JP2006012571A - ガス放電パネル用基板の製造方法およびガス放電パネル - Google Patents

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Abstract

【課題】 ガス放電パネルに使用できる電極、ガス放電パネル用基板、ガス放電パネルおよびガス放電パネル表示装置について、新たな技術を提供する。
【解決手段】 ガス放電パネル用基板のリブ形成面に自己組織化膜を形成し、自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、この活性化した一部分にメッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、メッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、自己組織化膜の上記一部分の上部に無電解メッキ層を形成することによりアドレス電極を形成する。
【選択図】 なし

Description

本発明は、たとえばプラズマディスプレイ(PDP)のようなガス放電パネルに関するものである。より詳しくは、ガス放電パネルの背面基板に関するものである。
近年、面放電型PDPの作製プロセスが確立され、大画面のPDP表示装置が製品化されるに至っている。しかしながら、量産プロセスが確立されたものの、依然としてパネル作製プロセスの低コスト化への要求がある。
プロセスの低コスト化を達成するパネル製造方法として、ガラス基板を直接切削してガス放電を仕切るためのリブ(隔壁)を形成する方式が提案された(たとえば特許文献1,2参照。)。
本方式では、従来行っていた工程から、低融点ガラスの印刷工程、焼成工程が無くなり、低融点ガラス材料費も不要なため低コスト化が実現される。しかしながら、従来ではリブ形成の前に形成していたアドレス電極を、本方式では、ガラス基板を直接切削加工してリブを形成した後に形成する必要がある。
特開2000−348606号公報(特許請求の範囲) 特開2001−6537号公報(特許請求の範囲)
上記の、ガラス基板を直接切削加工してリブを形成する方式では、アドレス電極をリブの間の領域に形成する。ところが、ガラス基板を直接切削加工して形成されたリブの間の領域に電極を形成することは、従来のフォトリソグラフィとエッチングとを用いた方法では、総合歩留まりが悪い問題があった。
歩留まりが悪い理由としては、基板にリブとリブ間の凹み部分との凹凸があることから、従来のフォトリソグラフィとエッチングを用いた方法では、レジスト塗布時に、泡がかみやすい部分や、レジストをはじいたりする部分が多く、断線につながる確率が高くなるためである。
本発明は、このような欠点のある方法を回避する新たな技術を提供することを目的としている。本発明のさらに他の目的および利点は、以下の説明から明らかになるであろう。
本発明の一態様によれば、ガス放電パネル用基板のリブ形成面に自己組織化膜を形成し、自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、活性化した一部分にメッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、メッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、自己組織化膜の上記一部分の上部に無電解メッキ層を形成することを含むガス放電パネル用基板の製造方法が提供される。
本発明の他の態様によれば、一対の対向する基板を有するガス放電パネルであって、一対の基板のいずれか一方が他方の基板に面する側にリブを有し、
リブを有する基板のリブ形成面に自己組織化膜を形成し、自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、活性化した一部分にメッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、メッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、自己組織化膜の上記一部分の上部に無電解メッキ層を形成したガス放電パネルや、一対の対向する基板を有するガス放電パネルであって、一対の基板のいずれか一方が他方の基板に面する側にリブを有し、リブを有する基板のリブ形成面のリブ間に、ポリシロキサン構造を有する自己組織化膜と、メッキ触媒層と、無電解メッキ層とをこの順に有してなるガス放電パネルが提供される。
本発明の更に他の態様によれば、一対の対向する基板を有するガス放電パネル表示装置であって、一対の基板のいずれか一方が他方の基板に面する側にリブを有し、リブを有する基板のリブ形成面に自己組織化膜を形成し、自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、活性化した一部分にメッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、メッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、自己組織化膜の上記一部分の上部に無電解メッキ層を形成したガス放電パネル表示装置や、一対の対向する基板を有するガス放電パネル表示装置であって、一対の基板のいずれか一方が他方の基板に面する側にリブを有し、リブを有する基板のリブ形成面のリブ間に、ポリシロキサン構造を有する自己組織化膜と、メッキ触媒層と、無電解メッキ層とをこの順に有してなるガス放電パネル表示装置が提供される。
これらの発明態様により、ガス放電パネルに使用できる電極、ガス放電パネル用基板、ガス放電パネルおよびガス放電パネル表示装置について、新たな技術を提供できる。
これらの態様において、可能な場合には、無電解メッキ層形成後に、無電解メッキ層を電極として電解メッキを行い、無電解メッキ層上に電解メッキ層を形成すること、自己組織化膜を形成するための化合物が、基板表面に結合可能な基と、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる基とを有する、枝分かれしていてもよい有機シラン化合物であること、基板表面に結合可能な基が、ヒドロキシ基または加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基であること、加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基がハロゲン基であること、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる基がフェニル基とアルキル基との少なくともいずれか一方であること、フォトマスクを介する紫外線照射により、自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化すること、メッキ触媒がパラジウム触媒であること、無電解メッキ層の厚さが0.2〜0.3μmの範囲にあること、無電解メッキ層と電解メッキ層の厚さとの合計が2〜4μmの範囲にあること、リブの高さが100〜250μmの範囲にあり、リブの相互間隔が50〜330μmの範囲にあることが好ましい態様である。
ガス放電パネルに使用できる電極、ガス放電パネル用基板、ガス放電パネルおよびガス放電パネル表示装置について、新たな技術を提供できる。従来の欠点ある方法を回避することもできる。
以下に、本発明の実施の形態を図、実施例等を使用して説明する。なお、これらの図、実施例等および説明は本発明を例示するものであり、本発明の範囲を制限するものではない。本発明の趣旨に合致する限り他の実施の形態も本発明の範疇に属し得ることは言うまでもない。図中、同一の符号は同一の要素を表す。
図1に従来のPDPの一例の分解図を、図2にその横断面図を示す。図1,2において、人は矢印に沿う方向からパネルを見ることになる。PDP1は、前面基板2と背面基板3とが対向する構造を有する。この例では、前面基板2の内側(背面基板3に面する側)に表示電極4、誘電体層5、電極保護のための保護層6が順次積層されており、背面基板3の内側(前面基板2に面する側)に、アドレス電極7、誘電体層8が順次積層されており、その上にリブ9と蛍光体層10がある(図1には、誘電体層8および蛍光体層10は図示されていない。アドレス電極7は点線で示されている。)。誘電体層8は、図1のように二つの表示電極間に電圧を印加して表示のための維持放電を起こさせる方式の場合は設置しなくても特性上あまり問題が無い。
誘電体層5とリブ9と蛍光体層10とで囲まれた放電空間11にネオンガスやキセノンガス等の放電用ガスが封入される。PDP1は、二つの表示電極間に電圧を印加して放電を起こさせ、放電用ガスを励起し、元の状態に戻る際に発生する紫外線を利用して蛍光体層10の蛍光体を発光させることにより、可視光の表示を実現するものである。PDPにはカラーフィルター、電磁波遮蔽シート、反射防止フイルム等も付設されることが多い。このPDPに電源部やチューナーユニットとのインターフェースを付設することにより、大型テレビジョン装置(プラズマテレビ)のようなガス放電パネル表示装置が得られる。
PDPの基板には、ソーダライムガラス、高歪点ガラスなどが使用される。アドレス電極には導電性を有する金属ならどのようなものを使用してもよい。通常は、主材料としては、銅や銀等が使用される。誘電体層には低融点ガラスが使用される。リブ9は低融点ガラスから形成されている。
背面基板3の内側に、アドレス電極7、誘電体層8、リブ9、蛍光体層10を形成する順序は、たとえば次のようにして行う。まず、図3を参照して、ステップS31のように、背面基板3に一様な金属層を形成する、ついで、ステップS32のように、不要な部分を取り除き、所定のパターンを有するアドレス電極7を形成する。ついで、ステップS33のように、誘電体層8を形成する。ついで、ステップS34のように、低融点ガラスの一様な層(乾燥膜)を形成する。その後、ステップS35のように、低融点ガラスの乾燥膜を切削した後、焼成してリブを形成し、ステップS36のように、蛍光体を塗布する。
これに対し、ガラス基板を直接切削加工してリブを形成する方式では、PDPの横断面構造は図4のようになる。図4では誘電体層8を省略してある。この場合、背面基板3の内側に、アドレス電極7、リブ9、蛍光体層10を形成する順序は、たとえば次のようにして行うことになる。すなわち、図5を参照して、ステップS51のように、ガラス基板を直接切削加工してリブを形成する。ついで、ステップS52のように、リブの間の領域に電極を形成する。ついで、ステップS33のように、その上に蛍光体を塗布する。リブの間の領域に電極を形成するには、スパッタリング等で全面に金属膜を形成し、フォトリソグラフィにより、電極用レジストパターンを形成し、金属膜の不要部分をエッチングにより除去する方法を採用できる。
このような場合の電極(アドレス電極)は、リブを形成したガス放電パネル用基板(上例では背面基板3に該当する)に対して、リブ形成面に自己組織化膜(以下、SAMと略称する:SELF−ASSEMBLED MONOLAYERまたはSELF−ASSEMBLED MEMBRANE)を形成し、このSAMの一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、ついで、この活性化した一部分にメッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、このメッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、SAMの上記一部分の上部に無電解メッキ層を形成することにより、容易に作製できる。無電解メッキ層上に電解メッキ層を形成して、これをアドレス電極としてもよい。なお、このとき同時に無電解メッキ層や電解メッキ層の一部をアドレス電極以外の配線層として利用してもよい。
この様子を例示すると図6,図7−A〜Dのようになる。まず、ステップS61に従って、図7−Aのように、リブを有する基板上に一様にSAM71を形成する。ついでステップS62に従って、このSAMの一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、図7−Bのように活性化領域72を得る。活性化領域72は電極パターンと一致したパターンを有する。ついでステップS63に従って、活性化領域72にメッキ触媒となる物質を付着させて、図7−Cのようにメッキ触媒層73を形成し、ステップS64に従って、図7−Dのように、上記「SAMの一部分」の上部(すなわち、メッキ触媒層73上)に無電解メッキ層74を形成する。なお、SAM71、活性化領域72、メッキ触媒層73、無電解メッキ層74は、いずれもきわめて薄い層であるが、分かりやすくするため、図7−A〜Dでは厚い層として示してある。さらに、無電解メッキ層形成後に、この無電解メッキ層を電極として電解メッキを行い、無電解メッキ層上に電解メッキ層を形成してもよい。このようにして所望の電極パターンを得ることができる。電極パターンの厚さは、無電解メッキ層だけの場合には、0.2〜0.3μm程度とすれば充分であることが多い。その上に電解メッキ層を積層する場合は、2〜4μm程度とすることができる。
本発明は、リブを形成したガス放電パネル用基板に電極を形成する場合に適用できるため、たとえば、低融点ガラスによるリブを形成した後に電極を形成する場合にも適用することは可能であるが、基板そのものを直接加工してリブを形成させた基板に電極を形成する場合に特に有用である。SAMの形成とその表面の部分的活性化により、後に形成される電極パターンの元となるパターンを容易に形成でき、製造工程の簡略化、製品歩留まりの向上に寄与し得る。
一般的にSAMとは、金属や無機表面に、たとえば、その単結晶表面の規則的な原子配列を鋳型として自発的に形成される、たとえば、単分子膜等のきわめて薄い規則性のある膜を意味するが、本発明におけるSAMは、これより広い概念であり、基板を何らかの物質に接触させることによりその物質が表面に付着でき、その物質の表面の一部分(特定の一部分)を活性化して、メッキ触媒となる物質を作用させた場合にその表面の特定の一部分にメッキ触媒を付着させることができ、そのメッキ触媒を利用して、無電解メッキにより、無電解メッキ層が形成できるものであれば、SAMが形成されたと考えることができる。
上記物質が基板に付着したことは、たとえば適当な溶媒で基板上を洗浄した後、FT−IR(フーリエ変換赤外分光法)等で確認できる場合もあるが、敢えて確認する必要はなく、無電解メッキ層が生じたかどうかで確認すれば充分である。基板にどの程度強固に付着したかが問題になる場合は、たとえば、無電解メッキ層の剥離試験で確認することができる。
なお、メッキ触媒層、無電解メッキ層、電解メッキ層等の形成後にあっては、SAMが化学的あるいは物理的変成を受け、たとえば、ケイ素や炭素等の残滓になっている等、通常の意味でのSAMとして存在しない場合も考えられる。従って、本発明に係る電極、ガス放電パネル用基板、ガス放電パネル、ガス放電パネル表示装置自体が、通常の意味でのSAMを最早有していない場合も本発明の範疇に属すると考えるべきである。たとえば本発明に係るSAMがポリシロキサン構造を有すると言った場合には、分析の結果、ポリシロキサン構造の残滓のみが認められた場合も、本発明の「ポリシロキサン構造を有するSAM」の範疇に属する。本発明に係る、一対の対向する基板を有するガス放電パネルであって、この一対の基板のいずれか一方が他方の基板に面する側にリブを有し、このリブを有する基板のリブ形成面のリブ間に、ポリシロキサン構造を有する自己組織化膜と、メッキ触媒層と、無電解メッキ層とをこの順に有してなるガス放電パネルの「ポリシロキサン構造を有する自己組織化膜」もこの意味で解釈されるべきである。
本発明における活性化とは、メッキ触媒となる物質を作用させた結果、SAMの表面の特定の一部分にのみメッキ触媒が付着するようにできることを意味する。メッキ触媒となったかどうかは、実際に無電解メッキを行うことにより容易に確認することができる。
本発明における活性化には、本発明の目的に適う方法であれば、どのような方法を採用してもよい。たとえば、水、空気中の水分、酸、アルカリ等との接触と、紫外線等の活性エネルギー線の照射との組み合わせで、加水分解によりヒドロキシ基を生じるような場合には、フォトマスクを使用して照射部位を基板上の一部分に制限することにより、SAMの表面の特定の一部分にのみ、ヒドロキシ基を生じさせることができ、この処理の後、ヒドロキシ基と反応してメッキ触媒となる物質を導入すれば、SAMの表面の特定の一部分にのみメッキ触媒が付着するようにすることができる。
本発明におけるSAMを形成できる化合物としては、本発明の目的に適う限りどのようなものを使用することも可能であるが、基板表面に結合可能な基と、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる基とを有する化合物を好適に使用することができる。このような化合物としては有機シラン化合物を挙げることができる。有機シラン化合物は枝分かれしていてもしていなくてもよい。有機シラン化合物中のケイ素は、一分子中に二個以上含まれていてもよい。
基板表面に結合可能な基とは、SAMを形成すべき化合物が基板表面と結合してSAMを形成する際の結合手を形成するための基を意味する。このような基としては、ヒドロキシ基または加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基を挙げることができる。基板表面に結合可能な基がヒドロキシ基そのものの場合は、ヒドロキシ基により基板表面に結合させ、基板表面に結合可能な基が加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基の場合は、基板表面と接触させる際に加水分解が起こる条件を選択することにより基板表面に結合させることができる。このような基板表面に結合可能な基が加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基としては、ハロゲン基、より具体的には塩素または臭素を挙げることができる。ハロゲン基が有機シラン化合物のケイ素と結合したものである場合は、加水分解が生じやすく、またポリシロキサン構造を介してSAMを形成しやすいので好ましい。活性化領域の形成が妨げられない限り、紫外線等の照射により基板表面との結合を促進することも考えられる。
メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる基は、フェニル基とアルキル基との少なくともいずれか一方であることが好ましい。特に、フェニル基やアルキル基が有機シラン化合物のケイ素と結合したものであることが好ましい。フェニル基やアルキル基は、たとえば紫外線により加水分解が促進され、ヒドロキシ基を生じ、この負の極性により、メッキ触媒となる物質を付着させることができるものと考えられる。このような場合には、基板表面に結合可能な基が加水分解によりヒドロキシ基を生じるような条件下でもフェニル基やアルキル基は加水分解せず、フォトマスクを介する紫外線の併用により、初めて、SAM表面の所定の一部分にヒドロキシ基を生じるので、この所定の一部分にメッキ触媒となる物質を付着させることが可能となる。
次に、図7−A〜Dと図8−A〜Dとを使用して、本発明におけるSAMの形成〜電解メッキ層の形成を模式的に説明する。図8−Aは、フェニルトリクロロシラン(C65SiCl3)を使用して、基板上にSAMが形成された様子を示す想像図である。フェニルトリクロロシランの塩素が雰囲気中の水分と反応してヒドロキシ基を生じ、そのヒドロキシ基が基板と結合する。ヒドロキシ基は更に相互に縮合してポリシロキサン結合を生じ、ケイ素同士が酸素を介して相互結合することにより、面状構造体となり、その面上にフェニル基が立ち上がる構造となっているものと推察されている。SAM71は、図7−Aに示すように、リブ9上にもリブ間75にも形成される。
このような状態で、SAMの一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化する。たとえば、図8−Bのように、フォトマスク81を介して選択的にリブ間75に、(図8−B中矢印で示されている)紫外線を照射する。この時雰囲気中の水分を適切に保てば、紫外線が照射された部位ではフェニル基が取れて、図8−Cに示すようにヒドロキシ基が生じ、図7−Bに示すような活性化領域72を得ることができる。
ついで、このSAM上に、たとえば塩化パラジウム水溶液を導入する。この処理により、メッキ触媒(この場合はパラジウム触媒)がSAM上に付着し、図7−Cに示すようなメッキ触媒層73を得ることができる。このメッキ触媒が化学的にどのような形態をとっているかは明確ではないが、本例の場合には、SAMのヒドロキシ基の負の極性にパラジウムが引き寄せられているものと推察されている。図8−Dでは、Pd+が引き寄せられ、付着した様子が示されているが、実際には、Pd+であるのか、正に帯電したPd金属であるのか明らかでない。
なお、本発明の趣旨に反しない限り、塩化パラジウム水溶液以外のどのような化合物を使用してもよい。銀、金、プラチナの化合物を挙げることができる。また、パラジウム、銀、金、プラチナ等の微粒子であって、正に帯電したものをメッキ触媒となるべき物質として利用することもできる。パラジウム、銀、金、プラチナ等の微粒子は溶媒中に分散してSAM上に導入することができる。
ついで、このSAM上に無電解メッキ液を導入する。無電解メッキ液としては公知のどのようなものを使用してもよい。コバルト、銅、ニッケルの溶液を例示できる。Coの溶液が好ましい。これにより、図7−Dに示すように、無電解メッキ層74を形成することができる。この後、公知の方法により電解メッキを行えば、無電解メッキ層74上に電解メッキ層を形成することができる。
なお、上記は、当初不活性であったSAMの一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化する例であるが、本発明の範囲は、これに留まらず、当初一様に活性を示すSAMの一部(すなわち、メッキ触媒層を形成しないようにする部分)を紫外線等で不活性化することができる場合にも、結果としてSAMの一部分を活性化できるので、そのような方法も本発明の範疇に属する。
本発明は、リブ間が深く狭い場合にも容易に電極を形成できるため、コスト低減、歩留まり向上が可能となり、DPD用の基板のように、リブが高く、リブ間が狭い場合に特に有用である。より具体的には、リブの高さが100〜250μmの範囲にあり、リブの相互間隔が50〜330μmの範囲にある場合に有利である。リブの幅はそれほど重要な因子ではない。なお、リブ形状は公知の、ストライプ状、曲がりを有する(ミアンダリング)ストライプ状等を例示することができる。図2にリブの高さをHで、リブの相互間隔をWで例示してある。
上記のようにして電極を形成し、ガス放電パネル用基板を作製することができる。このガス放電パネル用基板を使用すれば、所定の構造を有する対向基板と組み合わせ、PDP等のガス放電パネルを製造し、さらにフラットディスプレイテレビジョン装置等のガス放電パネル表示装置を製造するに際し、製造コストの低減や歩留まり向上が可能となる。また、製造工程が簡略化され、容易であることから、このような方法で製造したガス放電パネル用基板、ガス放電パネル、ガス放電パネル表示装置は品質の向上が期待される。
次に本発明の実施例および比較例を詳述する。
[実施例1]
PDP用ガラス基板(ソーダライムガラス、高歪点ガラスなど)表面に所望のパターンで耐サンドブラスト用のレジスト層(日本合成化学社製:ドライフィルムレジスト)をラミネートし、パターニングする。
その基板に対して、ガラス切削用の研磨剤粒子(不二製作所製:WA#600〜#1200、材質:酸化アルミニウム)を吹き付けて切削する。その後、レジスト層を剥離してリブが形成されたガラス基板が形成される。
このガラス基板表面に、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる材料からなるSAMを形成する。SAMを形成できる材料として、フェニルトリクロロシラン(以下、PTCS)を例示することができる。
PTCS膜(SAM)の形成方法としては、たとえば次の処理方法を採用することができる。まず、基板を純水(>17.6MΩ・cm)で超音波洗浄し、HCl:CH3OH=1:1(体積比)の溶液に30分浸漬した後、再び純水で洗浄する。更に、濃硫酸に30分浸漬した後、沸騰した純水に5分浸漬する。その後、アセトンで洗浄を行う。この基板を1体積%のPTCS(Aldrich社製)を含む無水トルエン(99.8%、Aldrich社製)溶液に5分、窒素雰囲気下で浸漬する。その後、基板を120℃で5分乾燥し、残留溶媒の揮発とSAMの化学吸着とを促進する。これにより、ガラス基板表面にPTCS膜を形成できる。
このPTCS膜に対して、電極配線を形成すべき部分に開口を持つフォトマスクを介して紫外光を照射することにより、基板上に形成されたPTCS膜(SAM)の分子中のフェニル基が雰囲気中の水分子と化学反応し、シラノール基に変化する。表面のシラノール基は、親水性であって、水溶液中に浸けると−OH基からH+イオンが脱着して−O-となり、紫外光が当たったPTCS膜表面は負に帯電する。
この負に帯電したパターンを有する基板を、たとえば、塩化パラジウム水溶液に浸漬すると、塩化パラジウムが水に溶けるため、水溶液中のPd2+イオンが、負に帯電したパターン上にクーロン力によって吸着されて、電極配線に応じたパラジウム触媒のパターンが形成される。塩化パラジウムの水溶液としては、たとえば、塩化パラジウム0.25〜0.4g:塩酸1mL:水1Lの溶液を用い、15〜60秒浸漬してパラジウム触媒パターンを形成できる。
このパラジウム触媒パターンが形成された基板を無電解メッキ液に浸漬させると、金属の析出が進行して金属膜がパラジウム触媒パターン上に形成される。たとえば、無電解メッキ液としてコンバス−P(ワールドメタル社製:コンバス−P−Mとコンバス−P−Kとの1:1(体積比)混合液)を用いれば、パラジウム触媒パターン上にCoがメッキされる。
必要に応じて、さらに、このCoの導電性パターンを利用して電解メッキにより、Cuを積層してもよい。
[実施例2]
実施例1では、SAM形成用化合物として、フェニル基を有する有機シラン化合物(代表例:PTCS)を用いたが、フェニル基の無いオクタデシルトリクロロシラン(以下、OTS)でもSAMを形成できる。
この場合、1体積%のOTSを含むトルエン溶液に洗浄などの前処理を行ったガラス基板を5分浸漬して、OTSSAMを形成できる。このSAMに所望のパターンの開口を有するフォトマスクを介して紫外線を照射することで、紫外線によりシラノール基のパターンが形成される。未照射領域にはメチル基が残る。以下は、実施例1と同様に処理することができる。
なお、上記に開示した内容から、下記の付記に示した発明が導き出せる。
(付記1)
ガス放電パネル用基板のリブ形成面に自己組織化膜を形成し、
当該自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、
当該活性化した一部分に当該メッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、
当該メッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、自己組織化膜の当該一部分の上部に無電解メッキ層を形成する
ことを含むガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記2)
前記無電解メッキ層形成後に、当該無電解メッキ層を電極として電解メッキを行い、無電解メッキ層上に電解メッキ層を形成することを含む、付記1に記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記3)
前記自己組織化膜を形成するための化合物が、前記基板表面に結合可能な基と、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる基とを有する、枝分かれしていてもよい有機シラン化合物である、付記1または2に記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記4)
前記基板表面に結合可能な基が、ヒドロキシ基または加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基である、付記3に記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記5)
前記加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基がハロゲン基である、付記4に記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記6)
前記メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる基がフェニル基とアルキル基との少なくともいずれか一方である、付記3〜5のいずれかに記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記7)
フォトマスクを介する紫外線照射により、前記自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化する、付記1〜6のいずれかに記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記8)
前記メッキ触媒がパラジウム触媒である、付記1〜7のいずれかに記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記9)
前記無電解メッキ層の厚さが0.2〜0.3μmの範囲にある、付記1〜8のいずれかに記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記10)
前記無電解メッキ層と電解メッキ層の厚さとの合計が2〜4μmの範囲にある、付記2〜9のいずれかに記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記11)
前記リブの高さが100〜250μmの範囲にあり、前記リブの相互間隔が50〜330μmの範囲にある、付記1〜10のいずれかに記載のガス放電パネル用基板の製造方法。
(付記12)
一対の対向する基板を有するガス放電パネルであって、
当該一対の基板のいずれか一方が他方の基板に面する側にリブを有し、
当該リブを有する基板のリブ形成面に自己組織化膜を形成し、当該自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、当該活性化した一部分に当該メッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、当該メッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、自己組織化膜の当該一部分の上部に無電解メッキ層を形成した、
ガス放電パネル。
(付記13)
前記無電解メッキ層形成後に、当該無電解メッキ層を電極として電解メッキを行い、無電解メッキ層上に電解メッキ層を形成したものである、付記12に記載のガス放電パネル。
(付記14)
前記自己組織化膜を形成するための化合物が、前記基板表面に結合可能な基と、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる基とを有する、枝分かれしていてもよい有機シラン化合物である、付記12または13に記載のガス放電パネル。
(付記15)
前記基板表面に結合可能な基が、ヒドロキシ基または加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基である、付記14に記載のガス放電パネル。
(付記16)
前記加水分解によりヒドロキシ基を生じ得る基がハロゲン基である、付記15に記載のガス放電パネル。
(付記17)
前記メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化することのできる基がフェニル基とアルキル基との少なくともいずれか一方である、付記14〜16のいずれかに記載のガス放電パネル。
(付記18)
フォトマスクを介する紫外線照射により、前記自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性したものである、付記12〜17のいずれかに記載のガス放電パネル。
(付記19)
前記メッキ触媒がパラジウム触媒である、付記12〜18のいずれかに記載のガス放電パネル。
(付記20)
一対の対向する基板を有するガス放電パネルであって、
当該一対の基板のいずれか一方が他方の基板に面する側にリブを有し、
当該リブを有する基板のリブ形成面のリブ間に、ポリシロキサン構造を有する自己組織化膜と、メッキ触媒層と、無電解メッキ層とをこの順に有してなるガス放電パネル。
(付記21)
前記層が、さらに電解メッキ層を有する、付記20に記載ガス放電パネル。
(付記22)
前記無電解メッキ層の厚さが0.2〜0.3μmの範囲にある、付記12〜21のいずれかに記載のガス放電パネル。
(付記23)
前記無電解メッキ層と電解メッキ層の厚さとの合計が2〜4μmの範囲にある、付記13〜22のいずれかに記載のガス放電パネル。
(付記24)
前記リブの高さが100〜250μmの範囲にあり、前記リブの相互間隔が50〜330μmの範囲にある、付記12〜23のいずれかに記載のガス放電パネル。
従来のPDPの一例の模式的分解図である。 従来のPDPの一例の模式的横断面図である。 背面基板上に、アドレス電極、誘電体層、リブ、蛍光体層を形成する順序を示すフロー図である。 ガラス基板を直接切削加工してリブを形成する方式における、PDPの横断面構造を示す模式図である。 背面基板上に、アドレス電極、リブ、蛍光体層を形成する順序を示すフロー図である。 背面基板上に、SAM、メッキ触媒層、無電解メッキ層を形成する順序を示すフロー図である。 リブを有する基板上に一様にSAMを形成した様子を示す、基板部分の模式的断面図である。 リブを有する基板上に活性化領域を形成した様子を示す、基板部分の模式的断面図である。 リブを有する基板上にメッキ触媒層を形成した様子を示す、基板部分の模式的断面図である。 リブを有する基板上に無電解メッキ層を形成した様子を示す、基板部分の模式的断面図である。 フェニルトリクロロシランを使用して、基板上にSAMが形成された様子を示す想像図である。 フォトマスクを介して紫外線を照射する様子を示す想像図である。 紫外線が照射された部位にヒドロキシ基が生じ、活性化領域が生じた様子を示す想像図である。 紫外線が照射された部位に生じたヒドロキシ基に、Pd+が引き寄せられ、付着した様子を示す想像図である。
符号の説明
1 PDP
2 前面基板
3 背面基板
4 表示電極
5 誘電体層
6 保護層
7 アドレス電極
8 誘電体層
9 リブ
10 蛍光体層
11 放電空間
71 SAM
72 活性化領域
73 メッキ触媒層
74 無電解メッキ層
75 リブ間
81 フォトマスク

Claims (5)

  1. ガス放電パネル用基板のリブ形成面に自己組織化膜を形成し、
    当該自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、
    当該活性化した一部分に当該メッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、
    当該メッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、自己組織化膜の当該一部分の上部に無電解メッキ層を形成する
    ことを含むガス放電パネル用基板の製造方法。
  2. 一対の対向する基板を有するガス放電パネルであって、
    当該一対の基板のいずれか一方が他方の基板に面する側にリブを有し、
    当該リブを有する基板のリブ形成面に自己組織化膜を形成し、当該自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性化し、当該活性化した一部分に当該メッキ触媒となる物質を付着させてメッキ触媒となし、当該メッキ触媒を利用する無電解メッキ法により、自己組織化膜の当該一部分の上部に無電解メッキ層を形成した、
    ガス放電パネル。
  3. 前記自己組織化膜を形成するための化合物が、ハロゲン基および、フェニル基とアルキル基との少なくともいずれか一方を有する化合物である、請求項2に記載のガス放電パネル。
  4. フォトマスクを介する紫外線照射により、前記自己組織化膜の一部分を、メッキ触媒となる物質が付着できるように活性したものである、請求項2または3に記載のガス放電パネル。
  5. 前記メッキ触媒がパラジウム触媒である、請求項2〜4のいずれかに記載のガス放電パネル。
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