JP2005539348A - プラズマキャビティ内に電磁マイクロ波放射を適用する装置 - Google Patents

プラズマキャビティ内に電磁マイクロ波放射を適用する装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005539348A
JP2005539348A JP2003550247A JP2003550247A JP2005539348A JP 2005539348 A JP2005539348 A JP 2005539348A JP 2003550247 A JP2003550247 A JP 2003550247A JP 2003550247 A JP2003550247 A JP 2003550247A JP 2005539348 A JP2005539348 A JP 2005539348A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microwave
microwave radiation
slit
waveguide
plasma
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003550247A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4782984B2 (ja
Inventor
ヤコブス ニコラース ファン ストラーレン マテウス
ロバート シモンズ デニス
Original Assignee
ドゥラカ ファイバー テクノロジー ベー ヴェー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ドゥラカ ファイバー テクノロジー ベー ヴェー filed Critical ドゥラカ ファイバー テクノロジー ベー ヴェー
Publication of JP2005539348A publication Critical patent/JP2005539348A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4782984B2 publication Critical patent/JP4782984B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B37/00Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
    • C03B37/01Manufacture of glass fibres or filaments
    • C03B37/012Manufacture of preforms for drawing fibres or filaments
    • C03B37/014Manufacture of preforms for drawing fibres or filaments made entirely or partially by chemical means, e.g. vapour phase deposition of bulk porous glass either by outside vapour deposition [OVD], or by outside vapour phase oxidation [OVPO] or by vapour axial deposition [VAD]
    • C03B37/018Manufacture of preforms for drawing fibres or filaments made entirely or partially by chemical means, e.g. vapour phase deposition of bulk porous glass either by outside vapour deposition [OVD], or by outside vapour phase oxidation [OVPO] or by vapour axial deposition [VAD] by glass deposition on a glass substrate, e.g. by inside-, modified-, plasma-, or plasma modified- chemical vapour deposition [ICVD, MCVD, PCVD, PMCVD], i.e. by thin layer coating on the inside or outside of a glass tube or on a glass rod
    • C03B37/01807Reactant delivery systems, e.g. reactant deposition burners
    • C03B37/01815Reactant deposition burners or deposition heating means
    • C03B37/01823Plasma deposition burners or heating means
    • C03B37/0183Plasma deposition burners or heating means for plasma within a tube substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/02Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C16/045Coating cavities or hollow spaces, e.g. interior of tubes; Infiltration of porous substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/50Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
    • C23C16/511Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using microwave discharges

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
  • Manufacture, Treatment Of Glass Fibers (AREA)

Abstract

この発明は、使用時に、プラズマキャビティ内に電磁マイクロ波放射を適用する装置に関する。このプラズマキャビティは、ハウジング内に存在し、第1の軸の周りに実質的に円対称であり、かつ円周スリットを設けた円筒壁を具える。このプラズマキャビティは、前記スリットを介して、長軸方向に延在する第2の軸を有する細長マイクロ波導波路の第1の端部と連通している。前記装置は、使用時には、前記マイクロ波導波路の他方の端部を介して、マイクロ波発生手段と連通しており、発生した電磁マイクロ波放射は複数のモードを含む。この発明の目的は、前記の有利な幾何学特性を有する安定したプラズマを発生及び維持することができ、かつ、構造上の寸法に関していかなる制限も有しないマイクロ波アプリケータを提供することにある。この目的を達成するため、マイクロ波アプリケータは、該装置が、使用時にスリット内にマイクロ波放射を発生する手段を具え、該マイクロ波放射が、伝搬方向に垂直な少なくとも1つの方向において1つのみの電磁場分布を有することを特徴とする。電磁マイクロ波放射の場分布特性はもはや未知で予測不能な要因を構成しないので、前記の方向において所望の幾何学特性を有するより安定したプラズマがプラズマキャビティ内に発生する。

Description

この発明は、使用時に、プラズマキャビティ内に電磁マイクロ波放射を適用する装置に関する。このプラズマキャビティは、ハウジング内に存在し、第1の軸の周りに実質的に円対称であり、かつ円周スリットを設けた円筒壁を具える。このプラズマキャビティは、前記スリットを介して、長軸方向に延在する第2の軸を有する細長マイクロ波導波路の第1の端部と連通している。前記装置は、使用時には、前記マイクロ波導波路の他方の端部を介して、マイクロ波発生手段と連通しており、発生した電磁マイクロ波放射は複数のモードを含む。
また、この発明は、プラズマ化学気相成長法を用いて、この発明に従う装置のプラズマキャビティ内に配置された中空ガラス管の内壁に1層以上のガラス層を堆積させる装置にも関する。
さらにまた、この発明は、プラズマ化学気相成長法を用いて、この発明に従う装置のプラズマキャビティ内に配置された中空ガラス管の内壁に1層以上のガラス層を堆積させる方法にも関する。
かかる装置は、技術用語ではマイクロ波アプリケータと呼ばれ、スリットはラジアル導波ダクトと呼ばれるが、これを、特にsufra導波路又はsufratonと共に用いてプラズマキャビティ内にプラズマを発生することができる。前記のマイクロ波アプリケータの他の実用的用途は、本出願人による国際特許出願PCT/EP98/07798(特許文献1)に開示されている。
特許文献1は、マイクロ波アプリケータのプラズマキャビティ内に中空円筒ガラス管を収容したPCVD(プラズマ化学気相成長)装置を示しており、この管を通して例えばO、SiCl及びGeClを含むガス混合物が流れる。マイクロ波アプリケータによりスリット内に適用されたマイクロ波放射は、中空ガラス管内で局所的にプラズマを発生する。ガラス管に対して前後に−可能であれば同時の管を回転しながら−マイクロ波アプリケータを動かすことにより、組成の相違に関係なく、プラズマを用いて円筒状ガラス管の内側にガラス層を堆積することができる。このようにして、その内側に堆積した1層以上のガラス層を有する、いわゆる中空プリフォームが得られる。プリフォームは多量のロッドを得るために折り畳み処理を受け、次いでこれらのロッドから光ファイバが引き延ばされる。この光ファイバは、例えば通信目的を意図する。
PCVD用途において、使用される、又はスリットに適用されるマイクロ波放射は、890MHz又は2.45GHzの周波数を有し、複数のいわゆるモードを具えることができる。ここで用いられる「モード」なる用語は、ラジアル伝搬方向における伝搬モードと、カットオフされたモードとを意味するものであるとする。伝搬モードは、ラジアル伝搬方向に垂直な双方の方向における電界内に多数のゼロ軸交差を含む。
ラジアル波スリットの幅が使用するマイクロ波放射の波長の半分に満たない場合には、ラジアル波スリットの内周が使用するマイクロ波放射の波長以下の長さであると1つのみの伝搬モードが生じ、一方、ラジアル波スリットの内周が使用するマイクロ波放射の1〜2波長の長さであると3つの伝搬モードが生じる。
現在の用途では、スリット(ラジアル導波ダクト)に適用されるマイクロ波放射が何れのモードを含むかを決めることは非常に困難である。プラズマキャビティ又はラジアル導波ダクト内に適用されたマイクロ波放射が複数のモードを含む場合には、プラズマキャビティ内に発生するプラズマの幾何学特性はあまり正確には分からないであろう。第1軸に対して回転の方向に見て、前記のモードが同一の電磁気場分布を示す場合には、適用したマイクロ波放射及び発生したプラズマの前記回転の方向における幾何学特性を明確に定義できるであろう。前記プラズマ特性は、特にモードの励起比に依存し、環境(温度、圧力等)の微小な変化が異なる励起比を招く結果、プラズマの幾何学特性を変化させ得る。これらの全てがプラズマの望ましくない幾何学特性を招き、また、特にプラズマを不安定にしたり、完全に消滅させたりし得る。
特にPCVD用途の場合には、かかる現象は中空ガラス管の内側に堆積するガラス層の組成及び構造に影響を及ぼすとともに、このようにして得られたプリフォームから引き延ばされた光ファイバの最終品質にも影響を及ぼす。
プラズマキャビティ内に適用されたマイクロ波放射のモードの問題及び発生したプラズマの予測不能な特性に対する1つの解法は、複数のモードの発生を防止するために、内周を使用するマイクロ波放射の波長以下としたラジアル導波ダクトの最大許容内径に見出すことができる。しかし、前記の構造上の最大寸法は、この場合には製造すべきプリフォームの最大許容外径も制限するとともに、プリフォームから引き延ばされる光ファイバの長さも制限することとなる。
国際公開第99/35304号パンフレット
この発明の目的は、上記の問題を防ぐこと、及び、前記の有利な幾何学特性を有する安定したプラズマを発生及び維持することができ、かつ、構造上の寸法に関していかなる制限も有しないマイクロ波アプリケータを提供することにある。
この目的を達成するため、この発明に従うマイクロ波アプリケータは、該装置が、使用時にスリット内にマイクロ波放射を発生する手段を具え、該マイクロ波放射が、伝搬方向に垂直な少なくとも1つの方向において1つのみの電磁場分布を有することを特徴とする。電磁マイクロ波放射の場分布特性はもはや未知で予測不能な要因を構成しないので、前記の方向において所望の幾何学特性を有するより安定したプラズマがプラズマキャビティ内に発生する。
具体的実施態様において、スリット内のマイクロ波放射は1つのモードのみを含む。スリット内に1つのみのモードが存在するので、安定したプラズマを生じる。したがって、マイクロ波アプリケータがより広範な用途の範囲を有するのみならず、特にPCVD用途の場合において、中空ガラス管の内側へのガラス層の堆積をより良く制御することが可能となるので、最終的には、このようにして得られたプリフォームからより高品質の光ファイバを引き延ばすことができる。
これに加えて、マイクロ波アプリケータの使用は、構造上の寸法によってはもはや制限されず、この結果、特にプラズマキャビティの寸法を増大させることができる。このため、PCVD用との場合には、より大きな径のプリフォームを加工及び得ることができる。
より具体的には、第1の軸に対する回転の方向又は第1の軸と平行な方向に見て、マイクロ波放射は1つのみの固有電磁場分布を有する。これに加えて、2つの軸が装置に対して対称な平面を形成し、装置の対称面に対してマイクロ波放射の方向を合わせることができる。
具体的実施態様において、前記手段がマイクロ波導波路の一部を形成する。
この発明に従う装置の具体的実施態様において、マイクロ波導波路はそのために長方形断面であり、マイクロ波導波路の短壁は対称面に垂直に延在する。対称の観点から、マイクロ波アプリケータのこの構成が多数のモードを直接的に排除し、1つのモードのマイクロ波放射のみを通過すると思われる。
他の実施態様において、マイクロ波導波路は円形断面又は正方形断面である。
全ての実施態様が、対称面内に配置された金属隔壁を具え、この隔壁がマイクロ波導波路を2つのチャンバに分割してもよい。1つのモードのみを含むマイクロ波放射は通過するが、他のモードは排除されるという事実は、これらの実施態様においても効果的であることが証明されている。
1つのモードのみを含むマイクロ波放射がプラズマキャビティ内に生じる他の実施態様は、この発明に従えば、マイクロ波導波路が、第2の軸に沿って延在するロッド部と該ロッド部の周りに延在する円対称ガイド管とを含む同軸ガイドであることを特徴とする。
具体的実施態様において、プラズマキャビティの対称制御を得るために、マイクロ波導波路は、その第1端付近で、ハウジング内に存在する供給ガイドと同数に分割し、スリット内で終端する。
プラズマキャビティの同時励起を得るために、n∈{0,1,2,・・・}、λをマイクロ波導波路内のマイクロ波放射の波長として、2つの供給導波路を通って伝搬するマイクロ波放射の経路間の長さの違いをn・1/2・λに等しくする。具体的で単純で安価な構成において、供給ガイドを対称面に対して対称に配置する。
より具体的には、各供給ガイドが、ハウジング内で第1の軸に平行に延在し、スリット内で終端する同軸穴を具える。同軸穴の円筒壁はスリットの円筒外壁と一致することができる。
この発明に従う装置の好適で機能的な実施態様において、円筒壁内のスリットは、円周の一部又はその全周に沿って延在する。
また、この発明は、プラズマ化学気相成長法を用いて、少なくとも1層の珪素を、この発明に従う装置のプラズマキャビティ内に配置された中空ガラス管の内側に堆積するための装置に関する。
添付の図面を参照して、この発明をより詳細に説明する。
図1A〜1Cに、この発明に従うマイクロ波アプリケータの第1実施態様を示す。
マイクロ波アプリケータは、ハウジング1を具え、その内部にプラズマキャビティ2が存在し、プラズマキャビティ2は第1対称軸4の周りに円対称である。プラズマキャビティ2は円筒壁3を有し、この円筒壁3には、この実施態様においては全周に沿ったスリット5が設けられており、スリットはラジアル導波ダクトとしての役目を果たす。
ハウジング1は、ラジアル導波ダクト5が導波路7と連通するように、細長導波路7の第1の側6aに接続されている。導波路7は長手方向に延在する軸8を有する。
プラズマ化学気相成長の場合には、円筒形の、細長プラズマキャビティ2内に中空円筒ガラス管を収容することができる。この管に、例えばO、SiCl及びGeClを含むガス状混合物を流すことができる。
細長導波路7は他方の端部6bをマイクロ波発生手段(図示せず。)に接続しているので、電磁マイクロ波放射を、細長導波路7及びラジアル導波ダクト5を介してプラズマキャビティ2内に適用することができる。このプラズマキャビティにおいて、プラズマは中空ガラス管内に発生する。ガラス管に対して前後に−可能であれば同時の管を回転しながら−マイクロ波アプリケータを動かすことにより、組成の相違に関係なく、前記プラズマを用いて円筒状ガラス管の内側にガラス層を堆積することができる。このようにして、その内側に堆積した1層以上のガラス層を有する、いわゆる中空プリフォームが得られる。プリフォームは多量のロッドを得るために折り畳み処理を受け、次いでこれらのロッドから光ファイバが引き延ばされる。この光ファイバは、例えば通信目的を意図する。
電磁マイクロ波放射は、付随する種々の電磁場分布を有する種々のモードを含み得るので、プラズマキャビティ2内に発生するプラズマの幾何学特性は正確には分からない。望ましくは、特にPCVD用途の場合には、プラズマキャビティ2内で発生するプラズマは、中空円筒ガラス管の内側へのガラス層の堆積に好適な条件を作り出すために、所望の程度にまで回転対称であるだけでなく、同時に安定でもある。
プラズマキャビティ2内に発生したプラズマは、特に環境(温度、圧力等)の微小な変化によって、不安定となったり、完全に消滅したりさえし得る。
この発明によれば、プラズマキャビティ2内に所望の幾何学特性を有する安定したプラズマを発生させるために、マイクロ波放射をスリット内で発生させる。このマイクロ波放射は、伝搬方向に垂直な一方向において、1つのみの特定電磁場分布を有する。
図1A及び1Bに示す実施態様において、細長導波路7は、この目的のため、短壁10a及び長壁10bを有する長方形状である。プラズマキャビティ2内に、予め分かっている特定のモードを含むマイクロ波放射を得るために、この実施態様では、短側面10aが装置の対称面9に垂直に延在する。この対称面9は、導波路7の長軸8とプラズマキャビティ2の円筒軸4によって形成される。2つの軸4及び8により画定される対称面9は、装置全体の対称面としての役割を果たす。
少なくとも伝搬方向に垂直な一方向においてプラズマキャビティ2内のマイクロ波放射が1つのみの電磁場を含むような方法で、細長導波路7の長方形構成及び全装置の対称面9に対する向きが細長導波路7を介して伝搬するマイクロ波放射の方向を合わせる。
かかる導波路7の他の実施態様を図1Cに示す。図中、導波路は、側面10aを同一の長さとした正方形断面で示されている。この実施例においても同様に、1つのみの電磁場有するマイクロ波放射がプラズマキャビティ2内に発生するような方法で、導波路7を通って伝搬するマイクロ波放射の方向を合わせるため、金属隔壁7aを用いて細長導波路7を2つの部分に分け、金属隔壁7aを、装置の対称面9内に正確に配置する。金属隔壁7aは、導波路7を通って伝搬するマイクロ波放射の電気バリアとしての役目を果たし、次いで、プラズマキャビティ2内の放射が、少なくとも伝搬方向に垂直な1つの方向において1つのみの電磁場分布を有するような方法で、前記マイクロ波放射の方向を合わせる。
図2A及び2Bは、この発明に従うマイクロ波アプリケータの他の実施態様を示す。図中、長方形又は正方形導波路7の代わりに同軸導波路を用いる。このため、対称軸8の周りに延在する円筒対称ガイド管をマイクロ波導波路として用いる。この場合、ロッド部11を対称軸8内及びこれに沿って配置する。
第1端6a(導波路7とハウジング1又はプラズマキャビティ2の間の移行)付近で、同軸導波路がハウジング1内に配置された2つの供給ガイド14a及び14bに分離し、これらはハウジング1内の対称面9に関して対称に配置されることが好ましい。各供給ガイド14a、14bは、それぞれ細長ロッド部16a、16bを含むガイド管15a、15bをそれぞれ具える同軸穴17a、17bをそれぞれ具える。2つの穴17a及び17bは軸4に対して平行であると同時に互いに平行であり、図2Bに示すように、ラジアル導波ダクト5ないで終端する。ラジアル導波ダクト5の対称制御を達成して、プラズマキャビティ2内に均一で対称なプラズマを発生させるために、各同軸穴17a、17bの円筒壁15cが、ラジアル導波ダクト5の円筒外壁5a(図2B参照)と一致する。
この実施態様において、2つのチョーク13a及び13bをさらにハウジング1内に配置することができる。このチョークは、ラジアル導波ダクト5の両側に位置する。ラジアル導波ダクト5の両側にチョークを使用することには多数の利点がある。中でも、円筒軸4に平行な方向に発生したプラズマをより効果的に閉じ込め、プラズマキャビティ2から外部へのマイクロ波放射の漏洩を減らし、したがって、オペレータに対する健康危害を低減する。
他の実施態様を図3に示す。図中、導波路7は円筒断面である。この実施態様でも同様に1つのみの特定電磁場分布を有するマイクロ波放射を発生するために、図1Cの実施態様と同様に、円筒導波路7を2つの部分に分割する金属隔壁18を用いて、円筒導波路を分割する。この実施態様において導波路7を介して伝搬する電磁マイクロ波放射に対する電気バリアとしての役割を果たす金属隔壁18は、プラズマキャビティ2内で軸8及び軸4によって画定されるように対称面9内に位置する。
図2A及び2Bに示した実施態様に従うマイクロ波導波路を2つの供給ガイド14a及び14bに分割することのみを説明したが、この技術的特徴は、図1A〜1C及び図3に示すような、長方形、正方形及び円筒形のマイクロ波導波路等の任意の種類のマイクロ波導波路に問題なく用いることができる。図2A及び2Bのマイクロ波導波路をさらに2つの供給ガイドに分割するが、マイクロ波アプリケータは、マイクロ波導波路を供給ガイドと同数に分割することによって延長することができる。この供給ガイドは全てスリット(ラジアル導波ダクト)内で終端する。
さらに、楕円形マイクロ波導波路を、ここで説明した1つ以上の実施態様に、問題なく使用することができる。
図4A及び4Bは、この発明に従うマイクロ波アプリケータの他の実施態様を示す。この実施態様は図1A〜1Cの実施態様と大部分が対応しているので、図面を理解しやすくするために、類似の部品を同一の参照番号で表す。
このマイクロ波アプリケータも、ハウジング1を具え、その内部にプラズマキャビティ2が存在し、プラズマキャビティ2は第1対称軸4の周りに円対称である。プラズマキャビティ2は円筒壁3を有し、この円筒壁3には、この実施態様においては全周に沿っては延在しないスリット5が設けられており、スリットはラジアル導波ダクトとしての役目を果たす。
一方、円形スリット5は少なくとも一箇所で中断されている。この実施態様では2箇所で中断されており、それは20a及び20bで示されている。円周対称プラズマキャビティ2の壁が正常に連続している前記の位置20a及び20bは、対称面9内に位置しており、この発明に従う装置が正常に機能できるようにする。
A〜Cは、この発明に従うマイクロ波アプリケータの第1及び第2実施態様を示す。 この発明に従うマイクロ波アプリケータの他の実施態様を示す。 この発明に従うマイクロ波アプリケータの他の実施態様を示す。 A〜Bは、この発明に従うマイクロ波アプリケータのさらに他の実施態様を示す。

Claims (19)

  1. 使用時に、プラズマキャビティ内に電磁マイクロ波放射を適用する装置であり、該プラズマキャビティが、ハウジング内に存在し、第1の軸の周りに実質的に円対称であり、かつ円周スリットを設けた円筒壁を具え、前記プラズマキャビティが、前記スリットを介して、長軸方向に延在する第2の軸を有する細長マイクロ波導波路の第1の端部と連通しており、前記装置が、使用時には、前記マイクロ波導波路の他方の端部を介してマイクロ波発生手段と連通しており、発生するマイクロ波放射が複数のモードを含み得る装置において、
    該装置が、使用時にスリット内にマイクロ波放射を発生する手段を具え、該マイクロ波放射が、少なくとも伝搬方向に垂直な1つの方向において1つのみの電磁場分布を有することを特徴とする装置。
  2. 第1の軸に対する回転方向に見て、マイクロ波放射が1つのみの固有電磁場分布を有することを特徴とする、請求項1に記載の装置。
  3. 第1の軸に平行な方向に見て、マイクロ波放射が1つのみの固有電磁場分布を有することを特徴とする、請求項1又は2に記載の装置。
  4. 2つの軸が装置に対して対称な平面を形成し、この対称面に対してマイクロ波放射の方向を合わせることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載の装置。
  5. 前記手段がマイクロ波導波路の一部を形成することを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載の装置。
  6. マイクロ波導波路がそのために長方形断面であり、マイクロ波導波路の短壁が対称面に垂直に延在することを特徴とする、請求項5に記載の装置。
  7. マイクロ波導波路が円形断面であることを特徴とする、請求項5に記載の装置。
  8. マイクロ波導波路が正方形断面であることを特徴とする、請求項5に記載の装置。
  9. 金属隔壁が対称面内に配置されており、この隔壁がマイクロ波導波路を2つのチャンバに分割することを特徴とする、請求項6、7又は8に記載の装置。
  10. マイクロ波導波路が、第2の軸に沿って延在するロッド部と該ロッド部の周りに延在する円対称ガイド管を含む同軸ガイドであることを特徴とする、請求項5に記載の装置。
  11. マイクロ波導波路が、第1端付近で、ハウジング内に存在する供給ガイドと同数に分割し、スリット内で終端することを特徴とする、請求項5〜10のいずれか一項に記載の装置。
  12. n∈{0,1,2,・・・}、λをマイクロ波導波路内のマイクロ波放射の波長として、2つの供給ガイドを通って伝搬するマイクロ波放射の経路間の長さの違いをn・1/2・λに等しくすることを特徴とする、請求項11に記載の装置。
  13. 供給ガイドが対称面に対して対称に配置されることを特徴とする、請求項11又は12に記載の装置。
  14. 各供給ガイドが、ハウジング内で第1の軸に平行に延在し、スリット内で終端する同軸穴を具えることを特徴とする、請求項11又は12に記載の装置。
  15. 同軸穴の円筒壁はスリットの円筒壁と一致することを特徴とする、請求項14に記載の装置。
  16. 前記スリットが円筒壁の円周の一部に沿って延在することを特徴とする、請求項1〜15のいずれか一項に記載の装置。
  17. 前記スリットが円筒壁の全円周に沿って延在することを特徴とする、請求項1〜15のいずれか一項に記載の装置。
  18. プラズマ化学気相成長法を用いて、1層以上のガラス層を、請求項1〜17のいずれか一項に記載の装置のプラズマキャビティ内に配置された中空ガラス管の内側に堆積する装置。
  19. プラズマ化学気相成長法を用いて、1層以上のガラス層を、請求項1〜17のいずれか一項に記載の装置のプラズマキャビティ内に配置された中空ガラス管の内側に堆積する方法。
JP2003550247A 2001-12-04 2002-12-03 プラズマキャビティ内に電磁マイクロ波放射を適用する装置を用いたプラズマ処理装置及び方法 Expired - Lifetime JP4782984B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1019484 2001-12-04
NL1019484 2001-12-04
PCT/NL2002/000785 WO2003049141A2 (en) 2001-12-04 2002-12-03 Device for applying an electromagnetic microwave to a plasma container

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005539348A true JP2005539348A (ja) 2005-12-22
JP4782984B2 JP4782984B2 (ja) 2011-09-28

Family

ID=19774363

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003550247A Expired - Lifetime JP4782984B2 (ja) 2001-12-04 2002-12-03 プラズマキャビティ内に電磁マイクロ波放射を適用する装置を用いたプラズマ処理装置及び方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7650853B2 (ja)
EP (1) EP1461820A2 (ja)
JP (1) JP4782984B2 (ja)
CN (1) CN1630925B (ja)
AU (1) AU2002354375A1 (ja)
BR (1) BRPI0214684B1 (ja)
WO (1) WO2003049141A2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010129327A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Tokai Rubber Ind Ltd マイクロ波プラズマ処理装置
JP2013108179A (ja) * 2011-11-17 2013-06-06 Draka Comteq Bv プラズマ化学蒸着を行うための装置
JP7075196B2 (ja) 2016-10-04 2022-05-25 ドラカ・コムテツク・ベー・ベー プラズマ化学蒸着処理および方法を実行するための方法および装置

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6988404B2 (en) * 2003-12-11 2006-01-24 Ohmart/Vega Corporation Apparatus for use in measuring fluid levels
NL1025155C2 (nl) 2003-12-30 2005-07-04 Draka Fibre Technology Bv Inrichting voor het uitvoeren van PCVD, alsmede werkwijze voor het vervaardigen van een voorvorm.
CN1333489C (zh) * 2005-03-23 2007-08-22 长飞光纤光缆有限公司 等离子体谐振腔可调谐波导装置
CN100352793C (zh) * 2006-01-20 2007-12-05 杨鸿生 用于以天然气制乙烯的槽波导微波化学反应设备及制备方法
WO2007122630A2 (en) * 2006-04-24 2007-11-01 Sterlite Optical Technologies Ltd. Single mode optical fiber having reduced macrobending and attenuation loss and method for manufacturing the same
NL1037164C2 (nl) 2009-07-30 2011-02-02 Draka Comteq Bv Werkwijze voor het vervaardigen van een primaire voorvorm voor optische vezels.
NL1037163C2 (nl) 2009-07-30 2011-02-02 Draka Comteq Bv Werkwijze en inrichting voor het vervaardigen van een primaire voorvorm voor optische vezels.
CN101853768B (zh) * 2010-04-09 2012-07-04 长飞光纤光缆有限公司 一种圆柱型等离子体谐振腔
NL2004546C2 (nl) 2010-04-13 2011-10-17 Draka Comteq Bv Inwendig dampdepositieproces.
NL2004544C2 (nl) 2010-04-13 2011-10-17 Draka Comteq Bv Inwendig dampdepositieproces.
NL2004874C2 (nl) 2010-06-11 2011-12-19 Draka Comteq Bv Werkwijze voor het vervaardigen van een primaire voorvorm.
NL2007447C2 (nl) 2011-09-20 2013-03-21 Draka Comteq Bv Werkwijze voor de vervaardiging van een primaire voorvorm voor optische vezels, primaire voorvorm, uiteindelijke voorvorm, optische vezel.
NL2007448C2 (nl) 2011-09-20 2013-03-21 Draka Comteq Bv Werkwijze voor de vervaardiging van een primaire voorvorm voor optische vezels, primaire voorvorm, uiteindelijke voorvorm, optische vezels.
NL2007917C2 (en) 2011-12-01 2013-06-06 Draka Comteq Bv A device for applying electromagnetic microwave radiation in a plasma inside a hollow glass substrate tube, and method for manufacturing an optical preform.
WO2014161878A1 (en) * 2013-04-03 2014-10-09 Jt International S.A. Packaging apparatus and method
CN103628047A (zh) * 2013-11-07 2014-03-12 中山市创科科研技术服务有限公司 一种化学气相沉积SiNx介电膜的装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4259561A (en) * 1977-05-06 1981-03-31 Agence Nationale De Valorisation De La Recherche (Anvar) Microwave applicator
DE3632684A1 (de) * 1986-09-26 1988-03-31 Philips Patentverwaltung Verfahren und vorrichtung zum innenbeschichten von rohren
US4883570A (en) * 1987-06-08 1989-11-28 Research-Cottrell, Inc. Apparatus and method for enhanced chemical processing in high pressure and atmospheric plasmas produced by high frequency electromagnetic waves
FR2625843B1 (fr) * 1988-01-13 1990-04-20 Thomson Csf Transformateur de mode pour circuit de transmission d'energie hyperfrequence
JPH07122141B2 (ja) * 1990-02-26 1995-12-25 電気興業株式会社 マイクロ波プラズマcvd装置
JPH04355915A (ja) * 1990-09-12 1992-12-09 Hitachi Ltd プラズマ生成方法及び装置
EP0554039B1 (en) * 1992-01-30 1996-11-20 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for generating plasma, and semiconductor processing methods
DE4203369C2 (de) * 1992-02-06 1994-08-11 Ceramoptec Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Vorformen für Lichtwellenleiter
JPH06140186A (ja) * 1992-10-22 1994-05-20 Mitsubishi Heavy Ind Ltd プラズマ製造方法
JP3136054B2 (ja) * 1994-08-16 2001-02-19 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
DE19600223A1 (de) * 1996-01-05 1997-07-17 Ralf Dr Dipl Phys Spitzl Vorrichtung zur Erzeugung von Plasmen mittels Mikrowellen
KR970071945A (ko) * 1996-02-20 1997-11-07 가나이 쯔도무 플라즈마처리방법 및 장치
JP3368159B2 (ja) 1996-11-20 2003-01-20 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
DE69812434T2 (de) * 1997-12-31 2004-01-15 Draka Fibre Technology Bv Pcvd-vorrichtung und verfahren zur herstellung einer optischen faser, eines vorform-stabes und eines mantelrohres und die damit hergestellte optische faser
US20030104139A1 (en) * 2001-11-30 2003-06-05 House Keith L. Apparatus for depositing a plasma chemical vapor deposition coating on the inside of an optical fiber preform

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010129327A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Tokai Rubber Ind Ltd マイクロ波プラズマ処理装置
JP2013108179A (ja) * 2011-11-17 2013-06-06 Draka Comteq Bv プラズマ化学蒸着を行うための装置
JP7075196B2 (ja) 2016-10-04 2022-05-25 ドラカ・コムテツク・ベー・ベー プラズマ化学蒸着処理および方法を実行するための方法および装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2003049141A2 (en) 2003-06-12
EP1461820A2 (en) 2004-09-29
BR0214684A (pt) 2005-09-06
CN1630925A (zh) 2005-06-22
BRPI0214684B1 (pt) 2017-05-09
AU2002354375A1 (en) 2003-06-17
US7650853B2 (en) 2010-01-26
US20030159781A1 (en) 2003-08-28
WO2003049141A3 (en) 2004-07-22
JP4782984B2 (ja) 2011-09-28
CN1630925B (zh) 2010-05-26
AU2002354375A8 (en) 2003-06-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4782984B2 (ja) プラズマキャビティ内に電磁マイクロ波放射を適用する装置を用いたプラズマ処理装置及び方法
JP5164137B2 (ja) プラズマ化学蒸着(pcvd)プロセスを実行するための装置および光ファイバを製造するための方法
US6372305B2 (en) PCVD apparatus and a method of manufacturing an optical fiber, a preform rod and a jacket tube as well as the optical fiber manufactured therewith
JP4989027B2 (ja) Pcvd装置、及びプリフォームを製造する方法
JP5474295B2 (ja) Pcvd堆積プロセスを実施する装置および方法
KR100458080B1 (ko) 강력한마이크로파플라스마생성장치
JP2004203682A (ja) 光ファイバプリフォームの製造方法および製造装置
US6849307B2 (en) Method of manufacturing an optical fiber, a preform rod and a jacket tube as well as the optical fiber manufactured therewith
JP2008280238A (ja) プラズマ化学蒸着法を実行するための装置および光学的予備成形品を製造する方法
WO2010084964A1 (ja) 光ファイバ用プリフォームの製造方法
NL2007917C2 (en) A device for applying electromagnetic microwave radiation in a plasma inside a hollow glass substrate tube, and method for manufacturing an optical preform.
US20030104139A1 (en) Apparatus for depositing a plasma chemical vapor deposition coating on the inside of an optical fiber preform
CN107893217B (zh) 用于进行等离子体化学气相沉积工艺的方法和设备
RU2613252C2 (ru) Цилиндрический резонатор устройства плазменного химического осаждения стекломатериала из паровой фазы на внутреннюю поверхность подложки в виде трубки
WO2012111436A1 (ja) 光ファイバの製造方法
BR102017021249B1 (pt) Método e aparelho para executar um processo de deposição de vapor químico plasmático

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080828

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080909

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20081209

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20081216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090309

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091124

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100215

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100222

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100324

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100331

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100426

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110222

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110621

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110708

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140715

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4782984

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term