JP2006009068A - 皮膜形成方法及びその皮膜形成方法を用いた被覆部材 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 78
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 119
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims abstract description 118
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 107
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 37
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 33
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 28
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 19
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 17
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims description 73
- 239000010406 cathode material Substances 0.000 claims description 54
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 31
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 27
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 23
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 abstract description 7
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 abstract description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 35
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 31
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 21
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 15
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 13
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 12
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 10
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 9
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 6
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 5
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 4
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 4
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000010730 cutting oil Substances 0.000 description 2
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 2
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 150000001455 metallic ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000005478 sputtering type Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 1
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 102220005308 rs33960931 Human genes 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
【解決手段】 蒸発源に複数の陰極物質を装着し、該蒸発源の前面に遮蔽板を設け、真空容器内でプラズマを発生させて基体の表面に陰極物質材料の皮膜を形成する物理蒸着装置を用いて、該基体表面にボンバードメント処理を行うボンバードメント工程と、皮膜を形成する被覆工程とからなり、該ボンバードメント工程は該遮蔽板により該蒸発源の放電による放出物質を該基体から遮蔽した状態で、少なくとも非金属イオンによる該基体のボンバードメント処理を行うことを特徴とする皮膜形成方法である。
【選択図】なし
Description
特許文献1は、金属のイオン化効率が高いアーク放電型イオンプレーティング法を用いて硬質皮膜を形成する際の前処理として、母材上の硬化層表面に金属イオンによるボンバードメント処理を施し、その後硬質皮膜を形成することによって、硬質皮膜の密着性を高める技術を示している。このボンバードメント処理によって、母材金属成分と炭素及び/又は窒素とからなる化合物、例えばε相を除去する事と、更に、ボンバードメント処理により、高い運動エネルギーを持った金属イオンが被処理物に衝突することにより金属イオンが被処理物内部に打ち込まれ、後工程のイオンプレーティングにより形成される硬質皮膜とのアンカー効果により、密着性を高めている。
特許文献2は、アーク放電式蒸着源を有する装置について、該蒸着源の陰極前面が遮蔽される機構を有する装置構成が開示されている。同一真空容器内にアーク放電式蒸着源と、スパッタリング用電極の陰極部とを併せ持ち、これらを連続的に用いた被覆について記載され、蒸着源の陰極前面が遮蔽される機構を有する事により、皮膜が高い密着性を有することを可能にしている。しかしこの効果は、蒸着源表面の汚染を回避することにより達成されると記載されているに過ぎない。しかも、被覆動作時には遮蔽されていない蒸着源のみが稼動し、遮蔽されている蒸着源は未稼動状態であり、同時稼動の記載は無い。
特許文献3は、同一真空装置内に電気アーク放電手段と磁場併用式陰極微粒化手段とを併せもつ装置を使用し、両手段を同時に用いて被覆する技術が開示されている。しかし、特許文献3は多元化合物を得るための技術を開示するに過ぎず、遮蔽板の構成や、皮膜の密着性改善に関する技術は何ら開示されていない。金属イオンによる基体のボンバードメント処理は密着性に優れるものの同時に金属粒子が基体表面に付着してしまい、面粗度を劣化させ、膜強度を低下させてしまう等の課題を有する。
次に、該被覆工程は第1の工程として、該遮蔽板により該蒸発源の放電による放出物質を該基体から遮蔽した状態で、該蒸発源とは別の蒸発源により該基体表面に皮膜の形成を行い、第1の工程に続いて、該遮蔽板を開いた状態として該蒸発源により基体表面に耐摩耗皮膜の形成を行う第2の工程により被覆することを特徴とする皮膜形成方法である。
本発明の構成を採用することによって、基体との密着性及び耐摩耗特性に優れた特性を有する耐摩耗層を得るための皮膜形成方法を提供することができる。
本発明の皮膜形成方法により被覆した被覆部材は、基体密着強度並びに耐摩耗性に優れ望ましい。特に切削工具、金型等に被覆する場合、その効果が顕著に確認されている。また比較的基体から不純物ガスが発生しやすい再研磨工具等の一度加工に使用した工具の場合も改善効果が得られる。
また、上記の効果は皮膜形成工程における被覆工程においても同様な効果が得られる。被覆工程においては、基体及び基体を固定するための冶具、陰極物質等からも絶えず不純物成分が蒸発しており、これらの不純物成分を吸着することにより、より高密度で硬度の高い皮膜が得られる。
アーク放電式蒸発源12、27はアーク放電用電源11により電流を供給し、アーク点火機構15により陰極物質10、17を蒸発、イオン化させる。アーク放電式蒸発源12、27は、シール機能及び電気絶縁機能を有す絶縁物13によって、減圧容器5と絶縁状態を保ち、固定されている。アーク点火機構15は保持具14により減圧容器5に固定されている。アーク放電式蒸発源12のアーク放電により陰極物質10を放出させる。この時、陰極物質10を基体7から遮蔽する機能を有す遮蔽板22は、シール機能を有する軸受け部20により保持されている。遮蔽板22は遮蔽板駆動部21と連結され、開閉することが可能である。アーク放電式蒸発源12を皮膜形成に用いる場合は、遮蔽板駆動部21により遮蔽板22を開け、皮膜形成に用いることもできる。
図3、図4に示す装置は、遮蔽板により遮蔽されたアーク放電式蒸発源12が1基、皮膜形成に用いる別のスパッタリング方式蒸発源24が1基設置された装置を示す。スパッタリング方式蒸発源24は、スパッタリング用放電電源25により電流を供給し、陰極物質26をスパッタリング放電によりイオン化させる。スパッタリング方式蒸発源24は、シール機能及び電気絶縁機能を有す絶縁物13によって、減圧容器5と絶縁されている。
図5、図6に示す装置は、遮蔽板により遮蔽されたアーク放電式蒸発源12が1基、皮膜形成用にイオン化蒸発源38が1基設置された装置を示す。イオン化蒸発源38は、シール機能及び電気絶縁機能を有す絶縁物13によって、減圧容器5と絶縁されている。
図7には、第1の発明に係るボンバードメント工程を示す。図7では基体7のイオンボンバードメントを実施している状態を示す。この時、アーク放電式蒸発源12の前に設置した遮蔽板22は、陰極物質10の放出物質30を基体7から遮蔽している。この状態では、基体に印加したバイアス電圧により、非金属イオン例えばArイオンによる基体7のボンバードメント処理を行っている。それと同時に、放出物質30は減圧容器5内の不純物の吸着とArのイオン化を行っている。図8は、次の被覆工程に入った状態を示す。アーク放電式蒸発源12の放電、電極19への電力供給を止め、皮膜形成用に設置されたアーク放電式蒸発源27に設置された陰極物質17のアーク放電を開始する。この時、減圧容器5内に導入される反応ガスと放出物質31とが結合し、基体7の表面に耐摩耗皮膜形成するという皮膜形成方法である。
図9は、基体7に皮膜形成を実施している状態を示す。この時、アーク放電式蒸発源12の前に設置した遮蔽板22は、陰極物質10の放出物質30を基体7から遮蔽している。この状態ではアーク放電式蒸発源12の放電を継続し、皮膜形成用に設置された別の蒸発源であるスパッタリング方式蒸発源24に設置された陰極物質26のスパッタ放電も開始する。従って、アーク放電式蒸発源12とスパッタリング方式蒸発源24とが同時に放電した状態となる。この時、減圧容器5内に導入される反応ガスと放出物質33とが結合し、基体7表面に放出物質33を主成分とした耐摩耗皮膜を形成するという皮膜形成方法である。
本発明における遮蔽板22は、アーク放電式蒸発源及び/又はスパッタリング方式蒸発源から放出される放出物質を基体から遮蔽する機構と、遮蔽する機構を解除する駆動部を備える。従って、遮蔽板22により遮蔽されたアーク放電式蒸発源及び/又はスパッタリング方式蒸発源は、耐摩耗皮膜の形成にも使用可能である。アーク放電式蒸発源及び/又はスパッタリング方式蒸発源の前面に配置した遮蔽板22により、各蒸発源から放出される放出物質を基体から遮蔽した状態で、アーク放電及び/又はスパッタリングによる放電を一定時間継続した後、遮蔽板による遮蔽機構を解除し、各蒸発源による耐摩耗皮膜の形成を行うことも可能であり、膜形成方法として好ましい形態である。
上記の様に、放出物質を基体から遮蔽することにより、皮膜形成前のボンバードメント工程のイオン化促進並びに密着性向上の効果に加えて、耐摩耗皮膜の積層化にも有効に活用することができる。特に積層膜を形成する場合、蒸発源の放電を中止させることなく、遮蔽板により皮膜形成を中断させることも可能である。アーク点火機構を頻繁に動作させる必要もなく、絶縁性の高い皮膜に対しても有効である。また積層膜の層間の密着性並びにナノオーダーの積層膜の成膜制御も比較的容易に行うことができ、優れた耐摩耗性を示す被覆部材を比較的容易に得ることができる。
従来のアーク放電式蒸発源による被覆においては、アーク点火機構が作用した直後に急激に陰極物質の温度が上昇するため、特性の異なる皮膜やマクロパーティクルの発生する確率が高く、密着性を低下させていた。この点に関しても、本発明の手段を用いることで、陰極物質のアークスポットが比較的安定した後に皮膜形成が行えるため、耐摩耗皮膜の表面平滑性、密着性能向上にも極めて有効である。
本発明は、切削工具、金型、耐摩耗部品等の被覆部材に用いた場合に最適である。以下、本発明を実施例に基づいて説明するが、適宜変更を行うことは本技術範囲に含まれるものである。また、実施方法は下記実施例に特に限定されるものではない。その組合せによっても密着性、耐摩耗性に優れた耐摩耗皮膜を得ることができる。
本発明の皮膜形成方法、使用した各陰極物質、被覆方法の詳細、被覆した超硬ドリルの切削性能について述べる。図1及び図2に示した構成の装置を用いて、保持具8の一部に、脱脂洗浄した超硬合金製の外径8mm、2枚刃ドリルの基体7を配置した。保持具6、8は3回転/分で回転する。基体7は、保持具6、8の回転機構に加え、図中には示していないが、保持具8に付属し、保持具8より半径の小さい別の自転式保持具に固定されている。減圧容器5内を5×10−2Paまで排気した後、排気を継続しながら、基体7の近傍に配置した熱電対が520度になるまで、ヒーターで加熱を行った。ガス導入口2からArを導入し、圧力が0.6Paの雰囲気で、バイアス電圧を印加した。DCバイアスの設定には、基体7にバイアス電源3から−300Vの電圧を印加した。また、パルスバイアスの設定には、パルスバイアス印加用電源を別に用意し、負に印加したバイアス電圧を300V、正に印加したバイアス電圧を40Vとし、その周期を20kHzとして、負に印加したバイアス電圧の幅を80%、正に印加したバイアス電圧の幅を20%に設定した。減圧容器5から絶縁された電極19に電流を供給して放電を励起し、Arをイオン化した。同時に図1のアーク放電式蒸発源12のアーク放電を開始して、Arイオンによる基体7のボンバードメント処理を20分間行った。この時、遮蔽板22は閉じた状態にあって、放出物質を基体から遮蔽している。次に、Arの供給を止め、Arによるボンバードメント工程を終了した。ガス導入口2からN2を導入し、圧力を3Pa、バイアス電圧を−50Vに設定した。その後、アーク放電式蒸発源12の放電を停止し、別の蒸発源であるアーク放電式蒸発源27の放電を開始し、基体7に陰極物質17と導入ガス成分であるN2より、アークイオンプレーティング法による窒化物皮膜を3μm被覆した。上記の実施例1の皮膜形成方法を製法1とする。ここで使用した各陰極物質、被覆条件を表1に示した。
図3及び図4に示した構成の装置を用いて、予め皮膜組成が(Al55Ti45)Nの窒化物皮膜を3μm被覆し、脱脂洗浄した超硬合金製の外径8mm2枚刃ドリルを保持具8の一部に配置した。ドリルの保持具8への固定は、実施例1に準ずる。減圧容器5内を5×10−2Paまで排気した後、排気を継続しながら、基体7の近傍に配置した熱電対が520度になるまで、ヒーターで加熱を行った。ガス導入口2からArを導入し、圧力が0.6Paの雰囲気で、バイアス電圧を印加した。バイアス電圧の印加方法は、実施例1に準ずる。減圧容器5から絶縁された電極19に電流を供給して放電を励起し、Arをイオン化した。同時に図3のアーク放電式蒸発源12のアーク放電を開始して、Arイオンによる基体7のボンバードメント処理を20分間行った。この時、遮蔽板22は閉じた状態にあって、放出物質を基体から遮蔽している。次に、Arの供給を止め、Arによるボンバードメント工程を終了した。減圧容器5にガス導入口2からArを導入し、減圧容器5内の圧力を0.3Pa、バイアス電圧を−100Vに設定した。その後、別の蒸発源であるスパッタリング方式蒸発源36の放電を開始し、基体7に陰極物質26より、スパッタリング法による耐摩耗皮膜を1μm被覆した。この時、陰極物質26による皮膜形成終了まで、陰極物質10は基体から遮蔽された状態とした。上記の実施例2の皮膜形成方法を製法2とする。ここで使用した各陰極物質、被覆条件を表1に示した。
減圧容器内にアーク放電式蒸発源及び/又はスパッタリング方式蒸発源が複数設置された装置を用いて、保持具8の一部に、脱脂洗浄した超硬合金製の外径8mm、2枚刃ドリルの基体7を配置した。ドリルの保持具8への固定は、実施例1に準ずる。減圧容器5内を5×10−2Paまで排気した後、排気を継続しながら、基体7の近傍に配置した熱電対が520度になるまで、ヒーターで加熱を行った。減圧容器5にガス導入口2からArを導入し、圧力が0.6Paの雰囲気で、バイアス電圧を印加した。バイアス電圧の印加方法は、実施例1に準ずる。減圧容器5から絶縁された電極19に電流を供給して放電を励起し、Arをイオン化した。同時に、アーク放電式蒸発源12のアーク放電を開始し、Arイオンによる基体7のボンバードメント処理を20分間行った。この時、遮蔽板22は閉じた状態にあって、放出物質30を基体から遮蔽している。次に、Arの供給を止め、Arによるボンバードメント工程を終了した。減圧容器5にガス導入口2からN2ガス導入し、減圧容器5内の圧力を3Pa、バイアス電圧を−50Vに設定した。次に、別の蒸発源であるアーク放電式蒸発源27の放電を開始した。放出物質30並びに放出物質31は遮蔽板22により夫々基体7から遮蔽された状態にある。この状態を2分間継続した。次に、一方の遮蔽版22を開いて放出物質30と導入されたN2との反応により窒化物を基体7に被覆した。この時放出物質31は遮蔽板22により基体7から遮蔽された状態にある。次に、両方の遮蔽版22を開いて放出物質30と放出物質31の両放出物質による窒化物皮膜の形成を行った。次に、一方の遮蔽版22を閉じて放出物質30を遮蔽板22により基体7から遮蔽し、放出物質31による窒化物の皮膜形成を行った。これらの一連の動作は必要に応じて、繰り返し行った。また図中には記載していないが、アーク放電式蒸発源を複数台設けた場合も本発明に含まれる。本発明例を表1中に記載した。これらアーク放電式蒸発源は何れも前面に可動式の遮蔽板22を設けており、アーク放電式蒸発源12、27と同様な動作で稼動させた。また、スパッタリング方式蒸発源との組合せた場合も本発明に含まれることから、本発明例として表1中に記載した。スパッタリング方式蒸発源との組合せの場合はArとN2の混合ガスを用いた。上記の実施例3の皮膜形成方法を製法3とする。ここで使用した各陰極物質、被覆条件を表1に示した。
図1及び図2に示した構成の装置を用いて、保持具8の一部に、脱脂洗浄した超硬合金製の外径8mm、2枚刃ドリルの基体7を配置した。保持具6、8は3回転/分で回転する。ドリルの保持具8への固定は、実施例1に準ずる。減圧容器5内を5×10−2Paまで排気した後、排気を継続しながら、基体7の近傍に配置した熱電対が520度になるまで、ヒーターで加熱を行った。減圧容器5にガス導入口2からArを導入し、圧力0.6Paの雰囲気で、基体7にバイアス電源3から−300Vのバイアス電圧を印加した。減圧容器5から絶縁された電極19に電流を供給して放電を励起し、Arをイオン化した。Arイオンによる基体7のボンバードメント処理を20分間行った。この時、アーク放電式蒸発源12に電流の供給を行わず、遮蔽板22は閉じた状態にあり、陰極物質10の表面の汚染を防止した。Arによるボンバードメント工程終了後、Arの供給を止め、ガス導入口2からN2を導入して、圧力を3Pa、バイアス電圧を−50Vに設定した。次に、遮蔽板22を開き、陰極物質10の放電を開始し、基体7に陰極物質10と導入ガス成分であるN2より、アークイオンプレーティング法による窒化物皮膜を3μm被覆し、実施例4による皮膜形成を行った。上記の実施例4の皮膜形成方法を製法4とする。ここで使用した各陰極物質、被覆条件を表1に示した。
装置は、スパッタ放電式蒸発源24の前面に汚染防止を目的とした遮蔽板22、軸受け部20及び駆動部21が装備されている。この装置を用いて、予め皮膜組成が(Al55Ti45)Nの窒化物皮膜を3μm被覆し、脱脂洗浄した超硬合金製の外径8mm2枚刃ドリルを保持具8の一部に配置した。ドリルの保持具8への固定は、実施例1に準ずる。減圧容器5内を5×10−2Paまで排気した後、排気を継続しながら、基体7の近傍に配置した熱電対が520度になるまで、ヒーターで加熱を行った。ガス導入口2からArを導入し、圧力が0.6Paの雰囲気で、基体7にバイアス電源3から−300Vのバイアス電圧を印加した。減圧容器5から絶縁された電極19に電流を供給して放電を励起し、Arをイオン化した。Arイオンによる基体7のボンバードメント処理を20分間行った。この時、遮蔽板22は閉じた状態である。Arによるイオンボンバードメント工程終了後、圧力を0.3Pa、バイアス電圧を−100Vに設定した。次に、別の蒸発源であるスパッタリング方式蒸発源24の放電を開始し、遮蔽板22を開いて基体7に陰極物質26より、スパッタリング法による耐摩耗皮膜を1μm被覆し、実施例5による皮膜形成を行った。上記の実施例5の皮膜形成方法を製法5とする。ここで使用した各陰極物質、被覆条件を表1に示した。
図1及び図2に示した構成の装置を設定変更することにより、遮蔽板22、軸受け部20及び駆動部21が存在しない従来のアーク放電式イオンプレーティング装置と同等の構成とした装置を用いて皮膜成形を行った。この従来構成の装置を用いてアーク放電式蒸発源12により陰極物質10をアーク放電により放出させた。保持具8の一部に、脱脂洗浄した超硬合金製の外径8mm、2枚刃ドリルの基体7を配置した。ドリルの保持具8への固定は、実施例1に準ずる。減圧容器5内を5×10−2Paまで排気した後、排気を継続しながら、基体7の近傍に配置した熱電対が520度になるまで、ヒーターで加熱を行った。ガス導入口2からArを導入し、圧力が0.6Paの雰囲気で、基体7にバイアス電源3から−300Vのバイアス電圧を印加した。減圧容器5から絶縁された電極19に電流を供給して放電を励起し、Arをイオン化した。Arイオンによる基体7のボンバードメント処理を20分間行った。Arによるボンバードメント工程終了後、Arの供給を止め、ガス導入口2からN2を導入して、圧力を3Pa、バイアス電圧を−50Vに設定した。次に、陰極物質10の放電を開始し、基体7に陰極物質10と導入ガス成分であるN2より、アークイオンプレーティング法による窒化物皮膜を3μm被覆し、実施例6による皮膜形成を行った。上記の実施例6の皮膜形成方法を製法6とする。ここで使用した各陰極物質、被覆条件を表1に示した。
上記の各皮膜形成法によって得られた2枚刃の超硬合金製被覆ドリルを用い切削試験を行った。評価はドリルの切刃コーナー部の摩耗幅が0.25mmに達した時点の穴加工数、又は切屑が分断されずに排出された時点の穴加工数、又はドリルが折れた時点の穴加工数、又は切削動力が急上昇し、穴加工ができなくなった時点の穴加工数を測定することにより評価した。その結果を表1に併記する。
(切削条件1)
工具 :2枚刃ドリル、外径8mm
被覆基体:超硬合金製
切削方法:止まり穴加工
被削材 :S50C、HRC30
穴深さ :20mm
切削速度:120m/min
送り :0.1mm/rev
切削油 :なし、乾式エアーブロー
(切削条件2)
工具 :2枚刃ドリル、外径8mm
被覆基体:超硬合金製
切削方法:止まり穴加工
被削材 :AC2A
穴深さ :24mm
切削速度:150m/min
送り :0.2mm/rev
切削油 :なし、乾式エアーブロー
表1に示す本発明例1から12は、比較例13から15、従来例16と比較して飛躍的に穴加工数が多く耐摩耗性に優れていることが明らかである。比較例13、従来例16と比べ穴加工数が多く、耐摩耗性に優れている。比較例13は、コーナー部に微小な皮膜剥離を伴う摩耗進行であったのに対し、本発明例1は、皮膜剥離が全く認められず、密着性に優れ、本来の耐摩耗性が得られた。このことは、被覆装置内の陰極物質表面の汚染物による影響を遮蔽板による対策だけでは回避できず、皮膜の密着性の大幅な改善には至らない事を示している。本発明例の結果よりボンバードメント工程は、遮蔽板により蒸発源の放電による放出物質を基体から遮蔽した状態で、少なくとも非金属イオンによる基体のボンバードメント処理を行い、次に皮膜形成をすることが重要であることを示している。本発明例2、3は、製法1により被覆した窒化物の場合を示すが、アーク放電式蒸発源の陰極物質10が本発明例1のTiとは異なり、Crの場合である。陰極物質10はTi又はCrを含有した陰極物質が好ましい。これはTi又はCrが酸素及び/又はその他の不純元素を吸着する効果が高く、皮膜と基体との界面の不純物濃度が低下する事と、導入ガスのイオン化促進効果を高めるためである。本発明例4は、製法1により被覆した窒化物の場合を示す。Arボンバードメント処理の際、パルスバイアス電圧でボンバードメントを実施した場合を示すが、DCバイアス電圧よりもパルスバイアス電圧が好ましいことを示す。パルスバイアス電圧とすることにより、マイクロアーキング現象が抑制され、基体表面の歪が減少して、密着強度が向上したことによる。本発明例5は、製法1により被覆した窒化物の場合を示し、ボンバードメント処理における導入ガス成分が、Arのみとは異なる場合を示す。Arに加えて、H2又はN2を混合させた方が、添加量によっては優れた耐摩耗性を示した。Arに加えて水素を添加することにより、基体のArイオンボンバードの効率を向上させることができた。これは、還元作用を高めることができ、基体表面におけるマイクロアーキングを抑制する効果に加えて、基体表面もしくは耐摩耗皮膜内に混入する酸素を防止する効果を高めるためである。更に窒素に関しては、窒素のイオン化率を高め窒化物形成促進に有効であった。本発明例6、7は、製法2により被覆した場合を示す。製法2は皮膜形成時に、皮膜形成に関与しない蒸発源の放電も継続し、且つ陰極物質を遮蔽した状態にして皮膜形成を行うものである。比較例14、15と比較すると、皮膜が緻密化して皮膜硬度が向上した。これは耐摩耗性に優れることを示す。製法1との組合せにおいても、更に耐摩耗性に優れることも確認された。本発明例8から12は、製法3により製法1及び製法2の複合化を検討した多層皮膜における場合を示す。特に耐摩耗性に優れた結果となった。特にマイクロオーダー、ナノオーダーの積層においても、皮膜界面の密着強度が向上し、極めて耐摩耗に優れる結果となった。
2:ガス導入口
3:バイアス電源
4:軸受け部
5:減圧容器
6:下部保持具
7:基体
8:上部保持具
9:回転方向
10:陰極物質
11:アーク放電用電源
12:アーク放電式蒸発源
13:アーク放電式蒸発源固定用絶縁物
14:アーク点火機構軸受け部
15:アーク点火機構
16:排気口
17:陰極物質
18:電極固定用絶縁物
19:電極
20:遮蔽板軸受け部
21:遮蔽板駆動部
22:遮蔽板
24:スパッタリング方式蒸発源
25:スパッタリング放電用電源
26:陰極物質
27:別のアーク放電式蒸発源
30:陰極物質10の放出物質
31:陰極物質17の放出物質
33:陰極物質26の放出物質
37:基体7の回転軸
38:イオン化蒸発源
Claims (8)
- 複数の蒸発源に陰極物質を装着し、該蒸発源の前面に遮蔽板を設け、真空容器内でプラズマを発生させて基体の表面に陰極物質材料の皮膜を形成するようにした装置を用いて、該基体表面にボンバードメント処理を行うボンバードメント工程と、皮膜を形成する被覆工程とから成り、該ボンバードメント工程は該遮蔽板により該蒸発源の放電による放出物質を該基体から遮蔽した状態で、少なくとも非金属イオンによる該基体のボンバードメント処理を行うことを特徴とする皮膜形成方法。
- 請求項1記載の皮膜形成方法において、該被覆工程は該遮蔽板により該蒸発源の放電による放出物質を該基体から遮蔽した状態で、該蒸発源とは別の蒸発源により該基体表面に皮膜の形成を行うことを特徴とする皮膜形成方法。
- 請求項1記載の皮膜形成方法において、該被覆工程は該遮蔽板を閉じた状態にして該蒸発源の放電による放出物質を基体から遮蔽した状態を維持する第1の工程と、次に該遮蔽板を開いた状態として皮膜の形成を行う第2の工程とからなることを特徴とする皮膜形成方法。
- 請求項1乃至請求項3いずれかに記載の皮膜形成方法において、該蒸発源が、アーク放電式蒸発源、スパッタリング方式蒸発源、イオン化蒸発源の何れかであることを特徴とする皮膜形成方法。
- 請求項1乃至請求項4いずれかに記載の皮膜形成方法において、該遮蔽板は開閉動作をするための遮蔽板駆動部を備え、該被覆工程では該遮蔽板を開いた状態とし、該蒸発源と、該別の蒸発源とにより基体表面に耐摩耗皮膜の形成を行うことを特徴とする皮膜形成方法。
- 請求項1乃至請求項5いずれかに記載の皮膜形成方法において、複数の蒸発源の遮蔽板開閉動作によって被覆が交互又は同時に行われることを特徴とする皮膜形成方法。
- 請求項1乃至請求項6いずれかに記載の皮膜形成方法において、基体に印加するバイアス電圧がパルスバイアス電圧であることを特徴とする皮膜形成方法。
- 請求項1乃至請求項7いずれかに記載の皮膜形成方法により被覆した被覆部材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004185747A JP4541045B2 (ja) | 2004-06-24 | 2004-06-24 | 皮膜形成方法及びその皮膜形成方法を用いた被覆部材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004185747A JP4541045B2 (ja) | 2004-06-24 | 2004-06-24 | 皮膜形成方法及びその皮膜形成方法を用いた被覆部材 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010078066A Division JP2010159498A (ja) | 2010-03-30 | 2010-03-30 | 皮膜形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006009068A true JP2006009068A (ja) | 2006-01-12 |
JP4541045B2 JP4541045B2 (ja) | 2010-09-08 |
Family
ID=35776632
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004185747A Expired - Fee Related JP4541045B2 (ja) | 2004-06-24 | 2004-06-24 | 皮膜形成方法及びその皮膜形成方法を用いた被覆部材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4541045B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2004
- 2004-06-24 JP JP2004185747A patent/JP4541045B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP4541045B2 (ja) | 2010-09-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
S533 | Written request for registration of change of name |
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|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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S533 | Written request for registration of change of name |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |