JP2006023270A - ディスプレーベアガラス検査装置および方法 - Google Patents

ディスプレーベアガラス検査装置および方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 ディスプレーベアガラス検査装置および方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は、大形ベアガラスに形成されて欠陥を高速で検査することができるディスプレーベアガラスの欠陥検査装置および方法に関するものである。本発明のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置は、スキャン領域を有し、ベアガラスが置かれるステージと、前記ベアガラスを前記ステージ上で前後移動させる移動部材と、前記ステージの前記スキャン領域に光を照射して前記ベアガラスを撮像する撮影部とを含む。前記撮影部は前記ベアガラスの表面をライン単位で撮影する少なくとも一つのカメラと、前記少なくとも一つのカメラで前記ベアガラスの多様な欠陥パターンが撮影されるように、前記ベアガラスに光を照射し、互いに異なる照射角を有する第1光源と第2光源とを有する照明部を含む。
【選択図】 図1

Description

本発明はベアガラス(bare glass)表面の欠陥を検査するための装置および方法に関するものであって、さらに具体的には、大形ベアガラスに形成されている欠陥を高速で検査しうるディスプレーベアガラスの欠陥検査装置および方法に関するものである。
一般に、ディスプレーベアガラスは製造工程のうちに外部からの影響によってベアガラスの表面上にスクラッチ(scratch)、クラック(表面割り)、表面刻み、表面汚染、気泡などの多様な欠陥が発生しうるものであり、このような欠陥は検査装置を通じて検出される。
この検査装置は、ディスプレー用ベアガラスを案内(移動)しながら、ラインスキャンカメラ(またはCCDカメラ)などを使用して検査対象物のイメージをキャプチャした後、ビジョンイメージプロセッシングアルゴリズムを適用して各種欠陥を検出する。
しかし、既存のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置は、ベアガラスを移送ローラ上で移動させながら検査を進行するので、検査途中ベアガラスが歪むか、またはベアガラスの底面がローラと接触して、スクラッチ、表面汚染などの欠陥を発生しうるものである。また、ベアガラスが大型化することによって、検査しようとするベアガラスを移動させる過程で、ベアガラスの平坦度が不均一になり、それによって均一な映像を得難いという問題点がある。
本発明の第1の課題は、多様な照明を使用して多様な不良パターンを最大に獲得することができる新しい形態のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置を提供することである。
本発明の第2の課題は、ベアガラスが撮影地域を通る時、ベアガラスの平坦度を均一にして均一な映像を獲得することができる新しい形態のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置を提供することである。
本発明の第3の課題は、ベアガラスを移動させる過程で発生しうる欠陥を最小化する新しい形態のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置を提供することである。
本発明の第4の課題は、欠陥部位を再観察することができる新しい形態のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置を提供することである。
上述の課題を解決するために、本発明のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置は、スキャン領域を有し、ベアガラスが置かれるステージと、前記ベアガラスを前記ステージ上で前後移動させる移動部材と、前記ステージの前記スキャン領域に光を照射して前記ベアガラスを撮像する撮影部と、前記撮影部から入力された映像情報を利用してベアガラスの欠陥の有無を検査する映像処理部と、を含む。
本発明の実施形態によれば、前記撮影部は前記ベアガラスの表面をライン単位で撮影する少なくとも一つのカメラと、前記少なくとも一つのカメラで前記ベアガラスの多様な欠陥パターンを撮影することができるように、前記ベアガラスに光を照射し、かつ互いに異なる照射角を有する第1光源と第2光源とを有する照明部とを含む。
本発明の実施形態によれば、前記第1光源は前記スキャン領域に位置する前記ベアガラスの底面から垂直方向に光を照射し、前記第2光源は前記スキャン領域に位置する前記ベアガラスの上面から傾斜方向に光を照射する。
本発明の実施形態によれば、前記第2光源は光の照射角度を変更することができ、前記第1光源は前記カメラと向き合うように前記ステージに設け得る。
本発明の実施形態によれば、前記装置は、前記スキャン領域の両側に位置し、前記ベアガラスが前記スキャン領域を通る時、前記ベアガラスの平坦度を均一に維持する平坦度補正ユニットを更に含み、前記平坦度補正ユニットは前記ベアガラスを吸着する真空ホールを有する第1領域と、前記第1領域との間に形成され、前記ベアガラスを非接触状態に維持するように前記ベアガラスに空気を噴射する噴射ホールを有する第2領域からなる。
本発明の実施形態によれば、前記移動部材は前記ステージに一定の配列に多数個が配置され、前記ベアガラスが前記ステージから浮上するように、前記ベアガラスの底面に空気を噴射するエア噴射ユニットと、前記エア噴射ユニットによって前記ステージから空気浮上した前記ベアガラスのエッジを真空吸着する真空吸着部と、前記真空吸着部に連結される移送のためのリニアモータと、を含む。
本発明の実施形態によれば、前記ステージには溝が形成され、前記溝は前記スキャン領域上に位置する。
本発明の実施形態によれば、前記第1光源は前記溝に設けられる。
本発明の実施形態によれば、前記撮影部は前記カメラの焦点調整のため、前記カメラの高低を調節する高低調節部と、をさらに含む。
本発明の実施形態によれば、前記撮影部はレビュー用カメラと、前記レビュー用カメラを左右方向に移動させるための左右移動部と、を更に含む。
上述の課題を解決するためのディスプレーベアガラスの欠陥検査方法では、ベアガラスをステージ上で前後方向に移動させる段階と、スキャン領域上で前記ベアガラスの表面をライン単位で連続撮影する段階と、撮影を通じて得られた映像情報を利用してベアガラスの欠陥有無を検査する段階とを含み、前記撮影段階は前記ベアガラスに第1照明を照射する段階と、前記ベアガラスを撮影する段階と、前記ベアガラスに前記第1照明とは異なる照射角を有する第2照明を照射する段階と、前記ベアガラスを撮影する段階とを含む。
本発明の実施形態によれば、前記方法は、前記検査されたベアガラスの欠陥部位をレビューする段階を更に含み、前記レビュー段階は、検査結果をコンピュータ画面上に示す段階と、使用者がレビューしようとする領域をコンピュータ画面上で選択する段階と、レビューカメラがその選択された領域を撮像する段階と、撮像された映像をコンピュータ画面上に示す段階とを含む。
本発明の実施形態によれば、前記移動段階は前記ベアガラスをステージから空気浮上させる段階をさらに含む。
本発明によれば、次のような効果がある。第1に、他の照射角を有する様々な照明を使用することによって、多様な欠陥を最大限に撮影することができることである。第2に、ベアガラスの平坦度を均一にして均一な映像を獲得することができることである。第3に、ベアガラスを移動する過程で発生しうる欠陥を最小化することができることである。第4に、映像処理装置において、欠陥として判断した部分を使用者がコンピュータ画面を通じて実物映像でレビューすることができることである。
以下、添付の図面を参照して本発明の好ましい実施形態を詳細に説明する。しかし、本発明はここで説明する実施形態に限定されず、他の形態で具体化することもできる。むしろここで紹介する実施形態は開示した内容が全体にわたって完全に理解できるように本発明の思想を十分に当業者に伝達するために提供するものである。明細書の全体にわたって同一の参照番号で表示した部分は同一の構成要素を示す。
図1乃至図4を参照すると、本発明によるディスプレーベアガラスの欠陥を検査する装置100はステージ112、移動部材120、撮影部130、平坦度補正ユニット150、および映像処理装置(160、図5に示す)を含む。
前記ステージ112は前記検査装置の骨格を構成するフレーム(frame:110)上に位置する。ステージ112には中央にスキャン領域(点線で表示する:S)を有する。そして前記フレーム110は前記ステージ112を左右方向に横切るブリッジ(bridge:114)を有する。このブリッジ114には撮影部のラインスキャンカメラと照明、およびレビューカメラなどが設けられる。
前記移動部材120はエア噴射ユニット122と、真空吸着部124、およびリニアモータ126を含む。
前記エア噴射ユニット122はステージ112に一定の配列に複数個が設けられる。このエア噴射ユニット122の上面は前記ステージの上面と面一な平面をなすように位置づけられる。このエア噴射ユニット122は前記ベアガラス10が前記ステージ112の表面から浮上するように、前記ベアガラスの底面に空気を噴射するユニットである。図4に示すように、前記エア噴射ユニット122は円筒形のボディー123を有し、このボディー123は底部にエアライン190と連結されるポート123aを有する。前記ポートを通じて流入するエアはボディー123のバッファ空間123bに満たされる。前記バッファ空間123bに一時的に流入したエアはボディー123の上面に形成された多数の噴射孔123cを通じてベアガラス10の底面に噴射される。
前記真空吸着部124は前記エア噴射ユニット122によって前記ステージ112から浮上したグラグ原板すなわちペアガラス10の一側のエッジを真空吸着する。前記真空吸着部の前記ベアガラスと接触する部分には多数の真空吸着ホール124aが形成される。前記リニアモータ126は前記真空吸着部124を前後方向に移動させる。前記ベアガラス10は前記移動部材120によって前記ステージ10から浮上した状態(非接触状態)で移送される。ベアガラス10は初期位置(実線で表示される)から完了位置(点線で表示する)まで前記移動部材120によって前後移動する。
前記撮影部130は三台のラインスキャンカメラ132と、各々のラインスキャンカメラ132の撮影のための照明部136と、レビュー用カメラ138とを含む。ここで、ラインスキャンカメラ132は必要に応じて増設することができる。
前記ラインスキャンカメラ132はベアガラス10の表面をライン単位で撮影するカメラである。前記ラインスキャンカメラ132は前記フレームのブリッジ114の一側に設けられる。前記ラインスキャンカメラ132は高低調整部134によって高低が調整される。前記ラインスキャンカメラ132の高低調整は撮影焦点を合わせるようにしたものである。
前記照明部136は前記ラインスキャンカメラ132がベアガラスの多様な欠陥パターンを撮影するように、前記ベアガラスの底面から垂直な方向に光を照射する第1光源(照明、136a)と、前記ベアガラス10の上面から傾斜した方向に光を照射する第2光源(照明、136b)と、からなる。
前記第1光源136aは前記ラインスキャンカメラ132と向き合うように前記スキャン領域Sの溝116の底面に設けられる。そして前記第2光源136bは支持台137に結合され、この支持台137は前記フレームのブリッジ114の一側に固定した状態に設けられる。前記第2光源136bは前記支持台137に結合される。したがって、前記第2光源は光の照射角度を任意に変更し得る。
前記ラインスキャンカメラ132の撮影焦点から外れるように前記ステージの上面には溝116が形成される。もちろん、この溝116はスキャン領域上に位置する。もし、この溝がないと仮定すれば、前記ステージの上面に存在する異物やスクラッチなどが前記ラインスキャンカメラ132によって撮影され、前記映像処理装置では、そのような欠陥をベアガラスの欠陥で誤判する問題が発生し得る。このような問題を解決するため、本発明ではステージに溝116を形成するようにしたものである。
前記レビューカメラ138は前記フレームのブリッジ114の他側に設けられる。前記レビュー用カメラ138は前記ラインスキャンカメラ132と対応するように位置する。前記レビュー用カメラ138は高低調整部139によって高低が調整されるだけではなく、前記フレームのブリッジ114に沿って左右方向に移動される。前記レビュー用カメラ138の左右移動は前記ブリッジ113に設けられた左右移動部140によってなされる。前記左右移動部140は望ましくはリニアモータから構成することができる。このように、前記左右移動部140と前記ベアガラスを前後移動させる移動部材120の作動によって前記レビュー用カメラ138は所望するベアガラス部分の実物映像を撮影することができる。
前記平坦度補正ユニット150は前記ステージの溝116の両側(スキャン領域の前後端)に設けられる。前記平坦度補正ユニット150は前記ベアガラスがスキャン領域Sを通る時、前記ベアガラス10の平坦度を均一に維持させるためのユニットである。前記平坦度補正ユニット150はグラグ原板10を吸着する真空ホール152aを有する第1領域と、前記ベアガラス10に空気を噴射する噴射ホール154aを有する第2領域154と、からなる。前記第1領域152は前記第2領域154の両側に配置される。前記第2領域154では前記ベアガラスを非接触状態を維持するように前記ベアガラスに空気が噴射される。
本発明は図4に示すように、ベアガラス10は前記第1領域152で弱い真空状態で吸着されると同時に、この第1領域152の間の第2領域154で一定の量だけ非接触状態に維持される。このような作用によって、前記ベアガラスは前記スキャン領域での平坦度を最大限維持しうるものである。
図5を参照すれば、前記映像処理装置160はカメラリンクインタフェース162、前処理部164、フレームメモリ166、および映像処理部(DSP、168)で構成される。ラインスキャンカメラ132を通じて獲得された映像はカメラリンクインタフェース162を通じて前処理部164に伝送される。前処理部164で処理された映像データは前記フレームメモリ166に貯蔵され、映像処理部168は前処理過程を経て前記フレームメモリ166に貯蔵されている映像データを読み出して映像処理する。特に、前記前処理部164で前処理が終わった映像はフレームメモリ166に貯蔵され、前記フレームメモリ166は前処理部164から出力されるライン映像がフレームメモリ166に貯蔵される間にも映像処理部168が読み出していくようにデュアルポート構造を有する。したがって、前記映像処理装置160はラインスキャンカメラ132で高速伝送される映像データを実時間処理することができる。さらに具体的に、前記フレームメモリ166は4個のバンクで構成される。このうちの二つのバンクは前処理部164に連結され、このうちの一つには現在のラインデータが貯蔵され、他のバンクには以前のラインデータが貯蔵される。そして残りの二つのバンクは前記映像処理部168に連結されて貯蔵されている以前の映像データを読み出していく。前記前処理部164に連結される二つのバンクは前記四つのバンクのうちの二つのバンクを順次に交換して連結される。前記映像処理部168に連結される二つのバンクも前記前処理部に連結されない二つのバンクが順次に交換して連結される。
図1乃至図4および図6を参照すると、上述の構成を有するディスプレーベアガラスの欠陥検査装置による欠陥検査過程を示せば、次の通りである。
まず、ベアガラス10がステージ102にローディングされ(初期位置:図3に示す)(S10)、エア噴射ユニット122から空気が噴射され、前記ベアガラス10がステージから浮上する(S20)。前記ベアガラスは前記真空吸着部124によって真空吸着された状態で前記リニアモータ126の駆動によってスキャン領域に移動する(S22)。
前記撮影部130は、前記移動部材120によって移動する前記ベアガラスを撮像する(S30)。
この撮影段階をさらに具体的に示せば、前記第1光源136aから光を前記ベアガラスに照射する(S32)。この状態で、スキャンラインカメラ132はベアガラスの表面をライン単位で連続撮影するようになる(S34)。前記したライン単位でベアガラスの全体に対するスキャン、撮像が終わったら、前記ベアガラス10は前記移動部材120によって初期位置に移動した後、再びスキャン領域に移送する(S36)。この時に、第2光源136bから光を前記ベアガラスに照射する(S38)。この状態で、スキャンラインカメラ132はベアガラスの表面をライン単位で連続撮影する(S40)。このように、第1光源136aと第2光源136bを利用して2回にわたって表面検査を実施する理由は、ベアガラスの多様な欠陥に対する映像を得るためである。すなわち、前記第2光源136bをベアガラスに照射すれば、カメラがベアガラスの表面のスクラッチ、クラック(表面割り)、表面刻みなどの映像を得ることができる。そして第1光源136aをベアガラスに照射すれば、カメラがベアガラス内部の気泡などの映像をより鮮明に撮ることができる。
このように、本発明の装置100は二つの光源を使用することによって、最適の検査映像を提供してベアガラスの多様なパターンの欠陥を見出すことができる。
このように得られた映像情報は映像処理装置160に提供され、映像処理装置160でベアガラスの欠陥有無を検査する(S50)。このように映像処理装置で検査した結果はレビュー過程を通じて使用者が、直接、確認する(S60)。
すなわち、前記映像処理装置での検査結果は図7に示すように、コンピュータ画面200上の欠陥マップ210上に示す(S62)。使用者がマウスを有してレビューしようとする欠陥領域を欠陥マップウィンドウ210上で選択すれば(S64)、移動部材120と左右移動部140が作動し、その選択した欠陥位置にレビューカメラ138が位置づけられる。レビューカメラはその選択された位置を撮像し(S66)、その映像をコンピュータ画面200のレビュー画面窓220を通じて見せる(S68)。このように本発明の装置は映像処理装置160で欠陥と判断した部分を使用者が実物映像でレビューすることができるものである。
一方、本発明は上述の構成からなるベアガラス欠陥検査装置および方法は多様に変形およ形態を有することができる。本発明は上述の詳細な説明で言及される特別な形態に限定されないことを理解しなければならず、むしろ添付の請求範囲によって定義される本発明の精神と範囲内にあるすべての変形物と均等物および代替物を含むこととして理解すべきである。
以上では、本発明によるベアガラス欠陥検査装置および方法の構成および作用を上述の説明および図面に従って示してきたが、これは実例をあげて説明したことに過ぎず、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で多様な変化および変更が可能であることはもちろんである。
本発明によるディスプレーベアガラスの欠陥を検査する装置の平面構成図である。 本発明によるディスプレーベアガラスの欠陥を検査する装置の正面構成図である。 図1でフレームがブリッジを除去した状態のベアガラス欠陥検査装置の平面構成図である。 平坦度補正ユニットが設けられたステージの腰部拡大断面図である。 映像処理装置の構成図である。 ディスプレーベアガラスの欠陥検査装置での欠陥検査過程を説明するためのフローチャートである。 欠陥マップ窓とレビュー画面窓があるコンピュータ画面である。
符号の説明
10 ベアガラス
100 装置
110 フレーム 112 ステージ
114 ブリッジ
116 溝
120 移動部材
122 噴射ユニット
123 ボディー
123a ポート
123b バッファ空間
123c 噴射穴
124 真空吸着部
124a 真空吸着ホール
126 リニアモータ
130 撮影部
132 ラインスキャンカメラ
134 高低調整部
136 照明部
136a 第1光源
136b 第2光源
137 支持台
138 レビュー用カメラ
139 高低調整部
140 左右移動部
150 平坦度補正ユニット
152 第1領域
152a 真空ホール
154 第2領域
154a 噴射ホール
160 映像処理装置
162 カメラリンクインタフェース
164 前処理部
166 フレームメモリ
168 映像処理部(DSP)
190 エアライン
200 コンピュータ画面
210 欠陥マップ
220 レビュー画面窓
S スキャン領域

Claims (15)

  1. ディスプレーベアガラスの欠陥検査装置において、
    スキャン領域を有し、ベアガラスが置かれるステージと、
    前記ベアガラスを前記ステージ上で前後移動させる移動部材と、
    前記ステージの前記スキャン領域に光を照射して前記ベアガラスを撮像する撮影部と、
    前記撮影部から入力された映像情報を利用してベアガラスの欠陥の有無を検査する映像処理部とを含み、
    前記撮影部は、
    前記ベアガラスの表面をライン単位で撮影する少なくとも一つのカメラと、
    前記少なくとも一つのカメラで前記ベアガラスの多様な欠陥パターンが撮影されるように、前記ベアガラスに光を照射し、そして互いに異なる照射角を有する第1光源と第2光源を有する照明部と、を含むことを特徴とするディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  2. 前記第1光源は前記スキャン領域に位置する前記ベアガラスの底面から垂直方向に光を照射し、
    前記第2光源は前記スキャン領域に位置する前記ベアガラスの上面から傾斜方向に光を照射することを特徴とする、請求項1に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  3. 前記第2光源は光の照射角度を変更可することができることを特徴とする、請求項2に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  4. 前記第1光源は前記カメラと向き合うように、前記ステージに設けられることを特徴とする、請求項1に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  5. 前記装置は、
    前記スキャン領域の両側に位置し、前記ベアガラスが前記スキャン領域を通る時、前記ベアガラスの平坦度を均一に維持させる平坦度補正ユニットを更に含むことを特徴とする、請求項1に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  6. 前記平坦度補正ユニットは、
    前記ベアガラスを吸着する真空ホールを有する第1領域と、
    前記第1領域の間に形成され、前記ベアガラスを非接触状態に維持するように、前記ベアガラスに空気を噴射する噴射ホールを有する第2領域と、からなることを特徴とする、請求項5に記載のディスレーベアガラスの欠陥検査装置。
  7. 前記移動部材は、
    前記ステージに一定の配列に多数個に配置され、前記ベアガラスが前記ステージから浮上するように前記ベアガラスの底面に空気を噴射するエア噴射ユニットと、
    前記エア噴射ユニットによって前記ステージから空気浮上した前記ベアガラスのエッジを真空吸着する真空吸着部と、
    前記真空吸着部に連結される移送のためのリニアモータと、を含むことを特徴とする、請求項1に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  8. 前記ステージに溝が形成され、
    前記溝は前記スキャン領域上に位置づけられることを特徴とする、請求項2に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  9. 前記第1光源は前記溝に設けられることを特徴とする、請求項8に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  10. 前記撮影部は、
    前記カメラの焦点を調整するため前記カメラの高低を調整する高低調整部を更に含むことを特徴とする、請求項1に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  11. 前記撮影部は、
    レビュー用カメラと、
    前記レビュー用カメラを左右方向に移動させるための左右移動部を更に含むことを特徴とする、請求項1に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置。
  12. ディスプレーベアガラスの欠陥検査方法において、
    ベアガラスをステージ上で前後方向に移動させる段階と、
    スキャン領域上で前記ベアガラスの表面をライン単位で連続撮影する段階と、
    撮影を通じて得られた映像情報を利用してベアガラスの欠陥の有無を検査する段階と、を含み、
    前記撮影段階は、
    前記ベアガラスに第1照明を照射する段階と、
    前記ベアガラスを撮影する段階と、
    前記ベアガラスに前記第1照明とは異なる照射角を有する第2照明を照射する段階と、
    前記ベアガラスを撮影する段階と、を含むことを特徴とするディスプレーベアガラスの欠陥検査方法。
  13. 前記方法は、
    前記検査されたベアガラスの欠陥部位をレビューする段階を更に含むことを特徴とする、請求項12に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査方法。
  14. 前記レビュー段階は、
    検査結果をコンピュータ画面上に示す段階と、
    使用者がレビューしようとする領域をコンピュータ画面上で選択する段階と、
    レビューカメラがその選択された領域を撮像する段階と、
    撮像された映像をコンピュータ画面上に示す段階と、を含むことを特徴とする、請求項13に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査方法。
  15. 前記移動段階は、
    前記ベアガラスをステージから空気浮上させる段階を更に含むことを特徴とする、請求項12に記載のディスプレーベアガラスの欠陥検査方法。

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012142967A1 (en) * 2011-04-21 2012-10-26 Ati-China Co., Ltd. Apparatus and method for photographing glass defects in multiple layers
KR101278643B1 (ko) * 2011-02-08 2013-06-25 엘아이지에이디피 주식회사 기판의 에어 부상을 이용한 자동 검사 장치 및 방법
CN111487259A (zh) * 2020-04-24 2020-08-04 上海帆声图像科技有限公司 一种玻璃盖板丝印外观检测设备及检测算法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100950071B1 (ko) * 2009-07-27 2010-03-26 국민대학교산학협력단 임프린트 공정의 기판 테스트 장치
CN104730087B (zh) * 2014-12-12 2017-09-08 南通路博石英材料股份有限公司 观测石英玻璃坩埚透明层中气泡的装置
KR102436298B1 (ko) * 2018-03-27 2022-08-25 주식회사 디엔솔루션즈 공작물 회수장치
CN117416747B (zh) * 2023-11-10 2024-04-19 常熟耀皮汽车玻璃有限公司 一种夹层玻璃商标印刷检测分流输送装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101278643B1 (ko) * 2011-02-08 2013-06-25 엘아이지에이디피 주식회사 기판의 에어 부상을 이용한 자동 검사 장치 및 방법
WO2012142967A1 (en) * 2011-04-21 2012-10-26 Ati-China Co., Ltd. Apparatus and method for photographing glass defects in multiple layers
CN104081192A (zh) * 2011-04-21 2014-10-01 艾悌亚信息技术(上海)有限公司 一种对玻璃多层面摄像的摄像装置及其方法
CN111487259A (zh) * 2020-04-24 2020-08-04 上海帆声图像科技有限公司 一种玻璃盖板丝印外观检测设备及检测算法
CN111487259B (zh) * 2020-04-24 2023-10-13 上海帆声图像科技有限公司 一种玻璃盖板丝印外观检测设备及检测算法

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