上記各ソースヘッド15は、その表面にターゲット18が装着され得るようになっている。
その後、真空チャンバー14内を真空排気した後、駆動軸12を例えば駆動モータ等の駆動源によって一方向に回転駆動する。この場合、ラチェット機構16が機能しないので、ソースステージ機構13が駆動軸12と共に図1にて矢印Aで示すように回転され、選択されたソースヘッド15が上方の所定位置に持ち来たされる。
これにより所望の種類のターゲット18が選択され、アブレーション・レーザ光導入位置に配置されることになる。
この場合、ラチェット機構16が機能することにより、ソースステージ機構13が回転せず、駆動軸12の回転駆動は、伝達部17を介して各ソースヘッド15に伝達されるので、各ソースヘッド15がその回転軸15aの周りに自転することになる。
したがって、当該ターゲット18は、照射されるアブレーション・レーザ光Lによって加熱され、真空チャンバー14内にて蒸発し、真空チャンバー14内にてターゲット18の上方に配置された基板19の表面に蒸着し、当該ターゲット14の材料から成る薄膜20が上記基板19上に形成されることになる(図3参照)。この際、ソースヘッド15がその回転軸15aの周りに自転すると、ソースヘッド15に載置されたターゲット14も自転する。このため、アブレーション・レーザ光Lのターゲット14による蒸発が均一に生起し、ターゲット14の局所的加熱が生じない。
この薄膜20は、上記ターゲット18と基板19との間に配置されたコンビナトリアル用のマスキング機構21により適宜にマスキングされることにより、蒸着時間が制御され、例えば三元組成傾斜膜として形成され得る。
このようにして、本発明によれば、簡単な構成により、容易に小型化に対応することが出来るようにした、成膜装置用マルチソース機構を提供することができる。
第一の実施形態で説明した成膜装置用マルチソース機構10を、パルスレーザ堆積(PLD)装置に装着した。マルチソース機構10は、ターゲットを4種類装着でき、駆動軸12によりこのターゲットを選択でき、また、ターゲット18の自転は約10〜100rpmの間で可変可能である。
ターゲット18としては、Eu0.01Y1.99O3 、Tb0.01Y1.99O3 、Tm0.01Y1.99O3 を用い、基板19としてガラスを用いて、酸化イットリウム(Y2 O3 )に希土類元素Mを添加した、M0.01Y1.99O3 薄膜を堆積できた(ここで、Mは、Eu(ユウロピウム)、Tb(テルビウム)、Tm(ツリウム)の何れかの元素である)。堆積の一例を、以下に示す。
真空槽内に圧力が1.33×10-3Paの酸素を導入し、基板は室温状態に保持した。レーザー光源としては、パルスのKrFレーザを使用し、2J/cm2 、10Hzの照射を12.5時間行うことにより、Eu0.01Y1.99O3 を、300nmの厚さに堆積することができた。
これにより、M0.01Y1.99O3 薄膜を、ターゲットの選択と自転により、効率よく成膜することができた。
この際、希土類元素Mを、Eu、Tb、Tmとした。得られた3元組成傾斜膜に電子ビームを照射し、その発光、すなわち、カソードルミネッセンスを測定したところ、Eu添加による赤色発光、Tb添加による緑色発光、Tm添加による青緑発光を含む傾斜組成に対応する発光が得られた。
これにより、M0.01Y1.99O3 薄膜において、希土類元素Mを、Eu、Tb、Tmと変えた3元組成傾斜膜薄膜を、ターゲットの選択と自転により、効率よく成膜することができた。
11:真空フランジ
12:駆動軸
13:ソースステージ機構
13a:回転部
14:真空チャンバー
15:ソースヘッド
15a:回転軸
16:ラチェット機構
16a:ラチェット機構
16b:ラチェットホルダー
16c:ラチェット爪
17:伝達部
18:ターゲット(蒸着用ソース)
19:基板
20:薄膜
21:マスキング機構
31:電子ビーム源
Claims (5)
- 真空チャンバーの開口を密閉するように取り付けられる真空フランジと、
上記真空フランジを貫通して外部に延びると共に、外端に回転駆動力が加えられる駆動軸と、
上記駆動軸の内端に回転可能に取り付けられたソースステージ機構と、
上記ソースステージ機構の周囲方向に沿って分散配置され、その表面に垂直な回転軸の周りに回転可能に支持された複数個のソースヘッドと、
上記ソースステージ機構の一方向のみの回転を許すラチェット機構と、
上記駆動軸の回転を各ソースヘッドに伝達する伝達部と、を備え、
上記駆動軸の一方向の駆動により上記ソースステージ機構を回転させ、
上記駆動軸の他方向の駆動により上記各ソースヘッドを自転させることを特徴とする、成膜装置用マルチソース機構。 - 真空チャンバーの開口を密閉するように取り付けられる真空フランジと、
上記真空フランジを貫通して外部に延びると共に、外端に回転駆動力が加えられる駆動軸と、
上記駆動軸の内端に回転可能に取り付けられたソースステージ機構と、
上記ソースステージ機構の周囲方向に沿って分散配置され、その表面に垂直な回転軸の周りに回転可能に支持された複数個のソースヘッドと、
上記ソースステージ機構の一方向のみの回転を許すラチェット機構と、
上記駆動軸の回転を各ソースヘッドに伝達する伝達部と、
を備えており、
上記駆動軸が一方向に回転駆動されたとき、上記ラチェット機構が上記ソースステージ機構の回転を許すことにより、上記ソースステージ機構全体が駆動軸により回転駆動され、上記各ソースヘッドが順次に所定位置に持ち来たされると共に、
上記駆動軸が反対方向に回転駆動されたとき、上記ラチェット機構が上記ソースステージ機構の回転を阻止することにより、ソースステージ機構が回転せず、上記駆動軸の回転が上記伝達部を介して上記各ソースヘッドに伝達され、上記各ソースヘッドが自転することを特徴とする、成膜装置用マルチソース機構。 - 前記ソースヘッドが、前記ソースステージ機構の回転中心軸の周りの外周面に配置されていることを特徴とする、請求項1又は2に記載の成膜装置用マルチソース機構。
- 前記伝達部が、前記駆動軸の先端に備えられた第一の傘歯車と、
前記各ソースヘッドの回転軸の半径方向内側の端部に備えられ、上記第一の傘歯車と噛合する第二の傘歯車と、から構成されていることを特徴とする、請求項1〜3の何れかに記載の成膜装置用マルチソース機構。 - 前記ソースヘッドが、前記ソースステージ機構の回転中心軸に垂直な端面に配置されていることを特徴とする、請求項1又は2に記載の成膜装置用マルチソース機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004251150A JP4678620B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 成膜装置用マルチソース機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004251150A JP4678620B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 成膜装置用マルチソース機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006063432A true JP2006063432A (ja) | 2006-03-09 |
JP4678620B2 JP4678620B2 (ja) | 2011-04-27 |
Family
ID=36110172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004251150A Expired - Fee Related JP4678620B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 成膜装置用マルチソース機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4678620B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11532328B2 (en) | 2018-05-18 | 2022-12-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for fabricating semiconductor chip by using multi-curing apparatus and multi-curing apparatus |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02133572A (ja) * | 1988-11-14 | 1990-05-22 | Asahi Optical Co Ltd | 薄膜形成装置のワーク駆動反転装置 |
JPH03153872A (ja) * | 1989-11-02 | 1991-07-01 | Leybold Inficon Inc | 蒸着膜厚モニター用多極結晶ヘッド |
JPH04100252U (ja) * | 1991-01-31 | 1992-08-31 | ||
JPH11217669A (ja) * | 1998-01-29 | 1999-08-10 | Applied Materials Inc | マグネトロン装置及びスパッタリング装置 |
JPH11254338A (ja) * | 1998-01-10 | 1999-09-21 | Hiroshi Ochiai | 螺子回し工具 |
JP2000150504A (ja) * | 1998-11-18 | 2000-05-30 | Hitachi Ltd | 薄膜形成方法および薄膜形成装置 |
JP2001131735A (ja) * | 1999-11-09 | 2001-05-15 | Matsushita Research Institute Tokyo Inc | 機能材料作製装置 |
JP2003183825A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-07-03 | Anelva Corp | 多層膜作成装置、垂直磁気記録媒体製造方法及び垂直磁気記録媒体製造装置 |
JP2003328113A (ja) * | 2002-05-07 | 2003-11-19 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 固体ターゲットパルスレーザ蒸着法によるGaN結晶性薄膜の作製方法及び同法で作製した薄膜 |
JP2004163418A (ja) * | 1994-10-18 | 2004-06-10 | Univ California | 無機材料のアレイを含む装置 |
JP2005154800A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 真空成膜装置 |
-
2004
- 2004-08-30 JP JP2004251150A patent/JP4678620B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02133572A (ja) * | 1988-11-14 | 1990-05-22 | Asahi Optical Co Ltd | 薄膜形成装置のワーク駆動反転装置 |
JPH03153872A (ja) * | 1989-11-02 | 1991-07-01 | Leybold Inficon Inc | 蒸着膜厚モニター用多極結晶ヘッド |
JPH04100252U (ja) * | 1991-01-31 | 1992-08-31 | ||
JP2004163418A (ja) * | 1994-10-18 | 2004-06-10 | Univ California | 無機材料のアレイを含む装置 |
JPH11254338A (ja) * | 1998-01-10 | 1999-09-21 | Hiroshi Ochiai | 螺子回し工具 |
JPH11217669A (ja) * | 1998-01-29 | 1999-08-10 | Applied Materials Inc | マグネトロン装置及びスパッタリング装置 |
JP2000150504A (ja) * | 1998-11-18 | 2000-05-30 | Hitachi Ltd | 薄膜形成方法および薄膜形成装置 |
JP2001131735A (ja) * | 1999-11-09 | 2001-05-15 | Matsushita Research Institute Tokyo Inc | 機能材料作製装置 |
JP2003183825A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-07-03 | Anelva Corp | 多層膜作成装置、垂直磁気記録媒体製造方法及び垂直磁気記録媒体製造装置 |
JP2003328113A (ja) * | 2002-05-07 | 2003-11-19 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 固体ターゲットパルスレーザ蒸着法によるGaN結晶性薄膜の作製方法及び同法で作製した薄膜 |
JP2005154800A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 真空成膜装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4678620B2 (ja) | 2011-04-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2004524435A (ja) | 差動ポンプ動作を用いる材料加工システム | |
JP2009531544A (ja) | スパッタリング装置 | |
JP4678620B2 (ja) | 成膜装置用マルチソース機構 | |
JP4912599B2 (ja) | 成膜方法 | |
CN115466927A (zh) | 薄膜沉积装置及薄膜沉积方法 | |
US20050252767A1 (en) | Sputtering device | |
US20050103273A1 (en) | Vacuum evaporation crucible and phosphor sheet manufacturing apparatus using the same | |
JP4766416B2 (ja) | マスキング機構及びそれを備えた成膜装置 | |
US20080265739A1 (en) | Phosphor and Method for Producing Phosphor and Light Emitting Device | |
JPH08193964A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP4883527B2 (ja) | 無機el用蛍光体の製造方法 | |
JP2005336558A (ja) | 蒸着装置及び蒸着方法 | |
KR100918225B1 (ko) | 형광체 박막의 제조 방법 | |
JP7108347B2 (ja) | 成膜装置 | |
WO2011077662A1 (ja) | 真空蒸着装置及びそのメンテナンス方法 | |
JP3018000B1 (ja) | コンビナトリアル分子層エピタキシー装置 | |
JP2006274308A (ja) | 蛍光体シート製造装置 | |
CN218146927U (zh) | 连续镀膜组件及磁控溅射装置 | |
KR102241728B1 (ko) | 막 형성 장치 및 그의 제어 방법 | |
JP2004018892A (ja) | 成膜条件の設定方法および成膜条件の設定に用いるマスクならびに自動成膜条件設定機構 | |
CN219752417U (zh) | 蒸镀设备 | |
JPH01212761A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP2005239826A (ja) | 蛍光体とその製造方法 | |
JP2009203495A (ja) | カルーセル式マグネトロンカソード及びスパッタ装置 | |
JP2007231165A (ja) | 緑色蛍光体及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070511 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100727 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100927 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20101022 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20101022 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110118 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110121 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140210 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |