JP2006040363A - 光ディスク及び光ディスク駆動装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 フレキシブルディスクのガイド面側に微細な突起を設けて、光ディスクとガイドの接触面積を減少させて摩擦を減らし、摺動を回避し、また光ディスク及びガイド表面の電気抵抗を小さくして光ディスクとガイドの表面抵抗値を下げ、静電気を防止し、ほこりの付着を防ぐ光ディスク及びこれを駆動する光ディスク駆動装置を提供する。
【解決手段】 可撓性を有するシート状の光ディスク5において、一方の側の表面の表面粗さRa及びこの面ぶれを小さくするためのガイド7との間の浮上距離Dの関係がD>Raである。
【選択図】 図1
【解決手段】 可撓性を有するシート状の光ディスク5において、一方の側の表面の表面粗さRa及びこの面ぶれを小さくするためのガイド7との間の浮上距離Dの関係がD>Raである。
【選択図】 図1
Description
本発明は、光学的情報記録装置、及び光学的情報再生装置、ならびにそれらに用いられるディスクカートリッジにおける可撓性を有するシート状の光学的情報記録媒体である光ディスク及びこれを回転駆動するための光ディスク駆動装置に関するものである。
近年、テレビ放送のデジタル化が始まるなど、大容量のデジタルデータを記録することが光ディスクに求められている。光ディスクの高密度化のための手法において、基本的な方法は記録/再生のための光のスポット径を小さくすることが知られている(例えば、特許文献1ないし3及び非特許文献1参照)。
このためには記録/再生のために用いられる光の波長を短く、かつ対物レンズの開口数NAを大きくすることが有効である。光の波長については、CD(Compact Disk)では近赤外光の780nm、DVD(Digital Versatile Disk)では赤色光の650nm近傍の波長が用いられている。
最近、青紫光の半導体レーザが開発され、今後は波長400nm近傍のレーザ光が使用されると予想される。また、対物レンズについては、CD用はNA0.5未満であったが、DVD用はNA0.6程度である。
今後、さらに開口数(NA)を大きくしてNA0.7以上とすることが求められる。しかし、対物レンズのNAを大きくしたり、光の波長を短くすると、光を絞るときに収差の影響が大きくなる。
したがって、光ディスクのチルトに対するマージンが減ることになる。また、NAを大きくすることによって焦点深度が小さくなるため、フォーカスサーボ精度を上げなくてはならない。
さらに、高NAの対物レンズを使用することによって、対物レンズと光ディスクの記録面との距離が小さくなってしまうため、光ディスクの面ぶれを小さくしておかないと、始動時のフォーカスサーボを引き込む直前、対物レンズと光ディスクとが衝突することがあり、ピックアップ故障の原因となる。
短波長、高NAの大容量光ディスクとして、例えば、非特許文献1に示されているように、CDと同程度に厚く剛性の大きい基板に記録膜を成膜し、記録/再生用の光を基板に通さずに、薄いカバー層内を通して記録膜に対して記録/再生する構成のシステムが提案されている。
また、例えば、特許文献1及び特許文献2に記載されているように、平面を有する安定化板上で可撓性を有する光ディスクを回転させて、光ディスクにおける面ぶれを安定化させる方法が知られている。
それに対して、本発明者らは特許文献3においてフレキシブルディスクを回転させ、離散配置された安定化器をピックアップと反対側に配置することによって、良好な面ぶれ特性と記録再生面側の摺動傷の回避を両立できる駆動装置を以前に提案した。
特開平7−105657号公報
特開平10−308059号公報
特開2001−118344公報
O PLUS E((株)新技術コミュニケーションズ) vol.20 No.2,183ページ
このためには記録/再生のために用いられる光の波長を短く、かつ対物レンズの開口数NAを大きくすることが有効である。光の波長については、CD(Compact Disk)では近赤外光の780nm、DVD(Digital Versatile Disk)では赤色光の650nm近傍の波長が用いられている。
最近、青紫光の半導体レーザが開発され、今後は波長400nm近傍のレーザ光が使用されると予想される。また、対物レンズについては、CD用はNA0.5未満であったが、DVD用はNA0.6程度である。
今後、さらに開口数(NA)を大きくしてNA0.7以上とすることが求められる。しかし、対物レンズのNAを大きくしたり、光の波長を短くすると、光を絞るときに収差の影響が大きくなる。
したがって、光ディスクのチルトに対するマージンが減ることになる。また、NAを大きくすることによって焦点深度が小さくなるため、フォーカスサーボ精度を上げなくてはならない。
さらに、高NAの対物レンズを使用することによって、対物レンズと光ディスクの記録面との距離が小さくなってしまうため、光ディスクの面ぶれを小さくしておかないと、始動時のフォーカスサーボを引き込む直前、対物レンズと光ディスクとが衝突することがあり、ピックアップ故障の原因となる。
短波長、高NAの大容量光ディスクとして、例えば、非特許文献1に示されているように、CDと同程度に厚く剛性の大きい基板に記録膜を成膜し、記録/再生用の光を基板に通さずに、薄いカバー層内を通して記録膜に対して記録/再生する構成のシステムが提案されている。
また、例えば、特許文献1及び特許文献2に記載されているように、平面を有する安定化板上で可撓性を有する光ディスクを回転させて、光ディスクにおける面ぶれを安定化させる方法が知られている。
それに対して、本発明者らは特許文献3においてフレキシブルディスクを回転させ、離散配置された安定化器をピックアップと反対側に配置することによって、良好な面ぶれ特性と記録再生面側の摺動傷の回避を両立できる駆動装置を以前に提案した。
フレキシブルなフィルムディスクをガイドで空気安定化して高速に記録再生する光ディスクにおいて、ガイドとディスクの摺動を軽減し、発塵とエラー発生を回避することが望まれる。
フレキシブルディスクを安定化器(=ガイド)で安定化する場合、空気の力は距離に反比例して大きくなる。このため、ガイドと光ディスクの距離は数μm程度の距離になる。このため、光ディスクのフィルム厚さのムラやごみの入り込みで光ディスクのガイド側に摺動傷が付き易い。
ガイド側の摺動傷は光ピックアップ側とは反対なので直ちにデータのエラーは引き起こすことはない。しかし光ディスクの摺動は面ぶれ状態の悪化や発塵を起こし、長時間続くと結果的に記録再生のエラーに繋がる。
そこで、本発明の目的は、上述した実情を考慮して、フレキシブルディスクのガイド面側に微細な突起を設けて、光ディスクとガイドの接触面積を減少させて摩擦を減らし、摺動を回避し、また光ディスク及びガイド表面の電気抵抗を小さくして光ディスクとガイドの表面抵抗値を下げ、静電気を防止し、ほこりの付着を防ぐ光ディスク及びこれを駆動する光ディスク駆動装置を提供することにある。
フレキシブルディスクを安定化器(=ガイド)で安定化する場合、空気の力は距離に反比例して大きくなる。このため、ガイドと光ディスクの距離は数μm程度の距離になる。このため、光ディスクのフィルム厚さのムラやごみの入り込みで光ディスクのガイド側に摺動傷が付き易い。
ガイド側の摺動傷は光ピックアップ側とは反対なので直ちにデータのエラーは引き起こすことはない。しかし光ディスクの摺動は面ぶれ状態の悪化や発塵を起こし、長時間続くと結果的に記録再生のエラーに繋がる。
そこで、本発明の目的は、上述した実情を考慮して、フレキシブルディスクのガイド面側に微細な突起を設けて、光ディスクとガイドの接触面積を減少させて摩擦を減らし、摺動を回避し、また光ディスク及びガイド表面の電気抵抗を小さくして光ディスクとガイドの表面抵抗値を下げ、静電気を防止し、ほこりの付着を防ぐ光ディスク及びこれを駆動する光ディスク駆動装置を提供することにある。
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、可撓性を有するシート状の光ディスクにおいて、一方の側の表面の表面粗さRa及びこの面ぶれを小さくするためのガイドとの間の浮上距離Dの関係がD>Raである光ディスクを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、前記一方の側の表面抵抗が10E+4〜10E+8Ω/sqである請求項1記載の光ディスクを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、可撓性を有するシート状の光ディスクを回転させる回転駆動手段と、前記光ディスクの記録面とは反対面側に設置され、少なくとも前記光ディスクにおける書き込みあるいは読み取りが行われる部位における回転軸方向の振れをベルヌーイの法則に基づく空気流の圧力差よって安定化させる安定化手段とを備えた光ディスク駆動装置において、使用する光ディスクが、前記ガイド側の表面の表面粗さRa及び前記光ディスクと前記ガイドとの間の浮上距離DにおいてD>Raである関係を有する光ディスク駆動装置を特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項1または2に記載の光ディスクを用い、前記ガイドが前記光ディスクの面ぶれを小さくするために設けられる請求項3記載の光ディスク駆動装置を特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、前記ガイドの表面抵抗が10E+8Ω/sq以下である請求項3及び4記載の光ディスク駆動装置を特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、前記一方の側の表面抵抗が10E+4〜10E+8Ω/sqである請求項1記載の光ディスクを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、可撓性を有するシート状の光ディスクを回転させる回転駆動手段と、前記光ディスクの記録面とは反対面側に設置され、少なくとも前記光ディスクにおける書き込みあるいは読み取りが行われる部位における回転軸方向の振れをベルヌーイの法則に基づく空気流の圧力差よって安定化させる安定化手段とを備えた光ディスク駆動装置において、使用する光ディスクが、前記ガイド側の表面の表面粗さRa及び前記光ディスクと前記ガイドとの間の浮上距離DにおいてD>Raである関係を有する光ディスク駆動装置を特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項1または2に記載の光ディスクを用い、前記ガイドが前記光ディスクの面ぶれを小さくするために設けられる請求項3記載の光ディスク駆動装置を特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、前記ガイドの表面抵抗が10E+8Ω/sq以下である請求項3及び4記載の光ディスク駆動装置を特徴とする。
微細な突起を設けることでディスクとガイドの接触面積を減少させて摩擦を減らし、摺動を回避する。また、ディスクとガイドの表面抵抗値を下げ、静電気を防止し、ほこりの付着を防ぐことができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は光ディスクの構成を示す概略図である。図1において、光ディスク5はプラスチック基板1上に再生専用のビット2がらせん状に形成され、その上に金属反射膜(記録膜側保護層)3が形成されている。さらに紫外線硬化樹脂4がコートされている。これが再生面となる。
反対面はプラスチックフィルム基板1上に微小突起(図示せず)が形成されており、さらに、ガイド側摺動保護膜8で被覆されている。すなわち、フレキシブルディスクのガイド面側に微細な突起を設ける。また光ディスク及びガイド表面の電気抵抗を小さくする。
図2は本発明による光ディスク駆動装置を示す概略図である。光ディスク5を挟み、光ピックアップ6の反対側に面ぶれ除去のためのガイド7が配置される。本光ディスク駆動システムはスピンドル9により高密度記録再生を高速で行うためのものなので、光ピックアップには波長405nm NA0.85を用いた。
基板材料としては厚さ75μmのポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムを用いた。光ディスクの直径は120mmである。フィルム上には紫外線硬化樹脂を用いてデータビットの凹凸層を転写成形した。転写層の厚さは15μmである。
データビットのトラックピッチは0.33μm、ビット深さは70nmである。最短ビットの長さは0.2μmである。ビット成形後スパッタ装置にてAg―1wt%Nd―1wt%Cu合金を40nmに形成した。
この後、記録膜面上の保護のための透明コートを行った。透明かつ耐摺動性に優れていることが必要になる。紫外線硬化樹脂を用い、厚さ3μmに形成した。これらのディスクの反りは、ほぼ0であり、いわゆる「カール」はない。平面上に置かれた光ディスクは目視では下地に密着する程度である。
このディスクを回転数3600rpmにて回転させ、ガイド7を最近接点での光ディスク5とガイド7の距離が平均1μmとなるようにして回転させた。光ディスク5のガイド側には微小突起が形成されている。
この微小突起はポリエステルのフィルム成形工程にて平均粒径0.03〜10μmのSiO2粒子を0.01〜5wt%溶融押出して延伸し、熱処理することで形成した。これによりフィルム表面にSiO2粒子が分散する。
反対面はプラスチックフィルム基板1上に微小突起(図示せず)が形成されており、さらに、ガイド側摺動保護膜8で被覆されている。すなわち、フレキシブルディスクのガイド面側に微細な突起を設ける。また光ディスク及びガイド表面の電気抵抗を小さくする。
図2は本発明による光ディスク駆動装置を示す概略図である。光ディスク5を挟み、光ピックアップ6の反対側に面ぶれ除去のためのガイド7が配置される。本光ディスク駆動システムはスピンドル9により高密度記録再生を高速で行うためのものなので、光ピックアップには波長405nm NA0.85を用いた。
基板材料としては厚さ75μmのポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムを用いた。光ディスクの直径は120mmである。フィルム上には紫外線硬化樹脂を用いてデータビットの凹凸層を転写成形した。転写層の厚さは15μmである。
データビットのトラックピッチは0.33μm、ビット深さは70nmである。最短ビットの長さは0.2μmである。ビット成形後スパッタ装置にてAg―1wt%Nd―1wt%Cu合金を40nmに形成した。
この後、記録膜面上の保護のための透明コートを行った。透明かつ耐摺動性に優れていることが必要になる。紫外線硬化樹脂を用い、厚さ3μmに形成した。これらのディスクの反りは、ほぼ0であり、いわゆる「カール」はない。平面上に置かれた光ディスクは目視では下地に密着する程度である。
このディスクを回転数3600rpmにて回転させ、ガイド7を最近接点での光ディスク5とガイド7の距離が平均1μmとなるようにして回転させた。光ディスク5のガイド側には微小突起が形成されている。
この微小突起はポリエステルのフィルム成形工程にて平均粒径0.03〜10μmのSiO2粒子を0.01〜5wt%溶融押出して延伸し、熱処理することで形成した。これによりフィルム表面にSiO2粒子が分散する。
図3は表面粗さの定義をするための粗さ曲線を示す図である。粗さの測定はアルバック株式会社のDEKTAKにて評価した。これは半径2.5μmの球状の先端を有する触針式の表面形状測定装置である。
図3において、Raは中心線平均値であり、これは中心線から測定曲線までの偏差の絶対値の平均である。すなわち、
Ra=1/lm∫lm 0|f(x)|dx
これは粗さ曲線から求める。ここで、lm=n×λc(カットオフ値)。
傷付きは先端が半径20mmの球状で材質がステンレス製の面ぶれ抑制ガイド上で光ディスク5を3600rpm にて15分回転させた後のガイド7による光ディスクの傷を目視で評価した。
図3において、Raは中心線平均値であり、これは中心線から測定曲線までの偏差の絶対値の平均である。すなわち、
Ra=1/lm∫lm 0|f(x)|dx
これは粗さ曲線から求める。ここで、lm=n×λc(カットオフ値)。
傷付きは先端が半径20mmの球状で材質がステンレス製の面ぶれ抑制ガイド上で光ディスク5を3600rpm にて15分回転させた後のガイド7による光ディスクの傷を目視で評価した。
図4はガイド側保護層の表面粗さとディスク傷付きの関係を表の形で示す図である。したがって図4ではガイド7は導電性である。ごみ、ほこりの環境は通常の事務室環境である。
評価前にガイド表面と光ディスク表面を、メタノールを含ませたワイパで清掃した後に評価した。目視ではっきりと同心円状の傷が解るものを×、薄く傷が付いたものを△、目視ではまったく傷が解らないものを○とした。
図4には比較としてポリエステルフィルム中にSiO2をまったく含まないものも入れた。SiO2フィルムの無いものの表面粗さは0.01μmである。動摩擦Fは摩擦し合う2面間の接触面積Sと柔らかい方の面のせん断強さをKとすると一般的にF=S*Kと表される。
したがって、フィルムに微小突起を設けて接触面積Sを小さくすることで動摩擦を小さくすることができる。図4の結果からは、突起を設けることで摩擦が小さくなり、不要な光ディスク振動が減少して摺動が減少したと考えられる。
同じ原理はガイド7側の表面粗さにも当て嵌る。ガイド7の表面処理を変え、いろいろなガイドで実験した。光ディスク5の表面粗さは0.1μm未満とした。この場合のディスク面ぶれ、光ディスクの摺動傷の様子は図4の光ディスクRaの挙動とほぼ変わらなかった。
このため、光ディスク5側の表面粗さとほぼ同様なRaの範囲でよいと考えられる。本光ディスク5は記録ビットを紫外線硬化樹脂による転写で形成しているのでポリエステル中の粒子の突起は記録再生側には悪影響を与えない。
しかし粒子の大きさが光ディスク5とガイド7間の浮上量の1μmを越えると衝突し易くなり、傷が付き易くなる。この意味によってフィルム上の微小突起の上限は決まる。
粒子径が大きくなると、ガイド7による面ぶれ安定化においてフィルム上突起の高さが高くなってそのガイド7との衝突による反力が無視できなくなるからである。この理由によってガイド7に面する側のフィルム上微小突起の大きさが制限される。
評価前にガイド表面と光ディスク表面を、メタノールを含ませたワイパで清掃した後に評価した。目視ではっきりと同心円状の傷が解るものを×、薄く傷が付いたものを△、目視ではまったく傷が解らないものを○とした。
図4には比較としてポリエステルフィルム中にSiO2をまったく含まないものも入れた。SiO2フィルムの無いものの表面粗さは0.01μmである。動摩擦Fは摩擦し合う2面間の接触面積Sと柔らかい方の面のせん断強さをKとすると一般的にF=S*Kと表される。
したがって、フィルムに微小突起を設けて接触面積Sを小さくすることで動摩擦を小さくすることができる。図4の結果からは、突起を設けることで摩擦が小さくなり、不要な光ディスク振動が減少して摺動が減少したと考えられる。
同じ原理はガイド7側の表面粗さにも当て嵌る。ガイド7の表面処理を変え、いろいろなガイドで実験した。光ディスク5の表面粗さは0.1μm未満とした。この場合のディスク面ぶれ、光ディスクの摺動傷の様子は図4の光ディスクRaの挙動とほぼ変わらなかった。
このため、光ディスク5側の表面粗さとほぼ同様なRaの範囲でよいと考えられる。本光ディスク5は記録ビットを紫外線硬化樹脂による転写で形成しているのでポリエステル中の粒子の突起は記録再生側には悪影響を与えない。
しかし粒子の大きさが光ディスク5とガイド7間の浮上量の1μmを越えると衝突し易くなり、傷が付き易くなる。この意味によってフィルム上の微小突起の上限は決まる。
粒子径が大きくなると、ガイド7による面ぶれ安定化においてフィルム上突起の高さが高くなってそのガイド7との衝突による反力が無視できなくなるからである。この理由によってガイド7に面する側のフィルム上微小突起の大きさが制限される。
図5は光ディスクをオフィス環境に24時間放置し、光ディスク表面を清掃しないで摺動試験を行った結果を表の形で示す図である。図5には、光ディスク5をオフィス環境に24時間放置し、光ディスク表面を清掃しないで摺動試験を行った結果を示している。
図5において、ポリエステルにSiO2以外にカーボンブラックも混錬した。カーボンの混錬量調整にて表面抵抗を変化させた。このとき、光ディスク5のガイド7側の表面粗さは概ね0.1μmになるように調整した。
光ディスク5のガイド7側の表面抵抗が10E+4〜10E+8Ω/sqではひどい摺動が発生しない。しかし、ディスクフィルムに帯電防止処理をしないものでは室内放置にて付着したほこりが多く、かつ回転時の空気流でも取れにくいためにひどい摺動が発生したと考えられる。
図5において、ポリエステルにSiO2以外にカーボンブラックも混錬した。カーボンの混錬量調整にて表面抵抗を変化させた。このとき、光ディスク5のガイド7側の表面粗さは概ね0.1μmになるように調整した。
光ディスク5のガイド7側の表面抵抗が10E+4〜10E+8Ω/sqではひどい摺動が発生しない。しかし、ディスクフィルムに帯電防止処理をしないものでは室内放置にて付着したほこりが多く、かつ回転時の空気流でも取れにくいためにひどい摺動が発生したと考えられる。
図6は光ディスクを帯電防止処理ありに固定してガイド表面の帯電防止処理の程度を変えて摺動の様子を調べた結果を表の形で示す図である。図6において、光ディスクを帯電防止処理ありに固定し、ガイドをプラスチック化し、このガイド表面の帯電防止処理の程度を変えて摺動の様子を調べている。
光ディスク5は図5と同様でオフィス環境に24時間放置後に用いた。摺動の様子は、表面抵抗がほぼないステンレス製ガイドが最良で絶縁性の高いガイドになるにつれ摺動がひどくなる。
とくに10E+8Ω/sqを越えたものは摺動傷が多い。理由は光ディスク5のときと同様で光ディスク5上のほこりをガイド7が帯電して引き寄せることが原因と考えられる。
以上の実験結果から光ディスク5に関しては次のように言える。すなわち、ガイド側表面の微小突起の周期が0.5〜50μmになるように形成されており、光ディスク5のガイド7側の表面抵抗が10E+4〜10E+8Ω/sqであるということである。
ディスクフィルムは現実的にはプラスチックフィルムを用いるので表面抵抗に10E+4〜10E+8Ω/sqのような範囲を設けた。しかし帯電防止との原理から考えれば下限値10E+4Ω/sq以下でも良い。
実際にはポリエステルフィルムにカーボン混錬の手法ではこれ以下の試料を作成できなかった。次に駆動装置は、ガイドの表面抵抗が10E+8Ω/sq以下であることが望ましい。
この条件を満たす光ディスク及び光ディスク駆動装置でフレキシブルディスクを用いるとガイド7による摺動、そしてこれに由来する発塵、エラー発生を回避でき、システムとしての信頼性が非常に上がった。
光ディスク5は図5と同様でオフィス環境に24時間放置後に用いた。摺動の様子は、表面抵抗がほぼないステンレス製ガイドが最良で絶縁性の高いガイドになるにつれ摺動がひどくなる。
とくに10E+8Ω/sqを越えたものは摺動傷が多い。理由は光ディスク5のときと同様で光ディスク5上のほこりをガイド7が帯電して引き寄せることが原因と考えられる。
以上の実験結果から光ディスク5に関しては次のように言える。すなわち、ガイド側表面の微小突起の周期が0.5〜50μmになるように形成されており、光ディスク5のガイド7側の表面抵抗が10E+4〜10E+8Ω/sqであるということである。
ディスクフィルムは現実的にはプラスチックフィルムを用いるので表面抵抗に10E+4〜10E+8Ω/sqのような範囲を設けた。しかし帯電防止との原理から考えれば下限値10E+4Ω/sq以下でも良い。
実際にはポリエステルフィルムにカーボン混錬の手法ではこれ以下の試料を作成できなかった。次に駆動装置は、ガイドの表面抵抗が10E+8Ω/sq以下であることが望ましい。
この条件を満たす光ディスク及び光ディスク駆動装置でフレキシブルディスクを用いるとガイド7による摺動、そしてこれに由来する発塵、エラー発生を回避でき、システムとしての信頼性が非常に上がった。
5 光ディスク、6 光ピックアップ(光ディスク駆動装置)、7 安定化手段(ガイド、光ディスク駆動装置)、8 一方の側(ガイド側摺動保護膜)、9 回転駆動手段(スピンドル)、D 光ディスクとガイドとの間の浮上距離、Ra ガイド側の表面の表面粗さ
Claims (5)
- 可撓性を有するシート状の光ディスクにおいて、一方の表面の表面粗さRaと、該光ディスクとその面ぶれを小さくするためのガイドとの間の浮上距離Dとの関係が、D>Raであることを特徴とする光ディスク。
- 前記光ディスクの一方の表面の表面抵抗が10E+4〜10E+8Ω/sqであることを特徴とする請求項1記載の光ディスク。
- 可撓性を有するシート状の光ディスクを回転させる回転駆動手段と、前記光ディスクの記録面とは反対面側に設置され、少なくとも前記光ディスクにおける書き込みあるいは読み取りが行われる部位における回転軸方向の振れをベルヌーイの法則に基づく空気流の圧力差よって安定化させる安定化手段とを備えた光ディスク駆動装置において、使用する光ディスクの前記ガイド側の表面の表面粗さRaと、前記光ディスクと前記ガイドとの間の浮上距離Dとが、D>Raの関係を有することを特徴とする光ディスク駆動装置。
- 請求項1または2に記載の光ディスクを用い、前記ガイドが前記光ディスクの面ぶれを小さくするために設けられることを特徴とする請求項3記載の光ディスク駆動装置。
- 前記ガイドの表面抵抗が10E+8Ω/sq以下であることを特徴とする請求項3及び4記載の光ディスク駆動装置。
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JP2004216648A JP2006040363A (ja) | 2004-07-23 | 2004-07-23 | 光ディスク及び光ディスク駆動装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010134988A (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-17 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | ディスク・ドライブ |
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2004
- 2004-07-23 JP JP2004216648A patent/JP2006040363A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010134988A (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-17 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | ディスク・ドライブ |
US9196312B2 (en) | 2008-12-03 | 2015-11-24 | HGST Netherlands B.V. | Disk drive with air-flow control component |
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