JP2005534017A - レーザー誘起白熱法を用いる粒子表面積測定のためのカーボンブラックサンプリングおよびそれに基づく反応器プロセス制御 - Google Patents
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Abstract
Description
本願は、2002年7月19日出願の米国特許仮出願60/397,428号に対する優先権を主張する。この出願は、本明細書中に参考として援用する。
本発明は、概して、ファインネスまたは粒子表面積を測定するために粒子、特にカーボンブラックをサンプリングする方法、およびカーボンブラック反応器を制御する方法に関する。
製造プロセス中にカーボンブラックのファインネス(表面積)を決定する現行の方法は、試料を収集し、試料を実験室に持って行き、I2またはN2吸収法によってファインネスを決定する。この方法では少なくとも約一時間の遅延が生じる。通常は製品規格の目標に達するまでに数回の繰り返しが必要であるから、従って反応器条件を「ライニング・アウト」(実験室から来るファインネス測定値に対応してカーボンブラックを規格内にするために反応器の条件を調整すること)する間に数時間の「規格外」カーボンブラックを製造する可能性がある。
本明細書中に実施態様を示し、概括的に説明する本発明の目的(単数または複数)によれば、本発明はさまざまな方法を開示する。
a)粒子をインサイチュサンプリングする工程、
b)試料をレーザ誘起白熱法(LII)に適する条件に調整する工程、
c)LIIを用いて調整した試料を測定する工程、および
d)LII測定値を実際の粒子ファインネスと関連付ける工程
を含む、粒子含有流をサンプリングし、LIIを用いて粒子ファインネスを測定するインサイチュ方法を含む。
a)プロセス流からカーボンブラック粒子をインサイチュサンプリングする工程、
b)カーボンブラック試料をLIIに適する条件に調整する工程、
c)LIIを用いて粒子のファインネスを測定する工程、
d)LIIファインネス測定値を実際の粒子ファインネスと関連付ける工程
を含む、サンプリングし、プロセス流中のカーボンブラックファインネスを測定するインサイチュ方法を含む。
(a)粒子含有流をサンプリングする工程、
(b)試料をLIIに適する条件に調整する工程、
を含む、LIIにもとづく粒子ファインネス測定法のために粒子含有流をサンプリングするインサイチュ方法であって、側流を用いてサンプリングを実行する方法をさらに含む。
(a)カーボンブラックの試料を流れから引き出す工程、
(b)試料をLIIに適する条件に調整する工程、および
(c)調整した試料を粒子表面積測定のためにLIIシステムに提供する工程
を含む、LIIにもとづく粒子表面積の測定のためにカーボンブラック流をサンプリングする方法をさらに含む。
a)製造プロセス中で火炎生成微粒子をインサイチュサンプリングする工程、
b)火炎生成微粒子試料をLIIに適する条件に調整する工程、
c)LIIを用いて調整した微粒子試料の粒子ファインネスを測定する工程、
d)LIIによって測定した粒子ファインネスに関する信号をコントローラに送る工程、
e)粒子ファインネス信号を設定点と比較する工程、および
f)火炎生成微粒子製造プロセスの運転を調整するためにコントローラから信号を送る工程
を含む、火炎生成微粒子の製造中に粒子ファインネスを制御する方法を含む。
本発明の化合物、組成物、物品、装置、および/または方法を開示し、説明する前に、本発明は特定の実施態様に限定されず、したがって個々の実施態様はもちろんさまざまに変化するものとする。また本明細書中に用いられる用語は特定の実施態様を説明するためのみのものであり、限定的であることを意図しないことが理解されるはずである。
本発明は粒子ファインネスを測定するためにサンプリングする方法を含む。詳しくは、この方法によればカーボンブラックのファインネス、または粒子表面積を測定することができる。詳しくは、この方法によればレーザ誘起白熱法(LII)を用いて粒子ファインネスを測定することができる。
(a)粒子含有流れをインサイチュサンプリングする工程、および
(b)試料をLIIに適する条件に調整する工程
を含む、LIIにもとづく粒子ファインネス測定のために粒子含有流れをサンプリングするインサイチュ方法を含む。
(c)LIIを用いて調整した試料を測定する工程、
(d)LII測定値を実際の粒子ファインネスと関連付ける工程
をさらに含むことがある。
粒子をサンプリングする工程が本方法の第一の工程である。プロセスを妨害することなくインサイチュでサンプリングを実現することができる。好ましくは、人手に頼ることなくサンプリングを自動的に実行することができる。プロセス中の所望の場所、所望の時間間隔でサンプリングを実施する。当業者は特定の用途について適切な場所および時間間隔を決定することができる。理論的には、プロセス中の任意の場所でサンプリングを実行してよい。カーボンブラック反応器制御については、反応器の尾部が最も論理的な場所である。
カーボンブラックサンプリングシステムについては、設計上で考慮しなければならない三つの主要な点があった。すなわち、代表的なカーボンブラック試料を引き出し、試料を約1ppm(LII信号検出が優良な信号雑音比を提供し、試料中をLII信号が伝播するときに最小のLII信号低下を提供する最適な濃度)以下に希釈し、定常状態の気体試料をLII試料セルに供給する。希釈については下記の「調整」の節で考察する。
初期の試行の間に発生した問題は主に試料ライン閉塞に関するものであった。予測したように、確実な方法での反応器からのカーボンブラックのサンプリングは困難であった。サンプリングライン内の弁および絞りはカーボンブラックで詰まりやすかった。第二エダクタの下流で用いた計量弁は特に詰まりやすかった。カーボンブラック体積分率(煤濃度)の漸減を観測することによって、LIIデータ中で計量弁の詰まりは明らかであった。
上記で考察したように、反応器中のカーボンブラックの直接LII測定はプロセス流中のカーボンブラックの濃度およびその他の反応器中の苛酷な条件のために成功しなかった。試料の調整はLII測定システムを用いて粒子をよりよく測定する能力を提供したばかりか、詰まりなどサンプリングシステムの問題点を緩和する助けとなった。
(1)光学窓上で水分が凝縮しないことを保証するため、および
(2)LII測定技法のための最適体積分率は約0.5ppmであったが、一方冷却した未希釈のカーボンブラック流の体積分率は約100ppmであった。
このオプション工程については下記で考察する。
このオプション工程については下記で考察する。
本発明は粒子ファインネスを測定する方法を含む。詳しくは、本方法によってカーボンブラックのファインネス、または粒子比表面積を測定することができる。本方法によってチタニアまたはシリカなど他の粒子のファインネスを測定することもできる。詳しくは、本方法によってレーザ誘起白熱法(LII)を用いて粒子ファインネスを測定することができる。
a)粒子をインサイチュサンプリングする工程、
b)試料をレーザ誘起白熱法(LII)に適する条件に調整する工程、
c)LIIを用いて調整した試料を測定する工程、および
d)LII測定値を実際の粒子ファインネスと関連付ける工程
を含む、粒子含有流をサンプリングし、LIIを用いて粒子ファインネスを測定するインサイチュ方法を含む。
粒子をサンプリングする工程が本方法の第一の工程である。サンプリングについては上記で考察した。
調整は実行可能である。調整については上記で考察した。
粒子をサンプリングし、調整したら、LIIを用いて粒子ファインネスを測定できる。
1)低すぎる(ユーザが選んだしきい値未満)煤体積分率(svf)
2)低すぎる(ユーザが選んだしきい値未満)ピーク信号(どちらかの検出器で)
3)高すぎるピーク信号−アナログ−ディジタルボードが飽和した
4)R−平方試験−ln(T−Tgas)対時間は線形のはずである。R2<ユーザ選択しきい値なら、データを無視する。
5)svfまたはLII表面積のどちらかが平均値±因子*標準偏差の範囲外なら、データを無視する(因子はユーザ選択であるが、通常は2.0〜2.5)。
標準的なLIIシステムはレーザ、発信光学系、受信光学系、検出器、および較正システムを含む多数の構成要素を含んでもよい。測定機器は市販されているが、あるいは当業者が組み立ててもよい。当業者は特定のLII用途に必要な適当な構成要素を決定することができる。
粒子の温度を計算するために二つの異なる波長、例えば400nm(青)および780nm(わずかに赤外)で白熱信号を測定することができる。多数のレーザパルス(試験実験では一般に40)からの白熱信号を平均してノイズを低減することができる(あるいは、信号を平均化するのではなく各パルスからの計算したファインネス結果を一緒に平均化してもよい)。レーザパルスを照射すると白熱信号(したがって温度)は急速に上昇する。レーザパルスが終了(約20ns後)すると、周囲気体への伝熱/対流によって粒子は冷え始める。二つの白熱信号の比から温度を計算する。この温度低下の傾きを用いてカーボンブラックファインネスを計算する。
LIIによって測定した粒子サイズは、粒子温度または白熱信号のどちらかの低下率に対して求められる。特定の粒子ファインネスに対する測定値を求めるために、この信号を測定した特定の表面積と関連付けなければならない。
前述のように、当業界ではカーボンブラックのファインネスのオンライン、リアルタイム測定および制御を可能にする方法に対する長い間感じられてきた需要があった。本発明はそのような方法を提供する。
(a)製造プロセス中でカーボンブラックをインサイチュサンプリングする工程、
(b)カーボンブラック試料をLIIに適する条件に調整する工程、
(c)LIIを用いて調整した試料の粒子ファインネスを測定する工程、
(d)LIIによって測定した粒子ファインネスに関連する信号をコントローラに送る工程、
(e)粒子ファインネスの信号を設定点と比較する工程、および
(f)カーボンブラック製造プロセスを調整するためにコントローラから信号を送る工程
を含む、カーボンブラックの製造中に粒子ファインネスを制御する方法を含む。
−−より均一な製品につながるカーボンブラックファインネスレベルのより綿密な制御、
−−規格外物質の製造の減少
−−よりよい製品の均一さ、より少ない製品の汚染、より長い設備の寿命につながるより迅速な不具合の検出、
−−実験室で必要な試験の減少、および
−−より少ない規格外/移行時物質につながるより迅速なグレードの切り替え
を含む。
Claims (28)
- (a)粒子をインサイチュサンプリングする工程、
(b)試料をレーザ誘起白熱法(LII)に適する条件に調整する工程、
(c)LIIを用いて調整した試料を測定する工程、および
(d)LII測定値を実際の粒子ファインネスに関連付ける工程
を含む、粒子含有流をサンプリングし、LIIを用いて粒子ファインネスを測定するインサイチュ方法。 - サンプリング工程は粒子源から側流を引き出すことを含む、請求項1に記載の方法。
- 試料入口を有するインサイチュエダクタおよび試料入口のインサイチュ臨界オリフィスを用いて側流が引き出され、試料は臨界オリフィスを通ってサンプリングシステムに入る、請求項2に記載の方法。
- 調整工程は二次希釈空気を試料に加えることを含む、請求項3に記載の方法。
- 試料をLIIに適する条件に調整する工程は試料の希釈を含む、請求項1に記載の方法。
- 試料の希釈は約90、80、75、70、60、50、40、30、25、20、15、10、5、3、2、1、0.7、0.5、0.4、0.3、0.2、または0.1ppm以下のレベルにまですることである、請求項5に記載の方法。
- 試料の希釈は約1ppm以下のレベルにまですることである、請求項5に記載の方法。
- LIIに適する条件に試料を調整する工程は試料の温度を周囲の条件にすることを含む、請求項1に記載の方法。
- 同時に引き出した粒子試料についてLII測定値と試験室ファインネス測定値とを比較することによって相関関数を決定する工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 粒子ファインネスのサンプリングおよび測定がリアルタイムで実行される、請求項1に記載の方法。
- 粒子ファインネスのサンプリングおよび測定がオンラインで実行される、請求項1に記載の方法。
- 粒子がカーボンブラックである、請求項1に記載の方法。
- 粒子含有流がカーボンブラック反応器または反応器尾部の中にある、請求項1に記載の方法。
- LII測定値がLII強度信号の低下率である、請求項9に記載の方法。
- LII測定値が粒子の温度の低下率である、請求項9に記載の方法。
- LII測定値が正規化された比表面積である、請求項9に記載の方法。
- (a)プロセス流からカーボンブラック粒子をインサイチュサンプリングする工程、
(b)試料をLIIに適する条件に調整する工程、
(c)LIIを用いてカーボンブラックファインネスを測定する工程、および
(d)LIIファインネス測定値を実際のカーボンブラック粒子サイズに関連付ける工程
を含む、プロセス流中のカーボンブラックファインネスをサンプリングし、測定するインサイチュ方法。 - プロセス流はカーボンブラック反応器の中にある、請求項17に記載の方法。
- (a)粒子含有流をインサイチュサンプリングする工程、および
(b)試料をLIIに適する条件に調整する工程であって、サンプリングが側流に対して実行される工程
を含む、LIIにもとづく粒子ファインネス測定のために粒子含有流をサンプリングするインサイチュ方法。 - 流れがカーボンブラック反応器の中にある、請求項19に記載の方法。
- LIIに適する条件に試料を調整する工程は試料の希釈を含む、請求項19に記載の方法。
- (a)流れからカーボンブラックの試料を引き出す工程、
(b)試料をLIIに適する条件に調整する工程、および
(c)調整した試料を粒子表面積測定のためのLIIシステムに提供する工程、
を含む、LIIにもとづく粒子表面積の測定のためにカーボンブラック流をサンプリングする方法。 - 火炎生成微粒子の製造中に粒子ファインネスを制御する方法であって、
a)製造プロセス中で火炎生成微粒子をインサイチュサンプリングする工程
b)火炎生成微粒子試料をLIIに適する条件に調整する工程、
c)LIIを用いて調整した微粒子試料の粒子ファインネスを測定すること、
d)LIIによって測定した粒子ファインネスに関連する信号をコントローラに送る工程、
e)粒子ファインネス信号を設定点と比較する工程、および
f)火炎生成微粒子製造プロセスの運転を調節するためにコントローラから信号を送る工程
を含む方法。 - LIIによって測定した粒子ファインネスを実際の粒子ファインネスに関連付ける工程をさらに含む、請求項23に記載の方法。
- 火炎生成微粒子はカーボンブラックである、請求項23に記載の方法。
- カーボンブラック製造プロセスの運転の調整は空気/原料比の制御による、請求項25に記載の方法。
- 火炎生成微粒子はチタニアまたはシリカである、請求項23に記載の方法。
- (a)粒子をインサイチュサンプリングする工程、
(b)試料をレーザ誘起白熱法(LII)に適する条件に調整する工程、
(c)LIIを用いて調整した試料についての白熱信号および散乱データを測定する工程、および
(d)LII白熱信号および散乱データの測定値を実際の粒子ファインネスおよび凝集体サイズと関連付ける工程
を含む、粒子含有流をサンプリングし、LIIを用いて粒子ファインネスおよび凝集体サイズを測定するインサイチュ方法。
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